DE2854652A1 - Solarzelle - Google Patents

Solarzelle

Info

Publication number
DE2854652A1
DE2854652A1 DE19782854652 DE2854652A DE2854652A1 DE 2854652 A1 DE2854652 A1 DE 2854652A1 DE 19782854652 DE19782854652 DE 19782854652 DE 2854652 A DE2854652 A DE 2854652A DE 2854652 A1 DE2854652 A1 DE 2854652A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
metal
solar cell
amorphous silicon
hydrogenated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19782854652
Other languages
English (en)
Other versions
DE2854652C2 (de
Inventor
Joseph John Hanak
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of DE2854652A1 publication Critical patent/DE2854652A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2854652C2 publication Critical patent/DE2854652C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/07Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the Schottky type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/075Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

Dn.-lng. Reimar König · Dipl.-ing Klaus Bergen Cecilienallee 76 A Düsseldorf 3Q Telefon 452QDS Patentanwälte
15. Dezember 1978 32 632 B
RCA Corporation, 30 Rockefeller Plaza, New York, N.Y. 10020 (V.St.A.)
"Solarzelle"
Die Erfindung bezieht sich auf eine Solarzelle mit einem Körper aus hydriertem, amorphem Silizium, auf deren zu bestrahlender Fläche sich ohmsche Kontakte befinden und auf deren der zu bestrahlenden Fläche abgewandten Seite eine Metallschicht ohmisch kontaktiert ist. Sie bezieht sich ferner auf eine Solarzelle mit einem Körper aus hydriertem, amorphem Silizium, die auf der zu bestrahlenden Fläche mit Hilfe einer eine Schottky-Sperrschicht bildenden Metallschicht kontaktiert ist, wobei die Schottky-Sperrschicht mit der Metallschicht und ebenfalls die der zu bestrahlenden Fläche gegenüberliegende Seite des Körpers ohmisch kontaktiert sind.
Mit Hilfe von aufgrund des Sperrschicht-Fotoeffekts arbeitenden Bauelementen, z.B. Solarzellen, kann Sonnenstrahlung in verwertbare elektrische Energie umgewandelt werden. Das Halbleitermaterial von Solarzellen kann kristallin, z.B. als Einkristall oder als polykristallines Silizium, vorliegen. Die Energieumwandlung erfolgt aufgrund des
909844/0598
wohlbekannten Sperrschicht-Fotoeffekts. Bei diesem können zwei Stufen !Unterschieden werden.
Absorbierte Sonnenstrahlung erzeugt in dem Halbleiterkörper zunächst Elektronen und Löcher. Diese werden dann durch ein in der Halbleiter-Solarzelle eingebautes elektrisches Feld voneinander getrennt. Dadurch entsteht ein elektrischer Strom. Das eingebaute elektrische Feld kann in einer Solarzelle z.B. durch eine Schottky-Sperrschicht, das ist ein sperrender Metall/Halbleiter-Übergang, erzeugt werden. Die an dem Metall/Halbleiter-Übergang (Schottky-Sperrschicht) erzeugten Elektronen fließen in Richtung des Halbleiterkörpers.
Es gibt bestimmte aus fein dispergierten Mischungen von nicht miteinander mischbaren Metallen und Isolatoren bestehende Zusammensetzungen (Zermets), die auch als Metallkeramik bzw. Granalien oder gekörntes Metall bezeichnet werden. Solche Metallkeramiken können gegenüber einkristallinem N-leitendem Silizium und Galliumarsenid als Schottky-Sperrschichten wirken (vgl. z.B. J. Appl. Phys., Band 45, Nr. 1, Januar 1974). Wegen der Unterschiede zwischen kristallinem und amorphem Silizium (vgl. IEEE Transactions on Electronic Devices, Band ED-24, Nr. 4, April 1977) kann aus dem Bekannten nicht geschlossen werden, ob eine auf kristallinem Silizium wie eine Schottky-Sperrschicht wirkende Metallkeramik die gleiche Wirkung auch auf amorphem Silizium hat oder nicht. Gegenüber N-leitendem, aus kristallinem Silizium als Schottky-Grenzschicht wirkende Metalle, wie Nickel, neigen dazu, auf eigenleitendem oder isolierendem, amorphen Silizium ohmsche Kontakte zu bilden.
Die aus der US-PS 4 064 521 bekannten Solarzellen mit
909844/0598
- Q-
hydriertem amorphem Silizium sind dazu geeignet, Sonnenstrahlung in brauchbare elektrische Energie umzuwandeln. Diese Solarzellen lassen sich durch Glimmentladung in Silan (SiH^) herstellen, indem zunächst ein Körper aus hydriertem amorphem Silizium abgeschieden und dann darauf Platin oder ein anderes Metall mit hoher Austrittsarbeit auf den niedergeschlagenen Körper aus hydriertem amorphem Silizium aufgebracht wird. Die bei dem Aufdampfen des Metallfass gebildete Schottky-Sperrschicht zeigt sofort nach der Bildung schlechte Diodeneigenschaften und erfordert ein Anlassen für etwa 15 Minuten bei etwa 2000C. Dieser zeitaufwendige Prozeß vergrößert die Gesamtkosten der fertigen Zelle.
Versuche, beim Herstellen von Solarzellen mit einem Körper aus hydriertem amorphem Silizium die Kosten herabzusetzen und die Herstellungsgeschwindigkeit zu erhöhen, z.B. durch Aufstäuben eines Platinfilms führten dazu, daß ein abnorm hoher Prozentsatz der Solarzellen Kurz- oder Nebenschlüsse aufwies. Elektrische Kurzschlüsse treten dann auf, wenn ein Nadelloch in dem amorphen Siliziumkörper vorhanden ist und sich die Vorder- und Rückseitenelektrode berühren. Ein Nebenschluß bzw. Shunt ist ein Ladungsverlust im amorphen Körper infolge einer unvollkommen ausgebildeten Sperrschicht oder das Vorliegen eines ohmschen Kontaktes mit dem Metall hoher Austrittsarbeit anstelle eines Kontaktes der Schottkyschen Art. Durch elektrische Kurzschlüsse oder Nebenschlüsse bzw. Shunts wird die Leistung der Solarzelle entweder stark reduziert oder vollkommen ausgelöscht. Die rückseitige Elektrode kann die amorphes Silizium enthaltende Solarzelle auch empfänglich für Kurz- oder Nebenschlüsse machen, welche wiederum den Gesamtwirkungsgrad und die Umwandlung von Sonnenstrahlung in elektrische Energie verschlechtern können. Im übrigen
909844/0598
nehmen die das Entstehen von Kurz- oder Nebenschlüssen verursachenden Sorlarzellenfehler mit der Zellenfläche stark zu.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Materialien vorzuschlagen, die durch Zerstäuben oder Ko-Zerstäuben (gleichzeitiges Zerstäuben von mehreren Stoffen) auf amorphes Silizium aufzubringen sind, so daß das Herstellungsverfahren beschleunigt wird, und die die Ursachen zum Entstehen der Kurz- und Nebenschlüsse vermindern und örtlich begrenzen.
Bei einer"Solarzelle, auf deren zu bestrahlender Fläche sich ohmsche Kontakte befinden und auf deren der zu bestrahlenden Fläche abgewandten Seite eine Metallschicht ohmisch kontaktiert ist, wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch eine zwischen den ohmschen Kontakten der zu bestrahlenden Fläche und dieser Fläche des aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körpers befindliche transparente Zermet-Schicht mit einem Metall hoher Austrittsarbeit und eine zwischen die den aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körper auf der der Strahlung abzuwendenden Seite ohmisch kontaktierende Metallschicht und den Körpern eingefügte dicke Zermet-Schicht0
Bei einer Solarzelle, die auf der zu bestrahlenden Fläche mit Hilfe einer eine Schottky-Sperrschicht (sperrender Metall/Halbleiter-Übergang) bildenden Metallschicht kontaktiert ist, wobei die Schottky-Sperrschicht mit der Metallschicht und ebenfalls die der zu bestrahlenden Fläche gegenüberliegende Seite des Körpers ohmisch kontaktiert sind, ist die erfindungsgemäße Lösung vorstehender Aufgabe gekennzeichnet durch eine ein Metall hoher Austrittsarbeit enthaltende, transparente Zermet-Schicht als Metall
909844/0598
der Schottky-Sperrschicht und eine zwischen die den aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körper auf der der Strahlung abzuwendenden Seite ohmisch kontaktierende Metallschicht und den Körper eingefügte, dicke Zermet-Schicht. Im Kern betrifft die Erfindung die Verwendung einer Zermetschicht bei einer Solarzelle mit amorphem Silizium. Die erfindungsgemäße, hydriertes amorphes Silizium enthaltende Solarzelle besitzt auf der bestrahlten Fläche des hydrierten, amorphen SilizLumkörpers ein transparentes, eine hohe Metall-Austrittsarbeit aufweisendes Zermet und auf der der bestrahlten Fläche gegenüberliegenden Seite ein dickes, eine rückwärtige Elektrode der amorphen Siliziumschicht bildendes Zermet.
Teilweise anhand der schematischen Darstellung von Ausführungsbeispielen werden im folgenden weitere Einzelheiten der Erfindung erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 einen Querschnitt durch eine Solarzelle mit einem eine Metallkeramik-Schottky-Sperrschicht und eine dicke Metallkeramik-Schicht aufweisenden amorphen Siliziumkörper; und
Fig. 2 einen Querschnitt durch eine invertierte PIN-Solarzelle mit transparenter Metallkeramik-Schicht hoher Metall-Austrittsarbeit und einer dicken Metallkeramik-Schicht an einem amorphen Siliziumkörper.
Bei sämtlichen Ausführungsbeispielen wird eine als Metall hoher Austrittsarbeit wirkende bzw. eine eine hohe Metallaustrittsarbeit aufweisende Metallkeramik verwendet. Metallkeramiken haben die allgemeine Formel
V(1 - X)'
909844/0598
worin M ein Metall, J einen Isolator bzw. Keramik-Isolator und χ den zwischen 0,1 und 1,0 zu variierenden Metallanteil des gesamten Metallkeramikvolumens darstellt. Der Isolator kann z.B. SiO2, Al2O3, Si3N4, BN, MgO, TiO2, ZrO2, Si 0 N (Siliziumoxynitrid) oder eine für alle Wellenlängen des sichtbaren Lichtes transparente Keramik mit größerem Bandabstand als etwa 4,0 eV sein.
Die der Sonnenstrahlung auszusetzende Metallkeramik, d.h. die "Vorder"-Metallkeramik, enthält ein transparentes Metall.hoher Austrittsarbeit, z.B. Platin, Iridium, Rhodium oder Rhenium. Die Konzentration χ des Metalls kann zwischen etwa 0,1 und etwa 0,85, vorzugsweise zwischen etwa 0,25 und etwa 0,45 des gesamten Metallkeramik-Volumens schwanken. Diese Metallkeramik-Schicht besitzt eine Dicke zwischen etwa 5 und etwa 20 nm (Nanometer). Die Metallkeramik wirkt wie eine Schottky-Sperrschicht in einer hydriertes, amorphes Silizium enthaltenden Solarzelle und haftet gut an der P+- leitenden Schicht einer PN- oder PIN-Solarzelle mit hydriertem, amorphem Siliziumkörper. Die Metallkeramik bildet ferner mit der auf sie aufgebrachten transparenten, leitenden Oxidelektrode einen guten ohmschen Kontakt.
Die dicke Metallkeramik, d.h. die rückwärtige Metallkeramik-Elektrode ist etwa 20 bis etwa 100 mal dicker als die Vorder-Metallkeramik. Durch Verwendung verschiedener Metalle stellt die dicke Metallkeramik-Schicht einen Kontakt nach Art eines Ballastwiderstandes dar, der die Solarzelle aus amorphem Silizium gegen das Auftreten elektrischer Kurz- und Nebenschlüsse schützt bzw. letztere örtlich begrenzt. Erfindungsgemäß geeignete Metalle zu der Dickfilm-Metallkeramik sind beispielsweise Nickel, Niob, Molybdän, Wolfram und Titan.
9098447059a
Der Widerstand der Rückseiten-Metallkeramik soll zwischen 1/1 und etwa I/IOO des Widerstandes der hydrierten, amorphen, N-leitenden Siliziumschicht liegen. Das zugehörige χ soll zwischen etwa 0,20 und etwa 0,75» insbesondere zwischen etwa 0,40 und etwa 0,55 des gesamten Metallkeramik-Volumens liegen. Vorzugsweise soll das verwendete Metall weder mit dem in der Metallkeramik enthaltenen Dielektrikum bzw. Nichtleiter noch mit dem hydrierten, amorphen Siliziumkörper reagieren. Außerdem soll die dicke Metallkeramik nicht leicht zu oxydieren sein. Der (räumliche) spezifische Widerstand kann in einer Metallkeramik-Schicht von etwa 200 bis etwa I5OO mn, insbesondere 500 bis etwa 1200 nm, Dicke zwischen etwa 10 Ohm/cm und etwa 10 0hm/cm liegen. Außerdem soll die dicke Metallkeramik e b enso dick oder dicker sein als der Halbleiterfilm, um den Effekt von Kurz- und Nebenschlüssen in der amorphen Siliziumschicht zu minimieren.
Fig. 1 zeigt eine invertierte Schottky-Sperrschicht-Solarzelle 10 mit hydriertem, amorphem Silizium. Zu der Solarzelle 10 gehört ein Glas-Substrat 12, durch das die auftreffende Sonnenstrahlung 100 dringt. Das Glas soll eine hohe optische Durchlässigkeit besitzen und sein Ausdehnungskoeffizient soll demjenigen des amorphen Siliziums gut angepaßt sein. Außerdem soll die Oberfläche des Glases so glatt wie irgend möglich sein, um die Wahrscheinlichkeit des Auftretens von Nadellöchern und Kurzschlüssen in den anschließend aufzubringenden Schichtstrukturen möglichst herabzusetzen. Geeignete Gläser sind z.B. Kalknatronglas, Quarzgut, Borsilikatglas o.a.
Auf das Substrat 12 ist eine transparente leitende Oxydschicht 14, z.B. Indium-Zinn-Oxyd, Kadmium-Stannat,
909844/0598
Antimon, Zinn-Oxid oder1 ähnliches niedergeschlagen. Die transparente, leitende Oxidschicht 14 dient als Antireflexionsschicht und als eine Elektrode der amorphes Silizium enthaltenden Solarzelle 10. Vorzugsweise soll die transparente leitende Oxidschicht 14 einen Widerstand von wenigstens etwa 10 Ohm/Quadrat oder weniger haben und einen ohmschen Kontakt gegenüber der nachfolgend in den Bestandteilen gleichzeitig aufgestäubten Metallkeramik-Schicht 16 bilden. Auf letztere trifft die Sonnenstrahlung auf. Die Metallkeramik-Schicht 16 wirkt wie eine Schottky-Sperrschicht gegenüber der hydrierten, amorphen Siliziumschicht 18.
Die Dicke der transparenten, leitenden Oxidschicht 14 kann zwischen etwa 200 und etwa 1000 nm liegen. Diese Dicke soll mit Rücksicht auf die Antireflexionseigenschaft auf bekannte Weise optimiert werden. Bei großflächigen Silizium-Solarzellen mit hydriertem, amorphem Silizium, z.B.
ρ mit einer Fläche von mehr als 3 cm , kann die transparente, leitende Oxidschicht 14 durch eine bekannte, den bei Betrieb der Zelle erzeugten Strom abführende Gitterstruktur· ergänzt werden. Auf der transparenten, leitenden. Oxidschicht 14 ist ein Draht 15 ohmisch kontaktiert. Die transparente, ein Metall hoher Austrittsarbeit enthaltende Metallkeramikschicht 16 ist bis zu einer Dicke von etwa 2 bis etwa 20 nm, vorzugsweise bis zu einer Dicke zwischen etwa 8 und etwa 12 nm, mit mehr als 3 MHz (Megahertz) auf die transparente, leitende Oxidschicht 14 durch Hochfrequenz - in ihren Bestandteilen (Metall, Keramik) gleichzeitig - aufgestäubt worden.
Die hydrierte, amorphe Siliziumschicht 18 wird in bekannter Weise (vgl. US-PS 4064 521) aufgebracht. Es wird
909844/0598
dabei zunächst eine eigenleitende oder isolierende Zone 18b und dann eine N+-leitende Zone 18a erzeugt. Die letztgenannte N+-leitende Zone 18a hat eine Dicke von etwa 40 nm. Die Dicke der eigenleitenden Zone 18b kann zwischen etwa 500 und etwa 1000 nm liegen.
Auf die hydrierte, amorphe Siliziumschicht 18 wird eine dicke Metallkeramikschicht 20 durch gleichzeitiges Hochfrequenz-Zerstäuben oberhalb von 3 MHz eines geeigneten Metalls und eines Isolators bis zu einer Dicke von etwa 500 bis etwa 1500 nm niedergeschlagen. Anschließend wird die dicke Metallkeramikschicht 20 mit einer Metallschicht 22 von etwa 100 nm Dicke abgedeckt. Die Metallschicht 22 kann aus Niob, Aluminium, Wickel o.a. bestehen und soll einen ohmschen Kontakt mit der dicken Metallkeramikschicht 20 bilden. Die Metallschicht 22 kann bei Bedarf mit einer (nicht gezeichneten) Schutzschicht abgedeckt werden. Ein Draht 23 oder ein anderer Leiter zum Abführen der bei Bestrahlung der Solarzelle mit Sonnenstrahlung 100 erzeugten elektrischen Energie ist an der Metallschicht 22 befestigt.
Durch die Absorption von Sonnenstrahlung 100 in dem Körper der hydrierten, amorphen Siliziumschicht 18 werden Ladungsträger, d.h. Elektronen und Löcher, erzeugt und entweder zu der dicken Metallkeramikschicht 20 oder zu der eine hohe Austrittsarbeit aufweisenden Metallkeramik-Schicht geschwemmt und dort als elektrischer Strom der Zelle gesammelt.
In Fig. 2 ist eine invertierte bzw. umgekehrte PIN-Solarzelle 30 mit einem Körper aus amorphem Silizium dargestellt. Die Solarzelle 30 enthält ein Glas-Substrat 32 mit einer darauf liegenden, transparenten, leitenden Oxydschicht 34 von etwa
909844/0598
200 bis etwa 500 mn Dicke. Auf die Oxidschicht 34 ist eine transparente Metallkeramik-Schicht 36 hoher Austrittsarbeit von etwa 5 bis etwa 20 nm Dicke so niedergeschlagen, daß ein ohmscher Kontakt gegenüber der Oxidschicht 34 besteht. Zum Abführen des während der Bestrahlung der Solarzelle 30 mit Sonnenstrahlung 100 erzeugten Stroms ist die leitende Oxidschicht 34 mit einem Draht 35 ohmisch kontaktiert.
Auf der Metallkeramik-Schicht 36 liegt eine PIN-Schichtenfolge 38 aus hydriertem, amorphem Silizium. Die P+-Zone 38c der PIN-Schichtenfolge 38 hat eine Dicke zwischen etwa 10 und etwa 30 nm und haftet gut an der Metallkeramik-Schicht 36 hoher Austrittsarbeit. Die eigenleitende Zone 38b der PIN-Schichtenfolge 38 soll eine Dicke zwischen etwa 500 und etwa 1000 nm besitzen. Auf der eigenleitenden Zone 38b liegt eine N+-Zone 38a mit einer Dicke zwischen etwa 20 und etwa 50 nm. Auf die N+-Zone 38a ist erfindungsgemäß eine dicke Metallkeramik-Schicht 40 von etwa 500 bis etwa 1500 nm Dicke aufgebracht worden. Die dicke Metallkeramik-Schicht 40 bildet mit der aus amorphem Silizium bestehenden PIN-Schichtenfolge 38 einen ohmschen Kontakt. Auf die dicke Metallschicht 40 ist wiederum mit ohmschem Kontakt eine Metallschicht 42 niedergeschlagen und mit einem Draht 43 zum Abführen des in der Solarzelle 30 gegebenenfalls erzeugten Stroms ohmisch kontaktiert.
Da eine Metallkeramikschicht hoher Austrittsarbeit auf der zu bestrahlenden Seite und eine dicke Metallkeramikschicht auf der Rückseite erforderlich ist, kann die amorphes Silizium enthaltende Solarzelle in einer Reaktions-Kammer
90 9 8U/059Ö
in sich aneinander anschließenden Verfahrensstufen hergestellt werden. Dadurch wird die Bearbeitungszeit verkürzt. Außerdem wird es durch die Verwendung der Metallkeramikfilme möglich, großflächige Solarzellen ohne übermäßige Kurz- oder Nebenschlüsse in der Zellenstruktur herzustellen.
Beispiel: Ein aus Floatglas hergestelltes Substrat, welches wegen seiner Glätte besonders geeignet ist, wird in einer Reinigungsmittel-Lösung und in einem Ultraschallbad gewaschen, dann mit Wasser abgespült und bei etwa 1000C in staubfreier, heißer Luft getrocknet. Auf das Glassubstrat wird Indium-Zinn-Oxyd mittels Hochfrequenz aufgesprüht, bis die entstehende Schicht einen Widerstand von etwa 10 Ohm/Quadrat hat. Der Hochfrequenz-Generator wird dabei mit etwa 15,6 MHz betrieben. Die zu besprühenden Targets (Scheiben) waren bei einem Ausführungsbeispiel Platten von etwa 14,6 cm Durchmesser. Anschließend wird ein schmaler Rand rund um das Substrat mit Hilfe einer Glimmer-Maske abgedeckt, um zu verhindern, daß die nachfolgend aufzubringenden Filme auf dem Indium-Zinn-Oxyd in dem Randbereich abgeschieden werden und auf diese Weise Platz zum Anbringen eines Drahtes oder eines anderen Leiters zum Abführen des in der Zelle zu erzeugenden Stromes zu schaffen= Das System wird auf etwa 5 bis 6 χ 10 ^ Pa entlüftet, das Substrat wird auf etwa 2300C erwärmt und Argon-Gas wird mit einer Geschwindigkeit von etwa 5 sccm in das System eingegeben. Der Argon-Gasstrom wird aufrechterhalten, so daß
sich in der Zerstäubungskammer ein Argondruck von etwa 600 bis 700 Pa (etwa 5 Torr) einstellt. Das Target wird zunächst während einer Zeitdauer von etwa 15 Minuten bei mit einer Blende abgedecktem Substrat vorgesprüht. Anschließend wird nach Öffnen der Blende das Sprühen während einer Dauer von 1,2 Minuten fortgesetzt. Dabei bildet sich eine
9098U/059S
~ ή D -
Schicht von etwa 8 nm einer aus Pt-SiOp bestehender Metallkeramik auf der Unterlage. Diese Platin-Keramikschicht weist einen Platin-Anteil von etwa 25 bis etwa 40% des gesamten abgeschiedenen Metallkeramikvolumens auf.
Bei dem Systemdruck von etwa 6 bis 7 x 10*"-5 Pa (etwa 10~'Torr) wird das Substrat weiter auf etwa 330 C erhitzt, und es werden die in gewünschter Weise dotierten Schichten aus amorphem Silizium in bekannter Weise aufgebracht (vergl. US-PS 4 064 521); anstelle einer Gleichstromglimmentladung wird jedoch eine kapazitive Hochfrequenzentladung angewendet; Es werden etwa 25 Sekungen benötigt, um P+-leitendes, hydriertes, amorphes Silizium mit einer Schichtdicke von etwa 20 nm abzuscheiden. Die eigenleitende Schicht wird in etwa 11 Minuten mit einer Dicke von etwa 500 nm niedergeschlagen. Das Nieitende, hydrierte, amorphe Silizium wird auf das eigenleitende, amorphe Silizium bis zu einer Dicke von etwa 90 nm in etwa 2 Minuten aufgebracht.
Die dicke Metallkeramik-Schicht wird durch Hochfrequenz-Zerstäuben eines Targets aus Ni-SiOp-Metallkeramik, das zwischen etwa 40 und etwa 55 Vol.% Nickel enthält, auf die amorphe Siliziumschicht niedergeschlagen. Im Normalfall sind etwa 50 Minuten ausreichend, um diese Metallkeramik mit einer Schichtdicke von etwa 900 nm aufzutragen . Nach dem Aufbringen der dicken Metallkeramik-Schicht wird die bisherige Maske entfernt und eine kleinere Maske auf die Solarzelle mit amorphem Siliziumkörper aufgebracht. Danach wird durch Hochfrequenz-Zerstäubung während einer Zeitdauer von etwa 30 Minuten Aluminium mit einer Schichtdicke von etwa 500 mn aufgebracht. Darauf folgt das Anbringen eines zum Abführen in der Zelle erzeugten Stromes vorgesehenen Drahtes an der Aluminiumschicht.
909844/0598'
Zum Abscheiden der Schichten aus amorphem Silizium wurde ein SiH^-Strom von 20 sccm verwendet. Das P+-Dotieren erfolgte durch Hinzufügen von 0,05% B2Hg zum SiH^0 Zum N+- Dotieren wurde dem Silan 0,1% PH^ hinzugefügt. Der Gesamtdruck der Gase während des Abscheidens der Schichten aus amorphem Silizium betrug etwa 20 Mikron bzw. 2,5 bis 3>0 Pa. Es wurde eine Hochfrequenz-Energie von etwa 80 W benutzt.
Selbstverständlich kann der dicke Metallkeramikfilm auch in anderen Solarzellen mit amorphem Silizium Anwendung finden, z. B. in nicht-invertierten PIN-Konfigurationen, NP-Strukturen, Solarzellen mit I-Übergang, Sperrschicht-Fotoeffekt-Solarzellen mit Hetero-Übergang u. ä.. Wenn schließlich eine nicht durch das amorphe Silizium absorbierte Sonnenstrahlung absorbierende Metallkeramik-Schicht benutzt wird, z. B. eine solche, die im infraroten Teil des Sonnenspektrums absorbiert, entsteht eine auch als fotothermischer Konverter wirksame Solarzelle. Diese kann dann also sowohl aus der Sonnenstrahlung als auch aus einem um die Zelle zirkulierenden Wärmeaustauschmedium Energie bzw. elektrischen Strom gewinnen.
09844/ÖSSS

Claims (10)

  1. RCA Corporation, 30 Rockefeller Plaza, New York, N.Y. 10020 (V.St.A.)
    Patentansprüche;
    (IJ Solarzelle mit einem Körper aus hydriertem, amorphem Silizium, auf deren zu bestrahlender Fläche sich ohmsche Kontakte befinden und auf deren der.zu bestrahlenden Fläche abgewandten Seite eine Metallschicht ohmisch kontaktiert ist, gekennzeichnet durch eine zwischen den ohmschen Kontakten (14, 15) und der zu bestrahlenden Fläche und dieser Fläche des aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körpers (18) befindliche transparente Zermet-Schicht (16) mit einem Metall hoher Austrittsarbeit und eine zwischen die den aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden Körper (18) auf der der Strahlung (100) abzuwendenden Seite ohmisch kontektierende Metallschicht (22) und den Körper (18) eingefügte dicke Zermet-Schicht (20) (Fig. 1).
  2. 2. Solarzelle mit einem Körper aus hydriertem, amorphem Silizium, die auf der zu bestrahlenden Fläche mit Hilfe einer eine Schottky-Sperrschicht (sperrender Metall/ Halbleiter-Übergang) bildenden Metallschicht kontaktiert ist, wobei die Schottky-Sperrschicht mit der Metallscläbht und ebenfalls die der zu bestrahlenden Fläche gegenüberliegende Seite des Körpers ohmisch kontaktiert sind, g e k e η η zeichnet durch eine ein Metall hoher Austrittsarbeit enthaltende, transparente Zermet-Schicht (16) als Metall der Schottky-Sperrschicht und eine zwischen die den aus hydriertem, amorphem Silizium bestehenden
    90 9 8 44/0590
    2854653
    Körper (18) auf der der Strahlung (100) abzuwendenden Seite ohmisch kontaktierende Metallschicht (22) und den Körper (18) eingefügte,dicke Zermet-Schicht (20).
  3. 3. Solarzelle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Material der dicken Zermet-Schicht (20) nach der Formel
    MXJ(1 - x)
    zusammengesetzt ist, wobei M ein Metall und J ein Isolator ist und χ einen Wert zwischen etwa 0,20 und etwa 0,75 hat.
  4. 4. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis
    3, dadurch gekennzeichnet, daß der Isolator SiO2, Al2O3, Si-N^, BN, MgO, TiO2, ZrO2, Siliziumoxi-nitrid oder ein isolierendes keramisches Material mit einem größeren Bandabstand als etwa 4,0 eV ist.
  5. 5. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis
    4, dadurch gekennzeichnet, daß als Metall Nickel, Niob, Molybdän, Wolfram, Titan, Chrom oder Eisen vorgesehen ist»
  6. 6. Solarzelle nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Wert von χ zwischen etwa 0,40 und etwa 0,55 liegt.
  7. 7. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurchgekennzeichnet, daß die
    909844/059
    dicke Zermet-Schicht (20) eine Stärke von etwa 500 bis etwa 1500 mn hat.
  8. 8. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Serienwiderstand der dicken Zermet-Schicht (20) etwa 1/1 bis 1/100 des Widerstandes des hydrierten, amorphen Siliziums beträgt.
  9. 9. Solarzelle nach einem oder mehreren der Ansprüche
    1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Körper (18) aus hydriertem, amorphem Silizium mit Hilfe einer Glimmentladung in einer Silizium- und Wasserstoff-Atome enthaltenden Atmosphäre erzeugt ist„
  10. 10. Solarzelle nach Anspruch 9, . dadurch gekennzeichnet, daß die Atmosphäre Silan enthält.
    9so
    909844/0598
DE19782854652 1978-04-24 1978-12-18 Solarzelle Granted DE2854652A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/899,564 US4162505A (en) 1978-04-24 1978-04-24 Inverted amorphous silicon solar cell utilizing cermet layers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2854652A1 true DE2854652A1 (de) 1979-10-31
DE2854652C2 DE2854652C2 (de) 1990-08-02

Family

ID=25411225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19782854652 Granted DE2854652A1 (de) 1978-04-24 1978-12-18 Solarzelle

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4162505A (de)
JP (1) JPS54141594A (de)
DE (1) DE2854652A1 (de)
FR (1) FR2424633A1 (de)

Families Citing this family (53)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4226897A (en) * 1977-12-05 1980-10-07 Plasma Physics Corporation Method of forming semiconducting materials and barriers
AU530905B2 (en) * 1977-12-22 1983-08-04 Canon Kabushiki Kaisha Electrophotographic photosensitive member
US4272641A (en) * 1979-04-19 1981-06-09 Rca Corporation Tandem junction amorphous silicon solar cells
US4254426A (en) * 1979-05-09 1981-03-03 Rca Corporation Method and structure for passivating semiconductor material
US4320249A (en) * 1979-08-13 1982-03-16 Shunpei Yamazaki Heterojunction type semiconductor photoelectric conversion device
JPS5795677A (en) * 1980-12-03 1982-06-14 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Amorphous silicon type photoelectric tranducer
JPS56119673U (de) * 1980-02-13 1981-09-11
JPS5743477A (en) * 1980-04-24 1982-03-11 Sanyo Electric Co Ltd Photovoltaic device
JPS56152276A (en) * 1980-04-25 1981-11-25 Teijin Ltd Solar cell made of amorphous silicon thin film
JPS5721875A (en) * 1980-07-14 1982-02-04 Canon Inc Photosensor
US4339470A (en) * 1981-02-13 1982-07-13 Rca Corporation Fabricating amorphous silicon solar cells by varying the temperature _of the substrate during deposition of the amorphous silicon layer
FR2503457B1 (fr) * 1981-03-31 1987-01-23 Rca Corp Systeme de cellules solaires connectees en serie sur un substrat unique
US4443651A (en) * 1981-03-31 1984-04-17 Rca Corporation Series connected solar cells on a single substrate
JPS583296U (ja) * 1981-06-29 1983-01-10 東洋電機製造株式会社 ドラム形自動製図機の回転ドラム
US4939559A (en) * 1981-12-14 1990-07-03 International Business Machines Corporation Dual electron injector structures using a conductive oxide between injectors
JPS58137264A (ja) * 1982-02-09 1983-08-15 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 光電変換装置
US4589006A (en) * 1982-08-23 1986-05-13 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Germanium detector passivated with hydrogenated amorphous germanium
GB2137810B (en) * 1983-03-08 1986-10-22 Agency Ind Science Techn A solar cell of amorphous silicon
US4543442A (en) * 1983-06-24 1985-09-24 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration GaAs Schottky barrier photo-responsive device and method of fabrication
JPH0680837B2 (ja) * 1983-08-29 1994-10-12 通商産業省工業技術院長 光路を延長した光電変換素子
JPS61222282A (ja) * 1985-03-28 1986-10-02 Nippon Sheet Glass Co Ltd アモルフアスシリコン太陽電池
US4728406A (en) * 1986-08-18 1988-03-01 Energy Conversion Devices, Inc. Method for plasma - coating a semiconductor body
KR20010033375A (ko) * 1998-01-22 2001-04-25 하루타 히로시 태양 전지 장치와 그 제조 방법
DE10235012A1 (de) * 2002-07-31 2004-03-04 Siemens Ag Material für eine Zwischenschicht eines organischen photovoltaischen Bauelements, Herstellungsverfahren und Verwendung dazu sowie ein photovoltaisches Bauelement
JP2005064273A (ja) * 2003-08-13 2005-03-10 Idemitsu Kosan Co Ltd 光起電力素子用電極及びそれを用いた光起電力素子
US20080047602A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Guardian Industries Corp. Front contact with high-function TCO for use in photovoltaic device and method of making same
US20080178932A1 (en) * 2006-11-02 2008-07-31 Guardian Industries Corp. Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20080105299A1 (en) * 2006-11-02 2008-05-08 Guardian Industries Corp. Front electrode with thin metal film layer and high work-function buffer layer for use in photovoltaic device and method of making same
US20080105293A1 (en) * 2006-11-02 2008-05-08 Guardian Industries Corp. Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US20080105298A1 (en) * 2006-11-02 2008-05-08 Guardian Industries Corp. Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US8012317B2 (en) * 2006-11-02 2011-09-06 Guardian Industries Corp. Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20080302414A1 (en) * 2006-11-02 2008-12-11 Den Boer Willem Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US7964788B2 (en) * 2006-11-02 2011-06-21 Guardian Industries Corp. Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US8076571B2 (en) * 2006-11-02 2011-12-13 Guardian Industries Corp. Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US8203073B2 (en) * 2006-11-02 2012-06-19 Guardian Industries Corp. Front electrode for use in photovoltaic device and method of making same
US8334452B2 (en) 2007-01-08 2012-12-18 Guardian Industries Corp. Zinc oxide based front electrode doped with yttrium for use in photovoltaic device or the like
US20080169021A1 (en) * 2007-01-16 2008-07-17 Guardian Industries Corp. Method of making TCO front electrode for use in photovoltaic device or the like
US20080223430A1 (en) * 2007-03-14 2008-09-18 Guardian Industries Corp. Buffer layer for front electrode structure in photovoltaic device or the like
US20080308145A1 (en) * 2007-06-12 2008-12-18 Guardian Industries Corp Front electrode including transparent conductive coating on etched glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US20080308146A1 (en) * 2007-06-14 2008-12-18 Guardian Industries Corp. Front electrode including pyrolytic transparent conductive coating on textured glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same
US7888594B2 (en) * 2007-11-20 2011-02-15 Guardian Industries Corp. Photovoltaic device including front electrode having titanium oxide inclusive layer with high refractive index
US20090194155A1 (en) * 2008-02-01 2009-08-06 Guardian Industries Corp. Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same
US20090194157A1 (en) * 2008-02-01 2009-08-06 Guardian Industries Corp. Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same
US8022291B2 (en) * 2008-10-15 2011-09-20 Guardian Industries Corp. Method of making front electrode of photovoltaic device having etched surface and corresponding photovoltaic device
US20100229928A1 (en) * 2009-03-12 2010-09-16 Twin Creeks Technologies, Inc. Back-contact photovoltaic cell comprising a thin lamina having a superstrate receiver element
US8921686B2 (en) 2009-03-12 2014-12-30 Gtat Corporation Back-contact photovoltaic cell comprising a thin lamina having a superstrate receiver element
US20110088763A1 (en) * 2009-10-15 2011-04-21 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for improving photovoltaic efficiency
US20110272010A1 (en) * 2010-05-10 2011-11-10 International Business Machines Corporation High work function metal interfacial films for improving fill factor in solar cells
US20120031477A1 (en) 2010-08-04 2012-02-09 Egypt Nanotechnology Center Photovoltaic devices with an interfacial band-gap modifying structure and methods for forming the same
WO2012024557A2 (en) * 2010-08-20 2012-02-23 First Solar, Inc. Photovoltaic device front contact
US20130306141A1 (en) * 2011-05-20 2013-11-21 Panasonic Corporation Multi-junction compound solar cell, mutli-junction compound solar battery, and method for manufacturing same
CN102324443A (zh) * 2011-09-21 2012-01-18 中国电子科技集团公司第十八研究所 一种倒装三结InGaN太阳能电池
US8871608B2 (en) 2012-02-08 2014-10-28 Gtat Corporation Method for fabricating backside-illuminated sensors

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2632987A1 (de) * 1975-07-28 1977-02-10 Rca Corp Halbleiterbauelement
US4064521A (en) * 1975-07-28 1977-12-20 Rca Corporation Semiconductor device having a body of amorphous silicon
US4071426A (en) * 1975-01-23 1978-01-31 Rca Corporation Method of making high resistance cermet film

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3843420A (en) * 1972-10-24 1974-10-22 Rca Corp Sputtered granular ferromagnetic iron-nickel-silica films
US3919589A (en) * 1973-04-06 1975-11-11 Rca Corp Electroluminescent cell with a current-limiting layer of high resistivity
US4196438A (en) * 1976-09-29 1980-04-01 Rca Corporation Article and device having an amorphous silicon containing a halogen and method of fabrication
US4126150A (en) * 1977-03-28 1978-11-21 Rca Corporation Photovoltaic device having increased absorption efficiency
US4117506A (en) * 1977-07-28 1978-09-26 Rca Corporation Amorphous silicon photovoltaic device having an insulating layer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4071426A (en) * 1975-01-23 1978-01-31 Rca Corporation Method of making high resistance cermet film
DE2632987A1 (de) * 1975-07-28 1977-02-10 Rca Corp Halbleiterbauelement
US4064521A (en) * 1975-07-28 1977-12-20 Rca Corporation Semiconductor device having a body of amorphous silicon

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
US-Z.: Appl. Phys.Letters, Bd. 28, 1976, S. 512-514 *

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54141594A (en) 1979-11-02
FR2424633B1 (de) 1984-05-04
JPS6228599B2 (de) 1987-06-22
FR2424633A1 (fr) 1979-11-23
US4162505A (en) 1979-07-24
DE2854652C2 (de) 1990-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2854652A1 (de) Solarzelle
DE2858777C2 (de)
DE112005000948B4 (de) Solarzelle vom Chalcopyrit-Typ mit einem Glimmer enthaltenden isolierenden Substrat
EP0219763B1 (de) Solarzelle
US4166918A (en) Method of removing the effects of electrical shorts and shunts created during the fabrication process of a solar cell
DE3015706A1 (de) Solarzelle mit schottky-sperrschicht
EP0715358B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle mit Chalkopyrit-Absorberschicht und so hergestellte Solarzelle
DE102008017312B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle
DE2743141A1 (de) Amorphes silizium aufweisende bauelemente
DE102011050089B4 (de) Verfahren zum Herstellen von elektrischen Kontakten an einer Solarzelle, Solarzelle und Verfahren zum Herstellen eines Rückseiten-Kontaktes einer Solarzelle
DE19956735A1 (de) Diodenstruktur, insbesondere für Dünnfilmsolarzellen
DE19958878A1 (de) Verfahren zum Herstellen von Solarzellen und Dünnschicht-Solarzelle
DE2711365C2 (de)
DE3732619C2 (de)
DE102011054795A1 (de) Verfahren zum Abscheiden von Cadmiumsulfid-Schichten mittels zerstäuben zum Einsatz in photovoltaischen Dünnfilmvorrichtungen auf Cadmiumtellurid-Grundlage
DE3015362A1 (de) Solarbatterie
DE3732617C2 (de) Photoelement
DE102012104616B4 (de) Verfahren zum Bilden einer Fensterschicht in einer Dünnschicht-Photovoltaikvorrichtung auf Cadmiumtelluridbasis
DE102009054630B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines photovoltaisches Bauelements
DE102018113251B4 (de) Verfahren zum Herstellen einer CdTe-Solarzelle
DE3713957C2 (de)
DE102013219565A1 (de) Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer photovoltaischen Solarzelle
DE102010017246A1 (de) Solarzellenmodul und Herstellungsverfahren hierfür
DE102013219560A1 (de) Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer metallischen Kontaktierung einer photovoltaischen Solarzelle
DE102012201284A1 (de) Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer photovoltaischen Solarzelle

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee