DE2051052A1 - Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten - Google Patents

Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten

Info

Publication number
DE2051052A1
DE2051052A1 DE19702051052 DE2051052A DE2051052A1 DE 2051052 A1 DE2051052 A1 DE 2051052A1 DE 19702051052 DE19702051052 DE 19702051052 DE 2051052 A DE2051052 A DE 2051052A DE 2051052 A1 DE2051052 A1 DE 2051052A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
testing
contact
circuit boards
etched circuit
testing device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19702051052
Other languages
English (en)
Inventor
Reinhard 715 7. Murrhardt. H05k 1-07 Schwager
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DE19702051052 priority Critical patent/DE2051052A1/de
Publication of DE2051052A1 publication Critical patent/DE2051052A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

  • Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten Die vorliegende Erfindung befasst sich mit einer Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik, bestehend aus einer Vielzahl von rasterartig angeordneten und federnden Kontaktstiften zur elektrischen Kontaktierung mit den ebenfalls rasterartig verteilten Kontaktstellen der Schaltungsplatte.
  • Aus der DT-OS 1 800 657 ist eine Kontaktvorrichtung bekannt, die ein Verfahren zur Prüfung geätzter Leiterplatten beschreibt. Bei dieser Anordnung werden die Kontaktpunkte der Leiterplatten über Kontaktstifte mit einer mehrlagigen Leiterplatte verb/unden, die ihrerseits wieder Anschlußstellen für Schaltdrähte besitzt, die zu einem Prüfgerät führen und dort eine Anzeige betätigen. Diese Prüfanordnung ist aufwendig, insbesondere was die Vielzahl der durch die Rasterung vorzusehenden Schaltverbindungen betrifft.
  • Diese aufwendige Prüfanordnung gilt es zu vereinfachen, worin die Aufgabe dieser vorliegenden Erfindung besteht.
  • Sie wird dadurch gelöst, dass die Kontaktstifte in einer Meßspitzenplatte gehaltert sind und nach beiden Seiten herausragen und dass gegen die eine Seite der Prüfling und gegen die andere Seite eine mit einem Messautomaten elektrisch verbundene Adaptionoplatte kontaktierend gepresst sind. Die eklektrische kontaktierung wird dadurch gewährleistet, dass die Kontaktstifte je eine Kontaktspitze haben, die in axialer Richtung federnd gelagert sind.
  • Anhand der Zeichnung wird die Erfindung an einem Ausfiihrungsbeispiel näher beschrieben. In der Figur der Zeichnung ist ein Ausschnitt der erfindungsgemässen Anordnung abgebildet. In der Neßspitzenplatte 1 sind die kontaktstifte 2 gehaltert und ragen nach beiden Seiten der Neßspitzenplatte heraus. Diese Meßspitzenplatte ist aus einem Isoliermaterial angefertigt. Die Kontaktstifte 2 sind dem genormten Rastermaß entsprechend angeordnet, so dass die dem Rastermaß emäß aufgebaute Prüfplatte 3 mit ihren Schalt- bzw. Lotpunkten und den darauf befindlichen Bauelementen 31 korrespondieren. Die elektrische Kontaktgabe wird durch Kontakt spitzen 4 hergestellt, die axial verschiebbar sind und durch eine Feder 5 gegen die Prüfplatte 3 gedrückt werden, Auf der entgegengesetzten Seite 2 der Meßspitzenplatte 1 sind die Kontaktstifte in gleicher Weise ausgebildet, haben Kontaktspitzen 4', eine weitere Feder 52. Gegen diese wird eine Adaptionsplatte 6 gedrückt, die Mit Leiterbahnen beaufschlagt ist und als geätzte Schaltungsplatte ausgeführt ist. Ihre Leitungszüge sind über Stecker (nicht Abgebildet} mit einem Meßautomaten 7 verbunden, der die Prüfergebnisse direkt zur Anzeige bringt.
  • Damit wird der Aufwand an Verdrahtung. der in den Falle notwendig ist, wenn alle kontaktstifte mit dem Prüfautomaten verbunden sind, vermieden. Bei der vorliegenden Erfindung ist jeder Ausführungsform von Prüfplatten 3 jeweils eine genau auf die Prüfplatte abestimmte Adaptionsplatte zugeordnet, Diese Prüfvorrichtung hat den grossen Vorteil, sowohl bei kleinen als auch bei grossen Stückzahlen von Prüfplatten wirtschaftlich zu sein.

Claims (2)

Patentansprüche
1) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik, bestehend aus einer Vielzahl von rAsterartig angeordneten und federnden kontakten zur elektrischen Kontaktierung mit den ebenfalls rasterartig verteilten Kontaktstellen der Schaltungsplatte, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktstifte (2) in einer Menspitzenplattc (1) gehaltert sind und nach beiden Seiten herausragen und dass gegen die eine Seite der Prüfing (3) und gegen die andere Seite eine mit einem Meßautomaten (7) elektrisch verbundene Adaptions platte (6) kontaktierend gespresst sind.
2) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die kontaktstifte (2) je eine Kontaktspitze (4) haben, die in axialor Richtung federnd (5) gelagert ist.
DE19702051052 1970-10-17 1970-10-17 Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten Pending DE2051052A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702051052 DE2051052A1 (de) 1970-10-17 1970-10-17 Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19702051052 DE2051052A1 (de) 1970-10-17 1970-10-17 Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2051052A1 true DE2051052A1 (de) 1972-04-20

Family

ID=5785417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19702051052 Pending DE2051052A1 (de) 1970-10-17 1970-10-17 Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2051052A1 (de)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3038665A1 (de) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt Pruefeinrichtung
DE3115787A1 (de) * 1981-03-06 1982-11-04 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktvorrichtung
US4574236A (en) * 1983-10-27 1986-03-04 At&T Technologies, Inc. High frequency test fixture
EP0224471A1 (de) * 1985-11-26 1987-06-03 Alcatel Austria Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
US4837507A (en) * 1984-06-08 1989-06-06 American Telephone And Telegraph Company At&T Technologies, Inc. High frequency in-circuit test fixture
DE19748825B4 (de) * 1997-11-05 2004-09-09 Feinmetall Gmbh Prüfkopf mit einer Kontaktiervorrichtung

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3038665A1 (de) * 1980-10-13 1982-06-16 Riba GmbH, 7801 Schallstadt Pruefeinrichtung
US4551673A (en) * 1980-10-13 1985-11-05 Riba-Pruftechnik Gmbh Testing arrangement for printed circuit boards
DE3115787A1 (de) * 1981-03-06 1982-11-04 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg Kontaktvorrichtung
US4574236A (en) * 1983-10-27 1986-03-04 At&T Technologies, Inc. High frequency test fixture
US4837507A (en) * 1984-06-08 1989-06-06 American Telephone And Telegraph Company At&T Technologies, Inc. High frequency in-circuit test fixture
EP0224471A1 (de) * 1985-11-26 1987-06-03 Alcatel Austria Aktiengesellschaft Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE19748825B4 (de) * 1997-11-05 2004-09-09 Feinmetall Gmbh Prüfkopf mit einer Kontaktiervorrichtung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0285799B1 (de) Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten
DE10042224C2 (de) Modultestsockel für Prüfadapter
DE3701310A1 (de) Kontaktierungsvorrichtung zur kontaktierung von oberflaechenmontierbaren integrierten schaltkreisen
DE1800657A1 (de) Kontaktvorrichtung,insbesondere zur elektrischen Pruefung der Leitungszuege gedruckter oder geaetzter Schaltungsplatten der Fernmeldetechnik
DE2051052A1 (de) Prüfvorrichtung zum Prüfen von geätzten Schaltungsplatten
DE3343274A1 (de) Kontaktiervorrichtung
DE3427540C2 (de)
DE1934752A1 (de) Pruefadapter fuer elektrische Bausteine
DE1233038B (de) Elektrisches Geraet, bei dem die elektrischen Verbindungen zwischen seinen Bauelementen mittels Schaltungsplatten hergestellt sind
EP0238801A1 (de) Mehrpolige elektrische Steckverbindung
DE2017151A1 (de) Testadapter für Schaltungskarten
EP0158122B1 (de) Programmier-Stecker
DE102005030551B3 (de) Vorrichtung zum Übertragen von elektrischen Signalen zwischen einem Tester und einem Prüfadapter
DE2214678C3 (de) Steckkartenanordnung für elektronische Schaltungen
DE102013214478A1 (de) Nutzen mit mehreren Leiterplatten und Verfahren zu seiner Herstellung
DE3839539A1 (de) Multikompatible halteeinrichtung fuer zu pruefende leiterplatten bzw. flachbaugruppen, und fuer kontaktstift-traegerplatten und niederhalteplatten zur verwendung in pruefgeraeten
DE3212403C2 (de) Adaptereinrichtung zur Herstellung einer lösbaren elektrischen Verbindung zwischen Kontaktelementen einer Verdrahtungsplatte und zugeordneten Kontaktelementen einer Flachbaugruppe
EP0757413A2 (de) Adapter mit einem eine Kontaktierungsvorrichtung aufweisenden Träger
DE202009015172U1 (de) Prüfvorrichtung zum Testen von bestückten Leiterplatten
DE3642587A1 (de) Vorrichtung zum voraltern von ic-baueinheiten
DE3133199C2 (de) Kontaktsokel für elektrische Bauteile
DE1615576B1 (de) Drahthaltevorrichtung
DE1259427B (de) Isolierstofftraegerplatte fuer ein elektrisches Nachrichtengeraet
DE1591100A1 (de) Grundplatte zum Aufbau einer elektrischen Schaltung
DE102004033302A1 (de) Testvorrichtung für elektronische Schaltungen