DE3621542C2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE3621542C2 DE3621542C2 DE3621542A DE3621542A DE3621542C2 DE 3621542 C2 DE3621542 C2 DE 3621542C2 DE 3621542 A DE3621542 A DE 3621542A DE 3621542 A DE3621542 A DE 3621542A DE 3621542 C2 DE3621542 C2 DE 3621542C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lens
- optical axis
- image
- optical
- imaging systems
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
- G02B7/343—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using light beam separating prisms
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Ermittlung
des Scharfeinstellzustandes eines Objektivs gemäß dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 1 bzw. des Patentanspruchs
14.
Bei einer derartigen Vorrichtung zur Ermittlung des
Scharfeinstellzustandes eines Objektivs, wie sie in der DE
34 27 812 A1 gezeigt ist und um im folgenden in Zusammenhang
mit der Fig. 1 erläutert werden soll, kann beispielsweise
bei einäugigen Spiegelreflexkameras verwendet
werden und dient dazu, auf der Grundlage von Lichtstrahlen
aus zwei verschiedenen Bereichen der Pupille des
Objektivs zwei sekundäre Objektbilder zu erzeugen und den
Scharfeinstellungszustand des Objektivs aus der relativen
Lagebeziehung zwischen den sekundären Objektbildern zu ermitteln.
In Fig. 1 sind die Oberfläche eines zu photographierenden
Objektes O, ein
Objektiv 1 einer nicht gezeigten einäugigen Spiegelreflexkamera,
eine Feldlinse 3,
die in der Nähe der festgelegten Bildebene 2 des Objektivs 1
(der Brennebene in der Kamera) vorgesehen ist, Sekundär-Abbildungssysteme
4 und 5, die aus symmetrisch und die optische Achse L
des Objektivs 1 herum angeordnete Einzellinsen bestehen und der
Abbildung von zwei sekundären Objektbildern auf der Basis von
zwei Lichtstrahlen dienen, die durch verschiedene Bereiche 1 a und
1 b der Pupille des Objektivs 1 hindurchgehen,
und eine Sensorvorrichtung 6 und 7 in Form von Elementzeilen aus zeilenförmig
angeordneten photoelektrischen Wandlerelementen hergestellt, auf denen
die sekundären Objektbilder abgebildet werden und die Signale entspechend der relativen
Lage der sekundären Objektbilder liefern. Die Elementzeilen 6 und 7 bestehen
beispielsweise aus CCD (Ladungskopplungsvorrichtung).
Die lichtempfangenden Oberflächen der
Elementzeilen 6 und 7 sind auf oder vor oder hinter einer
mit der festgelegten Bildebene 2 konjugierten Ebene angeordnet.
In der Nähe der Sekundär-Abbildungssysteme
4 und 5 ist eine Blende 8 vorgesehen. Die Feldlinse 3 bildet
die Öffnungsbereiche 8 a und 8 b der Blende 8 auf den
verschiedenen Bereichen 1 a und 1 b der Pupille des Objektivs
1 ab. Wenn bei einer solchen Vorrichtung das Objektiv 1 gemäß Fig. 1 nach
links bewegt wird, um den
sogenannten Naheinstellungszustand herbeizuführen, weichen
die Objektbilder der Oberfläche des zu photographierenden
Objekts O, die auf den lichtempfangenden Oberflächen der einzelnen
Elementzeilen 6 und 7 aus photoelektrischen Wandlerelementen
durch die Sekundär-Abbildungssysteme 4 und 5 abgebildet
werden, in den Richtungen der dargestellten Pfeile voneinander ab, und auf
diese Weise werden der Naheinstellungszustand und sein Betrag
durch die Veränderung im Ausgangssignal der Elementzeilen
6 und 7 aus photoelektrischen Wandlerelementen, das der
relativen Abweichungen der erwähnten Bilder entspricht, ermittelt.
Auch im Falle des Ferneinstellungszustands weichen die
jeweiligen Bilder ab, und zwar in den Richtungen, die zu den
Richtungen im Falle des Naheinstellungszustands entgegengesetzt
sind, und infolgedessen werden der Ferneinstellungszustand
und sein Betrag ermittelt.
Bei der oben beschriebenen Vorrichtung zur Ermittlung des
Scharfeinstellzustandes eines Objektivs bestehen die Sekundär-Abbildungssysteme
aus symmetrisch zur optischen Achse
angeordneten Einzellinsen. Alternativ dazu ist es auch möglich,
eine Bildaufspaltung durch Prismen, beispielsweise
Keilprismen, zu erzielen.
Es hat sich gezeigt, daß bei der Ermittlung des Scharfeinstellungszustandes
mittels der Vorrichtung gemäß der DE 34
27 812 A1 gewisse Ungenauigkeiten auftreten.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung
zur Ermittlung des Scharfeinstellzustandes eines Objektivs
mit einer hohen Genauigkeit bei der Ermittlung des
Scharfeinstellzustandes zu schaffen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale im
kennzeichnenden Teil des Patentanspruchs 1 bzw. des Patentanspruchs
14 gelöst.
Erfindungsgemäß wurde festgestellt, daß die Ungenauigkeiten
in dem Scharfeinstellungszustand durch Lagefehler der sekundären
Objektbilder entstehen, die bei der Bildaufspaltung
mittels der Linsen oder der Prismen auftreten und im
folgenden anhand der Fig. 2 und 3 erläutert werden sollen.
Die
Bauteile in Fig. 2 sind entsprechend den gleichartigen, in Fig. 1 gezeigten Bauteilen
bezeichnet; darüberhinaus sei O 1 der Schnittpunkt zwischen
der optischen Achse L und der Oberfläche O eines zu photographierenden
Objektes O und O 2 ist ein außeraxialer Punkt.
Ein Lichtstrahl, der von dem Punkt O 1 ausgestrahlt wird,
wird durch die Wirkung der Sekundär-Abbildungssysteme 4 und 5
auf den Elementzeilen 6 und 7 aus photoelektrischen Wandlerelementen
abgebildet, wobei P 1 und Q 1 die Punkte sind, an
denen der Lichtstrahl abgebildet wird.
Wenn nun der Lichtstrahl betrachtet wird, der von dem außeraxialen
Punkt O 2 ausgestrahlt wird, so wird dieser Lichtstrahl,
der im Gesichtswinkel liegt, einmal auf oder in der
Nähe einer festgelegten Bildebene 2 abgebildet, wonach er
durch die Sekundär-Abbildungssysteme 4 und 5 ebenfalls auf den
Elementzeilen 6 und 7 aus photoelektrischen Wandlerelementen
abgebildet wird. P 2 und Q 2 sind die Punkte, an denen dieser
Lichtstrahl nochmals abgebildet wird. Der Abstand Z 1 zwischen
den Punkten P 1 und P 2 und der Abstand Z 2 zwischen den
Punkten Q 1 und Q 2 entsprechen einem Bild einer die
Punkte O 1 und O 2 verbindenden Strecke und müssen infolgedessen
einander gleich sein, jedoch ist festgestellt worden, daß
sie einander nicht gleich sind, was auf die Abbildungsfehler
der Sekundär-Abbildungssysteme 4 und 5 zurückzuführen ist.
Selbst im Falle eines Objekts mit
demselben Objektabstand tritt die Schwierigkeit auf, daß die
Ermittlung des Scharfeinstellungszustands des Objektivs im
mittleren Bereich des Entfernungsmeßfeldes einerseits und in
dessen Randbereich andererseits nicht übereinstimmt. Folglich
wird die Genauigkeit vermindert, weil die Signalverarbeitung
trotz der mangelnden Übereinstimmung
zwischen dem mittleren Bereich und dem Randbereich
durchgeführt wird.
Abgesehen davon ist
einzusehen, daß die Bildlage in Abhängigkeit von der Wellenlänge
verschieden ist und eine in Fig. 3 gezeigte Z 3 auftritt, wenn
die chromatische Aberration der Sekundär-Abbildungssysteme 4 und 5
nicht gut korrigiert wird. Infolgedessen ist die Ermittlung
des Scharfeinstellungszustands des Objektivs in Abhängigkeit
vom Farbton des zu photographieren Objekts verschieden,
wodurch eine Verminderung der Genauigkeit der Scharfeinstellung
verursacht werden kann.
Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Ermittlung des
Scharfeinstellzustandes eines Objektivs sind unabhängig davon,
ob die Trennung bzw. Aufspaltung der sekundären Objektbilder
mittels mehrerer Einzellinsen oder mittels Prismen
erfolgt, zusätzlich weitere Brechungsflächen zur Verringerung
von Bildfehlern der sekundären Objektbilder vorgesehen,
die die das jeweilige sekundäre Objektbild erzeugenden
Lichtstrahlen in Abtastrichtung des zugeordneten
Zeilensensors brechen und symmetrisch bezüglich der optischen
Achse angeordnet sind. Der Neigungswinkel R der Brechungsflächen
relativ zu einer senkrecht zur optischen
Achse verlaufenden Ebene liegt dabei jeweils im Bereich von
2° < | R | < 10°.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Vorrichtung zur Ermittlung
des Scharfeinstellzustandes eines Objektivs sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Die bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung werden nachstehend
unter Bezugnahme auf die begefügten Zeichnungen
näher erläutert.
Fig. 4 ist eine Querschnittsansicht, die eine
erste Ausführungsform der Erfindung zeigt.
Fig. 5 erläutert die Beziehung zwischen dem Prismenwinkel
und der zu korrigierenden Größe.
Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht der wesentlichen
Teile einer zweiten Ausführungsform der Erfindung.
Fig. 7 erläutert die Beziehung zwischen dem Neigungswinkel,
dem Betrag der Exzentrizität und der zu korrigierenden
Größe.
Fig. 8, 9 und 10 sind Querschnittsansichten der
wesentlichen Teile weiterer Ausführungsformen der
Erfindung.
Fig. 11 ist eine perspektivische Darstellung der in Fig. 10
gezeigten Elemente.
Fig. 4 zeigt eine erste Ausführungsform der Erfindung. In
Fig. 4 sind die Oberfläche eines zu photographierenden Objektes
O, ein Objektiv 11 einer einäugigen Spiegelreflexkamera,
eine Bildebene 12 des
Objektivs 11 und eine Feldlinse 13 dargestellt,
die auf oder in der Nähe der festgelegten Bildebene 12 angeordnet
ist, wobei ihre optische Achse L mit der optischen Achse
des Objektivs 11 übereinstimmt.
Sekundär-Abbildungssysteme 14 und 15 weisen die Form von Linsen auf, deren
Seiten abgeschnitten sind und die miteinander verbunden und
in einem Stück aus Kunststoff gebildet sind. Die
Vorderflächen der Sekundär-Abbildungssysteme 14 und 15 sind
sphärische Oberflächen 14 a und 15 a, und ihre Hinterflächen
sind geneigte ebene Brechungsflächen 14 b und 15 b, die die Gestalt
eines Tales bilden. Die Neigungen der rückseitigen Brechungs
flächen 14 b und 15 b werden in bezug auf eine Richtung bestimmt, die
zu der Anordnungsrichtung (der Bildabtastrichtung) der photoelektrischen
Wandlerelemente der Elementzeilen bzw. des Zeilensensors 16 und 17
parallel ist. Bei der vorliegenden Ausführungsform sind die
Elementzeilen zwei serielle Zeilen, jedoch können die Elementzeilen alternativ
zwei Flächen einer einzigen Elementzeile sein.
Eine Blende 18 mit zwei Öffnungen ist
unmittelbar vor den Sekundär-Abbildungssystemen 14 und 15
angeordnet, und die Mitten der zwei Öffnungen der Blende
18 stimmen mit den optischen Achsen der Sekundär-Abbildungssysteme
14 bzw. 15 überein.
Die geneigten ebenen Brechungsflächen 14 b und 15 b sind bezüglich
der optischen Achse L symmetrisch, und ihr Neigungswinkel
wird im folgenden bestimmt.
Fig. 5(A) ist eine graphische Darstellung, in der auf der Abszisse
der Prismenwinkel und auf der Ordinate die Differenz
Z 1-Z 2 zwischen den Bildlagen dargestellt ist, und
Fig. 5(B) ist eine graphische Darstellung, in der auf der Abszisse
der Prismenwinkel und auf der Ordinate die durch
die Wellenlänge verursachte Differenz 2 · Z 3 zwischen den
Bildlagen darstellt. Die Richtung, in der der Prismenwinkel
negativ ist, sei die Richtung, in der die verschiedenen
zu eliminierenden Beträge positiv sind. Ferner ist die
Empfindlichkeit gegenüber einer Veränderung höher, wenn die
Sekundär-Abbildungssysteme kürzer sind. Fig. 5(A) und
Fig. 5(B) sind Figuren, bei denen die Brennweite der
Sekundär-Abbildungssysteme auf f = 1 normiert ist und als ihre Dicke
1,046 gewählt ist.
Wie aus diesen graphischen Darstellungen ersichtlich ist,
gibt es einen Prismenwinkel, der Z 1-Z 2 zu Null macht,
und einen Prismenwinkel, der 2 Z 3 zu Null macht, jedoch
stimmen die Werte dieser zwei Prismenwinkel nicht miteinander
überein, und infolgedessen kann beispielsweise ein
Mittelwert gewählt werden, bei dem die Eliminierung der
Differenz Z 1-Z 2 gewichtet ist.
Nachstehend ist ein Beispiel für die numerischen Werte der
in Fig. 4 gezeigten Sekundär-Abbildungssysteme angegeben. In
Tabelle 1 gilt der Wert R 1 für die Flächen 14 a und 15 a, und der Wert R 2 für die Flächen 14 b
und 15 b. R bedeutet den Krümmungsradius, D bedeutet die
Dicke der Linse, Nd bedeutet den Brechungsindex für die d-Linie,
und ν d bedeutet die Abbesche Zahl.
Der Abstand zwischen den Mitten der Öffnung der Maske 18
und der Abstand zwischen den Mitten der zwei optischen
Achsen der Sekundär-Abbildungssysteme 14 und 15 betragen beide
0,247. Das Material der Sekundär-Abbildungssysteme ist Acryl,
und ihre Bildvergrößerung beträgt 0,35.
Durch den vorstehend beschriebenen Aufbau ist Z 1-Z 2 auf
Z 1-Z 2=-0,32 µm (entsprechend der Höhe von 2 mm auf der
festgelegten Bildebene) und 2 Z 3 auf 2 Z 3=+0,63 µm (die
Differenz zwischen d-Linie und g-Linie) herabgesetzt worden.
Ferner ist es
erwünscht, daß die Sekundär-Abbildungssysteme unter Berücksichtigung
der folgenden Bedingungen mit einer als Prisma wirksamen
Brechungsfläche versehen werden:
f/3 < d < N · f · (b + 1) (1)
2° < | R | <10° (2)
worin d die Dicke der Sekundär-Abbildungssysteme (die Länge auf
der optischen Achse), f ihre Brennweite, N den Brechungsindex
des Mediums, β den Absolutwert der Bildvergrößerung und
R den Neigungswinkel (den Prismenwinkel) bedeutet, den die Brechungsfläche
bezüglich einer zu der optischen Achse senkrechten
Ebene bildet.
Nachstehend wird die Bedeutung der Extremwerte der vorstehenden
Bedingungen (1) und (2) beschrieben.
Bedingung (1) schreibt die Dicke der Sekundär-Abbildungssysteme
vor, und ihre Obergrenze wird so festgelegt,
daß die Sekundärbildebene hinter den Sekundär-Abbildungssystemen
liegt. Wenn die Dicke d andererseits so klein
gewählt wird, daß sie die Untergrenze dieser Bedingung unterschreitet,
und die als Linse wirksame Oberfläche nahe an
die als Prisma wirksame Oberfläche herankommt, entfernt sich
der Schnittpunkt zwischen den zwei nachstehend zu beschreibenden
geraden Linie weiter vom Nullpunkt, und eine gute
Korrektur der verschiedenen Beträge Z 1-Z 2 und Z 3, deren
Probleme vorstehend dargelegt worden sind, wird unmöglich.
Andererseits schreibt Bedingung (2) den Neigungswinkel R vor,
und wenn seine Untergrenze unterschritten wird, kann die
Korrekturwirkung der verschiedenen Beträge nicht in
ausreichendem Maße erreicht werden. Wenn andererseits die
Obergrenze dieser Bedingung überschritten wird, wird es,
wenn auf einen bestimmten Punkt in der Primärbildebene im
Entfernungsmeßfeld geachtet wird, schwierig, die Formen der
zwei Punkte in der Sekundärbildebene, die diesem Punkt
entsprechend und die durch Abbildungsfehler beeinflußt worden
sind, miteinander identisch zu machen.
Fig. 6 zeigt die wesentlichen Teile einer anderen Ausführungsform.
In Fig. 6 sind
Sekundär-Abbildungssysteme 24 a und 25 a,
ihre sphärischen Oberflächen 24 a und 25 a und
ihre geneigten ebenen Brechungsflächen,
24 b und 25 b dargestellt, die mit der optischen Achse L als Symmetrieachse eine
kegelförmige Gestalt bilden. Die anderen am Aufbau beteiligten
Bauteile sind den Bauteilen in der Ausführungsform
von Fig. 4 ähnlich, jedoch sind die optischen Achsen 24 L und
25 L der Sekundär-Abbildungssysteme 24 und 25 im Fall der vorliegenden
Ausführungsform so angeordnet, daß sie bezüglich der Lage
der Mitten 18′ und 18″ der Öffnungen einer mit zwei Öffnungen
versehenen Maske 18 nach außen abweichen. Dadurch kann
eine Wirkung erzielt werden, die der Wirkung, die durch die
Neigung der einzelnen Sekundär-Abbildungssysteme längs der
Bögen der sphärischen Oberfläche 24 a und 25 a der Linsen
erzielt wird, ähnlich ist, wobei diese Wirkung mit der
Prismenwirkung der geneigten ebenen Brechungsflächen 24 b und 25 b
zusammenwirkt.
Der Betrag der Exzentrizität der Sekundär-Abbildungssysteme
und der Neigungswinkel der ebenen Brechungsflächen werden folgendermaßen
festgelegt.
In Fig. 7 ist auf der Ordinate der Neigungswinkel (Prismenwinkel)
der ebenen Brechungsflächen und auf der Abszisse der
Betrag der Exzentrizität der Sekundär-Abbildungssysteme dargestellt, wobei
die Linie A die Bedingung Z 3=0 und die
Linie B die Bedingung Z 1-Z 2=0 erfüllt. Der Schnittpunkt zwischen
den zwei Linien A und B ist die optimale Lösung, und die nachstehend
beschriebenen numerischen Werte sind Werte, die in der Nähe
dieser Lösung liegen. Wenn der Prismenwinkel flacher
als dieser Wert ist oder wenn der Betrag der Exzentrizität
der Sekundär-Abbildungssysteme größer als dieser Wert ist,
werden die verschiedenen zu eliminierenden Beträge positiv,
und im umgekehrten Falle werden die verschiedenen zu eliminierenden
Beträge negativ. Die Lösung kommt dem Nullpunkt
näher, und die Toleranz wird geringer, während die Länge der
Sekundär-Abbildungssysteme größer wird.
R, d, Nd, ν d, das Material und die Bildvergrößerung der
Sekundär-Abbildungssysteme von Fig. 6 und der Abstand zwischen
den Mitten der zwei Öffnungen der mit Öffnungen versehenen
Maske 18 sind dieselben wie die in Tabelle 1 gezeigten,
jedoch beträgt der Abstand zwischen den optischen Achsen
der Sekundär-Abbildungssysteme 0,322 mm, und die ebenen
Brechungsflächen 24 b und 25 b sind bezüglich einer zu den optischen
Achsen senkrechten Ebene um 6° nach außen geneigt.
Der Wert Z 1-Z 2 ist auf Z 1-Z 2=-0,084 µm und der Wert Z 3 auf
Z 3=+0,042 µm
herabgesetzt.
Fig. 8 zeigt die wesentlichen Teile einer dritten Ausführungsform.
Die anderen Teile dieser Ausführungsform
haben einen ähnlichen Aufbau wie die Teile in der
Ausführungsform von Fig. 4. In der vorliegenden Ausführungsform
sind die Brechungsflächen (Prismenoberflächen) 34 b
und 35 b und die sphärischen Linsenflächen 34 a und 35 a (Sammel
linsenoberflächen) der Sekundär-Abbildungssysteme 24 und 25
umgekehrt angeordnet, und eine mit zwei Öffnungen versehene
Maske 18 ist den sphärischen Oberflächen 34 a und 35 a
benachbart angeordnet. Dementsprechend gibt es keine Einschränkung
für die Reihenfolge der sphärischen Oberflächen und der ebenen
Brechungsflächen.
Fig. 9 zeigt eine weitere Ausführungsform. In
den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen ist ein Ende
einer stabartigen Linse als Prismenoberfläche ausgebildet,
während in der vorliegenden Ausführungsform ein als Prisma
wirksamer Bereich 46 von den Abbildungslinsen 44 und
45 getrennt ist und die Sekundär-Abbildungssysteme jeweils aus
mehr als einer Einzellinse bestehen. In den vorstehend beschriebenen
Ausführungsformen hatten die Sekundär-Abbildungssysteme
eine Gestalt, bei der die Seiten von Linsen
weggeschnitten und die Linsen miteinander verbunden waren.
Dies ist ein Aufbau für die Einführung einer großen Lichtmenge.
Wenn die Lichtmenge ausreicht, können auch Einzellinsen mit
einem kleineren Durchmesser getrennt voneinander angeordnet
werden.
Fig. 10 zeigt die wesentlichen Teile einer Ausführungsform,
bei der die
Trennung der sekundären Objektbilder mittels eines
Doppelkeilprismas erfolgt. Fig. 11 ist eine perspektivische
Ansicht dieser Ausführungsform.
Es ist eine aus Bildtrennungsprismen 50 a und 50 b bestehende
Strahlenteiler-Vorrichtung in Form eines Doppelkeilprismas vorgesehen, auf dessen gemäß Fig. 10
linker Seite sich wie in Fig. 4 ein
nicht gezeigtes Objektiv und eine Feldlinse befinden. Die
optische Achse eines Sekundär-Abbildungssystems 50
stimmt mit der optischen Achse L des
nicht gezeigten Objektivs überein. Ebene Brechungsflächen
51 a und 51 b
eines gleichseitigen Prismas, die den vorstehend beschriebenen
ähnlich sind, sind in Richtungen
geneigt, die zu den Anordnungen der Elementzeilen 52 a
und 52 b aus photoelektrischen Wandlerelementen parallel
sind. Diese Elementzeilen 52 a und 52 b aus photoelektrischen Wandlerelementen
sind in Positionen für das Empfangen der sekundären Objektbilder, die
durch die Wirkung des Doppelkeilprismas 50 senkrecht getrennt
wurden, angeordnet. Im Falle der vorliegenden Ausführungsform
können die Differenz Z 1-Z 2 zwischen den Bildlagen und
die auf die Wellenlänge zurückzuführende Abweichung zwischen
den Bildlagen wieder durch die Wirkung der Brechungsflächen 51 a und 51
unterdrückt werden.
Gemäß der vorstehenden Beschreibung kann in einer
Vorrichtung, die eine Ermittlung bzw. Unterscheidung der
Scharfeinstellung auf der Basis von Lageabweichungen zwischen mehreren sekundären
Objektbildern bewirkt, unabhängig von
der Objektlage im Ermittlungsgesichtfeld oder vom Farbton
und mit einem bemerkenswert einfachen Aufbau eine
äußerst genaue Ermittlung realisiert und ein kompakter Aufbau erreicht werden.
Claims (18)
1. Vorrichtung zur Ermittlung des Scharfeinstellungszustandes
eines Objektivs, das ein primäres Objektbild erzeugt,
mit
einer Feldlinse, die in oder nahe der Bildebene des Objektivs auf der optischen Achse angeordnet ist,
zwei optischen Sekundär-Abbildungssystemen, die jeweils symmetrisch um die optische Achse herum angeordnet sind und jeweils eines von zwei getrennten, gleichartigen sekundären Objektbildern erzeugen, und
einer Sensoreinrichtung, die für jedes der beiden sekundären Objektbilder einen Zeilensensor aufweist, auf dem das zugeordnete sekundäre Objektbild abbildbar ist, und die Signale entsprechend der relativen Lage der sekundären Objektbilder liefert,
dadurch gekennzeichnet, daß jedes der Sekundär-Abbildungssysteme (14, 15; 24, 25; 34, 35; 44, 45, 46) zumindest eine sphärische Linsenfläche (14 a, 15 a; 24 a, 25 a; 34 a, 35 a) und eine geneigte ebene Brechungsfläche (14 b, 15 b; 24 b, 25 b; 34 b, 35 b) zur Verringerung von Bildfehlern des sekundären Objektbildes aufweist, die die das jeweilige sekundäre Objektbild erzeugenden Lichtstrahlen in Abtastrichtung des zugeordneten Zeilensensors (16, 17) bricht,
wobei die beiden ebenen Brechungsflächen (14 b, 15 b; 24 b, 25 b; 34 b, 35 b) symmetrisch bezüglich der optischen Achse (L) angeordnet sind und ihr Neigungswinkel R relativ zu einer senkrecht zur optischen Achse (L) verlaufenden Ebene jeweils im Bereich 2° < | R | < 10°liegt.
einer Feldlinse, die in oder nahe der Bildebene des Objektivs auf der optischen Achse angeordnet ist,
zwei optischen Sekundär-Abbildungssystemen, die jeweils symmetrisch um die optische Achse herum angeordnet sind und jeweils eines von zwei getrennten, gleichartigen sekundären Objektbildern erzeugen, und
einer Sensoreinrichtung, die für jedes der beiden sekundären Objektbilder einen Zeilensensor aufweist, auf dem das zugeordnete sekundäre Objektbild abbildbar ist, und die Signale entsprechend der relativen Lage der sekundären Objektbilder liefert,
dadurch gekennzeichnet, daß jedes der Sekundär-Abbildungssysteme (14, 15; 24, 25; 34, 35; 44, 45, 46) zumindest eine sphärische Linsenfläche (14 a, 15 a; 24 a, 25 a; 34 a, 35 a) und eine geneigte ebene Brechungsfläche (14 b, 15 b; 24 b, 25 b; 34 b, 35 b) zur Verringerung von Bildfehlern des sekundären Objektbildes aufweist, die die das jeweilige sekundäre Objektbild erzeugenden Lichtstrahlen in Abtastrichtung des zugeordneten Zeilensensors (16, 17) bricht,
wobei die beiden ebenen Brechungsflächen (14 b, 15 b; 24 b, 25 b; 34 b, 35 b) symmetrisch bezüglich der optischen Achse (L) angeordnet sind und ihr Neigungswinkel R relativ zu einer senkrecht zur optischen Achse (L) verlaufenden Ebene jeweils im Bereich 2° < | R | < 10°liegt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
jedes optische Sekundär-Abbildungssystem von einer Einzellinse
(14, 15; 24, 25; 34, 35) gebildet ist, deren optische
Achse (24 L, 25 L) parallel zu der optischen Achse (L)
des Objektivs (11) verläuft.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Einzellinse eine Stablinse ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einzellinsen (14, 15; 24, 25; 34, 35) der optische
Sekundär-Abbildungssysteme einstückig miteinander
ausgebildet sind.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die objektseitige Oberfläche (14 a, 15 a;
24 a, 25 a) der Einzellinse (14, 15; 24, 25) sphärisch und
die bildseitige Oberfläche (14 b, 15 b; 24 b, 25 b) der Einzellinse
(14, 15; 24, 25) als ebene geneigte Brechungsfläche
ausgebildet ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die bildseitige Oberfläche (34 a, 35 a)
der Einzellinse (34, 35) sphärisch und die objektseitige
Oberfläche (34 b, 35 b) der Einzellinse (34, 35) als ebene
geneigte Brechungsfläche ausgebildet ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Einzellinse die Gleichung erfüllt:
f/3 < d <N · f · (β + 1)wobei f die Brennweite der Einzellinse, d deren Dicke längs
der optischen Achse, N deren Brechungsindex und β den Absolutwert
der Abbildungsvergrößerung der Einzellinse bezeichnen.
8. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
jedes optische Sekundär-Abbildungssystem von mehreren Einzellinsen
(44, 46; 45, 46) gebildet ist, deren optische
Achsen parallel zu der optischen Achse (L) des Objektivs
(11) verlaufen.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die sich jeweils entsprechenden Linsen (44, 45) der optischen
Sekundär-Abbildungssysteme einstückig miteinander
ausgebildet sind.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß nahe der sphärischen Linsenfläche (14 a,
15 a; 24 a, 25 a; 34 a, 35 a) der Sekundär-Abbildungssysteme
eine Blende (18) angeordnet ist, die für jedes der Sekundär-Abbildungssysteme
eine Blendenöffnung aufweist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
daß die Mitte (18′, 18′′) jeder Blendenöffnung der Blende
(18) gegenüber der optischen Achse (24 L, 25 L) des zugeordneten
Sekundär-Abbildungssystems (24, 25) versetzt ist.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Brechungsflächen (14 b, 15 b)
einen Trichter bilden, dessen Fußpunkt auf der optischen
Achse (L) des Objektivs liegt.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Brechungsflächen (24 b, 25 b;
34 b, 35 b) einen Kegel bilden, dessen Scheitelpunkt auf der
optischen Achse (L) des Objektivs liegt.
14. Vorrichtung zur Ermittlung des Scharfeinstellungszustandes
eines Objektivs, das ein primäres Objektbild erzeugt,
mit
einer Feldlinse, die in oder nahe der Bildebene des Objektivs auf der optischen Achse angeordnet ist,
einem optischen Sekundär-Abbildungssystem, das eine koaxial zur optischen Achse angeordnete Abbildungslinse und eine Strahlenteiler-Vorrichtung aufweist, mittels der zwei Strahlenbündel erzeugbar sind, so daß das Sekundär-Abbildungssystem zwei getrennte, gleichzeitige sekundäre Objektbilder erzeugt, und
einer Sensoreinrichtung, die für jedes der beiden sekundären Objektbilder einen Zeilensensor aufweist, auf dem das zugeordnete sekundäre Objektbild abbildbar ist, und die Signale entsprechend der relativen Lage der sekundären Objektbilder liefert,
dadurch gekennzeichnet, daß das Sekundär-Abbildungssystem zusätzlich zur Strahlenteiler-Vorrichtung (50) für den Strahlengang jedes der sekundären Objektbilder eine geneigte ebene Brechungsfläche (51 b, 51 c) zur Verringerung von Bildfehlern des sekundären Objektbildes aufweist, die die das jeweilige sekundäre Objektbild erzeugenden Lichtstrahlen in Abtastrichtung des zugeordneten Zeilensensors (52 a, 52 b) bricht,
wobei die beiden ebenen Brechungsflächen (51 b, 51 c) symmetrisch bezüglich der optischen Achse (L) angeordnet sind und ihr Neigungswinkel R relativ zu einer senkrecht zur optischen Achse (L) verlaufenden Ebene jeweils im Bereich von 2° < | R | < 10°liegt.
einer Feldlinse, die in oder nahe der Bildebene des Objektivs auf der optischen Achse angeordnet ist,
einem optischen Sekundär-Abbildungssystem, das eine koaxial zur optischen Achse angeordnete Abbildungslinse und eine Strahlenteiler-Vorrichtung aufweist, mittels der zwei Strahlenbündel erzeugbar sind, so daß das Sekundär-Abbildungssystem zwei getrennte, gleichzeitige sekundäre Objektbilder erzeugt, und
einer Sensoreinrichtung, die für jedes der beiden sekundären Objektbilder einen Zeilensensor aufweist, auf dem das zugeordnete sekundäre Objektbild abbildbar ist, und die Signale entsprechend der relativen Lage der sekundären Objektbilder liefert,
dadurch gekennzeichnet, daß das Sekundär-Abbildungssystem zusätzlich zur Strahlenteiler-Vorrichtung (50) für den Strahlengang jedes der sekundären Objektbilder eine geneigte ebene Brechungsfläche (51 b, 51 c) zur Verringerung von Bildfehlern des sekundären Objektbildes aufweist, die die das jeweilige sekundäre Objektbild erzeugenden Lichtstrahlen in Abtastrichtung des zugeordneten Zeilensensors (52 a, 52 b) bricht,
wobei die beiden ebenen Brechungsflächen (51 b, 51 c) symmetrisch bezüglich der optischen Achse (L) angeordnet sind und ihr Neigungswinkel R relativ zu einer senkrecht zur optischen Achse (L) verlaufenden Ebene jeweils im Bereich von 2° < | R | < 10°liegt.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
daß die objektseitige Oberfläche (51 a) der Abbildungslinse
(51) sphärisch und die bildseitige Oberfläche der Abbildungslinse
in Form der zwei ebenen geneigten Brechungsflächen
(51 b, 51 c) ausgebildet ist.
16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet,
daß nahe der sphärischen Linsenfläche (51 a) der Abbildungslinse
(51) eine Blende (18) angeordnet ist, die für den
Strahlengang jedes der sekundären Objektbilder eine Blendenöffnung
aufweist.
17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Brechungsflächen (51 b, 51 c)
einen Trichter bilden, dessen Fußpunkt auf der optischen
Achse (L) des Objektivs liegt.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 14 bis 16, dadurch
gekennzeichnet, daß die beiden Brechungsflächen einen Kegel
bilden, dessen Scheitelpunkt auf der optischen Achse des
Objektivs liegt.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14312685A JPS623216A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 焦点検出装置 |
JP22058885A JPH0679102B2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | 焦点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3621542A1 DE3621542A1 (de) | 1987-01-08 |
DE3621542C2 true DE3621542C2 (de) | 1990-06-07 |
Family
ID=26474923
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19863621542 Granted DE3621542A1 (de) | 1985-06-28 | 1986-06-27 | Vorrichtung zur ermittlung des scharfeinstellungszustands eines objektivs |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4849782A (de) |
DE (1) | DE3621542A1 (de) |
GB (1) | GB2178621B (de) |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01187513A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-26 | Olympus Optical Co Ltd | 合焦点検出光学系 |
US5305047A (en) * | 1988-10-11 | 1994-04-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern projector having a multi-portion projection lens and camera comprising the same |
JP2506197B2 (ja) * | 1989-07-28 | 1996-06-12 | オリンパス光学工業株式会社 | 合焦検出装置 |
DE69120455T2 (de) * | 1990-04-12 | 1997-02-06 | Olympus Optical Co | Automatisches Fokussiergerät mit Verfahren zur optimalen Berechnung der Fokussierposition |
US5235375A (en) * | 1990-04-12 | 1993-08-10 | Olympus Optical Co., Ltd. | Focusing position detecting and automatic focusing apparatus with optimal focusing position calculation method |
JP2927047B2 (ja) * | 1991-05-02 | 1999-07-28 | キヤノン株式会社 | 焦点検出装置 |
FR2676837B1 (fr) * | 1991-05-20 | 1995-02-17 | Asahi Optical Co Ltd | Appareil de detection de mise au point. |
JP3199774B2 (ja) * | 1991-06-26 | 2001-08-20 | 旭光学工業株式会社 | 焦点検出装置 |
JP3144155B2 (ja) * | 1993-05-20 | 2001-03-12 | キヤノン株式会社 | 焦点検出装置 |
US5729771A (en) * | 1995-01-20 | 1998-03-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus and optical apparatus using it |
US6226036B1 (en) * | 1997-11-04 | 2001-05-01 | Rudolf E. Grosskopf | Device for optical investigation of an object |
JP4018218B2 (ja) | 1997-12-25 | 2007-12-05 | キヤノン株式会社 | 光学装置及び測距点選択方法 |
JP4384288B2 (ja) * | 1999-05-27 | 2009-12-16 | オリンパス株式会社 | 焦点検出装置 |
JP2004198701A (ja) * | 2002-12-18 | 2004-07-15 | Olympus Corp | 焦点検出光学系及びそれを備えたカメラ |
JP2005195786A (ja) * | 2004-01-06 | 2005-07-21 | Canon Inc | 焦点検出装置及びそれを用いた光学機器 |
US7620309B2 (en) * | 2006-04-04 | 2009-11-17 | Adobe Systems, Incorporated | Plenoptic camera |
US7872796B2 (en) | 2007-01-25 | 2011-01-18 | Adobe Systems Incorporated | Light field microscope with lenslet array |
JP5016373B2 (ja) * | 2007-05-15 | 2012-09-05 | ペンタックスリコーイメージング株式会社 | 焦点検出装置の光学系 |
US8290358B1 (en) | 2007-06-25 | 2012-10-16 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for light-field imaging |
US8019215B2 (en) | 2007-08-06 | 2011-09-13 | Adobe Systems Incorporated | Method and apparatus for radiance capture by multiplexing in the frequency domain |
US7956924B2 (en) * | 2007-10-18 | 2011-06-07 | Adobe Systems Incorporated | Fast computational camera based on two arrays of lenses |
US8189065B2 (en) * | 2008-01-23 | 2012-05-29 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for full-resolution light-field capture and rendering |
US7962033B2 (en) * | 2008-01-23 | 2011-06-14 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for full-resolution light-field capture and rendering |
US8155456B2 (en) * | 2008-04-29 | 2012-04-10 | Adobe Systems Incorporated | Method and apparatus for block-based compression of light-field images |
US8244058B1 (en) | 2008-05-30 | 2012-08-14 | Adobe Systems Incorporated | Method and apparatus for managing artifacts in frequency domain processing of light-field images |
US7949252B1 (en) | 2008-12-11 | 2011-05-24 | Adobe Systems Incorporated | Plenoptic camera with large depth of field |
US8189089B1 (en) | 2009-01-20 | 2012-05-29 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for reducing plenoptic camera artifacts |
US8345144B1 (en) | 2009-07-15 | 2013-01-01 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for rich image capture with focused plenoptic cameras |
US8228417B1 (en) | 2009-07-15 | 2012-07-24 | Adobe Systems Incorporated | Focused plenoptic camera employing different apertures or filtering at different microlenses |
US8400555B1 (en) | 2009-12-01 | 2013-03-19 | Adobe Systems Incorporated | Focused plenoptic camera employing microlenses with different focal lengths |
US8665367B2 (en) * | 2010-01-29 | 2014-03-04 | Sharp Laboratories Of America, Inc. | Video resolution enhancement technique |
US8817015B2 (en) | 2010-03-03 | 2014-08-26 | Adobe Systems Incorporated | Methods, apparatus, and computer-readable storage media for depth-based rendering of focused plenoptic camera data |
US8358366B1 (en) | 2010-05-28 | 2013-01-22 | Adobe Systems Incorporate | Methods and apparatus for high-speed digital imaging |
US8724000B2 (en) | 2010-08-27 | 2014-05-13 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for super-resolution in integral photography |
US8749694B2 (en) | 2010-08-27 | 2014-06-10 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for rendering focused plenoptic camera data using super-resolved demosaicing |
US8803918B2 (en) | 2010-08-27 | 2014-08-12 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for calibrating focused plenoptic camera data |
US8665341B2 (en) | 2010-08-27 | 2014-03-04 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for rendering output images with simulated artistic effects from focused plenoptic camera data |
US9197798B2 (en) | 2011-03-25 | 2015-11-24 | Adobe Systems Incorporated | Thin plenoptic cameras using microspheres |
US9538075B2 (en) | 2013-12-30 | 2017-01-03 | Indiana University Research And Technology Corporation | Frequency domain processing techniques for plenoptic images |
JP2017526507A (ja) | 2014-08-31 | 2017-09-14 | ベレシュトカ,ジョン | 目を解析するためのシステム及び方法 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1294097A (en) * | 1969-11-14 | 1972-10-25 | Canon Kk | Optical system for automatic focussing apparatus |
JPS499372B1 (de) * | 1969-11-15 | 1974-03-04 | ||
US4002899A (en) * | 1974-12-04 | 1977-01-11 | Honeywell Inc. | Focus detecting apparatus |
GB1555527A (en) * | 1975-09-09 | 1979-11-14 | Asahi Optical Co Ltd | Focus decting in a singlelens reflex camera |
US4132888A (en) * | 1976-03-17 | 1979-01-02 | Toshihiro Kondo | Device for automatically focusing image |
JPS52138924A (en) * | 1976-05-15 | 1977-11-19 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Focal detector |
JPS52147430A (en) * | 1976-06-01 | 1977-12-07 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Focus detection device |
JPS6044643B2 (ja) * | 1977-03-18 | 1985-10-04 | 旭光学工業株式会社 | 焦点検出装置 |
JPS6044649B2 (ja) * | 1977-05-20 | 1985-10-04 | 旭光学工業株式会社 | 一眼レフレツクスカメラの焦点検出装置 |
JPS5461921A (en) * | 1977-10-27 | 1979-05-18 | Asahi Optical Co Ltd | Focal point detector |
DE2756954A1 (de) * | 1977-12-21 | 1979-06-28 | Leitz Ernst Gmbh | Optisch-elektronische fokussiereinrichtung |
JPS6040603B2 (ja) * | 1977-12-22 | 1985-09-11 | 旭光学工業株式会社 | カメラの焦点検出装置 |
DE3018588A1 (de) * | 1980-05-14 | 1981-11-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Spiegelreflexkamera mit optoelektronischem entfernungsmesser |
JPS5793208A (en) * | 1980-12-01 | 1982-06-10 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Optical system of distance measuring apparatus |
JPS57114112A (en) * | 1981-01-06 | 1982-07-15 | Canon Inc | Image reader |
AU554186B2 (en) * | 1981-10-26 | 1986-08-14 | Sony Corporation | Apparatus for detecting distance to an object |
JPS58156908A (ja) * | 1982-03-13 | 1983-09-19 | Canon Inc | 合焦状態検出光学系 |
DE3331264A1 (de) * | 1982-08-30 | 1984-03-01 | Canon K.K., Tokyo | Schaerfeermittlungsvorrichtung |
DE3331444A1 (de) * | 1982-09-03 | 1984-03-08 | Asahi Kogaku Kogyo K.K., Tokyo | Scharfeinstellungsdetektorvorrichtung |
JPS5962811A (ja) * | 1982-10-04 | 1984-04-10 | Canon Inc | 焦点検出装置 |
JPS5965814A (ja) * | 1982-10-07 | 1984-04-14 | Canon Inc | 合焦検出装置 |
US4573784A (en) * | 1982-12-11 | 1986-03-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting apparatus |
DE8235857U1 (de) * | 1982-12-21 | 1984-05-24 | Wella Ag, 6100 Darmstadt | Selbsttaetiger Verschluss fuer flexible Behaelter |
JPS59121613U (ja) * | 1983-02-05 | 1984-08-16 | キヤノン株式会社 | 焦点検出装置 |
JPS6029716A (ja) * | 1983-07-28 | 1985-02-15 | Canon Inc | 焦点検出装置の信号処理方法 |
JPS6032014A (ja) * | 1983-08-01 | 1985-02-19 | Minolta Camera Co Ltd | カメラの焦点検出装置 |
-
1986
- 1986-06-24 US US06/877,850 patent/US4849782A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-25 GB GB8615463A patent/GB2178621B/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-06-27 DE DE19863621542 patent/DE3621542A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4849782A (en) | 1989-07-18 |
GB2178621B (en) | 1990-03-14 |
GB8615463D0 (en) | 1986-07-30 |
GB2178621A (en) | 1987-02-11 |
DE3621542A1 (de) | 1987-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3621542C2 (de) | ||
DE602005003502T2 (de) | Retrofokus Zoom Objektiv mit zwei Gruppen | |
DE102019009255B3 (de) | Optisches System und Bildaufnahmegerät | |
DE60306044T2 (de) | Bildaufnahmeobjektiv | |
DE3011053A1 (de) | Optisches system | |
DE3535028C2 (de) | ||
DE69620926T2 (de) | Optisches System für Sucher | |
DE3033509A1 (de) | Monozentrisches optisches system | |
DE3011054C2 (de) | Optisches System für ein Entfernungsmeßsystem | |
DE69223106T2 (de) | Zoomobjektiv | |
DE2507369C3 (de) | Weitwinkelobjektiv | |
DE69628960T2 (de) | Zoomobjektiv und Videokamera mit einem derartigen Objektiv | |
DE3108018C2 (de) | ||
DE3709645A1 (de) | Gradientindexlinse | |
DE3117858C2 (de) | Binokulares Stereomikroskop | |
DE3141824A1 (de) | Varioobjektiv fuer endliche entfernung | |
DE69017373T2 (de) | Fokussierungsdetektionsgerät. | |
DE2520793C2 (de) | Varioobjektiv | |
DE3110296A1 (de) | "scharfeinstellungsdetektor" | |
DE3205471C2 (de) | Varioobjektiv | |
DE3200949A1 (de) | Kompakt-weitwinkel-varioobjektiv | |
DE6803692U (de) | Extrem weitwinkliges objektiv. | |
DE3122089A1 (de) | "invertierter galilei-sucher" | |
DE3714579C2 (de) | ||
DE3608634A1 (de) | Weitwinkellinsensystem mit kurzer gesamtlaenge |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition |