DE2503789C3 - Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird - Google Patents

Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird

Info

Publication number
DE2503789C3
DE2503789C3 DE2503789A DE2503789A DE2503789C3 DE 2503789 C3 DE2503789 C3 DE 2503789C3 DE 2503789 A DE2503789 A DE 2503789A DE 2503789 A DE2503789 A DE 2503789A DE 2503789 C3 DE2503789 C3 DE 2503789C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
radiation
radiation source
arrangement
absorption
plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2503789A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2503789B2 (de
DE2503789A1 (de
Inventor
Guenter Dr. 2000 Hamburg Kowalski
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Philips Intellectual Property and Standards GmbH
Original Assignee
Philips Patentverwaltung GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE2503789A priority Critical patent/DE2503789C3/de
Application filed by Philips Patentverwaltung GmbH filed Critical Philips Patentverwaltung GmbH
Priority to IT67180/76A priority patent/IT1057072B/it
Priority to CA244,284A priority patent/CA1074024A/en
Priority to SE7600805A priority patent/SE413457B/xx
Priority to GB3070/76A priority patent/GB1541286A/en
Priority to JP51007202A priority patent/JPS51100781A/ja
Priority to US05/653,111 priority patent/US4034223A/en
Priority to BE163874A priority patent/BE837999A/xx
Priority to FR7602577A priority patent/FR2299650A1/fr
Publication of DE2503789A1 publication Critical patent/DE2503789A1/de
Publication of DE2503789B2 publication Critical patent/DE2503789B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2503789C3 publication Critical patent/DE2503789C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B27—WORKING OR PRESERVING WOOD OR SIMILAR MATERIAL; NAILING OR STAPLING MACHINES IN GENERAL
    • B27D—WORKING VENEER OR PLYWOOD
    • B27D3/00—Veneer presses; Press plates; Plywood presses
    • B27D3/04—Veneer presses; Press plates; Plywood presses with endless arrangement of moving press plates, belts, or the like
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
    • Y10S378/901—Computer tomography program or processor

Landscapes

  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Wood Science & Technology (AREA)
  • Forests & Forestry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

Einrichtung /um Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Sirahlendetektoren, die relativ /u dem Körper kontinuierlich gedreht wird.
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches I. Emc derartige Anordnung ist im wesentlichen aus der CiB-PS 12 8 j 41 rt bekannt. Bei dieser Anordnung können Eehlcr bei der Rekonstruktion der Absorptionsvcileilung auftreten. die — wie der Erfinder erkannt hai — dar.iuf beruhen, tlaß bei der Abtastung insb. feiner Strukturen (Kaum) f'reqiienzkomponenten auftreten können, die größer sind als die halbe Ablaslfrcqiien/.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, mil einfachen Mitteln eine Einrichtung der eingangs j'enannien An so auszubilden, daß bei ihr diese An von Rekonstruktionsfehlerii nicht auftritt. Diese Aufgabe wird durch die im kennzeichnenden Teil des Patentanspruches ! angegebenen Maßnahmen gelöst.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines η der Zeichnung dargestellten Aiisfi'ihrungsbeispieles näher erläutert. Es zeigt
Ei g. 1 eine Einrichtung in si ;irk vereinfachter »ehe ma ti se her Darstellung.
E i g. 2 ilen zeitlichen Verlauf des Ausgangssignals tines Slrahlendelektors.
(■"ig. I ze'gl eine Strahlenquelle I für l<önt£cnstra!v luiig und eine Anzahl von auf einem Bogen nebeneinander .ingi'ordnelen StIiIhIeIKk-1CkIOrCn .SI. S'2 bis .SW usu /wischen der Strahlenquelle und den Strahlendetcklorcn befindet sich ein /ii untersuchender Korper 2 der die von der Strahlenquelle I emittierte Königenstrahlung in Abhängigkeit von seiner Dicke und seiner Dichte schw.ichl. so daß d.is Ausgangssigiiiil der einzelnen Strahlendeiekloren von der Dicke und der Dichte des Bereiches des Körpers 2 abhängt, der sich jeweils zwischen der Strahlenquelle I und dem betreffenden Sirahlendetektor befindet. Die Struhlen-
ί quelle I und die Strahlendetekioren sind durch eine nicht dargestellte Einrichtung gemeinsam um eine auf der zu uniersuchenden Ebene senkrecht stehende Achse Omit konstanter Winkelgeschwindigkeit drehbar.
ledern Slrahlendetekior ist ein Tiefpaß 3 zugeordnet,
in dessen Ausgangssignal dem Eingang einer Abtasteinrichtung zugeführt wird, die das Ausgangssignal des Tiefpasses 3 periodisch abtastet und bis zum näehsien Ablaslzeitpunkt speichert. In der Zeichnung sind der Einfachheit halber nur der dem Strahlendelektor .SW
ij zugeordnete Tiefpaß und die daran angeschlossene Abtasteinrichtung 4 dargesielli.
In Fig. 2 stellt die mit 5 bezeichnete ausgezogene Kurve den Verlauf des Ausgangssignals des Slrahlendetektors in Abhängigkeit von dem Drehwinkel <;· der Anordnung Slrahlenquelle-Slrahlendelektoren bzw. — da zwischen dem Drehwinkel und der Zeit ein linearer Zusammenhang besteht — in Abhängigkeit von der Zeil dar. Bei der Anordnung gemäß der eingangs erwähnten CHIPS 1283915 wird mir der sich in periodischen
2r, Zeiiabsiänden (T, IT, iT) usw.) ergebende Wert des Ausgangssignals verarbeitet. Da nun. wie die Darstellung zeigt, das Ausgangssignal — bed.ngl durch feine Strukturen im Objekt — zwischen zwei Ablastzeitpunkten sich relativ schnell ändert, mithin also Komponenten
in mit einer Frequenz aufweist, die wesentlich größer isl als die Abtystfrcquen/, ergeben sich systematische I ehlcr. weil nach dem Ablasltheorem ein Signal nur lehlerfrei abgetastet werden kann, wenn es keine I requen/komponenlen enthält, die großer sind als die
ti halbe Ablastfrequcnz. Das Ausgangssignal eines Slrahlendelektors (bei ständig eingeschalteter Strahlenquelle) kann aber solche I'requenzkomponenten ent hallen, und es kann deshalb bei der bekannten Anordnung vorkommen, daß im Abn.stau^cnbliek das Signal des Detektors durch eine im Vcgleicl. zur Abtastperiode kurzzeitige Spitze oiler durch einen Einbruch verfälscht wird.
Dieser Fehler w ird bei der erfindungsgemäß ausgebildeten Einrichtung dadurch vermieden, daß das Aus
4S gangssignal eines icden Slrahlciuletcklors über einen Tiefpaß 3 geführt und. dessen Grcn/frequenz ungefähr der halben Ablastfrequenz (1/2 T) entspricht, wodurch alle höheren Frequen/komponenlen. die bei der anschließenden Auswertung /u I ehlern fuhren konnlcn.
">o eliminiert werden. In ("ig. 2 ist das Ausgam.'ssignal des Tiefpasses durch die gestrichelte Kurve β angeikiiiei. Dieses Ausgangssignal wird von der nachgi.'schalirten f blasteinrichtiing 4 in periodischen zeitlichen Absländen (T. I T. //"usw.) bzw. nach Durchlaufen jeweils eines
v-, bestimmten Winkels)/. B. 5 .b .'' usw.) abgctasicl und gespeichert. Das Ausgangssignal der Ahiasuinrichiung 4 wird auf mehl näher erläutern·, etwa ans der GB PS I 2 «3 411J bekannte Weise weiter verarbeitet Die dabei erforderliche l.ogarilhmiernng kann sowohl vor als
ho auch hinter dem Tiefpaß erfolgen.
Die crlindungsgenHiß mis^'chikletc Einrichtung isi vergleichsweise einfach, weil die Strahlenquelle nicht »geblitzt" werden muß. sondern ständig eingeschaltet ist. und eine vollständige Messung kann relaliv schnell
ii'. diirchgclührt werden, weil die Anoidiiuiig von Strahlen quelle und Strahk'ndctektoren zur Gewinnung eines Abtaslwerles mehl angehalten werden muß. sondern ki ntinuierhch mn konslanlcr Wmkelucsc liwmdu'keii
gedreht werden kann.
Wird anstelle eines Strahlendeiektors, bei dem die Amplitude des Ausgangssignals von der Intensität der Strahlung abhängt, ein Strahlendetektor verwendet, der eine von der Strahlenintensitat abhangige Anzahl von Inipulsen liefert, dann kann die Tieipaßfiherung durch Integration bzw. .Summierung der Impulse ü'Der eine Abtasiperiode angenähert werden.
Wird die Intensität der Strahlenquelle moduliert. /. Ii durch cine entsprechend modulierte Gleichstromversorgung oder mechanisch mittels eines bewegten Cutters, so enthalt das Ansgangssignal eines jeden Strahlendetektors neben einer Gleichstromkomponente eine Trägerfrequenz, um die herum ein Spektrum entsprechend der Modulation durch 'iie Dichte ties Objektes auftritt. Die TiefpaUfilterung k.inn dabei entweder dadurch erfolgen, dall das Ausgungssignal ■-, demudulien wird und einem Tiefpali zugeführt wird, dessen Ausgang an die Abtasteinrichtung angeschlossen ist, oder dadurch. daU das Ausgangssignal eines jeden Strahlendeteklors über einen Uandpaü und einen Demodulator der Abtasteinrichtung zugeführt wird; im in letzteren KaIIe muli die Millenfrequenz des Handpasses der Trägerfrequenz entsprechen und die Handbreite der Abtaslfrequenz.
Hierzu 2 Blatt ZeichiHinsien

Claims (3)

  1. Patentansprüche:
    I. Einrichtung zum Ermitteln der Absorption von Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von hinter dem Körper in der Ebene angeordneten Strahlendetektoren, wobei die Anordnung von Strahlenquelle und Strahlendetektoren relativ /um Körper kontinuierlich gedreht wird und in verschiedenen Stellungen der Anordnung die Absorption des Körpers gemessen wird, wobei ferner die Strahlenquelle standig eingeschaltet oder moduliert ist und die Ausgangssignale der Strahlendetektoren einer Abtasteinrichtung zugeführt werden, die die Signale mit einer vorgegebenen Abtastfrequenz periodisch abtastet, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen die Strahlendetektoren (S 1, .9 2. SN usw.) und die Abtasteinrichtung (4) ein Tiefpaß (3) geschaltet ist, dessen Grenzfrequenz etwa halb so groß wie die Abtastfrequenz (1/77ist.
  2. 2 Einrici-tung nach Anspruch I mit einer modulierten Strahlenquelle, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgangssignale der Strahlendetekioren (S \. SN usw.) über einen Bandpaß und einen den Tiefpaß enthaltenden Demodulator der Abtasteinrichtung (4) zugeführt werden.
  3. 3. Einrichtung nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Bandbreite des Bandpasses ungefähr der Ablast frequenz (I / T) entspricht.
DE2503789A 1975-01-30 1975-01-30 Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird Expired DE2503789C3 (de)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2503789A DE2503789C3 (de) 1975-01-30 1975-01-30 Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird
CA244,284A CA1074024A (en) 1975-01-30 1976-01-27 Device for measuring radiation absorption
SE7600805A SE413457B (sv) 1975-01-30 1976-01-27 Datoriserad tomgrafiapparat for metning av stralningsabsorption
GB3070/76A GB1541286A (en) 1975-01-30 1976-01-27 Device for measuring radiation absorption
IT67180/76A IT1057072B (it) 1975-01-30 1976-01-27 Dispositivo per la misurazione dell assorbimento di una radiazione da parte di un corpo
JP51007202A JPS51100781A (de) 1975-01-30 1976-01-27
US05/653,111 US4034223A (en) 1975-01-30 1976-01-28 Device for measuring radiation absorption
BE163874A BE837999A (fr) 1975-01-30 1976-01-28 Dispositif pour mesurer le degre d'absorption de rayonnement
FR7602577A FR2299650A1 (fr) 1975-01-30 1976-01-30 Dispositif pour mesurer le degre d'absorption de rayonnement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2503789A DE2503789C3 (de) 1975-01-30 1975-01-30 Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2503789A1 DE2503789A1 (de) 1976-08-05
DE2503789B2 DE2503789B2 (de) 1980-01-31
DE2503789C3 true DE2503789C3 (de) 1980-10-09

Family

ID=5937682

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2503789A Expired DE2503789C3 (de) 1975-01-30 1975-01-30 Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4034223A (de)
JP (1) JPS51100781A (de)
BE (1) BE837999A (de)
CA (1) CA1074024A (de)
DE (1) DE2503789C3 (de)
FR (1) FR2299650A1 (de)
GB (1) GB1541286A (de)
IT (1) IT1057072B (de)
SE (1) SE413457B (de)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4107531A (en) * 1976-09-16 1978-08-15 General Electric Company X-ray body scanner using encoder for generating system controlling timing pulse train
US4141071A (en) * 1977-03-17 1979-02-20 Bethlehem Steel Corporation Automatic diametric dimension control for mill for rolling round bars
US4255659A (en) * 1978-03-27 1981-03-10 The Regents Of The University Of California Semiconductor radiation detector
IL64106A0 (en) * 1981-06-12 1982-01-31 Analogic Corp Continuous wave fan beam tomography system
US4547893A (en) * 1981-06-12 1985-10-15 Analogic Corporation Continuous wave fan beam tomography system having a best-estimating filter
JPS5980233A (ja) * 1982-10-30 1984-05-09 株式会社島津製作所 Ｘ線ｃｔ装置
US4535243A (en) * 1983-03-17 1985-08-13 Imatron Associates X-ray detector for high speed X-ray scanning system
US4620313A (en) * 1984-06-20 1986-10-28 Technicare Corporation Controlled cutoff frequency analog filter for CT scanners
US5218533A (en) * 1990-08-06 1993-06-08 General Electric Company Stable interruptible filter for dual beam computed tomography
US20080078948A1 (en) * 2006-10-03 2008-04-03 Tokyo Electron Limited Processing termination detection method and apparatus
WO2009066227A2 (en) * 2007-11-19 2009-05-28 Koninklijke Philips Electronics N. V. A radiation detector comprising an imaging radiation-collimating structure

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3099746A (en) * 1959-09-28 1963-07-30 Tuboscope Company Thickness measuring apparatus utilizing gamma radiation
US3106640A (en) * 1960-10-06 1963-10-08 William H Oldendorf Radiant energy apparatus for investigating selected areas of the interior of objectsobscured by dense material
GB1430088A (en) * 1972-05-17 1976-03-31 Emi Ltd Radiography
GB1471531A (en) * 1973-04-25 1977-04-27 Emi Ltd Radiography
GB1475492A (en) * 1973-06-01 1977-06-01 Emi Ltd Apparatus for examining objects by means of penetrating radiation

Also Published As

Publication number Publication date
DE2503789B2 (de) 1980-01-31
FR2299650B1 (de) 1981-10-23
SE413457B (sv) 1980-06-02
BE837999A (fr) 1976-07-28
CA1074024A (en) 1980-03-18
GB1541286A (en) 1979-02-28
JPS51100781A (de) 1976-09-06
US4034223A (en) 1977-07-05
FR2299650A1 (fr) 1976-08-27
IT1057072B (it) 1982-03-10
DE2503789A1 (de) 1976-08-05
SE7600805L (sv) 1976-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2503789C3 (de) Einrichtung zum Ermitteln der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers, mit einer Anordnung einer Strahlenquelle und einer Vielzahl von Strahlendetektoren, die relativ zu dem Körper kontinuierlich gedreht wird
DE3239108A1 (de) Positionsmessverfahren und einrichtungen zur durchfuehrung des verfahrens
DE102013207464B4 (de) Messverfahren und Messgerät zur Vermessung von breitbandigen Messsignalen
DE3606399A1 (de) Messvorrichtung zur lagebestimmung eines objektes
DE2656520B2 (de) Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser
DE2648693C2 (de) Meßanordnung zur Geschwindigkeitsmessung eines Luftfahrzeugs
DE1698280B2 (de) Vorrichtung zur bestimmung und steuerung der lageaenderung eines objektes gegenueber einem bezugssystem
WO2014001259A1 (de) Distanzmessverfahren und distanzmesser
DE4415419A1 (de) Positionsmesseinrichtung
DE2723329A1 (de) Vorrichtung zum pruefen von oberflaechen
DE3431344C2 (de)
EP0030520A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung beschichteten Trägerbahnstoffes zum Erfassen von darauf vorhandenen Giesslinien
DE102013109020B4 (de) Streulichtreferenzpixel
EP0750179B1 (de) Positionsmesseinrichtung
DE4319256C2 (de) Analog-Digital-Wandlerschaltung mit hoher Dynamik
DE2952154A1 (de) Photometer
DE102017010880A1 (de) Sensor zum Erfassen mindestens einer Kante einer laufenden Warenbahn
DE2517440C3 (de) Anordnung zur Ermittlung der Absorption einer Strahlung in einer Ebene eines Körpers
EP0138858A1 (de) Fotodetektor-system zum feststellen bzw. messen der position einer oder mehrerer lichtquellen
DE3137466A1 (de) Verfahren und geraet zur stroemungsmessung nach der ultraschall-puls-doppler-methode
DE1797327C2 (de) Gerät zur Messung des optischen Reflexionsvermögens bzw. der Durchlässigkeit. Ausscheidung aus: 1622484
DE2602916C2 (de)
DE3327954C2 (de)
CH645716A5 (de) Optisch-elektronische messeinrichtung zur inkrementalen winkelmessung.
DE2757210C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OD Request for examination
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee