DE3316417A1 - Solarzelle - Google Patents
SolarzelleInfo
- Publication number
- DE3316417A1 DE3316417A1 DE3316417A DE3316417A DE3316417A1 DE 3316417 A1 DE3316417 A1 DE 3316417A1 DE 3316417 A DE3316417 A DE 3316417A DE 3316417 A DE3316417 A DE 3316417A DE 3316417 A1 DE3316417 A1 DE 3316417A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- contact
- solar cell
- semiconductor body
- conductivity type
- zone
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000005496 tempering Methods 0.000 claims description 8
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 3
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 6
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/068—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S148/00—Metal treatment
- Y10S148/092—Laser beam processing-diodes or transistor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Description
TELEFUNKEN electronic GmbH Theresienstr. '2, 7100 Heilbronn
Heilbronn, den 07.03.83 PTL-HN-Ma-ra - HN 83/1
Die Erfindung betrifft eine Solarzelle aus einem scheibenförmigen Halbleiterkörper mit einem Rückseitenkontakt
und mit einem Leitbahnsystem als Vorderseitenkontakt. Solarzellen müssen zur Herstellung eines
pn-überganges in dem scheibenförmigen Halbleiterkörper einem Diffusionsprozeß unterworfen werden, wodurch eine
dünne Oberflächenschicht vom zum Halbleitergrundkörper
entgegengesetzten Leitungstyp entsteht. Dieser pnübergang kann allseitig in den Halbleiterkörper eingebracht
werden. Dann muß zur Kontaktierung des Halbleitergrundkörpers auf der Rückseite der Halbleiterscheibe
ein Teil der Oberflächenschicht zur Freilegung des
Grundkörpers abgetragen werden. Anderseits besteht die Möglichkeit vor dem Diffusionsprozeß einen Teil der
Rückseitenoberfläche der Halbleiterscheibe mit einer
Diffusionsmaske zu bedecken, so daß an dieser Stelle
nach erfolgter Diffusion und nach dem Wiederentfernen der Diffusionsmaske der Rückseitenkontakt an den Halbleitergrundkörper
angebracht werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das Herstellungsverfahren
für Solarzellen wesentlich zu vereinfachen. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch
gelöst, daß eine Zone vom zweiten Leitungstyp allseitig in den Halbleiterkörper vom ersten Leitungstyp eingelassen
ist und daß der Rückseitenkontakt unter Durchdringung der Zone vom zweiten Leitungstyp den Halb-
leiterkörper vom ersten Leitungstyp ohmisch kontaktiert.
Bei der erfindungsgemäßen Anordnung wird somit der pn-übergang allseitig in die Halbleiterscheibe eingebracht
und auch an den für den Rückseitenkontakt vorgesehenen Oberflächenstellen nicht wieder entfernt.
Die ohmsche Kontaktierung des Halbleitergrundkörpers wird dadurch hergestellt, daß die dünne Oberflächenzone
vom zum Halbleitergrundkörper entgegengesetzten Leitungsiyp
nach dem Aufbringen des Rückseitenkontaktes in einem Temperprozeß derart verändert wird, daß eine
ohmsche Verbindung zwischen dem Rückseitenkontakt und dem Hälbleitergrundkörper zustande kommt. Der Temperprozeß
und die Titan-Schichtdicke muß so ausgelegt werden, daß die dabei sich bildenden intermetallischen'
Verbindungen die Oberflächenschicht und den sie begrenzenden pn-übergang durchdringen.
Der Rückseitenkontakt besteht ausgehend vom Halbleiterkörper vorzugsweise aus der Schichtenfolge Titan-Palladium-Silber.
Um Kurzschlüsse am Randbereich sicher zu beseitigen, wird vor oder nach dem Tempervorgang der
pn-übergang außerhalb des Rückseitenkontaktes unterbrochen. Nach dem Tempervorgang wird abschließend der
Vorderseitenkontakt hergestellt.
Die Erfindung wird nachstehend noch anhand eines Ausführungsbeispieles
näher erläutert. In der Figur ist ein scheibenförmiger Halbleiterkörper 1 aus Silizium mit einer Dicke von ca. 300 um und einer
p-Leitfähigkeit von beispielsweise 1 Ohmcm dargestellt.
In diese Halbleiterscheibe 1, die rund, rechteckig oder mehreckig sein kann, wird allseitig eine dünne n-leiten
de Oberflächenzone 2 mit einer Leitfähigkeit von ca. 50 Ohm/O1 eingebracht. Dies geschieht vorzugsweise durch
Implantation oder Diffusion. Der pn-übergang 3 zwischen
_y.
dem SiIiziumgrundkörper 1 und der eindiffundierten Zone 2 liegt vorzugsweise 0,2 bis 0,5 pm unterhalb der
Halbleiteroberfläche.
Nach der Herstellung des pn-übergangs wird auf der Rückseite der Solarzelle, die nicht für den Lichteinfall
vorgesehen ist, der Rückseitenkontakt aus mehreren übereinander liegenden Metallschichten angebracht. Die
erste Metallschicht 4 besteht vorzugsweise aus Titan
und ist ca. 0,2 um dick. Die zweite Schicht 5 besteht
vorzugsweise aus Palladium und hat eine geringe Dicke von ca. 0,01 bis 0,02 pm. Die zuletzt aufgebrachte
Silberschicht hat eine relativ große Dicke von 1 bis 5 pm. Alle Metallschichten können aufgedampft, aufgesputtert
oder mittels chemischer Reaktionen abgeschieden werden.
Nach der Herstellung des Rückseitenkontaktes wird die Solarzelle einem Temperprozeß unterworfen. Bei der
genannten Eindringtiefe des pn-überganges von 0,2 bis 0,5 pm hat sich beispielsweise ein Temperprozeß bei
690 0C bis 700 0C und einer Zeitdauer von 15 min bewährt.
Es hat sich gezeigt, daß nach diesem Temperprozeß der Rückseitenkontakt ohmisch mit dem Grundkörper
verbunden ist. Diese Verbindung kommt durch einen Legie rungsprozeß bzw. durch die Ausbildung einer intermetallischen
Verbindung in dem an den Rückseitenkontakt angrenzenden Oberflächenbereich der Solarzelle zustande.
Die Legierungsfront bzw. die Front der intermetallischen
Verbindung erstreckt sich durch die Oberflächenzone 2 hindurch, so daß der pn-übergang in
diesem Bereich unwirksam wird. Um den Kurzschluß zwischen den beiden Zonen sicher zu vermeiden bzw. zu
beseitigen, wird der pn-übergang noch vorzugsweise im Umgebungsbereich des Rückseitenkontaktes durchge-
trennt. Dies kann beispielsweise gemäß der Figur durch die Erzeugung eines ring- oder rahmenförmigen Grabens
10 mit einem Laserstrahl geschehen,, der den Rückseiten
kontakt allseitig umgibt. Eine andere Möglichkeit zur Durchtrennung besteht darin, daß die Kante der Halbleiterscheibe
in ihrem rückseitigen Randbereich unter Durchtrennung des pn-überganges abgeschliffen wird.
Die Unterbrechung des pn-überganges nach einer der beschriebenen Verfahrensmethoden kann vor oder nach
dem Aufbringen der Kontakte geschehen.
Nach der Temperaturbehandlung der mit dem Rückseitenkontakt
versehenen Solarzelle wird der Vorderseitenkontakt 7 auf der für den Lichteinfall vorgesehenen
Oberflächenseite 8 der Halbleiterscheibe angebracht. Dieser Vorderseitenkontakt besteht aus einem Leitbahnsystem,
das als Fingerstruktur oder als Gitterstruktur ausgebildet sein kann und einen möglichst geringen
Anteil der für den Lichteinfall nutzbaren Oberfläche in Anspruch nehmen soll. Der Vorderseitenkontakt.besteht
vorzugsweise gleichfalls aus einer Titan-Ralladium-Silber-Schichtenfolge.
Es sei noch erwähnt, daß die SolarzelIe.in der ansich üblichen Weise mit einer
Antireflexionsschicht versehen werden kann und schließ lich mit anderen Solarzellen zu einem Solarzellengenerator
für die unterschiedlichsten Anwendungszwecke verschaltet werden kann.
copy]
Claims (7)
- TELEFUNKEN electronic GmbH Theresienstr. 2, 7100 HeilbronnHeilbronn, den 07.03.83 PTL-HN-Ma-ra - HN 83/1PatentansprücheSolarzelle aus einem scheibenförmigen Halbleiterkörper mit einem Rückseitenkontakt und mit einem Leitbahnsystem als Vorderseitenkontakt, dadurch gekennzeichnet, daß eine Zone (2) vom zweiten Leitungstyp allseitig in den Halbleiterkörper (1) vom ersten Leitungstyp eingelassen ist und daß der Rückseitenkontakt (4, 5, 6) unter Durchdringung der Zone (2) vom zweiten Leitungstyp den Halbleiterkörper (1) vom ersten Leitungstyp ohmisch kontaktiert.
- 2) Solarzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rückseitenkontakt (4, 5, 6) ausgehend vom Halbleiterkörper aus der Schichtenfolge Titan-Palladium-Silber besteht.
- 3) Solarzelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Titanschicht (4) ca. 0,2 pm, die Palladiumschicht (5) ca. 0,01 bis 0,02 pm und die Silberschicht (6) ca. 1 bis 5 pm dick ist.
- 4) Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zunächst der mehrschichtige Rückseitenkontakt (4, 5, 6) auf den Halbleiterkörper aufgebracht wird und daß danach die Halbleiteranordnung einem Temperprozeß unterworfen wird, wobei eine ohmsche Verbindung zwischen dem Halbleiterkörper (1) vom ersten Leitungstyp und dem Metallkontakt zustande kommt.
- 5) Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Tempervorgang bei einer ca. 0,2 bis 0,5 pm . dicken Zone vom zweiten Leitungstyp ca. 15 min bei einer Temperatur von ca. 700 0C durchgeführt wird.
- 6) Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß vor oder nach dem Tempervorgang der pnübergang außerhalb des Rückseitenkontaktes unterbrochen wird.
- 7) Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Tempervorgang der Vorderseitenkontakt hergestellt wird.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3316417A DE3316417A1 (de) | 1983-05-05 | 1983-05-05 | Solarzelle |
US06/601,442 US4543444A (en) | 1983-05-05 | 1984-04-18 | Solar-cell |
JP59087998A JPS59207672A (ja) | 1983-05-05 | 1984-05-02 | 太陽電池およびその製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3316417A DE3316417A1 (de) | 1983-05-05 | 1983-05-05 | Solarzelle |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3316417A1 true DE3316417A1 (de) | 1984-11-08 |
Family
ID=6198222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3316417A Withdrawn DE3316417A1 (de) | 1983-05-05 | 1983-05-05 | Solarzelle |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4543444A (de) |
JP (1) | JPS59207672A (de) |
DE (1) | DE3316417A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL2003510C2 (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-22 | Solar Cell Company Holding B V | Photovoltaic cell and method for fabricating a photovoltaic cell. |
EP2485278A4 (de) * | 2009-09-29 | 2017-12-20 | Kyocera Corporation | Solarzellenelement und solarzellenmodul |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5082791A (en) * | 1988-05-13 | 1992-01-21 | Mobil Solar Energy Corporation | Method of fabricating solar cells |
DK170189B1 (da) * | 1990-05-30 | 1995-06-06 | Yakov Safir | Fremgangsmåde til fremstilling af halvlederkomponenter, samt solcelle fremstillet deraf |
US5620904A (en) * | 1996-03-15 | 1997-04-15 | Evergreen Solar, Inc. | Methods for forming wraparound electrical contacts on solar cells |
US5986203A (en) * | 1996-06-27 | 1999-11-16 | Evergreen Solar, Inc. | Solar cell roof tile and method of forming same |
US5741370A (en) * | 1996-06-27 | 1998-04-21 | Evergreen Solar, Inc. | Solar cell modules with improved backskin and methods for forming same |
US5762720A (en) * | 1996-06-27 | 1998-06-09 | Evergreen Solar, Inc. | Solar cell modules with integral mounting structure and methods for forming same |
US6278053B1 (en) | 1997-03-25 | 2001-08-21 | Evergreen Solar, Inc. | Decals and methods for providing an antireflective coating and metallization on a solar cell |
US6187448B1 (en) | 1997-07-24 | 2001-02-13 | Evergreen Solar, Inc. | Encapsulant material for solar cell module and laminated glass applications |
US6114046A (en) * | 1997-07-24 | 2000-09-05 | Evergreen Solar, Inc. | Encapsulant material for solar cell module and laminated glass applications |
US6320116B1 (en) | 1997-09-26 | 2001-11-20 | Evergreen Solar, Inc. | Methods for improving polymeric materials for use in solar cell applications |
US6632563B1 (en) | 2000-09-07 | 2003-10-14 | Front Edge Technology, Inc. | Thin film battery and method of manufacture |
ES2365904T3 (es) * | 2004-01-13 | 2011-10-13 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Dispositivo fotovoltaico. |
US20080149170A1 (en) * | 2006-12-15 | 2008-06-26 | Evergreen Solar, Inc. | Plug-Together Photovoltaic Modules |
US20110114147A1 (en) * | 2009-11-18 | 2011-05-19 | Solar Wind Ltd. | Method of manufacturing photovoltaic cells, photovoltaic cells produced thereby and uses thereof |
US8586862B2 (en) * | 2009-11-18 | 2013-11-19 | Solar Wind Technologies, Inc. | Method of manufacturing photovoltaic cells, photovoltaic cells produced thereby and uses thereof |
US8796060B2 (en) * | 2009-11-18 | 2014-08-05 | Solar Wind Technologies, Inc. | Method of manufacturing photovoltaic cells, photovoltaic cells produced thereby and uses thereof |
US20110114152A1 (en) * | 2009-11-18 | 2011-05-19 | Solar Wind Ltd. | Method of manufacturing photovoltaic cells, photovoltaic cells produced thereby and uses thereof |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3421943A (en) * | 1964-02-14 | 1969-01-14 | Westinghouse Electric Corp | Solar cell panel having cell edge and base metal electrical connections |
JPS5619680A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-24 | Japan Solar Energ Kk | Manufacture of solar cell |
US4361950A (en) * | 1980-03-24 | 1982-12-07 | Exxon Research & Engineering Co. | Method of making solar cell with wrap-around electrode |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3411952A (en) * | 1962-04-02 | 1968-11-19 | Globe Union Inc | Photovoltaic cell and solar cell panel |
US4158591A (en) * | 1978-04-24 | 1979-06-19 | Atlantic Richfield Company | Solar cell manufacture |
-
1983
- 1983-05-05 DE DE3316417A patent/DE3316417A1/de not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-04-18 US US06/601,442 patent/US4543444A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-05-02 JP JP59087998A patent/JPS59207672A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3421943A (en) * | 1964-02-14 | 1969-01-14 | Westinghouse Electric Corp | Solar cell panel having cell edge and base metal electrical connections |
JPS5619680A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-24 | Japan Solar Energ Kk | Manufacture of solar cell |
US4361950A (en) * | 1980-03-24 | 1982-12-07 | Exxon Research & Engineering Co. | Method of making solar cell with wrap-around electrode |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
US-Z: Journal of the Elctrochemical Society, Vol.127, No.12, S.2702-2704 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL2003510C2 (en) * | 2009-09-18 | 2011-03-22 | Solar Cell Company Holding B V | Photovoltaic cell and method for fabricating a photovoltaic cell. |
EP2485278A4 (de) * | 2009-09-29 | 2017-12-20 | Kyocera Corporation | Solarzellenelement und solarzellenmodul |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59207672A (ja) | 1984-11-24 |
US4543444A (en) | 1985-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3316417A1 (de) | Solarzelle | |
DE1197548C2 (de) | Verfahren zum herstellen von silizium-halbleiterbauelementen mit mehreren pn-uebergaengen | |
DE1514818C3 (de) | ||
DE1614283C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung | |
DE3135993A1 (de) | "verfahren zur herstellung von kontakten mit geringem widerstand in halbleitervorrichtungen" | |
DE2718894C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung | |
EP1277239A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer solarzelle und solarzelle | |
DE1789106A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE2060333B2 (de) | Verfahren zur herstellung einer halbleiteranordnung mit einem feldeffekttransistor mit isolierter gateelektrode | |
EP2481083B1 (de) | Verfahren zur herstellung eines elektronischen bauteils und nach diesem verfahren hergestelltes bauteil | |
DE2313219B2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung mit einer auf mehreren Niveaus liegenden Metallisierung | |
DE1236083B (de) | Legierungsverfahren zum Herstellen von Anschluessen an Halbleiterbauelementen | |
DE2922015A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer vlsi-schaltung | |
DE2033532A1 (de) | Kontaktsystem fur Halbleiteranordnungen | |
DE2123595A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE3002740A1 (de) | Verfahren zur ausbildung von substratelektroden bei mos-ics mit lokaler oxidation | |
DE1924712C3 (de) | Integrierter Dünnschicht-Abblockbzw. Entkopplungskondensator für monolithische Schaltungen und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE2031831A1 (de) | Halbleiterdiode und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE3626598A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines mos-feldeffekttransistors in einer integrierten schaltung | |
DE1764171A1 (de) | Halbleitereinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung | |
EP0567764B1 (de) | Halbleiterkörper mit gut haftender Metallisierung | |
DE1640470A1 (de) | Verfahren zum Herstellen von scharf definierten Aperturen in einer isolierenden Schicht bzw.in Halbleitermaterial,insbesondere zur gegenseitigen elektrischen Isolierung verschiedener in einer integrierten oder monolithischen Halbleitervorrichtung zusammengefasster Schaltungselemente | |
DE3344462C2 (de) | ||
DE1564860A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen | |
DE2603745C3 (de) | Mehrschichtiger Metallanschlußkontakt und Verfahren zu seiner Herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8120 | Willingness to grant licences paragraph 23 | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: TELEFUNKEN SYSTEMTECHNIK GMBH, 7900 ULM, DE |
|
8141 | Disposal/no request for examination |