DE2718807A1 - Geraet zur messung mindestens einer dimension eines objekts und verfahren zum betrieb dieses geraetes - Google Patents

Geraet zur messung mindestens einer dimension eines objekts und verfahren zum betrieb dieses geraetes

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Description

PATENTANWALT DIPL.-PHYS. WILLY LORENZ Hubertusse 83 V1 ■ D-8035 Gauting · « (089) 8 50 25 24 · Telex 5 21 707 lore d ■ ♦ Brevet · Telekopierer X
26.April 1977
Meine Akte; ζ 45-j,DT
ZUMBACH ELECTRONIC AG, Orpund
Gerät zur Messung mindestens einer Dimension eines Objekts und Verfahren zum Betrieb dieses Gerätes.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Gerät zur Messung mindestens einer Dimension, insbesondere des Durchmessers, eines Objekts, mit zwei gegenseitig abgleichbaren Lichtkanälen, von welchen der eine als Messkanal, in welchen das Objekt eingebracht wird, und der andere als Vergleichskanal dient, mit photoelektrischen Wandlern zur Erzeugung
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,elektrischer Grossen entsprechend der in jedem der Lichtkanäle, und mit einer Vergleichsschaltung für die elektrischen Grossen. Derartige Geräte sind bekannt, beispielsweise aus den USA-Patentschriften 2 548 755 und 3 141 057. Die bekannten Geräte gestatten jedoch aus verschiedenen Gründen keine einfache, genaue Messung. Insbesondere erfolgt die Anzeige nicht linear in Funktion der Abweichung von einem Sollmass, und ausserdem ist keine genügende Temperaturstabilität vorhanden.
Es ist das Ziel vorliegender Erfindung, mit einfachen Massnahmen und Mitteln eine hohe Genauigkeit und Linearität der Messung zu erzielen. Das erfindungsgemässe Gerät ist dadurch gekennzeichnet, dass die photoelektrischen Wandler antiparallel an den Eingang eines Verstärkers geschaltet sind, und dass die Stromdifferenz der beiden Wandler über einen mit dem Verstärkerausgang verbundenen Gegenkopplungswiderstand kompensiert ist. Es wird damit erreicht, dass die beiden photoelektrischen Wandler, die vorzugsweise als Photodioden ausgebildet sein können, praktisch im Kurzschluss arbeiten. Es wurde festgestellt, dass unter diesen Umständen eine Vergleichsmessung zwischen den beiden Diodenströmen erfolgt, was eine praktisch lineare Charakteristik ergibt, indem ein weitgehend linearer Zusammenhang zwischen der Beleuchtungsstärke und dem Dioden- ' strom im Kurzschluss besteht.
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ORIGINAL INSPECTED
Zur weiteren Verbesserung des MessergebnissoBrk©fcr»iv flie photoelektrischen Wandler mit Vorteil auf gleicher Temperatur gehalten werden. Zu diesem Zweck kann ein Thermostat vorhanden sein, welcher einen gemeinsamen Träger für die photoelektrischen Wandler auf einer über oder unter der Umgebungstemperatur liegenden Temperatur hält. Es hat sich gezeigt, dass der Temperaturgang der photoelektrischen Wandler, insbesondere Photodioden, für eine genaue Messung nicht vernachlässigt werden kann.
Die Messung erfolgt vorzugsweise in der Weise, dass die beiden Lichtkanäle für das Sollmass des Objekts auf gleiche Beleuchtungsstärke eingestellt sind, und dass zwei gleichartige photoelektrische Wandler, vorzugsweise Photodioden, vorgesehen sind. Es wird damit eine besonders genaue Messung der Abweichung vom Sollmass mit einfachen Mitteln erreicht.
Vorzugsweise wird die Spannung der Lampe zur Äusleuchtung der beiden optischen Kanäle und damit die Beleuchtungsstärke in diesen Kanälen auf konstanten Wert geregelt, was zur gesamthaft hohen Genauigkeit und Stabilität des Messgerätes beiträgt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
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ORIGINAL INSPECTED
- ir-
AO
Fig. 1 zeigt schematise!! den Aufbau des optischen"iells des Gerätes,
Fig. 2 zeigt schematisch den wesentlichen Teil der elektronischen Messschaltung,
Fig. 3 zeigt eine Blende,
Fig. 4 zeigt schematisch einige wahlweise zuschaltbare Hilfskreise und
Fig. 5 zeigt einen Toleranzüberv/achungskreis.
Das dargestellte Gerät weist eine Lichtquelle 1 und eine Optik 2 zur Erzeugung einer parallelen Beleuchtung in einem durch die optische Achse 3 gekennzeichneten Messkanal auf. In diesen Messkanal kann ein feststehendes oder quer zur Achse 3 durchlaufendes Messobjekt 4, beispielsweise ein Draht, ein Kabel oder dergleichen bzw. ein Normobjekt, eingebracht wer den. Durch die Optik 5 wird das aus dem Messkanal austretende Licht auf einen photoelektrischen Wandler, im vorliegenden Falle eine Photodiode Dl, vorzugsweise Silizium-Photodiode, geworfen. Die Beleuchtungsstärke im Messkanal kann mittels einer Blende 6, die durch einen Mikrometer 7 verstellbar ist, fein eingestellt werden.
Im Bereiche der Optik 2 befindet sich ein Doppelprisma 8,
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welches einen gewissen Anteil des parallelen Lichtes seitlich auslenkt und einem Vergleichskanal mit der optischen Achse 9 zuführt. In diesem Vergleichskanal befinden sich eine Blendenöffnung 10a, ein mittels Mikrometerschraube betätigbarer Regulierkegel 11 sowie eine Optik 12, welche das den Vergleichskanal durchsetzende Licht auf eine der Photodiode Dl gleiche Photodiode D2 wirft.
Die Blendenöffnung 10a befindet sich in einer Blende 10 (Fig. 3), die ausserdem eine Blendenöffnung 10b aufweist. Die Blendenöffnungen 1Oa und 10b bestimmen die Querschnitte der für die Messung massgebenden Lichtbündel in den beiden optischen Kanälen derart, dass diese Lichtbündel auch im Doppelprisma 8 und in der Optik '2 vollständig getrennt sind. Die Blendenöffnung 10b kann sich bei dieser Anordnung über einen Durchmesser der Optik 2 erstrecken, was bedeutet, dass der Durchmesser der Optik nur unwesentlich grosser zu sein braucht als die durch die Länge der Blende 10b bestimmte obere Grenze des Messbereichs.
Die beiden Dioden Dl und D2 befinden sich auf einem gemeinsamen Träger 13 aus gut leitendem Material, beispielsweise Kupfer, welcher Träger durch ein Heizelement 14 mittels eines nicht dargestellten Regelkreises den Träger 13 und damit die beiden Dioden Dl und D2 auf gleicher Temperatur hält. Diese Temperatur wird im vorliegenden Falle genügend hoch über der Umgebungstemperatur gehalten, so dass für alle Fälle die beiden Dioden praktisch dieselbe Temperatur aufweisen. Es könnte auch zum Beispiel mittels Peltier-Element auf konstante Temperatur gekühlt werden.
Wie Fig. 2 zeigt, sind die beiden Dioden Dl und D2 antiparallel
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an den Eingang eines Operationsverstärkers Vl angeschaltet. Diesem Verstärker sind ein Kompensationswiderstand Rl und ein Gegenkopplungswiderstand R2 zugeordnet. Diese Widerstände weisen ähnliche Werte gleicher Grössenordnung auf und sind so bemessen, dass der Gegenkopplungswiderstand R2 die Stromdifferenz Δ i = il - i2 der beiden Photodioden Dl und D2 kompensiert. Der Ausgang des Operationsverstärkers Vl ist über einen regelbaren Widerstand R3 und einen festen Widerstand R4 mit dem einen Eingang eines Messverstärkers V2 verbunden. Diesem Messverstärker sind ein Kompensationswiderstand R5 und zur Wahl des Verstärkungsbereiches umschaltbare Gegenkopplungswiderstände R6, R7 und R8 zugeordnet, die mittels eines Bereichsschalters Sl wahlweise eingeschaltet werden können. Die Verstärkung des Verstärkers V2 ist so ausgelegt, dass er bei einer Aussteuerung von über 100% des vorgewählten Bereichs sättigt. Der nachfolgende, aus den Widerständen R9 und RIO gebildete Spannungsteiler teilt die Ausgangsspannung LJ2 des Verstärkers V2 derart, dass die Eingangsspannung U3 an einem Trennverstärker V3 bei 100% der geforderten Normalspannung entspricht. Der Trennverstärker V3 weist einen Verstärkungsfaktor von 1 auf, so dass die Ausgangsspannung U. gleich ist der Spannung U3, und diese Ausgangsspannung kann als normierter Messwert weiter verstärkt werden. Durch die Sättigung des Verstärkers V2 ist der Ausgangswert begrenzt.
Zur Messung einer Dimension, insbesondere des Durchmessers eines Objekts, wird das dargestellte Gerät wie folgt vor-
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bereitet und betrieben:
Die Lichtquelle 1 wird eingeschaltet und vorzugsweise mit nichtdargestellten Mitteln auf konstante Beleuchtungsstärke geregelt. Das Licht gelangt in der dargestellten Weise einerseits durch den Messkanal und anderseits durch den Vergleichskanal zu den Photodioden Dl und D2. Die Blende 6 wird mittels des Mikrometers 7 in ihre Nullstellung, d.h. in die einem Durchmesser Null entsprechende Stellung, gebracht. Sodann wird durch axiale Verstellung des Regulierkonus 11 im Vergleichskanal die Lichtstärke in diesem Kanal so lange geregelt bis die Anzeige auf Null geht. Damit ist der Abgleich beendet. Zum Messen wird die Blende 6 in die dem Sollwert entsprechende Stellung gebracht. Will man in einem bestimmten Messbereich die absolute Genauigkeit speziell abgleichen, wird in den Messkanal ein Normobjekt mit Solldurchmesser eingebracht, und die Blende wird mittels des Mikrometers 7 in die dem Sollmass entsprechende Stellung gebracht. Für diese Einstellung wird nun die Anzeige am Anzeigeinstrument durch Verstellen des Regelkonus wiederum auf
Null gebracht. Zur Eichung der Empfindlichkeit wird mittels des Mikrometers 7 eine nominelle Sollwertabweichung eingestellt. Mittels dem regelbaren Widerstand R3 kann die Ausgangsspannung U3 auf den normierten Wert abgeglichen v/erden. Nach dem einen oder anderen oben angegebenen Abgleich ist das Gerät für die Messung vorbereitet, und es kann im letzteren Falle anstelle des Normobjekts ein Messobjekt in den Messkanal gebracht werden. Entspricht der Durchmesser des Messobjekts genau demjenigen des vorher eingebrachten Normobjekts, dann wird die Anzeige auf
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Null stehen, d.h. die Abweichung vom Sollmass beträgt Null. Bei zu grosser oder zu kleiner Abmessung des Messobjekts 4 ist die Beleuchtungsstärke an der Diode Dl niedriger oder höher und damit der Photostrom in dieser Diode niedriger oder höher als in der Vergleichsdiode D2. Es entsteht damit eine Stromdifferenz <Δ.ϊ, welche in der oben erwähnten Weise durch die Gegenkopplung des Operationsverstärkers Vl kompensiert wird, so dass am Verstärkereingang eine dem Wert Null zustrebende Spannung e auftritt. Damit wird erreicht, dass die beiden Dioden Dl und D2 im Arbeitsbereich praktisch linear arbeiten, und dass somit die Anzeige ein direktes Mass für die Abweichung vom Sollmass im positiven oder negativen Sinne darstellt. Mit anderen Worten wird die Stromdifferenz ^s. i = il - i2 kompensiert durch den Gegenkopplungsstrom -=-r- , woraus folgt, dass die Ausgangsspannung Ul proportional zur Stromdifferenz Ai und somit proportional zur Differenz der Beleuchtungsstärke an den Dioden Dl und D2 ist. Die Linearität und Genauigkeit der Messung und Anzeige wird weiterhin dadurch verbessert, dass die beiden Photodioden Dl und D2 thermostatisch auf gleicher Temperatur gehalten werden, dass die Lichtstärke der Lichtquelle 1 geregelt wird, und dass gleiche Dioden verwendet werden, die bei Sollwert mit gleicher Beleuchtungsstärke beaufschlagt werden.
Dem Ausgang A des Messkanals nach Fig. 2 können beliebige geeignete Zusatzaggregate nachgeschaltet werden. Eine Direktan zeige kann mittels Zeigerinstrument oder Digitalvoltmeter er folgen. Es kann gomäss Fig. 4 zum Beispiel wahlweise ein
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Integrationsglied, bestehend auf einem Seriewiderstand RIl und einem parallel geschalteten Kondensator CIl, in den Kanal eingeschaltet werden, um rasche Variationen zu unterdrücken. Umgekehrt ist es möglich, ein Differenziationsglied, bestehend aus einem Seriekondensator C12 und einem parallel geschalteten Widerstand R12, vorzusehen, um schnelle Variationen, wie sie beispielsweise beim Durchlaufen von Knoten des Messobjektes auftreten, sicher zu erfassen, ohne dass langsame Sollwertänderungen störend wirken. Mit dem Ausgang kann ferner ein Regler 15 verbunden sein, der beispielsweise bei der Kabelproduktion die Abzugsgeschwindigkeit und/oder die Isolationsstoffmenge in Abhängigkeit des Messergebnisses zu steuern gestattet.
Es kann auch eine Schaltung zur Toleranzüberwachung gemäss Fig. 5 vorgesehen sein, in welcher der Messwert mit zwei einstellbaren Vorgabewerten verglichen wird. Ein positiver und ein negativer Vorgabewert, die an Widerständen R13 und R14 einstellbar sind, werden je einem Eingang eines von zwei Differenzialverstärkern 16 und 17 zugeführt, v/ährend der Messwert vom Ausgang A den beiden verbleibenden Eingängen der Differenzialverstärker zugeführt werden. Die Ausgänge der Differenzialverstärker sind mit den Eingängen eines ODER-Tors 18 verbunden, dessen Ausgang die Anzeige 19 oder eine geeignete Alarmvorrichtung steuert. Wird ein bestimmter Toleranzwert in positiver oder negativer Richtung überschritten, gelangt ein Ausgangssignal
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vom einen Verstärker über das ODER-Tor, womit das Ueberschreiten einer Toleranz angezeigt und/oder ein Alarm bewirkt wird. Werden die Ausgänge der Verstärker 16 und 17 separat herausgeführt, so kann auch eine Korrektur bewirkt werden.
Die Toleranz- oder Grenzwertüberwachung ist sehr wirkungsvoll dank der hohen Stabilität und Grenzfrequenz der kontinuierlich arbeitenden Messvorrichtung, und dank der kurzen Ansprechzeit der Toleranzüberwachung selbst. Es ergibt sich dabei gesamthaft bei sehr kurzer Ansprechzeit eine hohe Stabilität und Anzeigegenauigkeit. Die Grenzwertüberwachung kann als wirksamer Knotenwächter dienen.
Die oben beschriebenen Abgleich- und Eichvorgänge können auch automatisiert werden. Zu diesem Zweck wird der Mikrometer 7 mit einem Servomotor verbunden, der über einen geeigneten Regler durch das Messsignal gesteuert wird. Zum Nullabgleich wird ohne Objekt im Messkanal die über den Regler vom Servomotor gesteuerte Blende 6 so weit geschlossen, dass auf gleiche Beleuchtungsstärke in den beiden optischen Kanälen geregelt ist. Danach ist der Regulierkegel 11 so zu verstellen, dass der Mikrometer nach erfolgtem Nullableich auf Null steht. Anschliessend wird das Servosystem ausgeschaltet und die Blende 6 automatisch mit dem Servomotor über einen Vorwahlzähler bis zum Sollmass geöffnet. Nach dem Einführen des Messgutes in den Messkanal kann an einem besonderen Anzeigeinstrument die Sollwertabweichung abgelesen werden.
Der Vorwahlzähler kann aber auch nach Erreichen des vorgewählten
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Sollmasses auf Null gesetzt und ein Messobjekt in den Messkanal eingebracht werden, worauf das Servosystem wieder eingeschaltet wird. Die Blende 6 wird nun automatisch nachreguliert, so dass die optischen Kanäle dauernd abgeglichen sind. Der Vorwahlzähler ist als Auf-Ab-Zähler geschaltet und erfasst die Verstellungen in beiden Richtungen um den Sollmassnullpunkt. Somit kann der Zählerstand digital als Sollmassabweichung direkt und dauernd abgelesen werden.
Der oben beschriebene Vorgang zum Erreichen der Sollwertposition kann in dem Sinn abgewandelt werden, dass ein Normobjekt in den Messkanal gebracht wird, worauf man die Blende automatisch in die Normwertstellung, die dem gewünschten Sollwert entspricht, laufen lässt. Die Messung und Anzeige der Abweichung vom Sollwert kann zum Beispiel erfolgen wie oben beschrieben.
Es wäre schliesslich auch möglich, nach Durchführung des Nullabgleiches ohne Objekt wie beschreiben, das Servosystem und den Zähler dauernd eingeschaltet zu lassen, d.h. dem Messobjekt dauernd nachzuführen. Damit würde der Zählerstand immer den gemessenen Absolutwert anzeigen.
Als weitere Variante könnte das System mit der Absolutwertanzeige mit einem zweiten Zähler erweitert werden, welcher bei Sollmass auf Null gesetzt wird und wie schon beschrieben die Sollwertabweichung erfasst, das heisst, dass man die beschriebenen Systeme kombiniert.
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Es'wäre schliesslich auch möglich, wie beschrieben von Hand oder automatisch während der Produktion bei Bedarf einen neuen Nullabgleich vorzunehmen. Zu diesem Zwecke müsste das durchlaufende Messobjekt, zum Beispiel ein Kabel, vorübergehend aus der Messposition ausgehoben werden. Dann wird die Blende 6 in Nullstellung gebracht und der Abgleich wird damit vorgenommen, dass der Zählerstand auf Null gebracht wird. Sodann wird die Blende
wieder in Sollmassstellung gebracht. Bei automatischer Blendenverstellung kann der Nullabgleich und nach Wiedereinführung des Messobjekts in den optischen Messkanal die Rückführung der Blende in die Istmassstellung automatisch erfolgen.
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Leerseite

Claims (21)

  1. Patentansprüche
    Λ Gerät zur Messung mindestens einer Dimension, insbesondere des Durchmessers, eines Objekts , mit zwei gegenseitig abgleichbaren Lichtkanälen, von welchen der eine als Messkanal, in welchen das Objekt eingebracht wird, und der andere als Vergleichskanal dient, mit photoelektrisphen Wandlern zur Erzeugung elektrischer Grossen entsprechend der Beleuchtungsstärke in jedem der Lichtkanäle, und mit einer Vergleichsschaltung für die elektrischen Grossen, dadurch gekennzeichnet, dass die photoelektrischen Wandler antiparallel an den Eingang eines Verstärkers geschaltet sind, und dass die Stromdifferenz der beiden Wandler über einen mit dem Verstärkerausgang verbundenen Gegenkopplungswiderstand kompensiert ist.
  2. 2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als photoelektrische Wandler Photodioden vorgesehen sind.
  3. 3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die photoelektrischen Wandler auf gleicher Temperatur gehalten sind.
  4. 4. Gerat nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die photoelektrischen Wandler auf einem gemeinsam, heiz-
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    oder kühlbaren Träger angeordnet sind und mit demselben auf eine über oder unter der Umgebungstemperatur liegende Temperatur aufheiz- oder kühlbar sind.
  5. 5. Gerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass
    die Temperatur des Trägers bzw. der photoelektrischen Wandler thermostatisch geregelt ist.
  6. 6. Gerät nach einem der Ansprüche 1-5, dadurch gekennzeichnet, dass der Gegenkopplungswiderstand, der Eingang eines Operationsverstärkers und ein Kompensationswiderstand in Serie geschaltet sind.
  7. 7. Gerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass
    der Gegenkopplungswiderstand und der Kompensationswiderstand Werte gleicher Grössenordnung aufweisen.
  8. 8. Gerät nach einem der Ansprüche 1-7, dadurch gekennzeichnet, dass beide Lichtkanäle für das Sollmass des Objekts auf gleiche Beleuchtungsstärke eingestellt sind, und dass zwei gleiche photoelektrische Wandler vorgesehen sind.
  9. 9. Gerät nach einem der Ansprüche 1-8, dadurch gekennzeichnet, dass in den elektrischen Messkanal ein Differenziationsglied geschaltet oder schaltbar ist, um rasche Messwertänderungen sicher zu erfassen, ohne dass langsame Messwertänderungen
    ... . . . 709847/0745
    störend wirken.
    - vs -
  10. 10. Gerät nach einem der Ansprüche 1-9, dadurch gekennzeichnet, dass in den elektrischen Messkanal ein Integrationsglied geschaltet oder schaltbar ist, um rasche Messwertänderungen zu unterdrücken.
  11. 11. Gerät nach einem der Ansprüche 1-10, gekennzeichnet durch einen Regelkreis zur Regelung der Spannung der Beleuchtungslampe bzw. zur Regelung der Beleuchtungsstärke in den Lichtkanälen auf konstanten Wert.
  12. 12. Gerät nach einem der Ansprüche 1-11, dadurch gekennzeichnet, dass ein Toleranzüberwachungskreis zum Vergleich des Messwertes mit zwei Vorgabewerten, die unter bzw. über dem Sollmesswert liegen, vorgesehen ist,der beim Ueber- bzw. Unterschreiten eines der Vorgabewerte ein Warn- bzw. Alarmsignal abgibt.
  13. 13. Gerät nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass
    der Toleranzüberwachungskreis zwei Differenzialverstärker aufweist, deren Ausgänge mit einem ODER-Tor verbunden sind, dessen Ausgang das Warn- bzw. Alarmsignal abgibt, wobei je ein erster Eingang jedes Differenzialverstärkers mit dem Ausgang des Messkanals und je ein zweiter Eingang jedes Differenzialverstärkers mit einer Quelle für einen der Vorgabewerte verbunden ist.
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  14. 14. Gerät nach einem der Ansprüche 1-13, mit einer gemeinsamen Optik zur Erzeugung parallelen Lichtes für den optischen Messkanal und den optischen Vergleichskanal und durch optische Mittel, zum Beispiel ein Doppelprisma, zur seitlichen Auslenkung des Lichtes für den optischen Vergleichskanal, dadurch gekennzeichnet, dass Blendenöffnungen zur Bestimmung des Querschnitts des Lichtbündels im Mess- und Vergleichskanal derart angeordnet und bemessen sind, dass diese Lichtbündel in der Optik, in den erwähnten optischen Mitteln und in den Kanälen vollständig getrennt verlaufen.
  15. 15. Gerät nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass die dem optischen Messkanal zugeordnete Blendenöffnung längliche Form hat und sich bezüglich der Optik mindestens annähernd über einen Durchmesser derselben erstreckt, und dass die genannten Mittel zur Auslenkung des Lichtes zum optischen Vergleichskanal seitlich des durch die dem optischen Messkanal zugeordneten Blendenöffnung bestimmten Strahlenganges angeordnet sind, derart, dass die grössere Abmessung des Lichtbündels im Messkanal und damit die obere Grenze des Messbereichs annähernd dem Durchmesser der Optik entsprechen.
  16. 16. Gerät nach einem der Ansprüche 1-15, dadurch gekennzeichnet, dass ein Servoregler zum automatischen Verstellen
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    einer Blende im optischen Messkanal zwecks Regelung der
    Lichtstärke im Mess- und Vergleichskanal auf gleiche Werte
    vorgesehen ist.
  17. 17. Gerät nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass
    der Servoregler mit einem Mess- und Anzeigesystem gekoppelt ist, das einen der Stellung der Blende entsprechenden Messwert misst bzw. anzeigt.
  18. 18. Gerät nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass ein Servomotor, der die Position des Systems erfasst, zum Beispiel ein Schritt-Servomotor vorgesehen ist.
  19. 19. Gerät nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, dass
    dem Schritt-Servomotor ein Schrittzähler parallelgeschaltet ist, wobei die Stellung des Zählers derjenigen des Schritt-Servomotors bzw. der Blende entspricht.
  20. 20. Verfahren zur Voreinstellung des Gerätes nach einem der Ansprüche 1-19, dadurch gekennzeichnet,dass ohne Mess- oder Normobjekt die beiden Lichtkanäle durch Feineinstellung der Beleuchtungsstärke im Vergleichs-Lichtkanal eingestellt und damit die Anzeige auf Null gebracht wird, während sich im
    Mess-Lichtkanal eine Blende mit Ihrem Betätigungsmikrometer in Nullstellung befindet, oder dass in den Mess-Lichtkanal
    ein Normobjekt mit Sollabmessung eingebracht, die Blende mit
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    mit ihrem Betätigungsmikrometer in Sollmass-Stellung gebracht und die Anzeige durch Einstellung der Beleuchtungsstärke im Vergleichs-Lichtkanal auf Null gebracht wird, worauf anstelle des Normobjekts eine Messobjekt in den Mess-Lichtkanal gebracht wird.
  21. 21. Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass während der Messung eines aus einer Produktionsanlage laufenden Objektes der Nullabgleich nach Entfernen des Objektes aus dem optischen Messkanal oder Wegschwenken des optischen Messkanals vom Objekt erfolgt.
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DE2718807A 1976-05-05 1977-04-27 Gerät zur Messung einer Dimension, insbesondere des Durchmessers, eines Objekts Expired DE2718807C2 (de)

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IT (1) IT1086177B (de)
NL (1) NL7704638A (de)
SE (1) SE7704821L (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0062191A2 (de) * 1981-03-26 1982-10-13 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. Verfahren und Anordnung zur Messung des Ortes oder der Bewegung eines Körpers
US4676648A (en) * 1983-09-27 1987-06-30 Gebr.Hofmann Gmbh & Co Kg Maschinenfabrik Method and apparatus for non-contact determination of run-out of a rotating body
DE3718192A1 (de) * 1987-05-29 1988-12-08 Hommelwerke Gmbh Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche
US4834079A (en) * 1981-03-09 1989-05-30 Temova Establissement Protective cover for legs & joints of hoofed animals

Families Citing this family (54)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4197888A (en) * 1978-02-21 1980-04-15 The Coe Manufacturing Company Log centering apparatus and method using transmitted light and reference edge log scanner
JPS5667704A (en) * 1979-11-08 1981-06-08 Kobe Steel Ltd Automatic nondestructive measuring method for eccentricity of coated welding rod
GB2124760B (en) * 1982-08-05 1986-02-12 Electricity Council Temperature of elongate articles
DE3229264C2 (de) * 1982-08-05 1986-01-02 Dipl.-Ing. Bruno Richter GmbH & Co. Elektronische Betriebskontroll-Geräte KG, 8602 Stegaurach Optisch-elektrische Meßeinrichtung zum Messen der Lage und/oder der Abmessung von Gegenständen
JPS5968606A (ja) * 1982-10-13 1984-04-18 Aichi Boseki Kk 繊維糸条体の太さむら検出装置
DE3422988A1 (de) * 1984-06-22 1986-01-02 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Verfahren und vorrichtung zum messen der querkontraktion einer laenglichen probe
CA1253620A (en) * 1985-04-30 1989-05-02 Jon Claesson Method relating to three dimensional measurement of objects
US4764015A (en) * 1986-12-31 1988-08-16 Owens-Illinois Television Products Inc. Method and apparatus for non-contact spatial measurement
JPH0781833B2 (ja) * 1987-12-07 1995-09-06 日本たばこ産業株式会社 長さ測定装置
US6067379A (en) * 1988-12-09 2000-05-23 Cognex Corporation Method and apparatus for locating patterns in an optical image
JPH086244Y2 (ja) * 1990-08-07 1996-02-21 オムロン株式会社 寸法測定装置
US5371690A (en) * 1992-01-17 1994-12-06 Cognex Corporation Method and apparatus for inspection of surface mounted devices
US5383021A (en) * 1993-04-19 1995-01-17 Mectron Engineering Company Optical part inspection system
US5602937A (en) * 1994-06-01 1997-02-11 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision high accuracy searching
US5801966A (en) * 1995-07-24 1998-09-01 Cognex Corporation Machine vision methods and articles of manufacture for determination of convex hull and convex hull angle
US6026176A (en) 1995-07-25 2000-02-15 Cognex Corporation Machine vision methods and articles of manufacture for ball grid array inspection
US5757956A (en) * 1995-10-31 1998-05-26 Cognex Corp. Template rotating method for locating bond pads in an image
US5754679A (en) * 1995-10-31 1998-05-19 Cognex Corp. Image rotating method for locating bond pads in an image
US5845007A (en) * 1996-01-02 1998-12-01 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for edge-based image histogram analysis
US5872870A (en) * 1996-02-16 1999-02-16 Cognex Corporation Machine vision methods for identifying extrema of objects in rotated reference frames
US5909504A (en) * 1996-03-15 1999-06-01 Cognex Corporation Method of testing a machine vision inspection system
US6298149B1 (en) 1996-03-21 2001-10-02 Cognex Corporation Semiconductor device image inspection with contrast enhancement
US5949901A (en) * 1996-03-21 1999-09-07 Nichani; Sanjay Semiconductor device image inspection utilizing image subtraction and threshold imaging
US6259827B1 (en) 1996-03-21 2001-07-10 Cognex Corporation Machine vision methods for enhancing the contrast between an object and its background using multiple on-axis images
US5978502A (en) * 1996-04-01 1999-11-02 Cognex Corporation Machine vision methods for determining characteristics of three-dimensional objects
US6137893A (en) * 1996-10-07 2000-10-24 Cognex Corporation Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image
US5960125A (en) 1996-11-21 1999-09-28 Cognex Corporation Nonfeedback-based machine vision method for determining a calibration relationship between a camera and a moveable object
US5953130A (en) * 1997-01-06 1999-09-14 Cognex Corporation Machine vision methods and apparatus for machine vision illumination of an object
US6075881A (en) * 1997-03-18 2000-06-13 Cognex Corporation Machine vision methods for identifying collinear sets of points from an image
US5974169A (en) * 1997-03-20 1999-10-26 Cognex Corporation Machine vision methods for determining characteristics of an object using boundary points and bounding regions
US6141033A (en) * 1997-05-15 2000-10-31 Cognex Corporation Bandwidth reduction of multichannel images for machine vision
US6608647B1 (en) 1997-06-24 2003-08-19 Cognex Corporation Methods and apparatus for charge coupled device image acquisition with independent integration and readout
US5978080A (en) * 1997-09-25 1999-11-02 Cognex Corporation Machine vision methods using feedback to determine an orientation, pixel width and pixel height of a field of view
US6025854A (en) * 1997-12-31 2000-02-15 Cognex Corporation Method and apparatus for high speed image acquisition
US6282328B1 (en) 1998-01-28 2001-08-28 Cognex Corporation Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with non-uniform offsets
US6236769B1 (en) 1998-01-28 2001-05-22 Cognex Corporation Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with zero or other uniform offsets
US6381375B1 (en) 1998-02-20 2002-04-30 Cognex Corporation Methods and apparatus for generating a projection of an image
US6215915B1 (en) 1998-02-20 2001-04-10 Cognex Corporation Image processing methods and apparatus for separable, general affine transformation of an image
US6516092B1 (en) 1998-05-29 2003-02-04 Cognex Corporation Robust sub-model shape-finder
US7016539B1 (en) 1998-07-13 2006-03-21 Cognex Corporation Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition
US6381366B1 (en) 1998-12-18 2002-04-30 Cognex Corporation Machine vision methods and system for boundary point-based comparison of patterns and images
US6687402B1 (en) 1998-12-18 2004-02-03 Cognex Corporation Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images
DE19905778A1 (de) * 1999-02-12 2000-08-17 Schlafhorst & Co W Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung wenigstens eines Parameters eines fadenförmigen Körpers
US6684402B1 (en) 1999-12-01 2004-01-27 Cognex Technology And Investment Corporation Control methods and apparatus for coupling multiple image acquisition devices to a digital data processor
US6748104B1 (en) 2000-03-24 2004-06-08 Cognex Corporation Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns
US7006669B1 (en) 2000-12-31 2006-02-28 Cognex Corporation Machine vision method and apparatus for thresholding images of non-uniform materials
US8081820B2 (en) 2003-07-22 2011-12-20 Cognex Technology And Investment Corporation Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns
US7190834B2 (en) * 2003-07-22 2007-03-13 Cognex Technology And Investment Corporation Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image
US7639861B2 (en) 2005-09-14 2009-12-29 Cognex Technology And Investment Corporation Method and apparatus for backlighting a wafer during alignment
US8111904B2 (en) 2005-10-07 2012-02-07 Cognex Technology And Investment Corp. Methods and apparatus for practical 3D vision system
US8162584B2 (en) 2006-08-23 2012-04-24 Cognex Corporation Method and apparatus for semiconductor wafer alignment
DE102008004731A1 (de) * 2007-09-28 2009-04-02 Vienco Gmbh Verfahren und Anordnung zur Bestimmung des Durchmessers eines laufenden Fadens
CN103971457A (zh) * 2013-01-24 2014-08-06 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 掉货检测***
US9679224B2 (en) 2013-06-28 2017-06-13 Cognex Corporation Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2548755A (en) * 1947-12-12 1951-04-10 Standard Electronics Res Corp Optical area measuring system
US2565500A (en) * 1947-08-06 1951-08-28 Deering Milliken Res Trust Control of filamentary material
US2699701A (en) * 1950-08-01 1955-01-18 Deering Milliken Res Trust Yarn diameter measuring and recording instrument
CH347358A (de) * 1954-11-18 1960-06-30 Standard Telephon & Radio Ag Vergleichsverfahren zur Prüfung mindestens einer radialen Ausdehnung eines Drahtes
US3141057A (en) * 1961-02-15 1964-07-14 Gen Electric Non-contacting measuring apparatus
DE2138999B1 (de) * 1971-07-17 1973-01-04 Aktiengesellschaft Brown, Boveri & Cie., Baden (Schweiz) Verfahren zur ausmessung kleiner objekte

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3187183A (en) * 1960-10-17 1965-06-01 Lindly & Company Inc Balanced output photoelectric gage
US3428813A (en) * 1966-05-04 1969-02-18 Jones & Laughlin Steel Corp Photodiodes and heat sensitive resistors in series controlling the same circuit
FR1590632A (de) * 1968-06-21 1970-04-20
DE2053017A1 (de) * 1970-10-29 1972-05-04 Grundig Emv Verfahren zur berührungslosen Abstandsmessung
US3749500A (en) * 1970-12-23 1973-07-31 Gen Electric Optical caliper and edge detector-follower for automatic gaging
US4021119A (en) * 1975-06-24 1977-05-03 Honeywell Inc. Position gauge
US4037103A (en) * 1975-08-07 1977-07-19 Exxon Research And Engineering Company Diameter measuring system for cylindrical objects

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2565500A (en) * 1947-08-06 1951-08-28 Deering Milliken Res Trust Control of filamentary material
US2548755A (en) * 1947-12-12 1951-04-10 Standard Electronics Res Corp Optical area measuring system
US2699701A (en) * 1950-08-01 1955-01-18 Deering Milliken Res Trust Yarn diameter measuring and recording instrument
CH347358A (de) * 1954-11-18 1960-06-30 Standard Telephon & Radio Ag Vergleichsverfahren zur Prüfung mindestens einer radialen Ausdehnung eines Drahtes
US3141057A (en) * 1961-02-15 1964-07-14 Gen Electric Non-contacting measuring apparatus
DE2138999B1 (de) * 1971-07-17 1973-01-04 Aktiengesellschaft Brown, Boveri & Cie., Baden (Schweiz) Verfahren zur ausmessung kleiner objekte

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4834079A (en) * 1981-03-09 1989-05-30 Temova Establissement Protective cover for legs & joints of hoofed animals
EP0062191A2 (de) * 1981-03-26 1982-10-13 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. Verfahren und Anordnung zur Messung des Ortes oder der Bewegung eines Körpers
EP0062191A3 (en) * 1981-03-26 1984-12-27 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Method and apparatus for measuring the position or displacement of a body
US4685804A (en) * 1981-03-26 1987-08-11 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewadten Forschung E. V. Method and apparatus for the measurement of the location or movement of a body
US4676648A (en) * 1983-09-27 1987-06-30 Gebr.Hofmann Gmbh & Co Kg Maschinenfabrik Method and apparatus for non-contact determination of run-out of a rotating body
DE3718192A1 (de) * 1987-05-29 1988-12-08 Hommelwerke Gmbh Vorrichtung zur messung des abstandes zwischen der vorrichtung und einer messflaeche

Also Published As

Publication number Publication date
AU505346B2 (en) 1979-11-15
DE2718807C2 (de) 1982-09-30
JPS52134466A (en) 1977-11-10
US4115702A (en) 1978-09-19
IT1086177B (it) 1985-05-28
BE854164A (fr) 1977-09-01
FR2350581A1 (fr) 1977-12-02
CA1071396A (en) 1980-02-12
SE7704821L (sv) 1977-11-06
ES458433A1 (es) 1978-11-16
FR2350581B1 (de) 1980-01-18
AU2458877A (en) 1978-11-02
DK184077A (da) 1977-11-06
NL7704638A (nl) 1977-11-08
GB1555874A (en) 1979-11-14
CH611017A5 (de) 1979-05-15

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