DE2434829A1 - Lichtelektronische laengenmessvorrichtung - Google Patents
Lichtelektronische laengenmessvorrichtungInfo
- Publication number
- DE2434829A1 DE2434829A1 DE2434829A DE2434829A DE2434829A1 DE 2434829 A1 DE2434829 A1 DE 2434829A1 DE 2434829 A DE2434829 A DE 2434829A DE 2434829 A DE2434829 A DE 2434829A DE 2434829 A1 DE2434829 A1 DE 2434829A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- luminous flux
- darkened
- way
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Telefon: (07171) 56 90 Deutsche Bank AG PostscheAkomo Telefon-(0811) 77 89
T. ^""^ StWP* Μϋηώοη 70/37 369 Münzen K.LEHMANN TelegrammcSArocpat
49 Telex: 7 248 838 paSi 4 (1,LZ 7CC 700 10) 167941-804 Lipowskystraße 10 Telex: 5212 248 pawe d
PATENTANWÄLTE
HELMUT SCHROETER KLAUS LEHMANN
DIPL.-PHYS. DIPL.-INC.
Firma
Erwin Sick, Optik-Elektronik . si-18
18. 7. 1974
S/Ff
Lichtelektronische Längenme3vorrichtung
Die Erfindung bezieht sich auf eine lichtelektronische Vorrichtung der im Oberbegriff von Anspruch 1 genannten
Art.
Wird ein Abtastlichtbündel zur Längenmeßung durch Abtasten eines Gegenstandes verwendet, so besteht eine Schwierigkeit
darin, daß das Abtastlichtbündel für die gewünschte Genauigkeit mit optischen Mitteln nicht schlank genug gemacht
werden kann. Dieser Nachteil macht sich mit zunehmender Entfernung des Gegenstandes von der Lichtquelle zunehmend bemerkbar.
Durch die Erfindung soll daher.eine Vorrichtung geschaffen werden, die einen Grenzwertschalter veranlaßt,
umzuschalten, wenn das Lichtbündel von dem Gegenstand gerade zur Hälfte abgedunkelt oder zur Hälfte wieder freigegeben '
ist..Dieses ließe sich verhältnismäßig einfach mit Hilfe eines Grenzwertschalters mit hochkonstanter Schaltschwelle
durchführen, wenn der Lichtstrom des nicht abgedunkelten Abtastlichtbündels immer konstant bliebe. Hiermit kann man
jedoch nicht rechnen, da die Helligkeit der Lichtquelle sich' im Laufe der Zeit ändert und optische Mittel, wie Drehspiegel,
Reflektor und Lichtaustrittsfenster des Gerätes
5 09885/0742
- 2 - si-l8
verschmutzen können. Sin Grenzwertschalter mit hochkonstanter
S ehalt schwel Ie xuürde dann zwar immer bei einer bestimmten
Größe des Lichts trcmes umschalten. Dieser ürns ehalt Zeitpunkt
würde aber nicht mehr mit der Mitte des Abtastlichtbündels zusammen fallen. Das Zusammenfallen mit der Lichtbündelmitte
ist aber unbedingt erforderlich, da sonst die Länge des Gegenstandes als zu groß oder zu klein gemessen wird.
Durch die Erfindung muß also weiterhin erreicht werden, daß unabhängig- von der absoluten Größe des Lichtstroms des Abtastlichtbündels
immer dann geschaltet wird, wenn gerade die Hälfte des Abtastlichtbündels vom Gegenstand abgedunkelt oder
X'/ieder freigegeben ist. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß
bei einer lichtelektronischen Vorrichtung entsprechend dem Oberbegriff von Anspruch 1 durch die Merkmale des Kennzeichens
von Anspruch 1 gelöst.
Beim Abdunkeln und beim Aufhellen des Lichtbündels ergeben
sich mindestens annähernd linear abfallende beziehungsweise ansteigende Planken des Lichtstromsignals. Infolgedessen
erhält man Differentialquotienten,-die während der Zeiten
des Abdunkeins und Aufhellens mindestens annähernd konstante Größen beibehalten. Einen bestimmten Gegenstand in bestimmter
Lage im Abtastfeld vorausgesetzt, ist die Zeit, die benötigt wird, damit das Lichtbündel vollständig abgedunkelt
und vollständig wieder aufgehellt wird, immer die gleiche unabhängig von der absoluten Größe des Lichtstromes. Die
Planken des Lichtstromsignals sind aber mehr oder weniger steil, je nachdem, ob das Lichtstromsignal von einem
größeren oder kleineren Absolutwert auf null abfällt. Infolgedessen sind auch die Differentialquotienten unterschiedlich
groß. Damit hat man durch die Größe der Differentialquotienten ein Maß für die Größe des Lichtstromes des nicht
abgedunkelten Abtastlichtbündels.
509885/0742
- 3 - si-l8
Durch geeignete Wahl eines einstellbaren Paktors, mit dem
der Differentialquotient multipliziert wird, läßt sich bei einem Vergleich mit dem Lichtstromsignal nun erreichen, daß
das Produkt aus dem Differentialquotienten und dem Faktor bei halber Abdunkelung oder Aufhellung des Abtastlichtbündels
gerade die Größe des halben Lichtstromes hat. Der als Grenzwertschalter wirkende Komparator schaltet also immer bei Erreichen
der halben Größe des Liehtstromes um, unabhängig von
dem Absolutwert des nicht abgedunkelten Abtastlichtbündels.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wir im folgenden anhand der Zeichnungen beschrieben»
Figur 1 ist eine schematisierte, perspektivische Darstellung
einer lichtelektronischen Vorrichtung zur Längenmessung unter Verwendung eines bekannten
Lichtvorhanges.
Figur 2 bis 7 sind Darstellungen des zeitlichen Verlaufs von Signalen und
Figur 8 ist, stark schematisiert, derjenige Teil der
Schaltung, der für das Umschalten bei halbaufgeheiltem
oder halbabgedunkeltem Bündel sorgt.
Bei der Langenmeßvorrichtung nach Figur 1 wird von einer
Lichtquelle 2 durch lichtoptische Mittel 4 wie Sammellinsen,
einen Umlenkspiegel und Blenden ein schlankes Lichtbündel erzeugt, das auf einen Drehspiegel 6 fällt. Die reflektierende
Stelle des Drehspiegels 6 befindet sich mindestens annähernd in der Brennachse eines zylindrischen Parabolspiegels 8. Das
■den Parabolspiegel verlassende Lichtbündel 10 hat eine sehr
. 509885/0742
- 4 - si-l8
geringe Höhe h und eine dem gegenüber relativ große Breite. Von diesem Lichtbündel fällt ein Teil IQ.2, der kreuzweise
schraffiert ist,auf einen lotrechten Rastermaßstab 12, der
abwechselnd reflektierende und absorbierende sehr feine Streifen trägt, die quer zu seiner Längsrichtung verlaufen.
Ein weiterer Teil 10.1 des Lichtbündels tritt durch ein
Lichtaustrittsfenster IH- des Gerätes in den Meßraum 16 ein,
an dessen hinterem Ende ein Reflektor 18 fest angebracht ist. "Von diesem wird das Abtastlichtbündel 10.1 in sich selbst
gegen den Parabolspiegel 8 zurückreflektiert. Es verläuft von hier zurück über den Drehspiegel 6 zu einem halbdurchlässigen
Umlenkspiegel 20,- der es auf einen lichtelektrischen Wandler 21 wirft.
Von den spiegelnden Stellen des Rasters 12 wird das Lichtbündel· 10.2 in sich selbst zurückgeworfen. Es läuft ebenfalls
zurück über den Drehspiegel 6 und wird vom Spiegel 20 umgeienkt, und auf einen lichtelektrischen Wandler 22 geworfen.
Im Meßraum 16 ist fest ein Gegenstand 26 angebracht, dessen Höhe h gemessen werden soll.
Bei umlaufendem Drehspiegel 6 wird das Abtastlichtbündel 10.1,
zum Beipiel von unten nach oben, durch den Meßraum 16 bewegt. Hierbei entsteht am lichtelektrischen Wandler 21 ein Ausgangssignal
in Form eines Stromes I,, das in Figur 2 dargeste^t ist. Dieses Aus gangs signal· hat seine vo^e Höhe I , sol·ange
sich das Abtastlichtbündel 10.1 außerhalb des Gegenstandes
befindet. Bei der Abdunkelung des Lichtbündels durch den unteren Rand des Gegenstandes ergibt sich eine auf nuil· abfallende
Flanke j50 des Signals. Das Signal bleibt dann null,
509885/0742
- 5 - si-l8
solange der Gegenstand 26 verhindert, daß das Lichtbündel
vom Reflektor 8 zurückgeworfen wird. Das geringe vom Gegenstand 26 ausgehende Streulicht kann hier vernachlässigt
werden. Während das Lichtbündel 10.1 am oberen Rande des Gegenstandes wieder freigegeben wird, ergibt
sich eine ansteigende Planke 32 des Signals I,.
Während dieses Vorganges wird von dem Lichtbündel 10.2 der Rastermaßstab 12 abgetastet, der in Wirklichkeit viel feiner
geteilt ist, als in der Zeichnung hier darstellbar ist. Vorn lichtelektrisehen Wandler 22 wird ein Signal in Gestalt eines
Stromes Ip abgegeben, das in Figur 3 vereinfacht, nämlich mit
zu großen Impulsabständen, dargestellt ist.
Es muß nun durch eine logische Schaltung ermittelt werden, wieviel
Rasterimpulse (Figur 3) auf die Zeit T entfallen, die vom Abdunkeln genau der Hälfte des Lichtbündels bis zum Aufhellen,
genau der Hälfte des Lichtbündels verfließt. Die Anzahl der
Impulse innerhalb des Zeitraumes T ist dann ein Maß für die gemessene Länge, nämlich die Höhe h des Gegenstandes 26. Das
Abzählen derartiger Impulse innerhalb einer vorgegebenen Zeit ist an sich bekannt und wird nicht im einzelnen beschrieben.
•Dagegen wird im folgenden eine in Figur 8 dargestellte Schaltung
beschrieben, durch die Schaltschwellen in der Mitte der Flanken 30 und, 32 unabhängig von der absoluten Größe des Lichtstromes
mit hoher Genauigkeit eingehalten werden können.
Vom lichtelektrischen Wandler 21 wird der Ausgangsstrom I1
einem Strom-Spannungs-Wandler 3^ zugeführt. Dessen Ausgangssignal
U-,, das dem Strom I-, und damit dem zurückkehrenden
Lichtstrom des Abtastlichtbündels 10.1 proportional ist, wi-rd einem Differenzierglied 36 zugeführt. Das Signal U-, ist in
Figur 4 dargestellt. Seine Form entspricht der des Signals I,. Das Signal hat ebenfalls eine abfallende' Flanke 30 und eine
ansteigende Flanke 32. Es hat sich gezeigt, daß die Flanken
509885/0742
- β - si-l8
für die hiesige Anwendung ausreichend linear abfallen, so daß
sich Differential^
ergeben (Figur 5)·
ergeben (Figur 5)·
dUi
sich Differentialquotienten —-=- nach Art von Rechteckimpulsen
sich Differentialquotienten —-=- nach Art von Rechteckimpulsen
Die Signale nach Figur 5 werden einem Zweiweg-Gleichrichter 38
zugeführt, der alle Impulse des Differentialquotienten positiv
macht (Figur 6). Das gleichgerichtete Signal nach Figur 6, das hier mit U-, bezeichnet ist, wird über ein noch zu beschreibendes
Summierglied 4-1 einem als Grenzwer tschalt er mit hochkonstanter Schaltschwelle wirkenden Komparator 40 zugeführt. Einem
zweiten Eingang dieses Koniparators wird das Signal U-, vom Ausgang
des Strom-Spannungs-Wandlers j54- her zugeführt. Der Komparator
gibt ein Ausgangssignal Uh ab, das sich abrupt ändert,
wenn die Größe der Spannung U-, von hohen oder niedrigen Spannungswerten her gerade die Größe der Spannung erreicht hat, die dem
in Figur 8 oberen Eingang des Komparators 4-0 zugeführt wird. Die Schaltspannung soll mit hoher Genauigkeit die Größe von ■—■
(Figur 4-) haben.
Unabhängig davon muß verhindert werden, daß der Komparator 40
dann ein Signal abgibt, wenn seine beiden Eingangssignale null
sind. Zu diesem Zweck wird ihm eine Grundspannung U über einen Festwiderstand 42 zugeführt. Diese Grundspannung wird im Summierglied
4-1 addiert zu einer Spannung U^ ρ T , d. h. einem Teil
der Spannung U^ , der an einem-Potentiometer 44· abgegriffen wird..
Genauer gesagt addieren sich die Ströme aus beiden Zweigen in einem Festwiderstand 46. An dem in Figur 8 oberen Ende dieses
Widerstandes wird die gewünschte Summenspannung für den oberen Eingang des Komparators 40 abgegriffen.
T bedeutet die für jeden Gegenstand konstante Abtastzeit, die
zwischen halber Abdunkelung und halber Aufhellung des Abtastlichtbündels verfließt (Figur 2 und 7), und ρ ist ein am Potentiometer
4-4 einstellbarer Faktor.
Es ist nun erforderlich, die Summe der Signale U und U, pT
gerade so groß zu machen, daß die Maxima m (Figur 7) immer gerade die Größe ·,£- haben. Dies wird durch entsprechende
509885/0742
- 7 - si-l8
Einstellung des Potentiometers 44 erreicht. Hat man diese
Einstellung einmal gefunden, so gilt sie unabhängig von der sich durch Alterung und Verschmutzung ändernden absoluten
Größe des Lichtstromes und der sich proportional ändernden Spannung U . Der Komparator schaltet genau bei
Erreichen der halben Flankenhöhe um, d. h. also genau bei Abdunkelung oder Aufhellung der Hälfte des Abtastlichtbündels
10.1, so daß sich zwischen beiden Zeitpunkten die Zeit T ergibt. Es kann nun in bekannter V/eise mit dem Ausgang
des lichtelektrischen Wandlers 22 verglichen werden, d. h. mit der Zahl der in der Zeit T aufgetretenen Rasterimpulse,
wodurch sich die gemessene Länge ergibt.
In Formeln ausgedrückt, wird vom Komparator 40 umgeschaltet, wenn folgende Bedingung erfüllt ist, wobei zunächst noch die
Grundschwellenspannung U vernachlässigt wird:
1 Un
P i
dt
Der Differentialquotient -^- wird also mit einem Faktor
ρ T multipliziert, wobei dieser Faktor so zu wählen ist, daß das Produkt gerade die Größe ^0- hat.
Vervollständigt man diese Formel, so daß sie auch die
Grundschwellenspannung U berücksichtigt, so lautet sie:
dUl ' . TT Uo
dt
P T + U„
Die Erfindung wurde anhand eines Längenmeßgerätes beschrieben, das mit einem Vergleichsraster 12 arbeitet. Der eigentliche
Kern der Erfindung, nämlich die Ermittlung eines Umschaltzeitpunktes dann, wenn ein Lichtbündel gerade zur Hälfte abgedunkelt
oder aufgehellt ist, ist aber auch anwendbar,.wenn ein derartiger
509885/0 7 kl
- 8 - " si-l8
Raster nicht verwendet wird, sondern zum Beispiel eine
Analog-Längenmessung durchgeführt wird.
509885/0742
Claims (2)
- - 9 _ si-1818. 7S/FfPATENTANSPRÜCHELichtelektronische Vorrichtung zur Messung einer Länge eines Gegenstandes mit Hilfe eines schlanken Abtastlichtbündels, das vom Gegenstand abgedunkelt aber zeitlich vor und nach dein Abtasten des Gegenstandes auf einen lichtelektrischen Wandler fällt, dadurch gekennzei chnet, daß zur Ermittlung von Schaltzeitpunkten bei halber Abdunkelung und halber Aufhellung des Lichtbündeis, unabhängig vom Absolutwert des Lichtstromes des nicht abgedunkelten Abtastlichtbündels (10.1) eine Schaltung (Figur 8) vorgesehen ist, die ein vom lichtelektrischen Wandler (21) herrührendes Signal, dessen Größe dem Lichtstrom proportional ist (Lichtstromsignal U-, ) über die Zeit differenziert (Differenzierglied ~$6)3 ein dem so gewonnenen Differentialquotienten 1 proportionalesdtSignal gleichrichtet (Gleichrichter 38), mit einem einstellbaren Faktor (p T) multipliziert (Potentionmeter 44) und das so erhaltene Produkt und das Lichtstrorasignal (ti,) einem als Grenzwertschalter wirkenden Komparator (40) zuführt, dessen Ausgangssignal (U^) sich infolge entsprechender Wahl des Paktors (p T) abrupt ändert, wenndaJi)','Ergänzungsblatt zur Offenlegungsschrift 2 434 Offenlegungstag: 29.1.1976Int.CI.2: G 01 B 11/02_ 9 _ si-1818. 7. 1974 S/FfDiese Seite .ersetzt die unvollständig gedruckte Seite 9 der OS 24- 34- 829PATENTANSPRÜCHELichtelektronische Vorrichtung zur Messung einer Länge eines Gegenstandes mit Hilfe eines schlanken Abtastlichtbündels, das vom Gegenstand abgedunkelt aber zeitlich vor und nach dem Abtasten des Gegenstandes auf einen lichtelektrischen Wandler fällt, dadurch ' g.ekennzeichnet, daß zur Ermittlung von Schaltzeitpunkten bei halber Abdunkelung und halber Aufhellung des Lichtbündels, unabhängig vom Absolutwert des Lichtstromes des nicht abgedunkelten Abtastlichtbündels (10.1) eine Schaltung (Figur 8) vorgesehen 1st, die ein vorn lichteiektrischen Wandler (21) herrührendes Signal, dessen Größe dem Lichtstrom proportional ist (Lichtstromsignal U1) über die Zeit differenziert (Differenzierglied 36), ein dem so gewonnenen Differentialquotienten α 1 proportionalesdtSignal gleichrichtet (Gleichrichter 38), mit einem•einstellbaren Faktor (p T) multipliziert (Potentionmeter 4.4) und das so erhaltene Produkt und das Lichtstromsignal (U,) einem als' C-renzwertschalter wirkenden Komparator (40) zuführt, dessen Ausgangssignal (U^) sich infolge entsprechender Wahl des Faktors (p T) abrupt ändert, wenndU, Uist, wobei mit UQ das Lichtstromsignal des nicht abge-" 9" H Q^1O1NAL !NSPECTlD- 10 - si-18dunkelten Abtastlichtbündels bezeichnet ist.
- 2. Vorrichtung· nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeichnet, daß in der Schaltung auf den lichtelektrischen Wandler (21) ein Strom-Spannungs-Wandler (j54) folgt, auf diesen ein Differenzierglied (36) und auf dieses ein Zweiweg-Gleichrichter (38), daß diesem ein Potentiometer (44) zur Einstellung des wählbaren Teils (p) des Faktors (p T ) nachgeschaltet ist, und daß die Ausgänge des Strom-Spannungs-Wandlers (3*0 und des Potentiometers (44) mit den Eingängen des !Comparators (4-0) verbunden sind.3· Vorrichtung nach Anspruch 2., dadurch gekennzeichnet, daß in der Schaltung ein Summierglied (4l) vorgesehen ist, das zu einer der Eingangsgrößen (U-* PT) eine konstante, gegenüber U /2 kleine Spannung (U ) addiert, und daß der Paktor ρ Τ derart eingestelltwird, daßdUl UoΈΓ pt + us = 2^bei der abrupten Änderung des Komparator-Ausgangssignals ist.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2434829A DE2434829C3 (de) | 1974-07-19 | 1974-07-19 | Lichtelektronische Vorrichtung zur Messung der Länge oder Breite eines Gegenstands |
GB26950/75A GB1498227A (en) | 1974-07-19 | 1975-06-25 | Photoelectronic instrument for measuring the length of an object |
SE7507584A SE402974B (sv) | 1974-07-19 | 1975-07-02 | Ljuselektronisk lengdmetningsanordning |
US05/594,554 US4025796A (en) | 1974-07-19 | 1975-07-09 | Photoelectric instrument for measuring the length of an object |
FR7521664A FR2279067A1 (fr) | 1974-07-19 | 1975-07-10 | Mesureur de longueur photoelectronique |
IT68885/75A IT1041310B (it) | 1974-07-19 | 1975-07-18 | Dispositivo fotoelettronico per la misurazione delle lunghezze |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2434829A DE2434829C3 (de) | 1974-07-19 | 1974-07-19 | Lichtelektronische Vorrichtung zur Messung der Länge oder Breite eines Gegenstands |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2434829A1 true DE2434829A1 (de) | 1976-01-29 |
DE2434829B2 DE2434829B2 (de) | 1978-03-16 |
DE2434829C3 DE2434829C3 (de) | 1978-11-09 |
Family
ID=5921015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2434829A Expired DE2434829C3 (de) | 1974-07-19 | 1974-07-19 | Lichtelektronische Vorrichtung zur Messung der Länge oder Breite eines Gegenstands |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4025796A (de) |
DE (1) | DE2434829C3 (de) |
FR (1) | FR2279067A1 (de) |
GB (1) | GB1498227A (de) |
IT (1) | IT1041310B (de) |
SE (1) | SE402974B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3147433A1 (de) * | 1981-11-30 | 1983-06-09 | Eppendorf Gerätebau Netheler + Hinz GmbH, 2000 Hamburg | Verfahren zur photometrischen messung des inhalts von probegefaessen sowie vorrichtungen zur durchfuehrung des verfahrens |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2622113C3 (de) * | 1976-05-18 | 1982-04-08 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Optische Vorrichtung zur Korrektur der sphärischen Aberration eines sphärischen Hohlspiegels |
US4122525A (en) * | 1976-07-12 | 1978-10-24 | Eaton-Leonard Corporation | Method and apparatus for profile scanning |
DE2636906C3 (de) * | 1976-08-17 | 1983-12-29 | Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch | Verfahren zur Erzeugung eines Schaltsignals beim Durchgang eines Kontrastsprunges und Schaltungsanordnung zur Ausführung des Verfahrens |
US4199259A (en) * | 1977-06-27 | 1980-04-22 | Autech | Detector pulse enhancement circuit |
FI54972C (fi) * | 1978-01-18 | 1979-04-10 | A Elektroniikka | Foerfarande och anordning foer optisk maetning av dimensionen hos en kropp |
FR2494837A1 (fr) * | 1980-11-26 | 1982-05-28 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de controle des dimensions et de l'ecartement de pieces rigides disposees en faisceau |
US4447723A (en) * | 1981-09-03 | 1984-05-08 | Excellon Industries | Scanning beam reference employing a retroreflective code means |
US4629288A (en) * | 1983-12-15 | 1986-12-16 | Texas Instruments Incorporated | Optical spatial address system suitable for flat panel displays and the like |
SE453223B (sv) * | 1986-05-09 | 1988-01-18 | Eloptricon Ab | Forfaringssett och apparat for beroringsfri och noggrann kontrollmetning av maskindelar |
US4775788A (en) * | 1986-10-03 | 1988-10-04 | Greyhawk Systems, Inc. | Apparatus for detecting position of a rotating element using a two-grating moire pattern |
NO162830C (no) * | 1987-02-20 | 1990-02-21 | Tomra Systems As | Anordning ved dimensjonsmaaling. |
DE3737631C1 (de) * | 1987-11-05 | 1989-03-02 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische Abstastvorrichtung fuer ebene Oberflaechen |
SE462696B (sv) * | 1988-01-12 | 1990-08-13 | Emve I Aastorp Ab | Saett och anordning foer bestaemning av en approximativ, tredimensionell avbildning av ett foeremaal |
NO167334C (no) * | 1989-06-22 | 1991-10-23 | Tomra Systems As | Fremgangsmaate og anordning for dimensjonsmaaling. |
JP3370370B2 (ja) * | 1993-02-15 | 2003-01-27 | 株式会社リコー | 光走査型画像読取装置 |
DE19806288A1 (de) * | 1998-02-16 | 1999-08-26 | Fraunhofer Ges Forschung | Laserscanner-Meßsystem |
ES2152180B1 (es) * | 1999-04-07 | 2001-08-16 | Ct Investig Energeticas Ciemat | Aparato y metodo de metrologia bidimensional para temperaturas criogenicas. |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2659823A (en) * | 1951-09-21 | 1953-11-17 | Jr Carl A Vossberg | Measuring system |
DE2015694B2 (de) * | 1970-04-02 | 1971-11-11 | Exatest Meßtechnik GmbH, 5090 Le verkusen | Verfahren zur beruehrungslosen messung der breite oder lage eines gegenstandes mittels eines sichtstrahls |
GB1336008A (en) * | 1970-11-30 | 1973-11-07 | Decca Ltd | Detecting systems |
US3907439A (en) * | 1973-08-14 | 1975-09-23 | Zygo Corp | Edge-sensing with a scanning laser beam |
-
1974
- 1974-07-19 DE DE2434829A patent/DE2434829C3/de not_active Expired
-
1975
- 1975-06-25 GB GB26950/75A patent/GB1498227A/en not_active Expired
- 1975-07-02 SE SE7507584A patent/SE402974B/xx unknown
- 1975-07-09 US US05/594,554 patent/US4025796A/en not_active Expired - Lifetime
- 1975-07-10 FR FR7521664A patent/FR2279067A1/fr active Granted
- 1975-07-18 IT IT68885/75A patent/IT1041310B/it active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3147433A1 (de) * | 1981-11-30 | 1983-06-09 | Eppendorf Gerätebau Netheler + Hinz GmbH, 2000 Hamburg | Verfahren zur photometrischen messung des inhalts von probegefaessen sowie vorrichtungen zur durchfuehrung des verfahrens |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
SE402974B (sv) | 1978-07-24 |
DE2434829B2 (de) | 1978-03-16 |
SE7507584L (sv) | 1976-01-20 |
FR2279067B1 (de) | 1980-04-18 |
FR2279067A1 (fr) | 1976-02-13 |
DE2434829C3 (de) | 1978-11-09 |
IT1041310B (it) | 1980-01-10 |
GB1498227A (en) | 1978-01-18 |
US4025796A (en) | 1977-05-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2434829A1 (de) | Lichtelektronische laengenmessvorrichtung | |
DE2833069A1 (de) | Lasermessystem | |
DE2656520C3 (de) | Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser | |
DE2521618B1 (de) | Vorrichtung zum Messen oder Einstellen von zweidimensionalen Lagekoordinaten | |
DE1930111C3 (de) | Optische Vorrichtung zum Messen der Bewegung von gegeneinander bewegten Teilen | |
DE2509932A1 (de) | Vorrichtung zur bestimmung der verschiebung eines einzelteiles eines werkzeuges | |
DE4332254C1 (de) | Verwendung eines Abstandssensors für Computertomographen | |
DE3437145A1 (de) | Automatische scharfeinstellvorrichtung fuer photographische kameras | |
DE2127283A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Messung der Frequenz von elektrischen Signalen | |
DE2421824A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur feststellung der mittelamplitude von impulsen bei der teilchenuntersuchung | |
DE2436510C3 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Lage eines gegenüber einer Skala beweglichen Bauteils | |
DE2102122C3 (de) | Schaltungsanordnung zur Bestimmung der linearen Abmessungen oder des Flächeninhalts eines Objekts | |
DE2742589A1 (de) | Elektronische vergleichsvorrichtung fuer die prozessteuerung | |
DE2241263A1 (de) | Ueberwachungseinrichtung fuer die oberflaeche sich bewegender gegenstaende | |
DE2940429C2 (de) | Zeichenmaschinenkopf | |
DE3644866A1 (de) | Sensor | |
DE2166890C3 (de) | Einrichtung zum Einstellen eines Verstellgliedes für Kameraobjektive | |
DE3300333A1 (de) | Einrichtung zur optischen abstandsmessung von oberflaechen zu einem bezugspunkt | |
DE1588018B2 (de) | Einrichtung zur x,y-positionierung von kreuztischen | |
DE1159174B (de) | Vorrichtung zum Messen der gegenseitigen Lage zweier Objekte | |
CH646255A5 (de) | Verfahren zur automatischen auswertung von eindruecken bei der haertepruefung von werkstoffen und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens. | |
DE2839880B2 (de) | Vorrichtung zur Bestimmung der Lageänderung eines Gegenstandes | |
DE2251915A1 (de) | Vorrichtung zum feststellen von flekken oder fehlern in einer oberflaeche | |
AT396840B (de) | Vorrichtung zur erzeugung von referenzsignalen | |
EP0049419A1 (de) | Verfahren zum Korrigieren eines Messsignals |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |