DE2338859C3 - Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem - Google Patents
Prüfschaltung für ein Antiblockier-RegelsystemInfo
- Publication number
- DE2338859C3 DE2338859C3 DE2338859A DE2338859A DE2338859C3 DE 2338859 C3 DE2338859 C3 DE 2338859C3 DE 2338859 A DE2338859 A DE 2338859A DE 2338859 A DE2338859 A DE 2338859A DE 2338859 C3 DE2338859 C3 DE 2338859C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test circuit
- transistor
- test
- resistor
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/88—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means
- B60T8/885—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means using electrical circuitry
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/34—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration having a fluid pressure regulator responsive to a speed condition
- B60T8/343—Systems characterised by their lay-out
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/88—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means
- B60T8/90—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means using a simulated speed signal to test speed responsive control means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T2270/00—Further aspects of brake control systems not otherwise provided for
- B60T2270/40—Failsafe aspects of brake control systems
- B60T2270/406—Test-mode; Self-diagnosis
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Transportation (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- Regulating Braking Force (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem, das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern
verbundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung
aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator und einer Spulenprüfschaltung,
wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblockier-Regelschaltung verbindbar ist und dieser
dem gleichmäßigen Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die Spulenprüfschaltung
mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinricntung verbunden ist
Antiblockier-Regelsysteme werden im Eisenbahnwesen, in Flugzeugen und in Kraftfahrzeugen verwendet,
um das Blockieren von Rädern zu verhindern. Sie weisen in der Regel einen oder mehrere Radgeschwindigkeitsgeber
auf, welche etwa durch Induktionsspulen gebildet sein können, die mit genuteten zusammen mit
den Rädern umlaufenden Trommeln zusammenarbeiten. Die von den Radgeschwindigkeitsgebern erzeugten
Impulszüge stellen Radgeschwindigkeitssignale dar, die auf den Eingang einer Antiblockier-Regelschaltung
gegeben werden. Wird von der letzteren eine unzulässig starke Abnahme der Radgeschwindigkeit, d. h. eine zu
starke Verzögerung eines Rades, welche ein Blockieren nach sich ziehen könnte, festgestellt, so betätigt die
Antiblockier-Regelschaltung eine Druckentlastungseinrichtung. Diese weist oft ein elektromagnetisch
betätigtes Druckminderungsventil auf, dessen Erregerspule einerseits fest mit der ersten Klemme einer
BetriebsstromqueUe verbunden ist und andererseits über die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten
Klemme der BetriebsstromqueUe verbunden ist. Im folgenden werden diese Klemmen auch als positive
Klemme und Erde bezeichnet. Die nachstehenden Ausführungen gelten jedoch sinngemäß auch für
Antiblockier-Regelsysteme in Fahrzeugen, bei denen die positive Klemme der Betriebsstromquelle das
Erdpotential darstellt.
Durch die bekannten Antiblockier-Regelsysteme kann das Bremsverhalten von Fahrzeugen wesentlich
verbessert werden (Verkürzung des Bremsweges, Verhindern des Schleuderns). Andererseits sind sie
sowohl im mechanischen als auch im elektronischen Teil verhältnismäßig kompliziert aufgeDaut. In der US-PS
32 75 384 ist daher eine Prüfschaltung für ein Antiblokkier-Regelsystem
angegeben, welche einen Geschwindigkeitssignalgenerator aufweist. Dieser gibt Signale
mit ei.ier Frequenz von 400 Hz auf die mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbundenen Eingänge der
Antiblockier-Regelschaltung. Sind die Induktionsspulen der Radgeschwindigkeitsgeber nicht gegen Erde kurzgeschlossen, so arbeitet die Antiblockier-Reeelschal-
tung beim Erhalten der simulierten Radgeschwindigkeitssignale genauso, wie wenn die Räder des
Fahrzeuges mit einer bestimmten konstanten Geschwindigkeit laufen. Trennt man den Geschwindigkeitssignalgenerator
von den Eingängen der Antiblokkier-Regelschaltung ab, so arbeitet die Antiblockier-Regelschaltung
genau so, wie wenn alle Räder vollständig blockieren. Durch Beobachten der Spannung an der mit
Erde verbindbaren Klemme der Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung kann das richtige Arbeiten
der Antiblockier-Regelschaltung festgestellt werden,
sofern das andere Ende der Erregerspule richtig mit der positiven Klemme der Betriebsstromquelle verbunden
ist.
Die bekannte Prüfschaltung erlaubt jedoch nicht festzustellen, ob die Induktionsquelle eines Radgeschwindigkeitsgebers
oder die Verbindung zu derselben unterbrochen ist. Ein derartiger Fehler führt im Betrieb
dazu, daß die Druckentlastungsvorrichtung fälschlicherweise stets betätigt wird, wodurch der Bremsweg stark
verlängert wird und ein sicherer Betrieb der Fahrzeugbremsen nicht mehr gewährleistet ist. Ferner kann nicht
festgestellt werden, ob der Widerstand des Induktionsspulenkreises der Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb
eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt (Erkennung von Wackelkontakten mit hohen Übergangswiderständen oder von hochohmigen Kurzschlüssen
gegen Erde). Genauso wenig kann ermittelt werden, welcher Radgeschwindigkeitsgeber defekt ist. Schließlich
bleibt bei der Prüfung mit der bekannten Prüfschaltung offen, ob der Widerstand der Erregerspule
innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsberciches liegt und ob die Verbindungen des Erregerspulenkreises
frei von hohen Übergangswiderständen sind. Damit wird die Betriebssicherheit des Antiblockier-Regelsystem
nicht zufriedenstellend geprüft.
Durch die Erfindung soll dagegen eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem angegeben werden,
durch welche die möglichen Fehler in einem Antiblokkier-Regelsystem
umfassend und zuverlässig erkannt sowie zur Anzeige gebracht werden.
Diese Aufgabe ist ausgehend von der oben beschriebenen Prüfschaltung dadurch gelöst, daß diese eine
Schalteinheit aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgenerator mit den Radgeschwindigkeitsgebern
verbindbar ist; daß sie einen Verzögerungssignalgenerator aufweist, dessen Ausgang mit der Schalteinheit
verbunden ist und dieser Verzögerungssignale übermittlet, durch die die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale
durch die Schalteinheit freigegeben und unterbunden wird; daß der Verzögerungssignalgenerator
ferner mit Eingängen der Spulenprüfschaltung und eines dieser zugeordneten Spulenprüfmodusumschalters
verbunden ist und zusammen mit dem letzteren über die Verzögerungssignale eine Umschaltung des
Spulenprüfmodus von der Prüfung im simulierten Betrieb unter Einbeziehung der Antiblockier-Rcgelschaltung
auf die Prüfung des Spulenwiderstandes sowie auf Prüfung des Durchganges des Erregerspulenkreises
bewirkt; daß ein Geberprüfkreis vorgesehen ist, der mit den Radgeschwindigkeitsgebern verbunden ist und
feststellt, ob deren Widerstand innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt; und daß ein Abfragemodusschalter
vorgesehen ist, der mit der Schalteinheit verbunden ist und das Anlegen von Radgeschwindigkeitenssignalen
an die Ausgänge der Schalteinheit steuert
Durch die erfindungsgemäße Prüfschaltung werden die möglichen Fehlerstellen eines Antiblockier-Regelsystems
einfach, umfassend und schnell geprüft um beobachtete Fehler lassen sich auch leicht lokalisieren.
Dies wird dadurch erreicht, daß die Schalteinheit zun Herstellen der bei den verschiedenen Prüfungei
(Funktionsprüfung im simulierten Antiblockier-Regel betrieb, Widerstandsprüfungen) jeweils erforderlichei
Verbindungen zwischen dem Geschwindigkeitssignal generator und dem Verzögerungssignalgenerator einer
seits sowie dem Geberprüfkreis, der Antiblockier-Re
ίο gelschaltung und der Spulenprüfschaltung andererseit
vorgesehen ist. Der Aufbau dieser Verbindungen wire durch den Abfragemodusumschalter und den Spulen
prüfkreismodusumschalter gesteuert.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung is gemäß Anspruch 2 vorgesehen, daß der Geberprüfkrei
einen ersten Vergleichswiderstand für den oberer Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radge
schwindigkeitsgebers und einen zweiten Vergleichs widerstand für den unteren Grenzwert des zulässiget
Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers auf weist; daß der Geberprüfkreis für jeden der Radge
schwindigkeitsgeber eine erste Diskriminatorstufe füi den oberen Grenzwert und eine zweite Diskriminator
stufe für den unteren Grenzwert aufweist, bei denen eir erster Eingang jeweils mit einem Eingangswiderstanc
verbunden ist, welcher zusammen mit dem zugeordne ten Radgeschwindigkeitsgeber einen Spannungsteilei
bilden, und ein zweiter Eingang mit dem entsprechen den Vergleichswiderstand verbunden ist; und daß die
einem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten Diskri minatorstufen den Eingang eines diesem Radgeschwin
digkeitsgeber zugeordneten Anzeigekreises beaufschla gen.
In der US-PS 36 28 099 ist zwar eine Schaltunj
beschrieben, durch welche festgestellt werden kann, oi ein Widerstand in ein enges Widerstandsintervall fäll
oder nicht. Dabei dient jedoch die Schaltung al: elektrisches Schloß und ein entsprechender Widerstanc
als Schlüssel, während bei der Erfindung jeden Radgeschwindigkeitsgeber eine Diskriminatorstufe füi
die obere Grenze und eine für die untere Grenze dei Widerstandsbereiches zugeordnet ist. Dabei ist jeweih
ein gemeinsamer Vergleichswiderstand für den oberer Grenzwert bzw. den unteren Grenzwert gemeinsam füi
die Diskriminatorstufen gleicher Funktion vorgesehen. Vorzugsweise sind gemäß Anspruch 5 die Vergleichs
widerstände Potentiometer. Damit läßt sich ein« Prüfschaltung ohne weiteres an unterschiedliche Radge
schwindigkeitsgeber anpassen.
In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung is gemäß Anspruch 9 vorgesehen, daß die Spulenprüf
schaltung einen durch die vom Verzögerungssignal generator gelieferten Verzögerungssignale gesteuerter
Klemmschalter aufweist, über den die mit dei Antiblockier-Regelschaltung verbundene Klemme dei
Erregerspule über den Referenzwiderstand für dei unteren Grenzwert des Erregerspulenwiderstandes mi'
der Klemme der Betriebstromquelle verbindbar ist mi der sie auch über die Antiblockier-Regelschaltunj
verbindbar ist, oder mit einer Hilfsversorgungsklemnu
verbindbar ist, welche ein von der anderen Klemme dei
Betriebsstromquelle nur wenig verschiedenes Potentia aufweist.
Damit kann die Spulenprüfschaltung zwischen zwe
b5 Prüfarten »Widerstandsmessung« und »Verbindungs
prüfung« umgeschaltet werden, wobei zur Umschaltung die periodischen Verzögerungssignale verwendet wer
den können. Die »Widerstandsmessung« erfolgt mit de
vollen Spannung der Betriebsstromquelle und erlaubt somit eine genaue Messung des Spulenwiderstandes.
Dagegen erfolgt die »Verbindungsprüfung« mit einer kleinen Spannung, so daß hohe Übergangswiderstände
an Verbindungsslellen (etwa Steckverbindungen zu Anhängern) erkannt werden können.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 11 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen
Spulenprüfmodusumschalter aufweist, der einen Taktgeber aufweist und in Abständen der Schalteinheit
Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale
vom Geschwindigkeitssignalgenerator an die Antibiockier-RegelschaUung weitergegeben
werden, so daß die Erregerspule über die Antiblockier- is
Regelschaltung für vorgegebene Zeitspannen nicht mit Erde verbunden wird.
Damit wird eine Umschaltung der Prüfung des Antiblockier-Regelsystems von »Funktionsprüfung im
simulierten Antiblockier-Regelbetrieb« auf »Wider-Standsmessung« oder »Verbindungsprüfung« erhalten.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 12 vorgesehen, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern
zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit jeweils über einen Vorschaltwiderstand mit dem
Ausgang des Geschwindigkeitssignalgenerators verbunden sind und über ihnen zugeordnete steuerbare
Schalter getrennt an Erde kurzschließbar sind. Für jedes Prüfprogramm kann somit in einfacher Weise die
entsprechende Aktivierung der steuerbaren Schalter bewerkstelligt werden.
!n vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist gemäß Anspruch 13 vorgesehen, daß die steuerbaren
Schalter durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die
Schließsignale aller steuerbaren Schalter zugleich durch den Spulenprüfmodusschalter kurzschließbar sind; daß
die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß den am Ausgang des Verzögerungssignalgenerators anstehenden
Verzögerungssignaien kurzschiießbar sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter gemäß
den Signalen an den ihnen zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters kurzschließbar sind.
Hierdurch wird eine besonders einfache Betätigung der steuerbaren Schalter durch die den Prüfablauf
steuernden Signale erreicht, welche vom Prüfmodusumschalter, vom Verzögerungssignalgenerator und vom
Radabfragemodusschalter auf die Schalteinheit gegeben werden.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist gemäß Anspruch 16 vorgesehen, daß der
Abfragemodusschalter einen Umschalter mit einer Anzahl von Arbeitsstellung aufweist, die um eins größer
ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber, wobei
jeweils in einer der Arbeitsstellungen das Schließsignal eines dieser Stellung zugeordneten steuerbaren Schalters
erhalten bleibt während die restlichen Schließsignale kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten
Arbeitsstellung die steuerbaren Schalter nacheinander aktiviert werden.
Dabei können zu Beginn der Prüfvorganges die den verschiedenen Rädern zugeordneten Teile des Antiblockier-Regelsystem
automatisch nacheinander geprüft werden. Wird ein Fehler beobachtet, kann durch
Drehen des Umschalters von Hand der einem bestimmten Rad zugeordnete fehlerhafte Kreis ermittelt
werden.
Ferner ist gemäß Anspruch 18 vorgesehen, daß die Prüfschaltung einen Netzprüfkreis aufweist. Damit kann
geprüft werden, ob das Antiblockier-Regelsystem und die Prüfschaltung ausreichend mit Energie versorgt
werden.
Für die einzelnen Prüffunktionen sind jeweils Anzeigekreise vorgesehen, die gemäß Anspruch 19
Prüfklemmen aufweisen, über die sie gesondert an Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit
überprüfen zu können.
Weitere vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den übrigen Unteransprüchen angegeben.
Damit wird durch die Erfindung insgesamt eine Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem geschaffen,
das festzustellen erlaubt, ob ein Fehler im Antiblockier-Regelsystem vorliegt, welchem Rad der
fehlerhafte Teil zuzuordnen ist, und ob der Fehler in den Radgeschwindigkeitsgebern, der Antibiockier-Regelschaltung,
der Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung, den Verbindungen im Erregerspulenkreis oder
in der Energieversorgung zu suchen ist. Zugleich sind Prüfkreise zum Feststellen der Funktionsfähigkeit der
Prüfschaltung selbst vorgesehen.
Die erfindungsgemäße Prüfschaltung kann bei beliebigen Antiblockier-Regelsystemen verwendet werden,
die mit einer Netzleitung zu ihrer Versorgung verbunden sind und mit mindestens einem Radgeschwindigkeitsgeber
und einer Erregerspule zusammenarbeiten.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher
erläutert. In dieser zeigt
Fig. 1 ein Antiblockier-Regelsystem in Verbindung
mit einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;
Fig. 2 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Prüfschaltung;
F i g. 3 das Schaltbild eines Netzprüfkreises und eines Geberprüfkreises gemäß der Erfindung;
F i g. 4 das Schaltbild einer Spulenprüfschaltung und eines Spulenprüfmodusumschalters gemäß der Erfindung;
F i g. 5 das Schaltbild eines Geschwindigkeitssignalgenerators einer Schalteinheit und eins Radabfragemodusschalters
gemäß der Erfindung; und
Fig. 6 das Schaltbild eines Radabfragetaktgebers
sowie eines Verzögerungsgenerators zur Verwendung in der erfindungsgemäßen Prüfschaltung.
In F i g. 1 und 2 sind mit 10 und 12 zwei Radsätze eines
Lastkraftwagens bezeichnet, die auf einer ersten Achse 11 bzw. einer zweiten Achse 13 angeordnet sind. Dem
ersten Radsatz 10 ist ein erster Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnet, während dem zweiten Radsatz 12 ein
zweiter Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnet ist. Die Radgeschwindigkeitsgeber können induktive Geber
sein, welche eine Induktionsspule aufweisen, mit der magnetische Feldänderungen erfaßt werden können
und entsprechende Radgeschwindigkeitkeitssignale erzeugt werden. Es können jedoch auch andere Radgeschwindigkeitsgeber
verwendet werden, die eleltrische Ausgangssignale oder in solche umsetzbare Ausgangssignale
erzeugen, die sich mit der Geschwindigkeit eines Rades ändern.
Über Signalleitungen 15 bzw. 17 sind die Radgeschwindigkeitsgeber
14 und 19 mit ihnen zugeordneten Eingängen einer Antibiockier-Regelschaltung 16 verbunden.
Die Bremsanlage weist einen Druckbehälter 18 für unter Druck stehende Druckmittel (etwa Druckluft) auf.
Beim Betätigen eines Bremspedales 24 wird über eine
Leitung 25 ein Signal an eine Druckmittelsteuereinheit
23 geleitet. Diese stellt dann eine Verbindung zwischen
einer vom Druckbehälter 18 herkommenden Druckmitelleitung 20 und einer weiteren Druckmittelleitung 26
her, so daß Druckmittel über mit der Leitung 26 verbundene Druckleitungen 27 und 28 zu Radbremszylindern
30 und 31 strömt. Der Radbremszylinder 30 betätigt über ein Bremsgestänge 32 die Bremsen des
Radsatzes 10, der Radbremszylinder 31 über Bremsgestänge 33 die Bremsen des Radsatzes 12.
Durch das Bremspedal 24 wird ferner ein nicht dargestellter Bremslichtschalter betätigt, der über eine
Leitung 34 die Bremsleuchten des Fahrzeuges mit Energie aus einer nicht dargestellten Betriebsstrorr·-
quelle versorgt. Über die Leitung 34 wird zugleich die Antiblcckäer-Regelschaitung 16 eingeschaltet.
Wird einer der Radsätze zu stark abgebremst, so erzeugt die Antiblockier-Regelschaltung ein Druckentlastungssienal,
das über eine Leitung 35 an eine Pruckentlastungseinrichtung 36 weitergegeben wird.
Diese ist hier durch ein Magnetventil gebildet, das eine Erregerspule 37 aufweist. Die Erregerspule wird beim
Vorliegen eines Druckentlastungssignals auf der Leitung 35 mit Energie versorgt, wodurch das Magnetventil
betätigt wird und der Druck des den Radbremszylindern zugeführten Druckmittels herabgesetzt wird. Damit
wird ein Blockieren der Radsätze vermieden.
Eine erfindungsgemäße Prüfschaltung ist über eine Versorgungsleitung 41 mit der Antiblockier-Regelschaltung
16 verbunden und wird über diese mit der Betriebsstromquelle verbunden, wenn das Bremspedal
24 betätigt wird. Über eine Leitung 42 ist die Prüfschaltung 40 mit der Signalleitung 15 und damit mit
dem Radgeschwindigkeitsgeber für den in Fi g. 1 linken
Radsatz 10 verbunden, während sie über eine Leitung 43 mit der vom rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19
herkommenden Signalleitung 17 verbunden ist. Ein weiterer Eingang der Prüfschaltung 40 ist über eine
Leitung 44 mit der Leitung 35 verbunden und damit mit der Erregerspule 37 und dem Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung
16, an dem das Druckentlastungssignal bereitgestellt wird.
In Fig. 1 sind die Verbindungsstellen zum Anschluß der Prüfschaltung 40 außerhalb der Antiblockier-Regelschaltung
liegend dargestellt, und die Prüfschaltung 40 ist durch getrennte Leiter angeschlossen. In der Praxis
bereitet es keinerlei Schwierigkeiten, auf einem die Antiblockier-Regelschaltung 16 aufnehmenden Gehäuse
eine Steckdose vorzugsehen, an die ein direkt oder über ein Kabel mit der Prüfschaltung 40 verbundener
Stecker angeschlossen werden kann, um die erforderlichen Verbindungen herzustellen.
Wie F i g. 2 zeigt, wird die Netzgleichspannung über eine Leitung 45 auf einen Netzprüfkreis 46 und über eine
Leitung 47 auf eine Versorgungsklemme einer Spulenprüfschaltung 48 gegeben. Der Netzprüfkreis 46 erzeugt
ein Signal, wenn die Netzgleichspannung so groß ist, daß sie zum ordnungsgemäßen Setrieb der in F i g. 1
dargestellten Antiblockier-Regelschaltung 16 ausreicht Die Netzgleichspannung wird vom Netzprüfkreis 46 an
ein Netzteil 50 weitergegeben, das eine einfache Spannungsstabilisierungsstufe aufweisen kann. Über
Verteilerleitungen 51, 52 und 53 wird eine stabilisierte Gleichspannung an einzelne Bausteine der Prüfschaltung
weitergeleitet.
Über die Verteilerleitung 51 wird, wie F i g. 2 zeigt ein
Geschwindigkeitssignalgenerator 54, eine Schalteinheit 55, ein Abfragemodusschalter 58, ein Radabfragetaktgeber
56 und ein Verzögerungssignalgenerator 60 mit Energie versorgt. Der Verzögerungssignalgenerator 60
kann ein einfacher Multivibrator oder ein anderer Schalter sein, der an seinen Ausgangsklemmen 61 und
62 entgegengesetzte Signale bereitstellt. Ist der Verzögerungssignalgenerator ein Multivibrator, so
weist die Ausgangsklemme 61 ein hohes Potential gegen Erde und die Ausgangklemme 61 ein hohes Potential
gegen Erde auf und umgekehrt. Der Verzögerungssi-
iü gnalgenerator kann auch Verzögerungssignale herstellen,
die keine Rechteckimpulse sind. Auch durch sie kann die Antiblockier-Regelschaltung 16 aktiviert
werden. Zum Beispiel können Verzögerungssignale mit schräger Anstiegsflanke z. B. Sägezahnspannungssigna-Ie
oder Spannungssignale mit dreieckiger Form verwendet werden, solange der Anstieg des an den
Ausgangsklemmen 61 und 62 bereitgestellten Verzögerungssignals größer ist als der Anstieg des Verzögerungssignals,
bei dem die entsprechenden Schaltkreise der Antiblockier-Regelschaltung 16 ansprechen.
Auch der Radabfragetaktgeber 56 kann ein Multivibrator
sein, der an seinen Ausgangsklemmen 63 und 64 sich in entgegengesetztem Sinne ändernde Ausgangssignale
bereitstellt. Diese Ausgangssignale werden auf den Abfragemodusschalter 58 gegeben. Die jeweils über
Leiter 66 und 67 vom Abfragemodusschalter 58 auf die Schalteinheit 55 weitergegebenen Signale hängen von
der Schaltstellung des Abfragemodusschalters 58 ab. Der Abfragemodusschalter 58 stellt ein wesentliches
Merkmal der Erfindung dar, da er ermöglicht, daß eine einzige Prüfschaltung 40 in Verbindung mit verschiedenen
Antiblockier-Regelschaltungen 16 verwendet werden kann, welche nach dem Prinzip der Auswahl des
hohe Verzögerung aufweisenden Rades, dem Prinzip der Auswahl des niedere Verzögerung aufweisenden
Rades und dem Prinzip der Abfrage der einzelnen Räder nacheinander arbeiten. Der Schalteinheit 55
werden neben den durch den Abfragemodusschalter 58 erzeugten Signalen und den durch den Verzögerungssignalgenerator
60 erzeugten Verzögerungssignalen über eine Leitung 68 die vom Geschwindigkeitssignalgenerator
54 erzeugten Radgeschwindigkeitssignale und über eine von dem Spulenprüfmodusumschalter 71
herkommende Leitung 70 ein Blockiersignal zugeführt.
Das auf der Leitung 70 übermittelte Blockiersignal wird, wie noch genauer beschrieben, an drei unterschiedliche
Klemmen der Schalteinheit 55 geliefert und dient zum Aufbau der in der Prüfart »Verbindungsprüfung«
erforderlichen Verbindungen. Ein AusgangsF-gnal der
Schalteinheit 55 wird über eine Leitung 72, einen Kondensator 73 und eine Leitung 74 und die Leitung 42
auf einen Geberprüfkreis 75 gegeben. Die Leitung 42 ist dem linken Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnet.
Ein zweites Ausgangssignal der Schalteinheit 55 wird über eine Leitung 76, einen Kondensator 77 und eine
Leitung 78 und die Leitung 43 auf eine zweite Eingangsklemme des Geberprüfkreises 75 gegeben. Die
Leitung 43 ist mit dem rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 verbunden. Weist das zu prüfende Antiblockier-Regelsystem
nur einen einzigen Radgeschwindigkeitsgeber auf, so ist auch nur eine einzige Verbindung von
der Schalteinheit 55 zu einer Eingangsklemme des Geberprüfkreises 75 vorgesehen. Wie noch im einzelnen
ausgeführt werden wird, kann der Geberprüfkreis 75 über die über die Leitungen 42 und 43 hergestellten
Verbindungen prüfen, ob der jeweils angetroffene Widerstand der Induktionsspule eines jeden der
Radgeschwindigkeitsgeber innerhalb zulässiger Gren-
zen liegt, wodurch angezeigt wird, daß der eben geprüfte Radgeschwindigkeitsgeber fehlerfrei ist. Die
an den Ausgängen der Schalteinheit 55 bereitgestellten Radgeschwindigkeitssignale, durch welche eine rasche
Verzögerung der Geschwindigkeit eines Rades simuliert
wird, werden ferner über die Leitungen 72 und 76, die Kondensatoren 73 und 77 und die mit den
Signalleitungen 15 und 17 verbundenen Leitungen 42 und 43 auf die den Radgeschwindigkeitsgebern 14 und
19 zugeordneten Eingänge der Antibiockier-Regel- u>
schaltung 16 gegeben. Damit kann geprüft werden, ob die Antiblockier-Regelschaltung 16 selbst richtig arbeitet.
Ist dies der Fall, so erzeugt jedes vom Verzögerungssignalgenerator erzeugte Verzögerungssignal,
ganz gleich ob es auf die dem linken Radgeschwindigkeitsgeber 14 zugeordnete Signaiieitung i5 oder die
dem rechten Radgeschwindigkeitsgeber 19 zugeordnete Signalleitung 17 gegeben wird ein Druckentlastungssignal
am Ausgang der Antiblockier-Regelschaltung. Durch dieses wird der Druck des in der Leitung 26 und
den Leitungen 27 und 28 befindlichen Druckmittels entlastet. Die entsprechende Betätigung des Magnetventils
der Druckentlastungseinrichtung 36 kann akustisch wahrgenommen werden. Darüber hinaus weist
die Prüfschaltung 40 Prüfleuchten auf, durch welche angezeigt wird, welche Teile des Antiblockier-Regelsystems
richtig arbeiten.
Obwohl die Spulenprüfschaltung 48 und der Spulenprüfrnodusumschalter
71, wie noch im einzelnen dargelegt wird, eng zusammenarbeiten, sind sie in F i g. 2 als getrennte Einheiten dargestellt. Die Spulenprüfschaltung
stellt fest, ob der Widerstand der Erregerspule 37 in einen vorgegebenen Widerstandsbereich
fällt. Der Spulenprüfmodusumschalter 71 ist vorgesehen, um prüfen zu können, ob die Erregerspule
auch bei niederer Versorgungsspannung ordnungsgemäß arbeitet. Das von dem Verzögerungssignalgenerator
an seiner Ausgangsklemme 62 bereitgestellte Verzögerungssignal wird über eine Leitung 80 und eine
Leitung 81 auf einen Eingang der Spulenprüfschaltung 48 und über die Leitung 80 und eine Leitung 82 auf einen
Eingang des Spulenprüfmodusumschalters 71 gegeben.
Fig.3 zeigt die Kreiseinzelheiten des Energietestkreises
46, die Energieversorgungsanordnung 50 und den Testkreis 75 für den Geberwiderstand. Die
Energieleitung 41 und der zugehörige, geerdete Leiter 85 übertragen die vom Steuersystem 16 (Fig. 1)
empfangene Energie zum Energietestkreis 46. Im Testkreis sind eine Zenerdiode 86 und Widerstände 87,
88 in Reihe geschaltet und zwischen den Leitern 41 und 58 angeschlossen. Die Basis eines npn-Transistors ist an
die gemeinsame Verbindung zwischen den Widerständen 87,88 angeschlossen, während sein Emitter geerdet
ist Sein Kollektorkreis ist über eine Fotodiode 91 und einen Widerstand 92 an die Leitung 41 angeschlossen,
während sein Kollektor auch über eine weitere Diode 93 an einen Bezugspunkt T angeschlossen ist. Das im
Schaltschema verwendete Symbol T stellt einen Anschluß eines nicht gezeigten Erdungsschalters dar,
der zum Testen der Leitfähigkeit und Erleuchtung jeder Fotodiode im System verwendet werden kann, d. h.,
wenn Energie zwischen den beiden Leitern 41 und 85 zugeführt wird, sofern die Kathode der Diode 93 durch
den Erdungspunkt Γgeerdet ist, fließt Strom durch den
Widerstand 92, die Fotodiode 91 und die Diode 93 zur Erde. Dadurch leuchtet die Fotodiode 91 auf und zeigt
an, daß der Indikatorteil des Kreises gut ist. Im dargestellten Kreis ist die Zenerdiode 86 so ausgewählt,
daß, wenn eine Spannung von ungefähr 9 V zwischen den Leitern 41 und 85 vorhanden ist, der Transistor 90
durchgeschaltet wird und leitet, um einen Erdungskreis für die Fotodiode 91 zu bilden. Dies gibt der die
Prüfschaltung 40 verwendenden Person an, daß von der Fahrzeugbatterie zum Steuersystem genügend Energie
geliefert wird, um nicht nur den Steuerkreis, sondern auch den Magneten mit der Wicklung 37 zu erregen.
Somit ist der Energietestkreis 46 ein bedeutender Teil der erfindungsgemäßen Kombination.
Der Energieversorgungskreis enthält einen npn-Transistoi
94, der als in Reihe angeordneter Schalter angeschlossen ist. Sein Kollektor ist an den Leiter 41
und sein Emitter an den Leiter 51 angeschlossen. Zwischen der Basis und dem Kollektor ist ein
Widerstand 95 angeschlossen. Zur Regelung der Spannung an der Leitung 51 ist zwischen der Basis und
der Erdung eine Zenerdiode 96 angeschlossen. Diese Spannung wurde bei der dargestellten Ausführungsform
mit 5 V gewählt. Diese geregelte Spannung wird demnach zum Erregen der weiteren Kreise in der
Prüfschaltung verwendet.
Die geregelte Spannung der Leitung 51 wird über die Leitungen 52 und 53 dem Testkreis 75 für den
Geberwiderstand zugeführt, der den Widerstand des linken und des rechten Gebers prüft. Der linke Geber
erhält einen Bezugswiderstand 118, der zur Bildung eines Spannungsteilers mit dem gerade getesteten
Geber angeschlossen ist, wobei der Widerstand dieses Gebers zwischen den Leitern 42 und 114 erscheint. Ein
Indikatorkreis enthält einem mit dem Indikatorbestandteil in Reihe geschalteten, ersten Transistor 102. Dieser
Indikatorbestandteil ist bei der dargestellten Ausführungsform eine Fotodiode 101. Es ist ein zweiter
Transistor 106 angeschlossen zum Einschalten des ersten Transistors 102, wenn der effektive Widerstand
des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen, oberen Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 111
gebildet ist. Es ist ein dritter Transistor 116 angeschlossen
zum Ausschalten des ersten Transistors 102 (über einen Transistor 105), wenn der effektive Widerstand
des linken Gebers unterhalb des vorgegebenen Grenzwertes liegt, der durch ein Potentiometer 140
eingestellt ist.
Der erregende Leiter 51 ist in einer aus dem Leiter 98, dem Widerstand 100, der Fotodiode 101 und dem
Kollektor Emitterkreis den npn-Transistors bestehenden
Reihenschaltung an Masse angeschlossen. Der Kollektor ist auch über eine Diode 103 mit einem
weiteren Testpunkt Γ verbunden, der beim Kurzschließen die Diode 101 erleuchtet, um anzuzeigen, daß sich
diese Fotodiode in gutem Zustand befindet. Die Basis des Transistors 102 ist an eine Seite eines Widerstandes
104 und auch an den Kollektor eines weiteren npn-Transistors 105 angeschlossen, dessen Emitter
geerdet ist Die andere Seite des Widerstands 104 ist an den Kollektor eines npn-Transisitors 106 angeschlossen,
dessen Emitter über Leitung 107, 108 und einen πρπ-Transistors der Emitterfolgebauart an den Schleifer
eines Potentiometers 111 angeschlossen ist. Dieses Potentiometer ist an die Erdung und über einen
Widerstand 112 an den Leiter 53 angeschlossen, an dem die geregelte Spannung angelegt ist. Der Widerstand
111 ist die Einstelleinheit für die obere Grenze des Widerstandtestkreises. Das heißt, die Einstellung seines
Schleifers stellt die obere Grenze des Widerstandsbereichs ein, in den der effektive Wert des Widerstands
des linken und des rechten Gebers fallen muß, um als
»gut« getestet zu werden. Diese obere Grenze wird eingestellt durch die Einstellung der an den Emitter des
Tiansistors 106 angelegen Vorspannung. Der Emitter
der Stufe 110 wird über einen Widerstand 113 mit Masse
verbunden.
Der linke zu testende Geber ist zwischen den Leitern 42 und 114 angeschlossen, wobei der Leiter 114 geerdet
ist. Der Leiter 42 ist über einen ersten Widerstand 115 an die Basis eines npn-Transistors 116 angeschlossen,
über einen weiteren Widerstand 117 an die Basis des Transistors 106 und über einen Bezugswiderstand 118
an den Leiter 53, der die geregelte Gleichspannung empfängt. Es ist somit offensichtlich, daß der Bezugswiderstand
118 zusammen mit dem Widerstand des zwischen den Leitern 42 und 114 (plus dem Widerstand
der Kreisleitungen) einen Spannungsteiler bildet, so daß die Spannung am Leiter 42 im Widerstandstestkreis
verwendt werden kann. Vorläufig ist es nicht nötig, das dynamische Signal in Betracht zu ziehen, das über den
Kondensator und über den Leiter 42 auf die logischen Kreise im Steuersystem selbst ausgeübt werden soll.
Der recht Geber ist zwischen den Leitern 43 und 120 angeschlossen, wobei der Leiter 120 geerdet ist. Der
Leiter 43 ist über einen Widerstand 121 an die Basis eines npn-Transistors 122 angeschlossen, die auch über
einen weiteren Widerstand 123 an die Basis eines weiteren pnp-Transistors 124 und auch über einen
weiteren Bezugswiderstand 125 an den erregenden Leiter 53 angeschlossen ist. Es wird demnach eine
weitere Spannungsteilungsanordnung gebildet mit einem Bezugswiderstand 125 und dem effektiven
Widerstand des rechten Gebers und der zugehörigen Leitungen entsprechend der Messung zwischen den
Leitungen 43 und 120. Der Emitter des Transistors 124 ist über die Leitung 108 an die Emitterfolgestufe 110
angeschlossen, während der Kollektor des Transistors 124 über einen Widerstand 126 sowohl an den Kollektor
eines npn-Transistors 127 und über eine Leitung 128 an die Basis eines weiteren πρ/7-Transistors 130 mit
geerdetem Emitter angeschlossen ist. Der Kollektor des Transistors 130 ist über eine Fotodiode 131 und einen
Widerstand 132 an die Spannungsspeiseleitung 53 angeschlossen. Die gemeinsame Verbindung zwischen
dem Kollektor des Transistors 130 und der Kathode der Fotodiode 131 ist über einen eine Diode bildenden
Testkreis mit einem weiteren Schaltpunkt 7"verbunden. Der Emitter des Transistors 122 ist über eine Leitung
134 an eine Emitterfolgeschaltung 135 angeschlossen, während der Emitter der Stufe 116 im linken Geber
auch über eine weitere Leitung 136 an den gleichei· Emitterfolgekreis angeschlossen ist. Der Emitter des
Transistors 135 ist über einen Widerstand 137 an Masse angeschlossen, während sein Kollektor an die Spannungsspeiseleitung
53 angeschlossen ist. Zwischen der Leitung 53 und Masse befinden sich in Reihe geschaltet
ein Widerstand 138 und ein Potentiometer 140, dessen Schleifer an die Basis des Transistors 135 angeschlossen
ist. Das Potentiometer 140 stellt die untere Grenzwerteinstellung sowohl für die Geberkreise als auch für die
Widerstandstestkreise dar. Die Einstellung seines Schleifers bildet einen oberen Widerstandsgrenzwert,
der vom effektiven Sensorwiderstand überschritten werden muß, damit durch Aufleuchten der Fotodiode
»gut« getestet wird. Diese Schleifereinstellung des Potentiometers 140 bildet die Vorspannung am Emitter
beider Transistoren 116 und 122.
Bei der Betrachtung der Arbeitsweise des Kreises 75 wird zu Ueginri angenommen, dall im linken Gebertestkreis
zwischen den Leitern 42 und 114 ein Geber angeschlossen ist. Bei solchen Steuersystemen, bei
denen nur ein einziger Sensor verwendet wird, kann natürlich die Schaltung unterhalb des linken Gebertestkreises
außer den Kreisen zur Einstellung der oberen und unteren Grenzwerte weggelassen werden. Es wird
zuerst der Test für die obere Grenze betrachtet. Ein auf die Einsteilung des Potentiometers 111 bezogener
Vorspannungswert wird über eine Emitterfolgestufe 110
ίο und einen Leiter 107 auf den Emitter des Transistors 106
übertragen. Dies erzeugt ein Bezugsniveau am Emitter des Transistors 106, das auf die obere, annehmbare
Grenze für den Widerstandstest des linken Gebers bezogen ist. Wenn der linke Geber in einem
Widerstandsteilernetz mit einem Bezugswiderstand 118
angeschlossen ist, der vom tatsächlichen Widerstandswert des linken Gebers und dessen zugehörigen
Leitungen abhängt, wird eine besondere Spannung über den Leiter 42 und den Widerstand 117 zur Basis des
Transistors 106 geleitet. Wenn die über den Widerstand 117 ausgeübte Spannung kleiner ist als die Vorspannung
am Emitter des Transistors 106 — was anzeigt, daß der wirkliche Widerstand des Sensors geringer ist als der
obere Grenzwert ies annehmbaren Widerstands —, wird der Basis-Emitteranschluß des Transistors 106
vorwärts vorgespannt und dieser Transistor durchgeschaltet. Die Spannung am Emitter des Transistors 106
wird somit auf dessen Kollektor übertragen und über den Widerstand 104 zum Durchschalten des Transistors
102 verwendet. Die Fotodiode 101 für »linker Geber gut« leuchtet auf, dies betrifft die obere Widerstandsgrenze. Wenn der Widerstand des Sensors zu groß
gewesen wäre, wäre natürlich der Transistor 106 nicht eingeschaltet worden.
Es wird nun die untere Grenze für die annehmbare Widerstandsgrenze des linken Gebers betrachtet. Die
Vorspannung für die untere Grenze wird vom Potentiometer 140 gebildet und durch den Emitternachfoiger
135 über den Leiter 136 zum Emitter des Transistors 116 geleitet. Falls die Spannung des
Spannungsteilerkreises, die über den Widerstand 115 auf die Basis des Transistors 116 ausgeübt wird nicht zu
niedrig ist, d. h., falls sie oberhalb der am Emitter des Transistors 116 gebildeten Vorspannung liegt, dann
wird der Transistor 116 nicht eingeschaltet und der Transistor 105 wird auch ausgeschaltet bleiben. Somit
wird der vorher beschriebene Kreis mit den Transistoren 106 und 102 nicht gestört und die Fotodiode 101
bleibt erleuchtet zur Anzeige, daß der Widerstandswert des linken Gebers innerhalb annehmbarer Grenzen
liegt. Wäre der Widerstand des linken Gebers zu niedrig gewesen, so wäre der Transistor 116 eingeschaltet
worden und hätte den Transistor 105 eingeschaltet, was der Basis des Transistors 102 die Ansteuerung
genommen hätte. Dies schaltet den Transistor 102 ab und unterbricht die Erregung des Kreises für die
Fotodiode 102 für »linker Sensor gut«. Der Kreis für den rechten Geber mit den Transistoren 123, 124, 127 und
130 arbeitet im wesentlichen in der gleichen Weise.
F i g. 4 stellt die Einzelheiten des Testkreises 48 (oberer Teil) für den Magnetwiderstand und den Magnetniederspannungstestkreis
71 (unterer Teil) dar. Es wird zuerst der Testkreis 48 betrachtet, der die Magnetwicklung auf
annehmbaren Widerstand prüft. Wie bereits beschriebt ben ist zur Aufnahme des F.ingangsgleichsstroms die
Leitung 47 an die Leitung 41 angeschlossen. Die andere Eingangsleitung 142 zum Testkreis für den Magnetwiderstand
ist an das binde der Solenoidwicklung
angeschlossen, das bei Erregung des Druckentlastungssystems geerdet ist In Reihe zwischen den Leitern 47
und i42 (F i g. 1 der vorliegenden Anmeldung) ist ein in Reihe geschalteter Kreis angeschlossen, bestehend aus
einem Widerstand 143, einer Fotodiode 144 und aus einem weiteren Widerstand i45. Wenn die logischen
Kreise im Steuersystem 16 zufriedenstellend arbeiten, wird das Ablaßsystem vorgesehen zum Betätigen des
Magneten und das Spannungsniveau an der Leitung 142 wird periodisch abfallen (bis auf Null), wenn die
Magnetwicklung geerdet wird. Dies läßt die Fotodiode 114 aufleuchten zur Anzeige, daß die Logik im
Steuersystem zufriedenstellend arbeitet. Eine den Kreis vervollständigende Diode 146 ist zwischen dem
Erdungsschaltpunkt T und der gemeinsamen Verbin- is
dung zwischen dem Widerstand 145 und der Fotodiode 144 angeschlossen zum Vorsehen einer Anzeige, daß sie
gut ist. Dieser von der Fotodiode 144 simulierte Zustand für »Logik gut« gewährleistet nicht, daß der Magnetwidersland
innerhalb annehmbarer Grenzen liegt, oder daß das Magnetventil unter Niederspannungsbedingungen
zufriedenstellend arbeitet. Tests für diese beiden zusätzlichen Zustände werden durch die Kreise 48 und
71 vollendet.
Die Spannung am Leiter 47 wird über einen Leiter
Die Spannung am Leiter 47 wird über einen Leiter
147 auf das Ende eines Potentiometers 148 übertragen,
dessen anderes Ende geerdet ist. Diese Spannung wird auch über einen Leiter 150 an die Kathode einer
Zenerdiode 151 übertragen, deren Anode über einen Widerstand 152 und den Kollektor-Emitterdurchgang
eines npn-Transistors 153 mit Masse verbunden ist.
Diese Spannung ist auch über einen Leiter 154 und eine Reihenschaltung, bestehend aus einem Widerstand 155,
einer weiteren Fotodiode 156 und einem n/wj-Transistor
157, mit Masse verbunden. Schließlich wird diese Spannung auch an den Emitter eines pnp-Transistors
158 angeschlossen. Der Schleifer des Potentiometers
148 ist über einen Leiter 160 an den Emitter eines p/jp-Transistors 161 angeschlossen, dessen Basis über
einen Widerstand 162 an den Leiter 142 angeschlossen ist. Der Kollektor des Transistors 161 ist über einen
Widerstand 163 an die Basis eines npn-Transistors 164 angeschlossen, dessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor
dieses Transistors ist über einen Leiter 165 an die Basis des Transistors 157 angeschlossen, an dem
Kollektor eines Transistors 166 und an ein Ende eines Widerstands 157, dessen anderes Ende mit dem
Kollektor des Transistors 158 verbunden ist. Der Leiter 81, über den Signale vom Verzögerungsfunktionsgenerator
60 empfangen werden, ist über eine Diode 168 an die Basis des Transistors 153 angeschlossen. Ein
pnp-Transistor 170 ist als Reihenregler an die
gemeinsame Verbindung zwischen dem Widerstand 152 und der Anode der Zenerdiode 151 angeschlossen,
während sein Kollektor geerdet und sein Emitter mit dem Eingangsleiter 142 verbunden sind.
Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe geschalteter Kreis,
bestehend aus Widerständen 171, 172 und dem Kollektor-Emitterkreis eines npn-Transistors 173, dessen
Emitter geerdet ist. Sein Kollektor ist über einen in Reihe geschalteten Kreis, bestehend aus einem Widerstand
174 und einer Diode 175, an die Basis des Transistors 16(S angeschlossen. Die Basis des Transistors
173 ist an den Kollektor eines npn-Transistors 176 und auch über einen Widerstand 177 an den Leiter 142
angeschlossen. Der Emitter des Transistors 176 ist geerdet. Ein zwischen dem Leiter 142 und der Erdung
angeschlossener Kreis besteht aus einem Widerstand 178, einem Kondensator 180 und einem weiteren
Widerstand 181. Die Basis des Transistors 176 ist an die gemeinsame Verbindung zwischen dem Kondensator
und dem Widerstand angeschlossen.
Im allgemeinen wird der Transistor 157 im oberen, rechten Bereich des Testkreises 148 für den Magnetwiderstand
zum Aufleuchten der Fotodiode 156 eingeschaltet, wenn der Widerstand der Magnetwicklung
in einem annehmbaren Bereich liegt Die Fotodiode 156 kann getestet werden durch Erden des
mit der Kathode der Diode 182 verbundenen Anschlusses T um einen Stromdurchgang durch die Fotodiode
156 zu bilden und deren Zustand zu testen.
Es wird zu Beginn angenommen, daß der Test für das einen niedrigen Widerstand aufweisende Ende der
Magnetwicklung zuerst ausgeführt wird. Falls dieser Magnetwiderstand zu klein ist, wird der Transistor 157
nicht eingeschaltet. Zwischen der Basis des Transistors 158 und der Erdung befindet sich ein in Reihe
geschalteter Kreis, bestehend aus einem ersten Widerstand 171, einem zweiten Widerstand 172 und dem
Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 173. Es wird ferner angenommen, daß der Transistor 173 leitet,
so daß das untere Ende des Widerstands 172 geerdet ist. Bei einer bevorzugten Ausführungsform, die sich an die
besonderen Magnetcharakteristiken anpaßt, betrug der Widerstand 172/50 Ohm. Der Widerstand 172 bildet
einen Spannungsteiler, bei dem der effektive Widerstand des Magneten und die Leitungsanschlüsse mit den
Leitern 47, 142 verbunden sind, während die Magnetwicklung der obere Teil dieses Spannungsteilers ist.
Wenn der Magnetwiderstand ausreichend hoch ist, d. h. nicht kurzgeschlossen oder unter einem annehmbaren
Wert, so reicht die zwischen den Leitern 47, 142 erscheinende Spannung aus, die Basis-Emitterve'-bindung
des Translators 158 vorzuspannen. Diese Basis-Emitterverbindung mit dem Widerstand 171 ist über die
Magnetwicklung angeschlossen. Wenn der Transistor 158 durchschaltet, wird die an seinem Emitter
erscheinende Spannung auf den Kollektor übertragen und schaltet über den Widerstand 167 den Transistor
157 durch. Dementsprechend wird die Fotodiode 156 aufleuchtet, wenn der Magnetwiderstand nicht zu
niedrig ist, unter der Annahme in diesem Augenblick, daß der Magnetwiderstand nicht das hohe Niveau
übersteigt.
Es wird nun das Potentiometer 148 betrachtet und betont, daß der obere Teil dieses Potentiometers an die
Leitung 47 angeschlossen ist. Somit ändert in ähnlicher Weise jede Unregelmäßigkeit oder Schwankung der
Spannung der Hauptstromversorgung des Fahrzeugs die Spannung über dem Potentiometer 148 mit einer
proportionalen Änderung der Spannung am Leiter 160. Dies bildet eine positive Vorspannung am Emitter des
Transistors 161. Die Basis des Transistors ist über den Widerstand 162 und den Leiter 142 an die andere Seite
der Magnetwicklung angeschlossen. Es ist zu beachten, daß die Magnetwicklung und der Widerstand 172 in
einer Spannungsteileranordnung verbunden sind. Somit ist die Basis 161 über den Widerstand 162 an den
Spannungsteilungspunkt oder die gemeinsame Verbindung zwischen der Solenoidwicklung und dem Widerstand
172 im Spannungsteiler angeschlossen. Es ist nützlich, das Potentiometer an der Leitung 47 der
Nullbezugsspannung zu betrachten, während das Potential an der Leitung 142 eine negative Spannung
gegenüber derjenigen in der Leitung 47 ist. Es wird
ferner angenommen, daß die Magnetwicklung offen ist Ist die Magnetwicklung offen, so befindet sich die
Spannung an der Leitung 142 an der negativen Versorgungsspannung, z. B. minus 12 V, gegenüber dem
Potential an der Leitung 47. Unter diesen Bedingungen und mit der positiven Bezugsvorspannung am Emitter
des Transistors 161 wird dieser Transistor durchgeschaltet und überträgt die Vorspannung (positives Potential)
auf seinen Kollektorkreis und den Widerstand 163 auf die Basis des Transistors 164 und der Transistor 164
leitet. Das Leiten des Transistors 164 erdet die Basis des Transistors 157 und nimmt diesem Transistor seine
Ansteuerung. Dies unterbricht den Kreis für die Fotodiode 156, die erlöscht Dadurch, daß die Transistoren
158 und 157 anfangs nicht betrieben werden, wird die Fotodiode auch ausgelöscht, falls der Widerstandswert
zu niedrig ist.
Die obigen Ausführungen beschreiben die Widerstandsmessung des Magneten, wenn die Logik im
Steuersystem 16 nicht periodisch in Betrieb gesetzt wird. Zieht man nun in Betracht, daß der Verzögerungssignalgenerator
60 (Fig.2) simulierte Verzögerungssignale durch die Schalteinheit 55 und über die Leiter 42,
43 zu den Eingangsanschlüssen der Antiblockierregelschaltung 16 (F i g. 1) leitet, so arbeitet das Regelsystem
in der Weise, daß es den Magneten erregt und aberregt, so daß das Potential an der Leitung 142 in Fig.4
nacheinander geerdet und von der Masse getrennt wird. Ein wertvoller Teil des Testvorganges ist das hörbare
Ansprechen beim öffnen und Schließen des Magnetventils, was eine hervorragende Anzeige dafür gibt, daß
das System tatsächlich periodisch arbeitet und daß das Ventil in Betrieb ist.
Mit dem während des Leitens des Transistors 173 ununterbrochen geerdeten, niederohmigen Widerstand
172 hält dies jedoch einen kleinen elektrischen Strom durch den Magneten aufrecht, der zwar nicht zum
Betätigen des Magneten ausreicht, nach dem Betätigen dennoch einen ausreichenden Haltestrom aufrecht
erhält, so daß der Magnet nicht abfällt, wenn es dies normalerweise tun sollte. Somit würde der Magnet das
erstemal erregt werden und dann im erregten Zustand ohne periodisches Ein- und Ausschalten verbleiben,
obwohl die Logik periodisch betrieben wird, um Erregungs- und Aberregungssignale zu liefern. Es ist
daher erforderlich, daß der niederohmige Widerstand 172 von der Masse abgeschaltet wird, um den
Haltestromdurchgang zu unterbrechen und um dem Magneten ein Aberregen zu gestatten. Zu diesem
Zweck sind die Bestandteile 176 und 181 als Schalt- und Zeitgliedanordnung verbunden. Der Transistor 176
kann als Schalter betrachtet werden und die Zeitgebung wird durch die Kombination des Widerstands 178 mit
dem Kondensator 180 bewirkt.
Es wird nun angenommen, daß der Magnet erregt und das Potential an der Leitung 142 tatsächlich zur Erde
abgeleitet wurde. Somit wurde die Ansteuerung des Transistors 173 entfernt, da diese Ansteuerung normalerweise
über die Leitung 142 und den Widerstand 177 aufgenommen wird. In ähnlicher Weise fließt der
das erforderliche Durchschaltpotential für den Transistor 176 liefernde Ladestrom für den in Reihe
geschalteten Kreis aus dem Widerstand 178 und den Kondensator 180 nicht, solange die Spannung am Leiter
142 geerdet bleibt. Nach dem Erregen des Magneten ist dementsprechend weder für den Transistor 173 noch für
den Transistor 176 eine Ansteuerung vorhanden. Es wird ΓίΐΐΏ sn^enorrirrieri daß eir! A.ußerb^tn^bs^tzpn Hps
Magneten durch Aberregen dessen Wicklung gewünscht wird, so benötigt das Magnetventil eine
gewisse, begrenzte Zeit zum Ansprechen und zum Wiedereinnehmen der unbetätigten Stellung. In diesem
Zeitintervall in der Größenanordnung von 100 msec ist es natürlich wünschenswert, die Erdung des Widerstands
172 um wenigstens dieses Zeitintervalls zu verzögern. Dies gestattet eine Aberregung des Solenoids
und eine Stabilisierung des Kreises. Sobald der
Ό Leiter 142 von der Masse getrennt ist, findet ein
unmittelbares Fließen von Ladestrom durch den Widerstand 178, den Kondensator 180 und die
Basis-Emitter-Verbindung des Transistors 176 statt Solange dieser Ladestrom fließt, ist der Transistor 176
eingeschaltet und erdet seinerseits die Basis des Transistors 173, was gewährleistet, daß der Transistor
173 während der Ladezeit abgeschaltet bleibt Ist dieser R-C Kreis 178, 180 geladen, wird der Antrieb für die
Basis-Emitterverbindung des Transistors 176 entfernt und dieser abgeschaltet Wenn der Transistor 176
abschaltet entfernt er die Erdung von der Basis des Transistors 173, der seine Basissteuerung wieder über
den Widerstand 177 empfängt und somit durchschaltet. Zu dieser Zeit ist der niederohmige Widerstand 172
wieder wirksam über dem Transistor 173 geerdet
Während der Zeit, in der der Widerstand 172 durch Nichtleiten des Transistors 173 von der Masse getrennt
ist, ist es wünschenswert, sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 nicht unbeabsichtigt eingeschaltet
werden kann. Es könnte ein fälschliches Aufleuchten eintreten, bewirkt durch periodisches Betreiben des
logischen Ausgangskreises des Steuersystems 16, was eine falsche Anzeige ergeben würde, wenn der
Transistor 173 abgeschaltet war. Dementsprechend wird, wenn der Transistor 173 zum Abschalten der
Erdung des Transistors 172 ausgeschaltet ist, ein Signal vom Widerstand 172 über den Widerstand 174 und die
Diode 175 geliefert, damit der Transistor 106 durchgeschaltet wird. Dieser Transistor erdet wirksam die Basis
des Transistors 157, um die Ansteuerung zu entfernen und um sicherzustellen, daß die Fotodiode 156 in der
Zeit nicht erregt werden kann, in der der Widerstand 172 geerdet ist. Die in Reihe mit der Basis des
Transistors 166 geschaltete Diode 175 vergrößert den zum Einschalten des Transistors 166 erforderlichen
Spannungsabfall. Wenn der Transistor 173 tatsächlich eingeschaltet ist, stellt dies sicher, daß kein den
Transistor 166 einschaltendes, irrtümliches Signal vorhanden ist.
Es wird nun der Niederspannungstestkreis 71 in.
Unterteil der Fig.4 betrachtet Dieser Kreis enthält einen üblichen Multivibratorkreis, der zwischen dem
Spannungseingangsleiter 53 und Masse angeschlossen ist. Der Schaltkreis enthält np/J-Transistoren 185, 186
Kondensatoren 187,188 und Widerstände 190-193. Das
vom Verzögerungssignalgenerator 60 über die Leitung 80 empfangene simulierte Verzögerungssignal wird
über einen Widerstand 195, den Leiter 82 und eine Diode 194 zum Kollektor des Transistors 185, zu einem
Ende eines Widerstands 196 und zu einem Ende eines Widerstands 197 geleitet. Der Emitter eines ersten
np/7-Transistors 198 ist geerdet, während dessen Basis
mit dem Widerstand 196 und dessen Kollektor über eine Fotodiode 200 und einen Widerstand 201 mit dem
erregenden Leiter 53 verbunden sind. Der Kollektor des Transistors 198 isi auch über eine den Kreis
vervollständigende Diode 202 an einen weiteren Testnunkt Taneeschlossen. Der andere Widerstand 197
ist an die Basis eines weiteren npn-Transistors 203
angeschlossen, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über den Leiter 70 an die Kathode jeder·
Diode 204, 206 und 208 angeschlossen sind. 'Venn der Transistor 203 durchgeschaltet ist, wird ein noch zu
beschreibender Sperrkreis durch die Dioden 204, 206 und 208 gebildet Dieser Kreis ist allgemein durch die
einzige Linie 70 in F i g. 2 dargestellt
Beim Betrieb des Multivibratorkreises im Niederspan
nungstestkreis 71 wird, wenn der linke Transistor 185
abgeschaltet ist, das vom Leiter 53 ausgeübte, positive Potential über den Widerstand 190 zu einem Ende jedes
Widerstands 196 und 197 geleitet, was die Transistoren 198 und 203 durchschaltet Der Transistor 198
vervollständigt in seinem durchgeschalteten Zustand einen Erregungsweg für die Fotodiode 200, die
ausfluchtet und anzeigt, daß der Niederspannungstest für den Magneten gerade läuft Gleichzeitig leitet der
andere Transistor 203 und sperrt über den Leiter 70 und
die Dioden 204, 206 und 208 wirksam die Schalteinheit
55, so daß der logische Kreis Antiblockierregelsystem
16 während des Niederspannungstest durch die Prüfschaltung nicht periodisch betrieben wird. Andernfalls
könnte das zu den linken und rechten Geberanschlüssen gelieferte, simulierte Verzögerungssignal in
der Tat den logischen Kreis periodisch betreiben und ein »Ablaß«- signal erzeugen. Es wäre dann zweide utig,
ob der Niederspannungstest das Ablassen bewirkt hatte, oder ob dieses Signal durch Betrieb der Logik
herbeigeholt wurde. Somit wird mit der erleuchteten.
Fotodiode 200, mit der über die Leitung 70 gesperrten Schalteinheit und mit den erwähnten Dioden das über
die Leitung 80 empfangene, simulierte Verzögerungssignal über den Widerstand 195, den Leiter 181 und die
Diode 168 (im Testkreis 48 für den Magnetwiderstand) weitergeleitet, um den Transistor 153 durch- und
abzuschalten, wenn das Verzögerungssignal empfangen wurde. Der Transistor 170 ist an die Leitung oder den
Leiter 47 mit positiver Spannung angeschlossen. Die positive Spannung ist somit das Nullbezugsniveau und
auf die untere Hälfte des Magneten wird eine negative Spannung ausgeübt. Das Durch- und Abschalten des
Transistors 153 schaltet den Antrieb der regelnden Zenerdiode 151 abwechselnd ab und an, die bei einer
bevorzugten Ausführungsform auf 7,7 V Spannung eingestellt wurde. Es wird jedesmal eine geregelte
Spannung von etwa 6 bis 7 V an der Magnetwicklung ausgeübt, wenn das Verzögerungssignal übar den
Transistor 153 zum Einschalten des Transistors 170 empfangen wurde.
Es ist zu bemerken, daß, wenn der Multivibrator im Kreis 71 in den anderen Zustand umschlägt, indem der
Transistor 185 durchgeschaltet und der Transistor 186 abgeschaltet ist, die vom Verzögerungssignalgent rator
60 über den Leiter 80 erfolgende Ansteuerung wirksam über die Diode 194 und den nicht leitenden Transistor
185 geerdet wird. Somit wird die Erdung vom Leiter 70 entfernt und der logische Kreis in den Normalzustand
zurückgeführt. Dementsprechend ist der Niederspannungsmagnettest erst durchgeführt, wenn der Transistor
185 abgeschaltet ist.
Der Geschwindigkeitssignalgenerator 54 für das Raddrehzahlsignal ist im linken Teil der Fig. 5 gezeigt.
Dieser Signalgenerator enthält einen npr-Transistor 210, dessen Emitter geerdet und dessen Kollektor über
einen Widerstand 211 an den Leiter 51 angeschlossen ist. Die Basis des Transistors 210 ist an ein Ende eines
Widerstands 212. dessen anderes Ende eeerdet ist. an eine Seite eines Kondensators 213 und an eine Seite
eines Widerstands 214 angeschlossen, dessen andere Seite sowohl an einen Kondensator 215 als auch an
einen Widerstand 216 angeschlossen ist Die andere Platte des Kondensators 215 ist geerdet, während das
andere Ende des Widerstands 216 an eine Seite eines Kondensators 217 und an den Kollektor des Transistors
210 angeschlossen ist Ein Ende eines Widerstands 218
ist geerdet, während das andere Ende an eine Platte
ίο jedes Kondensators 213 und 217 angeschlossen ist. Die
Bestandteile 210-218 sind in einer Oszillatoranordnung angeschlossen zum Liefern eines Sinuswellenausgangssignais
an einem Leiter 210. Bei einer bevorzugten Ausführungsform war dieser Oszillator angeschlossen,
um ein Ausgangssignal von ungefähr 1000 Hz zu liefern. Das Signal an der Leitung 220 wird auf in eine
Darlingtonschaltung angeschlossenen Transistoren 221, 222 übertragen zum Entwickeln eines Ausgangssignals
über einen Widerstand 223, das über den Leiter 68 zur Schalteinheit 55 geleitet wird. Dadurch, daß der
Oszillatorkreis auf die Belastung empfindlich ist, trennt die Darlingtonschaltung 221, 222 die Belastung vom
Oszillator und bewirkt einen ununterbrochenen und genauen Ausgangsbetrieb des Oszillators.
Das i 000 Hz Signal an der Leitung 68 wird über einen Widerstand 224, den Leiter 72, den Kondensator 73 und
die Leiter 74, 42 an den linken Gebereingangsanschluß des Antiblockierregeisystems 16 angeschlossen. In
ähnlicher Weise wird auch das Signal an der Leitung 68 über einen Widerstand 225, den Leiter 76, dem
Kondensator 77 und die Leiter 78, 43 an den rechten Gebereingangsanschluß angeschlossen. Wäre es nicht
für die Anwesenheit und das Funktionieren des anderen Kreises in der Schalteinheit 55, wurden diese beiden
Signale (über Widerstände 224, 225) ständig über die Gebereingangsanschlüsse die Prüfschaltung über die
passenden Anschlüsse im Steuersystem übertragen werden, um die logischen Kreise des Steuersystems
periodisch zu betreiben. Das Signal an der Leitung 68 ist ein Signal mit sehr schwacher Energie und beeinflußt
die Spannungsteileranordnung am Eingangsteil des bereits beschriebenen Testkreises 75 für den Geberwiderstand
nicht. Der Fachmann wird erkennen, daß, falls irgendein über die Leitung 72 und den Kondensator
73 ausgeübtes Signal oder das andere auf der Leitung 76 und dem Kondensator ausgeübte Signal vorübergehend
geerdet oder stufenweise auf Null zulaufen würde, dies für die logische Schaltung im Regelsystem ein
Verzögerungssignal simulieren würde. Es verbleibt noch die Erläuterung des Betriebs der anderen Kreise, um
diese Abänderung des ununterbrochenen Sinuswellensignals zum Simulieren des Verzögerungssignals vorzusehen.
Die Schalteinheit 55 enthält zwei npn-Transistoren 226,227, von denen jeder als Schalter angeschlossen ist, um ein Erden eines der über die Widerstände 224, 225 geleiteten 1000 Hz Signale zu bewirken, um dem Regelsystem ein Verzögerungssignal zu simulieren. Der Emitter des Transistors 226 ist geerdet, während dessen Kollektor an den Widerstand 224 und an den Leiter 72 angeschlossen ist. Zwischen der Basis und dem Emitter des Transistors 226 ist ein Widerstand 228 angeschlossen, der das Abschalten des Kreises unterstützt. Die Basis ist auch über einen Widerstand 230 an einen Leiter 231 angeschlossen. Die Kathoden der Dioden 232 und 233 sind an den Leiter 231 angeschlossen. Die Anode der Diode 232 ist über einen Widerstand 234 an den Leiter 205 und an feststehende Kontakte des logischen
Die Schalteinheit 55 enthält zwei npn-Transistoren 226,227, von denen jeder als Schalter angeschlossen ist, um ein Erden eines der über die Widerstände 224, 225 geleiteten 1000 Hz Signale zu bewirken, um dem Regelsystem ein Verzögerungssignal zu simulieren. Der Emitter des Transistors 226 ist geerdet, während dessen Kollektor an den Widerstand 224 und an den Leiter 72 angeschlossen ist. Zwischen der Basis und dem Emitter des Transistors 226 ist ein Widerstand 228 angeschlossen, der das Abschalten des Kreises unterstützt. Die Basis ist auch über einen Widerstand 230 an einen Leiter 231 angeschlossen. Die Kathoden der Dioden 232 und 233 sind an den Leiter 231 angeschlossen. Die Anode der Diode 232 ist über einen Widerstand 234 an den Leiter 205 und an feststehende Kontakte des logischen
Schalters 58 angeschlossen. Dieser logische Schalter enthält zwei bewegliche Konttakte 226, 247, die wie
dargestellt feststehende Kontakte 244, 245 berühren. Dies ist die Stellung für »Auswahl im unteren Bereich«
des Abfrageradiusschalters 58, in der die Prüfschaltung ein Regelsystem mit der Logik für »Auswahl im unteren
Bereich« durchprüft. In der Mittelstellung des Schalters 58, in der die beweglichen Kontakte 246, 247 die
feststehenden Kontakte 242, 243 berühren, ist die Prüfschaltung angeschlossen zum Testen eines Systems
»Rad-für-Rad«. In der oberen Stellung, in der die beweglichen Kontakte 246, 247 die feststehenden
Kontakte 240, 241 berühren, testet die Prüfschaltung wirksam ein für »Auswahl im oberen Bereich«.
Die Anode der Diode 233 ist an die Anode beiden
Dioden 235 und 236 und auch über einen Widerstand 237 an einen gemeinsamen Anschluß 250 und Leiter 207
angeschlossen, über die ein Signal vom Niederspannungstestkreis 71 für den Magneten (F i g. 4) empfangen
wird. Gleichstrom zum Betreiben der Kreise wird vom Leiter 51 über den Widerstand 238 zum gemeinsamen
Anschluß 250 geleitet, der auch an den Leiter 207, den Widerstand 237 und den Widerstand 251 angeschlossen
ist.
Der Leiter 231 ist über einen Widerstand 252 an die Basis eines npn-Transistors 251 angeschlossen, dessen
Emitter geerdet ist. Ein Widerstand 254 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors 253 ist über eine Reihenschaltung aus einer Fotodiode 255 und einem
Widerstand 256 an den Leiter 51 angeschlossen. Die Fotodiode 255 leuchtet, wenn ein Verzögerungssignal
(simuliert, wenn der Transistor 266 durchschaltet) zum linken Gebereingangsanschluß geleitet wird. Eine den
Kreis vervollständigende Diode 257 ist zwischen dem Testpunkt T und der gemeinsamen Verbindung des
Kollektors des Transistors 253 mit der Kathode der Diode 255 angeschlossen, um über die Fotodiode 255
einen Kreis zu bilden, wenn der Testkreis geerdet ist, wodurch der Betrieb der Fotodiode 255 überprüft wird.
Im Kreis des Transistors 277 ist ein Widerstand 258 zwischen dessen Basis und dessen Emitter angeschlossen,
während dessen Emitter geerdet ist. Die Basis ist auch über einen Widerstand 260 an den Leiter 263 und
an die gemeinsame Verbindung der Dioden 261 und 262 angeschlossen. Die Anode der Diode 261 ist an ein Ende
des Widerstands 251 und an die Anoden beider Dioden 264, 265 angeschlossen. Die Kathode der Diode 264 ist
an die feststehenden Kontakte 245 des Abfragemodusschalters angeschlossen, während die Kathode der
Diode 265 über den Leiter 65 an die Leiter 62 und 80
angeschlossen ist Die Anode der Diode 262 ist über einen Widerstand 266 an den Leiter 209 und an den
feststehenden Kontakt 241 des Schalters 58 angeschlossen. Der Leiter 209 empfängt ein Signal vom
Niederspannungstestkreis 71 (Fig.4) des Magneten. Der Leiter 263 ist über einen Widerstand an die Basis
eines np/J-Transistors 268 angeschlossen, während
dessen Emitter geerdet ist Ein Widerstand 270 ist zwischen der Basis und dem Emitter dieses Transistors
angeschlossen. Dessen Kollektor ist Ober einen in Reihe geschalteten Kreis, bestehend aus einer Fotodiode 271
und einem weiteren Widerstand 272 an den Leiter 51 angeschlossen. Eine den Kreis vervollständigende
Diode 273 ist zwischen einem Testpunkt T und der gemeinsamen Verbindung zwischen dem Kollektor des
Transistors 268 und der Kathode der Diode 271 angeschlossen. Dieser Kreis sieht beim Kurzschließen
des Testpunkts T einen Test für die Betriebsfähigkeit der Fotodiode 271 vor. Das Aufleuchten dieser
Fotodiode 271 zeigt anders als beim Testvorgang an, daß das Verzögerungssignal gerade zum rechten
Gebereingangsanschluß geliefert wird, bewirkt durch das Leiten des Transistors 227 zum Erden des Signals,
was sonst über den Kondensator geliefert werden würde. Vor der ins einzelne gehenden Betrachtung des
Betriebs dieses Kreises ist es nützlich, den Radabfragetaktgeber 56 und den Verzögerungssignalgenerator 60,
die beide in F i g. 6 gezeigt sind, zu beschreiben.
Jeder dieser Kreise ist, wie dargestellt, eine übliche Multivibratoranordnung. Der Radabfragetaktgeber 56
enthält zwei /jpn-Transistoren 275, 276, Widerstände
277-280 und Kondensatoren 281, 282, die in einem üblichen astabilen Multivibratorkreis miteinander verbunden
sind. Weitere zwei npn-Transistoren 283, 284,
sind als Sperrstufen zwischen den Multivibratorausgangsanschlüssen und den Leitern 63,64 angeschlossen.
Der Kollektor des Transistors 275 ist über einen Widerstand 285 an die Basis des Transistors 283
angeschlossen, währenddessen Emitter geerdet ist. Der Kollektor der Sperrs<ufe 283 ist an den Leiter 63 und
auch über einen Widerstand 286 und den Leiter 57 zum Erregen des Leiters 51 angeschlossen. Der Emitter der
anderen Sperrstufe 284 ist geerdet, deren Basis ist über einen Widerstand 287 an den Kollektor der Stufe 276
angeschlossen und deren Kollektor ist sowohl über einen Widerstand 288 an den Leiter 51 als auch über den
Leiter 64 an den beweglichen Kontakt 247 des logischen Schalters angeschlossen.
Der Verzögerungssignalgenerator 60 enthält einen weiteren Multivibratorkreis aus zwei npn-Transistoren
290, 291. Diese Stufe enthält auch Widerstände 291-295 und zwei Kondensatoren 296, 297, die alle in einer
üblichen, astabilen Multivibratoranordnung miteinander verbunden sind. Bei einer bevorzugten Ausführungsform wurde die Zeit zum periodischen Betreiben des
Verzögerungssignalgenerators 60 eine Sekunde und des Radabfragetaktgebers 56 ungefähr zehnmal so lang
gemacht, um eine eine Größenordnung höhere Radauswahlschaltfrequenz vorzusehen als die Frequenz, bei der
das Verzögerungssignal durch den Genenrator 60 vorgesehen wurde.
Bei der Betrachtung des Betriebs der Kreise 54,55,56
und 60 zusammen mit dem logischen Schalter 58 wird angenommen, daß die Multi vibratoren im Radabfragetaktgeber
56 und im Verzögerungssignalgenerator 60 arbeiten und an den Leitern 63,64 vom Kreis 56 und an
den Leitern 61, 62 vom Kreis 60 Ausgangssignale vorsehen. Bei der dargestellten (Auswahl im unteren
Bereich) Stellung des logischen Schalters 58 werden die Ausgangssignale vom Verzögerungssignalgenerator 60
über den Leiter 6t und die Diode 236 zur Anode der Diode 233 und über Leiter 62,65 und die Diode 265 zur
Anode der Diode 261 geleitet Es wird wieder darauf hingewiesen, daß die Transistoren 226, 227 wahlweise
durchgeschaltet werden können, um den Antrieb entweder zum linken oder rechten Gebereingangsanschluß zu erden, während die normale Durchschaltansteuerung für die Transistoren 226, 227 vom Leiter 51
über den Widerstand 238 zur gemeinsamen Verbindung 250 und von dort über den Widerstand 237, die Diode
233 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistors 226 und über den Widerstand 251, die Diode 261 und den
Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geleitet wird. Beim Fehlen jedes Erdungssignals würden beide
Transistoren 226, 227 ununterbrochen durchgeschaltet
sein zum Liefern von 1000 Hz Signalen mit konstanter Amplitude ?:u den linken und rechten Gebereingangsanschlüssen des logischen Systems.
Es wird nun angenommen, daß im Verzögerungssignalgenerator 60 der Transistor 290 leitet und der
Transistor 291 nicht leitet. Das Leiten des Transistors 290 erdet wirksam die Leitung 61 und dieses
Erdungssignal wird über den Leiter 61 und die Diode 236 gleitet zum Erden des Ansteuerungssignals für den
Transistor 226. Dieser Transistor wird somit abgeschaltet und gestattet dem 1000 Hz Signal einen Übergang
von der Leitung 68 über die Leitung 72 und den Kondensator 73 zum linken Gebereingangsanschluß.
Der Transistor 227 bleibt eingeschaltet und hindert jedes Ausgangssignai an der Überleitung über die is
Leitung 76 und den Kondensator 77 zum rechten GebereingangsanschluB an der Leitung 43. Wenn die
Transistoren 290 und 291 ihre Zustände im Verzögerungssignalgenerator 60 ändern, wird das Ansteuerungssignal für den Transistor 227 durch das über die
Leiter 62,65 und die Diode 265 geleitete Erdungssignal
gesperrt. Der Transistor 227 wird somit abgeschaltet und das Gebersignal der rechten Seite wird über den
Leiter 76 und den Kondensator 77 zum rechten Gebereingang der Logik im Regelsystem geleitet.
In diesem Zeitpunkt beginnt der Transistor 226 zu
leiten und erdet wirksam das linksseitige Gebereingangssignal, um das 1000 Hz Signal zur Erdung zu leiten,
was ein Verzögerungssignal zum linken Geberanschluß simuliert. Somit werden mit nur dem funktionierenden
Verzögerungssignalgenerator 60 Verzögerungssignale zu den Gebe-eingangsanschlüssen des Regelsystems 16
geliefert, jedesmal, wenn ein Ansteuersignal zum Transistor 226 zu dessen Einschaltung und zum Aberden
des linksseitigen Signals zum Simulieren eines Verzögerungssignals geliefert wird, wird dieses Ansteuersignal
über den Leiter 231 und den Widerstand 252 zur Basis des Transistors 253 geliefert, was diesen Transistor
ansteuert und die Fotodiode 255 aufleuchten läßt. Dies zeigt an, daß die linksseitige Logik im Regelsystem
gerade periodisch betrieben wird. In ähnlicher Weise wird das Einschalten des Transistors 227 durch ein
Signal über den Leiter 263 und den Widerstand 267 bewerkstelligt zum Ansteuern des Transistors 268, was
die Fotodiode 271 aufleuchten läßt, um anzuzeigen, daß die rechte Seite des logischen Systems gerade getestet
wird. Falls die Logik richtig arbeitet und sogar falls das
Arbeiten des Magnetventils nicht hörbar ist wird das elektrische Ausgangssignai zu den Eingangsleitern 47,
142 in der linken Seite von Fig.4 geleitet und die Fotodiode 144 wird erleuchtet, um das zufriedenstellende Arbeiten der Logik im Regelsystem 16 anzuzeigen.
Für größere Systeme, z. B. ein Mehrf achachsensystem
für große Lastwageneinheiten mit zwei Gebern an jeder Achse, wäre es wünschenswert, eine Seite der Logik
wiederholt periodisch für eine kurze Zeitdauer und dann die andere Seite der Logik wiederholt periodisch zu
betreiben, um sicher zu sein, welche Seite gerade periodisch betrieben wurde und um die passenden
Ausgangsangaben von nur dieser Seite zu suchen. Es wäre auch wünschenswert, eine einzige Prüfschaltung
zu haben, der für verschiedene Arten von Logiken arbeiten kann. Zu diesem Zweck wurden der Radabfragetaktgeber 56 und der logische Schalter vorgesehen.
Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetaktgeber 56 in einem Takt periodisch arbeitet, der
wesentlich langer ist als derjenige des Verzögerungssignalgenerators 60, wobei diese Schaltausgangssignale
an den Leitern 63, 64 vorgesehen werden. Die dargestellte Stellung des logischen Schalters 58 ist die
Stellung für »Auswahl im unteren Bereich«. Um die Logik für »Auswahl im unteren Bereich« eines
Steuersystems zu testen, ist es nur nötig, eine Seite der Logik ununterbrochen zu betreiben, oder an einem
hohen Niveau, während das andere Signal periodisch ein- und ausgeschaltet wird, so daß das Abschalten eine
schnelle Verzögerung bis zum Wert Null des Drehzahlsignals simuliert.
Diese stufenarige Verzögerungssimulierung kann erreicht werden durch Einschalten beider Stufen 226,
227 wie bereits beschrieben.
Es wird nun angenommen, daß der Radabfragetaktgeber 56 sich in dem Zustand befindet, indem der
Transistor 275 nicht leitend und der Transistor 276 leitend ist, wobei bei nichtleitendem Transistor 275 ein
positives Ansteuersignal vom Leiter 51 über die Widerstände 277 und 285 zur Basis des Transistors 283
geleitet wird, was diesen Transistor schnell durchschaltet und die Kathode der Diode 235 über die
Schaltkontakte 244, 246 den Leiter 63 und den Kollektor-Emitterdurchgang des Transistors 283 erdet.
Dies nimmt tatsächlich die Ansteuerung vom Transistor 226 weg, der abgeschaltet wird. Dies gestattet dem
1000 Hz Signal auf den linken Gebereingangsanschluß überzugehen. Somit ist es während dieses langen
Zeitintervalls, in dem das Erdungssignal an der Kathode der Diode 235 empfangen wird, unwesentlich, daß das
über die Leitung an der Kathode der anderen Diode 236 empfangene Signal periodisch an- und abgeschaltet
wird. Ist jedoch der Transistor 275 im Kreis 56 abgeschaltet so ist der Transistor 276 durchgeschaltet
und der Transistor 284 abgeschaltet. Somit wird während des gleichen Zeitintervalls ein positives Signal
über den Leiter 64 und die Schaltkontakte 247, 245 an der Kathode der Diode 264 ausgeübt Demnach ist der
Betrieb dieser Diode 264 im Kreis z. Zt nicht wesentlich. Jedoch arbeitet der Generator 60 periodisch während
dieses Zeitir.tervalls, wobei sich die Signale an seinen Ausgangsleitern 61,62 abwechseln. Jedesmal wenn das
Signal an der Leitung 62 schwach wird, wird die Kathode der Diode 265 geerdet und die Ansteuerung
wird effektiv vom Transistor 227 entfernt, der abgeschaltet wird. Wenn der Verzögerungssignalgenerator 60 schaltet wird das Signal an der Leitung 62 stark
und gestattet der normalen Ansteuerung (über Widerstand 251) den Transistor 227 durchzuschalten, der das
Signal vom Widerstand 225 erdet Dies simuliert das Verzögerungssignal über die Leitung 76 und den
Kondensator 77 zum rechten Gebereingangsanschluß des logischen Glieds. Dementsprechend wird der
Transistor 226 gesperrt und während dieses Zeitintervalls der Transistor 227 periodisch durch- und
abgeschaltet Während des. nachfolgenden Zeitintervalls, wenn der Radabfragetaktgeber 56 auf den Zustand
schaltet in dem die Stufe 275 eingeschaltet und die Stufe 276 abgeschaltet ist wird der Transistor 227 gesperrt
und der Transistor 226 periodisch gesteuert um fortlaufend Verzögerungssignale zum linken GebereingangsanschluB der Logik zu liefern.
Bei dem Zustand des Radabfragetaktgebers 56, in dem der Transistor 275 nicht leitend und der Transistor
263 leitend sind, bewirkt das über den Leiter 63, die
Schaltkontakte 246, 244 und die Diode 235 ausgeübte Erdungssignal eine wirksame Erdung an der Verbindung der Diode 233 mit dem Widerstand 237. Dies
nimmt dem Transistor 226 die Ansteuerung, was diesen
Transistor wirksam wegläßt und gestattet, daß ein ununterbrochenes 1000 Hz Signa! von der Leitung 68
über den Widerstand 224, den Leiter 72 und den Kondensator 73 auf den linken Gebereingangsanschluß
des Regelsystems ausgeübt wird. Weil dieses Signal ununterbrochen eingeschaltet ist, wogegen das periodische
Arbeiten des Verzögerungssignalgenerators 60 abwechselnd hohe und niedrige Signale erzeugt (über
die Leitungen 62, 65, die Dioden 265, 261 und den Widerstand 260), um abwechselnd den Transistor 227
durch- und abzuschalten, schaltet das periodische Arbeiten des Transistors 227 wirksam das Signal an der
Leitung 76 und am Kondensator 77 zum rechten Gebereingang ein und aus und läßt dieses als das
niedrige Radsignal zum Regelsystem hin auftreten. Nachdem der Radabfragetaktgeber 56 den Zustand
geändert hat, leitet die Sperrstufe 284, und die Sperrstufe 283 wird nicht leitend, während das
Erdungssignal über die Leitung 64, die Schaltkontakte 247,245 und die Diode 264 an der Verbindung der Diode
261 mit dem Widerstand 251 ausgeübt wird. Dies entfernt wirksam die Ansteuerung vom rechtsseitigen
Kreis mit dem Transistor 227, der durchgeschaltet bleibt und die rechte Seite als hohe Seite erscheinen läßt. In
diesem Zeitpunkt betreibt das Ausgangssignal vom Verzögerungssignalgenerator 60, das über den Leiter 61
ausgeübt wird, periodisch die linksseitigen logischen Kreise durch abwechselndes Leitend- und Nichtleitendmachen
des Transistors 226. Dies liefert die Ausgangssignale für »Auswahl im unteren Bereich« zu dem
gerade von der Prüfschaltung getesteten Regelsystem. Es ist wichtig festzustellen, daß dieser Test der logischen
Kreise im Anitblockier-Regelsystem 16 gleichzeitig durchgeführt werden können mit den Messungen der
effektiven Widerstände in den Gleichstromkreisen einschließlich dem Geberwiderstandstestkreis 75 und
dem Magnetwiderstandstestkreis 48. Dieses gleichzeitige Arbeiten der Kreise vermindert die zum Prüfen eines
vollständigen Regelsystems erforderliche Zeit bedeutend.
Um ein Regelsystem zu testen, indem die Logik in einer Anordnung für »Auswahl im oberen Bereich«
angeschlossen ist, in der das die Drehzahl des Rads mit
der höheren Drehzahl anzeigende Signal verwendet wird, wird der Abfragemodusschalter 58 aus der in
F i g. 5 und F i g. 6 angegebenen Stellung in die Stellung verschoben, in der die beweglichen Kontakte 146,147
die feststehenden Kontakte 240,241 berühren. In dieser
Stellung sind die Dioden 235,264 in deren Radabfragetaktgeber
unwirksam. Der Verzögerungssignalgenerator 60 arbeitet wie vorher und liefert die Schaltsignale
über die Leitungen 61, 62 zu den Dioden 236, 265. In dieser Stellung des Abfragemodusschalters steht jedoch
eine andere Ansteuerungsquelle zur Verfugung zum Durchschalten der Transistoren 226, 227. Es wird
angenommen, daß sich der Radabfragetaktgeber 56 in
der Stellung mit durchgeschaltetem Ausgangstransistor 275 und abgeschalteter Sperrstufe 283 befindet Es wird
dann ein Ansteuerungssignal vom Leiter 51 über den Leiter 57, den Widerstand 286, den Leiter 63, die
Schaltkontakte 246,240, den Widerstand 234, die Diode
232 und den Widerstand 230 zur Basis des Transistors
226 geliefert Somit ist der Transistor 23f to lange durchgeschaltet wk der Radabfragetaktgeber 56 in der
erwähnten Stellung bleibt, wobei die Sperrstufe 283 abgeschaltet ist Ist die Stufe 226 leitend, so wird das
Signal zum linken Gebereingangsanschluß dauernd gesperrt. Das linke Gebersignal ist dann das niedrige
Signal, weil es dauernd Null ist, während das rechtsseitige Gebereingangssignal verändert wird.
s Wenn der konstante Langzeitkreis in dem Radabfragetaktgeber 56 umschaltet, so daß die Sperrstufe 283
leitend wird und die Stufe 284 nicht leitend wird, wird ein Ansteuersignal von der Leitung 51 über den
Widerstand 288, den Leiter 64, die Schaltkontakte 247, 241, den Widerstand 266, die Diode 262 und den
Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 geliefert,
was diesen Transistor anhält und das rechtsseitige Geberausgangssignal erdet. Unter diesen Bedingungen
ist das rechtsseitige Signal das niedrige Signal, während das linksseitige Gebersigna! ständig periodisch ein- und
ausgeschaltet wird, wenn der Verzögerungssignalgenerator 60 arbeitet.
Bei diesem Betrieb wirkt das von einem der Kondensatoren 73 oder 77 gelieferte Verzögerungssignal
über die logische Schaltung in dem zu testenden Regelsystem, um ein Betätigungssignal zum Magneten
zu liefern. Um eine Verwirrung während des Magnetniederspannungstests zu vermeiden, der mit dem oben
in Verbindung mit Fig.4 beschriebenen Kreis 71 bewerkstelligt wird, wird der Transistor 203 in dem
Magnetniederspannungstestkreis 71 durchgeschaltet,
um ein Erdungssignal am Leiter 70 zu liefern, das durch Dioden 204,206 und 208 über Leiter 205,207 und 209 zu
den angegebenen Kreisstellungen in Fig.5 geleitet
so wird. Die Erdung am Leiter 207 entzieht den Kreisen
über die Dioden 235,236,264 und 265 wirksam jegliche
Ansteuerung. Die Erdung am Leiter 205 bedeutet, daß der Transistor 226 nicht durch das über den Widerstand
234 empfangene Signal durchgeschaltet werden kann, während in ähnlicher Weise die Erdung am Leiter 209
ein Durchschaltsignal an der Überleitung über den Kreis
mit dem Widerstand 260 zur Basis des Transistors 227 hindert Unter diesen Bedingungen können die logischen
Kreise im Regelsystem nicht periodisch betrieben werden, weil keiner der Transistoren 226, 227 in der
Schalteinheit 55 durch- oder abgeschaltet werden kann. Dieser ist gesperrt, während der Niederspannungsmagnettest
durchgeführt wird. Dieser Test wird angezeigt durch das Aufleuchten der Fotodiode 200, wenn der
Transistor 198 zur gleichen Zeit durchgeschaltet wird wie der Transistor 203 angesteuert wird zum Erzeuger.
der Erdungs- oder Abhaltesignale über die Leiter 205,
207 und 209.
Um ein Rad-für-Rad-System zu testen, in dem keine
so Logik vorhanden ist zum Auswählen entweder des höheren oder niedrigeren Signals von zwei oder mehr
Raddrehzahlanzeigesignalen, wird der Abfragemodus schalter 58 verstellt so daß die beweglichen Kontakte
246, 247 die freien Kontakte 242, 243 berühren. In diesem Zustand des Kreises werden die von Radabfra
getaktgeber 56 über die Leiter 63, 64 geleiteten Ausgangssignale in der Schalteinheit nicht verwendet
Es werden jedoch noch die Signale von Verzögerungssignalgenerator 16 über den Leiter 61 und die Dioden
236, die Dioden 233 und über den Leiter 62 und die
Diode 265 ausgeübt um die Schalttransistoren 226,227
periodisch zu betreiben. Somit empfangen die linken und rechten Gebereingangsanschlüsse Verzögerungssignale, wenn der Verzögerungssignalgenerator 60
periodisch arbeitet ohne irgendwelche Änderung der Arbeitsweise durch den Radabfragetaktgeber 56.
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
Claims (19)
1. Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem,
das eine mit Radgeschwindigkeitsgebern verbundene Antiblockier-Regelschaltung und eine durch die
letztere betätigbare Druckentlastungseinrichtung aufweist, mit einem Geschwindigkeitssignalgenerator
und einer Spulenprüfschaltung, wobei der Geschwindigkeitssignalgenerator mit der Antiblokkier-Regelschaltung
verbindbar ist und dieser gleichmäßigem Lauf der Räder entsprechende Radgeschwindigkeitssignale liefert, während die
Spulenprüfschaltung mit einer Erregerspule der Druckentlastungseinrichtung verbunden ist, dadurch
gekennzeichnet, daß sie eine Schalt- is einheit (55) aufweist, über die der Geschwindigkeitssignalgeherator
(54) mit den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbindbar ist. daß sie einen Verzögerungssignalgenerator (60) aufweist, dessen
Ausgang mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und dieser Verzögerungssignale übermittelt, durch die
die Weitergabe der Radgeschwindigkeitssignale durch die Schalteinheit (55) freigegeben und
unterbunden wird; daß der Verzögerungssignalgenerator (60) ferner mit Eingängen der Spulenprüfschaltung
(48) und eines dieser zugeordneten Spulenprüfmodusumschalters (71) verbunden ist und
zusammen mit dem Letzteren über die Verzögerungssignale eine Umschaltung des Spulenprüfmodus
von der Prüfung im simulierten Betrieb unter Einbeziehung der Antiblockier-Regelschaltung (16)
auf die Prüfung des Spulenstandes sowie auf Prüfung des Durchganges des Erregerspulenkreises bewirkt;
daß ein Geberprüfkreis (75) vorgesehen ist, der mit den Radgeschwindigkeitsgebern (14, 19) verbunden
ist und feststellt, ob deren Widerstand innerhalb eines vorgegebenen Widerstandsbereiches liegt; und
daß ein Abfragemodusschalter (58) vorgesehen ist, der mit der Schalteinheit (55) verbunden ist und das
Anlegen von Radgeschwindigkeitssignalen an die Ausgänge der Schalteinheit (55) steuert.
2. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Geberprüfkreis (75) einen
ersten Vergleichswiderstand (111) für den oberen Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines
Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) und einen zweiten Vergleichswiderstand (140) für den unteren
Grenzwert des zulässigen Widerstandes eines Radgeschwindigkeitsgebers (14; 19) aufweist; daß
der Geberprüfkreis (75) für jeden der Radgeschwin- so digkeitsgeber (14; 19) eine erste Diskriminatorstufe
für den oberen Grenzwert (106; 124) und eine zweite Diskriminatorstufe für den unteren Grenzwert (116,
105; 122,127) aufweist, bei denen ein erster Eingang
jeweils mit einem Eingangswiderstand (118; 125) verbunden ist, welcher zusammen mit dem zugeordneten
Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) einen Spannungsteiler bildet, und ein zweiter Eingang mit
dem entsprechenden Vergleichs widerstand (111,
140) verbunden ist; und daß die einem Radgeschwindigkeitsgeber (14; 19) zugeordneten Diskriminatorstufen
den Eingang eines diesem Radgeschwindigkeitsgeber zugeordneten An7f»igekreii>es (101, 102;
130,131) beaufschlagen.
3. Prüfschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Diskriminatorstufen jeweils
einen Eingangstransistor (106, 116, 122, 124) aufweisen, dessen Kollektor-Emittervorspannung
über den entsprechenden Vergleichswiderstand (Ul, 140) einstellbar ist.
4. Prüfschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß jeweils eine der einem Radgeschwindigkeitsgeber
zugeordneten Diskriminatorstufen einen Inverter (105; 127) aufweist, so daß das
Ausgangssignal der ersten Diskriminaiorstufe (106; 124) bei Oberschreiten des oberen Grenzwertes und
das Ausgangssignal der zweiten Diskriminatorstufe (116, 105; 122, 127) bei Unterschreiten des unteren
Grenzwertes gleiche Polarität aufweisen.
5. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Vergleichswiderstände
für den oberen und unteren Grenzwert durch Potentiometer (111,140) gebildet sind.
6. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung
(48) einen ersten Referenzwiderstand (148) für den oberen Grenzwert des Widerstandes der
Erregerspule (37) und einen zweiten Referenzwiderstand (172) für den unteren Grenzwert des
Widerstandes der Erregerspule (37) aufweist; daß die Spulenprüfschaltung (48) eine erste mit der
Erregerspule (37) und dem ersten Referenzwiderstand (148) verbundene Diskriminatorschaltung
(161,164) für den oberen Grenzwert und eine zweite mit der Erregerspule (37) und dem zweiten
Referenzvviderstand (172) verbundene Diskriminatorschaltung (158) für den unteren Grenzwert
aufweist; und daß die beiden Diskriminatorschaltungen (161,164; 158) den Eingang eines Widerstandsanzeigekreises
(156, 157) beaufschlagen, durch welchen ein im vorgebenen Widerstandsbereich liegender Widerstand der Erregerspule (37) angezeigt
ist.
7. Prüfschaltung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Widerstandsanzeigekreis
einen Einschalttransistor (157) und eine in Reihe geschaltete Leuchtdiode (156) aufweist, wobei die
Basis des Einschalttransistors (157) über die Kollektor-Emitterstrecke eines Ausgangstransistors
(158) der zweiten Diskriminatorschaltung in Durchlaßrichtung vorgespannt ist, wenn der Widerstand
der Erregerspule (37) über dem unteren Grenzwert liegt, und über die Kollektor-Emitterstrecke eines
Ausgangstransistors (164) der ersten Diskriminatorschaltung mit der Emitterklemme des Einschalttransistors
verbindbar ist, wenn der Widerstand der Erregerspule über dem oberen Grenzwert lieft.
8. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 u.'s 7,
wobei die Erregerspule fest mit der ersten Klemmt einer Betriebsstormquelle verbunden ist und über
die Antiblockier-Regelschaltung mit der zweiten Klemme der Betriebsstromquelle verbindbar ist,
gekennzeichnet durch einen Funktionsanzeigekreis, welcher eine einerseits mit der ersten Klemme der
Betriebsstromquelle und andererseits mit der mit der Antiblockier-Regelschaltung (16) verbundenen
Klemme (142) der Erregerspule (37) verbundene Leuchtdiode (144) aufweist.
9. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Spulenprüfschaltung
(48) einen durch die vom Verzögerungssignalgenerator (60) gelieferten Verzögerungssignale
gesteuerten Klemmenumschalter (153, 170, 173) aufweist, über den die mit der Antiblockier-Regelschaltung
(16) verbundene Klemme (142) der Erregerspule (37) über den zweiten Referenzwider-
stand (172) mit der Klemme der BetriebsstromqueUe verbindbar ist, mit der sie auch über die Antiblokkier-Regelschaltung
(16) verbindbar ist, oder mit einer Hilfversorgungsklemme verbindbar ist, welche
ein von der anderen Klemme der Betriebsstromquei-Ie
nur wenig verschiedenes Potential aufweist.
10. Prüfschaltung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfsversorgungsquelle die
Kathode einer mit dem positiven Pol der Betriebsstromquelle verbundenen Zenerdiode (151) ist
11. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
10, gekennzeichnet durch einen Spulenprüf modusumschalter (71), der einen Taktgeber (185, 186)
aufweist und in Abständen der Schalteinheit (55) Umschaltsignale liefert, welche sicherstellen, daß die
gleichmäßigem Radlauf entsprechenden Radgeschwindigkeitssignale vom Geschwindigkeitssignaigenerator
(54) an die Antiblockier-Regelschaltung (16) weitergegeben werden, so daß die Errsgerspule
(37) über die Antiblockier-Regelschaltung für vorgegebene Zeitspannen nicht mit Erde verbunden wird.
12. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
11, dadurch gekennzeichnet, daß die den Radgeschwindigkeitsgebern
(14, 19) zugeordneten Ausgänge der Schalteinheit (55) jeweils über einen
Vorschaltwiderstand (224, 225) mit dem Ausgang des Geschwindigkeitsgenerators (54) verbunden
sind und über ihnen zugeordnete steuerbare Schalter (226,227) getrennt an Erde kurzschließbar sind.
13. Prüfschaltung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß die steuerbaren Schalter (226,
227) durch ein Schließsignal normalerweise im geschlossenen Zustand gehalten werden; daß die
Schließsignale aller steuerbaren Schalter (226, 227) zugleich durch den Spulenprüfmodusumschalter (71)
kurzschließbar sind; daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226, 227) gemäß den am
Ausgang des Verzögerungssignalgenerators (60) anstehenden Verzögerungssignalen kurzschließbar
sind; und daß die Schließsignale der steuerbaren Schalter (226,227) gemäß den Signalen an den ihnen
zugeordneten Ausgängen des Radabfragemodusschalters (58) kurzschließbar sind.
14. Prüfschaltung nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, daß jedem der steuerbaren
Schalter (226,227) ein Schlie3anzeigekreis (253,255;
268,271) zugeordnet ist.
15. Prüfschaltung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Schließanzeigekreise Anzeigeschalter
(253, 268) aufweisen, die durch Ausgangssignale des Spulenprüfmodusschalters (71)
betätigbar sind.
16. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfra^emodusschalter
(58) einen Umschalter (246) mit einer Anzahl von Arbeitsstellungen aufweist, die um eins
größer ist als die Zahl der Radgeschwindigkeitsgeber (14,19), wobei jeweils in einer der Arbeitsstellungen
des Schließsignals eines dieser Stellung zugordneten Steuerschalters (226, 227) erhalten bleibt,
während die restlichen Schließsignale kurzgeschlossen werden, und wobei in der letzten Arbeitsstellung
die steuerbaren Schalter (226, 2227) nacheinander aktiviert werden.
17. Prüfschaltung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Abfragemodusschalter (58)
mit einem Radabfragetaktgeber (56) verbunden ist, welcher in der letzten Arbeitsstellung des Radabfragemodusschalters
(58) die nacheinander in vorgegebener Reihenfolge stattfindende Aktivierung der steuerbaren Schalter (226,227) steuert
18. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
17, gekennzeichnet durch einen Netzprüfkreis (46).
19. Prüfschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis
18, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzeigekreise der Prüfschaltung jeweils eine Prüfklemme (T)
aufweisen, über die sie gesondert mit Erde verbindbar sind, um ihre eigene Funktionsfähigkeit
überprüfen zu können.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00276981A US3841712A (en) | 1972-08-01 | 1972-08-01 | Analyzer for control system which regulates vehicle braking |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2338859A1 DE2338859A1 (de) | 1974-02-14 |
DE2338859B2 DE2338859B2 (de) | 1977-11-17 |
DE2338859C3 true DE2338859C3 (de) | 1978-06-29 |
Family
ID=23058945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2338859A Expired DE2338859C3 (de) | 1972-08-01 | 1973-07-31 | Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3841712A (de) |
JP (1) | JPS4957287A (de) |
CA (1) | CA1009721A (de) |
DE (1) | DE2338859C3 (de) |
FR (1) | FR2194596B1 (de) |
GB (1) | GB1412183A (de) |
IT (1) | IT992791B (de) |
SE (1) | SE393960B (de) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3995912A (en) * | 1973-01-26 | 1976-12-07 | Eaton Corporation | Skid control system |
JPS5033391A (de) * | 1973-07-28 | 1975-03-31 | ||
US3920284A (en) * | 1974-05-10 | 1975-11-18 | Eaton Corp | Monitoring circuitry for a skid control system |
US3915512A (en) * | 1974-07-18 | 1975-10-28 | Itt | Anti-skid brake control system and failsafe circuit therefor |
US3917359A (en) * | 1974-08-06 | 1975-11-04 | Itt | Anti-skid brake control system and failsafe circuit therefor |
GB1567753A (en) * | 1975-10-01 | 1980-05-21 | Girling Ltd | Failure detection circuit for a vehicle anti-skid braking system |
GB2015746B (en) * | 1978-02-28 | 1982-07-28 | Girling Ltd | Speed sensors |
DE2841289A1 (de) * | 1978-09-22 | 1980-04-03 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von induktiven impulsgebern |
JP2540857Y2 (ja) * | 1991-03-14 | 1997-07-09 | キユーピー株式会社 | 片面接着テープ |
DE4242177A1 (de) * | 1992-12-15 | 1994-06-16 | Teves Gmbh Alfred | Schaltungsanordnung zur Überwachung einer Vielzahl von Spulen |
DE4242887A1 (de) * | 1992-12-18 | 1994-06-23 | Wabco Westinghouse Fahrzeug | Bremsanlage mit wenigstens einer Bremse |
US5812433A (en) * | 1994-07-01 | 1998-09-22 | Hitachi, Ltd. | Electromagnetic driving system for controlling electromagnetic driving device by simulator |
US8311699B2 (en) | 2008-02-06 | 2012-11-13 | General Electric Company | Automatic brake verification system |
CN102556340B (zh) * | 2012-03-03 | 2014-03-12 | 西安航空制动科技有限公司 | 飞机防滑刹车控制***及控制方法 |
DE112015000533T5 (de) | 2014-01-28 | 2016-10-27 | General Electric Company | System und Verfahren zur Bremssystemverifizierung |
DE102016101700A1 (de) * | 2016-02-01 | 2017-08-03 | Knorr-Bremse Systeme für Nutzfahrzeuge GmbH | Überwachung inaktiver Magnetventile |
CN114137349A (zh) * | 2021-12-02 | 2022-03-04 | 奇瑞商用车(安徽)有限公司 | 一种用于汽车开发测试使用的车轮速度发生装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3254299A (en) * | 1962-05-10 | 1966-05-31 | Dit Mco Inc | Apparatus for determining conformity of resistance value to percentage tolerance limits |
US3300659A (en) * | 1964-05-18 | 1967-01-24 | Gen Electric | Fail safe overvoltage alarm circuit |
US3457560A (en) * | 1965-09-24 | 1969-07-22 | Milton Arthur Mckinley | Undervoltage and overvoltage alarm circuit |
US3275384A (en) * | 1966-01-10 | 1966-09-27 | Crane Co | Automatic brake control system |
US3578819A (en) * | 1968-09-23 | 1971-05-18 | Kelsey Hayes Co | Skid control system |
US3706971A (en) * | 1969-04-05 | 1972-12-19 | Aisin Seiki | Brake control arrangement |
US3629695A (en) * | 1969-07-31 | 1971-12-21 | Texas Instruments Inc | Prerecorded electronic tape controlled circuit testing system utilizing digital signal logic |
US3620577A (en) * | 1969-12-09 | 1971-11-16 | North American Rockwell | Brake control system |
US3628099A (en) * | 1970-06-17 | 1971-12-14 | Wagner Electric Corp | Resistance-responsive control circuit |
US3680923A (en) * | 1971-03-15 | 1972-08-01 | Gen Motors Corp | Anti-lock brake control with sensor monitoring circuit |
US3709567A (en) * | 1971-03-26 | 1973-01-09 | Gen Motors Corp | Adaptive control anti-lock brake system |
-
1972
- 1972-08-01 US US00276981A patent/US3841712A/en not_active Expired - Lifetime
-
1973
- 1973-07-17 GB GB3409073A patent/GB1412183A/en not_active Expired
- 1973-07-19 CA CA176,860A patent/CA1009721A/en not_active Expired
- 1973-07-30 SE SE7310496-0A patent/SE393960B/xx unknown
- 1973-07-31 IT IT7327372A patent/IT992791B/it active
- 1973-07-31 DE DE2338859A patent/DE2338859C3/de not_active Expired
- 1973-08-01 JP JP48086711A patent/JPS4957287A/ja active Pending
- 1973-08-01 FR FR7328243A patent/FR2194596B1/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA1009721A (en) | 1977-05-03 |
US3841712A (en) | 1974-10-15 |
AU5833673A (en) | 1975-01-30 |
FR2194596A1 (de) | 1974-03-01 |
DE2338859B2 (de) | 1977-11-17 |
SE393960B (sv) | 1977-05-31 |
DE2338859A1 (de) | 1974-02-14 |
JPS4957287A (de) | 1974-06-04 |
GB1412183A (en) | 1975-10-29 |
FR2194596B1 (de) | 1978-05-26 |
IT992791B (it) | 1975-09-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2338859C3 (de) | Prüfschaltung für ein Antiblockier-Regelsystem | |
DE19806821C2 (de) | Störungsfeststellungseinrichtung zur Feststellung einer Störung in einem Magnetventil | |
DE102009053113B4 (de) | Serielles Verriegelungssystem mit eingebauter Fähigkeit zum Identifizieren unterbrochener Stellen sowie Implementierungsverfahren | |
DE2253867C3 (de) | Überwachungsschaltung für Antiblockierregelsysteme | |
DE19840944B4 (de) | Sicherheitsrelevantes System, insbesondere elektromechanisches Bremssystem | |
DE2209745B2 (de) | Bremsblockierschutz-Steueranlage | |
DE3041206C2 (de) | Prüfschaltung zum Feststellen und Anzeigen von Unterbrechungen in elektrischen Verbraucherstromkreisen | |
DE2436136A1 (de) | Einrichtung zur ueberwachung der bremsbelagabnuetzung bei fahrzeugen | |
DE3702517A1 (de) | Schaltungsanordnung zur stromversorgung einer vielzahl von verbrauchern | |
DE2448435C3 (de) | Vorrichtung zum Überprüfen einer Blockierschutzvorrichtung für Fahrzeugbremsen | |
DE2235642A1 (de) | Einrichtung zur kontrolle von elektrischen verbrauchern in kraftfahrzeugen | |
DE2929472A1 (de) | Fehlerdiagnosevorrichtung eines steuersystems | |
EP1227019A1 (de) | Verfahren zur Ansteuerung einer Warnlampe bei einem Antiblockiersystem für Strassenfahrzeuge | |
DE3531560C2 (de) | ||
DE102016221695A1 (de) | Steuereinrichtung für ein Kraftfahrzeug, Kraftfahrzeug und Gespann | |
DE19950851A1 (de) | Richtungsanzeigevorrichtung für ein einen Anhänger ziehendes Fahrzeug und ein Anhängeranhängebestimmungsschaltkreis, der in demselben verwendet wird | |
DE2553706A1 (de) | Radschlupfregelvorrichtung fuer kraftfahrzeuge und dergleichen | |
DE60302434T2 (de) | Erkennung von Anhängeranwesenheit und -typ durch Stromdetektion | |
DE102012102638A1 (de) | Fahrzeugbeleuchtungssysteme mit Detektierung einer Störung in einer der Fahrzeugleuchten | |
DE2504567A1 (de) | Antiblockierregelsystem | |
EP0258214B1 (de) | Einrichtung zur kontrolle von elektrischen verbrauchern in kraftfahrzeugen | |
WO2020233937A1 (de) | Vorrichtung und verfahren zur stromsteuerung eines aktuators | |
DE2919782A1 (de) | Steuerung fuer einen batteriebetriebenen hebemagnet | |
DE2310881A1 (de) | Vorrichtung zum anzeigen einer physikalischen groesse, die an einem sich drehenden rad gemessen ist | |
DE2443396A1 (de) | Druckmitteldruckbremse |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |