DE2645408A1 - Schaltungsanordnung zum vergleich von zwischen zwei teilen einer fotodiodenanordnung auftretenden elektromagnetischen strahlungsintensitaeten - Google Patents
Schaltungsanordnung zum vergleich von zwischen zwei teilen einer fotodiodenanordnung auftretenden elektromagnetischen strahlungsintensitaetenInfo
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Description
1005720 Ge 7. Oktober J 976
HONEYWELL IKC.
Honeywell Plaza
Minneapolis, Minn., USA
Honeywell Plaza
Minneapolis, Minn., USA
Schaltungsanordnung zum Vergleich von zwisehen
zwei Teilen einer Fotodiodenanordnung auftretenden elektromagnetischen Strahlungsintensitäten.
Die Erfindung bezieht eich auf eine Schaltungsanordnung zum genauen
Vergleich elektromagnetischer Strahlungsintensitäten und insbesondere auf einen monolithisch integrierten Schaltkreis zum
Vergleich elektromagnetischer Strahlungsintansitäten bei Kameras oder anderen Systemen mit Eingangssignalen in Form von elektromagnetischer
Strahlung. Es gibt eine ganze Reihe von Anwendungsfällen, in denen die Differenz der von verschiedenen Quellen ausgehenden
elektromagnetischen Strahlungsintensität als eine Systemeingangsgröße zu bestimmen ist. Beispielsweise wird bei einer
Kamera das von einer zu fotografierenden Szene einfallende Licht
benutzt, um die Scharfeinstellung der Kamera vorzunehmen. Hierbei werden zwei Bildausschnitte der zu fotografierenden Szene in Beziehung
zueinander gesetzt, örtliche Differenzen hinsichtlich der
Lichtintensität der beiden aufgenommenen Bilder geben ein Maß für den vorliegenden Fokussierungsgrad und die durch den Vergleich
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dieser beiden Bilder erhaltenen Signale, die
<lm*ch diese Differenzen vorgegeben sind, können 'zur automatischen
Fokussierung dor Karaera benutzt werden.
Bei des: Aushärtung solcher Differenzen hinsichtlich der
elektromagnetischen Strahlungsintensitäten ergeben sich
Schwierigkeiten, wenn die Auswertung genau sein soll. Finer der G?:ündo für diese Schwierigkeiten liegt in dem ziemlich
großen Bereich der elektromagnetischen Strahlungsintensitäten,
die church ein solches Verglcichssystem festzustellen sind.
Die bei einem Kamerasystem auftretenden Lichtverhältnisse .
erptrocken sich hinsichtlich der Intensität über mehrere Größenordnungen. Die Feststellung einer genauen Differenz
bei gerinne;* Lichtpegel erfordert eine hohe Verstärkung
ohne daß Rausch- und Störsignale von dem Signalverarbeitungssystem
aufgenommen werden. Aber auch bei hohen Lichtpegeln muß ein solches System wiederum eine genaue Anzeige der
Differenzen zumindest in den Fällen ergeben, in denen die Größe der Differenzen nicht ohnehin bereits zu einer Sättigung
des Ileßsysterns führt. Ferner muß ein solches Meßsystem
die gewünschten Messungen auch bei großen Schwankungen der Umgebungsbedingungen durchführen, ohne daß hierbei die Genauigkeit
der Messung beeinflußt wird. Die bisher vorge- .' schlagenen Schaltungsanordnungen zum Vergleich elektromagnetischer
Strahlungsintensitäten, insbesondere für Licht im siebtbaren Bereich, haben von diskreten Bauelementen oder nur
teilweise integrierten Schaltungen Gebrauch gemacht. Diese Schaltungen unterliegen jedoch bei geringen Signalpegeln
einer Beeinflussung durch Rausch- und Störsignale und sie
weisen thermische Fehlanpassungen auf, indem zwar gleich aufgebaute Systemkomponenten unterschiedliche Charakteristiken
besitzen. Dies führt zu Fehlern, die zu groß sind, um in einem Präzisionssystem geduldet werden zu können.
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2645A08
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung , ein α
Schaltungsanordnung ζ um Vergleich von zv?i sehen zwii Teilen
einer Fotodioclonanordiiung auftretenden elektromagnetische·.))
Strahlungsintensitäten anzugeben, die mit einem hohen MaH
an Genauigkeit über einen weiten Temperaturbereich die
Differenz zweier Strahlungsintensitäten angibt, wobei die Meßgenauigkeit weitgehcndst unabhängig von dem Pegel der
Strahlungsintensität ist. Die Lösung dieser Aufgabe gelingt erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des Anspruches 1
angegebenen Merkmale. Vie it ere Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung sind den unteranSprüchen entnehmbar.
Anhand eines in den Figuren der beiliegenden Zeichnung dargestellten
Ausführungsbeispieles sei die Erfindung im folgenden näher erläutert. Es zeigen:
Figur 1 ein Schaltschema der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung,
Figur 2 den Aufbau eines monolithisch integrierten Schaltkreises für einen Teil der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung,
Figur 3 ein weiteres schematisches Schaltkreisdiagramm einer zu
der vorliegenden Erfindung gehörenden Schaltungsanordnung und Figur 4 ein Blockdiagramm eines von der vorliegenden Erfindung
Gebrauch machenden Systems.
Figur 1 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm einer Schaltungsanordnung für einen monolithisch integrierten Aufbau,
die eine Ausgangsspannung erzeugt, welche dem Logarithmus des Verhältnisses der auf die Fotodioden PD1 und PD9 auffallenden
Strahlungsintensitäten proportional ist. Der Schaltkreis ist in der Lage, ein Ausgangssignal zu erzeugen, welches in Bezug
auf das tatsächliche Verhältnis der Lichtintensitäten nicht mehr als 3 % abweicht. Diese Genauigkeit wird über einen ■
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Temperaturbereich von -18°C bis 5O°C und bei Pegelschv/ankur.gen
der auffallenden Lichtintensitäten bis 3 oder 4 Größ
eraie.lt, wobei gleichzeitig Lichtintensitäten auftreten
die so gering sind, daß sie lediglich Ströme im Nanoampere.-bereich
in den Fotodioden erzeugen.
Fotodioden werden als Lichtsensoren ausgewählt, da Fotodioden
hoher Güte am.s Siliziummaterial hergestellt v/erden können und
diese leicht in monolithisch integrierten Schaltkreisen verwirklicht
werden können. Schließlich weisen Fotodioden als Lichtsensoren Fotoströme auf, die nahezu linear der Intensität
des auffallenden Lichtes zugeordnet sind, wobei diese Linearität über einen weiten Temperaturbereich praktisch unabhängig
von der Temperatur ist.
Jede der Fotodioden PD, und PD« ist auf eine Betriebsspannung
von ungefähr 0 V vorgespannt, wobei diese meist eine leichte Vorspannung in umgekehrterRichtung von 50 bis 200 mV aufweisen.
Dieser Betriebspunkt wird aus zwei Gründen gewählt. Erstens erzeugt
der Leckstrom der umgekehrt vorgespannten pn-Sperrsehicht der Fotodiode, d. h. der Dunkelstrom der Fotodiode, ein unerwünschtes
Fotodioden-Ausgangssignal, das zu der auf die Fotodiode auftreffenden Lichtintensität in keiner Beziehung steht»
Dieser Leckstrom kann durch Verwendung einer Vorspannung von ungefähr 0 V auf ein Miniraum begrenzt werden. Zweitens sollen
die Fotodioden PD, und PD2 nahezu den gleichen Ausgangsstrom
erzeugen, wenn jede mit der gleichen Lichtintensität beaufschlagt wird. Die Erfüllung dieses Erfordernisses wird ebenfalls
durch die Verwendung einer Vorspannung von ungefähr 0 V gefördert.
Der allgemeine Aufbau der Fotodioden ist aus Figur 2 ersichtlich. Auf einem Siliziumsubstrat 20 vom p-Leitfähigkeitstyp
mit einem spezifischen Widerstand von 2 bis 5 SEcm befindet
sich eine epltaxiale Siliziumschicht 21 vom n-Leitfähigkeitstyp mit einem spezifischen Widerstand von ungefähr 1,5 Sc cm.
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Zwo! elektrisch isolierte Bereiche 22 und 23 sind innerhalb
einer Vielzahl solcher Bereiche in dem monolithisch integrierten Schaltkreis dargestellt. Diese Bereiche sind einerseits
durch pn-Halbleitersperrschichten, wie nie zv7inchcn den isolierten
Bereichen 22 und 23 gebildet sind und andererseits durch das Substrat 20 und eindiffundierte Isolationsbereiche
24, 25 und 26 voneinander getrennt. Der isolierte Bereich 22 dient als Kathode für eine der Fotodioden gemäß Figur- 1. Die
pn~llalbleitersperrschicht, die den isolierten Bereich 22 umgibt,
ist die für eine Fotodiodencharakteristik, erforderliche Sperrschicht. Das Substrat 20 und die Isolationsbereiche 24
und 25 dienen als Anode der Fotodiode.
Die in dem Schaltkreis gemäß Figur 1 benutzten Fotodioden müssen verhältnismäßig groß sein, so daß der isolierte Bereich
22 in Bezug auf die bei monolithisch integrierten Schaltkreischips verwendeten Standardgrößen verhältnismäßig groß ist und
etwa eine Größe von 0,3 mm χ 1,0 mm aufweist. Diese verhältnismäßig
große Flächenausdehnung ist erforderlich, um einen ausreichenden Fotodioden-Ausgangsstrorn hinsichtlich des auftreffenden
Lichtes 28 auf die Oberfläche. 27 der Epitaxialschicht zu erzeugen. Die geometrischen /abmessungen der Fotodioden
PD1 und PD„ müssen ferner nahezu identisch sein, um ,
eine nahezu gleiche Signalauswcrtung sicherzustellen. Großflächige
Fotodioden unteirstützen diese Zielsetzung, da bei ihnen kleine Fehler hinsichtlich der geometrischen Abmessungen
von geringerem Einfluß als bei Fotodioden mit kleiner Fläche sind.
Der monolithisch integrierte Schaltkreis gemäß Figur 2 zeigt anstelle des vollständigen monolithisch integrierten Schaltkreises
nur typische Komponenten desselben und ist ferner insofern nur unvollständig dargestellt, als auf die Darstellung
von Ir.olationsschichten und der die Verbindungen herstellenden
Metallisierung verzichtet wurde. Der dargestellte monolithisch
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integrierte Schaltkreis ebenso wie der restliche nicht darger.tr·.'!!te
monolithisch integrierte Schaltkreis werden in herkümm.l
j .ciier Technik borg orj tollt, wobei die Verwendung von Isolation'-.ijchicbtcn
und einer Metallisierung für die Verbindung
der i:y;;,teniteile im Stand der Technik bestens bekannt ist.
Elektrische Kontakte für die Fotodioden können bei der Metallisierung mittels Aluminium hergestellt werden, wobei ein ohiu' .scher
Kontakt mit einem kleinen eindiffundierten Kontaktbereich 29
hergestellt wird und dieser Kontakt als Kathodenkonteikt dient.
Als Anoc7.cinkontP.kt wird ein weiterer obm1 scher Kontakt vorgesehen,
der mit denn Substrat 20 oder irgendeinem der Tsolations-bereicho
24 bi.y 26, vorzugsweise jedoch mit einem der am nächsten
liegenden Isolationsbereiche 24 oder 25 verbunden wird.
Gemäß Figur 1 wird die Vorspannung der Fotodioden PD1 und.PD„
durch bipolare Transistoren Q,,f Q1,, Q1 ς und einen Widerstand
R, bewirkt. Der bipolare Transistor Qno dient als Referenz-Spannungsdiode,
wobei die abfallende Spannung durch die Basis-Emitter-Diodencharakteristik des Transistors und den Strom festgelegt
ist, der über den Widerstand R, fließt und aus der Spannungsquelle V gespeist wird. Der Widerstand R, weist einen
Wert von ungefähr 100 kSt. auf. Der Strom durch den Transistor
Q1-, ist beträchtlich größer als die Ströme durch die Transistoren
Q . oder Q1r, so daß der Spannungsabfall über dem als Diode betriebenen
Transistor Q13 immer leicht größer als der Spannungsabfall
über den Basis-Emitterstrecken der bipolaren Transistoren P1. und Q1C ist. Der Spannungsabfall über dem Transistor Q1-J/
der den Spannungsabfall über den Easis-Einitterstrecken der
Transistoren Q,. und Q15 übersteigt, steht über den Fotodioden
PD1 und PD„ an, wobei dieser Spannungsabfall immer verhältnismäßig
klein ist, sofern die Charakteristiken der Transistoren Q1 ^ bis Q1 ,- aneinander gut angepaßt sind. Wie eingangs festgestellt,
bewegt sich dieser Spannungswert ungefähr zwischen 50 und 200 mV, wobei dieser Wert mit veränderlichen Fotoströmen
Schwankungen unter1iegt.
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Die bipolaren Transistoren Q-, . und Q,r dienen einem weiteren
Zweck. Jeder dieser Transistoren wirkt als Stromwandler, indem
er den in der Fotodiode erzeugten Foto strom der im Emitter Jcr eis
eines jeden Transistors auftritt, in einen ungefähr gleichgroßen Strom im Kollektorkreis dieses Transistors umwandelt, so daß de.v
umgewandelte Strom r d. h. der Kollektorstrom im Kollektorkreis
einer; jeden Transistors durch die in diesem Kreis angeordnete
Last fließt. Der Strom im Kollektorkreis eines jeden der Transistoren Q,, bzw.. Q-jc steht in nahezu linearer Beziehung zu
dem im Emitterkreis auftretenden Strom, wobei diese Beziehung durch die gemeinsame Basisstromverstärkung esc eines jeden dieser
beiden Transistoren im aktiven Betrieb vorgegeben ist. Tatsächlich entspricht der Kollektorstrom nahezu dem Emitterstrom bei
Transistoren hoher Güte, bei denen die Basisstromverstärkung ungefähr den Wert 1 aufweist. Die gemeinsamen Basisstromverstärkungen
müssen erneut sehr genau aufeinander angepaßt sein, wenn der Schaltkreis gemäß Figur 1 die zuvor angedeuteten
Toleranzen erfüllen soll.
Gemäß Figur 2 v/eist der isolierte Bereich 23 einen bipolaren Transistor von der Art auf, wie sie bei dem monolithisch integrierten
Schaltkreis verwendet werden, obgleich hinsichtlich der verschiedenen bipolaren Transistoren innerhalb des integrierten
Schaltkreises hinsichtlich der Größe einige Abweichungen vorgegeben sein können. Der bipolare Transistor besitzt
eine verdeckte Schicht 30, die in den isolierten Bereich 23 eingreift und zusammen mit diesem den Kollektor des Transistors
bildet. Ein elektrischer Kontakt mit dem Kollektor wird durch eine nicht dargestellte Metallisierung in Form eines ohm1sehen
Kontaktes mit einem Kollektor-Kontaktbereich 31 hergestellt, wobei der Bereich 31 ein hochdotierter Bereich von η -Leitfähigkeitstyp
ist. Ein Basisbereich 32 vom p-Leitfähigkeitstyp und ein Hmitterbereich 33 vom η -Leitfähigkeitstyp sind
ebenfalls vorgesehen, wobei geeignete ohm'sche Kontakte mit diesen Bereichen durch eine nicht dargestellte Metallisierung
hergestellt werden.
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Die Transistoren Q1., bis Q-. r- sind alle von dorn im Bereich 2.3
1.5 J. D
dargestellten Typ, wobei alle hinsichtlich ihrer Basis-Emitter-Diodencharakteri
.silk streng aneinander angepasste Werte aufweisen rau σ Ken. Ferner müssen die Transistoren Q. . und Q, r au η
den zuvor erläuterten Gründen eine gut aufeinander abgestimmte
gemeinsame Basisstromverstärkung aufweisen. Diese Forderung beinhaltet t daß die geometrischen Abmessungen dieser Transistoren
bei ihrer Bildung in der Epitaxial schicht einander sehr ähnlich nein müssen. Ferner müssen diese Transistoren im Hinblick
auf ein gleiches Temperaturvcrhalten in benachbar angeordneten
isolierten Bereichen des monolithisch integrierten Schaltkreises angeordnet sein, um zwischen ihnen, auftretende Temperaturunterschiede
zu vermeiden. Schließlich müssen die Transistoren Qw und Q. r jeweils eine gleich hohe Einitterstromverstärkung ß
aufweisen, da diese Transistoren in der Schaltungsanordnung gemaß
Figur 1 nur von sehr kleinen Basisströmen beaufschlagt' werden.
Die Basisströme sind klein im Hinblick auf die kleinen in den Emitterkreisen auftretenden Fotoströme. Die Emitterstroitiverstärkung
muß bei Raumtemperatur 20 oder mehr betragen, bei einem Kollektorstrom von 2 nA für eine einwandfreie Funktion des Schaltkreises.
Gemäß Figur 1 wird die elektrische Last im Kollektorkreis der bipolaren Stromwandlertransistoren Q,. und Q15 durch ebenfalls
bipolare Transistoren der Art, wie sie in dem isolierten Bereich 23 gemäß Figur 2 dargestellt sind, gebildet. Jedoch ist die
Basis eines jeden Transistors mit dessen Kollektor kurzgeschlossen, so daß der Transistor als Diode arbeitet, wobei die Basis-Emitter-Sperrschicht
zur Erzeugung der Diodencharakteristik benutzt wird. Jedem der Transistoren Q, , und Q.,- ist somit eine
Reihe von Dioden zugeordnet, die als Last im Kollektorkreis dieser Transistoren dient.
Im Hinblick auf eine einwandfreie Funktion des Schaltkreises müssen diese Dioden wiederum streng aneinander angepaßte Kennlinien
aufweisen und diese Dioden sind daher in einer Gruppe
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von benachbart angeordneten .isoliori-.cn Bereichen dec rsonolithisch
integrierten Schaltkreisenip« angeordnet. Die Dioden wruen aus
diese): Gruppe abwechselnd ausgewähltf um Strukturunterschiede,
die in dem monolithisch integrierten Schaltkreiscljip auftrete:),
in ihrer Auswirkung auf d;i.e Diodenreihen auf ein Miniifsuja zv
begrenzen. Ein streng aufeinander angepaßtes Teri'pcraiurverhal-ten
der Diodenreihon kann ebenfalls am besten durch diese
gruppenweise Anordnung der Dioden erzielt werden, indem Tempcraturgxödienten
zvrischen einzelnen Dioden soweit wie möglich
eliminiert v/erden. Durch Verwendung einer Anzahl von Dioden werden ebenfalls kleine zufällige D.i fferenzen in der Charakteristik
und j.m Aufbau zwischen den Dioden ausgemi ttelt. Die
Schwankung des Spannungsabfalles über der Diodenreihe auf
Grund zufälliger Kennlinienverschiebungen einer jeden Diode^ die herstellungsbedingt,, materialbedingt usw. sein können,
werden um einen Faktor von 1/ V ~n reduziert, wobei η die /inzahl
der Dioden in einer Reihe darstellt. Dies ergibt sich durch die Tatsache, daß die Charakteristik einer jeden Diode innerhalb
einer Reihe der Charakteristik einer anderen Diode in der anderen Reihe entspricht, was zu einer mittleren gleichmäßigen
Charakteristik führt.
Die Verwendung einer solchen «treingespeisten Diodenreihe im
Ausgangskreis eines Stromwandlers führt zu einer logarithmischen Stron\/Si:>annungs-Signalumwand.lung. Die Ursache hierfür ist in
der typischen Diodenkennlinie vieler Halbleiter-pn-Sperrschichten
zu sehen, die sich wie folgt beschreiben läßt:
1E β 1S (exp^ -D .
Diese Formel kann in der nachstehenden Weise umgeschrieben werden, wenn die Sperrschicht im wesentlichen in Vorwärtsrichtung
vorgespannt ist:
VBE = q-ln (ϊ~>
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In dienen Formeln rcpräsentiert I den Emitterstrom, der als
Jj
Dioden betriebenen Transistoren der Reihe, X den Dioden-Sätticjuftfjsstroir.,
k die Eoltzmann Konstante, q die Eloktronen-3adung
und T die absolute Temperatur.
De;}.- t.i.'i.-iiL'chliche Spannungsabfall über einer Diodenreihe ergibt
sich wie folgt:
V = n—ln(=H) ,
Reihe q 1Q
Reihe q 1Q
wobei η die Anzahl der Dioden einer Reihe repräsentiert.
Eine detaillierte Analyse dieser ersten Stufe des Schaltkreise..'»
gemäß Figur 1 führt zu einem weit komplexeren Ausdruck, wenn alle Fehlerquellen berücksichtigt v/erden, um eine Fehleraufstellung
für jede Schaltkreisstufe vorzugeben. Eine solche Aufstellung legt die Anpassungserfordernissef die Kompensationserfordsrnisse
und andere Schritte fest, die bei der Auslegung dieser Stufe zu berücksichtigen sind, wenn die vorgegebene
GcFamtfehlertoleranz für den Schaltkreis gemäß Figur 1
eingehalten werden soll. Die detaillierte /analyse baut auf den Gesarat-Foto ütrörnen als Schaltkreiseingängen anstelle der Lichtintensitäten
auf, da eine deutliche lineare Beziehung zwischen der Lichtintensität und dem Fotodiodenstrom besteht, die weitgehendst
temperaturunabhängig ist.
Die unten angegebenen Formeln geben die an den Kollektoren der bipolaren Stromwandlertransistoren Q, . und Q, t- anstehende Differenzspannung
an. Diese Differenzspannung ist eine Spannung, die in der Praxis nicht gemessen werden kann, da die Verwendung eines
Tasters trotz seines hohen Eingangswiderstandes auf Grund der niedrigen fließenden Ströme das Verhalten des Schaltkreises
stark verstimmen würde. Der Strom I , der von der aus den Transistoren Q,, und Q,6 zusammen mit den Widerständen R, und
R. gebildeten Stromsenke aufgenommen wird, bildet einen getrennt
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festlegbaren Parameter . Die Formel für die Spannung V. , d. h.
die Differenz der Spannungen an den Kollektoren der Transistoren lautet wie folgt:
Q, t und
ν. ~E£i
in q ' ·
:"LPD2ai5
320\ Sl S2 S3 S4 S5 S6
(1"αΐ7)(1~αΐ9) 1E
1Si7 1SIg ·*· ^20
Vinq eXp _ m
2kT
e2°
1 +
J-Ia
1 q
In diesen Formeln repräsentiert
bzv/.
den Fotostrom
der jevie.iligen Fotodiode, °C die Basisstromverstärkung, wobei
m sich auf die Nummer de:s jeweiligen Transistors bezieht, "J0
den Sättigungsstrom der Basis-Emitterdiode des jeweiligen Transistors, wobei m die Nummer des jeweiligen Transistors bezeichr
net, I_ den Emitterstrom des Transistors, wobei m wiederum
die Nummer des jev;eiligen Transistors bezeichnet, k die Boltzmann
Konstante, q die Elektronenladung und T die absolute Temperatur.
Wie aus den vorstehenden Gleichungen hervorgeht, sind die
Kollektoren der Transistoren Q,. und
zwischen denen die
Differenzspannung V. auftritt, an einen Differenzverstärker
angeschlossen, der aus den bipolaren Transistoren Q,, bis Q^0
und den Widerständen R2 bis R. besteht. Die große Empfindlichkeit
der an die Kollektoren der Transistoren Q14 und Q15 angeschlossenen
Last, die eine Verwendung eines extern angeschlossenen Meßtasters ausschließt, erfordert ebenfalls, daß
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die Bo In stung durch den Different vor stärker nur sehr gering ist.
Diese geringe Belastuny wird erreicht durch die Verv/onclung vr-n
zwei .in einer Darliiigton--.'ichaltui-)g betriebenen Transistorpc^-xt-n,
die den Differenzverstärker bilden, wobei die Transi.storpaaro
der Darlingtonschaltung einen Verstärkungsfaktor von ungefähr 6.000 oder mehr bei Zimmertemperatur und bei einem Kollektorstrom
eines jeden Paares von 1 tih ergeben.
Ferner iv.uß die Kennlinie der Dariington-Transistorpaare sehr
gut aneinander eingepaßt sein und es v/erden daher die Transistoren
Q17 bis Q„ in. ihrer Geometrie sehr ähnlich aufgebaut und in den
vier Quadranten eines Quadrates angeordnet, so daß die Transistoren
in dem monolithisch integrierter! Schaltkreis alle einander
benachbart Bind. Die Transistoren in diagonal gegenüberliegenden Quadranten werden zur Bildung eines Darlington-Transistorp'aares
benutzt, wodurch eine verbesserte Anpassung der Kennlinien erzielt wird.
Wie zuvor erwähnt, dient der Transistor Q,g als Stromsenke für den Differenzverstärker. Der Senkenstrora I wird durch den Widerstand
im Emitterkreis des Transistors Q,g festgelegt, wobei dieser
Widc=rstand R- einen Wert von ungefähr 40 kß aufweist. Der
bipolare Transistor Q13 und der Widerstand R1 dienen der Bildung
einer geeigneten Bezugsspannung für die Basis-Emitterstrecke des Transistors Q-, f Da. eine bessere Temperaturkennlinie erzielt
werden kann, wenn die Transistoren O1 ^ und Q1, einander benach--
Xj Id
bart sind, wird der Transistor Q16 in dem monolithisch integrierten
Schaltkreis dem Transistor Q13 benachbart angeordnet,
so daß die Transistoren Q, o bis 0, c ebenfalls in vier Quadranten
'±J "Ib
eines Quadrates angeordnet sind. Diese Art der Ausbildung einer Stromsenke ist ferner relativ unabhängig von der Spannungsversorgung
V1.
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Der Differenzverstärker besitzt- KoUektor-Lastwiderstände R,.
unc! R,,. Diese Wider stände müssen wiederum eine genau angepaßte
Größe aufweisen und sie sind duber in zv;ei Reihen Widerstände
aufgeteilt, wobei alle vio.r Wi derstände air. Quadranten eines
Quadrates in dein monolithisch Integrierten Schaltkreisaufbau
einander benachbart sind. Widerstände in diagonal gegenüberliegenden Quadranten sind in Reihe geschaltet und bilden die
Widerstände R~ und R,, wobei jeder Kollektor--Lastwiderstand
einen Viert von ungefähr 100 kQ. aufweist.
Ein Differenzverstärker, der nicht Teil eines Rückführsehaltkreises
ist, wie dies oftmals bei der Verwendung eines Operationsverstärkers
der Fall ist, um bei analogen integrierten Schaltkreisen eine geeignete Verstärkung und Last zu bilden,
wird im vorliegenden Frill gewählt, um eine Last für die Kollektoren der Transistoren Q, . und Q,r vorgegeben. Dieser
Differenzverstärker wird nicht mir zur DifferenzverStärkung
der Eingangsspannung V.. und zur Vorgabe eines hohen EingangswiderStandes
benutzt, sondern auch als offener Kreis, um eine Begrenzungscharakteristik für größere Werte der Spannung V.
durch den Differenzverstärker zu erzielen. Die Ausgangsspannung des Differenzverstärkers V , wächst,nachdem der Absolutwert der
Eingangsspannung V. ungefähr 100 mV überschritten hat, nur noch unbedeutend in Abhängigkeit von dieser wachsenden Eingangsspannung
an. Bei Absolutspannungen unterhalb dieses Grenzwertes wächst die Differenz-Ausgangsspannung V, des Differenz-Verstärkers
nahezu linear mit wachsender Eingangsspannung V. Dies bedeutet, daß der Differenzverstärker Grenzen hinsichtlich
seines maximalen und minimalen Ausgangssignales aufweist, über die die Ausgangsspannung V , nicht hinausreicht. Bei größer
werdenden Differenzen hinsichtlich der Lichtihtensitäten auf den Fotodioden PD1 und PD0 bleibt daher das Ausgangssignal des
Differenzverstärkerξ unbeeinflußt.
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Dei der Einfassung dos monolithisch integrierten .Schaltkreises
in ein Gehäuse wc-rcleri bestimmte Toil;-· des Schaltkreise'·;
f die die Fotodioden PD, und PD3 enthalten, von
diesem Gchöuce nicht überdeckt, so daß sie dein Licht ausgesetzt
V/'orden können, dessen Intensität zu vergleichen ist.
Dagegen ist es von Vorteil, venn der verbleibende Teil des
monolithisch integrierten Schaltkroiso:? gegen dar Licht abgeschirmt
ist. Diese Abschirmung kann jedoch häufig nicht vollständig sein. Dan Licht, das auf die ungeschützten Teile
des Schaltkreischipn fällt, verursacht in allen pn-Sperr-schichten
Fotoströine, wobei dies auch für die Darlington-Transistorpciaro
des Diffcrem-verstärkers zutrifft.
Dies stellt eine höchst unerv/ünechte Tatsache im Hinblick
auf die Kennlinie des Differenzverstärkers dar, da di.c Ströme der Basen der Transistoren Q,„ und Q„r keinen alternativen
Stromweg vorfinden und die Transistoren Q,g und Q_ mit niedrigen
Basisströmen arbeiten. Aus diesem Grund sind Dioden D, und D2 zur Ableitung der über der Kollektor-Basis-Halbleitcrsperrschicht
erzeugten Fotoströme der Transistoren Q, c. und Q„„
vorgesehen. Die Dioden D, und D? sind in unmittelbarer Nachbarschaft
der Transistoren Q, „ und Q„ angeordnet, so daß ihre.
Kennlinien aneinander angepaßt sind und sie der gleichen Strahlung ausgesetzt sind. Die Dioden D, und D„ weisen die gleiche
Struktur wie die Transistoren Q-, c, und Qo_ auf, mit der Ausnahme,
daß der Emitterbereich fehlt. Die Dioden D. und D- werden durch
Kollektor-Basis-Sperrschichten gebildet, die den Kollektor-Basis-Sperrschichten der Transistoren Q-.g und Q20 entsprechen,
obgleich sie einen etwas größeren Sperrschichtbereich zwecks Bildung einer Fotostromsenke aufweisen. Es werden daher ungefähr
gleiche oder etwas größere Fotoströme in den Dioden D, und D^ als in den Kollektor-Basis-Spcrrschichten der Transistoren
Q,ρ und Q„ erzeugt. Die Dioden D. und D„ leiten die in
den Kollcktor-Basisdioden der Transistoren Qig und Q20 gebildeten
Fotoströme aus den Basisströmen ab, so daß diese Foto-
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ptröino die Konnlinie des Diffcrenzvorstärkere nicht beein
f Iu;:'. f.; cn.
f Iu;:'. f.; cn.
Die nöglichc Fchlorcmf yL'ollung hinsichtlich der /msgangsspannung
V , des Dif fcrojizverstärkers führt zu folgendem
formelmaßigen Äusdruch ;
formelmaßigen Äusdruch ;
, == I
od ο
od ο
(al8+a20
al8a20)R3
Die in dieser Formel verwendeten Symbole wurden bereits anhand der vorangehenden Gleichungen erläutert. V. errechnet sich aus
einer der vorangehenden Gleichungen. Die Dioden D, und D„ sind
in der vorstehenden Gleichung nicht berücksichtigt.
Es wurde bereits festgestellt, daß die Kollektoren der Transistoren
Q,. und Q-, r in Bezug auf die ein sie angeschlossene
Last sehr empfindlich sind. Aus dem gleichen Grund muß der
Widerstand, der die Last am /ausgang des Differenzverstärkere bildet, sehr hoch sein, wenn sich Lastschwankungen nicht auf die Eingangsseite des Differenzverstärkers und damit auf die Kollektoren der Transistoren Q14 und Q15 übertragen sollen.
Um diesem Problem gerecht zu werden, ist auf jeder Seite des Differenzverstärkerausganges ein bipolares Darlington-Transistor-
Last sehr empfindlich sind. Aus dem gleichen Grund muß der
Widerstand, der die Last am /ausgang des Differenzverstärkere bildet, sehr hoch sein, wenn sich Lastschwankungen nicht auf die Eingangsseite des Differenzverstärkers und damit auf die Kollektoren der Transistoren Q14 und Q15 übertragen sollen.
Um diesem Problem gerecht zu werden, ist auf jeder Seite des Differenzverstärkerausganges ein bipolares Darlington-Transistor-
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paar aln Emitterfolger angeordnet, wobei jeder Emitter .Colgor
als Impedanzwandler arbeitet. Jeder End tterfolgar bereit kleinen
sehr hohen Kingfingsv/jr'ierstand und einen relativ geringen
AuGgangsviiderotanä zur Speisung weiterer nachgv.Gchalteter
Schaltkreise, wobei eine Belastung der Kollektoren der Transistoren Q-. . und Q. ^ durch diese v;eiteren Schaltkreise
vermieden wird.
Die Transistoren Q2-, und Q22 des ersten Darlington-Transistorpaares
müssen mit ihrer Kennlinie eng an die Kennlinie des
durch die Transistoren Qor> und Qo/ gebildeten Dcirlington-Transistorpaares
angepaßt sein. Die bipolaren Transistoren Q^-, bis Q„. v/eisen daher alle den gleichen /aufbau auf und
sie sind einander gegenüber in den Quadranten eines Quadrates angeordnet. Die beiden Transistoren eines Darlington-Paares
sind hierbei in der Diagonale des Quadrates angeordnet. Die Stromverstärkung der Darlington-Schaltung beträgt bei Raumtemperatur
ungefähr 10.000 oder auch mehr bei einem Kollektor-Aungangsstrom
von 50 uA. Die Lastwiderstände R- und R^ des
Emitterfolgers müssen ebenfalls aneinander angepaßte V7erte
aufv.'eisen und sie sind daher in dem monolithisch integrierten Schaltungsaufbau einander benachbart angeordnet. Jeder Widerstand
besitzt einen Wert von ungefähr 50 kj£ .
Die Gleichungen für den Betrieb des Emitterfolgers können
nicht vollständig genau festgelegt werden, ohne daß man die elektrischen Exngangskenngroßen der weiteren nachgeschalteten
Schaltkreise kennt. Im allgemeinen sind diese Kenngrößen nicht bekannt und es sind daher in Figur 1 nur die Ausgangsströme
I , und I angegeben. Die Differenz-Ausgangsspannung V des Schaltkreises gemäß Figur 1 führt hinsichtlich der Fotoströme
Ip .. und IpD? zu einem logarithmischen Verhältnis, welches·
durch die nachstehen Gleichungen angegeben wird:
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vo =; Vod
vr
In
(l-a22) 1
i a22)J E22
S21IS22
^n 2k*
-E24R6 + q
¥ο(α18+α2θ"α18Β2θ)
1 +
«on\V2
Die in den obigen Gleichungen verwendeten Symbole bedürfen keiner Erläuterung, da sie bereits anhand der weiter vorne
aufgeführten Gleichungen erläutert wurden.
Aus den vorstehenden Gleichungen, die die Wirkungsweise des Schaltkreises gemäß Figur 1 beschreiben, kann entnommen werden,
welche kritischen Anpassungen in den Schaltungsstufen des monolithisch integrierten Schaltkreises vorzunehmen sind. Ferner
kann der zu tolerierende Grad an Fehlanpassung hinsichtlich einer Schaltkreisstufe und der Ausgleich zwischen den Stufen festgelegt
werden, um die Fehlertoleranz des Gesamtschaltkreises nicht
zu überschreiten. Schließlich kann die Gesamtdifferenz im Hinblick
auf die Temperatur festgelegt werden, um die erforderliche thermische Anpassung zu bestimmen.
709815/0913
Dar, f.ignal V am Ausgang des Sehaltkreises gemäß Figur .1 kann
entweder positiv odor negativ sein, je nachdem, welche Fotodiode
PD, odor PD2 die größere Lichtmengc zugeführt erholt.
Für v-i neu Vergleich ist jedoch oftmals nur ein Größenvergleich
erwünscht, der.- beträcht] ich erleichtert wird r wenn
die Signale, die die LichtintenKitätsdiffcrenz repräsentieren,
ein und dicGc3.be Polarität aufweisen. In dein monolithisch integrierten
Schaltkreis kann dieser Forderung durch die Verwendung eines absolutwortbildenden Schaltkreises gemäß Figur 3 genügt
werden. Das /uisgangssignal V des Schaltkreises gemäß Figur 1
wird nach seiner Verstärkung einem Eingang 40 des Schaltkreises gemäß Figur 3 zugeführt. Der Absolutwert des Signales an der
Eingangsklemme 40 wird an der Ausgangsklemrae 41 ausgegeben,
wobei der Spannungsabfall einer Diode von diesem Wert subtrahiert wird.
Die bipolaren Transistoren 42 und 43 bilden einen Differenzverstärker,
der einen Polaritätswechsel in Bezug auf das Eingangssignal ara Eingang AO am Ausgang des Differenzverstärkers
erzeugt. Der Ausgang des Differenzverstärkers wird am Kollektor
des Transistors 42 abgenommen, wobei dieser Ausgang an einen
Transistor 44, der als Emitterfolger betrieben wird, angeschlossen ist. Ein Emitterwiderstand 45 mit einem Wert von
25 k£? dient als Strornsenke für den Differenzverstärker,
während ein Kollektorwiderstand 4 6 mit einem Wert von 40 kSI
die Ausgangslast für den Differenzverstärker vorgibt. Der
zweite Eingang des Differenzverstärkers, d. h. die Basis des
Transistors 43 ist über einen Widerstand 47 mit einem Wert von 10 k£L an eine Bezugsspannung angeschlossen. Der Eingang 40
ist über einen Widerstand 48 von ebenfalls 10 kΏ mit dem
Differenzverstärker verbunden.
Der als Emitterfolger betriebene bipolare Transistor 44 weist in seinem Emitterkreis einen Ausgangs-Lastwiderstand 49 von
20 k££. auf. Das Ausgangssignal des Emitterfolgers am Emitter
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des Transistors 44 ist auf don Eingang des Differen^verstärkers
über einen Rückführungswiderstand 50 mit einem
Wert von 10 kid zurückgekoppelt. Zur Stabilisierung des
Rückkoppliingsnetzwerkes, bestehend cius dem Diff crenzverstärker
und dem Emitterfolger ist ein Kondensator 51 mit einer Kapazität von 40 pP zwischen den Eingang des Differenzverstärker
s land die Basis des Emitterfolgers 44 geschaltet.
Durch diese Rückkopplungs-Verstärkerkombination
wird die Polarität des Eingangssignales am Ausgang des Emitterfolgers 44 umgekehrt»
Das am Emitter des Transistors 44 abgenommene Ausgangssignal
des Emitterfolgers und das Eingangssignal am Eingang 40 werden beide einem Paar bipolarer Transistoren
zugeführt, die als Emitterfolger geschaltet sind und einen
gemeinsamen Ausgangs-Lastwiderstand aufweisen. Das am
Eingang AO anstehende Eingangssignal wird dem ersten Transistor 52 des Transistorpaares zugeführt, während das an dem
Emitter des Transistor's 44 auftretende Signal dem jeweils anderen Transistor 53 des Transistorpaares zugeführt wird.
Der Ausgangswiderstand 54 des absolutwertbildenden. Schaltkreises ist für die beiden Emitter der Transistoren 52 und
53 gemeinsam angeordnet und besitzt einen Wert von 20 ki?. ,
wobei über einen Widerstand 55 von ebenfalls 20 k5t die über
dem Widerstand 54 abfallende Spannung abgegriffen wird. Von den beiden Transistoren 52 und 53 wird immer derjenige durchgeschaltet,
der mit dem positiven Signal beaufschlagt wird. Bei einer hinreichenden Größendifferenz zwischen den den
Transistoren 52 und 53 zugeführten Signalen wird einer der beiden Transistoren vollständig durchgesteuert. Da dem
Emitterfolger-Transistorpaar 52 und 53 sowohl das Eingangssignal, als auch das in seiner Polarität umgekehrte Eingangssignal
zugeführt wird, wird immer einer der beiden Transistoren 52 bzw. 53 durchgeschaltet. Das Eingangssignal tritt in
Form des Absolutwertes als Spannungsabfall über dem Widerstand 54 auf.
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Zum Zwecke des R13dvergloichr>
ist eine Anordnung von Fotodetektoren erforderlich, um Teile eines Bildes miteinander
zu vergleichen. Wenn eine Anordnung von Fotodetektoren in zvrai Teile unterteilt ist, so befindet sich die Fotodiode
PD, in dem einen Teil der Anordnung und die Fotodiode PDp
in dem anderen Teil der Anordnung, wobei beide Fotodioden in de;« Teilen der Detektor anordnung symmetrisch in Beziehung
auf die zu vergleichenden Bilder angeordnet sind. In diesem Fall wird eine Anzahl von Schaltkreisen gemäß Figur 1 vorgesehen,
wobei eine entsprechende Fotodiode aus jedem Teil der Detektoranordnung zum Vergleich der verschiedenen Teile der
Bilder herangezogen wird. Mit anderen Worten befindet sich jede Fotodiode in einem Schaltkreis gemäß Figur 1 und jede
Fotodiode eines Fotodiodenpaares in einem solchen Schaltkreis ist unterschiedlichen Teilen der Detektoranordnung
zugeordnet. Ein solches System ist in Figur 4 dargestellt, wobei mit den Bezugsziffern 60, 61 und 62 Schaltkreise gemäß
Figur 1 bezeichnet sind. Jeder dieser Schaltkreise ist mit seinem Ausgang an Verstärkerschaltkreise 63, 64 und 65
angeschlossen. Die /uingänge dieser Verstärkerschaltkreise
sind ihrerseits an absolutwertbildende Schaltkreise 66, und 68 angeschlossen, die in der Art realisiert sein können,
wie dies in Figur 3 dargestellt ist.
Die einen Block 60, einen Block 63 und einen Block 66 aufweisenden
Vergleichskanäle sind mittels eines Summierverstärkers zusammengefaßt, der die Summe aller Ausgangssignale
der Vergleichskanäle bildet. Dies ist eine Möglichkeit, mit der eine Übersicht über alle Differenzen zwischen den beiden
auf den Teilen der Detektoranordnung entstehenden Bildern erzielt werden kann. Das Ausgangssignal eines jeden Vergleichskanales
stellt den verstärkten Absolutwert des am Ausgang eines Blockes 60 vorhandenen Signales dar. Da das durch jeden Block
60 ermittelte Signal die Differenz zwischen dem Logarithmus zweier Fotoströme darstellt, bildet jedes Signal eines Blockes
60 den Logarithmus des Verhältnisses dieser beiden Fotoströme,
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wobei jeder Fotostrom durch eine Fotodiode in einer getro.pj.iten
Gruppe der Detektoranordnung gebildet wird. Die f.estgestellte
Summe stellt somit die Gesamtsumme aller Verheiltnisse von.
Fotoströmen dar f wie sie in den Blöcken 60 erzeugt werden,
d. h* die Summe der Verhältnisse von Fotoströmen für jedes
Paar Fotodioden in der für einen Vergleich ausgewählten Detektoranordnung.
Die. durch die Blöcke 61, 64 und 67 bzw, 62, 65 und 68 dargestellten
Vergleichskanäle stellen zwei Vergleichskanäle dar, die für einen Vergleich der Lichtintensitäten nicht benutzt
werden. Auf Grund der hohen geforderten Präzision hinsichtlich der Vergleichskanäle, die für einen genauen Vergleich
der Lichtintensitäten des Bildes erforderlich ist, wird eine Auswahl brauchbarer Vergleichskanäle auf dem monolithisch
integrierten Schaltkreischip vorgenommen. Bei der Anordnung gemäß Figur 4 werden nur die besten 6 von 8 Vergleichskanälen
benutzt.
Die Summiereinrichtung 69 wird durch einen herkömmlichen Summierverstärker gebildet, der ebenfalls als monolithisch
integrierter Schaltkreis im gleichen Herstellprozeß wie der Schaltkreis gemäß Figur 1 hergestellt werden kann. Das Ausgangssignal
der Summiereinrichtung 69 ist durch folgende Gleichung darstellbar:
S -? I In(^11
1 PD2
PDl
Der Ausdruck (^ )n stellt das Verhältnis der Fotoströme
Der Ausdruck (^ )n stellt das Verhältnis der Fotoströme
PD2
für irgendeinen der Blöcke 60 gemäß Figur 4 dar, beispielsweise für den.ru ten Block 60.
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Als Beispiel für die Verwendung der Vergleich n.kanl* Io und
der Suüvmiereinrichtung gemäß Figur 4 sei ein Eildverglciclu;-systern angenommen, das der Einstellung von einem oder beiden der Bilder auf den beiden Gruppen von Fotodiodenanordnungen dient. Hierbei gibt es iin Einstellbereich einen Punkt, an dem die Größe S insgesamt einen Minimalwert erreicht, der dem
Punkt entspricht, in dem die Intensitätsdifferenzen zwischen den Bildern relativ am kleinsten sind. Die Feststellung eines MiniMUKiwertes hinsichtlich der Größe S ist daher für einige
Systeme von Interesse. Selbstverständlich können auch andere Signalkombinationen hinsichtlich der Ausgangssignale der Vergleichskanäle zur Gewinnung einer Aussage über das vorliegende System benutzt werden.
der Suüvmiereinrichtung gemäß Figur 4 sei ein Eildverglciclu;-systern angenommen, das der Einstellung von einem oder beiden der Bilder auf den beiden Gruppen von Fotodiodenanordnungen dient. Hierbei gibt es iin Einstellbereich einen Punkt, an dem die Größe S insgesamt einen Minimalwert erreicht, der dem
Punkt entspricht, in dem die Intensitätsdifferenzen zwischen den Bildern relativ am kleinsten sind. Die Feststellung eines MiniMUKiwertes hinsichtlich der Größe S ist daher für einige
Systeme von Interesse. Selbstverständlich können auch andere Signalkombinationen hinsichtlich der Ausgangssignale der Vergleichskanäle zur Gewinnung einer Aussage über das vorliegende System benutzt werden.
Im allgemeinen wird jedoch der Sumrniereinrichtung 69( die' der
Auffindung des Minimums bezüglich der Summe S der Ausgangssignale dient,über einen Filter 70 ein Minimumdetektor 71
nachgeschaltet. Dem Miniraumdetektor 71, der das kleinste
Summensignal S feststellt, muß ein Filter 70 vorgeschaltet
werden, um sicherzustellen, daß das von dem Minimumdetektor
71 ausgewählte Signal mit der geringsten Amplitude einem
tatsächlichen Signal und nicht einem Rausch- oder Störsignal entspricht. Wenn eine Systemeinstellung erfolgt, wodurch eines oder beide Bilder auf der Fotodiodenanordnung beeinflußt werden, so tritt ein Minimumdurchgang des Signales S auf, welcher Durchgang von dem Minimumdetektor 71 festgestellt wird. Bei der
Feststellung des Minimumsignales wird ein Signal an ein Ausgangs-Logiksystem 72 abgegeben, wodurch der Bedienungsmann
informiert wird oder der Nachführungsprozeß angehalten wird, da sich in diesem Fall die beiden Bilder einander entsprechen.
nachgeschaltet. Dem Miniraumdetektor 71, der das kleinste
Summensignal S feststellt, muß ein Filter 70 vorgeschaltet
werden, um sicherzustellen, daß das von dem Minimumdetektor
71 ausgewählte Signal mit der geringsten Amplitude einem
tatsächlichen Signal und nicht einem Rausch- oder Störsignal entspricht. Wenn eine Systemeinstellung erfolgt, wodurch eines oder beide Bilder auf der Fotodiodenanordnung beeinflußt werden, so tritt ein Minimumdurchgang des Signales S auf, welcher Durchgang von dem Minimumdetektor 71 festgestellt wird. Bei der
Feststellung des Minimumsignales wird ein Signal an ein Ausgangs-Logiksystem 72 abgegeben, wodurch der Bedienungsmann
informiert wird oder der Nachführungsprozeß angehalten wird, da sich in diesem Fall die beiden Bilder einander entsprechen.
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Leerseite
Claims (1)
- PatentansprücheSchaltungsanordnung zum Vergleich von zwischen zwei Teilen einer Fotodiodenanordnung auftretenden elektromagnetischen Strahlungsintensitäten, wobei bei relativ geringen Intensitätsunterschieden eine genaue Vergleichsanzeige und bei relativ großen Intensitätsunterschieden eine begrenzte Vergleichsanzeige erfolgt, gekennzeichnet durcheinen ersten und einen zweiten Teil innerhalb der Fotodiodenanordnung ,einen ersten Vergleichsschaltkreis (Fig. 1), aufweisend: eine erste Fotodiode (PD,) als Teil der ersten Fotodiodenanordnung zur Erzeugung eines ersten Ausgangsstromes und eine zweite Fotodiode (PD^) als Teil der zweiten Fotodiodenanordnung zur Erzeugung eines zweiten an den ersten Ausgangsstrom angepassten Ausgangsstromes, sofern beide Fotodioden den gleichen Arbeitsbedingungen unterliegen und wobei beide Fotodioden-Äusgangsströme im wesentlichen in linearer Beziehung zu der auftreffenden elektromagnetischen Strahlungsintensität stehen,eine erste Spannungsregeleinrichtung (Q-I3) zur Vorspannung der beiden Fotodioden auf eine Betriebsspannung von ungefähr O Volt,erste und zweite mit den beiden Fotodioden elektrisch verbundene Stromwandler (Qi4* ^15^ zur Erzeugung von ersten und zweiten aneinander angepassten Ausgangsströmen bei gleichen Betriebsbedingungen der Stromwandler, erste und zweite an die Stromwandler angeschlossene Lasten ^1~^6' ®7~^12^ zur Erzeu<3un<3 von ersten und zweiten aneinander angepassten Ausgangsspannungen bei gleichen Betriebsbedingungen der Lasten, wobei die beiden Ausgangsspannungen in logarithmischer Beziehung zu den Ausgangsströmen der Stromwandler stehen und709815/0913einen ersten Differenzverstärker (0.-,-, ~ Qon) m-i-t einem ersten Ausgang, einera ersten an die erste; Last angeschlossenen Eingang mit hohen Eingangswiderstand und einem zweiten an die zweite Last angeschlossenen Eingang mit hohe;« Eingangswiderstand, wobei das Ausgangssignal am ersten Ausgang im wesentlichen in linearer Beziehung zu der Differenz der Spannungen an den beiden Lasten steht, sofern diese Differenz hinreichend klein ist, und einem Grenzwert zustrebt, wenn die Differen der an den beiden Lasten abgenommenen Ausgangssignale entsprechend groß ist.2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen zweiten Vergleichsschaltkreis, aufweisend:eine dritte Fotodiode als Teil der ersten Fotodiodenanordnung zur Erzeugung eines .dritten Ausgangsstromes und eine vierte Fotodiode als Teil der zweiten Fotodiodenanordnung zur Erzeugung eines vierten an den dritten Ausgangsstrom angepassten Ausgangsstromes, sofern beide Fotodioden den gleichen Arbeitsbedingungen unterliegen und wobei beide Fotodioden-Ausgangsströme im wesentlichen in linearer Beziehung zu der auftreffenden elektromagnetischen Strahlungsintensität stehen,eine zweite Spaimungsregeleinrichtung zur Vorspannung der beiden Fotodioden auf eine Betriebsspannung von ungefähr 0 Volt,dritte und vierte mit den beiden Fotodioden elektrisch verbundene Stromwandler zur Erzeugung von dritten und vierten aneinander angepassten Ausgangsströmen bei gleichen Betriebsbedingungen der Stromwandler,dritte und vierte an die Stromwandler angeschlossene Lasten zur Erzeugung von dritten und vierten aneinander angepassten Ausgangsspannungen bei gleichen Betriebsbedingungen der Lasten, wobei die beiden Ausgangsspannungen in logarithmischer Beziehung zu den Ausgangsströmen der Stromwandler stehen und70981 5/09einen zweiten Differenzverstärker mit erlnom zweiton Ausgang, einem dritten an die dritte Last angeschlossenen Eingang mit hohem Eingang sv/ider stand und einem vierten an die vierte Last angeschlossenen Eingang mit hohem ];ingangs\?ider stand, wobei das Ausgangssignal am zweiten Ausgang im vresentlichon in linearer Beziehung zu der Differenz der Spannungen an den beiden Lasten steht, sofern diese Differenz hinreichend klein ist, und einem Grenzwert zustrebt, wenn die Differen der an den beiden Lasten abgenommenen AuDgangssignale entsprechend groß ist.3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Spannungsregeleinrichtung und die Stromwandler erste, zweite und dritte bipolare Transistoren aufweisen, daß der Emitter des ersten Transistors (Q-I4) ah die eine Fotodiode (PD.,) un(^ sein Kollektor an die eine Last (Q, - Qg) angeschlossen ist, daß der Emitter des zweiten Transistors (Q,,.) an die andere Fotodiode (PD2) und sein Kollektor an die andere Last (Q- Q12) angeschlossen ist und daß die Basen des ersten und zweiten bipolaren Transistors (Q,,,Q.r) sowohl mit dem Kollektor als auch der Basis des dritten bipolaren Transistors (Qi3) verbunden sind.4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet , daß der Differenzverstärker eine erste Darlingtonstufe aus bipolaren Transistoren (Q17 t Qlg) und eine zweite Darlingtonstufe aus bipolaren Transistoren (QiQfQ2Q) aufweist, daß die Emitter der inneren Transistoren (Q-i 9 ΏοΟ'* an eine Stromsenke (QigfR*) und die Basen der äußeren Transistoren (Q17/Q18) an die beiden Lasten (Q1 - Q^, Q7 - Q._) angeschlossen sind und daß jeweils Kollektor-Basis-Sperrschicht-Dioden (D-,,D2) der Basis-Emitterstrecke der inneren Transistoren (Q19/Q20) und der Stromsenke (Q16,R4) parallel geschaltet sind.70981 5/09135. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß das erste und zweite Ausgnngsnignal der Differenzverstärker jeweils ersten und zweiten absolutwertbildenden Schaltkreisen zugeführt wird, welche aufweisen:ein als Emitterfolger geschaltetes bipolares Transistorpaar (52,53) f dessen Emitter an einen Lastwiderstand (54) angeschlossen sind, über dem das Ausgangssignal abgenommen wird,einen absolutwertbildenden Differenzverstärker mit einem ersten, zweiten und dritten bipolaren Transistor (42,43,44), wobei die Emitter des ersten und zweiten Transistors (42,43) an eine gemeinsame Stromsenke (45) angeschlossen sind und der dritte Transistor (44) als Emitterfolger geschaltet ist, wobei seine Basis an den Kollektor des ersten Transistors (42) und sein Emitter einerseits an die Basis des einen Transistors (53) des Emitterfolgerpaares und andererseits an die Basis des ersten Differenzverstärkertransistors (42) angeschlossen ist und daß der Eingang (40) der absolutwertbildenden Schaltung ebenfalls mit der Basis des ersten Differenzverstärkertransistors (42) und mit der Basis des anderen Transistors (52) des Emitterfolgerpaares verbunden ist.6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Vergleichsschaltkreise als monolithisch integrierte Schaltkreise ausgebildet sind, daß Signalbeiträge des einen Vergleichsschaltkreises in einer nachgeschalteten Signalverarbeitungseinheit unterdrückt werden und daß die Signalverarbeitungseinheit Signalbeiträge mehrerer Vergleichsschaltkreise, die den anderen Vergleichsschaltkreis umfassen, verarbeitet.70981 5/09137, Schaltungnanordnung nach Anspruch 6, g e k e η η ζ e i c h net durchein Substrat (20) eines ersben Leitfähigkeit··;types mit einer cl ar auf befindlichen Schicht (21) von Halbleitermaterial eines zv/eiten Leitfähigkeitstypes, wobei die Schicht eine kristalline Struktur mit dem Substrat bildet und mehrere voneinander elektrisch isolierte Bereiche (22,23) aufweist, erste und zweite isolierte Bereiche unter den genannten Bereichen mit gleicher geometrischer Ausbildung,- die als Kathoden für die beiden Fotodioden (PD, ,PD„) dienen, wobei die Fotodioden durch Sperrschichten gebildet werden, die wenigstens teilweise zwischen den beiden isolierten Bereichen und dam Substrat entstehen,erste, zweite und dritte bipolare Transistoren (23,30,32,33) mit gleicher geometrischer ?i.usbildung in dritten, vierten und fünften isolierten einander benachbarten Bereichen, wobei der Emitter des ersten Transistors elektrisch an den ersten isolierten Bereich, der Emitter des zweiten Transistors an den zweiten isolierten Bereich, die Basis und der Kollektor des dritten Transistors an die Basen des ersten und zweiten Transistors und der Emitter des dritten Transistors an das Substrat angeschlossen ist,2n Dioden (Q, ~ Q,~) mit gleichen geometrischen Abmessungen und in unmittelbarer" Nachbarschaft zueinander, wobei η Dioden zu einer ersten Kette zusammengeschaltet sind und ein freies Ende der Kette an den Kollektor des bipolaren Transistors (Q14) angeschlossen ist und wobei weitere η Dioden zu einer zweiten Kette zusammengeschaltet sind und ein freies Ende der zweiten Kette an den Kollektor des zv/ei ten bipolaren Transistors (Qi5) angeschlossen ist.8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet , daß die Dioden (Q, - Q-. ?) durch bipolare Transistoren gebildet werden, deren Kollektoren mit den Basen verbunden sind.709815/0913ν. ScJialtungsaiif'.ranung nach Anspruch 8, dadurch g e ~ k e η η 7. e i c h η ο t. , daß die jeweils η Dioden der beiden Diodenketten in jeweils rwei Gruppen von benachbarten Bereichen der monolith? r,eh integrierten Schaltkreipchipr. angeordnot sind und daß jede Kette gebildet wird, indem Dioden aus den beiden Gruppen wechselweise in Reihe geschaltet werden.10. Schaltungsanordnung noch Anspruch 6, dadurch gekenn ζ e i c h η e t , daß die den Differenzverstärker bildenden Transistoren (Q17 ~ QorO au^ ^eJri monolithisch integrierten Schaltkreischip in den 4 Quadranten eines Quadrates angeordnet sind, wobei die Transistoren in diagonal gegenüberliegenden Quadranten ein Darlingtonpaar bilden.■11. Schaltungsanordnung'nach den Ansprüchen 3, 4 und 6, dadurch gekennzeichnet, dciß die Transistoren (Qi τ - Q-, /-) der Spannungsregeleinrichtung, der Stromwandler und der Stromsenke auf dem Substrat in 4 Quadranten eines Quadrates angeordnet sind.12. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 4 und 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Lastwiderstände (R0, R~) des Differenzverstärkers (Q1-I - Qo/O jeweils in zwei Reihenwiderstände aufgeteilt und die sich ergebenden 4 Teilwiderstände in den 4 Quadranten eines Quadrates auf dem Substrat angeordnet sind, wobei diagonal gegenüberliegende Widerstände jeweils zu einem Lastwiderstand zusammengeschaltet sind.13. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 4 und 6, dadurch gekennzeichnet, daß dem Ausgang des Differenzverstärkers (Qt7 ~ ^20^ Darlington-Emitterfolger (Q21 - Q24) nachgeschaltet sind, die auf dem Substrat in benachbarten Quadranten angeordnet sind.709815/0913
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