DE2708702A1 - Selektionstreiberschaltung - Google Patents
SelektionstreiberschaltungInfo
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Description
Böblingen, den 28. Februar 1977 moe-rs/bb
Anmelderin:
International Business Machines Corporation, Armonk, N.Y. 10504
Amtliches Aktenzeichen:
Neuanmeldung
Aktenzeichen der Anmelderin: YO 975 022
Vertreter:
Patentassessor Dipl.-Ing. Anton Mönig 7030 Böblingen
Bezeichnung:
Selektionstreiberschaltung
7/0703
Die Erfindung betrifft eine Schaltung der im Oberbegriff des
Patentanspruchs 1 bezeichneten Art.
Zwischen den Wortleitungstreiber und die zugehörige Wortleitung
ist bei bekannten Schaltungen der eingangs genannten Art gewöhnlich ein Schaltelement in Form eines Feldeffekttransistors
eingefügt, dessen in einem früheren Zeitintervall aufgeladene
Gate-Kapazität in Abhängigkeit vom Decodiererausgang entladen wird oder nicht. Soll die betreffende Wortleitung selektiert
werden, bleibt das Gate aufgeladen und das Wortleitungspotential kann angehoben werden. Diese Veränderung des Wortleitungspotentials
wird auf eine bistabile Kippstufe mit kreuzgekoppelten Schaltungselementen gekoppelt, so daß eines der kreuzgekoppelten
Schaltelemente eingeschaltet wird und an seinem zugehörigen Schaltungsknoten Massepotential aufweist, über die Kreuzkopplung
liegt dieses Massepotential am Gate des anderen Schaltungselementes, das dadurch ausgeschaltet gehalten wird und so
die damit verbundene Wortleitung von Massepotential getrennt hält, wenn der entsprechende Wortleitungstreiber eingeschaltet
ist. Ist das Gate des Schaltelementes zwischen dem Wortleitungstreiber und der Wortleitung entladen (unselektierter Zustand),
kann keine Potentialänderung auf die Wortleitung übertragen werden, so daß das in selektiertem Zustand durch die Potential-1
änderung eingeschaltete Schaltungselement der bistabilen Kippstufe gesperrt bleibt und an seinem Schaltungsknoten einen
hohen Potentialwert aufrecht erhält. Dieses hohe Potential wird über die Kreuzkopplung auf das Gate des anderen Schaltungselementes
in der Kippstufe geleitet, so daß dieses einschaltet. Dadurch wird an die damit verbundene Wortleitung Massepotential
angelegt und solange aufrechterhalten, wie der unselektierte Zustand andauert. Schaltungen dieser Art sind hinsichtlich der
mindestens drei dafür benötigten Schaltelemente sowie der dabei auftretenden Gleichstromverlustleistung mit ihrer nachteiligen
Auswirkung auf die Packungsdichte nicht befriedigend.
709837/0703
YO 975 022
Bei einem anderen Schaltungskonzept dieser Art kommt man zwar
mit weniger Aufwand aus, nach einmal erfolgter Selektion einer bestimmten Wortleitung sind die nicht selektierten Wortleitungen
jedoch potentialmäßig nicht fixiert, so daß z. B. bei Potentialänderungen auf den Bitleitungen über kapazitive Kopplungseffekte
Selektionsfehler, d. h. Fehlselektionen unerwünschter Speicherstellen, vorkommen können.
Aufgabe der Erfindung ist es, derartige Selektionstreiberschaltungen
in der Richtung weiter zu verbessern, daß während der gesamten Selektionszeit einer bestimmten Auswahlleitung
die übrigen nichtselektierten Auswahlleitungen mit geringem
Aufwand an zusätzlichen Schaltelementen zuverlässig gegen Fehlselektionen infolge Störeinkopplungen geschützt sind.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung die im Patentanspruch
1 gekennzeichneten Maßnahmen vor. Merkmale vorteilhafter Weiterbildungen der Erfindung finden sich in den Unteransprüchen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen unter Zuhilfenahme der Zeichnungen näher erläutert.
Es zeigen: Fign. 1 und 2
Fign. 3 und 4
ein erstes Ausführungsbeispiel der Erfindung in einest teilweise schematischen elektrischen
Schaltbild (Fig. 1) sowie in einem Impulsdiagranm zur Erläuterung des Betriebsablaufs
und
ein demgegenüber weitergebildetes zweites Ausführungsbeispiel der Erfindung ebenfalls
in seinem elektrischen Schaltbild (Fig. 3) sowie einem erläuternden Impulsdiagramra
(Fig. 4).
709R37/0703
In Fig. 1 ist - allgemein mit 1 bezeichnet - eine Wortleitungs-Kleramschaltung
dargestellt, die mit einer Wortleitung 2 für ein Speicherfeld gekoppelt ist und einen Decodierer 3
mit mehreren steuerbaren Schaltern 4 aufweist. Die steuerbaren Schalter 4 sind dort als Feldeffekttransistoren mit Gate-Elektroden
5 dargestellt, wobei jede Gate-Elektrode 5 mit einer der Adreßleitungen 6 verbunden ist und die übrigen FET-Anschlüsse
(Source und Drain) jeweils parallel zwischen die Leitungen 7 und 8 geschaltet sind. Am einen Ende der Leitung 7
ist ein steuerbarer Schalter in der Form des Feldeffekttransistors 9 vorgesehen. Bei den in diesem Ausführungsbeispiel
angesprochenen Transistoren kann es sich beispielsweise um HPN-Feldeffekttransistoren vom Anreicherungstyp handeln. Die
Gate-Elektrode 10 des Transistors 9 ist mit einer Impulsspannung sguelIe 11 verbunden, die eine mit φ1 bezeichnete
Spannung abgibt. Mit der Drain-Elektrode des Transistors 9 ist eine Spannungquelle 12 für +V verbunden.
Am anderen Ende der Leitung 7 ist ein Transistor 13 vorgesehen, dessen Gate-Elektrode 15 <|>2-Signale von der Impulsspannungsquelle
14 erhält. Mit seiner Drain-Elektrode ist der Transistor 13 mit der Gate-Elektrode 16 des Transistors 17
verbunden. Dessen Source-Elektrode ist an die iiortleitung 2
und einen Transistor 18 angeschlossen. Am Drain-Anschluß von Transistor 17 liegt eine Impulsspannungsquelle 19 für die mit
VWL bezeicnneten Signale. Am Source-Anschluß von Transistor
18 liegt ein Referenzpotential 20, vorzugsweise Massepotential. Zwischen der Gate-Elektrode 16 und der Wortleitung 2
ist ein sog. Bootstrap-Kondensator 21 vorgesehen. Mit der Gate-Elektrode des FET 18 ist die bereits erwähnte Leitung
8 verbunden, an der parallel jeweils die Source-Elektroden der Transistoren 4 des Decodierers 3 liegen. Ära anderen Ende
der Leitung 8 ist ein Transistor 23 vorgesehen, dessen Source-Elektrode mit dem Referenzpotential 20 (Massepotential)
und dessen Gate-Elektrode 24 mit einer Impulsspannungsquelle
709837/0703
25 für die invertierten φ 1-Signale verbunden ist. Lediglich
der Vollständigkeit halber wird darauf hingewiesen, daß bei tatsächlichen Speichern eine Vielzahl derartiger Wortleitungen
2 vorgesehen sein können, die jeweils mit einer solchen beschriebenen Schaltung (entsprechend 1) inklusive eines zugeordneten
Decodierers (ensprechend 3) zusammenhängen.
Unter Hinzuziehung von Fig. 2 soll die Arbeitsweise der Klemmschaltung
nach Fig. 1 näher erläutert werden. Während des mit I bezeichneten Zeitintervalls für die Adreßauswahl sind die
Impulsspannungsquellen für φ1 und φ2 eingeschaltet, während
die Impulsspannungsquellen für ^T und V„L ausgeschaltet sind.
Infolge der positiven Spannung an den Gate-Elektroden 10 des Transistors 9 und 15 des Transistors 13 kann über die leitenden
Transistoren 9 und 13 die mit der Gate-Elektrode 16 des Transistors 17 verbundene Kapazität auf ungefähr +V aufgeladen
werden, über den leitenden Transistor 17 wird damit an
die Wortleitung 2 das zu diesem Zeitpunkt Massepotential aufweisende V.„-Signal der Impulsspannungsquelle 19 angelegt.
Bekanntermaßen liegt im Auswahlzustand der Wortleitung 2 keine der Adreßleitungen 6 auf Einschaltpotential, so daß
keiner der Transistoren 4 des Decodierers 3 leitend ist. Lediglich Transistor 17 ist über die Leitung 7 mit den
Transistoren 13 und 9 eingeschaltet. Handelt es sich dagegen =bei der Wortleitung 2 um eine unselektierte Wortleitung, ist
mindestens einer der Transistoren 4 über ein entsprechendes Potential auf einer der Adreßleitungen eingeschaltet. In dem
Fall ist im Zeitintervall I zusätzlich zu Transistor 17 Transistor 18 leitend, so daß darüber an die Wortleitung 2 Massepotential
angelegt wird. Der Einschaltweg für Transistor 18 geht über die Gate-Elektrode 22, die Leitung 8, einen der
Transistoren 4, schließlich über Transistor 9 (gesteuert von φ1) auf die +V-Spannungsquelle 12.
/Π703
Im Zeitintervall II schaltet die Impulsquelle für φ1 ab, während
die für ^T entsprechend einschaltet. φ2 bleibt eingeschaltet.
Infolge des nunmehr leitenden Transistors 23 werden die Gate-Kapazitäten der Transistoren 17 und 18 entladen, wobei
der Entladeweg für Transistor 17 im Falle einer unselektierten Wortleitung über einen der Transistoren 4 des Decodierers
3 führt. Handelt es sich um eine selektierte Wortleitung ist keiner der Transistoren 4 leitend, so daß für die Entladung
des Gates 16 trotz des Leitzustandes für die Transistoren 13 und 23 kein Entladungsweg vorliegt. Am Ende des Zeitintervalls
II ist das Gate 22 auf Massepotential entladen und das Gate 16 entweder ebenfalls entladen oder aber noch aufgeladen,
je nachdem ob die Wortleitung 2 selektiert oder nichtselektiert ist.
Zu Beginn des mit III bezeichneten nächsten Zeitintervalls sind TT und Φ2 ab- und Φ1 eingeschaltet. Bei selektierter
Wortleitung 2 liegt für Transistor 17 die Einschaltbedingung vor; der φ 1-Impuls kann sich aber nicht auswirken, da wegen
des gesperrten Transistors 13 ^2-Impuls) die kapazitive Aufladung am Gate 16 unbeeinflußt bleibt. Tritt deshalb im Anschluß
an das Zeitintervall III das V^-Signal der Impulsquelle
19 auf, wird dieser Wortleitungstreiberimpuls über
Transistor 17 auf die Wortleitung 2 gelangen.
Im Fall einer nichtselektierten Wortleitung waren zu Beginn des Zeitintervalls III die Gate-Kapazitäten der Transistoren
17 und 18 entladen. Beim Auftreten des φ1-Impulses kann wegen
des nicht vorhandenen φ2-Impulses die Gate-Kapazität des Transistors
17 wegen des gesperrten Transistors 13 nicht aufgeladen werden. Da jedoch mindestens einer der Transistoren 4
des Decodiereis leitend ist, kann die Gate-Kapazität des Transistors 18 über einen dieser Decodier-Transistoren sowie
Transistor 9 aufgeladen v/erden. Unter diesen Umständen wird
709837/0703
über Transistor 18 an die Wortleitung 2 das Referenzpotential 20 (Hassepotential) angelegt. Es ist somit ersichtlich, daß
Wortleitungen im Falle der Selektion mit ihrer Worttreiber-Impulsquelle (über den leitenden Transistor 17) verbunden sind
und im unselektierten Fall über den dann leitenden Transistor
18 an Massepotential gelegt werden. Ist die Wortleitung 2 über den Transistor 18 an Massepotential gelegt, bleibt dieser Zustand bis zur Selektion einer neuen Adresse bestehen, so daß
über die (selektierten) Wortleitungen die jeweiligen Signale an die Speicherzelle(n) gelegt werden können. Die Gefahr, daß
eine Kopplung auf andere nichtselektierte Wortleitungen vorkommen kann, ist durch die Maßnahme nach der Erfindung ausgeschaltet. Soweit ggf. ein Transistor 23 entsprechender Transietor nicht im Decoder 3 vorgesehen sein sollte, wäre demnach lediglich ein Mehraufwand von zwei Transistoren, nämlich
18 und 23, bzw. bei schon vorhandenem Transistor 23 lediglich ein einziger zusätzlicher Transistor 18 erforderlich.
In Fig. 3 ist in einem schematischen elektrischen Schaltbild
ein· weitere Ausführungsform der Erfindung dargestellt, die
zwar einen zusätzlichen FET erfordert, dabei jedoch nur noch einen Auflade- und einen Entladezyklus erfordert. Mit dem
ersten Ausführungsbeispiel übereinstimmende Elemente sind gleich bezeichnet. Der einzige Zusatz in Fig. 3 ist der
steuerbare Schalter in Form des Feldeffekttransistors 26. Dessen Gate-Elektrode 27 führt auf die Leitung 7, die wiederum
an die Source-Elektrode des Transistors 13 angeschlossen ist.
Dieser zusätzliche FET 26 erlaubt das Anlegen oder Nichtanlegen von Massepotential an die Wortleitung 2 in zwei Zeitintervallen im Gegensatz zu den drei Zeitintervallen bei dem
in Verbindung mit den Fign. 1 und 2 besdiriebenen ersten Ausführungsbeispiel. Fig. 3 soll nun im Zusammenhang mit dem
Impulsdiagramm nach Fig. 4 näher betrachtet werden. Es ist dabei noch einmal festzustellen, daß bei selektierter Wortlei-
709837/0703
ΛΌ
tung 2 die Gate-Kapazität des FLT 17 über die Transistoren und 13 sowie die Leitung 7 aufgeladen ist. Da im Falle der
selektierten Wortleitung keiner der Transistoren 4 im Decodierer
leitend ist, wird keine Ladung über den eingeschalteten FKT 26 auf das Gate 22 des Transistors 18 geleitet. Am Ende
des Zeitintervalls I wird φ1 ausgeschaltet, während φ2 anbleibt.
Mit dem Abschalten von φ1 wird "φΤ eingeschaltet, wodurch
Transistor 23 leitend wird und an die Leitung 8 Massepotential legt. Während dieser Zeit wird der FET 26 leitfähig
gehalten, weil das Potential am Gate des Transistors 17 über den leitenden Transistor 13 und die Verbindung 28 an Gate
des Transistors 26 anliegt. An Gate 22 des Transistors 18 liegt deshalb Massepotential, wodurch dieser Transistor gesperrt
gehalten wird.
Im Falle der Selektion der Wortleitung 2 werden die Gate-Kapazitäten
beider Transistoren 17 und 18 geladen, da wenigstens einer der Transistoren 4 leitend ist. FET 26 befindet
sich im Leitzustand, da das Potential +V über die Leitungen 7 und 28 an seinem Gate 27 liegt. Auf diese Weise wird an
die Wortleitung 2 im Zeitintervall I über die Transistoren 17 und 18 Massepotential angelegt. Zu Beginn des Zeitintervalls
II wird φ1 ausgeschaltet, während φΤ eingeschaltet wird
und φ2 eingeschaltet bleibt. Weil die Transistoren 13 und 23 sowie mindestens einer der Decodier-Transistoren 4 leitend
sind, wird die Ladung auf der Gate-Kapazität des Transistors 17 nach Masse abgeleitet. Dabei sinkt auch das Potential am
Gate 27 auf Massepotential 20 ab. Da die Source-Elektrode des FET 26 über einen der leitenden Transistoren 4 im Decodierer
3 mit der Source-Elektrode des Transistors 13 verbunden ist, liegen am Gate und an Source von FET 26 jeweils Potentiale,
die in gleicher Weise abnehmen. Folglich schaltet FET 26 nicht ein und die auf der Gate-Kapazität des Transistors 18
befindliche Ladung aus dem Zeitintervall I bleibt erhalten,
709837/0703
- H) ΑΛ
so daß Transistor 18 im Leitzustand bleibt und Massepotential
20 an die Wortleitung 2 anlegt.
Die Herstellung der beschriebenen Schaltungen als integrierte Schaltungen kann in üblicher Weise durchgeführt werden. Statt
der in den Ausführungsbeispielen zugrunde gelegten NPN-Transistoren
können auch PNP-Transistoren vom Anreicherungstyp
eingesetzt werden, wenn die entsprechende Umkehrung der Spannungspolarität
beachtet wird. Die genannten Feldeffekttransistoren brauchen keine besonderen kritischen Eigenschaften
aufzuweisen; typische Spannungswerte sind für die Gate-Spannung etwa 15 Volt, für die Substratspannung etwa -2 Volt und
typische Schwellenspannungswerte betragen 1,5 Volt.
709837/0703
Claims (5)
- PATENTANSPRÜCHETreiberschaltung für Auswahlleitungen, z. B. die Wortleitungen einer Speicheranordnung, mit einer Decodierschaltung für die Zuordnung einer Eingangssignalkombination zum Selektionszustand einer betreffenden Auswahlleitung, dadurch gekennzeichnet, daß mit den Auswahlleitungen jeweils eine steuerbare Klemmschaltung gekoppelt ist, über die bei Nichterfüllung der Decodierbedingung an die betreffende Auswahlleitung ein gegenüber dem Selektionszustand unterschiedliches Referenzpotential, vorzugsweise Massepotential, angelegt wird.
- 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Klemmschaltung einen mit seiner Schaltstrecke zwischen die betreffende Wortleitung und das Referenzpotential, vorzugsweise Massepotential, angeordneten Transistor (18) enthält, an dessen Steuerelektrode jeweils bei Nichterfüllung der Decodierbedingung eine aus der Decodierschaltung (3) abgeleitete iäinschaltspannung angelegt ist.
- 3. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit als Schalter betriebenen Feldeffekttransistoren aufgebaut ist.
- 4. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen eine Impulsspannungsquelle (19) für das Auswahlleitungspotential im selektierten Zustand und das Referenzpotential (20) zwei hinsichtlich ihrer Schaltstrecken in Reihe geschaltete Transistoren (17, 18) angeordnet sind,709837 /0703ORIGINAL INSPECTEDan deren gemeinsamen Verbindungspunkt die betreffende Ausv/ahlleitung (2) angeschlossen ist, daß die Gate-Elektrode (16) des einen Transistors (17) mit einer
Aufladeschaltung (13, 9, 11, 12) und die Gate-Elektrode (22) des anderen Transistors (18) mit einer demgegenüber zeitversetzt wirksamen Entladeschaltung (23, 25) auf das Referenzpotential verbunden ist, daß zwischen den Gate-Elektroden die den Decodierer (3) bildenden
Transistoren (4) als zueinander parallele Schaltstrekken vorgesehen sind, wobei in einem ersten Zeitintervall (I) die Aufladung der Gate-Kapazität des einen
Transistors (17), in einem zweiten Zeitintervall (II) im selektierten Zustand die Entladung der Gate-Kapazität des anderen Transistors (18) bzw. im unselektierten Zustand auch der Gate-Kapazität des einen Transistors (17) und schließlich in einem daran anschließenden
dritten Zeitintervall (III) die Aufladung allein der
Gate-Kapazität des anderen Transistors (18) durchführbar ist. - 5. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein weiterer : Transistor (26) vorgesehen ist, der mit seiner Schaltstrecke zwischen der Gate-Elektrode (22) des die Auswahlleitung (2) mit dem Referenzpotential (20) verbindenden Transistors (18) und der Entladeschaltung (23, 25) liegt und dessen Gate-Elektrode (27) mit der Aufladeschaltung (9, 11, 12) einerseits sowie mit der \ Gate-Elektrode (16) des einen Transistors (17) gekoppelt ist, und daß über den weiteren Transistor (26) im unselektierten Zustand ein Ladungsabfluß vom Gate (22)
des anderen Transistors (18) verhindert ist.709837/0703
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US (1) | US4074237A (de) |
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CA (1) | CA1097814A (de) |
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |