DE2345848C3 - Elektromagnetischer Schichtdickenmesser - Google Patents

Elektromagnetischer Schichtdickenmesser

Info

Publication number
DE2345848C3
DE2345848C3 DE2345848A DE2345848A DE2345848C3 DE 2345848 C3 DE2345848 C3 DE 2345848C3 DE 2345848 A DE2345848 A DE 2345848A DE 2345848 A DE2345848 A DE 2345848A DE 2345848 C3 DE2345848 C3 DE 2345848C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
thickness meter
layer thickness
meter according
pole core
permanent magnet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE2345848A
Other languages
English (en)
Other versions
DE2345848A1 (de
DE2345848B2 (de
Inventor
Hans 5000 Köln Nix
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Elektro-Physik Hans Nix & Dr-Ing E Steingroever & Co Kg 5000 Koeln De GmbH
Original Assignee
Elektro-Physik Hans Nix & Dr-Ing E Steingroever & Co Kg 5000 Koeln De GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elektro-Physik Hans Nix & Dr-Ing E Steingroever & Co Kg 5000 Koeln De GmbH filed Critical Elektro-Physik Hans Nix & Dr-Ing E Steingroever & Co Kg 5000 Koeln De GmbH
Priority to DE2345848A priority Critical patent/DE2345848C3/de
Priority to GB5001173A priority patent/GB1410301A/en
Priority to FR7342796A priority patent/FR2243414B1/fr
Priority to JP48137608A priority patent/JPS5057260A/ja
Priority to US501354A priority patent/US3922599A/en
Publication of DE2345848A1 publication Critical patent/DE2345848A1/de
Publication of DE2345848B2 publication Critical patent/DE2345848B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2345848C3 publication Critical patent/DE2345848C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft elektromagnetische Schichtdikkenmesser mit einer einpoligen Meß-Sonde, deren weichmagnetischer Polkern durch ein magnetisches Wechselfeld erregt wird.
Diese bekannten Schichtdickenmesser (DE-OS 21 07 076) besitzen einen weichmagnetischen, stabförmigen Polkern, dessen eines Ende abgerundet ist und den Meß-Pol bildet Auf dem Stab ist eine Erregerspule angebracht, die von einem elektrischen Wechselstrom durchflossen wird, so daß ein magnetisches Wechselfeld entsteht Zwischen der Erregerspule und dem Meß-Pol oder zu beiden Seiten der Erregerspule sind Meß-Spulen angebracht, in denen eine elektrische Spannung in-
duziert wird. Diese wird durch Annäherung des Meß-Poles an eine magnetisch oder elektrisch leitende Fläche verändert, indem bei magnetisch leitender Fläche der magnetische Fluß durch den Meß-Pol infolge des magnetischen Leitwertes der Unterlage vergrößert bzw. bei elektrisch leitender Fläche der magnetische Fluß durch den Meß-Pol infolge der in der Unterlage entstehenden Wirbelströme verringert wird. Bei Verwendung von zwei Meß-Spulen sind diese im allgemeinen einander entgegengeschaltet, so daß die Differenz der in ih-
nen induzierten Spannung zur Messung benutzt wird. Diese in der oder den Meßspulen induzierte elektrische Spannung ist ein Maß für die Annäherung an die magnetisch oder elektrisch leitende Unterlage und damit für die Dicke einer auf dieser befindlichen Schicht, wenn der Meß-Pol diese berührt.
Ein Nachteil dieser bekannten Schichtdickenmesser ist, daß die Empfindlichkeit der Anzeige bei kleinen Schichtdicken sehr groß und bei großen Schichtdicken nur sehr klein ist. Der Verlauf der Empfindlichkcitskurve in Abhängigkeit von der Schichtdicke ist durch a in F i g. 1 dargestellt. Dies gilt sowohl für einpolige Sonden mit magnetischem Wechselfeld als auch für zweipolige Sonden mit magnetischem Gleichfeld.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen elektromagnetischen Schichtdickenmesser nach dem Oberbegriff des Anspruches 1 dahingehend zu verbessern, daß der Verlauf der Empfindlichkeitskurve über den gesamten Meßbereich, insbesondere bei kleinen und bei großen Schichtdicken, gleichmäßiger gestaltet wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Polkern einstellbar vormagnetisiert ist.
Durch die Vormagnetisierung des Polkernes ergibt sich ein Verlauf der Empfindlichkeit in Abhängigkeit von der Schichtdicke, der durch die Kurve b in Fig. 1 dargestellt ist. Die Meßempfindlichkeit wird bei kleinen Schichtdicken geringer, bei großen Schichtdicken größer als ohne Vormagnetisierung des Polkerncs. Durch die erfindungsgemäße Einstellbarkeit der Vormagnetisierung kann der Verlauf der Empfindlichkeitskurvc beeinflußt werden, so daß ein gewünschter Skalcnvcrlauf erreicht wird oder die Empfindlichkeit an eine vorgegebene Skala angepaßt werden kann. Damit wird die Vcr-
wendung gedruckter Skalen ermöglicht.
Aus der DE-OS 16 23 263 ist ein magnetischer Dikkenmesser für Teile aus ferromagnetischen Werkstoffen mit zweipoliger Meß-Sonde und magnetischem Gleichfeld bekannt, wobei der Polkern sowohl durch einen Dauermagneten als auch durch das Feld einer von einem wählbaren Gleichstrom durchflossenen Wicklung magnetisiert wird. Diese Maßnahme erlaubt zwar eine gewisse Einstellung der Empfindlichkeit des Meßgeräts, jedoch ist dieser magnetische Dickenmesser mit dem Gegenstand des vorliegenden Patentes insofern nicht vergleichbar, als es kein Schichtdickenmesser, sondern ein Gerät zum Messen der Dicke von Blechen ist
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung im Anschluß an das Diagramm von F i g. 1 in F i g. 2 bis 6 dargestellt Es zeigt
F i g. 2 ein erstes Ausführungsbeispiel eines elektromagnetischen Schichtdickenmessers mit einem einstellbar vormagnetisierten stabförmigen Polkerr,
Fig.3 ein abgewandeltes Ausführungsbeispiel eines derartigen Schichtdickenmessers mit einem verstellbaren Dauermagneten für die Einstellung der Vormagnetisierung des Polkerns,
Fig.4 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines elektromagnetischen Schichtdickenmessers mit einer elektrischen Stromspule für die Einstellung der Vormagnetisierung des Polkerns,
F i g. 5 noch ein Ausführungsbeispiel eines elektromagnetischen Schichtdickenmessers mit zwei Meßspulen auf den beiden Seiten einer Erregerspule für die Einstellung der Vormagnetisierung und
F i g. 6 ein Ausführungsbeispiel für einen elektromagnetischen Schichtdickenmesser mit einer um die Erregerspule und die Meßspulen herumgelegten Stromspule für die Einstellung der Vormagnetisierung.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in Fig.2 dargestellt. Auf einem stabförmigen Polkern 1 befinden sich eine Erregerspule 2 und eine Meß-Spule 3. Der Polkern ist an einem Ende zum Meßpol 4 abgerundet. Dieser berührt die zu messende Schicht 5, die auf der Unterlage 6 aufgetragen ist. Die erfindungsgemäße Vormagnetisierung des Polkernes wird durch den auf seinem der Meßfläche abgewendeten Ende angeordneten Dauermagneten 7 erzeugt, der in Richtung N—Sder Achse des Polkernes magnetisiert ist. Er kann den Polkern 1 berühren oder mit einem Luftspalt zum Polkern angeordnet sein. Die Einstellung der Vormagnetisierung erfolgt durch Abgleich des Dauermagneten 7, indem dieser beispielsweise zunächst voll magnetisiert und dann soweit geschwächt wird, bis der gewünschte Skalenverlauf erreicht ist. Das Magnetisieren des Polkernes kann nach dem Zusammenbau der Meß-Sonde dadurch erfolgen, daß diese in ein starkes axiales Magnetfeld gebracht wird; das Schwächen kann rr.it einem axialen, einstellbaren magnetischen Wechselfeld von erst zunehmender, dann abnehmender Amplitude erfolgen.
Die erfindungsgemäße Einstellung der Vormagnetisierung kann nach F i g. 3 auch dadurch erfolgen, daß der Abstand des Dauermagneten 8 vom Polkern 9 verändert wird, beispielsweise mit einer im Gehäuse 10 der Meß-Sonde gelagerten Einstellschraube 11.
Nach der Erfindung kann die einstellbare Vormagnetisierung auch durch das magnetische Feld einer elektrischen Slromspule 12 in F i g. 4 erzeugt werden, die auf das der Meßfläche 13 abgewandte Ende des Polkernes 14 wirkt und aus der Stromquelle 15 über den einstellbaren Widerstand 16 gespeist wird.
Bei einer anderen Ausführung der Erfindung nach F i g. 5 werden zwei Meß-Spulen 17 und 18 verwendet, die auf beiden Seiten der Erregerspule 19 angeordnet und gegeneinander geschaltet sind, so daß ihre Differenzspannung die Meß-Spannung ergibt. Auch hier wird der Skalenverlauf durch Abgleich oder Magnetisierung des Dauermagneten 20 beeinflußt oder durch Veränderung seines Abstandes zum Polkern 21.
Eine weitere erfindungsgemäße Anordnung der Stromspule zur Erzeugung einer einstellbaren Vormagnetisierung zeigt F i g. 6.
Darin ist die Stromspule 22 konzentrisch um die Erregerspule 23 und die Meß-Spulen 24 und 25 gelegt
Die erfindungsgemäße Beeinflussung des Skalenverlaufes eines elektromagnetischen Schichtdickenmessers durch Vormagnetisierung seines Polkernes ist bedingt durch die Veränderung der magnetischen Permeabilität des Polkernwerkstoffes. Diese Veränderung ist größer bei geringer Sättigungsmagnetisierung des Polkernwerkstoffes als bei hoher Sättigungsmagnetisierung. Deshalb besteht erfindungsgemäß der Polkern aus einem weichmagnetischen Werkstoff, dessen Sättigungsmagnetisierung weniger als 1,4 Tesla beträgt. Dabei ist es vorteilhaft, daß seine Koerzitivfeldstärke weniger als 3 A/cm, vorzugsweise weniger als 1 A/cm beträgt, um im Zusammenwirken mit der erfindungsgemäßen Vormagnetisierung einen stabilen Arbeitspunkt des Schichtdickenmessers zu erhalten. Eine für den Polkern besonders geeignete Legierung besteht aus Eisen mit 13 bis 18% Aluminium. Die Legierung aus Eisen und 16% Aluminium weist beispielsweise eine eine Sättigungsmagnetisierung von 0,5 bis 1 Tesla und eine Koerzitivfeldstärke von weniger als 1 A/cm auf. Erfindungsgemäß kann in dieser Legierung für den Polkern bis zu 8% Aluminium durch Silizium ersetzt sein.
Der Dauermagnet zur Erzeugung der Vormagnetisierung soll erfindungsgemäß eine hohe Koerzitivfeldstärke von mehr als 400 A/cm, vorzugsweise von mehr als 1000 A/cm besitzen. Er kann beispielsweise aus einer Legierung von Eisen mit Aluminium, Nickel und Kobalt mit an sich bekannten Zusätzen bestehen, aus einem Ferritwerkstoff nach Art des BaO · 6 Fe2U3 oder aus einem Werkstoff nach Art des SmCos. Zur Kompensation des Einflusses der Temperatur auf die Anzeige der Schichtdicke wird der Dauermagnet mit einem temperaturabhängigen magnetischen Nebenschluß versehen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (17)

Patentansprüche:
1. Elektromagnetischer Schichtdickenmesser mit einer einpoligen Meß-Sonde, deren weichmagnetischer Polkern durch ein magnetisches Wechselfeld erregt wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Polkern (1,9,14,21) einstellbar vormagnetisiert ist
2. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vormagnetisierung durch einen Dauermagneten (7,8,20) erfolgt
3. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet daß die Einstellung der Vormagnetisierung durch Abgleich des aufmagnetisierten Dauermagneten (7,20) erfolgt
4. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vormagnetisierung durch das einstellbare Feld einer Stromspule (12, 22) erfolgt
5. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer Meß-Sonde mit stabförmigem Polkern (1,21) auf dem der Meßfläche abgewandten Ende des Polkernes ein Dauermagnet (7,20) angeordnet ist
6. Schichtdickenmesser nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet (7, 20) in Richtung der Achse des Polkernes (1, 21) magnetisiert ist
7. Schichtdickenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet (7, 20) den Polkern (1,21) berührt.
8. Schichtdickenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet (8) in gegebenenfalls einstellbarem Abstand vom Polkern (9) angeordnet ist.
9. Schichtdickenmesser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromspule (12) auf dem der Meßfläche abgewandten Ende des Polkernes (14) angeordnet ist.
10. Schichtdickenmesser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromspule (22) konzentrisch um die auf dem Polkern angeordneten Meßwicklungen (24,25) angeordnet ist.
11. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Polkern (1, 9, 14, 21) aus einem weichmagnetischen Werkstoff besteht, dessen Sättigungsmagnetisierung weniger als 1,4 Tesla beträgt.
12. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß der Werkstoff des Polkerns (1, 9,14, 21) eine Koerzitivfeldstärke von weniger als 3 A/cm, vorzugsweise von weniger als 1 A/cm aufweist
13. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Polkern (1, 9, 14, 21) aus einer Legierung von Eisen mit 13 bis 18% Aluminium besteht.
14. Schichtdickenmesser nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Legierung des Polkernes (1,9,14, 21) aus Eisen und ca. 16% Aluminium besteht und eine Sättigungsmagnetisierung von 0,5 bis 1 Tesla sowie eine Koerzitivfeldstärke von weniger als 1 A/cm aufweist.
15. Schichtdickenmesser nach Anspruch 13 und 14, dadurch gekennzeichnet, daß bis zu 8% Aluminium durch Silizium ersetzt ist.
16. Schichtdickenmesser nach Anspruch 2, da-
durch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet (7, 8, 20) eine Koerzitivfeldstärke von mehr als 400 A/cm, vorzugsweise von mehr als 1000 A/cm besitzt.
17. Schichtdickenmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet (7, 8, 20) mit einem temperaturabhängigen Nebenschluß versehen ist
DE2345848A 1973-09-12 1973-09-12 Elektromagnetischer Schichtdickenmesser Expired DE2345848C3 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2345848A DE2345848C3 (de) 1973-09-12 1973-09-12 Elektromagnetischer Schichtdickenmesser
GB5001173A GB1410301A (en) 1973-09-12 1973-10-26 Electro-magnetic thickness gauge
FR7342796A FR2243414B1 (de) 1973-09-12 1973-11-30
JP48137608A JPS5057260A (de) 1973-09-12 1973-12-06
US501354A US3922599A (en) 1973-09-12 1974-08-28 A.C. electromagnetic thickness gauge utilizing premagnetization of the gauge core to render sensitivity independent of thickness

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2345848A DE2345848C3 (de) 1973-09-12 1973-09-12 Elektromagnetischer Schichtdickenmesser

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2345848A1 DE2345848A1 (de) 1975-03-20
DE2345848B2 DE2345848B2 (de) 1980-02-21
DE2345848C3 true DE2345848C3 (de) 1986-06-19

Family

ID=5892278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2345848A Expired DE2345848C3 (de) 1973-09-12 1973-09-12 Elektromagnetischer Schichtdickenmesser

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3922599A (de)
JP (1) JPS5057260A (de)
DE (1) DE2345848C3 (de)
FR (1) FR2243414B1 (de)
GB (1) GB1410301A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4119903A1 (de) * 1991-06-17 1992-12-24 Helmut Fischer Gmbh & Co Verfahren und vorrichtung zur messung duenner schichten

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU947631A1 (ru) * 1978-04-04 1982-07-30 Отдел Физики Неразрушающего Контроля Ан Бсср Толщиномер
HU184050B (en) * 1979-11-29 1984-06-28 Gyoergy Balogh Method for detecting and checking the decreasing of activity and watchfulness level of driver on vehicles on non-limited way having independent source of power as well as safety device for vehicles of non-limited way
US4567436A (en) * 1982-01-21 1986-01-28 Linda Koch Magnetic thickness gauge with adjustable probe
US4553095A (en) * 1982-06-10 1985-11-12 Westinghouse Electric Corp. Eddy current thickness gauge with constant magnetic bias
JPS5928601A (ja) * 1982-08-10 1984-02-15 Amada Co Ltd 磁性体板の検出方法および装置
DE3236224C2 (de) * 1982-09-30 1985-03-28 Werner Turck Gmbh & Co Kg, 5884 Halver Induktiver Annäherungsschalter
US4767987A (en) * 1983-12-12 1988-08-30 Harris Graphics Corporation Method and apparatus for monitoring film thicknesses by sensing magnetic interaction between members movable to a film thickness distance
US4661774A (en) * 1983-12-12 1987-04-28 Harris Graphics Corporation Method and apparatus for monitoring film thickness between rotatable rolls
DE3408554C2 (de) * 1984-03-08 1994-02-17 Helmut Fischer Gmbh & Co Vorrichtung zum Messen des Eindringverhaltens eines Prüfkörpers in einen zerstörungsfrei zu prüfenden Stoff
JPS6138503A (ja) * 1984-07-31 1986-02-24 Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk 膜厚計
JPS62298701A (ja) * 1986-06-18 1987-12-25 Ngk Insulators Ltd 非金属材料成形体の寸法測定法
US4804912A (en) * 1987-05-14 1989-02-14 Kamyr Ab Apparatus for electromagnetically measuring the distance between two opposing grinding surfaces
ATE104427T1 (de) * 1990-02-28 1994-04-15 Schenck Ag Carl Verfahren und vorrichtung zum abgleich einer wegaufnehmer-messkette nach dem wirbelstrommessverfahren.
FR2678061A1 (fr) * 1991-06-25 1992-12-24 Fischer Gmbh Co Inst Elektro Procede et dispositif pour la mesure de couches minces.
US5343146A (en) * 1992-10-05 1994-08-30 De Felsko Corporation Combination coating thickness gauge using a magnetic flux density sensor and an eddy current search coil
US5917321A (en) * 1995-05-19 1999-06-29 International Business Machines Corporation Process and device for determining the magnetic characteristics of thin magnetic layers
GB9520515D0 (en) * 1995-10-05 1995-12-13 Elcometer Instr Ltd A thickness coating measuring instrument
FR2743148B1 (fr) * 1995-12-29 1998-02-27 Framatome Sa Dispositif et procede de controle de tubes par courants de foucault
DE19820546C1 (de) * 1998-05-08 1999-11-04 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Eliminierung von Meßfehlern bei der Bestimmung einer Dicke einer Schicht aus elektrisch leitendem Material
KR100381095B1 (ko) * 1998-10-10 2003-07-16 주식회사 포스코 자기 유도방식에 의한 아연도금량 두께 측정방법
GB0016591D0 (en) * 2000-07-06 2000-08-23 Elcometer Instr Ltd Dual mode coating thickness measuring instrument
US6593737B2 (en) * 2000-08-24 2003-07-15 Shell Oil Company Method for measuring the wall thickness of an electrically conductive object
US6975108B2 (en) * 2003-11-13 2005-12-13 Yuli Bilik Methods and devices for eddy current PCB inspection
NL1027373C2 (nl) * 2004-10-29 2006-05-03 Sonimex B V Werkwijze en inrichting voor het niet-destructief onderzoeken van een voorwerp.
US7403001B1 (en) * 2005-03-29 2008-07-22 Lam Research Corporation Methods and apparatus for measuring morphology of a conductive film on a substrate
US9194687B1 (en) * 2010-02-04 2015-11-24 Textron Innovations Inc. System and method for measuring non-conductive coating thickness using eddy currents
US9091664B2 (en) * 2012-06-07 2015-07-28 Thomas Krause Pulsed eddy current sensor for precision measurement at-large lift-offs on metallic surfaces
FR3009076B1 (fr) * 2013-07-26 2017-03-31 Michelin & Cie Systeme de mesure de l'epaisseur d'une couche de gomme d'un pneumatique
CN106940168A (zh) * 2017-05-08 2017-07-11 成都锦江电子***工程有限公司 一种电磁波吸收涂层厚度无损测厚仪探头及测厚方法
DE102018211029A1 (de) * 2017-12-20 2019-06-27 Gerd Reime Verfahren und Sensor zur Erkennung einer Bewegung eines metallischen Gegenstandes mit extrem geringem Stromverbrauch

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2221516A (en) * 1937-04-01 1940-11-12 Gen Electric Continuous thickness gauge
DE1303674C2 (de) * 1965-07-19 1973-04-12 Nix H Magnetischer schichtdickenmesser
GB1097179A (en) * 1965-07-21 1967-12-29 Teledictor Ltd Apparatus for measuring the thickness of sheets of ferromagnetic materials
DE1623263A1 (de) * 1967-09-06 1970-12-23 Nix Hans Magnetischer Dickenmesser fuer Teile aus ferromagnetischen Werkstoffen
DE2063805A1 (de) * 1970-12-24 1972-07-06 Brockhaus S Anordnung zur induktiven Messung insbesondere der Dicke oder des Querschnittes von Blechen aus ferromagnetischen Werkstoffen
DE2107076C3 (de) * 1971-02-15 1975-01-30 Elektro-Physik Hans Nix & Dr.-Ing. E. Steingroever Kg, 5000 Koeln Magnetischer Schicht-Dickenmesser

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4119903A1 (de) * 1991-06-17 1992-12-24 Helmut Fischer Gmbh & Co Verfahren und vorrichtung zur messung duenner schichten
DE4119903C2 (de) * 1991-06-17 2000-07-27 Helmut Fischer Gmbh & Co Verfahren und Vorrichtung zur Messung dünner Schichten
DE4119903C5 (de) * 1991-06-17 2005-06-30 Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Messung dünner Schichten

Also Published As

Publication number Publication date
FR2243414A1 (de) 1975-04-04
DE2345848A1 (de) 1975-03-20
US3922599A (en) 1975-11-25
FR2243414B1 (de) 1980-10-03
JPS5057260A (de) 1975-05-19
GB1410301A (en) 1975-10-15
DE2345848B2 (de) 1980-02-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2345848C3 (de) Elektromagnetischer Schichtdickenmesser
DE3031997C2 (de) Anordnung zur berührungslosen Messung statischer und dynamischer Drehmomente
DE3855048T2 (de) Digitaler kompass und magnetometer, mit frequenzdifferenz
DE3840532C2 (de)
DE1473522A1 (de) Wirbelstrom-Pruefanordnung fuer ferromagnetische Werkstuecke
DE2107076C3 (de) Magnetischer Schicht-Dickenmesser
DE2749681A1 (de) Magnetische moment - messpule
DE102012213802B4 (de) Magnetisches Modul für einen Stromsensor
DE4325767A1 (de) Schichtdickenmeßvorrichtung
DE4210689C2 (de) Meßsonde zur Schichtdickenmessung
DE644858C (de) Anordnung zur Messung magnetischer Werte, insbesondere der Koerzitivkraft oder der Remanenz
DE871185C (de) Geraet zum Messen von Magnetisierungskurven
DE102015119519B4 (de) Magnetisch-induktives Durchflussmessgerät zur Messung der Durchflussgeschwindigkeit oder des Volumendurchflusses von Medien in einer Rohrleitung
DE3625819A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum beruehrungslosen messen des spezifischen widerstands von halbleiterplaettchen
DE3933627A1 (de) Sensor mit einem beweglichen permanentmagnetsystem zur bestimmung einer bewegungsabhaengigen groesse
DE19543362C2 (de) Kombinierte Meßsonde zur Schichtdickenmessung
DE1046344B (de) Magnetischer Dickenmesser und Verfahren zu seiner Verwendung
DE883623C (de) Magnetstahlpruefer
DE1498482B2 (de) Induktions-durchflussmesser
AT159364B (de) Einrichtung zur Längenmessung auf elektromagnetischer Grundlage.
DE809716C (de) Schichtdickenmesser
DE1050895B (de) Anordnung zur Messung des Absolutwertes großer Gleichströme
DE1466721C (de)
DE1466721B2 (de) Ferrometer zum oszillographischen Messen von magnetischen Kennwerten hartmagnetischer Werkstoffproben
DE951773C (de) Elektrische Messanordnung

Legal Events

Date Code Title Description
OD Request for examination
8227 New person/name/address of the applicant

Free format text: ELEKTRO-PHYSIK HANS NIX & DR.-ING. E. STEINGROEVER GMBH & CO KG, 5000 KOELN, DE

8281 Inventor (new situation)

Free format text: STEINGROEVER, ERICH, DR.-ING., 5300 BONN, DE NIX, HANS, 5000 KOELN, DE

C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee