DE2843440A1 - System zum erfassen von unregelmaessigkeiten und beschaedigungen an einem ablaufenden film - Google Patents

System zum erfassen von unregelmaessigkeiten und beschaedigungen an einem ablaufenden film

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DE2843440A1 DE19782843440 DE2843440A DE2843440A1 DE 2843440 A1 DE2843440 A1 DE 2843440A1 DE 19782843440 DE19782843440 DE 19782843440 DE 2843440 A DE2843440 A DE 2843440A DE 2843440 A1 DE2843440 A1 DE 2843440A1
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Description

Research Technology, Inc. Lincolnwood, Illinois, V.St.A.
System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschädigungen an einem ablaufenden Film
Die Erfindung betrifft ein System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschädigungen an einem ablaufenden Film. Hierzu gehören Einrichtungen zum Erfassen von Änderungen in der Filmdicke, die beispielsweise durch auf dem Film haftende Fremdkörper, auf dem Film angebrachte, metallisierte Hinweisetiketten oder verbrannte Stellen verursacht sein können, und zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschädigungen der Filmperforation und im Bereich der Tonspur. Solche Defekte sind im folgenden zusammenfassend als Filmfehler bezeichnet.
Es sind bereits Systeme zum Erfassen von Filmfehlern bekannt, die sich elektrischer Fühler oder photoelektrischer Meßeinrichtungen bedienen. Diese bekannten Systeme sind oft von Geschwindigkeits- oder Koinzidenzsignalen als Bestandteil der Abfühleinrichtungen abhängig gewesen. Außerdem besitzen diese
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Systeme eine verhältnismäßig hohe Fehlerquote als Folge des Schadhaftwerdens von Kristallen und dergleichen. Schließlich besitzen die bekannten Fühler auch eine verhältnismäßig große Masse und damit eine entsprechend niedrige Empfindlichkeit.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde/· ein System zum Erfassen von Filmfehlern zu schaffen, das die genannten Nachteile bekannter Systeme vermeidet und insbesondere eine hohe Empfindlichkeit, eine geringe Masse der Filmabtastfühler und eine geringe Störanfäligkeit und niedrige Fehlerquote aufweist. Ferner wird ein System angestrebt, bei dem die Signalgeber keine physikalische Berührung mit der FJ .Imoberflache erfordern, und welches Signale erzeugt, die von dem Grad der Filmbeschädigungen abhängig sein sollen. Schließlich soll das System billig in der Herstellung sein.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Kennzeichen der Patentansprüche 1,5 und 9 gelöst.
Die Erfindung besteht im wesentlichen darin, daß zum Erfassen von Filmfehlern kapazitive Filmabtastfühler verwendet werden, und zwar für das Messen der Filmdicke als auch für das Ermitteln von Filmunregelmäßigkeiten im Bereich der Tonspur und der zum Zwecke des Filmtransportes vorgesehenen Filmperforation. Die kapazitiven Filmfehler - Abtastfühler für die perforation und die Tonspur bestehen aus einem Abtastarm, der gegen die Oberfläche des Film angedrückt wird. Vorzugsweise besteht der Abtastarm aus Metall und verläuft in der Nähe einer flachen Metallfläche, die auf einer Schaltungsplatte angebracht ist. Der kapazitive Abtastfühler für die Filmdicke besteht aus einem federbelasteten Hebelarm, der auf der Oberfläche des Films entlanggleitet, welcher seinerseits auf einem Paar von zylindrischen Edelsteinen ruht, die als Filmführung dienen und auf einer metallischen Halterung angebracht sind. Die Platten des Kondensators dieses kapazitiven Sensors werden einerseits durch den Abtastarm gebildet, der aus einer Metallblattfeder besteht,
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und andererseits durch die Oberfläche der metallischen Halterung, die die zylindrischen Filmführungssteige trägt.
Die Kapazitätsänderungen eines jeden von ^drei kapazitiven Sensoren bzw. Filmabtastfühlern sind auf eine Phasendetektorschaltung aufgeschaltet. Der Phasendetektor besitzt einen Oszillator zum Erzeugen eines Signals, welches auf einen Resonanzkreis gegeben wird. Die kapazitiven Sensoren sind ebenfalls mit dem Resonanzkreis verbunden und verursachen eine Phasenverschiebung im Verhältnis zu dem Osziallatorsignal, die· von dem Phasendetektor abgefühlt wird, welcher mit dem Resonanzkreis verbunden ist. Ein Schwellwertdetektor stellt fesL, wann das Ausgangssignal des Phasendetektors einen bestimmten Pegel überschreitet, woraufhin eine Filmantriebssteuerung aktiviert wird, um beabsichtigte Funktionen, wie etwa das Anhalten des Films oder das Betätigen einer Anzeige oder einer Alarmeinrichtung auszulösen.
Durch die Verwendung von Phasendetektorsystemen anstelle anderer Systeme, wie etwa einer Frequenzmodulationserfassung, erhält man die erforderliche Gesamtempfindlichkeit und ergeben sich dennoch geringe Herstellkosten und ein einfacher Aufbau.
Zweckmäige Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteranansprüchen beansprucht.
Im folgenden wird eine bevorzugte Ausführungsform eines Systems zum Erfassen von Filmfehlern unter Hinweis auf die beigefügten Zeichnungen im einzelnen näher beschrieben.
Es stellen dar:
Figur 1 eine Vorderansicht eines Systems zum Erfassen von Filmfehlern, in der die verwendeten kapazitiven Sensoren sichtbar sind;
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Figur 2 eine Seitenansicht des Fehlererfassungssystems nach Figur 1;
Figur 3 einen Schnitt entlang der Linie III-III in Figur 1; und
Figur 4 einen Schaltplan der Phasendetektorschaltung, die in Verbindung mit den kapazitiven Filmabtastfühlern der in Figuren 1-3 dargestellten Anordnung verwendet wird.
Das erfindungsgemäße Erfassungssystem umfaßt eine Einrichtung zum Abtasten von Unregelmäßigkeiten in der Filmdicke, wie sie beispielsweise durch unsachlich ausgeführte Klebestellen entstehen können. Für die Abtastung der Filmdicke besitzt das System einen V-förmigen Sattel mit Auflagekanten aus Saphir und einer auf der Oberseite des "V" ruhenden Metallplatte, wobei der Film zwischen dem V-förmigen Sattel und der Metallplatte hindurchgeführt wird. Der Film wirkt dabei als Dielektrikum^ und Änderungen in der Filmdicke verursachen Schwankungen im Dielektrikum und führen damit·zu Kapazitätsänderungen.
Das System zum Erfassen von Filmfehlern wird auch zum Auffinden von Bruchstellen, Einrissen, ausgerissenen Stellen, bei denen Filmmaterial fehlt, vergrößerten Perforationslöchern und Filmschwachstellen verwendet. Die hierfür angepaßte Abtasteinrichtung benutzt ein Filmführungsbauteil in Form eines V-förmigen Blockes mit Zylindern aus Saphir, die den Film an seinen Außenkanten unterstützen, und ein Paar von federbelasteten Fühlern mit Spitzen aus Saphir. Der "V-Block" bildet eine stationäre Unterstützung für den Film an seinen äußersten Kanten, wobei die Mitte der Filmbahn ununterstützt bleibt. Einer der Abtastfühler ist so angeordnet, daß er eine Kraft entgegen der Unterstützungsrichtung des Filmes entlang der Mittellinie der Perforationsspur ausübt. Dieser Fühler besitzt eine Spitze bzw. ein Tastelement mit einer flaöhen Oberfläche, welches so bemessen ist, daß es ein normales Perforationsloch
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überspannt. Wenn eine Filmbeschädigung auftritt, wird dieser Fühler in Richtung auf das den Film unterstützende Filmführungsbauteil ausgelenkt, da der Film an solchen Stellen eine verminderte Fähigkeit hat, dem Fühlerdruck standzuhalten. Der zweite Fühler arbeitet auf ähnliche Weise wie der erste, er ruht jedoch auf dem Film zwischen der Bildspur und der Tonspur, und zwar nahe der Kante der Tonspur. Die Bewegung dieser Fühler wird durch Sensoren erfaßt, welche sich oberhalb der Federarme der Fühler befinden.
Das in den Figuren 1 und 2 dargestellte System 10 zum Erfassen von Filmfehlern besteht aus einer Grundplatte 11 mit einer darauf angebrachten Abdeckung-12, innerhalb derer eine Abtastanordnung 13 und eine Abtastanordnung 14 für die Perforation und die Tonspur vorgesehen sind. Führungsrollen 15 und 16 unterstützen den Filmstreifen 18. Im dargestellen Beispiel ist der Filmstreifen ein Kinofilm, obwohl das erfindungsgemäße System auch auf andere Arten von Filmen angewandt werden kann. Auf der Grundplatte 11 ist mittels eines Gelenkstiftes 20 ein Schwenkarm 19 angebracht. Eine nach oben gerichtete Bewegung des Schwenkarmes 19 wird durch einen Anschlagstift 9 begrenzt. Auf dem Schwenkarm 19 sind Bauteile angebracht, die zu der Abtastanordnung 13 und der Abtastanordnung 14 für die Perforation und die Tonspur gehören. Der Anschlagstift 9 hält diese Bauteile des Fehlererfassungssystems in ihrer richtigen Arbeitsstellung, wenn ein Film durch die Vorrichtung läuft.
Die Abtastvorrichtung 13 besteht aus einem metallischen Stützteil 21, welches am einen Ende des Schwenkarmes 19 angebracht ist. Zylinderförmige Filmführungsbauteile 22 aus Saphir sind auf dem metallischen Stützteil 21 befestigt und bilden eine V-förmige Auflage für den Filmstreifen 18. Ein Dickenabtastarm 23, der vorzugsweise als Metallblattfeder ausgebildet ist, ist auf einer Schaltungsplatte 24 unmittelbar oberhalb des Schwenkarmes 19 angebracht und bildet die eine Platte eines .
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Kondensators. Die andere Platte des Kondensators wird durch die obere Fläche des metallischen Stützteils 21 gebildet. Wenn sie die Filmdicke ändert, ändert sich damit das Dielektrikum zwischen der Metallblattfeder des Dickenabtastarmes 23 und dem metallischen Stützteil 21, wodurch Änderungen in der Kapazität erzeugt werden. Wie aus Figur 3 hervorgeht, liegt der Dickenabtastarm 23 auf der gesamten Breite des Films 18 auf.
Die Abtastanordnung 14 für Perforation und Tonspur besteht aus einem metallischen Stützteil 25, welches in der Näho <■■■ teiles 21 auf dem Schwenkarm 19 angebracht ist. Das Stütz i_eix 25 besitzt einen V-förmigen Auflagesattel 26, der aus zylindrischen Armen 26a und 26b aus Edelstein besteht, welche auf dem Stützteil 25 angebracht sind. Wie aus den Figuren 1 und 3 ersichtlich ist, ist für die Perforationsabtastung ein biegsamer Abtastarm 27 aus Metall vorgesehen, der auf der Schaltungsplatte 24 verankert ist. Der Edelstein 27a an der Spitze des Abtastarmes 27 gleitet über die Spur von Perforationslöchern 31, wie dies in Figur 3 gezeigt ist. Die Abmessungen des Edelsteines 27 sind so, daß das Abtastelement 27a in ein ausgerissenes Perforationsloch hinein absinken kann und dadurch eine abwärts gerichtete Auslenkung des Abtastarmes 27 verursacht. Ein Metallteil 28, welches auf der Schaltungsplatte 24 angebracht ist, bildet eine Platte eines Kondensators, während dessen andere Platte durch denjenigen Abschnitt des Abtastarmes 27 aus Metall gebildet wird, der dem ebenen Abschnitt des Metallteiles 28 benachbart ist. Das Metallteil 28 kann ein Metallblock sein, in den eine Vertiefung eingearbeitet ist, in die hinein der Abtastarm 27 angehoben wird, wenn eine Dickenzunahme des Films auftritt, und aus der heraus er sich nach unten absenkt, wenn ein ausgerissenes Perforationsloch auftritt.
In ähnlicher Weise ist ein biegsamer Abtastarm 30 aus Metall für die Tonspur vorgesehen, welcher ebenfalls auf der
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Schaltungsplatte 24 verankert ist und auf dem Film zwischen den Filmbildern 32 und der Tonspur 33 aufliegt, wie dies aus Figur 3 hervorgeht. Auch der Abtastarm 30 besitzt einen Edelstein 30a, der auf der Filmoberfläche gleitet. Der Kondensator wird durch eine metallische Kondensatorplatte oder einen spanabhebend ausgearbeiteten Metallblock 29 gebildet, welcher auf der Schaltungsplatte 24 angebracht ist, und andererseits durch Abschnitte des metallischen Abtastarmes 30, die dem Metallblock 29 gegenüberliegen.
Wie aus Figur 2 am deutlichsten zu erkennen ist, wird d^r l'.ilm, wenn ein Einriss oder eine verworfene Stelle vorkommen, tiefer in den durch die zylindrischen Auflager 26a und 26b gebildeten Sattel absinken, wodurch eine Kapazitätsänderung in dem kapazitiven Abtastarm für die Perforation oder die Tonspur erzeugt wird. Die Steuerschaltung zum Abfühlen der durch das Filmverhalten erzeugten Kapazitätsänderungen ist in Figur 4 dargestellt. Ähnliche Schaltungen sind für den Perforationsabtastkanal 35, den Tonspurabtastkanal 36 und den Dickenabtastkanal 37 verwendet. Diese Kanäle sind jeweils mit einem aus dem Abtastarm 27 und dem Metallteil 28 gebildeten Kondensator 38, einem dem Abtastarm 30 und dem Metallteil 29 gebildeten Kondensator 39 und mit einem aus dem metallischen Stützteil 21 und dem Abtastarm 32 gebildeten Kondensaor 40 verbunden.
Ferner ist ein Oszillator 41 vorgesehen, der ein Signal mit einer Frequenz von 4,5 MHz erzeugt. Es können aber auch Oszillatoren mit anderen Frequenzen verwendet werden. Der Oszillator 41 besitzt ein Kristall 42, welches mit einem invertierenden Verstärker 44 und einem Widerstand 45 parallel geschaltet ist. Ein Eingang des Verstärkers 44 ist über einen Kondensator 43 an Masse gelegt. Der Ausgang des Verstärkers 44 ist über einen Kondensator 46 und einer Diode 48 mit dem positiven Pol B + einer Spannungsquelle verbunden. Der Kondensator
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46 liegt ferner an dem Eingang einer invertierenden Pufferschaltung 47. Der Ausgang der Pufferschaltung 47 speist die Eingänge nicht-invertierender Pufferschaltungen 57, 58 und 59. Der Ausgang der Pufferschaltung 47 ist ferner über einen Kondensator 52 mit einer Impulsformerschaltung 49 verbunden. Die Impulsformerschaltung 49 besteht aus einem invertierenden Verstärker 50, dessen Eingang über einen Widerstand 51 an Masse liegt und über einen Widerstand 53 an B+. Der Ausgang der Impulsformerschaltung 49 liefert ein Steuersignal an die Phasendetektoren 54, 55 und 56 der Kanäle 37, 36 und 35.
Pufferschaltungen 57, 58 und 59 leiten das Oszillatorsignal über Kopplungskondensatoren 60, 61 und 62 an Resonanzkreise 65, 64 und 63 in den jeweiligen Kanälen 37, 36 und 35 weiter. Der Resonanzkreis 63 besteht aus einer Parallelschaltung aus einem Kondensator 63a und einer Abstimmspule 63b. In ähnlicher Weise bestehen die Resonanzkreise 64 und 65 aus Parallelschaltungen eines Kondensators 64a mit einer Abstimmspule 64b und eines Kondensators 65a mit einer Spule 65b.
Da die Schaltungen für jeden der Kanäle ähnlich sind, soll im folgenden als Beispiel nur der Kanal 35 für die Perforationsabtastung weiter erläutert werden.
Der Verbindungspunkt des Oszillatorsignals, des Resonanzkreises 63 und des variablen Kondensators 38, der auf die Filmdickenänderungen reagiert, ist über einen Kopplungskondensator 66 mit einer invertierenden Pufferschaltung 68 verbunden, zwischen deren Eingang und Ausgang ein Widerstand 67 gelegt ist. Der Ausgang der Pufferschaltung 68 ist mit dem Eingang des Phasendetektors 56 verbunden. Der Ausgang des Phasendetektors 56 liegt über einen Haltekondensators 69 an Masse. Ferner ist der Ausgang des Phasendetektors 56 über einen Kopplungskondensator 70 und einen Widerstand 71 mit dem Eingang eines Operations-
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Verstärkers 72 verbunden. Zwischen Ausgang und Eingang des Operationsverstärkers 72 ist ein Rückkopplungswiderstand 74 gelegt. Ein weiterer Eingang des Operationsverstärkern 72 liegt über einen Widerstand 73 an B+. Der Ausgang des Operationsverstärkers 72 führt über ein Koaxialkabel 75 zu einem Schwellwertdetektor 76. An den Ausgang des Schwellwertdetektors 76 ist eine Filmantriebssteuerung 77 angeschlossen.
In ähnlicher Weise sind auch die Schwellwertdetektoren 78 und 79 der Kanäle 36 und 37 mit der Filmantriebssteuerung 77 verbunden. Die Filmantriebssteuerung kann an ein Filmantrifb"·- motor-Bremssystem oder beispielsweise an ein (nicht gezeigtes) Anzeigesystem angeschlossen sein. Der beschriebene Phasendetektor und der beschriebene Verstärker sind vorzugsweise als integrierte Schaltkreise ausgeführt, wodurch für das System die Kosten verringert und die Montage vereinfacht werden.
Die Arbeitsweise der gesamten Detektorschaltung 34 kann wie folgt beschrieben werden, wobei dies anhand des Kanales 35 für die Abtastung der Perforationsspur als Beispiel erfolgen soll. Der Resonanzkreis 63 ist auf den Oszillator 41 abgestimmt. Änderungen in der Kapazität des Kondensators 38 verursachen eine Phasenverschiebung in dem am Eingang der invertierenden Pufferschaltung 68 anliegenden Signal. Der Phasendetektor 56 wird durch einen Steuerimpuls erregt, der eine Breite von ungefähr 25 Nanosekunden aufweist, wenn ein Oszillator mit einer Frequenz von 4,5 MHz verwendet wird. Während des Anstehens dieses Steuerimpulses ist der alte Kondensator 69 entweder geladen oder entladen, je nach der Phase des Eingagngssignales. Über dem Haltekondensator 69 wird eine nominale Spannung von 6 Volt aufrechterhalten, und Abweichungen zu jeder Seite des Nominalwertes hin stellen eine von 0° abweichende Phasenverschiebung dar. Die Spannungsänderungen über dem Haltekondensator 69 sind an dem Operationsverstärker 72 angekoppelt, in dem sie verstärkt werden. Der Schwellwertdetektor 76 steht bereit, um
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ausgelöst zu werden, wenn die Spannungsschwankungen einen bestimmten Pegel überschreiten, um dann die Filmantriebssteuerung 77 zu betätigen.
Das erfindungsgemäße System reagiert auf außerordentlich geringe Phasenverschiebungen, die bei etwa 1/10 Nanosekunden liegen können.
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Claims (9)

  1. ReTe 2
    Dr. Joc'jhirn Rasper , ..,
    Wiesboden
    Blerstaütdr Hill·. 22 TsL H 28 #
    Research Technology, Inc. Lincolnwood, Illinois, V.St.A.
    System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und BeschädL an einem ablaufenden Film
    Patentansprüche:
    \ Λ System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschäd ι <;|im<i''· (Fiimfehler) an einem ablaufenden Film, gekennzeichnet durch
    a) eine Filmführung (15, 16, 22, 26), durch die eine Ab Laufstrecke des Filmes (18) festgelegt ist,
    b) einen kapazitiven Filmabtastfühler (Anordnungen 13, 14) mit veränderlicher Kapazität an dieser Ablaufstrecke des Films (18), welcher eine Kapazitatsänderungen in Abhängigkeit von Filmfehlern bestimmter Art erfährt und
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    c) eine Detektorschaltung (34) zum Abfühlen dieser Kapazitätsänderungen mit Schaltungsteilen (76, 78, 79), die eine Steuerung (77) aktivieren, wenn die Kapazitätsänderungen einen bestimmten Grad überschreiten.
  2. 2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß dieser kapazitive Filmabtastfühler (Anordnung 13, 14) aus einem unter Andruck auf der Filmoberfläche ablaufenden Abtastarm (23, 27, 30) und einer Fläche (Bauteil 25, 28, 29) besteht, die die eine Elektrode des Kondensators (38 - 40) bildet, und daß der Abtastarm (23, 27, 30) einen dieser Fläche (Bauteil 25, 28, 29) benachbarten Abschnitt besitzt, der die andere Elektrode des Kondensators (38 - 40) bildet.
  3. 3. System nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß diese Detektorschaltung (34) einen Phasendetektor (54 - 56) zum Erfassen von Phasenverschiebungen in dem von dem kapazitiven Filmabtastfühler (Anordnung 13, 14; bzw. Kondensatoren 38 - 40) erzeugten Signal enthält.
  4. 4. System nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß diese Detektorschaltung (34) einen Oszillator (41) zum Erzeugen eines Signals und einen mit dem Oszillator (41) verbundenen Resonanzkreis (63 - 65) enthält, und daß der kapazitive Filmabtastfühler (Kondensatoren 38 - 40) mit dem Resonanzkreis (63 - 65) verbunden ist, um eine Phasenverschiebung des Oszillatorsignals zu verursachen, und daß ein mit dem Resonanzkreis (63 - 65) verbundener Phasendetektor (54 - 65) zum Erfassen der Phasenverschiebungen vorgesehenist.
  5. 5. System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschädigungen an einem ablaufenden Film, gekennzeichnet durch
    a) einen ersten, zweiten und dritten kapazitiven Filmabtastfühler (23, 27, 30) zum Erzeugen einer Kapazitätsänderung in
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    Abhängigkeit von Filmunregelmäßigkeiten, von denen der erste (23) die Filmdicke über die Filmbreite, der zweite (30) Filmfehler im Bereich der Tonspur (33) des Filmes (18) und der dritte (27) Filmfehler im Bereich der Perforation (31) des Filmes (18) abtastet,
    b) Detektorschaltungen (34) zum Abfühlen der Kapazitätsänderungen jedes der kapazitiven Filmabtastfühler (Kondensatoren 38 - 40) und zum Aktivieren einer Steuerung (77) , wenn die Kapazitätsänderungen einen bestimmten Grad überschreiten.
  6. 6. System nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der erste kapazitive Filmabtastfühler (23) einen Kondensator (40) aufweist, der aus einem Filmführungsbauteil (21, 22) mit einer Fläche und einem gegen die Oberfläche des Filmes gedrückten Hebelarm besteht, der einen im Abstand neben dieser Fläche des Filmführungsbauteiles (21, 22) liegenden Abschnitt aufweist.
  7. 7. System nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der zweite und der dritte kapazitive Filmabtastfühler (27, 30) je einen Kondensator (38, 39) aufweisen, der aus einer stationären Fläche (28, 29) als erste Elektrode und einem gegen die Oberfläche des Filmes (18) angedrückten Abtastarm besteht, der einen der stationären Fläche (28, 29) benachbarten Abschnitt als zweite Elektrode besitzt.
  8. 8. System nach einem der Ansprüche 5-7, dadurch gekennzeichnet, daß zum Unterstützen des Filmes (18) an der Auflagestelle jedes der kapazitiven Filmabtastfühler (23, 27, 30) ein V-förmiges Filmführungsbauteil (21, 22; 25, 26) vorgesehen ist.
  9. 9. System zum Erfassen von Unregelmäßigkeiten und Beschädigungen an einem ablaufenden Film, gekennzeichnet durch
    a) einen kapazitiven Sensor (Kondensatoren 38 - 40) mit veränderlicher Kapazität, der Kapazitätsänderungen in Abhängigkeit von Filmunregelmäßigkeiten erfährt,
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    b) einen schwingenden Arm (23, 27, 30), auf dem ein Teil des kapazitiven Sensors (38 - 40) angebracht ist/
    c) eine mit dem kapazitiven Sensor (38 - 40) verbundene Detektor- und Steuerschaltung (34) zum Anhalten des Filmantriebes oder zum Auslösen eines Alarms, wenn die Filmunregelmäßigkeiten ein bestimmtes Maß überschreiten.
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