DE2756061A1 - Einrichtung zur scharfeinstellung - Google Patents
Einrichtung zur scharfeinstellungInfo
- Publication number
- DE2756061A1 DE2756061A1 DE19772756061 DE2756061A DE2756061A1 DE 2756061 A1 DE2756061 A1 DE 2756061A1 DE 19772756061 DE19772756061 DE 19772756061 DE 2756061 A DE2756061 A DE 2756061A DE 2756061 A1 DE2756061 A1 DE 2756061A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- focus
- elements
- determining
- groups
- coupled
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Focusing (AREA)
Description
ΡΛ1 t£NTANWAL7 E
on nc
2756061 W. STOCKMAJR
K. SCHUMANN P. H. JAKOB
Ο*.-ING.
G. BEZOLO
8 MÜNCHEN 22
15. Dez. 1977 P 12 238
ASAHI KOGAKU KOGYO KABUSHIKI KAISHA
No. 35-9, I'i2.er>o-eh.o 2-chojne, Itabnshi-ku, Tokyo,
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Scharfeinstellung für eine fotografische Kamera.
In jüngster Zeit sind zwei typische Verfahren zur Feststellung der Scharfeinstellung und damit zur Scharfeinstellung
bzw. Fokussierung entwickelt worden; bei einen Verfahren handelt es sich um ein sogenanntes Koinzidenzverfahren für ein oberes bzw. unteres Bild, bei dem zwei
entgegengesetzt polarisierte, aufgespaltene bzw. Teilbilder eines Objektes,die durch die Wirkung von Keilpriseen erzeugt
werden, zu einer einzigen Abbildung verschmelzen,
wenn das Objekt scharf eingestellt ist; bei dem anderen Verfahren handelt es sich um ein sogenanntes KontrasVerfahren,
bei dem der Kontrast zwischen wechselseitig benachbarten, punktförmigen Stellen in der Abbildung des Objektes
am größten wird, wenn die Abbildung scharf eingestellt wird.
Jedes der beiden oben erwähnten Verfahren zur Feststellung der Scharfeinstellung hat jedoch den Nachteil, daß sich
oft eine wenig exakte Feststellung der Scharfeinstellung oder im schlimmsten Falle eine falsche Scharfeinstellung
ergibt.
Es ist deshalb ein Ziel der vorliegenden Erfindung, eine neue Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung zu
schaffen, mit der immer sicher die optimale Scharfeinstellung, also die richtige Entfernungseinstellung der
Kamera, festgestellt werden kann.
Dies wird durch eine Einrichtung zur Scharfeinstellung erreicht, die sich durch zwei Gruppen von elektrischen Schaltelementen,
deren Steuerelektroden und deren Hauptstromleitungswege über zwei Gruppen von entsprechenden elektrischen
Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung und entsprechenden gemeinsamen Lastwiderständen mit einer Gleich-:
stromquelle gekoppelt sind, weiterhin durch eine Einrichtung zur Erzeugung von Triggerimpulsen mit mehreren Ausgängen,
die mit den entsprechenden Steueranschlüssen der beiden Gruppen von fotoelektrischen Elementen für die Scharfeinstellung
gekoppelt sind und eine Folge von nacheinander auftretenden Triggerimpulsen erzeugen, die unabhängig die beiden
Gruppen von Elementen für die Scharfeinstellung triggern
können, weiterhin durch einen Komparator mit zwei Eingängen, die mit der gemeinsamen Verbindung eines der Lastwiderstände
mit einer Gruppe der fotoelektrischen Elemente für die Scharf einstellung und der gemeinsamen Verbindung des anderen Lastwiderstandes
zu der anderen Gruppe der fotoelektrischen Elemente für die Scharfeinstellung gekoppelt sind, und durch
«09825/0900
eine Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung einer Abbildung des Objektes auszeichnet, die in Abhängigkeit von
einem Ausgangssignal des Komparators durch ein optisches Fokussierlinsensystem auf beiden Gruppen der fotoelektrischen
Elemente für die Feststellung der Scharfeinstellung erzeugt wird.
Ein bevorzugter Gedanke liegt in einer Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung für eine fotografische
Kamera. Eine solche Einrichtung enthält zwei Reihen von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung,
die nebeneinander symmetrisch in bezug auf die Mittellinie zwischen den beiden Reihen von Elementen
für die Feststellung der Scharfeinstellung auf einem Substrat
so angeordnet sind, daß sie das durch ein optisches F0kus3Lerli.nsen.sy.stem reflektierte Licht vor einem Objekt
empfangen, das aufgenommen werden soll. Eine Reihe der Elemente für die Feststellung der Scharfeinstellung ist
mit einer Gleichstromquelle durch einzelne elektrische Schaltelemente, deren Steuerelektroden mit den entsprechenden
Ausgängen eines ersten Triggerimpulsgenerators für die Erzeugung einer Folge von nacheinander auftretenden Triggerimpulsen
gekoppelt sind, sowie durch einen ersten, gemeinsamen Lastwiderstand verbunden. In ähnlicher Weise ist die
andere Reihe der Elemente für die Feststellung der Scharfeinstellung mit der Gleichstromquelle durch einzelne elektrische
Schaltelemente, deren Steuerelektroden mit den entsprechenden Ausgängen eines zweiten Triggerimpulsgenerators für
die Erzeugung einer Folge von nacheinander auftretenden Triggerimpulsen, die mit der Triggerimpulsfolge von dem
ersten Generator synchronisiert oder im Verhältnis zu dieser Folge eine vorher bestimmte Zeitspanne verzögert oder
nach vorn verlegt bzw. vorgeschoben ist, und durch einen zweiten, gemeinsamen Lastwiderstand verbunden. Die gemeinsame
Verbindung des ersten Widerstandes mit der einen Reihe von Feststellelementen und die gemeinsame Verbindung des
zweiten Widerstandes mit der anderen Reihe von Feststell-
809825/0900
elementen sind an die entsprechenden Eingänge eines !Comparators
angeschlossen. Die Scharfeinstellung des Objektes auf die beiden Reihen der Elemente für die Feststellung
der Scharfeinstellung wird also in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal von dem Komparator ermittelt, das auf dem
Koinzidenzverfahren für die obere/untere Abbildung und/oder dem Kontrastverfahren basiert.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegenden, schematischen
Zeichnungen näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Diagramm zur Erläuterung des optischen Aufbaus
einer einäugigen Spiegelreflexkamera mit einer Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung
bzw. der Abbildung gemäß der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 eine Draufsicht auf die Anordnung von zwei Gruppen von fotoelektrischen Wandlerelementen, die auf
einem gemeinsamen Substrat ausgebildet sind,
Fig. 3A, 3B, 3D und 3E Diagramme zur Erläuterung der ver
schiedenen Abbildungen eines Objektes, die auf den beiden in Figur 2 gezeigten Gruppen von fotoelektri
schen Wandlerelementen ausgebildet werden, wenn die Abbildung des Objektes nicht scharf eingestellt
ist,
Fig. 3C ein Diagramm zur Erläuterung der Abbildung eines Objektes, die auf den beiden in Figur 2 gezeigten
Gruppen der fotoelektrischen Vandlerelemente ausgebildet werden, wenn die Abbildung des Objektes
scharf eingestellt ist,
Fig. 4 ein Schaltdiagramm eines S/stems für die Feststellung der Scharfeinstellung mit einer Einrichtung zur
Feststellung der Scharfeinstellung gemäß der vor-
80982SA0900
liegenden Erfindung in Blockform,
Fig. 5 eine für die Praxis verwendbare Schaltungsanordnung, teilweise in Blockform, einer Einrichtung zur Feststellung
der Scharfeinstellung nach der vorliegenden Erfindung,
Fig. 6 und 7 graphische Darstellungen der Beziehungen zwischen der Lage für die Scharfeinstellung auf
den beiden Gruppen von fotoelektrischen Elementen und ihrem Ausgangssignal für die Feststellung der
Scharfeinstellung, und
Fig. 8A bis 8J Wellenformen für die Ausgangssignale der verschiedenen, in Figur 5 gezeigten Schaltungsteile.
Figur 1 zeigt ein zur Erläuterung dienendes Diagramm des optischen Aufbaus einer einäugigen Spiegelreflexkamera mit
einer Einrichtung 15 für die Feststellung der Abbildung bzw. Scharfeinstellung (siehe Figuren 4 und 5) gemäß der vorliegenden Erfindung. Dieser optische Aufbau enthält folgende
Einzelteile: Ein aufzunehmendes Objekti, 11; eine Linsengruppe
2 (die im folgenden als "Aufnahmeobjektiv" bezeichnet
werden soll), welche das optische Aufnahmesystem der Kamera bildet;einen total-reflektierenden Spiegel 3 mit einem
Halbspiegel 3' in seinem zentralen bzw. mittleren Bereich; einen total-reflektierenden Spiegel 4; eine Brennpunktsplatte
bzw. eine Platte 5 für die Scharfeinstellung; eine Kondensorlinse 6; ein Pentaprisma 7; ein Okular 8; das Auge 9 eines
Fotografens; einen Film 10; Keilprismen 11 und 11', die an
optisch äquivalenten Stellen zu dem Film 10 so angeordnet sind, daß sie in entgegengesetzten Richtungen geneigt sind
und zwischen sich eine Berührungsoberfläche 12 haben; und
eine Linse 13 (die im folgenden als "Projektionslinse" bezeichnet werden soll), um die Abbildung des Objektes auf
eine Gruppe 14 von fotoelektrischen Elementen für die Fest- ·
stellung der Scharfeinstellung zu fokussieren; diese Gruppe 14 weist eine Vielzahl von jeweils zwei winzigen fotoelektri-
809825/0900
sehen Wandlerelementen cL, d2, ··· d,, ... d und d^', d2',
... dv', ... d ' auf, die auf einem gemeinsamen Halbleiter-
Jv Jl
substrat S (siehe Figur 2) ausgebildet sind und jeweils eine winzige Licht empfangende Oberfläche enthalten; diese Gruppe
ist mit der Einrichtung für die Feststellung der Scharfeinstellung bzw. Abbildung 15 gekoppelt.
Figur 2 zeigt ein Diagramm zur Erläuterung der Anordnung der fotoelektrischen Wandlerelemente d^ bis d bzw. d ' bis
d '. Die winzigen fotoelektrischen Wandlerelemente d~ und d.. ',
dj und d-· ... d, und d,1 und d und d ', bei denen es sich
beispielsweise um Fotodioden, Fototransistoren oder ähnliche Elemente handeln kann, werden einander gegenüber oder jeweils
in Paaren angeordnet, indem sie symmetrisch auf gegenüberliegenden
Seiten einer Mittellinie 121 auf dem Substrat S so positioniert und ausgerichtet v/erden, daß sie die gleichen
elektrischen Eigenschaften bzw. Charakteristiken und die gleiche Lichtempfangsfläche haben. In Figur 2 werden
durch die Bezugszeichen i.., i-, ··· i^ ··· i un<i ii1, i2'
... i,' ... i ' Ausgangsströme bezeichnet, die proportional
zu den einfallenden, die entsprechenden fotoelektrischen Wandlerelemente d., d_, ... d, ... d und d-·, d,', ... d, *
... d ' beaufschlagenden Lichtmengen sind.
Die Figuren 3A bis 3E stellen die Abbildungen des Objektes
I, t1 dar, die durch das Aufnahmeobjektiv 2, die Keilprismen
II, 11' und die Projektionslinse 13 auf die Gruppe 14 von
fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung projiziert werden. Im einzelnen ist die Gruppe
14 von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung so angeordnet, daß die beiden, durch die
Keilprismen 11, 11· erzeugten gespaltenen bzw. Teilbilder
in der Weise darauf fallen, daß die obere Bildhälfte 16 auf die obere Gruppe der fotoelektrischen Wandlerelemente d- bis
dn und die untere Bildhälfte 16' auf die untere Gruppe der
fotoelektrischen Wandlerelemente d-· bis d ' fallen.
809825/0900
ΛΌ
Die Figur 3C zeigt also die Abbildung eines Objektes auf der Gruppe 14 von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung
der Scharfeinstellung für den Fall, bei dem die Abbildung des Objektes scharf eingestellt ist, während die
Figuren 3A, 3B, 3D und 3E die verschiedenen Abbildungen des Objektes auf der Elementengruppe 14 für den Fall darstellen,
daß die Abbildungen des Objektes nicht scharf eingestellt ist. Bei der Einstellung nach den Figuren 3A bzw.
3B ist die Größe der Unscharfe, also die Defokussierung,
größer als im Fall der Figuren 3B bzw. 3D, während das Ausmaß der Bildverformungen bzw. Bildverzerrungen in den Figuren
3A, 3B, 3D und 3E anzeigt, wie unscharf die Abbildung des Objektes ist.
In den Figuren 3A. bis 3E entsprechen die oberen und unteren
Halbbildabsclinitte 16 und 16' den oberen und unteren halben
Bereichen 1 und 1' des Objektes, während die Mittellinie 12f
zwischen ihnen angibt, daß sie optisch mit der Zwischenfläche
12 zwischen den beiden Keilprismen 11 und 11' zusammenfällt.
Figur 4 zeigt in Blockform ein Schaltdiagramm eines Systems zur Feststellung der Scharfeinstellung mit der Einrichtung
für die Feststellung der Abbildung bzw. Scharfeinstellung
gemäß der vorliegenden Erfindung, wobei eine für die Praxis verwendbare Schaltungsanordnung in Figur 5 dargestellt ist.
Die Einrichtung 15 für die Feststellung der Abbildung enthält zwei Gruppen von winzigen, fotoelektrischen Wandlerelementen
d1 , d7 ... d bzw. d1', d9 r ... d ', wie beispielsweise Fotodioden,
die so auf dem Halbleitersubstrat S ausgebildet sind, wie in Figur 2 dargestellt ist, daß sie in longitudinaler
Richtung in zwei Reihen angeordnet sind, die sich symmetrisch in bezug auf die longitudinal Mittellinie 12' zwischen ihnen
möglichst nahe nebeneinander befinden und die gleichen elektrischen
Kennlinien bzw. Eigenschaften und die kleinstmögliche
Lichtempfangsfläche haben. Weiterhin sind die entsprechenden fotoelektrischen Wandlerelemente d1 und d ', dy und d2' ...
sowie d und d ', welche die beiden Gruppen bilden, in Quer-
809825/0900
oder seitlicher Richtung jeweils miteinander ausgerichtet. Die Kathoden der fotoelektrischen Wandlerelemente d.. bis d ,
welche eine der beiden Gruppen bilden, und der fotoelektrischen Wandlerelemente dj' bis d ', welche die andere Gruppe
bilden, sind mit dem geerdeten, positiven Pol einer Gleichstromquelle B verbunden. Die Anoden der fotoelektrischen
Wandlerelemente d.. , dj ··· d
> welche die eine Gruppe bilden, sind an den negativen Pol der Gleichstromquelle B über die
Hauptstromleitungsbahnen (drain-source-Bahnen , das heißt, Abfluß/Quelle-Bahnen)von entsprechenden elektrischen Schaltelementen
S1, S2 ··. S , wie beispielsweise P-Kanal Oberflächen-Feldeffekttransistoren
vom Anreicherungstyp bzvr. isolated gate enhancement type P-Kanal Feldeffekttransistoren
(die im folgenden als IGFET's bezeichnet werden sollen), die jeweils einen geringen Leckstrom haben, sowie über einen gemeinsamen
Last- bzw. Belastungswiderstand R verbunden. In ähnlicher Weise sind die Anoden der fotoelektrischen Wandlerelemente
d.. ', dy', d ', welche die andere Gruppe bilden, mit
dem negativen Pol der Gleichstromquelle B über die drain/
source Pfade von entsprechenden P-Kanal IGFET's S1 1, S2*
S ' und über einen gemeinsamen Lastwiderstand R' verbunden.
Außerdem ist ein Taktimpuls-Oszillator 25 vorgesehen, der Taktimpulse mit einer vorher bestimmten, festen oder nach
einer bevorzugten Ausführungsform variablen Frequenz (siehe Figur 8A) erzeugt. Die durch den Taktimpuls-Oszillator 25
gebildeten Taktimpulse werden nacheinander an einen Binärzähler 26 mit mehreren binären, gewichteten Ausgangsanschlüssen,
beginnend mit dem Zeitpunkt, wenn ein entsprechender Startimpuls (siehe Figur 8B) von einem Startimpulsgenerator
24 an den Zähler 26 angelegt wird, sowie an einen Binärzähler 26* mit identischem Aufbau wie der Zähler 26 mit dem Zeitpunkt
beginnend angelegt, wenn ein entsprechender Startimpuls (siehe Figur 8C, 8E oder 8G) von dem Startimpulsgenerator 24 an den
Zähler 26' angelegt wird. Die Ausgänge der Binärzähler 26 und 26' sind jeweils mit Dekodierern 27 und 27' gekoppelt,
die jeweils mehrere Ausgänge haben, deren Zahl gleich der Zahl der fotoelektrischen Wandlerelemente d1 bis dn oder d1'
809825/0900
/ία
bis d ' ist, welche die beiden Gruppen bilden. Die jeweiligen Ausgänge des Dekodierers 27 sind mit den Steuerelektroden
der entsprechenden IGFET1s S1 bis S verbunden, während
in ähnlicher Weise die entsprechenden Ausgänge des Dekodierers 27' an die Steuerelektroden der entsprechenden IGFET's S-'
bis S ' angeschlossen sind. Die gemeinsame Verbindung des Lastwiderstandes R mit den Drains bzw. Abflüssen der IGFET's
S1 bis S ist an einen positiven Eingang eines Komparators
17 vom Differential- bzw. Differenztyp angeschlossen, während
die gemeinsame Verbindung des Lastwiderstandes R' mit den Drains bzw. Abflüssen der IGFET's S1' bis Sn' an einen
negativen Eingang des Komparators 17 angeschlossen ist.
Wie sich aus Figur 4 ergibt, ist der Ausgang des Komparators 17 wiederum mit einer Absolutwertschaltung 18, einein Integrator
oder einem Addierer 19 und einer Verknüpfungsschaltung 20 gekoppelt. Der Ausgang der Verknüpfungsschaltung
20 ist mit einem positiven Eingang eines Komparators 21 vom Differenz- bzw. Differentialtyp verbunden, dessen negativer
Eingang mit einer Bezugsspannungsquelle verbunden ist, wie beispielsweise der gemeinsamen Verbindung zwischen zwei
Widerständen R1 und R2, die in Reihe an die Gleichstromquelle
B geschaltet sind und ein Potentiometer bilden. Der Ausgang des Komparators 21 liegt über eine Reihenschaltung,
die aus einem Anzeigeelement für die Scharfeinstellung, wie beispielsweise einer lichtemittierenden Diode 22 (die
im folgenden als "LED" bezeichnet werden soll) und einem Widerstand RQ für die Einstellung der Helligkeit der LED
22 besteht, an Masse. Weiterhin ist eine Steuerschaltung
23 vorgesehen, um den Taktimpulsoszillätor 25, den Startimpulsgenerator
24, den Komparator 17, die Absolutwertschaltung 18, den Integrator 19 und die Verknüpfungsschaltung
20 so zu steuern, daß sie unter Ausnutzung des Koinzidenzverfahrens für die obere/untere Abbildung und/oder des
Kontrastverfahrens gemäß der vorliegenden Erfindung die
Scharfeinstellung feststellen können.
809825/0900
Die Feststellung der Scharfeinstellung gemäß der vorliegen den Erfindung wird im folgenden unter Bezugnahme auf die
Figuren 1 bis 8 beschrieben.
Dabei soll zunächst auf Figur 1 Bezug genommen werden; nach
dem Durchlaufen des Aufnahmeobjektivs 2 und der Reflexion an
dem total reflektierenden Spiegel 3 wird die Abbildung des Objektes 1, 1' auf der Einstellplatte bzw. Mattscheibe 5
erzeugt und von dem Fotografen mit seinem Auge 9 durch die
Kondensorlinse 6, das Pentaprisma 7 und das Okular 8 be
trachtet. Gleichzeitig wird die Abbildung des Objektes 1, 1 * nach dem Durchlaufen eines Teils des halbtransparenten
Spiegels 3', der in dem mittleren Bereich des total reflektie renden Spiegels 3 vorgesehen ist, und nach der anschließenden
Reflexion an deei total reflektier en J en Spiegel 4 in
der Nähe der Keilprismen 11 und 11* fokussiert, die sich in einer optisch zu dem Film 10 äquivalenten Stellung befinden.
Dementsprechend wird die Abbildung des Objektes durch die Wirkung der Keilprismen 11 und 11* in zwei Abbildungen auf
geteilt, die dem oberen Halbbereich 1 und dem unteren HaIbbereich 1* des Objektes entsprechen. Die so geteilten Ab
bildungen werden durch die Projektionslinse 13 in zueinander entgegengesetzten Richtungen projiziert und dann , wie in
den Figuren 3A bis 3E dargestellt ist, auf die Gruppe 14 von Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung
fokussiert. Wenn die Abbildung des Objektes durch das Aufnahmeobjektiv 2 auf irgendeine Stelle Q fokussiert wird,
die optisch dem Film 10 äquivalent ist, so ergibt sich keine Abweichung zwischen den oberen und unteren Abbildungen 16
und 16*, die durch die Keilprismen 11 und It1 aufgeteilt
und auf die Gruppe 14 von Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung projiziert worden sind.
•09825/0900
Im folgenden soll unter Bezugnahme auf die Figuren 3A bis 3E beschrieben werden, wie die Abbildung des Objektes auf
die Gruppe 14 von Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung projiziert wird, wenn das Aufnahmeobjektiv 2
allmählich in eine Richtung von einer Stellung, die einer vollständigen Unscharfe bzw. falschen Einstellung entspricht,
zu einer Stellung, die der Scharfeinstellung entspricht, und weiter zu der gegenüberliegenden Stellung bewegt wird, die
einer vollkommen falschen Scharfeinstellung entspricht. Wenn sich das Aufnahmeobjektiv 2 zunächst in einer Stellung
befindet, die einer völligen Unscharfe oder einer völlig falschen Scharfeinstellung entspricht, dann werden die
oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes 1, 1' nach der Aufteilung durch die Keilprismen 11 und 11' ,
wie in Figur 3A dargestellt ist, auf beispielsweise die beiden (oder !:;eflγ} benachbarten IMenenie d; und :1 » ,
der oberen fotoelektrischen Wandlerelemente d1 bis d
bzw. auf die beiden (oder mehr) benachbarten Elemente
d' ., und d' der unteren
m-1 m
m-1 m
te d1' bis d ' projiziert.
d' ., und d' der unteren fotoelektrischen Wandlerel einen m-1
m
Unter diesen Bedingungen bzw. in diesem Zustand weichen die oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes wesent
lich ab oder befinden sich im Abstand von den gegenüberliegenden Seiten einer Linie, die der Grenzfläche 12 zwischen
den Keilprismen 11 und 11' entspricht, so daß sie äußerst unscharf sind und der Kontrast zwischen ihnen sehr gering ist
Wenn anschließend das Aufnahmeobjektiv 2 zu der Stellung be
wegt wird, die der Scharfeinstellung entspricht, werden die
oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes, wie in Figur 3B dargestellt ist, auf beispielsweise ein
Element d. t der oberen fotoelektrischen Wandler d, bis d
J-I In
bzw. auf ein Element d'.+1 der unteren fotoelektrischen
Wandler d^· bis dn' projiziert, so daß ihre Unscharfe und
das Ausmaß der Abweichung zwischen ihnen geringer und der Kontrast zwischen ihnen größer werden, wie es aus Figur 3A
zu erkennen ist. Wenn das Aufnahmeobjektiv 2 weiter in der
809825/0900
- yt -
ns
gleichen Richtung bewegt wird, werden die oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes scharf eingestellt, so
daß sie, wie in Figur 3C dargestellt ist, auf die mittleren Elemente d. und d.? der oberen bzw. unteren fotoelektrischen
Wandlerelemente d1 bis d bzw. d.. ' bis d ' projiziert werden.
In diesem Zustand wird der Kontrast zwischen den oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes maximal, so daß
keine Abweichung bzw. kein Unterschied zwischen ihnen vorliegt. Wenn das Aufnahmeobjektiv 2 weiter von der Stellung,
die der Scharfeinstellung entspricht (siehe Figur 3C), zu der Stellung für die falsche Scharfeinstellung bewegt wird,
die dem Fall nach den Figuren 3B oder 3A entgegengesetzt ist, dann werden die oberen und unteren Abbildungen 16 und 16'
des Objektes, wie in den Figuren 3D und 3E dargestellt ist, auf ein Element d. 1 oder zwei (oder mehr) benachbarte
Elemente d Λ und d der oberen fotoelektrischen Wandler .
s-1 s ·
J1 bis d bzw. auf ein Element d'._1 oder zwei (oder mehr)
benachbarte Elemente d ' und d1 .. der unteren fotoelektrischen
Wandlerelemente d.. ' bis d ' in der entgegengesetzten
Beziehung zu dem Fall nach den Figuren 3B oder 3A projiziert.
Unter Bezugnahme auf die Figuren 3A bis 3E, 6, 7 und 8A bis 8J soll nun das Verfahren beschrieben werden, bei dem unter
Ausnutzung des Systems für die Feststellung der Scharfeinstellung gemäß der vorliegenden Erfindung, das den in den Figuren
4 und 5 gezeigten Aufbau hat, die Scharfeinstellung der beiden Abbildungen des Objektes elektrisch festgestellt wird,
die durch die Wirkung der Keilprismen 11 und 11' aufgeteilt
bivr. erzeugt worden sind.
In folgenden soll zur Vereinfachung der Erläuterung zunächst
die Funktionsweise irgendeines beliebigen Elementes, beispielsweise der winzigen, fotoelektrischen Elemente für
die Feststellung der Scharfeinstellung d* bis d bzw. d.. ·
bis d ' beschrieben werden.
809825/0900
Es soll angenommen werden, daß unter der Steuerung der Steuerschaltung 23 der Taktimpulsoszillator 25 eine Folge
von Taktimpulsen erzeugt, wie in Figur 8A dargestellt ist, und der Startimpulsgenerator 24 einen Startimpuls SP1 erzeugt,
wie in Figur 8B dargestellt ist; der Binärzähler 26 beginnt, die Zahl der Taktimpulse von dem Taktimpulsoszillator
25 zu zählen, wenn der Startimpuls SP1 durch den
Startimpulsgenerator 24 erzeugt wird; und der IGFET S1 wird
durch das erste Ausgangssignal von dem mit dem Binärzähler 26 gekoppelten Dekodierer 27 leitend gemacht (siehe Figur 81).
Als Folge hiervon wird der entsprechende fotoelektrische Wandler d1 in Sperrichtung vorgespannt, um als Kondensator
zu wirken, der durch den von der Gleichstromquelle B durch den Lastwiderstand R und den nun leitenden IGFET S1 fließenden
Strom aufgeladen wird. Anschließend wird während einer vollständigen Abtastperiode f, in welclver das folgende erste
Ausgangssignal von dem Dekodierer 27 nach dem zweiten bis letzten Ausgangssignal von ihm geliefert wird, der IGFET S1
im nicht leitenden Zustand zu halten, um die Aufladung des fotoelektrischen Wandlers d. zu beenden.
Wenn in diesem Zustand Licht nach der Reflexion an dem Objekt 1, 1' und dem Passieren des Fokussierlinsensystems mit dem
Aufnahmeobjektiv 2, den total reflektierenden Spiegeln 3, 4,
den Keilprismen 11, 11" und der Projektionslinse 13 durch den fotoelektrischen Wandler d1 aufgefangen wird, dann wer
den die in dem fotoelektrischen Wandler d1 enthaltenen
Elektronen und Löcher erregt , so daß in dem Wandler ein Entladungsstrom fließt, der proportional zu der Menge des
einfallenden, aufgenommenen Lichtes ist, wodurch sich der Ladungspegel der Spannung verringert.
Wenn der IGFET S wieder durch das folgende erste Ausgangssignal von dem Dekodierer 27 leitend gemacht wird, dann wird
der Pegel der aufgeladenen Spannung an dem fotoelektrischen Wandler d.. wieder erhöht.
809825/0900
Der oben beschriebene Ablauf wird für jede vollständige Abtastperiode T wiederholt, wobei die Wellenform des Aufladungsstroms,
der in dem fotoelektrischen Wandler d1 fließt,
wenn der entsprechende IGFET S/ leitend gemacht wird, an den
entsprechenden Eingang des Komparators 17 angelegt wird.
Im folgenden soll der Ablauf der Feststellung der Scharfeinstellung
zwischen den beiden Abbildungen des Objektes die durch die Wirkung der Keilprismen 11 und 11' aufgeteilt
worden sind, gemäß dem Koinzidenzverfahren für die obere/untere Abbildung beschrieben werden.
Für diesen Fall ist nur erforderlich, daß Startimpulse SP1
und SP^ , wie sie in den Figuren 8B und 8C dargestellt sind,
von dem Startimpulsgenerator 24 synchron unter der Steuerung "eier" Steuerschaltung. 23 an die beiden Biriürtanler 26 u:kL 'Ii;'
angelegt werden, so daß die Binärzähler 16 und 16' die Zählung der Zahl von Taktimpulsen (siehe Figur 8A) beginnen, die von
dem Taktimpulsoszillator 25 in synchroner Beziehung zueinander erzeugt werden. Wenn als Folge hiervon die Taktimpulse,
wie sie in Figur 8A dargestellt sind, nacheinander von dem Taktimpulsoszillator 25 erzeugt werden, dann werden immer
die entsprechenden Elemente S1 und S1', S2 und S ' ... oder
Sn und Sn 1 der oberen und unteren IGFET's S1 bis Sn bzw. S1'
bis S ' synchron durch den entsprechenden Binärzähler und Dekodierer 26, 27 und 26', 27* leitend gemacht, so daß die
entsprechenden Elemente d1 und d..1, d2 und d-f ... oder d
und d ' der oberen und unteren fotoelektrischen Wandlerelemente d- bis d und d-' bis d ' synchron in Sperrichtung vorgespannt
werden, um den Strom von der Gleichstromquelle B durch die entsprechenden Lastwiderstände R und R1 und die jetzt
leitenden entsprechenden IGFET's S1 und S-1, S- und S2' ...
oder S und S ' aufzuladen. Wenn Licht durch die oberen und
unteren fotoelektrischen Wandler d1 bis d bzw. d.. · bis d '
aufgefangen wird, wie es oben erwähnt wurde, dann werden die Spannungen, die an den fotoelektrischen Wandlern aufgeladen
worden sind, proportional zu der Menge des einfallenden
809825/0900
ή?
Lichtes entladen, das durch sie empfangen wurde, wie oben beschrieben wurde.
Die Wellenformen i^, I7, I3, ... in_3>
i n-2i in-1 ' ^"n bzw'
I1-, i2-, i3·, ... i'n_3, i'n_2, i'n.lf i'n (siehe Figuren
8B1 und 8C) der Aufladungsströme, die in den entsprechenden
Paaren von fotoelektrischen Wandlern d.. und d^', d~ und
do' ... und d und d ' von der Gleichstromquelle B durch die
L η η
entsprechenden Lastwiderstände R und R' und die leitenden, entsprechenden Paare von IGFET's S1 und S..1, S„ und S2 1
und S und S ' fließen, werden nacheinander an die entspren
η r
chenden Eingänge des Komparators 17 angelegt. Als Ergebnis
hiervon liefert der Komparator 17 die Differenzen (i.. - i·,1)»
(i? - io') ... und (i - i ') (siehe Figur 8D) zwischen
den oben erwähnten Auf ladungsströmen *i . bis i b~w. i , · bis
I Γ'. ι
i ', die nacheinander m den one:»;:>rechenden Paaren von foco- -- -
η ■ *
elektrischen Wandlernd1 und d ', d^ und d?' , ... und d und
d ' fließen, wie oben erwähnt wurde; die Absolutwertschaltung
erzeugt die Absolutwerte fi-. - i-i'l , |i? - i?' ' *"' unc^
/i - i '/ der Ausgangssignale, die von dem Komparator 17 abgeleitet werden, während der Integrator 19 die Summe
£ der von der Absolutwertschaltung 18 abgenommenen Absolut_ J
werte bildet, das heißt, _ J ,. . f
Damit lassen sich also die Summen (a), (b), (c), (d)
und (e) der von dem Integrator 19 abgenommenen Absolutwerte gemäß der Fälle nach den Figuren 3A bis 3E jeweils durch
die folgenden Gleichungen ausdrucken, wie sich aus der obigen Beschreibung ergibt.
809825/0900
eCa) Vi1VV1 -••· + 'Vh-I + I
+ ···· + 1Vr1ViI ♦ !ν1«1' ··· >
° ···· (υ
(Fig. 3A)
(2) (Fig. 3B)
q-i
«(d) -JIWI TV1My1I -OiJ1-IV1I
>o
-i'VV " ° "'-CS) (Fig. 3C)
.... (4) (Fig. 3D)
1S-I'
Zu den Gleichungen (1) bis (5) darf darauf hingewiesen werden, daß die Differenzen zwischen den Ausgangsströmen, die
von den entsprechenden Paaren der oberen und unteren fotoelektrischen Wandler d, und d1', d7 und d9' ... und d und
d ' abgeleitet werden, auf welche die durch die Keilprismen 11 und 11' aufgeteilten Abbildungen 16 und 16' des Objektes
nicht durch die Projektionslinse 13 projiziert werden, jeweils
im wesentlichen Null sind.
Dementsprechend ergibt sich die Beziehung von £(a), £(b),
£(d), £(e) > = O . Wenn aus diesem Grunde das Koinzidenzverfahren
für die obere/untere Abbildung verwendet wird, dann kann die Scharfeinstellung der Abbildungen 16 und 16'
des Objektes auf den beiden Gruppen von fotoelektrischen Wandlerndj bis d und d,· bis d ' festgestellt werden, indem
ermittelt wird, wenn das Ausgangssignal fc des Integrators 19 sein Μΐηίπφφ $&£5qlhQ 94φ* im Idealfall Null wird.
Der Ausgangspegel £ des Integrators 19 wird jedoch in der Praxis zum Zeitpunkt der Scharfeinstellung nicht Null,
weil sich die elektrischen Eigenschaften zwischen den jeweiligen,
entsprechenden Paaren der oberen und unteren fotoelektrischen Wandlerelemente d1 und cL ', d^ und d2*
bzw. d und d ' im allgemeinen etwas voneinander unterscheiden; dies bedeutet, daß der Ausgangspegel einen bestimmten,
endlichen Wert tQ ( £ Q >
0) hat.
Darüber hinaus gelten für die Fälle der Figuren 3A und 3E ,
in denen die Kontraste zwischen den oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes äußerst gering sind und
die Abbildungen des Objektes äußerst unscharf sind, die Beziehungen is=i/'...i = i ' . . . i =i'...i =i'.
£><■<- m ' m rr ss
Deshnlb ist α immer relativ-schwier ig, nur unter Verwendung
des K. ο mzidenzver L'ahrens für die obere/untere Abbildung die
Scharfeinstellung festzustellen; dies gilt insbesondere für
den Fall, in dem die Schärfentiefe bzw. der Schärfentiefenbercich
nicht, voll erhalten wird.
Die in Figur 6 gezeigte, durchgezogene Kurve P1 stellt die
Variationskennlinie des Ausgangspegels E des Integrators
19 dar, der mit dem Koinzidenzverfahren für die obere/untere Abbildung erhalten wird.
Wie sich aus der durchgezogenen Kurve P. ergibt, sind die
Kontraste zwischen den oberen und unteren Abbildungen 16 und 16' des Objektes in den Fällen der Figuren 3B und 3D
relativ hoch, während die Ausgangssignale £ des Integrators 19 die höchsten Werte haben. In Figur 6 entsprechen die
Brennpunkte bzw. Scharfeinstellpunkte (a), (b), (c), (d),
und (e) jeweils den Fällen der Figuren 3A, 3B, 3C, 3D und
3E.
Berücksichtigt man den oben erwähnten Umstand, so läßt sich
die vorliegende Erfindung dadurch kennzeichnen, daß die
809825/0900
Scharfeinstellung der Abbildungen 16 und 16' des Objektes,
die auf den oberen und unteren fotoelektrischen Wandlern d1 bis d bzw. d1' bis d ' ausgebildet worden sind, unter
Verwendung sowohl des oben erwähnten Koinzidenzverfahrens für die obere/untere Abbildung als auch für das im folgenden
zu beschreibende Kontrastverfahren festgestellt wird.
Wenn nämlich die Scharfeinstellung der Abbildungen 16 und 16' des Objektes auf den beiden Gruppen von fotoelektrischen
Wandlern d1 bis d bzw. d1' bis d ' durch das Kontrastverfahren
festgestellt werden soll, dann muß nur der Binärzähler 26 unter der Steuerung der Steuerschaltung
23 so eingestellt werden, daß er die Zählung der Zahl der von dem Taktimpulsoszillator 25 erzeugten Taktimpulse
zu dem Zeitpunkt beginnt, wenn der in Figur SB gezeigte y, cartii-:pu Is SP. durch den Start impulsgenerator 1 \ erzeug
wird; außerdem wird der Binärzähler 26' ebenfalls unter der Steuerung der Steuerschaltung 23 so eingestellt, daß
er die Zählung der Zahl der von dem Taktimpulsoszillator 25 erzeugten Taktimpulse zu dem Zeitpunkt beginnt, wenn
von dem Startimpulsgenerator 24 ein Startinipuls SP7' oder
SP" an den Binärzähler 26 angelegt wird; dieser Startimpuls SP2' oder SP" (Figur 8E oder 8G) ist relativ zum Startimpuls
SP^ um die Dauer eines (oder mehrerer) Startimpulse in bezug auf den Startimpuls SP1 verzögert oder nach vorne
verschoben bzw. vorverlegt. In diesem Fall wird das Ausgangssignal £ ' des Integrators 19 in der Form
n-1 n-1 ,
ε1 - Σ U0-I1Q+Il ε1 = Σ | i ,-i |.
q=l q q oder q=i <l+i R
erhalten.
Die gestrichelte Kurve Vj in Figur 6 zeigt die Variationskennlinie des Ausgangspegels £ ' des Integrators 19, die
mit dem Kontrastverfahren erhalten wird. Wie sich aus der gestrichelten Kurve P2 ergibt, hat das Ausgangssignal £. '
des Integrators 19 den höchsten Wert in dem Fall, in dem
809825/0900 bad original
" 1^ " 2755061
die auf die oberen und unteren fotoelektrischen Elemente
d1 bis d bzw. d.1 bis d ' projizierten Abbildungen 16
und 16' des Objektes scharf eingestellt sind. Bei der gestrichelten Kurve P? rührt der Abfall des Ausgangssignals
£ ' des Integrators 19 zwischen den Einstellägen (b) und Cc)
daher, daß die relative Abweichung zwischen dem oberen fotoelekLrischen Wandler i oder i , und dem unteren fotoelektrischen
Wandler i1 -. oder i ' nahe bei Null liegt.
Gemäß Figur 6 sollte also die Scharfeinstellung der auf
den oberen und unteren fotoelektrischen Wandlern d. bis d
bzw. d ' bis d ' ausgebildeten Abbildungen 16 und 16' des
Objektes dadurch festgestellt werden, daß eine die Beziehungen
erfüllende L; instellage erhalten wird; dabei ist das Ausgangssignal
£ des Integrators für das Koinzidenzverfahren
:i"ü r Ii^ -1!1)-..· L':j ': ''.ι ί t.: t ...· Xu'' L .1 .;.iii'.; : J ■; ' !VJ γ ■. [ r. ei c c . ''') jη ? -rwli' η ;e
Wert c , während das Ausgangssignal ί ' des Integrators
für das Kontrastverfahren größer als ein bestimmter Wert
5 ist; dies gilt insbesondere für den Fall, wo die volle Schärfentiefe nicht erhalten wird.
Im folgenden sol L unter Bezugnahme auf Figur 7 das Verfahren
zur Feststellung der Scharfeinstellung der Abbildungen 16
und 16' des Objektes, die auf den beiden Gruppen von fotoelektrischen Viand lern d] bis d bzw. d ' bis d ' ausgebildet
werden, nur unter Verwendung des Kontrastverfahrens beschrieben
werden. Es läßt sich nämlich ein Näherungskontrastverfahren einsetzen, um die Scharfeinstellung der oben erwähnten
Abbildungen 16 und 16' des Objektes mit ausreichender Auflösung festzustellen, indem die Beziehung zwischen den
fotoelektrischen Wandlern ausgenützt wird, zwischen denen
jeweils ein P (P = 1. 2. 3. ... n-1) liegt. In diesem Fall
ist im einzelnen nur erforderlich, die Schaltungsanordnung
nach Figur 5 zu betätigen, um die Ausgangssignale £. ? und
£ .-, ' dos Integrators 19 zu erhalten, die durch die Gleichung
ausgedrückt werden.
809825 /0900
Für den Fachmann ergibt sich aus diesen Überlegungen, daß für das Kontrastverfahren ein Wert von P = 1 besonders
geeignet ist.
Die Kurve h.. von Figur 7 zeigt das Ausgangssignal £ „ des
Integrators 19, während die Kurve h? von Figur 7 das Ausgangssignal
£2' des Integrators 19 angibt. In der Kurve
h1 zeigt die Einstellage S.. eine Stellung mit völliger
Unscharfe, also eine Stellung, die weit von der Lage für die Scharfeinstellung entfernt ist, an , wobei der Kontrast
zwischen den Abbildungen 16 und 16' des Objektes extrem gering ist.
Aus diesem Grund ist die Möglichkeit sehr groß, daß die Beziehungen i. Ί = i'.. r ... und i.. y. i' t . fwoh:>i. t-O ■= r>
"> erhalten werden, und das Ausgangssignal £. -, des Integrators
19 liegt nahe bei Null. Die Einstellage S2 gibt eine Lage
an, die näher bei der Scharfeinstellung als die Lage S-liegt,
wobei der Kontrast zwischen den Abbildungen 16 und 16' des Objektes höher als in der Lage S^ wird, und der
Ausgangspegel £? des Integrators 19 aufgrund der relativen
Abweichung zwischen den oben erwähnten fotoelektrischen
Wandlern i und i' extrem hoch wird. Dje Einstellage S,
gibt eine Lage an, die näher bei der Scharfeinstellung liegt als die Lage S-, wobei jedoch die relative Abweichung
zwischen ihnen äquivalent Null wird und das Ausgangssignal £j des Integrators 19 im wesentlichen Null wird.
Die Einstellage S. gibt die Scharfeinstellung zwischen den Abbildungen 16 und 16' des Objektes an, wobei der Kontrast
zwischen den oben erwähnten Elementen i und i'+D maximal
wird, während die relative Abweichung zwischen ihnen nahezu Null wird; das Ausgangssignal £_ des Integrators 19 wird
jedoch nicht Null, sondern nimmt wegen der Bedingung P £ 1 stattdessen seinen höchsten Viert an.
BAD 809825/0900
Die Iiinstellage S1. gibt eine unscharfe Lage in der entgegengesetzten
Richtung zu der Lage S, an, also eine von der Scharfeinstellung abweichende Lage; das Ausgangssignal
ti des Integrators 19 wird aufgrund der Verringerung
des Kontrastes und der relativen Abweichung zwischen den oben erwähnten Elementen i und i1 kleiner
q q+p
als in der Lage S. für die Scharfeinstellung. Die Einstellagen
S, und S7 geben schließlich Unscharfelagen an,
die relativ zu der Lage S4 für die Scharfeinstellung
in umgekehrter Weise den Lagen S2 und S^ entsprechen;
dabei werden die Kontraste und die relativen Abweichungen zwischen den Elementen i und i1 fortschreitend niedri-
q q+p
ger bzw. größer, während die Ausgangssignale £- des Integrators
19 allmählich kleiner werden.
Pie Ku r ν -j h , L η F i ;.T. 7 h a t i η w ?. s e η ti ic h e η J i c σ ] c 1 c h e
Kennlinie wie die Kurve h., wenn man die Lagen S1, S~ , S,,
S., Sr, S. und S- der Kurve h.. durch die Lagen S7, S,, S1-,
S., S.,, S? und S1 ersetzt.
Die Kurve h, von Figur 7 zeigt die Summe der Kurven h. und h?
an, das heißt, das Ausgangssignal £, des Integrators 19,
das die Formel + ε ' = Σ Ii -i' I J^y^ Ii · i I
3 ε2 εζ ^1 ' q ^p1 ^1 I1Q Vp1
erfüllt. Dementsprechend wird in diesem Fall das Ausgangssignal £, des Integrators 19 am höchsten in der Lage S. für
die Scharfeinstellung, so daß die Scharfeinstellung leicht
nur durch das Kontrastverfahren festgestellt werden kann.
809825/0900
Claims (8)
- PatentansprücheEinrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung für eine Kamera mit zwei Gruppen von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung, die symmetrisch nebeneinander so auf einem Substrat angeordnet sind, daß sie die gleichen elektrischen Eigenschaften und Lichtempfangsfläche haben, um das von einem aufzunehmenden Objekt reflektierte Licht durch ein optisches Fokussierlinsensystern der Kamera aufzunehmen, dadurch gekennzeichnet , daß die Steuerelektroden und die Hauptstromleitungspfade von zwei Gruppen von elektrischen Schaltelementen (S1, S2, ··· S) über die beiden Gruppen der entsprechenden fotoelektrischen Elemente für die Feststellung der Scharfeinstellung und über zwei entsprechende, gemeinsame Lastwiderstände (R, R1) mit einer Gleichstromquelle (B) gekoppelt sind, daß mehrere Ausgänge einer Einrichtung (25) für die Erzeugung von Triggerimpulsen mit den entsprechenden Steuerelektroden ,4er beiden Gruppen von fotoelektrischen Elem'enten für die feststellung der Scharfeinstellung gekoppelt sind und eine Folge von nacheinander auftretenden Triggerimpulsen erzeugen, welche unabhängig die beiden Gruppen von Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung triggern können, daß zwei Eingänge einesTBLSFON (OM)809825/0900TCLCX Οβ-9β3·Ο TELKQRAMMe MOMAPATTSLSKOPIERER!Comparators (17) mit der gemeinsamen Verbindung eines Lastwiderstandes (R, R') mit einer Gruppe der fotoelektrischen Elemente für die Feststellung der Scharfeinstellung und die gemeinsame Verbindung des anderen Lastwiderstandes (R, Rf) mit der anderen Gruppe von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung verbunden sind, und daß eine Einrichtung für die Feststellung der Scharfeinstellung der Abbildung des Objektes in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal des Komparators(17) vorgesehen ist, wobei die Abbildung durch das optische Fokussierlinsensystem (2) auf beiden Gruppen von fotoelektrischen Elementen für die Feststellung der Scharfeinstellung erzeugt wird.
- 2. Hinrichtung rar feststellung der Scharfeinstellung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzeugung von Triggerimpulsen einen Taktimpulsoszillator (25) zur Erzeugung von Taktimpulsen mit vorher bestimmter Frequenz und zwei unabhängig betätigbare Binärzähler (26, 26') und Dekodiererschaltungen (27, 27') enthält, von denen eine zwischen den Taktimpulsoszillator (25) und eine Gruppe der elektrischen Schaltelemente und die andere zwischen den Taktimpulsoszillator (25) und die andere Gruppe von elektrischen Schaltelementen geschaltet ist.
- 3. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch einen Startimpulsgenerator (24), der mit den Binärzählern (26, 26') und den Dekodiererschaltungen (27, 27')' gekoppelt ist und Startimpulse erzeugt, welche den Beginn des Ablaufs unabhängig steuern können.
- 4. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenz des Taktimpulsoszillators (25) variierbarist. S0982S/0900
- 5. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Gruppen von elektrischen Schaltelementen Oberflächen-Feldeffekt-Transistoren vom Anreicherungstyp (isolated gate enhancement type Feldeffekt-Transistoren) aufweisen.
- 6. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Komparator (17) vom Differenz- bzw. Differentialtyp ist.
- 7. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Feststelleinrichtung eine mit dem Komparator (17) gekoppelte Absolutwertschaltung (18) zur Erzeugung des Absolutwertes eines davon abgeleiteten Ausgangssignals, einen mit der Absolutwertschaltung (18) gekoppelten Integrator (19), um den davon abgeleiteten Absolutwert über die Zeit zu integrieren, eine Verknüpfungsschaltung (20) vom normalerweise offenen Typ, die mit dem Integrator (19) gekoppelt ist, um nach Verstreichen einer vorher bestimmten Zeitspanne, die mit dem Start des Betriebs des Integrators (19) beginnt, kurz zu schließen, einen weiteren Komparator (21), von dem ein Eingang mit dem Integrator (19) und der andere Eingang mit einer Bezugsspannungsquelle (B, R-, R2) gekoppelt ist, und eine mit dem Komparator (21) gekoppelte Anzeigeeinrichtung (22) für den Zustand der Scharfeinstellung aufweist.
- 8. Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigeeinrichtung für den Zustand der Scharfeinstellung eine lichtemittierende Diode (22) aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15043276A JPS5374424A (en) | 1976-12-15 | 1976-12-15 | Photoelectric detection device suited for detecting focal point |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2756061A1 true DE2756061A1 (de) | 1978-06-22 |
| DE2756061B2 DE2756061B2 (de) | 1979-09-06 |
| DE2756061C3 DE2756061C3 (de) | 1980-07-10 |
Family
ID=15496787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2756061A Expired DE2756061C3 (de) | 1976-12-15 | 1977-12-15 | Einrichtung zur Feststellung der Scharfeinstellung eines optischen Gerätes |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4176928A (de) |
| JP (1) | JPS5374424A (de) |
| DE (1) | DE2756061C3 (de) |
| GB (1) | GB1576160A (de) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2851464A1 (de) * | 1977-11-28 | 1979-05-31 | Asahi Optical Co Ltd | Vorrichtung zur ermittlung der fokussierungseinstellung in einer einaeugigen spiegelreflexkamera |
| DE2931274A1 (de) * | 1978-08-23 | 1980-03-06 | Asahi Optical Co Ltd | Fokussierungsermittlungsvorrichtung fuer eine kamera |
| EP0025172A2 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltung zur sensorgesteuerten Entfernungsmessung |
| DE2936536A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mit einem belichtungsmessteil versehene schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| DE2936521A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| DE2936535A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-04-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| EP0026834A2 (de) * | 1979-09-10 | 1981-04-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Analog-Digital-Wandler zur Bewertung des Ausgangssignals eines optoelektronischen Sensorelements und Verfahren zu dessen Betrieb |
| DE2936491A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-05-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mit einem belichtungsmessteil versehene schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5529878A (en) * | 1978-08-24 | 1980-03-03 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
| US4377742A (en) * | 1979-05-23 | 1983-03-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Image sharpness detecting system |
| US4268165A (en) * | 1979-12-17 | 1981-05-19 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for controlling the adjustment of optical elements in an electrophotographic apparatus |
| JPS58189606A (ja) * | 1982-04-30 | 1983-11-05 | Fuji Electric Co Ltd | 光学器械の自動焦点調整装置 |
| US4481413A (en) * | 1982-06-30 | 1984-11-06 | Honeywell Inc. | Strip mirror radiation splitter for range determination systems |
| US4521014A (en) * | 1982-09-30 | 1985-06-04 | Sitrick David H | Video game including user visual image |
| GB2183419B (en) * | 1985-10-22 | 1990-08-29 | Canon Kk | Focusing state detection apparatus for objective lens |
| US5095198A (en) * | 1988-10-31 | 1992-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image shake compensating device |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4047187A (en) * | 1974-04-01 | 1977-09-06 | Canon Kabushiki Kaisha | System for exposure measurement and/or focus detection by means of image senser |
| US4083056A (en) * | 1975-09-09 | 1978-04-04 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Focus detecting device for single-lens reflex cameras |
-
1976
- 1976-12-15 JP JP15043276A patent/JPS5374424A/ja active Pending
-
1977
- 1977-12-14 GB GB52143/77A patent/GB1576160A/en not_active Expired
- 1977-12-15 DE DE2756061A patent/DE2756061C3/de not_active Expired
- 1977-12-15 US US05/861,089 patent/US4176928A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2851464A1 (de) * | 1977-11-28 | 1979-05-31 | Asahi Optical Co Ltd | Vorrichtung zur ermittlung der fokussierungseinstellung in einer einaeugigen spiegelreflexkamera |
| US4265520A (en) * | 1977-11-28 | 1981-05-05 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Focus detecting device in single lens reflex camera |
| DE2931274A1 (de) * | 1978-08-23 | 1980-03-06 | Asahi Optical Co Ltd | Fokussierungsermittlungsvorrichtung fuer eine kamera |
| EP0025172A2 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltung zur sensorgesteuerten Entfernungsmessung |
| DE2936536A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-19 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mit einem belichtungsmessteil versehene schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| DE2936521A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| DE2936520A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-03-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| DE2936535A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-04-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| EP0026834A2 (de) * | 1979-09-10 | 1981-04-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Analog-Digital-Wandler zur Bewertung des Ausgangssignals eines optoelektronischen Sensorelements und Verfahren zu dessen Betrieb |
| DE2936491A1 (de) * | 1979-09-10 | 1981-05-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Mit einem belichtungsmessteil versehene schaltung zur sensorgesteuerten entfernungsmessung |
| EP0025172A3 (en) * | 1979-09-10 | 1982-09-22 | Siemens Aktiengesellschaft Berlin Und Munchen | Circuit for sensor controlled distance measurement |
| EP0026834A3 (en) * | 1979-09-10 | 1983-03-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Analog-digital converter for the evaluation of the output signal of an optoelectronic sensor element, and method of operating it |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5374424A (en) | 1978-07-01 |
| US4176928A (en) | 1979-12-04 |
| GB1576160A (en) | 1980-10-01 |
| DE2756061B2 (de) | 1979-09-06 |
| DE2756061C3 (de) | 1980-07-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2639625C3 (de) | Automatische Scharfeinstelleinrichtung | |
| DE2756061A1 (de) | Einrichtung zur scharfeinstellung | |
| DE2722804A1 (de) | Einrichtung zur feststellung des brennpunktes fuer eine einaeugige spiegelreflexkamera | |
| DE3019901C2 (de) | ||
| DE2922080C2 (de) | Entfernungsmeßeinrichtung | |
| DE3122187C2 (de) | ||
| DE3635790A1 (de) | Fokussierzustandserfassungsvorrichtung fuer objektivlinsen | |
| DE3013282C2 (de) | Detektoranordnung für ein automatisches Fokussiersystem | |
| DE3320096C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen des Scharfstellungszustandes eines optischen Abbildungssytems | |
| DE3211557C2 (de) | ||
| EP0004584B1 (de) | Anordnung zur Messung der Entfernung oder Geschwindigkeit eines Gegenstandes, ihre Verwendung und Verfahren zu ihrem Betrieb | |
| DE3129545A1 (de) | Objektiv-scharfeinstellvorrichtung fuer filmkameras o.dgl. | |
| DE69732946T2 (de) | Photoelectrischer Konverter | |
| DE2549809C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Signalbehandlung in einem automatischen Fokussiersystem für optische Geräte | |
| DE3428974C2 (de) | ||
| DE3150818A1 (de) | Scharfstellungs-vorrichtung | |
| DE3246646C2 (de) | ||
| DE2854592C2 (de) | Einrichtung zur Ermittlung der Fokussierungseinstellung einer Kamera | |
| DE3416072C2 (de) | Automatische Scharfeinstellungsdetektoreinrichtung | |
| DE3005555C2 (de) | Einrichtung zur Ermittlung der Fokussierungseinstellung eines Kameraobjektivs | |
| DE2258218A1 (de) | Anordnung zur lichtmessung fuer fotografische zwecke | |
| DE2917203C2 (de) | Vorrichtung zur Ermittlung der Fokussierung einer Linse auf eine Soll-Schärfeebene | |
| DE3007700C2 (de) | Entfernungsmeßeinrichtung, insbesondere für die automatische Scharfeinstellung von optischen Systemen | |
| DE2851464C2 (de) | Vorrichtung zur Ermittlung der Fokussierungseinstellung für eine einäugige Spiegelreflexkamera | |
| DE2451352B2 (de) | Vorrichtung zum Scharfeinstellen eines optischen Systems |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OAP | Request for examination filed | ||
| OD | Request for examination | ||
| OI | Miscellaneous see part 1 | ||
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
| 8340 | Patent of addition ceased/non-payment of fee of main patent |