DE3206507A1 - Statischer direktzugriffspeicher - Google Patents
Statischer direktzugriffspeicherInfo
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Description
PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERICH*· GEWJ MIJ Ο. EB *· D* GFUSSE* · J. POLUvTeIER 73*699
12.2.1982
-G-
Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha, 72 Horikawacho,
Saiwai-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa-ken (Japan)
Gegenstand dieser Erfindung ist ein statischer Direktzugriff
speicher (S-RAM). Gegenstand dieser Erfindung
ist insbesondere aber eine verbesserte Vorrichtung für das Entnehmen von Daten aus Speicherzellen.
Bei dein mit Fig. I dargestellten statischen Direkt-/uqri
f'f-( S-RAM)-Spo i eher werden die Daten über einen
gemeinsamen Schalttransistor (17) in eine Speicherzelle
(11) eingegeben und übertragen, und der Schaltt. ran si stör (17) wird von den Adressensignalen (A)(A)
angesteuert. Zur Flip-Flop-Schaltung (14) gehören
die Inverterschaltungen (18) und (19), wobei das
Ausgangssignal der Inverterschaltung (19) auf den
Eingangsknoten (A) geführt wird.
Ihr. don Speicher q i 1 t, ii aß dann, we;nn die in der
Speicherzelle (11) befindlichen Daten aus dieser
Speicherzelle (11) herausgelesen werden, diese Daten
deswegen verändert worden, weil die Streukapa-/. itat, die auf der Datenleitung (13) vorhanden ist,
beträchtlich größer ist als die Streukapazität der Speicherzelle (11), d.h. die Streukapazität C-, der .
Datenleitunng (13) ist sehr viel größer als die
Streukapazität C? der Speicherze 11 e . (11 ) . Insbesondere
dann, wenn die gespeicherte Daten gleich "O" sind, liegt der Knoten oder Verknüpfungspunkt A
an ei η oin niedrigen Si gna 1 pe qc 1 , während die Datenh.'il.uiKi
(IH) einen hohen Signa Ipogel aufweist, was
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wierum zur Folge hat, daß eine auf der Datenleitung
vorhandene elektrische Ladung dann zu dem Knoten oder dem Verknüpfungspunkt A fließt und dadurch eine
Veränderung an den Daten bewirkt. Wenn demgegenüber die gespeicherten Daten den Loqikwert "1" haben,
dann ist für den Knoten oder den Verknüpfungspunkt
A ein hoher Signalpegel gegeben und für die Da tenleitung (13) ein niedriger Signalpegel, wobei als
Folge davon die am Knoten oder Verknüpfungspunkt A vorhandene elektrische Ladung zur Datenleitung (13)
fließt. Ein derartiges Fehlverhalten stellt dann auch einen sehr schwerwiegenden Nachteil für Speicherschaltungen
solcher Ausführungen- dar.
Die Erfindung stellt sich somit die nachstehend angeführten Aufgaben:-
Einen statischen Direktzugriffspeicher oder S-RAM-Speicher
zu schaffen, der höchst zuverlässig ist.
Einen statischen Direktzugriff-(S-RAM)-Speicher zu
schaffen, bei welchem ein elektrischer Ladungsübergang zwischen einer Datenleitung und einer Speicherzelle dann nicht zustandekommt wenn die Daten aus
der Speicherzelle herausgelesen oder abgerufen werden.
Einen statischen Direktzugriff-(S-RAM)-Speicher zu
schaffen, der weniger Steuerungsleitungen aufzuweise
η h a t .
Die Erfindung löst die ihr gestellten Aufgabenudadurch,
daß sie einen statischen Direktzugriff speieher
vorsieht, der sich wie folgt zusammensetzt: -
(a) einem Flip-Flop-Kreis, zu welchem eine erste
Inverterschaltung mit einem ersten Einqanqs-
ν ι
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knoten und mit einem ersten Ausgangsknoten gehört und weiterhin auch noch eine zweite Inverterschaltung
mit: oinem zweiten F. i ngangsk noten
und einem zweiten Ausgangsknoten, wobei der vor erwähnte erste Ausgangsknoten mit dem bereits
angeführten ersten Eingangsknoten verbunden ist und der vorerwähnte zweite Ausgangsknoten mit
dem bereits angeführten ersten Eingangsknoten;
(b) einem ersten Stromanschluß (einer ersten Stromquelle)
und einem zweiten Stromanschluß (einer zweiten Stromquelle);
(c) einer Datenleitung (Datenübertragungsleitung),
zu welcher eine Spannungseins tellungsvorrichtunggehort;
((I) eine Eingabeschaltvorrichtung, die schaltungsmäßig
angeordnet ist zwischen der Datenleitung und dem ersten Eingangsknoten oder Eingangsverknüpfungspunkt
und als eine Speicherzelle mit der Flip-Flop-Schaltung ausgeführt ist;
(e) eine Speicherabruf-Steuerungsschaltung mit jeweils
einer ersten Schaltvorrichtung und einer
zweiten Schaltvorrichtung, die schaltungsmäßig
mit der Reihenschaltung aus Stromversorgungsanschluß
und der Datenleitung verbunden ist, wobei die angeführte erste Schaltvorrichtung von
den in der Speicherzelle gespeicherten Daten ·
qesleuert wird, während die Steuerung der vorerwiihn
Leu /weiten Schal t vorr i cli t urnj durch ein
Adressenabruf signal oder Adressenlesesignal
bewerkstelligt wird.
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Gegenstand der Erfindung ist somit ein Metal 1oxid-Feldef
f ekttrans i stor-Di rektziuir i f f spe ichpr (M0SFΓ 1 Direktzugriffspeieher
mit einer völlig unab hängίqmi
Eingabeschaltvorrichtung und mit einer völlig unabhängigen
Datenabrufsteuerschaltung. Die Datenabruf-·
steuerschaltung besteht aus einem ersten Metalloxid-Transistor
(MOS-Transistor), der von den in einer
Speicherzelle gespeicherten Daten angesteuert wird, und aus einem zweiten Metalloxid-Transistor (MOS-Transistor),
der von einem Datenabrufsteuerungssignal
gesteuert wird. Werden die als Speicherinhalt
in einer Speicherzelle vorhandenen Daten abgerufen
und herausgelesen, dann kommt zwischen der Speicherzelle und der Datenleitung kein Ladungsfluß zustande,
und das macht den Speicher so sehr zuverlässig.
Die Erfindung soll nachstehend nun anhand des in Zeichnung dargestellten AusführungesbeiSpieles (der
in Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiele) näher
erläutert werden. Die Zeichnung zeigt in:-
Fig. 1 Ein Schaltbild für einen statischen Direktzugriff
spei eher bekannter Ausführung.
Fig. 2 Ein Schaltbild für das zuvor angegebene Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Fig. 3 Ein Signal-Zeit-Diagramm betreffend die
Speicherabrufoperation des statischen
Direktzugriffspeichers.
Fig. 4 Schaltbilder für andere Ausführungsbei-1S
spiele des Erfindungsgegenstandes.
Wie nun aus Fig. 2 zu erkennen ist, besteht die Flip-Flop-Schaltung (14) aus einer ersten Inverter-
fe
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-ΊΟ-
schaltung (18) und aus einer zweiten Inverterschaltung
(19). Zur ersten Inverterschaltung gehören zwei
Me tal loxicl trans istoren (MOS-Transistoren), der eine
Transistor P-leitend und der andere Transistor N-leitend.
Die Ausgänge dieser Transistoren sind am Knoten oder Verknüpfungspunkt B auf den Eingang der
zweiten Inverterschaltung (19) geführt. Darüber
hinaus ist der Eingangsknoten oder die Eingangsverknüpfung A mit dem Ausgangsknoten oder der Ausgangsverknüpfunq
der zweiten Inverterschaltung (19) verbunden.
Die zweite Inverterschaltung (19) ist als
eine Lak t.cjos teuer te Inverterschaltung ausgeführt.
Zu ihr gehört eine Inverterschaltung mit einem komplementären
Transistorpaar, und zwar mit dem N-leitenden Metal 1 ox i d tr ans i s tor (MOS-Transistor) T -,
und mit dem P-leitenden Metal 1oxidtransistör (MOS-Transistor)
T -j sowie mit den beiden Schalttransistoren T ., T ßfür das Aussteuern der Inverterschaltung
bei Aufnahme eines komplementären Adresseneingabesigna1
es A.W, A.W. Der P-leitende Transistor T . steht mit dem P-leitenden Transistor T-,
in Verbindung und der N-leitende Transistor T .
mit. dem N-leitenden Transistor T 7. Eine Speicherbe
legungss teuerungsschal tung (17) weist die beiden zueinander komplementären Übertragungsgatt-Metal1-Ox
i dtrans i s to'ren (transmission gate MOS-trans i s tors ? )
Tu31T 3 auf. Die Emitteranschlüsse und und die Kollektoranschlüsse
des P-leitenden Metalloxidtransistors (MOS-Transistors) und des N-leitenden Metalloxidtransistors
(MOS-Transistors) , d.h. des Transistors
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T- und des Transistors T-, stehen miteinander in
Verbindung, wohingegen die Steuergattanschlüsse
der Metal 1 ox id transistören (MOS-Transistoren) To.
T-, jeweils auf die komplementären Adreßlei tungen
A.W..A-.W. geführt sind. Der Kanal (dünne Halbleiterschicht
zwischen der Emitterzone und der Kollektorzone, deren Leitwert durch die Gattspannung gesteuert
wird - DIN 41858) der Metal 1oxidtransistören
(MOS-Transistoren) T - und T- steht in Verbindung
mit der Datenleitung (13) und mit dem Knoten oder dem Verknüpfungspunkt A. Eine aus den
P-leitenden Metalloxidtransistoren (MOS-Transistoren)
T r und T r bestehende Speicherabruf steuerschaltung
(20) ist schaltungsmäßig angeordnet zwischen
dem Stromversorgungsanschluß V„D und der
Datenleitung (13). Die Steuergattanschlüsse der
Metalloxidtransistoren (MOS-Transistoren) tßr und
T r stehen in Verbindung mit einer Adressenlesesignalleitung
A.R und mit dem Knoten oder dem Verkniipfungspunkt B der Flip-Flop-Schaltung.
Die Datenleitung (13) ist über den N-leitenden Metal 1oxidtransistor (MOS-Transistor) T o, der
von einem Vorbelastungssignal Pr angesteuert und gesteuert wird, auf den zweiten Stromversorgungsanschluß V geführt. Bei diesem Ausführungsbeispiel
besteht eine Speicherzelle aus einer Flip-Flop-Schaltung
(14), aus der Speicherbelegungssteuerschaltung (17) und aus der Speicherabrufsteuerschaltung
(20).
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Nachstehend sollen nun die Funktion und Arbeitsweise der mit Fig. 2 vorgestellten und beschriebenen
Schaltung anhand von Fig. 3 beschrieben und erläutert werden. Ist für das Adressensignal A.W ein
niedriger Signalpegel gegeben (und für das Signal
A.W ein hoher Signalpegel) und hat das Adressenabrufsignal A.R einen hohen Signalpegel, dann ist
die Speicherbelegungsschaltung (17) im ABSCHALTZUSTAND,
was wiederum zur Folge hat, daß zwischen der Flip-Flop-Schaltung (14), zu welcher die Inverterschaltungen
(18) und (19) gehören, und der Datenleitung (13) keine Verbindung besteht. Aus diesem
Grunde werden die Daten auch in der Flip-Flop-Schaltung (14) gehalten. Wenn die Daten aus der
Flip-Flop-Schaltung (14) abgerufen oder herausgelesen
werden, dann arbeitet nur die Speicherabrufsteuerungsschal tung (20). Das bedeutet: die Speicherbelegungsschaltung
(17) unterbricht den Stromweg zwischen der Datenleitung (13) und der Flip-Flop-Schaltung
(14). Wenn ein Vorspannungssignal (precharge signal ?) Pr dem Steuergattanschluß des
Metalloxidtransistors (MOS-Transistors) aufgeschaltet
wird, dann wird dadurch zunächst einmal der
Metalloxidtransistor (MOS-Transistor) T „ in den
Leitzustand geschaltet, was wiederum zur Folge hat, daß die Dalenleitung (13) auf den Pegel V gebracht
wird. Sodann nimmt das Adressenabrufsignal
A.R einen niedrigen Signalpegel an und bringt dadurch wiederum den Metalloxidtransistor (MOS-Transistor)
T5 in den Leitzustand oder Durchlaßzustand.
Haben die gespeicherten Daten einen Logikwert "1"
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· p.*Q1Ri)SSf _·.?' POLLMEIER 7 3 699
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(dabei gilt für den Knoten oder den Verknüpfungspunkt
A der niedrigige Signalpegel und für den Knoten oder Verknüpfungspunkt B der hohe Signalpegel),
dann wird dadurch der Transistor T ,- leitend oder durchlässig gemacht. Das wiederum hat zur Folge,
daß die Stromversorgung VDD über die Transistoren
Tg und Tg auf die Datenleitung (13) durchgeschaltet
wird. Dieser Vorgang bewirkt, daß der hohe Signalpegel ("1") des Knoten oder Verknüpfungspunktes S aus der Speicherzelle (11) lie raus ge Ie se η
oder abgerufen wird. Haben die gespeicherten Daten einen Logikwert von "0", (wobei der Knoten oder Verknüpfungspunkt
A einen niedrigen Signalpegel hat und der Knoten oder Verknüpfungspunkt B einen hohen
Signalpegel), dann bewirkt dies, daß der Transistor
T r in den Sperrzustand geschaltet wird und der Transistor Tr in den Leitzustand oder Durchlaßzustand,
was wiederum zur Folge hat,daß auch
die Stromversorgung V^0 nicht auf die Datenleitjng
(13) durchgeschaltet wird und der Pegel der Datenleitung
(13) auf dem durch den Vorschalttransistör
T ρ (MOS-Transistor T ~) eingestellten Sigua lpeye 1
V^^ gehalten wird und daß dabei das Signal mit dem
niedrigen Logikwert "O" am KNoten oder am Verknüpfungspunkt
A aus der Speicherzelle herausgelesen und abgerufen wird.
Die beschriebene Speicherschaltung arbeitet nun derart, daß die in der Speicherzelle gespeicherten
Daten den Metalloxidtransistor (MOS-Transistor)
T g steuern und regeln, so daß es deswegen nicht
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zu einem aus der Speicherzelle heruasführenden Ladestromfluß
kommen kann, wie dies bei der herkömmlichen Schaltung der Fall ist.
Sollen Daten von der Datenleitung (13) aus in die Speicherzelle (11) eingegeben und übertragen werden,
dann nimmt das Adresseneingabesignal A.W. einen hohen
Signalpegel an, (während das Signal A.W einen niedrigen Signal pegel annimmt). Das hat wiederum
zur Folge, daß die Speicherbelegungsschaltung (17) leitend gemacht wird und daß die Daten über die
Speicher?· Belegungsschaltung (17) dem Knoten oder
Ver1nüpfungspunkt A auf geschal tet werden. Zu diesem
Zeitpunkt haben die Transistoren T . und T ,
ihre Arbeitslage noch nicht eingenommen, so daß dann auch die taktgesteuerte Inverterschaltung (19)
η in et arbeitet. Das heißt nichts anderes, als daß
der momentäre Strompfad zwischen dem Stromversorgungsanschluß
Vpjpj der Inverterschaltung (19) und
dem Knoten oder Verknüpfungspunkt A nicht besteht.
Mit Fig. 4 dargestellt ist ein zweites Ausführungsbeispie'l
der Erfindung. Gegenüber dem mit Fig. 2 CIaV(J(ViI(1IIt(M) Ausfuhr ungsbe i sp i e 1 haben die Metalloxid
transistoren (MOS-Transistoren) T ,- und T-der
Speicherabruf ε teuerungsschaltung (20) und der
Met.alloxid-Vorschalttransistor T ~ der Anreicherungsausführung eine entgegengesetzte Leitfähigkeit aufzuweisen.
Die Datenleitung (13) steht über den P-leitenden Metalloxidtransistor (MOS-Transistor) Tf2
mit dem Stromversorgungsanschluß V^0 in Verbindung.
Andererseits wiederum ist die Speicherabrufsteuerungs-
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schaltung (20) schaltungsmäßig zwischen dem Stromversorgungsanschluß
V<-s und der Datenleituny (13)
angeordnet. Mit dieser Schaltung wird die Wirkung erzielt, die auch mit der Schaltung nach Fig. 2
erreicht wird.
Ein drittes Ausführungsbeispiel dor Erfindung ist
mit Fig. 5 dargestellt..
Eine tak gesteuerte Inver terscba 1 tung (I/) findet
als Spe i cherbe lequngs scha 1 lung Verwendung. Bt; i
diesem Ausf iihrungsbeispiel ist der bteuergal·tan~
schluß des Transistors T , auf den Knoten oder
pb
auf den VerknüpfungspunkL Λ geführt, er-kann aber
auch mit dem Knoten oder mit dem Vorkniip fun<r.,piink f
B verbunden werden. Wan die Le i tfahi akn i I bp-i.r i I ! I,
so handelt es sich bei do η Me ■ t a 11 οχ id I vansisIorcn
(MOS-Transistoren) T r und T ,. und !n>i Ao.rn Mc I: ;»!!-.
oxid tr ans i s tor (!-!OS-Tr1HiSiStOr) T 7 jeweils um
solche der P-Leitung und der N-I.e Hung«
IU: i dem mil Fig. 6 wi odor go yohencMi Λιι«, ι n ϊ>
r u π ί1. hi· ispiel
handelt es sich um nin ν ier t.ns Air. 1 uhruiui'.-beispiel
der Erfindung. Gegenüber dorn mil. Γ i q. Ί
wiedergegebenen Ausfuhrungsbeispiel ist die leitfähigkeit
vertauscht. Es sind vorhanden die N-leitenden Metalloxidtransisotren (MOS-Transistoren)
T r und T g und ein leitfähigkeits vertauschter
Vorschalttransistor Tp.
Ein fünftes Äusführungsbeispiel der Erfindung zeigt Fig. 7. Hierbei findet eine zweite Inverterschaltung - die gleich der ersten Inverterschaltung
ausgeführt ist - Verwendung, Darüber hinaus ist ein Widerstand R als Spannunqseins te 11 vorrichtung
vorhanden.
PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERICHl-JGERD IglUtLtR*.· D.'GfTOSSE; · F. POlUIeYefT ^
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Fig. 8 zeigt nunmehr ein siebentes Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes.
Bei diesem Ausführungsbeispiel weist die Flip-Flopschaltung
(14) die beiden Inverterschaltungen (18) und (19) auf, die ihrerseits wiederum aus den Metalloxid-Belastungstransistoren
(30) und (31) sowie aus den Metal1oxid-Treibertransistören (32) und (35) bestehen.
Alle Meta 11oxidtr ansistören (MOS-Transistoren)
in diesem Ausführungsb eispiel sind N-leitende
Trans i s toren.
Fig. 9 zeigt nun ein neuntes AusfUhrungsbeispiel
der Erfindung.
Für dieses Ausführungsbeispiel sind gewählt worden
eine andere Speicherbelegungsschaltung (37) und
eine andere Datenleitung (36), desgleichen auch noch ein Me ta 11 oxid transistör (MOS-Transistor)
T 2 des Verarmungstypus als Spannungsei ns te 11 vorrichtung
oder Spannungsregelungsvorrichtung.
Entsprechend den bevorzugten Ausführungsformen
dieser Erfindung ist somit für das Herauslesen
oder Abrufen von Daten aus Speicherzellen eine Speicherabrufs teuerungsschaltung vorgesehen und
vorhanden, die von den in der Speicherzelle gespeicherten
Daten gesteuert wird. Das wiederum bedeutet, daß zwischen der Datenleitung und der '
Speicherzelle ein elektrischer Ladungsfluß nicht
/ u s t. u nd t? k omul L, was wiederum das System sehr zuvor
lass i c| macht.
Wonn die Erfindung auch anhand von ganz bestimmten
Anwendungsfällen erläutert und beschrieben worden
ist, so sollte es doch den Fachleuten klar sein, daß die betreffenden Prinzipien auch in zahlreichen
anderen Fällen Anwendung finden können. Für die Erfindung sollen die Patentansprüche gelten. - 12 -
Claims (1)
- PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERIOW'-'GERD MTOLeR*-*D. Gf(OSSE" 1F. POLLMEIER - 12 -12. Februar 1982 gr.ni 73 699Tokyo Shxbaura Denki Kabushiki Kaisha, 72 Horikawacho, Saiwai-ku, Kawasaki-shl, Kanagawa-ken (Japan)PatentansprücheStatischer Direktzugriffspeicher (S-RAM) gekennzeichnet durch eine Flip-Flip-Schaltung (14) bestehend aus einer ersten Inverterschaltung (18) mit einem ersten Eingangs- und einem ersten Ausgangsknotenpunkt sowie einer zweiten Inverterschaltung (19) mit einem zweiten Eingangs- und einem zweiten Ausgangsknotenpunkt, wobei der erste Ausgangsknotenpunkt mit dem /.weiten 1'ünyaiHi.HknoLenpuiik V vt-ibunden ist (B), und der zweite Ausgangsknotenpunkt mit dem ersten Eingangsknotenpunkt in Verbindung steht (A), eine erste (Vnn) und eine zweite (ν,_,σ) Stromquelle, eine Datenleitung (13) mit einer Spannungseinstellvorrichtung (Tr2R),eine Speicherbelegungsschaltung (17), welche zwischen dem ersten Eingangsknotenpunkt (A) und der Datenleitung (13) angeordnet ist und die mit der Flip-Flop-Schaltung (14) eine Speicherzelle (11) bildet,und einen Lesesteuerkreis (20) mit einer ersten und einer zweiten Schaltvorrichtung, welche zwischen der ersten Stromquelle (Vnn) und der Datenleitung (13) zueinander in Reihe geschaltet sind, wobei die erste Schaltvorrichtung (T g) von den in der Speicherzelle (14) gespeicherten Daten und die zweite Schaltvorrichtung (T pc) von einem Adresslesesignal (AR) gesteuert wird (Fig. 2).- 13 -PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERICr^GERD MCJtLE5R^O. GTTOSSE"· F. POLLMEIER2. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Inverterschaltung (18) aus einer Komplementärschaltung von N-Kanal- und P-Kanal-Feldeffekttransistoren (MOS-FETS) besteht,- wobei die beiden Gate-Anschlüsse der MOS-FETS auf den ersten Eingangsknotenpunkt (A) geführt sind, und die beiden Drain-Anschlüsse der MOS-FETS mit dem ersten Ausgangsknotenpunkt (B) verbunden sind, daß zur zweiten Inverterschaltung (19) ein komplementäres Paar von N-Kanal- und P-Kanal-MOS-FETS (Tp7, T ~) gehört, deren Gate-Anschlüsse auf den ersten Ausgangsknotenpunkt (B) geführt sind, und deren Drain-Anschlüsse mit dem ersten Eingangsknotenpunkt (A) verbunden sind, daß die erste Schaltvorrichtung des Lesesteuerkreises (20) aus einem MOS-FET (T ) besteht, dessen Anschluß mit dem ersten Ausgangsknotenpunkt (B) verbunden ist, daß die zweite Schaltvorrichtung ebenfalls aus einem MOS-FET (Tpc.) besteht, dessen Gate-Anschluß mit einer Adressleseleitung (AR) in Verbindung steht (Fig. 2).3. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekenn zeichnet, daß es sich bei der Spannungseinstellvorrichtung um einen Widerstand (R) handelt (Fig. 7).4. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der Spannungseinstellvorrichtung um einen MOS-FET (Tr2) handelt.5. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 4, dadurch g e k ennzeichnet , daß es sich bei dem MOS-FET (T ) um einen Anreicherungs-MOS-FET handelt.- 14 -PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERIGÖ.i. GEHD MttWLiSU» D. kftOSSifc* F. POLLMEIER ~6. Staischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem MOS-FET (T _) um einen Verarmungs-MOS-FET handelt.7. Statischer Direktzugriff speicher nach Anspruch 4-, dadurch gekennzeichnet, daß dem Gate-Anschluß des MOS-FETS (T } ein Steuers i<|nijJ (Pr) aufgeschaltet wird.8. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der ersten und zweiten Schaltvorrichtung (Tp5, Tp6) jeweils um P-Kanal-MOS-FETS handelt (Fig. 2, 5, 7)9. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der ersten und zweiten Schaltvorrichtung (T 5, T 6) jeweils um N-Kanal-MOS-FETS handelt (Fig. 4, 6, 8, 9) .10. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 2, dadurch geke nnzeichnet, , daß es sich bei der Speicherbelegungsschaltung (17) um eine taktgesteuerte Inverterschaltung handelt (Fig. 5, 7), die sich aus einem komplementären Paar von N-Kanal- und P-Kanal-MOS-FETS und aus zwei Schalt-MOS-FETS zusammensetzt, welche bei Aufschaltung der komplementären Adresseingangssignale (AW, AW) die Inverterschaltung (17) zu steuern haben, wobei einer der SChalt-MOS-FETS als N-Kanal-Typ ausgeführt ist und mit dem N-Kanal-MOS-FET der Inverterschaltung (17) in Verbindung steht, wohingegen der andere Schalt-MOS-FET einen P-leitenden Kanal aufweist und mit dem P-Kanal-MOS-FET der Inverterschaltung (17) verbunden ist.- 15 -PATENTANWÄLTE F.W. HEMMERIQIj[-.GEp*D*Mtll.tEijI-.D. ÖftOSS=; F. POLLMEIER11. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur ersten Inverterschaltung (18) ein Belastungsci.lomoiit (30) gehört (Fig. 8) , das zwischen der ersten Stromquelle (Vnn) und dem ersten Ausgangsknotenpunkt (B) angeordnet ist, daß weiterhin ein MOS-FET (32) vorgesehen ist, dessen einer Kanalanschluß auf den Ausgangsknotenpunkt (B) geführt ist, dessen zweiter Kanalanschluß mit der zweiten Stromquelle (V ) verbunden ist und dessen Gate-Anschluß mit dem ersten Eingangsknotenpunkt (A) gekoppelt ist,daß die zweite Inverterschaltung (19) ein zweites Belastungselement (31) aufweist, welches zwischen der ersten Stromquelle (VDD) und dem zweiten Ausgangsknotenpunkt (A) angeordnet ist, daß weiterhin ein zweiter MOS-FET (33) vorgesehen ist, dessen einer Kanalanschluß mit dem zweiten Ausgangsknotenpunkt (A) verbunden ist, dessen zweiter Kanalanschluß auf die zweite Stromquelle (Vcc) geführt ist und dessen Gate mit dem zweiten Eingangsknotenpunkt (B) gekoppelt ist,daß die Speicherbelegungsschaltung (17) von einem dritten MOS-FET gebildet wird, dessen erster Kanalanschluß an die Datenleitung (13) angeschlossen ist, dessen zweiter Kanalanschluß mit dem ersten Eingangsknotenpunkt (A) in Verbindung steht und dessen Gate-Anschluß das Adresseingangssignal (AW) aufgeschaltet wird,und daß der Gate-Anschluß der ersten Schaltvorrichtung (T ) mit dem ersten Ausgangsknotenpunkt (B) gekoppelt ist und daß dem (lcite-Anschluß der zweiten Schaltvorrichtung (1'Mr) das Adresslosesignal (AR) aufgeschaltet wird.12. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den MOS-FETS um P-Kanal-MOS-FETS handelt.- 16 -PATENTANWÄLfE F.W. HEMMERIC6.»GEfcD MütLfiö.* D. GßÖS£&* F. POLLMtItR ~13. Statischer Direktzugriffspeicher nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei den MOS-FETS um N-Kanal-MOS-FETS handelt.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0224887A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Gate Array Anordnung in CMOS-Technik |
WO1988009037A1 (en) * | 1987-05-04 | 1988-11-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Cmos-ram store on a gate array arrangement |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0088815B1 (de) * | 1982-03-17 | 1985-12-18 | Deutsche ITT Industries GmbH | Elektrisch löschbare Speichermatrix (EEPROM) |
EP0089397B1 (de) * | 1982-03-24 | 1985-12-04 | Deutsche ITT Industries GmbH | Integrierte Speichermatrix mit nichtflüchtigen, umprogrammierbaren Speicherzellen |
US4792924A (en) * | 1985-01-16 | 1988-12-20 | Digital Equipment Corporation | Single rail CMOS register array and sense amplifier circuit therefor |
US4825409A (en) * | 1985-05-13 | 1989-04-25 | Wang Laboratories, Inc. | NMOS data storage cell for clocked shift register applications |
JPH0482087A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-16 | Matsushita Electron Corp | 半導体メモリ回路 |
JPH06103781A (ja) * | 1992-09-21 | 1994-04-15 | Sharp Corp | メモリセル回路 |
US5898619A (en) * | 1993-03-01 | 1999-04-27 | Chang; Ko-Min | Memory cell having a plural transistor transmission gate and method of formation |
US5623440A (en) * | 1993-10-15 | 1997-04-22 | Solidas Corporation | Multiple-bit random access memory cell |
US5708598A (en) * | 1995-04-24 | 1998-01-13 | Saito; Tamio | System and method for reading multiple voltage level memories |
US5831896A (en) * | 1996-12-17 | 1998-11-03 | International Business Machines Corporation | Memory cell |
GB2384092A (en) * | 2002-01-14 | 2003-07-16 | Zarlink Semiconductor Ab | Low power static random access memory |
CN100524517C (zh) * | 2003-10-27 | 2009-08-05 | 日本电气株式会社 | 半导体存储装置 |
US7321504B2 (en) * | 2005-04-21 | 2008-01-22 | Micron Technology, Inc | Static random access memory cell |
DE602006016537D1 (de) * | 2005-11-25 | 2010-10-14 | Semiconductor Energy Lab | Betriebsverfahren und Anordnung eines Halbleiterspeichers |
JP4661888B2 (ja) | 2008-03-11 | 2011-03-30 | ソニー株式会社 | 半導体記憶装置およびその動作方法 |
WO2010046800A1 (en) * | 2008-10-22 | 2010-04-29 | Nxp B.V. | Dual-rail sram with independent read and write ports |
US8432724B2 (en) * | 2010-04-02 | 2013-04-30 | Altera Corporation | Memory elements with soft error upset immunity |
US20150294738A1 (en) * | 2014-04-15 | 2015-10-15 | International Business Machines Corporation | Test structure and method of testing a microchip |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1499856B2 (de) * | 1965-12-30 | 1972-06-15 | RCA Corp, New York, NY (V St A) | Treiber-lese-schaltung fuer ein transistorbestuecktes speicherflipflop |
US4112506A (en) * | 1976-10-07 | 1978-09-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Random access memory using complementary field effect devices |
DE3104880A1 (de) * | 1980-02-13 | 1981-11-19 | Sharp K.K., Osaka | "speicher fuer wahlfreien zugriff" |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS49139534U (de) * | 1973-03-31 | 1974-12-02 | ||
JPS5932123Y2 (ja) * | 1977-06-27 | 1984-09-10 | ニチコン株式会社 | 貫通電極シ−ルド型電解コンデンサ |
JPS59915B2 (ja) * | 1979-11-29 | 1984-01-09 | 富士通株式会社 | メモリ回路 |
-
1981
- 1981-02-25 JP JP56026361A patent/JPS57141097A/ja active Granted
-
1982
- 1982-02-23 US US06/351,518 patent/US4441169A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-02-24 DE DE19823206507 patent/DE3206507A1/de active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1499856B2 (de) * | 1965-12-30 | 1972-06-15 | RCA Corp, New York, NY (V St A) | Treiber-lese-schaltung fuer ein transistorbestuecktes speicherflipflop |
US4112506A (en) * | 1976-10-07 | 1978-09-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | Random access memory using complementary field effect devices |
DE3104880A1 (de) * | 1980-02-13 | 1981-11-19 | Sharp K.K., Osaka | "speicher fuer wahlfreien zugriff" |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0224887A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Gate Array Anordnung in CMOS-Technik |
US4779231A (en) * | 1985-12-06 | 1988-10-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Gate array arrangement in complementary metal-oxide-semiconductor technology |
WO1988009037A1 (en) * | 1987-05-04 | 1988-11-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Cmos-ram store on a gate array arrangement |
US5036487A (en) * | 1987-05-04 | 1991-07-30 | Siemens Aktiengesellschaft | CMOS-RAM memory in a gate array arrangement |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS57141097A (en) | 1982-09-01 |
US4441169A (en) | 1984-04-03 |
JPS6227477B2 (de) | 1987-06-15 |
DE3206507C2 (de) | 1988-10-27 |
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Owner name: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP |
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