DE2639979B2 - Halbleiterbaueinheit - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Halbleiterbaueinheit mit den Merkmalen gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs
1.
Derartige Halbleiterbaueinheiten sind aus dem deutschen Gebrauchsmuster 7512 573 bekannt Sie
zeigen einen kompakten Aufbau, wobei das Gehäuseteil aus Kunststoff aus einem Bndteil und einem Deckelteil
oder aber aus einem einstückigen Bauteil bestehen kann und mit der Grundplatte z.B. durch Kleben fest
verbunden ist. Zu ihrer mechanisch festen Anordnung sind dann die gehäuseinneren Bauteile in (iine
Gießmasse eingebettet.
Derartige Baueinheiten ermöglichen in vorteilhafter Weise eine Anordnung zu mehreren in gewünschter
elektrischer Verschaltung.
men, daß die Halterung der Isolierstoffscheibe und der
mit Halbleiterplättchen versehenen Kontaktbauteile zu ihrer jeweiligen Befestigung durch Löten einen
unerwünschten Verfahrensaufwand erfordert Nachtei-Hg ist ferner, daß die zur flächenhaften Auflage auf
einem Kühlbauteil vorgesehene metallische Grundplatte im Verlauf der Herstellung der Baueinheiten nicht in
gewünschtem Maße plan bleibt, auf Grund von fertigungsbedingt entstehenden mechanischen Spannungen,
und daß beim Füllen des Gehäuses mit Gießmasse infolge unterschiedlicher Wärmedehnung
aneinandergrezender Materialien die Wölbung der Grundplatte verstärkt und die Klebeverbindung zwischen
Grundplatte und Kunststoffgehäuseteil unzulässig
π beansprucht wird. Außerdem wird durch die unerwünschte
Formänderung der Grundplatte der Wärmeübergang zum Kühlbauteil beeinträchtigt
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiterbaueinheit der eingangs erwähnten Art zu
schaffen, deren Bauteile einen gegenüber der bekannten Anordnung rationelleren Zusammenbau ermöglichen,
und deren Gehäuseteüe eine einwandfreie gegenseitige Verbindung gewährleisten.
nenden Merkmalen des Anspruchs 1.
Die Ausgestaltung von Grundplatte und Kunststoffgehäuse gemäß der Erfindung hat die Vorteile, daß die
Anzahl der Verfahrensschritte zur Herstellung der Baueinheiten reduziert wird, daß eine dauerhafte feste
daß das thermische Betriebsverhalten der Baueinheiten
verbessert wird und daß unerwünschte Nacharbeit entfällt
Ausführungsbeispiele wird der Gegenstand der Erfindung
aufgezeigt und erläutert In Fig. 1 ist eine Halbleiterbaueinheit im Schnitt dargestellt Fi g. 2 zeigt
in Draufsicht die erfindungsgemäß besonders ausgebildete Grundplatte der Baueinheit und Fig.3 im
Ausschnitt einen Aufbau zur lagebestimmten Anordnung von Isolierstoffscheibe und Kontaktbauteil auf der
Grundplatte.
Die Bauform /nach F i g. 1 ist auf einer wannenförmigen Grundplatte 1 aus einem zur Wärmeleitung
« besonders geeigneten Metall, beispeilsweise Kupfer
oder Aluminium, oder aus einer Verbindung dieser Metalle oder aus einer Legierung aus diesen Metallen
aufgebaut Die Kontaktbauteile 3 und 13 als Trägerkörper je eines Halbleiterbauelements sind in gegenseiti-
gern Abstand über eine gemeinsame, elektrisch
isolierende, thermisch leitende Schicht 2, beispielsweise aus Oxidkeramik, auf der inneren Bodenfläche der
G.endplatte 1 durch Löten fest aufgebracht Es kann auch für jedes Kontaktbauteil eine derartige Schicht
>""> vorgesehen sein. Zur rationellen, lagebestimmten
Anordnung der Scheibe aus Oxidkeramik 2 auf einem vorbestimmten Flächenabschnitt ist die Bofenfläche der
Gmndplatte mit Erhebungen 111 versehen, zwischen welchen die Scheibe 2 eingelegt ist Grundplatte 1,
verbunden. Sie weisen zu diesem Zweck jeweils einen
lötfähigen, metallischen Überzug auf.
w oberen Rand durch Bördeln mit der beispielsweise abgeschrägten oder in anderer Form ausgebildeten,
zugeordneten Randzone des Isolierstoffgehäuseteils 12 fest verbunden. Dazu ist das als Hohlkörper ohne
Boden- und Deckplatte vorliegende Gehäuseteil 12 in seiner maximalen Ausdehnung der lichten Weite an der
inneren Bodenfläche der Grundplatte 1 entsprechend angepaßt ausgebildet, so daß es, beim Zusammenbau,
durch Einstecken innerhalb der Seitenwand la gehaltert
ist. Die untere Randzone 12a des Gehäuseteils 12 kann zur Gewährleistung der mechanischen Stabilität bei der
Herstellung der Bördelverbindung mit der Grundplatte 1 verstärkt oder beispielsweise als flanschformiger
Ansatz ausgebildet sein.
Die Erhebungen Ul auf der Bodenfläche der Grundplatte können jeweils so weit verlaufen, daß sie
gleichzeitig auch, zusammen mit der Seitenwand la der
Grundplatte, zur Halterung des Gehäuseteils 12 dienen und damit zur festen Anordnung des letzteren bei der
Verbindung mit der Grundplatte beitragen.
Die Kontaktbauteile 3, 13 können, gemäß der Darstellung in Fig. 1, aus einem plattenförmigen
Abschnitt zur Auflage auf der Oxidkeramikscheibe 2, aus einem dazu im Winkel, beispielsweise senkrecht zur
Grundplatte, verlaufenden Abschnitt 3b bzw. 13i>,
jeweils an der Stirnseite der Baueinheit, und aus einem
daran anschließenden weiteren, zur Mitte der Baueinheit hin abgewinkelten Abschnitt 3c bzw. 13c als
Plattform für je einen Kontaktbolzen 7 bestehen. Beide Kontaktbauteile 3,13 weisen mit ihren vorbeschriebenen
Abschnitten L-förmigen Querschnitt auf. Die Abschnitte 3b, 136 und 3c, 13c dienen jeweils als
Stromleiterteile für die der Grundplatte zugewandte Kontaktelektrode der Halbleiterplättchen 4 zum als
Stromanschlußteil vorgesehenen Kontaktbolzen 7.
Die Kontaktbolzen 7 sind jeweils mit einer Gewindebohrung 27 zum Schraubanschluß von Stromleiterteilen
versehen. Die Abschnitte 3c, 13c der Kontaktbauteile liegen z.B. in der Ebene parallel zu derjenigen der
Grundplatte 1 und bilden je eine Stützfläche für eine beide verbindende Anschlußplatte 8 aus Isoliermaterial.
Diese weist Lot- und/oder Steckanschlußteile 31,33 auf,
die zur Verbindung der Anschlußleitungen von Schalt- und Steuerbauteilen mit den Halbleiterbauelementen
dienen, in ihrer Lage durch diejenige der Halbleiterbauelemente festgeigt sind und aus der fertigen
Baueinheit entsprechend herausragen.
Schließlich ist auf der Anschlußplatte 8 auch der Kontaktbolzen 9 mit dem Kontaktbügel 10 für den
oberen Stromleiter 6 des zweiten Halbleiterbauelements 13—4—6 befestigt
Die Kontaktbauteile und Anschlußteile können beliebige Form aufweisen und beliebig angeordnet sein,
da ihre Ausbildung und Anordnung nicht Gegenstand so der Erfindung ist
Der aufgezeigte Aufbau ist in dem aus Gehäuseteil 12 und Grundplatte 1 bestehenden, oben offenen Gehäuse
untergebracht und in Gießmasse 22 so weit eingebettet, daß die Anschlußteile der Baueinheit herausragen.
In Fig.2 ist die erfindungsgemäße Grundplatte in
Draufsicht auf die innere Bodenfläche dargestellt Sie kann gemäß dem linken Teil der Figur streifenförmige
Erhebungen Ul aufweisen, die jeweils parallel zur Längsachse angeordnet sind. Es können Erhebungen
lila an den Längsseiten und solche {iiib) an den
Schmalseiten vorgesehen sein. Sie dienen zur Verhinderung einer Seitenbewegung der Oxidkeramikscheibe 2
bei deren Lotkontaktierung mit der Grundplatte 1. An
den Längsseiten der Grundplatte 1 sollen die Erhebungen geringstmögliche Breite aufweisen, die Breite der
Erhebungen 11 Io ist unkritisch. Die Höhe dar
Erhebungen 111 ist gleich der oder kleiner als die Dicke der Keramikscheibe. Um bei unterschiedlichem Potential
der Grundplatte 1 und der Kontaktbauteile 3, 13 eine ausreichende Überschlagsfestigkeit zwischen beiden
Bauteilen zu gewährleisten, ragt die Oxidkeramikscheibe 2 an allen Seiten Ober die Kontaktbauteile 3,13
hinaus. Die Länge aller Erhebungen 111 ist unkritisch, je
eine Erhebung IUa und 11 Io können auch zu einer
Erhebung IHc kombiniert sein, wie dies ebenfalls in F i g. 2 dargestellt ist
Anstelle der Erhebungen 111 können stift- oder höckerförmige Ansätze 112 vorgesehen sein (rechte
Hälfte der Figur), gegen welche sich Oxidkeramikscheibe 2 und Gehäuseteil 12 beim Einbringen abstützen.
Eine andere Ausführungsform der Grundplatte 1 besteht darin, daß der zur Auflage der Oxidkeramikscheibe
2 vorgesehene Flächenabschnitt 113 vertieft ausgebildet ist Die dadurch erzielte Verringerung der
Dicke der Grundplatte 1 ergibt eine zusätzliche Verbesserung des Wärmeübergangs zwischen den
Kontaktbauteilen 3, 13 und dem an der äußeren Bodenfläche anliegenden Kühlbauteil.
Die Grundplatte 1 kann beispielsweise durch Kaltfließpressen hergestellt und so ausgebildet sein, daß
die an die innere Bodenfläche angrenzende Schicht aus Kupfer besteht und damit eine vorteilhafte Verbindung
mit der Oxidkeramikscheibe 2 ermöglicht, und daß die an die äußere Bodenfläche angrenzende Schicht aus
Aluminium besteht, und damit eine vorteilhafte Verbindung mit einem angrenzenden Kühlbauteil aus
Aluminium ermöglicht Dabei ist die Dicke der Kupferteilschicht stets größer als die Tiefe der
Vertiefung 113 zur Aufnahme der Oxidkeramikscheibe 2, und die Aluminiumteilschicht ist in einer nur durch die
mechanische Festigkeit der Grundplatte 1 bestimmten, minimalen Dicke ausgebildet
Die Grundplatte kann auch aus einer an sich bekannten Aluminium-Magnesium-Legierung bestehen
und ist dann auf ihrer inneren Bodenfläche mit einem Überzug aus Nickel zur Erzielung einer Lötverbindung
mit der Oxidkeramikscheibe 2 versehen.
In F i g. 3 ist im Ausschnitt eine weitere Ausrührungsform
des Gegenstandes der Erfindung dargestellt. Anstelle von Erhebungen weist die Grundplatte 1
Bohrungen 114 auf, durchgehend oder als Vertiefungen ausgebildet Diese dienen zur Aufnahme von bolzen förmigen
Begrenzungsteilen 115, die aus elastischem Kunststoff bestehen und mit Haftsitz in den Bohrungen
114 angebracht sind. Die Begrenzungsteile 115 sind so bemessen, daß sie mit einem ersten herausragendtn
Längpinabschnitt etwa entsprechend der Dicke der Oxidkeramikscheibe 2 diese haltern und mit einem
anschließenden L^ngenabschnitt mit größerem Querschnitt das im Stapel folgende Kontaktbauteil justieren.
Das Material der Begrenzungsteile 115 ist bei den angewandten Weichlöttemperaturen beständig und im
übrigen von solch „τ Elastizität, daß Formänderungen beim Stapelaufbau der Bauteile unschädlich sind. Die
Begrenzungsteiie 115 können nach Herstellung der Lötverbindungen im Aufbau verbleiben.
Claims (3)
1. Halbleiterbaueinheit, bei der zwei Halbleiterbauelemente
auf einer gemeinsamen metallischen, an ihrer äußeren Bodenfläche planen Grundplatte
elektrisch isoliert und thermisch leitend in elektrischer Reihenschaltung so angeordnet sind, daß je ein
dem Eingang und dem Ausgang der Reihenschaltung zugeordneter sowie ein dritter, dem Verbindungsleüter
zwischen den Halbleiterbauelementen zugeonlneter
Stromleitungsanschluß in einer Reihe und der dritte an einem Ende der Reihe angeordnet und
jeder der beiden äußeren Stromleitungsanschlüsüe zusammen mit dem zugeordneten Halbleiterbauelement
jeweils auf einem gemeinsamen Kontaktbauteil fest aufgebracht und mit diesem Ober eine
Isolierstoffscheibe auf der Grundplatte befestigt sind, und bei der die Halbleiterbauelemente mit
ihren Kontakt- und Anschlußbauteilen in einem aus der Grundplatte und aus einem Kunststoffteil
bestehenden Gehäuse untergebracht sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Grundplatte
(1) wannenförmig ausgebildet ist und mit ihrer Seitenwand {la) die Randzone (12aJ eines als
Rohrstück ausgebildeten Gehäuseteils (12) umfaßt, daß das Gehäuseteil (12) eine zur Herstellung einer
Bördelverbindung mit der Grundplatte (1) geeigneile Randzone (Ua) aufweist, und daß die innere
Bodenfläche der Grundplatte (1) Erhebungen (1111,
112) oder Vertiefungen (113,114) zur lageorientierten
Halterung der Isolierstoffscheibe (2) und der Kontaktbacke (3,13) aufweilst.
2. HalbleiterbaueinhVit nach- Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Erhebungen streifenförmig
(111) oder höckerförmig (412) abgebildet sind und
eine Höhe gleich der oder kleiner als diejenige der Isolierstoffscheibe (2) aufweisen.
3. Halbleiterbaueinheit nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in den Vertiefungen (fl4)
bolzenförmige Begrenzungsteile (115) aus einem elastischen Kunststoff angeordnet sind, die im
Verlauf ihrer über die Grundplatte (1) herausragenden Längenabschnitte zuerst einen kleineren Querschnitt
zur Halterung der Isolierstoffscheibe (2) und dann einen größeren Querschnitt zur Halterung der
eine geringere Flächenausdehnung als die Isolierstoffscheibe (2) aufweisenden Kontaktbauteile (3,13)
auf der Isolierstoffscheibe (2) aufweisen.
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