DE3434388C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine elektrooptische Anordnung mit licht
elektrischem Empfangsteil gemäß dem Gattungsbegriff des Anspruchs 1.
Bei bestimmten Problemen der Bildverarbeitung, z. B. bei der Objekterken
nung, ist es erforderlich, die erste Ableitung eines zweidimensionalen
Bildes zu erzeugen. Dies entspricht einer Hochpaßfilterung der Ortsfre
quenzen im Bild und führt zu einer Konturenanhebung.
Dazu ist ein digitales Verfahren bekannt, bei dem das Bild digitalisiert
und in einem Rechner die erste Ableitung berechnet wird. Das ist ko
sten- und zeitaufwendig und deshalb kaum für Echtzeit-Anwendung geeignet.
Ferner ist die Anwendung kohärent-optischer Bildverarbeitung bekannt.
Dabei kann in Echtzeit eine Hochpaßfilterung mit Lichtgeschwindigkeit
durchgeführt werden. Allerdings ist dieses Verfahren ebenfalls verhält
nismäßig teuer und vom Platzbedarf her aufwendig, so daß es beispiels
weise in kleineren Flugkörpern nicht einsetzbar ist.
Durch die DE-OS 28 26 195 ist eine elektrooptische Anordnung der ein
gangs genannten Art bekanntgeworden, die als Flüssigkristall-Lichtfil
ter eingesetzt wird und zur Erzielung einer guten räumlichen Auflösung
auf einer ersten lichtempfindlichen Schicht ein Ladungsbild erzeugt, das
in einer zweiten Schicht in ein den Potentialdifferenzen entsprechendes
Transparenzbild umgewandelt wird. Ein Verfahren und Mittel zur Umwand
lung der lokalen Potentialsdifferenzen in Transparenzunterschiede zur Er
zeugung von lediglich Konturbildern sind weder offenbart noch nahegelegt.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde,
eine Anordnung der eingangs genannten Art zu schaffen,
die es ermöglicht, lediglich die Konturen eines Bildes
darzustellen und als optoelektronisches Bauteil wie
eine optische Komponente in optischen Systemen einge
setzt werden kann.
Diese Aufgabe wird durch die im Hauptanspruch aufge
zeigten Maßnahmen gelöst. In den Unteransprüchen sind
vorteilhafte Ausgestaltungen angegeben und in der nach
folgenden Beschreibung sind Ausführungsbeispiele erläu
tert und in den Figuren der Zeichnung dargestellt. Es
zeigt
Fig. 1 schematisch die Anordnung eines erfindungsgemä
ßen Konturenfilters in einem optischen System,
Fig. 2 schematisch den Aufbau eines Konturenfilters
mit longitudinaler Elektrodenanordnung an einem
eindimensionalen Beispiel,
Fig. 3 einen Schnitt durch ein zweidimensionales Kon
turenfilter,
Fig. 3a das Ersatzschaltbild für den Gegenstand von
Fig. 4,
Fig. 3b eine Aufsicht auf die obere Substratplatte des
Gegenstand von Fig. 4,
Fig. 3c eine Aufsicht auf die untere Substratplatte des
Gegenstand von Fig. 4.
Fig. 1 zeigt schematisch die Anordnung eines erfin
dungsgemäßen Konturenfilters in einem optischen System.
Es besteht aus einem Objektiv L 1 mit der Brennweite
f 1 und einem Okular L 2 mit der Brennweite f 2. Bei
diesem Fernrohr wird das erfindungsgemäße Konturenfil
ter, nämlich das Konturenfilter K, in der Zwischenbild
ebene eingesetzt. Das Bild, das bearbeitet werden soll,
wird demnach auf die objektivseitige Oberfläche des
Konturenfilters K abgebildet. Auf dessen zweiter Ober
fläche, die dem Okular zugewandt ist, entsteht das ge
filterte Bild. Durch Einfügen dieses Konturenfilters in
der Zwischenbildebene sieht der Betrachter also nicht
das gewohnte Bild, sondern direkt nur das Konturenbild.
Ein wesentlicher Vorteil der erfindungsgemäßen Anord
nung gegenüber anderen Verfahren und Konturenfiltern
besteht darin, daß diese Anordnung wie eine optische
Komponente ggf. sogar in bereits vorhandene optische
Systeme eingefügt und aus den Systemen auch wieder ein
fach entfernt werden kann.
Das Konturenfilter K arbeitet nach dem in Fig. 2 ange
gebenen Grundprinzip. Die Fläche des Konturenfilters
mit ein- oder zweidimensionaler Struktur enthält ein
mosaikförmiges Detektorarray D 1 . . . D 6, das in
Wechselwirkung mit einem elektroopisch aktiven Mate
rial steht. Die einzelnen Detektoren D 1 . . . D 6
haben einen Abstand d voneinander. Zwischen den Detek
toren D 1 . . . D 6 ist das ganze Konturenfilter K op
tisch transparent. Allen Detektoren D 1 . . . D 6 ist
eine Elektrode E 1 . . . E 6 zugeordnet. Eine transpa
rente gemeinsame Elektrode E g ist mit allen Detekto
ren D 1 . . . D 6 verbunden. Das Konturenfilter ist
beidseitig auf Substratplatten S 1 und S 2 aufgebaut
und im Regelfall mit Polarisationsfiltern P 1 und P 2
abgeschlossen.
Bei Lichteinfall entsteht bei allen Detektoren D 1 . . .
D 6 eine Fotospannung zwischen der gemeinsamen Elek
trode E g und der jeweiligen Detektorelektrode E 1
. . . E 6. Die elektrooptisch aktive Schicht M und die
Polarisationsfilter P 1 bzw. P 2 werden so gewählt,
daß das Konturenfilter bei gleichmäßiger Beleuchtung in
Durchsicht entweder vollständig transparent (Fall A)
oder vollständig lichtundurchlässig (Fall B) ist.
Werden nun zwei benachbarte Detektoren D i und D i + 1
des Konturenfilters mit unterschiedlicher Intensität
beleuchtet, dann entsteht zwischen den Detektorelektro
den E i und E i + 1 dieser beiden Detektoren eine Po
tentialdifferenz, welche die optischen Eigenschaften
der elektrooptisch aktiven Schicht verändert, so daß
das Konturenfilter an dieser Stelle im Fall A lichtun
durchlässig bzw. im Fall B lichtdurchlässig wird. Bei
Verwendung einer linearen elektrooptisch aktiven
Schicht M ist dann die Änderung der Transmission pro
portional zum Ortsgradienten der einfallenden Lichtin
tensität.
Als elektrooptisch aktive Schicht M können bei diesem
Konturenfilter K, z. B. Flüssigkristalle oder elektroop
tisch aktive Keramiken verwendet werden.
Für die Detektoren sind z. B. Fotoleiter, bei denen der
elektrische Widerstand von der Intensität des einfal
lenden Lichtes abhängig ist oder Sperrschicht-Fotode
tektoren (Fotoelemente) geeignet.
Letztere haben den Vorteil, daß die Spannung des Foto
elementes über viele Dekaden proportional zum Logarith
mus der einfallenden Lichtintensität ist, so daß bei
diesem Konturenfilter die Modulation des elektroopti
schen Materials über ebenso viele Dekaden unabhängig
von der Intensität des einfallenden Lichtes und nur ab
hängig vom örtlichen Intensitätsgradienten ist.
In Fig. 3 ist der typische Aufbau für ein zweidimensio
nales Konturenfilter angegeben. Das Ersatzschaltbild
zeigt Fig. 3a. Als Detektoren werden Photowiderstände
R i verwendet. Die Kondensatoren C i werden gebildet
durch das Dielektrikum der Isolierschicht I und die
Elektroden E 2 und E 3. Durch die Wechselspannung U BIAS
an den Elektroden E 1 und E 2 werden die Kondensatoren
C i ebenfalls auf eine Wechselspannung aufgeladen, de
ren Amplitude abhängig ist von der auf die Detektoren
D i bzw. R i einfallenden Lichtintensität. Ist die
Lichtintensität an allen Detektoren D i gleich, dann
tritt an allen Kondensatoren C i die gleiche Wechsel
spannung auf, so daß über der Flüssigkristall-Schicht M
zwischen den Elektroden E 3 benachbarter Bildelemente
keine Spannung auftritt. Ist die Lichtintensität an be
nachbarten Detektoren D i bzw. R i verschieden, dann
ist die Spannung an den zugehörigen Kondensatoren C i
ebenfalls verschieden, so daß auf die Flüssigkristall-
Schicht M zwischen den Elektroden E 3 dieser Elemente
eine Wechselspannung einwirkt, und damit der Flüssig
kristall dort seine optischen Eigenschaften ändert.
Durch geeignete Wahl des Flüssigkristalls und ggf. der
Polarisatoren P 1 und P 2 vor und hinter dem Kontu
renfilter kann erreicht werden, daß bei gleichmäßiger
Beleuchtung des Konturenfilters dieses völlig lichtun
durchlässig (Fall B) oder völlig transparent (Fall A)
ist. Bei nicht gleichförmiger Beleuchtung des Konturen
filters wird das Konturenfilter dann abhängig vom Be
leuchtungsgradienten zunehmend transparent oder licht
undurchlässig. Entsprechend wird das austretende Licht
LO moduliert.
Die Schichtstruktur des Konturenfilters ist in Fig. 3
angegeben und die Anordnung der Detektoren auf dem obe
ren und unteren Substrat in Fig. 3b und 3c. Die den
Flüssigkristall bzw. die elektrooptisch aktive Schicht
M im wesentlichen modulierende elektrische Feldstärke E
tritt bei der Anordnung in Fig. 3 im Gegensatz zur
transversalen Anordnung nach Fig. 2 longitudinal zum
einfallenden Licht LI auf.
Ein zweites Beispiel für eine transversale Anordnung
zeigt Fig. 4, wobei die Detektoren D i aus lichtemp
findlichen Widerständen bestehen. Zum Betrieb des Kon
turenfilters ist eine Wechselspannung zwischen den
Elektroden E 1 und E 2 erforderlich. Die Funktionsweise
entspricht dem Schaltbild in Fig. 3a. Die Kapazitäten
C i werden durch das Dielektrikum der Isolierschicht
I 1, die Elektrode E 3 und die Elektrode E 1 gebildet.
Claims (9)
1. Elektrooptische Anordnung mit einem Lichtempfangsteil aus einer
Vielzahl mosaikartig angeordneten lichtelektrischen Detektorelementen
und mit einem elektrooptisch zu beeinflussenden Material, das zur Dar
stellung eines Bildes in Wechselwirkung mit den Detektorelementen durch
eine Wechselspannung anregbar ist, dadurch gekennzeich
net, daß den im Strahlengang benachbarten lichtelektrischen Mosaik
elementen in Form von Detektoren (D i ) jeweils versetzt angeordnete
Elektroden (E 1-E n ) zugeordnet sind, so daß bei Änderung der ein
fallenden Lichtintensität in benachbarten Mosaikelementen zwischen be
nachbarten Elektroden (E 1-E n ) eine Spannungsdifferenz entsteht,
die eine Änderung der Transparenz des elektrooptischen Elements bewirkt
und so ein Konturenfilter (K) geschaffen ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich
net, daß der Konturenfilter (K) zwei Schichten enthält, wobei die
erste Schicht aus nebeneinander mosaikartig angeordneten lichtempfindli
chen Detektoren (D i ) und die zweite Schicht (M) aus einem von densel
ben lokal, bezüglich der Transparenz, elektrooptisch beeinflußbaren Ma
terial besteht.
3. Konturenfilter nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich
net, daß die erste, lichtempfindliche Schicht eine Fotoleiterschicht
ist.
4. Konturenfilter nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die erste, lichtempfind
liche Schicht eine Sperrschicht-Fotodetektor-Schicht
ist.
5. Konturenfilter nach Anspruch 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß die zweite, elektroop
tisch aktive Schicht (M) aus elektrooptisch aktiver Ke
ramik besteht.
6. Konturenfühler nach den Ansprüchen 3 und 4, da
durch gekennzeichnet, daß die zweite,
elektrooptisch aktive Schicht (M) eine Flüssigkri
stall-Schicht ist.
7. Konturenfilter nach den Ansprüchen 2 bis 6, da
durch gekennzeichnet, daß die licht
empfindlichen Elemente auf transparenten Elektroden
(E g , E i , E 1, E 2, E 3) zur Steuerung der elektroop
tisch aktiven Schicht (M) angeordnet sind.
8. Konturenfilter nach Anspruch 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß die lichtempfindlichen
Detektoren (D i ) mit einer gemeinsamen Elektrode
(E g ) und je einer speziellen Elektrode (E i ) verbun
den sind und daß die zwischen den speziellen Elektroden
(E i , E i + 1) auftretende Potentialdifferenz zur Be
einflussung der elektrooptischen aktiven Schicht (M)
dient.
9. Konturenfilter nach Anspruch 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß die lichtempfindlichen
Detektoren (D i ) Photowiderstände sind und von den
Elektroden (E 1, E 2) mit als Dieelektrikum dienenden
Isolierschichten Kondensatoren (C i ) gebildet werden,
deren Ladungszustand bei angelegter Wechselspannung
(U BIAS ) vom Widerstand der Detektoren (D i ) abhän
gig ist und die zwischen zwei auf die elektrooptisch
aktive Schicht (M) einwirkenden Elektroden (E 3) anlie
gende Spannung beeinflußt (Fig. 3).
Priority Applications (4)
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