DE19527611A1 - Substrat sowie Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents
Substrat sowie Verfahren zu dessen HerstellungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Substrat gemäß Oberbegriff Patentanspruch 1 sowie
auf ein Verfahren zum Herstellen eines solchen Substrates gemäß Oberbegriff
Patentanspruch 7.
Keramik-Substrate für elektrische und elektronische Schaltkreise, insbesondere auch für
Halbleiter-Leistungsschaltkreise sind bekannt und bestehen im einfachsten Fall aus einer
Keramikschicht, die an einer Oberflächenseite, vorzugsweise an zwei Oberflächenseiten
mit einer Metallisierung versehen ist, welche von einer flächig aufgebrachten Metallfolie
gebildet ist. Für die Herstellung des Schaltkreises wird zumindest die Metallisierung an
einer Oberflächenseite strukturiert, und zwar zur Bildung von Kontaktflächen,
Leiterbahnen usw.
Vielfach werden auch seitlich und/oder über eine Oberflächenseite des Substrates
wegstehende Anschlüsse benötigt. Nach der bisher üblichen Technik werden diese
Anschlüsse aus der auf wenigstens eine Oberflächenseite der Keramikschicht
aufgebrachten Metallisierung hergestellt, und zwar durch entsprechende Strukturierung
dieser Metallisierung und durch entsprechendes Abtragen der Keramikschicht. Dieses
Verfahren ist aufwendig und erfordert einen hohen Materialverbrauch.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Substrat aufzuzeigen, welches wenigstens eine als
elektrisches Anschlußelement geeignete überstehende Metallisierung aufweist, und zwar
bei der Möglichkeit einer vereinfachten Herstellung.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein Substrat entsprechend dem kennzeichnenden Teil des
Patentanspruches 1 bzw. ein Verfahren entsprechend dem kennzeichnenden Teil des
Patentanspruches 7 ausgeführt.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird die wenigstens eine
überstehende Metallisierung von einem Steg eines Lead-Frames gebildet, der durch
Stanzen und/oder Ätzen aus der Metallfolie hergestellt ist. Der Lead-Frame wird dann so
auf das jeweilige Substrat aufgelegt, daß das freie Ende des Steges auf der Keramikschicht
oder einer auf diese Keramikschicht aufgebrachte zusätzliche Metallisierung aufliegt.
Anschließend erfolge das Laserbonden. Nach dem Laserbonden wird der jeweilige Steg
vom Lead-Frame abgetrennt.
Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Figuren an Ausführungsbeispielen näher
erläutert. Es zeigen
Fig. 1 und 2 in vereinfachter Teildarstellung und in Draufsicht bzw. in Seitenansicht eine
möglicher Ausführungsform des erfindungsgemäßen Substrates;
Fig. 3 und 4 in Teildarstellung und in Draufsicht sowie in Seitenansicht das Substrat der
Fig. 1 und 2 bei der Herstellung;
Fig. 5 in perspektivischer Teildarstellung eine weitere mögliche Ausführungsform
des erfindungsgemäßen Substrates;
Fig. 6 in Detaildarstellung und in Seitenansicht eine weitere mögliche
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Substrates;
Fig. 7 und 8 in Teildarstellung und in Draufsicht sowie in Seitenansicht eine weitere
mögliche Ausführungsform des erfindungsgemäßen Substrates.
Das in den Fig. 1 und 2 dargestellte Substrat 1 besteht aus einer Keramikschicht 2,
beispielsweise Aluminiumoxid-Keramik oder Aluminiumnitrid-Keramik. Auf einer
Oberflächenseite der Keramikschicht 2 ist eine von einer Kupferfolie gebildete
Metallisierung 3 flächig aufgebracht, und zwar unter Verwendung des DCB-Verfahrens
(Direct-Copper-Bonding-Verfahren), welches dem Fachmann bekannt ist und bei welchem
die flächige Verbindung zwischen der Keramikschicht 2 und der Metallisierung dadurch
erreicht wird, daß die Kupferfolie an ihren Oberflächenseiten oxidiert ist und die
Kupferoxidschicht dann ein Eutektikum mit einer Schmelztemperatur unter der
Schmelztemperatur des Kupfers bildet, so daß durch Auflegen der Kupferfolie auf die
Keramikschicht 2 und durch Erhitzen die Schichten miteinander verbunden werden, und
zwar durch Aufschmelzen des Kupfers im wesentlichen nur im Bereich der
Kupferoxidschicht.
Auf der der Keramikschicht 2 abgewandten Oberflächenseite der Metallisierung 3 ist eine
weitere Metallisierung 4 befestigt, die ebenfalls von einem Zuschnitt aus einem
Flachmaterial gebildet ist und mit einem Teilbereich 4′ über den Rand der Keramikschicht
2 und der Metallisierung 3 wegsteht und mit einem Teilbereich 4′′ auf der Metallisierung
3 flächig aufliegt. Die Metallisierung 4 bildet mit dem Teilbereich 4′ beispielsweise einen
seitlich von dem Substrat 1 wegstehenden elektrischen Anschluß.
Das Herstellen des Substrates 1 erfolgt mit einem Verfahren, wie es in den Fig. 3 und
4 angedeutet ist. Zunächst wird die Keramikschicht 2 in der vorstehend bereits
beschriebenen Weise mit der Metallisierung 3 z. B. an einer Oberflächenseite ganzflächig
versehen.
In einem nächstfolgenden Verfahrensschritt wird auf die Metallisierung 3 ein Lead-Frame
5 aufgelegt. Dieser beispielsweise durch Stanzen und/oder Ätzen aus einer Metallfolie
hergestellte Lead-Frame 5 besteht aus zwei parallel zueinander und im Abstand
voneinander angeordneten und sich in Längsrichtung des bandförmigen Lead-Frames 5
erstreckenden Abschnitten 6, die in vorgegebenen Abständen jeweils durch Querstege 7
miteinander verbunden sind. Zwischen den Querstegen 7 sind jeweils ebenfalls in
Querrichtung verlaufende und über die inneren Ränder der Abschnitte 6 wegstehende
Stege 8 vorgesehen, die allerdings nicht durchgehend ausgeführt sind.
Der Lead-Frame 5 wird so auf die jeweilige mit der Metallisierung 3 versehene
Keramikschicht 2 aufgelegt, so daß der jeweilige Steg 8 mit seinem freien Ende auf der
Metallisierung 3 aufliegt, und zwar dort, wo die Metallisierung 4 befestigt werden soll.
Anschließend wird mit einem Laserstrahl 9 der jeweilige Steg 8 an seinem freien, auf der
Metallisierung 3 aufliegenden Ende partiell, d. h. bei 10 erhitzt, so daß durch
Aufschmelzen der Kupferoxidschicht der Metallisierung 3 und/oder einer entsprechenden
Oxidschicht des Lead-Frames 5 unter Anwendung des DCB-Prozesses eine metallische
Verbindung zwischen dem jeweiligen Steg 8 und der Metallisierung 3 erfolgt.
Grundsätzlich ist es auch möglich, diese Verbindung unter Verwendung eines Aktivlotes
herzustellen und/oder als Laserschweißpunkt-Verbindung auszubilden. Zur Erzielung der
notwendigen mechanischen Festigkeit kann es notwendig sein, mehrere
Verbindungsbereiche 10 zu schaffen, wofür der pulsierende Laserstrahl 9 entsprechend
bewegt wird.
Nach dem Verbinden des jeweiligen Steges mit der Metallisierung 3 erfolgt in einem
weiteren Verfahrensschritt das Abtrennen der Stege 8 von dem übrigen Lead-Frame 5 an
den in Längsrichtung verlaufenden Abschnitten 6, wie dies in der Fig. 3 mit der
unterbrochenen Linie 11 angedeutet ist. Nach dem Abtrennen bilden die Stege 8 jeweils
eine Metallisierung 4.
Abweichend von der in den Fig. 1 und 2 wiedergegebenen Ausführungsform kann
auch zumindest eine Metallisierung 4a nach oben aufgebogen sein, wie dies mit
unterbrochenen Linien in der Fig. 2 für die Metallisierung 4a angedeutet ist, die dann mit
dem Teilbereich 4a′ über die Oberseite des Substrates 1 vorsteht und mit dem Teilbereich
4a′′ an diesem befestigt ist. Um eine definierte Biegelinie zu erreichen, sind in die
Metallisierung 4a bzw. in die diese Metallisierung bildenden Stege 8 des Lead-Frames 5
an der Ober- und Unterseite Einkerbungen 12 eingeformt bzw. eingeprägt.
Bei dem in den Fig. 3 und 4 dargestellte Verfahren wirkt der Laserstrahl 9 senkrecht
oder im wesentlichen senkrecht auf die Oberseite des jeweiligen Steges 8 ein.
Grundsätzlich ist es aber auch möglich, die Verbindung zwischen dem jeweiligen Steg 8
und der Metallisierung 3 dadurch herzustellen, daß der jeweilige Laserstrahl 9 flach auf
das Ende des Steges 8 auftrifft, und zwar dort, wo dieser Steg auf der Metallisierung 3
aufliegt, wie dies an den Bereichen 10a der Fig. 5 angedeutet ist.
Die Keramikschicht weist eine Dicke von 0,2-2,5 mm und die Metallisierungen 3 und 4
besitzen jeweils eine Dicke von 0,1-1 mm. Grundsätzlich ist es auch möglich, daß
anstelle des Lead-Frames 5 mit den beiden Längsabschnitten 6 ein "Lead-Frame"
verwendet wird, der nur einen Längsabschnitt 6 aufweist, von dem dann seitlich die Stege
8 kammartig wegstehen.
Weiterhin ist es auch möglich, daß zur Herstellung der Metallisierungen 4 einzelne
Zuschnitte aus einer Metallfolie verwendet werden, die dann nach Positionierung unter
Anwendung des Laserstrahls 9 mit der Metallisierung 3 verbunden werden.
Die Fig. 6 zeigt ein Substrat 1a, welche dem Substrat 1 mit der aufgebogenen
Metallisierung 4a ähnlich ist, wobei die aufgebogene Metallisierung 4a bei dem Substrat
1a allerdings einen größeren Abstand von dem Rand 2′ der Keramikschicht aufweist, d. h.
mehr zur Mitte der Keramikschicht hin versetzt ist. Weiterhin weist das Substrat 1a auch
auf der Unterseite der Keramikschicht 2 eine Metallisierung 3 auf.
Auf dem gegen die obere Metallisierung 3 anliegenden Schenkel 4a′′, der mit der oberen
Metallisierung 3 verbunden ist, ist ein Halbleiter-Leistungsbauelement oder -Chip 13
aufgelötet.
Die Fig. 7 und 8 zeigen ein Substrat 1b, welches sich von den Substraten 1 und 1a
dadurch unterscheidet, daß die der Metallisierung bzw. dem Lead 4 entsprechende
Metallisierung 4b mit dem Abschnitt 4b′′ unmittelbar auf der Oberseite der
Keramikschicht 2 befestigt ist, und zwar wiederum unter Verwendung des Laserstrahles 9
durch eine Aktiv-Load-Verbindung oder bevorzugt durch eine DCB-Verbindung zwischen
der Metallisierung 4b und dem Keramikmaterial der Keramikschicht 2. Im letzten Fall ist
das die Metallisierung 4b bildende Material an den Oberflächen oxidiert. In den
Bereichen, in denen dieses Material auf der Keramikschicht 2 aufliegt und durch den
Laserstrahl 9 erhitzt wird, erfolgt dann die Verbindung zwischen beiden Materialien, wie
dies in den Bereichen 10b angedeutet ist.
Mit 14 ist eine weitere Metallisierung bezeichnet, auf die dann ein Halbleiter-
Leistungsbauelement oder -Chip aufgelötet werden kann. Die Metallisierung 14 kann
beispielsweise auch in Dickfilm-Technik hergestellt sein.
Die Erfindung wurde voranstehend an Ausführungsbeispielen beschrieben. Es versteht
sich, daß zahlreiche Änderungen sowie Abwandlungen möglich sind, ohne daß dadurch
der der Erfindung zugrundeliegende Erfindungsgedanke verlassen wird.
Bezugszeichenliste
1, 1a, 1b Substrat
2 Keramikschicht
3 Metallisierung
4, 4a, 4b Lead bzw. Metallisierung
4′, 4′′ Bereich
4a′, 4a′′ Bereich
4b′, 4b′′ Bereich
5 Lead-Frame
6 Längsabschnitt
7 Quersteg
8 Steg
9 Laserstrahl
10, 10a, 10b Verbindungsbereich
11 Linie
12 Einkerbung oder Einprägung
13 Halbleiter-Chip
14 Metallisierung
2 Keramikschicht
3 Metallisierung
4, 4a, 4b Lead bzw. Metallisierung
4′, 4′′ Bereich
4a′, 4a′′ Bereich
4b′, 4b′′ Bereich
5 Lead-Frame
6 Längsabschnitt
7 Quersteg
8 Steg
9 Laserstrahl
10, 10a, 10b Verbindungsbereich
11 Linie
12 Einkerbung oder Einprägung
13 Halbleiter-Chip
14 Metallisierung
Claims (13)
1. Substrat für elektrische Schaltkreise, insbesondere elektrische Halbleiter-Schaltkreise,
mit wenigstens einer Keramikschicht sowie mit einer auf einer Oberflächenseite
dieser Keramikschicht vorgesehenen und von Metallfolie gebildete Metallisierung (4,
4a, 4b), die mit einem ersten Teilbereich (4′′, 4b′′) mit der Keramikschicht (2)
verbunden ist und mit einem zweiten Teilbereich (4′, 4a′, 4b′) über den Rand
und/oder über die Oberseite des Substrates wegsteht, dadurch gekennzeichnet, daß
die wenigstens eine Metallisierung (4, 4a, 4b) an dem ersten Teilbereich (4′′, 4b′′)
durch Laserbonden bzw. eine Laserbondverbindung an der Keramikschicht (2) oder
an einer auf die Keramikschicht (2) aufgebrachten weiteren Metallisierung (3) befestigt
ist.
2. Substrat nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die wenigstens eine
Metallisierung (4, 4a, 4b) einen elektrischen Anschluß für eine unter Verwendung des
Substrates hergestellte Schaltung bildet.
3. Substrat nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Teilbereich
(4′′) der wenigstens einen Metallisierung (4, 4a) eine Fläche zum Befestigen,
beispielsweise zum Auflöten eines Halbleiter-Bauelementes (13), vorzugsweise eines
Leistungs-Halbleiter-Bauelementes bildet.
4. Substrat nach einem der Ansprüche 1-3, dadurch gekennzeichnet, daß die
wenigstens eine Metallisierung (4, 4a) an dem ersten Bereich (4′′) durch Laser-
Schweißen mit einer weiteren auf die Keramikschicht (2) aufgebrachten
Metallisierung (3) verbunden ist.
5. Substrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Bereich (4′′, 4b′′) unter Anwendung der DCB-Technik für das Laserbonden
direkt auf der Keramikschicht (2) oder auf einer auf diese Keramikschicht
aufgebrachten weiteren Metallisierung (3) befestigt ist, wobei zur Herstellung der
Verbindung eine ein Eutektikum bildende Oxidschicht der Metallisierung und/oder
der zusätzlichen Metallisierung durch Laserbehandlung auf eine Schmelztemperatur
erhitzt wird, die unter der Schmelztemperatur des Metalls der Metallisierung liegt.
6. Substrat nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Laserbond-Verbindung unter Verwendung von Aktivlot hergestellt ist.
7. Verfahren zum Herstellen eines Substrates nach einem der Ansprüche 1-6, dadurch
gekennzeichnet, daß auf eine Oberflächenseite der Keramikschicht (2) oder auf eine
auf die Keramikschicht aufgebrachte zusätzliche Metallisierung (3) zumindest ein die
Metallisierung bildender Zuschnitt (8) aufgelegt und an einem ersten Teilbereich
durch Laserbonden mit der Keramikschicht (2) oder der zusätzlichen Metallisierung
(3) verbunden wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der beim Laserbonden
verwendete wenigstens eine Laserstrahl (9) senkrecht oder im wesentlichen senkrecht
auf das eine Ende des Zuschnittes (8) einwirkt.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß der für das
Laserbonden verwendete wenigstens eine Laserstrahl (9) seitlich auf den ersten
Teilbereich des Zuschnittes (8) einwirkt.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7-9, dadurch gekennzeichnet, daß der
Zuschnitt (8) so aufgelegt wird, daß er mit seinem anderen Ende über einen Rand des
Substrates oder der Keramikschicht (2) wegsteht.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7-10, dadurch gekennzeichnet, daß der
Zuschnitt (8) nach dem Laserbonden aufgebogen wird.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-11, dadurch gekennzeichnet, daß der
Zuschnitt von einem Steg (8) gebildet ist, welcher zusammen mit weiteren Stegen (8)
einstückig mit wenigstens einem Längssteg (6) aus der Metallfolie hergestellt ist, und
daß nach dem Laserbonden der jeweilige Steg (8) von dem Längssteg (6) abgetrennt
wird.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Metallisierung jeweils von einem Steg (8) eines Lead-Frames (5) gebildet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995127611 DE19527611B4 (de) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Verfahren zum Herstellen eines Substrats für elektrische Schaltkreise |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995127611 DE19527611B4 (de) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Verfahren zum Herstellen eines Substrats für elektrische Schaltkreise |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19527611A1 true DE19527611A1 (de) | 1997-01-30 |
DE19527611B4 DE19527611B4 (de) | 2006-05-24 |
Family
ID=7768021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995127611 Expired - Fee Related DE19527611B4 (de) | 1995-07-28 | 1995-07-28 | Verfahren zum Herstellen eines Substrats für elektrische Schaltkreise |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19527611B4 (de) |
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Legal Events
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Representative=s name: PATENTANWAELTE WASMEIER, GRAF, 93055 REGENSBURG |
|
8381 | Inventor (new situation) |
Inventor name: SCHULZ-HARDER, JOERGRN, DR.ING., 91207 LAUF, DE Inventor name: SCHULZ-HARDER, JUERGEN, DIPL.-ING., 91207 LAUF, DE Inventor name: MAIER, PETER H., 91207 LAUF, DE |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
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