DE2842028B2 - Vorrichtung zum Messen der Kapazität eines Kondensators - Google Patents
Vorrichtung zum Messen der Kapazität eines KondensatorsInfo
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Description
Diese Anmeldung betrifft eine Vorrichtung zum Messen der Kapazität eines Kondensators entsprechend
dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Die Vorrichtung läßt sich ferner verwenden für Messungen einer physikalischen Größe, wie beispielsweise
einer Bewegung oder eines Drucks, die durch einen kapazitiven Meßfühler hervorgebracht wird, in
dem eine Änderung dieser Größe in eine Kapazitätsänderung umgewandelt wird.
Eine Kapazitätsmeßvorrichtung der beschriebenen j>o
Art findet sich in der französischen Patertanmeldung PV 73-45271 vom 18. Dezember 1973. Die Zählschaltung
besteht im wesentlichen aus einem Zähler, dessen maximale Kapazität am Ende jeder Eichphase und
Meßphase erreicht wird. Also zählt dieser Zähler r> während jeder dieser Phasen dieselbe Anzahl Impulse n,
jedoch im Verlauf unterschiedlicher Zeitspannen At1;
und ,dr.x. die gleich η Tt und η 7\ sind, wo Ttund 7\ die
Perioden des Oszillators sind, wenn dessen Kapazität die des Eichkondensators Xr bzw. die des Meßkonden- κι
sators A-ISt. Der Vorwärts- und Rückwärtszähler wird
nach Beendigung der Eichphase Alt auf Riickwärtszählen
umgeschaltet, und zwar durch diesen Zähler, der seine Maximalkapazität erreicht hat und automatisch
wieder auf Null gestellt worden ist. Folglich hat der η Vorwärts- und Rückwärtszähler im Verlauf eines
Vergleichszyklus während einer Zeitspanne T = 2 Au
eine vorbestimmte Anzahl von Taktimpulsen vorwärts und rückwärts gezählt.
Bei dieser Art von Kapazitätsmeßvnrrichtung erzeu- w
gen der Zähler und der Vorwärts- und Rückwärtszähler während jedes Vergleichszyklus einen Impuls der Dauer
T= Al, + Aix = η (T, + Ts)
und einen Impuls der Dauer V = 2 Air. Dann wird die ·τ>
Phasenverschiebung (T-T') in einem Phasenvergleich^ errechnet, um die Kapazitätsdifferenz zwischen
dem Eich- und dem Meßkondensator herzuleiten, so daß die Meßvorrichtung ah Nullanzeiger wirkt.
Daraus ergibt sich, daß die Kapazitätsmessung durch ><i
Driften des Oszillator« und der Streukapazitäten, insbesondere zwischen den Kondensatorbelägen und
dem Bezugspotential, beeinträchtigt wird, da die Differenz (T- V) einem diese Störungen darstellenden
Faktor Xdirekt proportional ist: r>
T- V = η K(Xr + X) - 2 π K Χ,
T-T'= ηK(X- X1)
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine Kapazitätsmeßvorrichtung zu schaffen, deren Meßergebnis,
das direkt als Kapazitätswert des Kondensators oder Wert der anderen zu messenden Größe angezeigt
wird, insbesondere durch parasitäre Störungen des Oszillators nicht beeinträchtigt wird. Infolgedessen
ermöglicht die Unterdrückung des Einflusses von Fehlern, die insbesondere auf Veränderungen der
Wl Kennwerte der Bestandteile der verschiedenen Kreise
der Vorrichtung durch Temperatureinflüsse und Alterung zurückzuführen sind, sehr genaue Kapazitätsmessungen.
Diese Aufgabe wird bei einer Kapazitätsmeßvorrichtung der eingangs bezeichneten Art erfindungsgemäß
durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils des Anspruchs 1 gelöst.
Es erscheint daher als vorteilhaft, daß im Gegensatz
zum Stand der Technik die erfindungsgemäße Meßvorrichtung keine Differenz zwischen den Zeitspannen
ermittelt, die einer vorbestimmten Anzahl Impulsen des Oszillators während der Eichphase und während der
Messung entsprechen, sondern vielmehr ein Verhältnis zwischen der der Anzahl Impulse des Oszillators
während der in einem Verhältnis R zueinander stehenden Eich- und Meßzeit ermittelt, so daß die dem
Verhältnis dieser Zahlen innewohnende Berechnung ein Einfluß der parasitären Störungen, die insbesondere
vom Oszillator erzeugt werder. selbstverständlich beseitigt. So ergibt bei einem Eicriifindensator mit der
Kapazität Xe und einem gegebenen Verhältnis R das
Produkt A"f mal Verhältnis zwischen den Impulszahlen
direkt den Wert der Kapazität X des zu meisenden Kondensators. Ergänzenderweise braucht beispielsweise
tier Taktgeber, der die vom Vorwärts- und Rückwärtszähler gezählten Impulse seinerseits erzeugt,
keine große Stabilität zu haben, da man es mit einem Verhältnis von Kapazitäten zu tun hat, das alle
parasitären Effekte mit langsamer Veränderung der Bauelemente der Vorrichtung beseitigt. Der Taktgeber
braucht daher nur ein einfacher Multivibrator zu sein.
Ganz allgemein wird ein Kondensator mit der Kapazität X, der in den Relaxationsoszillator eingesetzt
ist, während einer Relaxationsschwingungspcriode 7~\ = \IF\ während der ersten Halbperiode mit einer
ersten Polarität seiner Beläge entladen und geladen, während der zweiten Halbperiode mit einer zweiten,
der ersten entgegengesetzten Polarität seiner Beläge zwischen zwei vorbestimmten Spannungen Ki und Vj
entladen und aufgeladen, und zwar mit Hilfe einer Quelle für stabilisierte Speisespannung fund über den
festen Widerstand des Relaxationsoszillators. Die vom Relaxationsoszillator erzeugte Frequenz F\ hat dann
die Form
Fy = /(K- K. E)[R ■ X) (I)
worin /einer bekannten, von den Extremspannungen V,
und V) und von der Speisespannung E abhängigen
logarithmischen Funktion umgekehrt proportional ist.
Nimmt man di; Spannungen Vi und V>
und damit auch die Speisespannung E sowie den Widerstand R als während eines Vergleichszyklus konstant an, so kann
die öieichung (I) durch die folgende ersetzt werden:
Fx = \ K V (2)
worin K die obenerwähnte Konstante ist.
So läuft also gemäß einem vorgezogenen Ausführungsbeispiel ciie Messung darauf hinaus, abwechselnd
die Anzahl der vom Relaxationsoszillator abgegebenen Impulse zu bestimmen, die gleich der Anzahl Perioden
der Relaxationsschwingung Nt bzw. Nx ist, wenn
während des Eichens bzw. während der Messung der Eichkondensator bzw. der Kondensator mit der zu
messenden Kapazität X im Schwingkreis liegt. Die vorbestimmte Dauer der Eich- und der Meßphase ist
vorzugsweise gleich den oder beträchtlich größer als die Relaxationsschwir.gungsperioden, die dem zu messenden
Kapazitätsbereich entsprechen. Hierbei kann die
Kapazität Xi des Eichkondensators so gewählt werden,
daß sie gleich einer der Grenzen dieses Bereiches ist, die dem Nullpunkt des Anzeigeinstruments der Digitalschaltung
oder der höchsten oder niedrigsten Frequenz Fr - MK Xi der Impulse entspricht, die vom Relaxationsoszillator
während des Vergleichszyklus abgegeben werden.
Gemäß einer Ausgestaltung besteht der Kondensator mit der zu messenden Kapazität X aus zwei
beispielsweise zylindrischen und koaxialen Belägen, von denen der eine gegenüber dem anderen koaxial bewegt
werden kann. Folglich ist d'e Änderung der zu messenden Größe G\ der Veränderung der Oberfläche
des Kondensators proportional. Bezeichnet man den Wert der tatsächlich vom Zähler angezeigten Kapazität
mit C und die gesamte Streukapazität mit Cn, die
ebenfalls, bezogen auf das Bezugspotential oder auf die F.rde der Meßvorrichtung, gemessen wird, so erhält man
die folgende Beziehung
C, - .ν
r„
G\ - .IC,,, 4 0 = ,!.Y
ICn
worin A und B Konstanten sind.
Ist Gi die analaoge Größe, die der für die
Eichkapazität Xi repräsentativen, effektiv berechneten
Kapazität C/ entspricht, so geht aus der folgenden
Doppelgleichung
Cx-C= A (Cn, - C) - A (X ■- Xi)
hervor, daß die Linearität der Messung unabhängig von
derStörkapazitä! CPerhalten bleibt.
Gemäß dieser ersten Ausgestaltung sind die Zählungen
dieser vom Oszillator im Verlauf der Eich- und der Meßphase jedes Vereleichszyklus abgegebenen Impulse
vorbestimmt bzw. der zu messenden physikalischen Größe umgekehrt proportional.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltimg ist der Kondensator mit der zu messenden Kapazität X ein
Flachkondensator, bei dem sich der Abstand c/zwischen
den Belägen proportional zur zu messenden pyhsikalischen Größe G\ verändert. Folglich ist hier im
Gegensatz zur ersten Variante die Kapazität X der Größe G\ umgekehrt proportional und ist durch die
folgende Beziehung gegeben:
Y = ,1 ' J
worin A' eine Konstante ist. deren Wert von der Oberfläche der Beläge und von der relativen, dielektrischen
Leitfähitrceit des Dielektrikums zwischen den
Belägen abhängt.
Schreibt man die Gesamt-Streukapazität Cp in der
folgenden Form:
C1, = Ae
worin e eine Cp definierende Lange ist, die gegenüber
dem Maximalwert rftvon d, der vorzugsweise dem Eichoder
Mindestwert Xe des Bereiches der zu messenden Kapazitäten entspricht, sehr groß ist, so erhält man
gemäß den Beziehungen (2) bis (5):
,4'(l/t/ + Me)
Fm = V(KCnJ = (MKAO ■ (d/(\ + d/e))
worin Fm die Relaxationsschwingungsfrequenz ist, die
dem Kapazitätswert Cn, entspricht. Es bringt also bei
dieser zweiten Variante ein im Nenner der vorstehenden Beziehung erscheinender Ausdruck d/c eine
nichtlineare Änderung des als Funktion von G\ angezeigten Wertes der Kapazität X mit sich und damit
einen Linearitätsfehler in den Kapazitätsmessungen.
In dieser Hinsicht umfaßt der Oszillator zweckmäßigerweise
eine Schaltung zum Neutralisieren des Eichbzw. Meßkondensators während der Meß- bzw.
Eichphase oder zum Unterdrücken der Auswirkungen von .Streukapazitäten zwischen dem Bezugspotential
und den Kondensatorbelägen.
In einer Ausgestaltung umfaßt die KapazitätsmeUvorrichtung
als Ncutralisierungsschaltung einen Vim starker mit dem Verstärkungsfaktor Eins.der als Impeditnz-Anpassungskreis
geschaltet ist, dessen Ausgang mit dem Vergleicher des Oszillators verbunden ist und, durch das
Schaltglied gesteuert, während der Meß- bzw. Eichpha se abwechselnd mit dem ersten Belag des Eich bzw.
Meßkondensators verbunden wird, während sein Eingang mit den zweiten Belägen dieser Kondensatoren
und mit dem Schwingkreiswiderstand verbunden ist.
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung umfaßt die Kapazitätsmeßvorrichtung als Schaltung zur Unterdrückung
von Streukapazitäten einen Verstärker mit hohem Verstärkungsfaktor, der als Integrationskreis
geschaltet ist, dessen Ausgang mit dem Vergleicher des Schwingkreises verbunden ist. und. durch das Schaltglied
gesteuert, während der Eichphase und während der Messung abwechselnd mit dem ersten Belag des
Eich- bzw. des Meßkondensators verbunden wird, während sein Eingang mit den zwei Belägen dieser
Kondensatoren und mit dem Schwingkrciswiderstnnd verbunden ist.
Die Erfindung soll nun in Ausführungsformen anhand der entsprechenden Zeichnungen eingehend beschrieben
werden, von denen
F i g. 1 ein Blockschaltbild einer Kapazitätsmeßvorrichtung ist. in dem die Analogschaltung einer ersten
Ausführungsform detailliert dargestellt ist:
F-" i g. 2 ein zeitliches Diagramm von Signalen ist. von
denen die beiden ersten von der Analogschaltung und
das dritte \on der Digitalschaltung der Meßvorrichtung verarbeitet worden sind:
F i g. 3 eine vorgezogene Ausführungsform der Digitalschaltung detailliert dargestellt zeigt:
F i g. 4 ein F i g. 1 analoges Blockschaltbild ist. in dem eine zweite Ausführungsform der Analogschaltung
detailliert dargestellt ist:
Fig. 5A und 5B eine ebene Meßkondensatoranordiiune
für die erste bzw. zweite AusführungsforTi der
Analogschaltung detailliert dargestellt zeigen und
Fig.6A und 6B eine zylindrische Meßkondensatoranordnung
gemäß der ersten bzw. zweiten Ausführungsform detailliert dargestellt zeigen.
Wie die F i g. 1 zeigt, umfaßt die Analogschaltung 1 der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung einen Relaxationsoszillator
10, der als Spannungs/Frequenz-Wandler wirkt, und ein Schaltglied 11, das es bei der
Ausführungsform von F i g. 1 ermöglicht, den Eichkondensator 104 und den Meßkondensator 100, von der
Digitalschaltung 2 gesteuert abwechselnd mit Erde zu verbinden.
Wie eingangs ausgeführt, ist die Erfindung nicht auf
die Wahl des Parameters d oder S, d h. des Abstandes zwischen dem Belag oder der Oberfläche der Beläge des
Kondensators gerichtet, sondern ganz einfach auf die Messung der Kapazität X, die ein Maß für eine zu
messende physikalische Größe Gx sein kann.
Während der Meßphase hat — wie noch erläutert werden soll — der Kondensator 100 mit der Kapazität
X einen ersten, an Erde liegenden Belag 1000, während sein zweiter Belag 1001 über einen hochohmigen
Widerstand 101 mit dem Widerstandswert R mit dem Ausgang eines Vcrgleichcrs 102 dauernd verbunden ist.
Dei direkte Eingang 1021 des Operationsverstärkers 1020 des Vergleichers 102 ist über eine Spannungsteilerbrücke
1023. die eine Spannung vn festlegt, mit seinem
Ausgang 1022 verbunden, wahrend sein negierter
Eingang 1024 über einen Widerstand 1025 am Ausgang 103OeInC Impedanz-Anpassungskrciscs 103 liegt.
Dieser Kreis 103 besieht aus einem Opcrationsver starker 1031 mit dem Verstärkungsfaktor Eins, dessen
Ausgang 1030 in bekannter Weise mit dem direkten Eingang 1032 ν erblinden ist und dessen negierter
Eingang 1033 an den zweiten Belag 1001 des Kondensators KM) angeschlossen ist. Die I ingangsimpedanz
des Verstärkers 1031 ist sehr hoch, um das Aufladen und Entladen des Kondensators 100 über den
Widerstand 101 nicht zu beeinflussen. Die Ausgangsimpedanz des Verstärkers 1031 dagegen ist sehr niedrig,
um bei dieser Ausführungsform eine Neutralisation der Abschirmung der Verbindung 105 /wischen dem
Widerstand 101, dem negierten Eingang 1033 und den
/weiten Belägen 1001 bzw. 1041 des Meßkondensators 100 bzw. des Eichkondensators 104 sicherzustellen, wie
dies weiter unten beschrieben ist.
Nachstehend soll die Arbeitsweise des Relaxationsos· zilliiiors anhand des zeitlichen Schaubildes Fig. 2
beschrieben werden.
Wird an die Meßvorrichtung die Speisepsannung E angelegt, so lädt sich der Kondensator 100 mit einer
ersten Polariiät auf, bis sein zweiter Belag 1001 sich auf dem Potential Vn befindet, das der vorbestimmten
Spannung + vn entspricht. Das Potential der Ausgangsklemme
1022 des Vergleichers 102. die sich zuvor auf
dem Potential + E befand, kippt in das Potential — E.
was eine zweite, der ersten entgegengesetzte Polarität
an den Klemmen des Kondensators 100 hervorruft, der sich entlädt und wieder auflädt. Erreicht das Potential
des negierten Eingangs 1024 des Operationsverstärkers 102 den dem am Belag 1001 liegenden Potential - Vu
entsprechenden Wert + ro. so sehr das Potential der Ausgangsklemme 1022 zu seinem Anfangswert + E
zurück, wodurch eine Entladung und eine Aufladung des Kondensators 100 auf die Spannung + Vn bei dieser
ersten Polarität herbeigeführt wird. Der Kondensator 100 wird während jeder der aufeinanderfolgenden,
positiven und negativen Polaritäten entladen, lädt sich jedoch zwischen den Spannungen (-Vo. +V0) oder
(+ V0, — V0) während einer Halbperiode mit der seiner
Kapazität X proportionalen Dauer 1/(2 Fx). so daß die
Schwingungsfrequenz F\ gegeben ist durch:
Fx = 1(2(RXInUE- V0)[E+ V0))))
wobei
wobei
F. = MKX.
(6)
Digitalschaltung 2 eingegeben, die aus ihrer Zählung
während einer Meßphase Δΐ\ den Kapazitätswert X
ermittelt.
Der Einfluß von langsamen Veränderungen der • Bauteile des Relaxationsoszillators 10 wird in der
Beziehung (6) durch den Wert der Konstanten K dargestellt, die eliminiert wird, wenn am Ende eines
Vergleichszyklus das Verhältnis der Anzahl Impulse Ni und N\ berechnet wird, die vom Oszillator 10 während
i" der Eich- bzw. Meßphase mit der Dauer Δΐ/ bzw. At\
erzeug! wird, da die Kondensatoren 100 und 104. die
durch Umschalten beispielsweise parallelgeschaltet sind, wie dies die F i g. I zeigt, denselben Umwelteinflüssen
unterliegen, wie etwa der gleichen Temperatur.
ι"' Wenn sich beim obigen Beispiel die Kapazitäten A'
und Xi unter dem Einfluß der Temperatur H gemäß
derselben Funktion (I'(H)) verändern, so daß
Die erste Zeile von Fig.2 stellt das symmetrische Wechselspannungs-Dreieckssignal am Verbindungspunkt 105 und die zweite Zeile das Wechselspannungs-Rechtecksignal
oder Impulse mit der Periode MFx an der Ausgangsklemme 1022 dar.
Dieses Rechtecksignal aus Impulsen mit der Folgefrequenz Fx wird durch den Relaxationsoszillator 10 in die
■V„
Vn(Il
(«II
und
wobei Xh, An und Xm. Xm die Kapazitätswertc X und
Xi bei der Meßtemperatur B bzw. bei Absoluttemperatur darstellen, so ist das Verhältnis X/X/ und das
Verhältnis F\/F/ temperaturabhängig.
Erfindungsgemäß ist beim Ausführungsbeispiel von F i g. I der Relaxationsoszillator auch noch mit dem
Eichkondensator 104 verbunden, dessen nichtveränderliche Kapazität Xi g'eich dem niedrigsten Wert des zu
messenden Bereiches von Kapazitäten A"ist und dessen zweiter Belag 1041 mit dem gemeinsamen Verbindungspunkt 105 verbunden ist.
Während jeder der beiden Phasen des Vergleichszyklus zwischen der Anzahl Impulse N1 und N\. deren
Dauer gleich Atf = Δι.\ ist, wird bei dem nachstehehend
beschriebenen Beispiel der eine der beiden Kondensatoren 100 und 104 mit dem Bezugspotential verbunden,
während der andere über das Schaltglied II, durch die
Digitalschaltung 2 gesteuert, neutralisiert wird, so daß das Schaltglied logische Komplementärsignale in seine
beiden Ausgangsleitungen 2Ih und 21I4 abgibt, wie es
nachstehend anhand von F i g. 3 erläutert wird.
Zu diesem Zweck umfaßt das mit dem ersten Belag 1000 oder 1040 der Kondensatoren 100 oder 104
verbundene Schaltglied 11 zwei Schaltelemente 110 — 111 oder 112 — 113. die aus je zwei Feldeffekt-Transistoren
bestehen. Der erste Transistor 110 wird leitend, wenn er an seiner Basis das entsprechende Signal der
Meßphase mit der Dauer Δίχ empfängt, um den ersten
Belag 1000 des Meßkondensators 100 mit dem Bezugspotential zu verbinden, während der zweite
zugehörige Transistor 111 gesperrt ist Der andere erste
Transistor 112 ist während dieser Meßphase Δίχ gesperrt und der andere zugehörige zweite Transistor
113 auf Durchlaß geschaltet, um den anderen, den Eichkondensator 104, zu neutralisieren. Im Verlauf der
folgenden Eichphase mit der Dauer Δ te werden die
Zustände der Transistoren 110 bis 113 umgekehrt so daß jetzt der Meßkondensator 100 neutralisiert wird,
während der andere, der Eichkondensator 104 mit seinem ersten Belag 1040, mit dem Bezugspotential
verbunden ist.
Wie die F i g. 1 zeigt, wird der erfindungsgemäße Neutralisierungskreis durch zweite Transistoren 11 und
113 gesteuert, deren Abfluß an den Ausgang 1030 der
Stufe 103 angeschlossen sind, während ihre Quellen mit den ersten Belägen 1000 und 1040 der Kondensatoren
100 und 104 sowie mit den Abflüssen der ersten Transistoren 110 und 112 verbunden sind. Die
Neutralisation andererseits erfolgt mit Hilfe einer koaxialen Abschirmung 106 der Verbindungsleitungen,
die in ihrer Gesamtheit mit 105 bezeichnet sind, die auch die zweiten beläge 1001 und 1041 der Kondensatoren
umgibt und mit dem Ausgang 1030 des Verstärkers 1031 verbunden ist. Das hat zur Folge, daß unabhängig davon,
welcher der beiden Kondensatoren 100 und 104 mit dem Bezugspotential verbunden ist und sich damit während
einer Phase des Vergleichszyklus lädt oder entlädt, die beiden Beläge des anderen Kondensators sowie die
Abschirmung 106 auf ein Potential gebracht werden, das sich genauso verändert wie das Potential des zweiten
Belages des im Laden oder Entladen begriffenen Kondensators. Folglich haben die Gesamt-Körperkapa-Nachstehenri
sollen anhand der die Digitalschaltung 2 detailliert zeigenden Fig. 3 die fünf Stufen eines
Vergleichszyklus beschrieben werden.
I) Wird zu Beginn einer Messung die Spannungsversorgung der Meßvorrichtung eingeschaltet, so wird mit
Hilfe einer geeigneten Nullstellvorrichtung 26 das Schieberegister 210 mit den fünf Stufen 21Oi bis 21O5 der
Steuerschaltung 21 automatisch auf Null gestellt. Dadurch geht die Kippschaltung der ersten Stufe 210. in
den Zustand »1« über und steuert über die Leitung 21 Ii die Nullrückstellung des Vorwärts- und Rückwärtszählers
240 der Vorwärts- und Rückwärtszählschaltung 24 und eines als Vorzähler bezeichneten ersten Zählers 230
der Zählschaltung 23. Diese Rückstellung auf Null schaltet den Vorwärts- und Rückwärtszähler 240 auf
»Zählen« und steuert außerdem über ein ODER-Tor 213 eine monostabile Kippschaltung 212 an, die mit dem
Ausgang des Taktgebers 22 verbunden ist. Infolgedes-
Einfluß mehr.
Nun soll eine vorgezogene Ausführungsforni der
Digitalschaltung 2 beschrieben werden, die es ermöglicht, die Anzahl Impulse Ni; und N\ zu zählen, die
während eines Vergleichszyklus vom Ausgang 1022 der Analogschaltung 1 abgegeben werden.
Die Digitalschaltung 2 besteht gemäß F i g. 2 und F i g. 3 im wesentlichen aus folgendem:
- Einer Steuerschaltung 21, die die fünf Stufen eines Vergleichszyklus startet, die nachstehend noch
beschrieben werden,
- einem Taktgeber 22 in Form eines Multivibrators, der Taktimpulse mit einer Frequenz abgibt, die
deutlich unter der liegt, die vom Oszillator 10 erzeugt wird,
- einem Zähler 23, der eine vorbestimmte Anzahl Nt
der Impulse zählt, die vom Oszillator 10 während jeder Eichphase erzeugt werden und infolgedessen
die Dauer Δ '.t der Eichphase bestimmt,
- einem Vorwärts- und Rückwärtszähler 24. der die
Dauer der Meßphase Δ t\ zu bestimmen vermag, die
exakt gleich der Dauer der Eichphase ist, oder, respektive, in einem vorbestimmten Verhältnis
R = Attfatxzur letzteren steht, und
- einer Rechner- und Anzeige-Einheit 25, die es ermöglicht, den Wert der Kapazität X des zu
messenden Kondensators 104 zu berechnen und direkt anzuzeigen, und zwar als Funktion der
vorbestimmten Anzahl Nr und des vorbestimmten
Verhältnisses R und der Anzahl Nx von Impulsen, die vom Oszillator 10 während der Meßphase At\
erzeugt und vom Zähler 23 gezählt werden; der Wert von X wird dann mit Hilfe der folgenden
Beziehungen ermittelt:
ft-= RAt | .V | |
oder | ||
NeZFe = | RNxZFx | |
oder | ||
NeXe-I | <= RNxX K | |
oder | ||
X=(Xe | ■ Ne)Z(R ■ Nx) |
Dabei kann die Einheit 25 den Wert X oder 1/AOder
eine einem der Werte X\ma 1IX proportionale Größe
errechnen und anzeigen, je nachdem, ob die zu messende Größe Gx der Kapazität direkt oder
umgekehrt proportional ist
Schaltung aus drei UND-Toren 214, daß das Schieberegister 210 um einen Schritt vorrückt und daß dessen
Kippschaltung der zweisten Stufe 211. in den Zustand
»1« übergeht.
2) Die Kippstufe 21O2 startet die zweite Etappe des
Vergleichszyklus, indem sie über die Leitung 21b den
Befehl zum Beginn der eigentlichen Eichung Δ ti; gibt.
Wie bereits erklärt, werden die beiden Transistoren 111
und 112 gesättigt, während die Transistoren 110 und 113
gesperrt werden, damit der Kondensator 104 mit bekannter Kapazität Xf im Meßkreis liegt. Unter diesen
Bedingungen gibt der Relaxationsoszillator 10 über ein UND-Glied 231, das zuvor, durch die Kippschaltung
210. gesteuert, über das ODER-Glied 232 auf Durchlaß geschaltet wurde, Impulse mit der Frequenz
Fi = MKXi an den Vorzähler 230 ab. Gleichzeitig mit
dem UND-Glied 231 wird das mit dem Zähleingang des Vorwärts- und Rückwärtszählers 240 ebenfalls verbundene
UND-Glied 241 auf Durchlaß geschaltet; im Zähler 240 können während der Eichung die Taktimpulse
gezählt werden. Für diese Gleichzeitigkeit sorgt eine D-Synchronisierschaltung 215, deren Taktg~bereingang
mit dem Ausgang des UND-Gliedes 231 und deren Ausgang Q mit einem der Eingänge der UND-Glieder
241 und 242 verbunden ist, die ihrerseits mit dem Vorwärts- und dem Rückwärtszähleingang des Vorwärts-
und Rückwärtszählers 240 verbunden sind.
So zählt also während der Eichung der Vorzähler Ni
Impulse mit der Frequenz F<;, und der Vorwärts- und
Rückwärtszähler 240 zählt die Taktgeberimpulse, bis der Vorzähler bis zu seiner maximalen Kapazität Ni
gezählt hat. Dieser Augenblick bestimmt das Ende der Eichung, deren Dauer damit gegeben ist durch
At, = NrZF1;
Der Ausgang des Zählers 230 versetzt die Leitung 233 in den Zustand »1«, wobei die letztere das Vorrücken
des Schieberegisters 210 um einen Schritt und über das UND-Glied 234 die Rückstellung des Zählers 235 der
Zählschaltung 23 auf Null veranlaßt.
3) Im Verlauf der dritten Etappe des Vergleichszyklus befindet sich die dritte Kippschaltung 2IO3 des
Schieberegisters 210 im Zustand »1« und veranlaßt über die Leitung 2113 folgendes
— die Sperrung des UND-Gliedes 241 und damit den Vorwärts- und Rückwärtszähler 240 zum Einstellen
seiner Tätigkeit;
- über die aus den beiden NOR-Gliedern bestehende Schaltung 243 die Negierung des Steuereingangs
für Vorwärtszählen/Rückwärtszählen, damit dieser sich im Zustand »Rückwärtszählen« befindet,
- über das ODER-Glied 216 die Rückstellung des Vorzählers 230 und der Synchronisier-Kippschaltung
215 auf Null und
- Ansteuerung der monostabilen Kippschaltung 212, damit diese nach Beendigung der vorstehenden
Vorgänge das Schieberegister 210 um einen Schritt vorrücken läßt.
4) Dann wird die Meßphase dadurch eingeleitet, daß die Kippschaltung 21Oj in den Zustand »1« übergeht. Da.
wie bereits gesagt, die Kompletnentärsignale in den Leitungen 211) und 211t gegenüber der Eichphase
umgekehrt werden, wird der erste Belag 1000 des Meßkondensators 100 über den gesättigten Transistor
iiö ans Erdpotentiai gelegt, wahrend der tichkondensator
104 über den gesättigten Transistor 113 neutralisiert
wird.
In diesem Fall gibt der Ausgang 1022 des Oszillators
10 über das UND-Glied 231 Impulse mit der Frequenz
F\ = \/KXab, und gleichzeitig zählt der Vorwärts- und
Rückwärtszähler 240 die Taklgebcrimpulse rückwärts. Erreicht der Vorzähler 230 seine Maximalkapazität /V/,
so startet er über das Tor 214 das Zählen der Impulse mit der Frequenz Fx durch den Zähler 235. Die von
diesem Augenblick an vergangene Zeit liegt bei dieser Ausführungsform unter Ati = Δΐ\. da die Kapazität Xi
so gewählt ist, daß sie gleich dem Höchstwert der zu messenden Kapazitäten ist. Und da die Frequenz Fi
niedriger ist als die Frequenzen Fx, hat der Vorzähler 230 seine Maximalkapazität erreicht, bevor der
Vorwärts- und Rückwärtszähler 240 bei Null angekommen ist. Folglich hat, wenn der Vorwärts- und
Rückwärtszähler bei Null angekommen ist, der Zähler 235 eine Anzahl ρ von Impulsen mit der Frequenz F\
verbucht, wobei
p= Nx- Ν,
ist. Unter diesen Bedingungen befiehlt der Vorwärts- und Rückwärtszähler 240 dem Zähler 235, das Zählen
einzustellen, indem er einen Impuls zum Sperren des UND-Gliedes 234 über den Umkehrschalter 245 in die
Leitung 244 schickt. Dieser Sperrimpuls steuert auch über das ODER-Glied 213 die monostabile Kippschaltung
212 an, damit das Schieberegister 210 um einen Schritt vorrückt, und zwar entsprechend der folgenden
und letzten Etappe des Vergleichszyklus.
5) Bei diesem als Übertragungs- und Berechnungsschritt bezeichneten Schritt hat die fünfte Kippschaltung
2IO5 des Schieberegisters an ihrem Ausgang 2115
den Zustand »1«. Das bewirkt die Übertragung des Inhalts ρ des Zählers 235 in einen Speicher 251 der
Rechner- und Anzeigeeinheit 25. Die Berechnung des Verhältnisses
X = N,X,/Νλ
oder von
MX
oder von
MX
p)
ergibt direkt den realen Wert oder den Kehrwert der Kapazität des zu messenden Kondensators 100, wobei
der Koeffizient K selbstverständlich eliminiert wird. In dieser Hinsicht erfolgt diese Berechnung in einer Logik
252, die einen Arbeitsspeicher enthält, der vorher die
Werte Neund Abgespeichert hat, um den Wert von Xe
verändern zu können, bis der Meßbereich ebenfalls geändert wird. Das Rechenergebnis X wird dann am
Ende des Vergleichszyklus in der Anzeige 253 angezeigt.
ϊ Gleichzeitig bewirkt auf Befehl der flechner- und
Anzeigeeinheit 25 das Auslösen der monostabilen Kippschaltung 212 durch Versetzen des Ausgangs 21 Ii
der ersten Kippschaltung 21Oi in den Zustand »1« die Rückkehr zur ersten Etappe des folgenden Vergleichs-
Ki zyklus.
Vorstehend ist zwar die Digitalschaltung gemäß einer Alisführungsform beschrieben, es sind für den Fachmann
jedoch auch andere Organisationsformen durchaus vorstellbar, die je nach den Werten des zu
messenden Kapazitätsbereiches und des Kapazitätsnormals gewählt werden können. Stellt etwa die Eichkapazität
die untere Grenze der zu messenden Kapazitätswerte dar, so werden die während der Eichphase Ali
vom Oszillator abgegebenen impulse von einem
_'n Vorzähler mit der Kapazität p\ und einem damit in Serie
geschalteten Zähler mit der Kapazität p: gezählt, damit
diese ihre zusätzliche Maximalkapazität Ni = p\ + p_>
erreichen. Während der Meßphase jedoch erreicht n.ir der Vorzähler seine maximale Kapazität p\, während die
:'i Zählung des Zählers am Ende der Meßphase Ai\ gleich
p'ist, was unter seiner maximalen Kapazität p> liegt und
gegeben ist durch
p'= /V\ - pi
Aus der folgenden Beziehung
Aus der folgenden Beziehung
i =
wird dann der Wert Xder zu messenden Kapazität oder dessen Kehrwert ermittelt.
Wenn schließlich das Kapazitätsnormal Xr einen
Wert hat, der außerhalb des zu messenden Kapazitätsbereiches liegt, so muß dem Ausgang des Taktgebers 22
ein Frequenzteiler oder -vervielfacher 220 während einer der als Eichung ur. 1 als Messung bezeichneten
Phasen nachgeschaltet werden, wie es die F i g. 3 zeigt. Liegt beispielsweise die Kapazität Xi beträchtlich über
dem Bereich der zu messenden Kapazitäten X, so dauert die Eichphase Ati: länger als die Meßphase .U\. Hegt
jedoch innerhalb eines vorbestimmten Wertes des Verhältnisses R - Atr/Atx. In diesem Fall zählt beim
Beispiel von F i g. 3 der Vorwärts- und Rückwärtszähler 240 Impulse mit einer ersten Taktgeberfrequenz
während der Eichphase vorwärts und während der Meßphase Impulse mit einer zweiten Taktgeberfrequenz,
die zur ersten Taktgeberfrequenz im Verhältnis R steht, rückwärts. Im übrigen hat i(Ch die Arbeitsweise
von Vorzähler und Zähler 230 und 235 nicht geändert. In
diesem Fall ist der Wert von X durch die folgende Beziehung gegeben:
X=
pj\
Im Speicher der Logik 252 wird außerdem der Wert des
Verhältnisses Λ gespeichert
bo Es können auch noch andere bekannte Parameter in den Rechner eingegeben werden, um die zu messende
physikalische Größe G\ direkt anzuzeigen.
Nun soll anhand von F i g. 4 eine zweite Ausführungsform der Analogschaltung 1 a beschrieben werden, die es
hs wie der Neutralisationskreis 106—103 von Fig. 1
ermöglicht, die Körperkapazitäten zu eliminieren, die jedoch durch sehr niedrige Kosten und eine größere
Meßgenauigkeit gekennzeichnet ist. Mit dem Index a
sind die in Fig.4 modifizierten Bestandteile gekennzeichnet,
die bereits in der F i g. 1 dargestellt worden sind.
Man findet in Fig.4 die drei Hauptkreise der
KapazitätsmeBvofrichtung wieder, nämlich einen ReIaxationsoszillator
10a und ein Schaltglied 11a in der Analogschaltung la und die Digitalschaltung 2, die nicht
detailliert dargestellt worden ist, da sie mit der identisch
ist, die beispielsweise anhand von Fig.3 beschrieben
wurde.
Der die Rolle des Spannungs/Frequenz-Wandlers spielende Oszillator 10a umfaßt wie in F i g. 1 den
Meßkondensator 100 mit der Kapazität X, den Eichkondensator 194 mit der Kapazität X& den
hochohmigen Widerstand 1101 mit dem Widerstandswert R und den Vergleicher 102. Dagegen enthält der
Oszillator 10a keinen Impedanz-Anpassungskreis mehr wie in der Fig. 1, sondern umfaßt einen Integrationskreis 107. der durch einen Operationsverstärker 1070
mit hohem Ven.tärkungsgrad in der Größenordnung von 2000 dargestellt wird. Der negierte Eingang 1071
des Verstärkers 1070 ist mit dem Verbindungspunkt 105a verbunden, der dem Widerstand 101 und den
zweiten Belägen 1001 und 1041 der Kondensatoren 100 und 104 gemeinsam ist. Die Ausgangsklemme 1072 des
Verstärkers 1070 ist mit dem Widerstand 1025 des Negationseingangs 1024 des Operationsverstärkers
1020 verbunden, der hauptsächlich den Vergleicher 102 des Oszillators 10a darstellt sowie über das Schaltglied
11a mit den ersten Belägen 1000 und 1040 der Kondensatoren 100 und 104. Wie die F i g. 4 zeigt, wird
die Abschirmung 106a. die den gemeinsamen Anschluß 105a und beide Beläge der Kondensatoren 100 und 104
umgibt, nicht mehr mit einem Impedanz-Anpassungskreis neutralisiert, sondern einfach mit dem Bezugspotential
der Vorrichtung verbunden.
Das Schaltglied 11a besteht nur aus zwei Festkörperschaltern
in Gestalt der Feldeffekt-Transistoren 110a und 112a. Die Basis des Transistors 110a wird durch das
logische Steuersignal angesteuert, das ihr über die Leitung 21 h von der Digitalschaltung 2 zugeführt wird,
damit der Transistor 110a während der Dauer Δΐ\ der
Messung der Kapazität Xauf Durchlaß geschaltet ist. In
gleicher Weise wird die Basis des Transistors 112a durch
das logische Steuersignal angesteuert, das ein Komplementärsignal zum obigen Signal ist und von der
Digitalschaltung 2 über die Leitung 2112 zugeführt wird,
damit der Transistor 112a während der Dauer Air der
Messung der Kapazität Xe auf Durchlaß geschaltet ist.
Wie auch bei Fig. 1 sind die Meß- und die Eichphase zlf.v und Δίε gleich oder stehen in einem vorbestimmten
Verhältnis R zueinander. Die Zuflüsse der beiden Transistoren HOa bzw. 112a sind mit dem ersten Belag
1000 bzw. 1040 des entsprechenden Kondensators 100 bzw. 104 verbunden. Während jedoch beim Schaltglied
11 die Zuflüsse der entsprechenden Transistoren 110
und 112 abwechselnd mit dem Bezugspotential verbunden
wurden, werden die Zuflüsse der Transistoren 110a und 112a während der Zeit Δ r.x bzw. Δ tr abwechselnd an
die Ausgangsklemme 1072 des Integrattonskreises 107 gelegt.
Aus der vorstehenden Beschreibung geht hervor, daß der Relaxationsoszillator einen Integrationskreis umfaßt,
der aus dem Operationsverstärker 1070, dem Widerstand 101 und, je nachdem, ob die über die
Leitungen 2114 und 2112 übertragenen logischen Signale
den Transistor MOa sättigen und den Transistor 112a sperren oder den Transistor 110a sperren und den
Transistor 112a sattigen, aus dem Kondensator 100 oder
dem Kondensator 104 besteht.
Bei der hohen Eingangsimpedanz des Operationsverstärkers 1070, seiner niedrigen Ausgangsimpedanz und
auf Grund der Tatsache, daß sich sein Eingang praktisch auf Bezugspotenlial befindet, ist es möglich, die
Streukapazhäten zwischen dem Belag 1041 des Kondensators 104, dem feststehenden Belag 1001 des
Kondensators 100 und dem negierten Eingang 1071 des
ίο Verstärkers 1070 auf der einen Seite und dem
Bezugspotential auf der anderen Seite zu hemmen. Weil die Spannung am negierten Eingang 1071 sehr niedrig
ist, d. h. fast gleich dem Bezugspotential ist, wird der
durch den Lade widerstand 101 fließende Strom vollständig zu den Belägen 1001 und 1041 geleitet, von
denen einer mit einem RX oder RXe proportionalen Strom aufgeladen wird, wenn der zugehörige Transistor
110a bzw. 112a jiesättigt wird. Daher werden die Streukapazitäten so gering, daß sie vernachlässigt
:n werden können, da sie durch den Verstärkungsfaktor des Operationsverstärkers 1070 geteilt werden und die
Linearität der Messungen nicht beeinträchtigen, insbesondere dann nicht, wenn die zu messende physikalische
Größe G.\ dem veränderlichen Abstand zwischen der Be'ägen des Meßkondensators 100 proportional ist, wie
dies in der Einführung bereits auseinandergesetzt worden ist. Es i.önnen also die in der Streukapazitäi
zwischen dem Verbindungspunkt 105a und der mit derr Bezugspotential verbundenen Abschirmung 106a kreis
in enden Störladungen im Vergleich zu der von der
Kapazitäten Xoder Abgespeicherten Ladung vernachlässigt
werden, was dazu beiträgt, die Genauigkeit der Messungen zu erhöhen. An der ersten Klemme 100C
oder 1040 des Kondensators 100 bzw. 104 hingeger
j-, treten, durch den Vergleicher 102 gesteuert, Spannungsänderungen auf, wenn der zugehörige Transistor 110«
oder 112a gesättigt wird. Der hier jeweils andere Kondensator 104 oder 100. dessen erster Belag 104t
bzw. 1000 nicht geladen wird, weil der andere Transistoi 112a oder 110a gesperrt ist. erzeugt ebenfalls keincrlc
Streukapazität, weil die Abschirmung 106a die Beläge dieses Kondensators vollständig umgibt.
Im übrigen sei darauf hingewisen. daß es bei der beiden in Fig. I und Fig.4 dargestellten Ausführungs
4-. formen erforderlich ist, daß das elektrische FeIc
zwischen dem beweglichen Belag 1000 und den feststehenden Belag 1001 des Meßkondensators 100
wenn er veränderlich ist, unabhängig von der Verschiebungen des beweglichen Belages 1000 gleich
-,ο förmig ist. damit die Kanteneffekte vermieden werder
und die Genauigkeit der Kapazitätsmessung nich beeinträchtigen. Um das zu erreichen, ist die Abschir
mung des Meßkondensators 100 mit gutem Erfolg mi
flachen bzw. zylindrischen Belägen so ausgeführt, wu
-,-. dies die F i g. 5A und 5B bzw. 6A und 6B zeigen.
Beim veränderlichen Meßkondensator 100 kann c:
sich um eine der an sich bekannten Ausführunger handeln, nämlich
μ - mit ebenen Elektroden und paralleler ode
winkelmäßiger Verschiebung des beweglicher Belages gegenüber der feststehenden Elektrodt
1001, oder, wie in den F i g. 5A und 5B gezeigt,
- mit zylindrischen Elektroden, wobei die eine dei
6ί Elektroden ins Innere der anderen Elektrodi
eindringt, wie es in Fig.6A und Fig.6B für di<
beiden in F i g. 1 bzw. F i g. 4 dargestellten Ausfüh rungsformen gezeigt ist.
Im ersten Fall der Flachausführung beeinflussen die
Kanteneffekte an den Enden der Belage die Genauigkeit der Messungen, während im zweiten Fall der
zylindrischen Ausführung dieser Effekt an den Enden der beiden Beläge kompensiert wird.
Dazu ist erfindungsgemäß bei einem veränderlichen Flachkondensator 100, wie ihn F i g. 5A und F i g. 5B für
die beiden Ausführungsformen von F i g. 1 bzw. F i g. 4 zeigen, der feststehende Belag tOOl von einem flachen
Schutzring 108 umgeben, dessen Innenrand sehr nahe an den des Belages 1001 herankommt und in derselben
Ebene wie dieser Hegt, während sein Außenrand parallel
zum und oberhalb des Außenrandes des beweglichen Belages 1000 angeordnet ist Der Schutzring 108 steht
oberhalb des Belages in Kontakt mit der Abschirmung 106 bzw. 106a und hält daher ein Potential aufrecht, das
gleich dem Erdpotential ist und fast gleich dem des Belages 1001. Wenn sich dann der bewegliche Belag
1000 rechtwinklig oder winkelmäßig zur Ebene des feststehenden Belages 1001 verschiebt, so daß die
Veränderung der zu messenden Größe Cx dem Abstand zwischen den Belägen direkt proportional ist und damit
der Kapazität X umgekehrt proportional, ist das elektrische Feld, das zwischen den Belägen herrscht,
nahezu gleichförmig verteilt, und das gilt insbesondere in Höhe des Außenrandes des Belages 1001, d. h. für die
Stelle, die in den F i g. 5A und 5B mit 109 bezeichnet ist In diesem Fall verändert sich die zu messende
physikalische Größe in linearer Abhängigkeit von der an den beweglichen Belag 1000 angelegten Ladespan
nung, d.h., sie ändert sich als strikte Funktion des
Kehrwertes der Kapazität des Meßkondensators.
Schließlich sei noch bemerkt, daß die Anordnung der
Kondensatoren 100 und 104 zum Messen einer von einer veränderlichen Kapazität abhängigen physikali
sehen Größe nicht auf die in Fig. 1 und Fig.4
dargestellte beschränkt ist, vielmehr kann der Ausbau des Schaltgliedes 11 oder 11a so gestaltet werden, daß
eine leichte Montage der Kondensatoren, d.h. der Meßfühler, ermöglicht wird. So werden beispielsweise
während der Messung der Eichkondensator und der Meßkondensator mit dem Bezugspotential parallelgeschaltet während zur Eichung nur der Eichkonijnsator
mit Erde verbunden wird. Oder es wird beim Messen der Meßkondensator mit Erde verbunden, während beim
Eichen der Eichkondensator und der Meßkondensator paraiiei mit Erde verbunden werden. Schließlich können
der Eich- und der Meßkondensator während einer der Phasen in Reihe angeschlossen werden, in einer
Anordnung, die analog der ist, die vorstehend für die
Parallelverbindungen dieser Kondensatoren beschrieben wurde.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen
Claims (10)
1. Vorrichtung zum Messen der Kapazität eines Kondensators mit Hilfe eines Zyklus, bei dem die
Lade- und Entladezeiten dieses ersten oder Meßkondensators bzw. eines zweiten oder Eichkondensators
während zweier aufeinanderfolgender, als erste oder Meßphase und zweite oder Eichphase
bezeichneter Phasen miteinander verglichen werden, die aus einem hochstabilen Oszillatorkreis
besteht, der einen dieser Kondensatoren enthält und dessen Schwingungsperiode der Kapazität des darin
enthaltenen Kondensators proportional ist, ein Schaltglied aufweist, das die Aufgabe hat, den ersten
bzw. den zweiten Kondensator zu Beginn dieser Phasen so anzuschließen, daß er als Kapazität X
bzw. als Kapazität Xe im Schwingkries liegt, einen
Zähler enthält, der eine vorbestimmte Anzahl Ne
von während der zweiten Phase vom Schwingkreis erzeugten Impulsen zählt, um eine vorbestimmte
Dauer der zweiten Phase festzulegen, einen Taktgeber aufweist, der Impulse mit mindestens
einer Taktperiode erzeugt, einen Vorwärts- und Rückwärtszähler enthält, der Taktimpulse während
der ersten bzw. zweiten Phase vorwärts bzw. rückwärts zählt und den Befehl zum Übergang von
Vorwärts- auf Rückwärtszählen durch den Zähler erhält, wenn er bis Nu gezählt hat, und aus einer
Einheit zum Berechnen und Anzeigen des Meßergebnisses a;.i Ende jedes Vergleichszyklus besteht,
dadurch gekennzeichnet, daß der Vorwärts-
und Rückwärtszähler (24), wenn er beim Rückwärtszählen bei Null ar 'ekommen ist, dem
Zähler (23) den Befehl gibt, das Zählen einzustellen, damit die Dauer der ersten Phase {Δΐ\) gleich der
zweiten Phase (Δι/) ist oder in einem bestimmten Verhältnis R zur letzteren steht, und — da die
Anzahl Impulse N\, die der Oszillator (10, iOa)
während der Messung erzeugt hat und die vom Zähler (23) während dieser Phase gezählt wurde, zu
dieser vorbestimmten Anzahl Ni in einem Verhältnis
steht, das den Kapazitäten X und Xk des ersten
Kondensators (100) und des zweiten Kondensators (104) umgekehrt proportional ist — weiterhin
dadurch, daß die Rechen- und Anzeigeeinheit (25) Einrichtungen (252) zum Berechnen einer Größe
umfaßt, die dem Quotienten (N, XK)/(R Nx) direkt
oder umgekehrt proportional ist, der gleich dem Wert der tatsächlichen Kapazität X des ersten
Kondensators (100) ist.
2. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Taktgeber (22)
dann, wenn dieses vorbestimmte Verhältnis R nicht gleich Eins isl, außerdem noch einen Frequenzteiler
oder -vervielfacher (220) umfaßt, der während der Messung oder während des Eichens tätig ist, damit
der Vorwärts- und Rückwärtszähler (24) Impulse mit einer ersten Taktfrequenz während der zweiten
Phase vorwärts und Impulse mit einer zweiten Taktfrequenz, die zur ersten Taktfrequenz in diesem
Verhältnis steht, während der ersten Phase rückwärtszählt.
3. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei
diesem Oszillator (10) um einen Relaxationsoszillator mit einer während der Dauer jedes Vergleichszyklus
konstanten Kippschwelle handelt, der außerdem eine Schalung (103, 106) zum Neutralisieren
des ersten bzw, des zweiten Kondensators während der zweiten bzw, während der ersten Phase umfaßt.
4. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 3, ϊ dadurch gekennzeichnet, daß sie als Neutralisierungsschaltung
einen Verstärker (103) mit dem Verstärkungsfaktor Eins umfaßt, der als Impedanz-Anpassungskreis
geschaltet ist und dessei Ausgang (1030) mit dem Vergleicher (102) des Oszillators (10)
in verbunden ist und, durch das Schaltglied (11) gesteuert, während der ersten Phase bzw. während
der zweiten Phase abwechselnd mit den ersten Belägen (1000 bis 1040) des zweiten Kondensators
bzw. ersten Kondensators verbunden wird, während
ii sein Eingang (1033) mit den zweiten Belägen (1001
bis 1041) dieser Kondensatoren und mit dem Widerstand (101) des Oszillators (10) verbunden ist.
5. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Oszillator (10) eine
in Abschirmung (106) umfaßt, die mindestens die
zweiten Beläge der Kondensatoren (100, 104) und die gemeinsame Verbindung (105) dieser Beläge mit
dem Eingang (1033) des Verstärkers (103) umgibt und mit dem Ausgang (1030) des Verstärkers
r> verbunden ist.
6. Kapazitä;smeßvorrichtung nach Anspruch 1
oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwingkreis (IQa) ein Relaxationsoszillator mit
während der Dauer jedes Vergleichszyklus konstan-
Ii> ter Kippschale ist und außerdem eine Schaltung
(106a, 107) zum Unterdrücken der Auswirkungen von Streukapazitäten zwischen dem Bezugspotential
und den Kondensatorbelägen umfaßt.
7. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 6, Γ) dadurch gekennzeichnet, daß sie als Schaltung zum
Unterdrücken von Streukapazitäten einen als Integrationskreis geschalteten Verstärker (107) mit
hohem Verstärkungsgrad umfaßt, dessen Ausgang (1072) mit dem Vergleicher (iOi) des Oszillators
tu (lO.ij1 verbunden ist und, durch das Schahglied (I1»J
gesteuert, während der ersten Phase bzw. der zweiten Phase abwechselnd mit den ersten Belägen
des ersten bzw. des zweiten Kondensators verbunden wird, während sein Eingang (1071) mit den
^i zweiten Belägen (1001 bis 1041) dieser Kondensatoren
und mit dem Widerstand (101) im Schwingkreis (lOa^verbunden ist.
8. Kapazitä'smeßvorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Oszillator (10) eine
Vi Abschirmung (106a) umfaßt, die mindestens die
zweiten Beläge der Kondensatoren (100 bis 104) und den gemeinsamen Verbindungspunkt (105a,) dieser
Beläge mildem Eingang(1071)des Verstärkers(107)
umgibt und mit dem Bezugspotential verbunden ist.
μ
9. Kapazitätsmeßvorrichtung nach einem der
Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Kondensator (100) veränderlich ist.
10. Kapazitätsmeßvorrichiung nach den Ansprüchen 5 oder 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, daß
w) der erste Kondensator ebene Beläge hat, deren
feststehender dieser zweite Belag (1001) ist und mit einem Schutzring (108) umgeben ist, der mit dem
feststehenden Belag in derselben Ebene liegt und mit der Abschirmung (106, 106a^ verbunden ist, damit
hi das elektrische Feld zwischen dem ersten beweglichen
Belag (1000) und der Einheit zweiter Belag/ Schutzring auch bei starken Schwankungen des
Abstandes zwischen den Belägen (lOOO bis 1001)
praktisch gleichförmig bleibt.
II. Kapazitätsmeßvorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß sich der erste Belag (1000) gegenüber dem feststehenden Belag winkelmäßig
so bewegt, daß er einen veränderlichen Flächenwinke! bildet.
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