DE2347450C3 - Verfahren und Vorrichtung zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines KondensatorsInfo
- Publication number
- DE2347450C3 DE2347450C3 DE2347450A DE2347450A DE2347450C3 DE 2347450 C3 DE2347450 C3 DE 2347450C3 DE 2347450 A DE2347450 A DE 2347450A DE 2347450 A DE2347450 A DE 2347450A DE 2347450 C3 DE2347450 C3 DE 2347450C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- capacitor
- normal
- measured
- voltage
- during
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims description 94
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 6
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004146 energy storage Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
- G01R27/2605—Measuring capacitance
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/64—Testing of capacitors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß in Reihe zu dem zweiten Widerstand
(7) ein vierter Schalter (A) angeordnet ist und daß die Steuerschaltung (18) die vier
Schalter (3, 2, 4, A) nach einer vorgegebenen Arbeitsfolge leitend bzw. nichtleitend steuert (F i g. 3
und 5).
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß in Reihe zu dem zu
messenden Kondensator (8) eine Vorspannungsquelle (30) geschaltet ist (Fig. 5).
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen
der elektrostatischen Kapazität, eines Kondensators, bei dem der zu messende Kondensator und ein Normalkondensator
bekannter Kapazität von einer Nor-
2. Vorrichtung zum Messen der elektrostatisehen Kapazität eines Kondensators mit einer
Normalspannungsquelle fester Spannung, mit p
cinem Normalkondensator, mit wenigstens einem 45 malspannungsquelle zunächst auf einen selben vorSchalter
zum Anschluß des zu messenden Kon- gegebenen Spannungswert aufgeladen und anschließend
entladen werden und die Entladung des zu messenden Kondensators und des Normalkondensators
mittels einer Vergleichseinrichtung verglichen 50 werden. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung
zur Durchführung dieses Verfahrens.
Es sind verschiedene Verfahren zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators bekannt.
Bei einem ersten typischen bekannten Verfahren bedient man sich einer sogenannten Wechselstrombrücke. Die Wechselstrombrücke enthält üblicherweise
vier Zweige, ein Galvanometer und einen Sinuswellenoszillator. Der erste und der zweite Zweig
enthalten einen Widerstand, der dritte Zweig enthält
c) einen dritten Schalter (4), zu dem ein erster 60 einen Kondensator, dessen elektrostatische Kapazität
Widerstand (5) in Reihe geschaltet ist und gemessen werden soll, und der vierte Zweig enthält
die Reihenschaltung parallel zum Normal- einen Normalkondensator mit einer Bezugskapazität,
kondensator (6) liegt, die vorher bestimmt worden ist. Die Sinuswechsel-
d) einen zweiten Widerstand (7), der parallel zu spannung des Oszillators wird an eine Diagonale der
dem zu messenden Kondensator (8) angeord- 65 aus den vier Zweigen bestehenden Brücke angelegt,
net ist, Das Galvanometer liegt an der zweiten Brücken-
e) eine Vergleichseinrichtung (9) mit einem er- diagonalen und stellt den Brückenabgleich fest. Im
s ten mit dem Normalkondensator (6) ver- abgeglichenen Zustand errechnet sich die zu bestim-
densators bzw. des Normalkondensators an die Normalspannungsquelle und mit einer mit den
Kondensatoren verbindbaren Vergleichseinrichtung, gekennzeichnet durch
a) einen ersten Schalter (3), durch den die konstante Spannung (V0) der Normalspannungsquelle
(1) an den Normalkondensator (6) anlegbar ist,
b) einen zweiten Schalter (2), durch den die konstante Spannung (V0) der Normalspannungsquelle
(1) an den zu messenden Kondensator (8) anlegbar ist,
mende elektrostatische Kapazität aus den Widerstanden
und der Bezugskapazität.
Bei einem zweiten typischen bekannten Verfahren wird ein konstanter Gleichstrom ί verwendet. Der
Konstante Gleichstrom f wird einer Klemme eines Kondensators zugeführt, dessen elektrostatische Kapazität
iu bestimmen ist. Die Klemmenspannung V1
an «er Klemme des Kondensators nimmt gemäß der
folgenden Gleichung zu:
wobei ί die abgelaufene Zeit, Cx die elektrostatische
Kapazität des zu messenden Kondensators und k eine Konstante bedeutet.
Sodann wird der konstante Gleichstrom i in der gleichen Weise, wie gerade beschrieben, einem Normalkondensator
zugeführt, dessen elektrostatische Kapazität Cs vorherbestimmt worden ist. Durch Einspeisen
des konstanten Gleichstromes i in die eine Klemme des Normalkondensators nimmt die Klemmenspannung
Vs des Normalkondensators in der gleichen Weise, wie oben erwähnt, zu, und es wird
die folgende Gleichung erhalten:
wobei rs die abgelaufene Zeit und ks eine Konstante
bedeutet.
Wenn jede der beiden Spannungen V1 und Vs die
gleiche Spannung Ve erreicht haben, gilt
35
und außerdem
C9=- C,.
k, t,
C1 ist proportional tUs. Das Verhältnis tUs kann
leicht gemessen werden.
Die erwähnten Verfahren sind typisch und werden im großen Umfang zum Messen der elektrostatischen
Kapazität eines Kondensators angewandt. Wenn die zu messende elektrostatische Kapazität eines Kondensators
einen kleinen Wert aufweist, dann sind die beiden genannten Verfahren ausreichend. Wenn die
zu messende elektrostatische Kapazität eines Kondensators einen großen Wert aufweist, sind die erwähnten
Verfahren jedoch ungenügend. Wenn nach diesen Verfahren nämlich eine große elektrostatische
Kapazität, z. B. 1 000 000 jiF gemessen werden
soll, wird der aus dem Oszillator beim ersten Verfahren entnommene Wechselstrom oder der beim zweiten
Verfahren benutzte Gleichstrom i extrem groß, und demzufolge ist es schwierig, eine derartig große
elektrostatische Kapazität zu messen, und es ist nahezu unmöglich, sie mit großer Genauigkeit zu messen.
Der maximale Betrag der durch die bekannten Verfahren zu messenden elektrostatischen Kapazität liegt
bei 100 000 μΡ. Es beträgt bei einer elektrostatischen
Kapazität in de: Größenordnung von 10 000 fiF der
Meßfehler bei den bekannten Verfahren bereits etwa 2 bis 4 «/ο.
Es ist außerdem bei den bekannten Verfahren srfnrrierlich.
einen Normalkondensator zu verwenden, dessen Kapazität nahezu der des zu messenden Kondensators
entspricht Diese Notwendigkeit ist von Nachteil, wenn die zu messende elektrostatische Kapazität
größer als 10 μΡ ist, da es normalerweise Schwierigkeiten bereitet, einen Normalkondensator,
der ausgezeichnete elektrische Eigenschaften aufweisen soll, mit einer so großen Kapazität zu erzeugen.
Es ist außerdem ein Meßverfahren zur Bestimmung der Kapazität eines Kondensators bekannt, bei
dem nacheinander ein Normalkondensator und der zu messende Kondensator an eine Hilfsspannung gelegt
und über ein Galvanometer entladen werden. Aus dem Vergleich der Galvanometerausschläge wird
die unbekannte Kapazität ermittelt (Archiv für technisches Messen, V 3532-1, 1931). Zur Durchführung
dieses Verfahrens sind der zu messende Kondensator und der Normalkondensator jeweils mit einem Anschluß
mit dem einen Anschluß einer Normalspannungsquelle verbunden. Die beiden anderen Anschlüsse
der Kondensatoren sind über einen ersten Umschalter wahlweise mit dem Mittelkontakt eines
zweiten Umschalters verbunden, der seinerseits mit dem zweiten Pol der Normalspannungsquelle zur
Aufladung des einen bzw. des anderen Kondensators oder mit dem Galvanometer zur Entladung des jeweiligen
Kondensators verbindbar ist. Bei diesem Verfahren wird also die von dem zu messenden
Kondensator aufgenommene Ladungsmenge bestimmt, wobei die Aufladung und Entladung des
Normalkondensators zur Eichung des Galvanometers dient. Das Verfahren ist relativ ungenau, da es auf
das zweimalige Ablesen eines kurzzeitigen Galvanometerausschlages ankommt. Eine annehmbare Meßtoleranz
setzt außerdem voraus, daß die Kapazitäten des zu messenden Kondensators und des Normalkondensators
in etwa gleicher Größenordnung liegen.
Bei einem weiteren aus der genannten Literaturstelle bekannten Meßverfahren wird das zweimalige
Ablesen eines Galvanometerausschlages dadurch vermieden, daß der zu messende Kondensator und ein
Normalkondensator zunächst aufgeladen und dann gleichzeitig gegensinnig über ein Galvanometer entladen
werden. Die beiden Kondensatoren werden bei diesem bekannten Verfahren auf unterschiedliche
Spannungen aufgeladen, wobei der Vorgang des Aufladens und Entladens bei Änderung des Verhältnisses
der beiden Ladespannungen so lange wiederholt werden muß, bis der Galvanometerausschlag beim
Entladen Null ist, beide Kondensatoren also die gleiche Ladungsmenge aufgenommen haben. Aus der
bekannten Kapazität des Normalkondensators läßt sich die gesuchte Kapazität dann im Zusammenhang
mit dem Verhältnis der Ladespannungen bzw. dem Verhältnis zweier die Ladespannung — bestimmender
Spannungsteilerwiderstände bestimmen. Abgesehen davon, daß dieses Verfahren infolge der Not
wendigkeit mehrfachen Probierens zeitaufwendig ist erfordert es außerdem die genaue Bestimmung de
Spannungsteilerwiderstände, was ein zusätzliche Meßverfahren bedeutet. Die Genauigkeit dieses Ver
fahrens ist außerdem von der Empfindlichkeit de Galvanometers abhängig.
In den letzten Jahren sind Kondensatoren mit ex trem großer elektrostatischer Kapazität hergestell
worden. Diese Kondensatoren werden zum Beispit für Energiespeichereinrichtungen verwendet und de
Wert ihrer elektrostatischen Kapazität erreicht 501 In Verbindung mit der Herstellung derartiger groß«
5 6
Kondensatoren ist es selbstverständlich auch erfor- der Vergleichseinrichtung 9 erscheint dann ein Ausderlich,
ein Meßverfahren zur Verfugung zu haben, gangssignal, wenn der Eingangsspannungspegel am
das es ermöglicht, eine derartig große elektrosta- zweiten Eingang 11 mit dem Eingangsspannungstische
Kapaziät zu messen. Wie bereits erwähnt, ist pegel am ersten Eingang 10 übereinstimmt. Die Veres
nicht ohne weiteres möglich, derartig große elek- 5 gleichseinrichtung 9 kann einen Verstärker mit extrem
trostatische Kapazitäten durch die bekannten Meß- hoher Verstärkung enthalten oder einen Multivibraverfahren
zu messen, und es ist nahezu unmöglich, tor. Sie kann auch eine Kombination eines derartisie
mit hoher Genauigkeit zu messen. gen Verstärkers und eines Multivibrators umfassen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Der Ausgang 12 der Vergleichseinrichturig 9 ist mit
Verfahren und eine Vorrichtung zum Messen der io einer ersten Eingangsklemme 13 eines Zählers 14 verelektrostatischen
Kapazität eines Kondensators an- bunden. Ein zweiter Eingang 17 des Zählers 14 ist
zugeben, die die Messung extrem großer elektrosta- mit dem Ausgang eines Impulsgenerators 16 verascher
Kapazitäten ermöglichen. Die Messung soll bunden. Der Impulsgenerator 16 liefert in vorgemit
hoher Genauigkeit durchgeführt werden können. gebenen festen Zeitabständen an den zweiten Ein-Außerdem
sollen Messungen in einem großen Meß- »5 gang 17 des Zählers 14 Impulse. Der Zähler 14 zählt
bereich von einer extrem kleinen elektrostatischen die Anzahl der von dem Impulsgenerator 16 geliefer-Kapazität
bis zu einer extrem großen elektrostati- ten Impulse. Eine Ausgangsklemme 15 des Zählers
sehen Kapazität unabhängig von der elektrostati- 14 liefert die Impulszahl, die, wie später beschrieben
sehen Kapazität eines verwendeten Normalkonden- wird, innerhalb eines bestimmten Zeitintervalls gesators
möglich sein. 20 zählt worden ist. Eine Steuerschaltung 18 weist einen Das erfindungsgemäße Verfahren ist gekennzeich- ersten Eingang 19 auf, der mit einem zweiten Ausnet
durch die im Patentanspruch 1 angegebenen gang des Zählers 14 in Verbindung steht, ferner
Merkmale und die erfindungsgemäße Vorrichtung einen ersten Ausgang 20, der mit einem dritten Eindurch
die im Patentanspruch 2 angegebenen Merk- gang des Zählers 14 verbunden ist. Ein zweiter Einmale.
25 gang 21 der Steuerschaltung 18 ist mit dem Ausgang Die Erfindung wird durch Ausführungsbeispiele an 12 der Vergleichseinrichtung 9 verbunden. Die
Hand von fünf Figuren näher erläutert. Es zeigt Steuerschaltung 18 steuert von einem zweiten Aus-F
i g. 1 ein Schaltungsdiagramm einer ersten er- gang 22 aus durch Steuersignale φ, φ bzw. (§) die
findungsgemäßen Ausführungsform, Schalter 2, 3 bzw. 4 in einer bestimmten Folge. Die
Fig. 2A eine Tabelle, die die Operationsfolge bei 30 bestimmte Folge wird durch Signale ausgelöst, die
dem Schaltungsdiagramm nach F i g. 1 angibt, durch die Eingänge 19 und 21 empfangen werden.
Fig. 2B ein Diagramm, das die Änderung der Die Operationsfolge und die Funktionen der EinKlemmenspannungen
F1 und Vx während der in gänge 19 und 21 sowie des Ausganges 20 werden im
F i g. 2 A angegebenen Zeitintervalle T0, T1 und T2 folgenden erläutert werden.
darstellt, 35 Es soll bemerkt werden, daß der Zähler 14 und
F i g. 3 A einen Teil eines Schaltungsdiagramms der Impulsgenerator 16 als üblicher bekannter Zäheiner
zweiten Ausführungsform gemäß dieser Erfin- ler bzw. Impulsgenerator ausgebildet sein können,
dung, die einen weiteren Schalter A enthält, Die Steuerschaltung 18 kann ebenfalls eine Kombi-F
i g. 3 B eine Tabelle, die die Operationsfolge des nation von üblichen und bekannten Schaltungsteilen,
Schaltungsdiagramms gemäß Fig. 3A angibt, 40 wie Flip-Flops oder Gatterschaltungen, darstellen, so
F i g. 4 einen Teil eines Schaltungsdiagramms einer daß die Steuerschaltung 18 leicht auf verschiedene
dritten erfindungsgemäßen Ausführungsform, Weise durch einen Fachmann des die Erfindung be-F
i g. 5 einen Teil eines gegenüber der Ausfüh- treffenden Gebietes realisiert werden kann. Die Schalrungsform
nach Fig. 3A modifizierten Schaltungs- ter 2, 3 und 4 können als elektrische Schalter, wie
diagramms. 45 Halbleiter- oder Reedschalter, oder auch als mecha-
Gemäß F i g. 1 wird die konstante Spannung F0 nischc Schalter ausgebildet sein.
einer Normalspannungsquelle 1 über einen Schalters Es wird nun unter Bezugnahme auf das in Fig. 1
an ein Ende eines Widerstandes 5 und an ein Ende dargestellte Blockdiagramm die Arbeitsweise der er-
eines Normalkondensators 6 angelegt. Der Wider- sten Ausführungsform gemäß dieser Erfindung erstandswert
des Widerstandes 5 ist R1, und die elektro- 50 läutert.
statische Kapazität des Normalkondensators 6 ist C1. Die Folge der Arbeitsschritte, im folgenden kurz
Das zweite Ende des Widerstandes 5 ist über einen Operationsfolge genannt, läßt sich grob in drei Zeit-Schalter
4 mit Erde verbunden, und das zweite Ende abschnitte T0, T1 und T2 einteilen. Im ersten Zeitdes
Normalkondensators 6 ist ebenfalls geerdet Das abschnitt T0 sind sämtliche Schalter 2, 3 und 4 leinicht
geerdete Ende des Normalkondensators 6 ist 55 tend (EIN). Im darauffolgenden Zeitintervall T1 ist
außerdem an einen ersten Eingang 10 einer Ver- lediglich der Schalter 3 nichtleitend (AUS). Im letzgleichseinrichtung9
angeschlossen. Die Spannung F0 ten Zeitintervall T2 sind sämtliche Schalter 2, 3 und 4
der Normalspannungsquelle 1 liegt außerdem über nichtleitend (AUS). Diese Operationsfolge ist in der
einen Schalter 2 an einem Ende eines Widerstandes 7 Tabelle gemäß F i g. 2 A dargestellt,
und an einem Ende eines Kondensators 8 an, dessen 60 Während des ersten Zeitabschnittes T0 wird an den
elektrostatische Kapazität gemessen werden soll. Das Normalkondensator 6 über den Schalter 3 und gleichzweite
Ende des Widerstandes 7 und das iweite Ende zeitig an den Kondensator 8 über den Schalter 2 die
des Kondensators 8 sind mit Erde verbunden. Der Normalspannung F0 angelegt. Die Klemmenspan-Widerstandswert
des Widerstandes? ist A2, und die nung F1 (s. Fig. 1) an der nicht geerdeten Klemme
elektrostatische Kapazität des Kondensators 8 ist Cx. 65 des Kondensators 6 und die Klemmenspannung Vx
Das nicht geerdete Ende des Kondensators 8 ist (s. F i g. 1) an der nicht geerdeten Klemme des Konaußerdem
an einen zweiten Eingang 11 der Ver- densators 8 werden damit gleich der. Normalspangleichseinrichtung
9 angeschlossen. Am Ausgang 12 nung F0. Die während des Zeitabschnittes T0 einge-
nommenen Klemmenspannungen V1 und Vx sind in
F i g. 2 B dargestellt, die die Änderungen der Klemmenspannungen
Vx und Vx abhängig von der Zeit t
veranschaulicht. In Fig. 2B stellt die ausgezogene
Linie die Änderung der Klemmenspannung V1 und
die strichpunktierte Linie die Änderung der Klemmenspannung Vx dar. Ist eine ausgewählte Zeitdauer
verstrichen, dann beginnt der Zeitabschnitt T1. Zu Beginn des Zeitabschnittes T1 steuert die Steuerschaltung
18 den Schalter 3 durch ein vom Ausgang 22 geliefertes Steuersignal 3 so, daß der Schalter 3 nichtleitend
wird. Die genannte ausgewählte Zeitdauer ist so gewählt, daß sie für die jeweilige Klemmenspannung
groß genug ist, um vom Wert Null zum Wert
der Normalspannung V0 anzusteigen, und diese ausgewählte
Zeit ist in der Steuerschaltung IH gespeichert. Zu Beginn des Zeitabschnittes T1 steuert die
Steuerschaltung 18 auch den Zähler 14 durch ein vom Ausgang 20 geliefertes Ausgangssignal und dieses
Ausgangssignal veranlaßt den Zähler 14 die vom Impulsgenerator 16 gelieferten Impulse zu zählen.
Wemn die Anzahl der durch den Zähler 14 gezählten Impulse den Wert »«« erreicht, dann stoppt der Zähler
14 den ZäMvotgang und gibt an den ersten Eingang 19 der Steuerschaltung 18 ein Ausgangssignal.
Die Zahl »n« ist voraasbestnmnt und im Zähler 14
gespeichert Wenn voa dem Zähler 14 das Ausgangssignal an den ersten Eingang 19 der Steuerschaltung
18 gegeben wird, steuert diese die Schalter 2 und 4 durch vom Ausgang 22 gelieferte Steuersignale φ
und φ und macht die Schalter 2 und 4 nichtleitend. Sobald die Schalter 2 und 4 nichtleitend werden, beginnt
der Zeitabschnitt T2.
Die Zahl »n« des Zeitabschnittes T1 entspricht der
Zeitdauer I1 des Zeitabschnittes T1. Folglich ist die
Zeitdauer I1 des Zeitabschnittes T1 proportional zu
»n«. Während des Zeitabschnittes Tx entlädt sich der
Normalkondensator 6 über den Widerstand S und den Schalter 4, und die Klemmenspannung V1 nimmt
kontinuierlich ab. Ist die abgelaufene Zeit gleich tv
dann wird die Klemmenspannung V1
gangssignal den Zähler 14, die vom Impulsgenerator 16 gelieferten Impulse zu zählen.
Die während des Zeitabschnittes T2 kontinuierlich
abfallende Klemmenspannung Vx (s. Fig. 2B) liegt
am zweiten Eingang 11 der Vergleichsefrrrichtung 9 an. Die Klemmenspannung V1 des Normalkondensators
6 liegt am ersten Eingang 10 der Vergleichseinrkhtung 9 an. Die Klemmenspannung V1 wird während
des Zeitabschnittes T2 auf dem Wert
= κα· e
R1C1
gehalten, der am Ende des Zeitabschnittes T1 in der
beschriebenen Weise eingenommen worden ist Wenn der Wert der am zweiten Eingang 11 anliegenden
Klemmenspannung Vx den Wert der am ersten Eingang
IO anliegenden Klemmenspannung V1 erreicht,
»0 führt die Vergleichseinrichtung 9 dem Eingang 13 des
Zählers 14 und dem zweiten Eingang 21 der Steuerschaltung 18 vom Ausgang 12 ein Steuersignal zu.
Das dem zweiten Eingang 21 der Steuerschaltung 18 zugeführte Steuersignal beendet den Zeitabschnitt T2,
»5 und der Arbeitsablauf kehrt zum ersten Zeitabschnitt T0 zurück. Das dem Eingang 13 des Zählers 14 vom
Ausgang 12 der Vergleichsemrichrung 9 zugeführte Steuersignal veranlaßt den Zähler 14, das Zählen der
von dem Impulsgenerator 16 gelieferten Impulse zu
So beenden. An der Ausgangsklemme 15 des Zählers 14 erscheint die während des Zeitabschnittes T2 gezählte
Zahl von Impulsen >m«. Die Impulszahl »m« ist proportional
zur Zeitdauer i2 des Zeitabschnittes Tt. Aus
der Zeitdauer f2, dem Widerstandswert Rz des Wider-
Standes 9, der elektrostatischen Kapazität Cx des
Kondensators 8 und der Normalspannung V0 wird in
der gleichen Weise, wie oben in Verbindung mit Gleichung (1) beschrieben, die Klemmenspannung Vx am
Ende des Zeitabschnittes T2 erhalten. Es gilt
Vx=
— Λ/ · ι*
Γη W
R1C1
0)
Dieser Verlauf ist in Fig. 2B im Zeitabschnitt T1
durch eine ausgezogene Linie dargestellt. Die am Ende des Zeitabschnittes T1 eingenommene Klemmenspannung
V1 wird während des Zeitabschnittes T2 aufrechterhalten, da in diesem Zeitabschnitt die
Schalter 3 und 4 nichtleitend sind. Der Normalkondensator 6 hält somit während des Zeitabschnittes T2
die aus obiger Gleichung (1) erhaltene Klemmenspannung V1. Andererseits hält während des Zeitabschnittes
T1 der Kondensators noch einen Wert der
Klemmenspannung Vx, der der im Zeitintervall T0
eingenommenen Normalspannung F0 entspricht, wie dies in Fig. 2B durch eine strichpunktierte Linie
dargestellt ist.
Während des Zeitabschnittes T2 ist auch der Schalter
2 in Übereinstimmung mit der Operationsfolge nichtleitend und der Kondensator 8 entlädt sich über
den einseitig geerdeten Widerstand 7. Die Klemmenspannung Vx fällt kontinuierlich ab. Zu Beginn des
Zeitabschnittes T2 stellt das vom Ausgang 20 der Steuerschaltung 18 gelieferte Ausgangssignal den
Zähler 14 zurück, und gleichzeitig veranlaßt das Aus-Wie aus der Beschreibung in Verbindung mit
Fig. 2B hervorgeht, entspricht die Klemmenspannung Vx, die sich durch Gleichung (2) ausdrücken
läßt, am Ende des Zeitabschnittes T2 der Klemmenspannung
V1, die sich durch Gleichung (1) ausdrük-
ken läßt. Aus den Gleichungen (1) und (2) lassen sich somit die folgenden Gleichungen gewinnen:
Somit
= Fn-e
h _ h
und deshalb
R1C1 A2C2
C = J?l i*_.c
K1 I1
Die Zeitdauer ί, und die Zeitdauer ί2 sind, wie be
reits erwähnt, proportional zur Anzahl der Impuls
»n« bzw. »zn«. Deshalb kann Gleichung (5) unte
»n« bzw. »zn«. Deshalb kann Gleichung (5) unte
Verwendung der Impulszahlen »/ι« und »wi« wie folgt
umgeschrieben werden:
A1 m
Hieraus folgt, daß die zu messende elektrostatische Kapazität Cx gemäß Gleichung (6) einfach durch die
Zahl »m« bestimmt werden kann, da die Widerstandswerte Rv R2, die Anzahl der Impulse η und die elektrostatische
Normalkapazität C1 des Normalkondensators vorher ausgewählt und festgelegt worden sind.
Sind diese Werte z. B. wie folgt gewählt:
15 A1= 10 ΜΩ,
jR, = 10 Ω,
C = 1 uF,
η - 1000 Zahlvorgange,
C = 1 uF,
η - 1000 Zahlvorgange,
dann wird Cx = 1,362 F, falls die Anzahl m 1362
Zählvorgängen entspricht, die während des Zeitabschnittes T2 durch den Zahler 14 gezählt werden und
an der Ausgangsklemme 15 vorliegen. Werden die a5 Werte, wie oben angegeben, gewählt, dann entspricht
ein Zählvorgang der Zahl »m« gemäß Gleichung (6)
1 mF der elektrostatischen Kapazität Cx.
Ist eine extrem kleine elektrostatische Kapazität zu messen, dann ist es zweckmäßig, zwischen den genannten
Festgrößen eine solche Beziehung zu wählen, daß ein Zählvorgang der Zahl »m« dem Wert von
0,1 pF der zu messenden elektrostatischen Kapazität Cx entspricht. Diese Beziehung, bei der ein Zählvorgang
proporüonal zu 0,1 pF ist, kahn durch vorherige Auswahl der Festgrößen wie folgt erhalten werden:
A1 — 1 K12,
R2 == 10ΜΩ,
C1 = 1 μΈ, η = 1000 Zählvorgänge.
R2 == 10ΜΩ,
C1 = 1 μΈ, η = 1000 Zählvorgänge.
sehr genauen Widerstandswert und Kondensatoren mit einer sehr genauen elektrostatischen Kapazität
lassen sich einfach herstellen und erhalten. Die Genauigkeit der Zahl η und der Zahl m hängt jedoch
von der Genauigkeit des verwendeten Impulsgenerators
ab. Es können zwar sehr genaue Impulsgeneratoren, wie Kristalloszillatoren, erhalten werden, diese
sind jedoch sehr teuer. Ein Vorteil der Erfindung liegt darin, daß aus dem im folgenden angegebenen
Grund kein sehr genauer Impulsgenerator erforderHch ist.
Gemäß Gleichung (6) kommt es nicht auf das absolute Verhältnis der Zahlen m und η an, sondern
nur auf das Verhältnis dieser Zahlen, d. h. auf min. Wenn sich die Umgebungsbedingungen, wie die Temperatur
des Impulsgenerators 16, ändern, verändert sich gleichzeitig der Zeitabstand, in dem die einzelne.n
ImPulse vom Generator geliefert werden und so-""'
ändert sich die Anzahl »n« der innerhalb eines
festen Zeitabschnittes durch den Impuisgenerator er-
zeugten Impulse im gleichen Verhältnis proportional zur Änderung der Umgebungstemperatur. Unter den
gleichen Umgebungsbedingungen ändert sich jedoch auch die Anzahl »m« der durch den Impulsgenerator
erzeugten Impulse im gleichen Verhältnis, und somit bleibt das Verhältnis m/n konstant. Da ferner die
Änderungen der Umgebungsbedingungen allmählich während einer längeren Zeitperiode auftreten, kann
praktisch in dem Zeitintervall zwischen dem Beginn des Zeitabschnittes T1 und dem Ende des Zeitabschnittes
Γ, keine Änderung auftreten die das Verhältnis min beeinflussen würde. Aus diesem Grund
kann bei vorliegender Erfindung ohne Verwendung eines sehr genauen Impulsgenerators, wie eines
Kristalloszillators, eine sehr genaue Messung ermöglicht werden.
Die Operationsfolge ist nicht auf die in Fig. 2A
angegebene Tabelle begrenzt. Bei einer zweiten in Fig. 3A dargestellten Ausführungsform ist in Reihe
zum Widerstand 7 ein weiterer Schalter A geschaltet.
Damit wird eine andere Operationsfolge erhalten. Diese ist in der Tabelle gemäß· F i g. 3 B angegeben.
Wird bei dieser Auswahl die Anzahl m der gezähl-
einzusehen, daß die elektrostatische Kapazität C, des
Normalkondensators unabhängig von der elektrostatischen Kapazität Cx des zu messenden Kondensators
frei wählbar ist.
Ein weiterer hervorragender Effekt des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, daß die elektrostatische
Kapazität eines Kondensators mit hoher
ist ai
Strom
gegebenen
gegebenen
F i g. 4 zeigt den interessierenden Teil einer dritten Ausführungsform gemäß dieser Erfindung. Der wesentliche
Teil dieser Ausführungsform entspricht dem Blockdiagramm nach Fig. 1, und das Meßprinzip ist
das gleiche, wie zu Fig. 1 erläutert. Bei der Ausfühnach
Wie aus Gleichung^) hervorgeht wird die zu S0
SndLerte TiF% ££325,1 ΐ f T1"
derstandswerte R R die Impulszahl π die Impuls-
zahl m und die elektrostatische Normalkapazität C
^gSS tT^Vo^
nU DgSqi*lle 30 ^efugi BeSS.SLt sich die
elektrostatische Kapazität eines Festkondensators ge-
SSS£S£
SSS 5S
8 Äte te!SLaw
K Sftft SiiSÄS
nauer als bei der Ausführungsform nach F i g. 1 gemessen werden, da die erwähnte leichte Veränderung
der elektrostatischen Kapazität Berücksichtigung findet.
F i g. 5 zeigt einen Teil einer Abänderung der Aus-
führungsform nach Fig. 3A, wobei die erwähnte
Vorspannungsquelle 30 in die in Fig. 3A dargestellte
Schaltung eingefügt ist. Der Zweck ist der gleiche, wie zu F i g. 4 erläutert. Das Meßprinzip entspricht
dem der F i g. 3 A.
Hierzu 5 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
1. Verfahren zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators, bei dem der zu
messende Kondensator und ein Normalkondensator bekannter Kapazität von einer Nörmalspannungsquelle
zunächst auf einen selben vorgegebenen Spannungswert aufgeladen und anschließend
entladen werden und die Entladung des zu messenden Kondensators und des Normalkondensators
mittels einer Vergleichseinrichtung verglichen werden, gekennzeichnet durch
folgende Schritte:
a) Aufladen beider Kondensatoren (6, 8) wäh- 1S
rend eines ersten Zeitintervalls (T0),
b) Entladen des Normalkondensators (6) über einen bekannten ersten Widerstand (5) auf
eine Restklemmenspannung während eines zweiten vorbestimmten Zeitintervalls (T1),
c) Entladen des zu messenden Kondensators (8) über einen zweiten bekannten Widerstand (7)
während eines dritten Zeitintervalle (Tä),
währenddessen die Restklemmenspannung des Normalkondensators unverändert bleibt,
d) Vergleichen der Klemmenspannung (Vx) des
zu messenden Kondensators mit der Restklemmenspannung des Normalkondensators
während des dritten Zeitintervalls und Messen der Entladungszeit (tt), die vergeht, bis
die Klemmenspannung des zu messenden Kondensators von dem vorgegebenen Spannungswert
(F0) bis zur Restspannung des Normalkondensators absinkt, und
e) Errechnen der gesuchten 'Kapazität aus den
vorgegebenen Werten des ersten und zweiten V/iderstands, der Kapazität des Normalkondensators,
und der Zeitdauer (P1) des zweiten Zeitintervalls (P1) sowie aus der gemessenen
Entladungszeit (i,)· bundenen Eingang (10) und einem zweiten
mit dem zu messenden Kondensator (8) verbundenen Eingang (11),
f) einen Zähler (14), an den ein Ausgang (12) der Vergleichseinrichtung (9) angeschlossen
ist und der die von einem Impulsgenerator (16) während ausgewählter Zeitintervalle gelieferten
Impulse zählt,
g) eine Steuerschaltung (18), an die der genannte Ausgang (12) der Vergleichseinrichtung
(9) ebenfalls angeschlossen ist und die die Dauer der ausgewählten Zeitabschnitte
steuert und die außerdem entsprechend einer vorgegebenen Operationsfolge den ersten,
zweiten und dritten Schalter (3, 2, 4) leitend oder nichtleitend steuert, so daß sich die
elektrostatische Kapazität (C1) aus den während der ausgewählten Zeitabschnitte (T\,Ti)
durch den Zähler (14) gezählten Vorgänge (Impulse), den Widerstandswerten des ersten
und des zweiten Widerstandes (5, 7) und der elektrostatischen Kapazität (C1) des Normalkondensators
(6) ergibt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9492672A JPS539542B2 (de) | 1972-09-21 | 1972-09-21 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2347450A1 DE2347450A1 (de) | 1974-04-04 |
DE2347450B2 DE2347450B2 (de) | 1975-04-24 |
DE2347450C3 true DE2347450C3 (de) | 1975-12-04 |
Family
ID=14123563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2347450A Expired DE2347450C3 (de) | 1972-09-21 | 1973-09-20 | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3824459A (de) |
JP (1) | JPS539542B2 (de) |
DE (1) | DE2347450C3 (de) |
FR (1) | FR2200527B1 (de) |
GB (1) | GB1416754A (de) |
NL (1) | NL154327B (de) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3931610A (en) * | 1973-11-29 | 1976-01-06 | Teletype Corporation | Capacitive keyswitch sensor and method |
US3930405A (en) * | 1974-09-17 | 1976-01-06 | The United States Of America As Represented By The United States Energy Research And Development Administration | Method and means for measuring acoustic emissions |
US4001676A (en) * | 1975-08-27 | 1977-01-04 | General Motors Corporation | Solid-state threshold detector |
US4117398A (en) * | 1975-12-22 | 1978-09-26 | Western Electric Company, Inc. | Method and apparatus for measuring the filling effectiveness of a cable during filling |
US4054833A (en) * | 1976-06-11 | 1977-10-18 | Setra Systems, Inc. | Capacitance measuring system |
US4103225A (en) * | 1977-01-05 | 1978-07-25 | Dynatel Corporation | System and method for determining capacitance and cable length in the presence of other circuit elements |
GB2006970B (en) * | 1977-09-23 | 1982-03-31 | Testut Aequitas | Capacitance measuring device |
DE2833141A1 (de) * | 1978-07-28 | 1980-02-07 | Bosch Gmbh Robert | Schaltungsanordnung zum vergleichen und zur verhaeltnisbildung von induktivitaeten |
DE2912573A1 (de) * | 1979-03-29 | 1980-10-09 | Leitz Ernst Gmbh | Verfahren zur ermittlung von zeitkriterien sowie schaltungsanordnungen zur durchfuehrung des verfahrens |
GB2058364B (en) * | 1979-09-01 | 1983-03-23 | Ferranti Ltd | Capacitance measuring apparatus |
US4283676A (en) * | 1980-03-06 | 1981-08-11 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Direct reading capacitance meter |
US4328573A (en) * | 1980-05-12 | 1982-05-04 | Nad International | Precision phonocartridge interface |
DE3143114A1 (de) * | 1980-11-07 | 1982-07-15 | Mestra AG, 4153 Reinach | Verfahren und schaltung zur messung von kapazitaeten |
US4661768A (en) * | 1983-09-14 | 1987-04-28 | Johnson Service Company | Capacitance transducing method and apparatus |
US4558274A (en) * | 1983-09-14 | 1985-12-10 | Johnson Service Company | Apparatus and method determining the value of a capacitance |
US4621227A (en) * | 1984-02-29 | 1986-11-04 | Borg-Warner Corporation | Measuring system for determining the capacitance ratio of a pair of capacitors |
FR2564205B1 (fr) * | 1984-05-10 | 1986-10-24 | Univ Rennes | Procede et dispositif pour le test rapide de condensateurs et de materiaux dielectriques |
US4633168A (en) * | 1984-11-30 | 1986-12-30 | Borg-Warner Corporation | Measuring system for determining the reactance ratio of a pair of reactive devices |
FR2584822B1 (fr) * | 1985-07-09 | 1988-06-17 | Thomson Csf | Dispositif de mesure du rapport de deux capacites de faibles valeurs |
IL82194A (en) * | 1986-04-23 | 1992-03-29 | Rosemount Inc | Measurement circuit |
US4825147A (en) * | 1988-09-14 | 1989-04-25 | Sencore, Inc. | Capacitance measuring method and apparatus |
US5073757A (en) * | 1988-09-23 | 1991-12-17 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Apparatus for and method of measuring capacitance of a capacitive element |
FR2674636B1 (fr) * | 1991-03-29 | 1994-07-29 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de qualification d'un systeme capacitif. |
FR2675583B1 (fr) * | 1991-04-18 | 1993-08-27 | Marelli Autronica | Procede et dispositif de mesure de condensateur. |
DE4116961A1 (de) * | 1991-05-24 | 1992-11-26 | Abb Patent Gmbh | Messschaltung zur messung einer kapazitaet |
US5202640A (en) * | 1991-06-03 | 1993-04-13 | International Business Machines Corporation | Capacitance and leakage test method and apparatus |
DE4208399A1 (de) * | 1992-03-16 | 1993-09-23 | Knorr Bremse Ag | Verfahren und messvorrichtung zur messung der zeitkonstanten eines elektrischen wegaufnehmers |
US5585733A (en) * | 1992-09-10 | 1996-12-17 | David Sarnoff Research Center | Capacitive sensor and method of measuring changes in capacitance |
US5446420A (en) * | 1993-08-25 | 1995-08-29 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for reducing jitter and improving testability of an oscillator |
EP1046923B1 (de) * | 1993-11-08 | 2004-04-07 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Gerät zur Prüfung der elektrischen Bauteile eines Wechselrichters |
US5576628A (en) * | 1994-09-30 | 1996-11-19 | Telcom Semiconductor, Inc. | Method and apparatus to measure capacitance |
DE19524387C1 (de) * | 1995-07-04 | 1996-11-07 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Messen eines Kapazitätsunterschiedes zwischen einer ersten Kapazität C1 und einer zweiten Kapazität C2 |
DE19634320A1 (de) * | 1996-08-24 | 1998-02-26 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Speicherelements |
DE102009017011A1 (de) * | 2009-04-14 | 2010-10-28 | Balluff Gmbh | Schaltungsanordnung zur Bestimmung einer Messkapazität |
US8866499B2 (en) * | 2009-08-27 | 2014-10-21 | Analog Devices, Inc. | System and method for measuring capacitance |
KR20130007120A (ko) * | 2011-06-29 | 2013-01-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 그의 테스트 방법 |
CN102929184B (zh) * | 2012-11-23 | 2015-01-07 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 微控制单元的电压检测装置 |
RU2593818C1 (ru) * | 2015-03-23 | 2016-08-10 | Акционерное общество "Зеленоградский нанотехнологический центр" | Способ и устройство измерения электрической емкости |
FR3046677B1 (fr) * | 2016-01-12 | 2019-06-07 | Continental Automotive France | Capteur, systeme et procede de detection de variation d'une capacite d'un condensateur de mesure |
RU2645130C1 (ru) * | 2017-01-09 | 2018-02-15 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ставропольский государственный аграрный университет" | Способ измерения электрической емкости |
US11243237B2 (en) | 2017-07-31 | 2022-02-08 | Sciosense B.V. | Method for determining an electrical parameter and measurement arrangement for determining an electrical parameter |
JP7311380B2 (ja) * | 2019-10-01 | 2023-07-19 | 株式会社日立産機システム | 電源コンデンサ静電容量測定装置及び電源コンデンサ静電容量測定方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB939660A (en) * | 1959-11-20 | 1963-10-16 | Carl Gustav Hansson | Apparatus and method for measuring capacitance |
US3370229A (en) * | 1964-05-25 | 1968-02-20 | Sangamo Weston | Electrical capacitance measuring method and apparatus with digital form indication |
US3453535A (en) * | 1967-10-20 | 1969-07-01 | Mallory & Co Inc P R | Capacitance test instrument using partial discharge time internal measurement |
US3761805A (en) * | 1971-06-24 | 1973-09-25 | Western Electric Co | Methods of and systems for measuring capacitance using a constant current charging technique |
-
1972
- 1972-09-21 JP JP9492672A patent/JPS539542B2/ja not_active Expired
-
1973
- 1973-09-05 GB GB4165673A patent/GB1416754A/en not_active Expired
- 1973-09-17 US US00397745A patent/US3824459A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-09-20 DE DE2347450A patent/DE2347450C3/de not_active Expired
- 1973-09-20 NL NL737312962A patent/NL154327B/xx not_active IP Right Cessation
- 1973-09-20 FR FR737333822A patent/FR2200527B1/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2200527A1 (de) | 1974-04-19 |
FR2200527B1 (de) | 1979-02-09 |
US3824459A (en) | 1974-07-16 |
DE2347450B2 (de) | 1975-04-24 |
NL7312962A (de) | 1974-03-25 |
NL154327B (nl) | 1977-08-15 |
GB1416754A (en) | 1975-12-03 |
DE2347450A1 (de) | 1974-04-04 |
JPS4953080A (de) | 1974-05-23 |
JPS539542B2 (de) | 1978-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2347450C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der elektrostatischen Kapazität eines Kondensators | |
WO1992018856A1 (de) | Integrierbare leitfähigkeitsmessvorrichtung | |
DE3712780A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur messung der laenge einer elektrischen leitung | |
DE3133239C2 (de) | ||
DE2062073A1 (de) | Integrationsgenerator zur Angabe des Numerus einer loganthmischen Funktion | |
DE3928809A1 (de) | Schaltungsanordnung zum speisen einer last | |
EP0250028B1 (de) | Schaltungsanordnung zur Kompensation von temperatur- und nichttemperatur-bedingtem Driften eines kapazitiven Sensors | |
DE2460079C3 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Stellung des Schleifers eines Potentiometers und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2547746C3 (de) | Vorrichtung zur Bildung des arithmetischen Mittelwertes einer Meßgröße | |
DE2822467C2 (de) | ||
EP0012985B1 (de) | Dual-Slope-Integrator | |
DE2305204C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Umwandeln eines Eingangssignals in einen logarithmischen Wert | |
DE19930149B4 (de) | Verfahren zum Messen einer elektrischen Spannung und Anordnungen zur Durchführung der Verfahren | |
DE2126182C3 (de) | Vorrichtung zum selbsttätigen Abgleichen eines elektrischen Schichtwiderstandes mittels thermischer Oxydation | |
DE2620895C3 (de) | Einrichtung zur Messung der mittleren Rauhtiefe einer Werkstückoberfläche | |
DE4001274C2 (de) | ||
DE2319290C3 (de) | Verfahren und Gerät zur Längenmessung und Fehlerortung einer elektrischen Leitung | |
DE2938116C2 (de) | Verfahren zur Auswertung des Diagonalsignals einer Widerstandsbrücke und Schaltung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2024925C3 (de) | Analog-numerischer Wandler | |
DE2214602C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum digitalen Messen schwacher elektrischer Gleichsignale | |
DE2500154C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur digitalen Anzeige von elektrischen MeB- und/oder Prüfwerten | |
DE1548694C (de) | Prüfeinrichtung zur digitalen Anzeige des Meßfehlers eines Meßgerätes, welches das Zeitintegral einer Große mißt | |
DE2335832C3 (de) | Verfahren und Einrichtungen zur Parametermessung von LC-Resonanzkreisgliedern | |
DE2357195C3 (de) | Verfahren zur Prüfung des Teilungsverhältnisses eines Hochspannungsteilers und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2031707A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur elektn sehen Frequenzmessung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |