JPS5980233A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
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- JPS5980233A JPS5980233A JP57190934A JP19093482A JPS5980233A JP S5980233 A JPS5980233 A JP S5980233A JP 57190934 A JP57190934 A JP 57190934A JP 19093482 A JP19093482 A JP 19093482A JP S5980233 A JPS5980233 A JP S5980233A
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- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はX線CT装置(X線コンビーータ断層撮影装
置)の改良に関する。
置)の改良に関する。
X線CT装置は、被写体に連続あるいはパルス状のX線
を照射して透過X線を検出器で検出Gル し、X線が被写体を透過したによる減弱を測定し、この
減弱データからコンポリー−ション及びバックプロジェ
クションなどの画像再構成データ処理によって、被写体
の体内のX線吸収率の2次元分布像を断層像として得る
ものであるが、検出器の出力からデータを獲得するD
、A S (Data Aqui −5ition S
ystem ;データ獲得装置)として従来では、検出
器出力を増幅した後一定時間積分してその後AD変換す
るという構成がとられていた。すなわち、第1図に示す
ように、X線管lから照射され被写体2を透過したX線
を検出器3で検出し、第2図へに示すような出力を得、
その出力をプリアンプ4で増幅して第2図Bのようにし
た後積分器5で積分し、対数変換器6で対数変換しくな
お、この対数変換は後述のデータ処理装置9内でデジタ
ルで行なわれる場合も多い)、第2図Cに示すように積
分されてホールドされている値をAD変せて行なうコン
ポリー−ションを実行しさらにバツクプロジェクション
することによシ被写体2におけるX線吸収係数の2次元
分布像を再構成するようにしている。このように従来の
DASは、積分器5及び積分器5の充放電(第2図C参
照)を行なうためのアナログスイッチやタイミングコン
トローラ8が必要であシ、価格を低くできない欠点があ
った。特に検出器3が多チャンネル備えられているタイ
プのX線CT装置(いわゆる第3世代のX線CT装置等
)では各チャンネル毎にこのような構成のDASが必要
であって価格面での問題は一層太きいものがある。
を照射して透過X線を検出器で検出Gル し、X線が被写体を透過したによる減弱を測定し、この
減弱データからコンポリー−ション及びバックプロジェ
クションなどの画像再構成データ処理によって、被写体
の体内のX線吸収率の2次元分布像を断層像として得る
ものであるが、検出器の出力からデータを獲得するD
、A S (Data Aqui −5ition S
ystem ;データ獲得装置)として従来では、検出
器出力を増幅した後一定時間積分してその後AD変換す
るという構成がとられていた。すなわち、第1図に示す
ように、X線管lから照射され被写体2を透過したX線
を検出器3で検出し、第2図へに示すような出力を得、
その出力をプリアンプ4で増幅して第2図Bのようにし
た後積分器5で積分し、対数変換器6で対数変換しくな
お、この対数変換は後述のデータ処理装置9内でデジタ
ルで行なわれる場合も多い)、第2図Cに示すように積
分されてホールドされている値をAD変せて行なうコン
ポリー−ションを実行しさらにバツクプロジェクション
することによシ被写体2におけるX線吸収係数の2次元
分布像を再構成するようにしている。このように従来の
DASは、積分器5及び積分器5の充放電(第2図C参
照)を行なうためのアナログスイッチやタイミングコン
トローラ8が必要であシ、価格を低くできない欠点があ
った。特に検出器3が多チャンネル備えられているタイ
プのX線CT装置(いわゆる第3世代のX線CT装置等
)では各チャンネル毎にこのような構成のDASが必要
であって価格面での問題は一層太きいものがある。
この発明は上記に鑑み、積分器やアナログスイッチやタ
イミングコントローラを省略した簡単な構成のDASを
採用することによって大幅なコストダウンを可能とする
X線CT装置を提供することを目的とする。
イミングコントローラを省略した簡単な構成のDASを
採用することによって大幅なコストダウンを可能とする
X線CT装置を提供することを目的とする。
以下、この発明の一実施例について説明する。
第3図に示すように、検出器3の出力(第4同人で示す
)がプリアンプ4で増幅されて第4図Bのようになり、
このプリアンプ4の出力がローハスフィルタ作用を行な
うフィルタ11を通して第4図Cのようになって対数変
換器6に送られ、対数変換された後人々にAD変換器7
でAD変換される(第4図C参照)。なお対数変換器6
を省き、対数変換をデータ処理装置9内で行なってもよ
い。ここでプリアンプ出力がローパスフィルタ作用を有
するフィルタ11を通ることによって、フィルタ11の
CRで決まるフィルタ関数とコンポリ−ジョンされて、
時間的にぼかされたことになる。この時間的にぼかされ
るということは第1図の積分器5による積分作用に相当
する。AD変換器7の出力は、データ処理装置9内で構
成されたデコンボリューション手段12を通る。このデ
コンボリューション手段12では、図に示すように、高
速フーリエ変換器13でフーリエ変換した後周波数領域
で復元フィルタ14によシ前記のフィルタ関数でデコン
ボ+)x−ジョンした後逆高速フーリエ変換器15で逆
フーリエ変換される。このフィルタ関数は上記フィルタ
11のフィルタ関数と全く同一でなく、高域を抑えてノ
イズ成分を抑圧する形のものであってもよい。また、第
3図では高速フーリエ変換を使い周波数領域でフィルタ
リングすることによってデコンボリューションしている
が、実空間においてデコンボIJ z−ジョン用重み関
数との重梵積分方式を採用するとともできる。′こうし
て得られたデータは積分器を省略しているため測定ノイ
ズが増加するが、ローパスフィルタ作用を有するフィル
タ11によっである程度ノイズをカットし、その上測定
回数を増やすことによって、これを補うことができ、第
1図のAD変換器7から得られるデータと同等になシ、
以後第1図と同様にデータ処理装置9においてコンボリ
ューション及びパックプロジェクション処理を受けて画
像再構成される。
)がプリアンプ4で増幅されて第4図Bのようになり、
このプリアンプ4の出力がローハスフィルタ作用を行な
うフィルタ11を通して第4図Cのようになって対数変
換器6に送られ、対数変換された後人々にAD変換器7
でAD変換される(第4図C参照)。なお対数変換器6
を省き、対数変換をデータ処理装置9内で行なってもよ
い。ここでプリアンプ出力がローパスフィルタ作用を有
するフィルタ11を通ることによって、フィルタ11の
CRで決まるフィルタ関数とコンポリ−ジョンされて、
時間的にぼかされたことになる。この時間的にぼかされ
るということは第1図の積分器5による積分作用に相当
する。AD変換器7の出力は、データ処理装置9内で構
成されたデコンボリューション手段12を通る。このデ
コンボリューション手段12では、図に示すように、高
速フーリエ変換器13でフーリエ変換した後周波数領域
で復元フィルタ14によシ前記のフィルタ関数でデコン
ボ+)x−ジョンした後逆高速フーリエ変換器15で逆
フーリエ変換される。このフィルタ関数は上記フィルタ
11のフィルタ関数と全く同一でなく、高域を抑えてノ
イズ成分を抑圧する形のものであってもよい。また、第
3図では高速フーリエ変換を使い周波数領域でフィルタ
リングすることによってデコンボリューションしている
が、実空間においてデコンボIJ z−ジョン用重み関
数との重梵積分方式を採用するとともできる。′こうし
て得られたデータは積分器を省略しているため測定ノイ
ズが増加するが、ローパスフィルタ作用を有するフィル
タ11によっである程度ノイズをカットし、その上測定
回数を増やすことによって、これを補うことができ、第
1図のAD変換器7から得られるデータと同等になシ、
以後第1図と同様にデータ処理装置9においてコンボリ
ューション及びパックプロジェクション処理を受けて画
像再構成される。
なお、上記の実施例では、フィルタ11としてパッシブ
フィルタを用いているが、アクティブフィルタを用いる
こともできる。このアクティブフィルタはたとえば第5
図のように、演算増幅器OPに抵抗R1〜R3とコンデ
ンサC1+02を接続して構成でき、フィルタ作用と増
幅作用とを行なうことができるので、プリアンプを省略
できる。この第5図の回路では、増幅率A、カットオフ
周波数fO及びコンデンサC2の値を決めた後、各定数
を、R1=R3/A + Ra =1名−K 、 C1
=2 (A+1 ) C2、R2= R3/ (A+1
)。
フィルタを用いているが、アクティブフィルタを用いる
こともできる。このアクティブフィルタはたとえば第5
図のように、演算増幅器OPに抵抗R1〜R3とコンデ
ンサC1+02を接続して構成でき、フィルタ作用と増
幅作用とを行なうことができるので、プリアンプを省略
できる。この第5図の回路では、増幅率A、カットオフ
周波数fO及びコンデンサC2の値を決めた後、各定数
を、R1=R3/A + Ra =1名−K 、 C1
=2 (A+1 ) C2、R2= R3/ (A+1
)。
K=2πfoC2で定めることができる。この第5図の
アクティブフィルタは一例であり、演算増幅器のフィー
ドバックループ内にR,C,L等を組み込んだ他の構成
の回路によっても同等なローパスフィルタ作用を有する
アクティブフィルタを実現できる。
アクティブフィルタは一例であり、演算増幅器のフィー
ドバックループ内にR,C,L等を組み込んだ他の構成
の回路によっても同等なローパスフィルタ作用を有する
アクティブフィルタを実現できる。
まだ、検出器3の出力は実質的にローパスフィルタ作用
を受けて時間的にぼかされたものであればよいので、必
ずしも上記のようなフィルタを用いる必要がない。検出
器3は、普通、シンチレータと、フォトマルチプライア
などの光電変換器との組合せが用いられる。シンチレー
タは、通常、アフターグロウの少ない、すなわち、たと
えばインパルス状X線入力が与えられた場合第6図のよ
うに応答して光出力を生じる、BGOやCdWO4やZ
nWo 4等が使用されるが、これを、第6図のよう
なアフターグロウの大きなNaIやCsIを用いること
とする。すると、このアフターグロウがサンプリング間
隔に比べて無視できない程の長さであるならば、ローパ
スフィルタの作用を実質的に果し、このようなシンチレ
ータを用いた検出器から得た出力は、電気回路によるロ
ーパスフィルタを通した信号と同様に特定のフィルタ関
数の作用させられた時間的にほかされたものとなる。し
たがってこのようなアフターグロウの非常に長いシンチ
レータを含む検出器を用いれば上記のようなフィルタは
不要となシ、コストダウンに寄与できる。
を受けて時間的にぼかされたものであればよいので、必
ずしも上記のようなフィルタを用いる必要がない。検出
器3は、普通、シンチレータと、フォトマルチプライア
などの光電変換器との組合せが用いられる。シンチレー
タは、通常、アフターグロウの少ない、すなわち、たと
えばインパルス状X線入力が与えられた場合第6図のよ
うに応答して光出力を生じる、BGOやCdWO4やZ
nWo 4等が使用されるが、これを、第6図のよう
なアフターグロウの大きなNaIやCsIを用いること
とする。すると、このアフターグロウがサンプリング間
隔に比べて無視できない程の長さであるならば、ローパ
スフィルタの作用を実質的に果し、このようなシンチレ
ータを用いた検出器から得た出力は、電気回路によるロ
ーパスフィルタを通した信号と同様に特定のフィルタ関
数の作用させられた時間的にほかされたものとなる。し
たがってこのようなアフターグロウの非常に長いシンチ
レータを含む検出器を用いれば上記のようなフィルタは
不要となシ、コストダウンに寄与できる。
才だ、アフターグロウの大きいNaIやCsI等のシン
チレータは一般に発光効率が優れているため信号の8/
N比を向上させることができる。
チレータは一般に発光効率が優れているため信号の8/
N比を向上させることができる。
以上、実施例について説明したように、この発明によれ
ば、検出器出力を実質的にローパスフィルタ関数で作用
させて時間的にぼかされた信号を得、この信号をAD変
換したのち、上記ノロ−ハスフィルタ関数でデコンボリ
一ションすることによってデータ獲得装置を構成したの
で、従来必要であった積分器やタイミングコントローラ
やアナログスイッチ等を省略できて大幅な費用低減を図
ることができぐしかも従来の積分型データ獲得装置と同
等なデータを得るととができる。
ば、検出器出力を実質的にローパスフィルタ関数で作用
させて時間的にぼかされた信号を得、この信号をAD変
換したのち、上記ノロ−ハスフィルタ関数でデコンボリ
一ションすることによってデータ獲得装置を構成したの
で、従来必要であった積分器やタイミングコントローラ
やアナログスイッチ等を省略できて大幅な費用低減を図
ることができぐしかも従来の積分型データ獲得装置と同
等なデータを得るととができる。
第1図は従来例のブロック図、第2図は第1図における
信号波形図、第3図はこの発明の一実施例のブロック図
、第4図は第3図における信号波形図、第5図はアクテ
ィブフィルタの一例を示す回路図、第6図はシンチレー
タのアフターグロウを説明するだめのタイムチャートで
ある。 1・・・X線管 2・・・被写体3・・・検出
器 4・・・プリアンプ5・・・積分器
6・・・対数変換器7・・・Al)変換器
8・・・タイミングコントローラ9・・・データ処理装
置 11・・・フィルタ12・・・デコンボリューショ
ン手段 13・・高速フーリエ変換器 14・・・復元フィルタ 15・・・逆高速フーリエ
変換器出願人 株式会社島津製作所 16 滲1図 y 等2目 AE C 算3臣 等q國 AB C
信号波形図、第3図はこの発明の一実施例のブロック図
、第4図は第3図における信号波形図、第5図はアクテ
ィブフィルタの一例を示す回路図、第6図はシンチレー
タのアフターグロウを説明するだめのタイムチャートで
ある。 1・・・X線管 2・・・被写体3・・・検出
器 4・・・プリアンプ5・・・積分器
6・・・対数変換器7・・・Al)変換器
8・・・タイミングコントローラ9・・・データ処理装
置 11・・・フィルタ12・・・デコンボリューショ
ン手段 13・・高速フーリエ変換器 14・・・復元フィルタ 15・・・逆高速フーリエ
変換器出願人 株式会社島津製作所 16 滲1図 y 等2目 AE C 算3臣 等q國 AB C
Claims (1)
- (1)被写体にX線を照射して透過X線を検出器で検出
し、得られたデータを画像再構成処理することによって
、被写体内のX線吸収係数の2次元分布像を断層像とし
て再構成するX線CT装置において、上記検出器出力か
らデータを獲得する装置を、上記検出器の実質的にロー
パスフィルタ作用を受けて時間的にほかされた出力をA
D変換するAI)変換器と、とのAD変換器出力を前記
ローパスフィルタ関数でデコンボリューションするデコ
ンボリューション手段とにより構成することを特徴とす
るX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57190934A JPS5980233A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57190934A JPS5980233A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5980233A true JPS5980233A (ja) | 1984-05-09 |
Family
ID=16266111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57190934A Pending JPS5980233A (ja) | 1982-10-30 | 1982-10-30 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5980233A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51100781A (ja) * | 1975-01-30 | 1976-09-06 | Philips Nv | |
JPS5273083A (en) * | 1975-12-12 | 1977-06-18 | Philips Nv | Method of and apparatus for measuring distribution of absorption or emission of radiation |
JPS5683333A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-07 | Hitachi Medical Corp | Ct apparatus |
-
1982
- 1982-10-30 JP JP57190934A patent/JPS5980233A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51100781A (ja) * | 1975-01-30 | 1976-09-06 | Philips Nv | |
JPS5273083A (en) * | 1975-12-12 | 1977-06-18 | Philips Nv | Method of and apparatus for measuring distribution of absorption or emission of radiation |
JPS5683333A (en) * | 1979-12-11 | 1981-07-07 | Hitachi Medical Corp | Ct apparatus |
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