DE1157406B - Regelverfahren fuer Spektrographen - Google Patents

Regelverfahren fuer Spektrographen

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DE1157406B
DE1157406B DEL41060A DEL0041060A DE1157406B DE 1157406 B DE1157406 B DE 1157406B DE L41060 A DEL41060 A DE L41060A DE L0041060 A DEL0041060 A DE L0041060A DE 1157406 B DE1157406 B DE 1157406B
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DE
Germany
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intensity
value
proportional
spectrographs
measurement
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Pending
Application number
DEL41060A
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English (en)
Inventor
Dipl-Phys Dr Helmut Frenk
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B39/00Circuit arrangements or apparatus for operating incandescent light sources
    • H05B39/04Controlling
    • H05B39/041Controlling the light-intensity of the source
    • H05B39/042Controlling the light-intensity of the source by measuring the incident light
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

  • Regelverfahren für Spektrographen Die Erfindung befaßt sich mit der automatischen Verstärkungsregelung bei Spektrographen.
  • Im folgenden sind, wie allgemein üblich (vgl. beispielsweise »Physikalisches Taschenbuch« von Hermann Ebert, Verlag Friedrich Vieweg & Sohn, Braunschweig, 1957, S: 250), die Intensität des ungeschwächten Lichtstrahls mit l, und die des geschwächten Lichtstrahls (nach Durchsetzen des Meßobjektes bzw. nach der Meßschwächung) mit 1 bezeichnet. Des weiteren wird als bekannt vorausgesetzt, daß in einem Zweistrahlgerät zwei identische Strahlen vorhanden sind, deren ungeschwächte Intensität für beide = 1o, mit Meßobjekt bzw. Meßschwächung = I ist. Bei nach der Wechsellichtmethode arbeitenden Geräten erhält man bekanntlich eine der Intensität I, proportionale Spannung am Verstärkerausgang, wenn die Differenz = 1o, also ein Strahl völlig abgedunkelt ist. Außerdem wird als allgemein bekannt vorausgesetzt, daß in einem geschlossenen Regelkreis der tatsächlich gemessene Wert der zu regelnden Größe als Istwent, der vorgegebene, willkürlich eingestellte Wert als Sollwert bezeichnet wird.
  • Bekanntlich hat bei Zweistrahlspektrographen die Lichtintensität im allgemeinen keinen Einfluß auf das Meßergebnis. Es hat sich jedoch gezeigt, daß insbesondere bei automatisch registrierenden Geräten die Schwankungen der Intensität des Lichtes nicht beliebig groß sein dürfen, da bei Überschreiten eines gewissen Wertes das Dämpfungsverhalten des Gerätes sich ändert, so däß bei schnellem Registrieren ; schmale Banden fehlerhaft wiedergegeben werden. Es sollte daher die Größe die ja die gesamte Lichtausbeute sowie die elektrische Verstärkung des Gerätes mit umfaßt, etwa zwischen den Grenzen ±40% konstant gehalten werden.
  • Diese Konstanz wurde mit genügender Genauigkeit bisher beispielsweise durch eine entsprechende Steuerung der Spektrographenspalte erreicht. Dabei mußte man aber in Kauf nehmen, daß innerhalb von Banden, die in beiden Strahlengängen auftreten, z. B. Banden der Luft oder von Lösungsmitteln, das Gerät überdämpft war und daher nicht einwandfrei registrierte. Um nun aber auch an diesen Stellen zu einer einwandfreien Aufzeichnung zu kommen, mußte man die Steuerungsanordnung durch eine Regelanordnung ersetzen, bei der automatisch der jeweilige Spannungspegel gemessen und automatisch nachgeregelt wird. Diese Nachregulierung kann entweder durch Änderung der öffnungen der Spektrographenspalte oder durch Variieren der elektrischen Verstärkung oder durch gleichzeitige Anwendung beider Maßnahmen erfolgen.
  • So ist bereits ein Spektralapparat bekannt, bei dem ein Meß- und Vergleichsstrahlenbündel abwechselnd auf einen Strahlungsempfänger geleitet werden und bei dem die auf diesen Empfänger fallende Strahlung durch einen zusätzlichen Unterbrecher periodisch unterbrochen und das Ausgangssignal des Empfängers einem Demodulator zugeführt wird, der ein Signal liefert, das der Differenz der Intensitäten von Meß- und Vergleichsstrahlenbündel entspricht. Durch dieses Signal wird eine Abschwächvorrichtung für das Vergleichsstrahlenbündel gesteuert, deren Verstellweg den Meßwert der Anordnung darstellt, der proportional der Schwächung a des Meßstrahlenbündels verläuft. Das Ausgangssignal wird gleichzeitig einem zweiten Demodulator zugeführt, der ein Signal liefert, das der Summe der Intensitäten von Meß- und Vergleichsstrahlenbündel entspricht. Das Ausgangssignal dieses Demodulators wird proportional zu dem von der Stellung der Abschwächvo.rrichtung abhängigen Faktor verstärkt, so daß ein Signal gebildet wird als Maß für die Intensität des Vergleichsstrahlenbündels vor dem Eintritfsspalt. In Abhängigkeit --von* diesem Signal werden Mittel gesteuert, die die Intensität des Vergleichsstrahlenbündels an dem Eintrittsspalt konstant halten.
  • Dies bedingt aber die Verwendung einer hyperbolischen Funktion, deren Verarbeitung und Auswertung unangenehm ist und deren Verarbeitung zwangläufig zu einem hohen Aufwand an Mitteln führt. Darüber hinaus aber muß bei diesem Gerät immer ein a-Wert bestimmter Mindestgröße vorgegeben sein, da für kleiner werdende und sich dem Wert Null nähernde a-Werte sich der Wert schnell dem Wert Unendlich nähert. Das bedeutet abr, daß in diesem Bereich der Regler nicht mehr einwandfrei arbeiten kann.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein neues Verfahren zu schaffen, das im Hinblick auf Bekanntes .bei mindestens gleicher erreichbarer Meßgenauigkeit den Aufbau einer einfacheren, keine nach einer hyperbolischen Funktion arbeitenden Teile enthaltenden und daher zu ihrer Verwirklichung einen geringeren Aufwand erfordernden Regelanordnung gestattet.
  • Gegenstand der Erfindung ist daher ein Verfahren zur Regelung des Spannungspegels proportional der Intensität 1, des ungeschwächten Vergleichsstrahlenbündels bei Zweistrahlspektrographen mit optischem Abgleich, bei denen eine Spannung proportional zur Intensität 1 des Messtrahlenbündels = a - 1o gewonnen wird, wobei a die Durchlässigkeit des Meßobjektes darstellt. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, das durch Multiplikation des konstanten, der Intensität des ungeschwächten Vergleichsstrahlenbündels entsprechenden Sollwertes 1o mit dem dem Verstellweg der Abschwächvorrichtung proportionalen Faktor a ein neuer Sollwert a - 1o erzeugt wird, der anschließend mit dem unveränderten, der Intensität des Messtrahlenbündels entsprechenden IstwertI verglichen wird.
  • Ein besonders einfache Anordnung zur Durchführung des Verfahrens ist in der Zeichnung dargestellt. Bei dieser Anordnung ist die in bekannter Weise gewonnene, den Meßwert 1;,t beinhaltende Spannung über einen Verstärker 10 an einen Widerstand 11 angelegt, der mit dem einen Eingang eines Differenzverstärkers 12 verbunden ist. Die für den zweiten, Eingang dieses Verstärkers. notwendige Bezugsspannung wird einer Quelle 13 entnommen, der in bekannter Weise ein Widerstand 14 in Reihe sowie eine Zenerdiode 15 parallel geschaltet sind. Parallel zur Zenerdiode ist ein lineares Potentiometer 16 geschaltet, an dem die Größe der Bezugsspannung von Hand eingestellt werden kann. Der Schleifer dieses Potentiometers ist mit dem einen Wicklungsende eines weiteren lin aren Potentiometers 17 verbunden, dessen Schleifer mit denn zweiten; Eingang des Verstärkers 12 in Verbindung sWht und von der nicht dargestellten Schreibeinrichtung des Spektrographen in die Stellung a gesteuert wird-.
  • Nun sei angenommen, das der Istwert von 1o während der folgenden Messung unverändert bleibt. Wird nun beispielsweise eine solche Bande durchlaufen, das der Wert a von 9011/o auf 101/o abfällt und anschließend' wieder auf 80% ansteigt, so fällt auch die am Widerstand 1I anstehende Spannung, die ja dem Wert Isst ,entspricht, beispielsweise von 900 mV auf 100 mV, um anschließend wieder auf 800 mV anzusteigen. Dabei würden dem nicht gemessenen Wert von 1o immer 1000 mV = 1 V entsprechen.
  • Das Potentiometer 16 sei -so eingestellt, daß der im beschriebenen Regelkreis anstehende Sollwert von 1o am oberen Ende des Potentiometers 17 = 1 V ist. Der Schleifer dieses Potentiometers 17 wird von der Schreibeinrichtung des Gerätes aus ebenfalls von 90 % (= 900 mV) über 1011/o (= 100 mV) auf 80 % (= 800 mV) bewegt. Dadurch aber bleibt am Eingan@g des Verstärkers 12 die Differenz der Spannungen stets gleich Null.
  • Hätte sich dagegen beispielsweise beim Durchfahren des Spektrums oder infolge von Netzschwankungen der Istwert von 1, geändert, so daß er nicht 1000 mV, sondern nur 900 mV entspricht, so würden bei 90 0lo statt 900 mV auch nur 810 mV, bei 1011/o statt 100 mV nur 90 mV usw. am Widerstand 11 als Istwert von 1 gemessen. An den Eingängen des Verstärkers 12 läge also eine Spannungsdifferenz von 90 bzw. 10 bzw. 80 mV an.
  • Ein dem Verstärker nachgeschalter Motor 18 kann auf die Stellung des Schleifers eine Potentiometers in der Registriereinrichiung und dem dargestellten Regelkreis gemeinsamen (nicht gezeigten) Vorverstärker und!oder auf die Breite der Spalte des Spektrographen einwirken. Im letzteren Fall wird der optische Wert 10 konstant geregelt, während durch die Verstärkungsregelung mit Potentiometer die dem Wert I, äquivalente Spannung (im obigen Beispiel 1000 mV) konstant gehalten wird.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH: Verfahren zur Regelung des Spannungspegels proportional der Intensität 1o :des ungeschwächten Vergleichsstrahlenbündels bei Zweistrahlspektrographen mit optischem Abgleich, bei denen eine Spannung proportional zur Intensitätl des Messtrahlenbündels = a - I, gewonnen wird, wobei a die Durchlässigkeit des Meßobjektes darstellt, dadurch gekennzeichnet, das durch Multiplikation des konstanten, der Intensität des ungeschwächten Vergleichsstrahlenbündels entsprechenden Sollwertes 1o mit dem dem Verstellweg der Abschwächvorrichtung proportionalen Faktor a ein neuer Sollwert a - 1p erzeugt wird, der anschließend mit dem unveränderten, der Intensität des Messtrahlenbündels entsprechenden Istwert I verglichen wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr.1104 727,1111846; deutsches Gebrauchsmuster Nr.1741698; deutsche Patentanmeldung L 14656 VIII b/21 c (bekanntgemacht am 14.7.1955); schweizerische Patentschrift Nr. 243 714; französische Patentschoten Nr.132 094, 1214 407, 1080 481; Regelungstechnik, VDE-Verlag, 1954, S. 44, 45; Regelungstechnik, 1(1953), S. 251 bis 257, Fig. 3; Electronic Engineering, 23 (1951), S. 59.
DEL41060A 1962-01-26 1962-01-26 Regelverfahren fuer Spektrographen Pending DE1157406B (de)

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DE1222281B (de) * 1964-03-10 1966-08-04 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Spaltprogrammsteuerung fuer Gitter-Spektral-photometer
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