DE1573733A1 - Verfahren und Einrichtung zur Feststellung von Fehlern in sich bewegendem Flachmaterial - Google Patents

Description

7erfahren und Einrichtung zur Teatitellung Ton Fehlern in aioh bewegende» glaolraattrial

Die Erfindung bezieht aioh auf ein Verfahren, und eine Einrichtung zur Featatellung von Fehlern, wie z.B. Löchern und Lüoken, in aich bewegendem Flaohmaterial» das gegenüber elektromagnetischer Strahlung in einem aoharf begrenzten Gebiet des ultra·· violetten Spektralbereicha im weaentliohen undurchlässig ist, und iat insbesondere zum Prüfen und Sortieren von Flaohmaterialien durch photoelektriaohe Mittel gedaoht·

Bei der Herateilung von Erzeugniaaen iat ea oft erforderlieh» daaa löcher oder Lücken in dem Erzeugnia zuverlässig festgeatelltf gezählt, regiatriert und dass nach einer aolohen Feststellung vorbeugende Masanahmen ergriffen werden, um das Auftreten aoloher Mängel zu beseitigen; auoh aussen fehlerhaft· Abaohnitte vielleicht zwecks späterer Entfernung gekennzeichnet oder automatisch beseitigt werden, bevor daa Eraeugnia seiner endgültigen Form verwendet wird·

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Wenn es sioh bei dem zu prüfenden Erzeugnis um Papier- oder Kunststoffbahnen handelt, bewegt es sich gewöhnlich in kontinuierlicher form bei Geschwindigkeiten, die 6000 fuss pro Hinute (1830 m/mLn) erreichen können, zwischen und über einer sehr grosien Zahl von Bollen und ähnlichen Transportmitteln· Sin typisches Beispiel dafür ist eine moderne Langsiebmaschine, auf der Zeitungadruokpapier hergestellt wird· Auf einer solohen Maschin« erzeugen die mangelnde GHeiohmässigkeit in der Eoneistens des Papierbreie oder fremdkörperabscheidungen auf den Wal»en oder das Vorhandensein solcher fremdkörper im Papierbrei biw· beschädigte Draht- und filzbänder in dem flachmaterial Löcher oder Lücken, welche die festigkeit der Bahn schwächen und oft eine Produktionsunterbreohung zur folge haben·

Sine sofortige und frühzeitige feststellung solcher Lücken auf einer derartigen Maschine ist heute ein anerkanntes Hilfsmittel zur leistungsfähigen und ununterbrochenen Produktion· Dabei ist es wichtig, dass die Prüfvorrichtung den glatten Bibs des flaohmaterials durch die Maschine nicht stört und der Bedienungsperson nicht zusätzliche Arbeit macht· Daher sind die einseinen Elemente der Prüfvorrichtung in vorteilhafter "eise viele Zoll von dem flachmaterial entfernt angeordnet· Geeignete Anbringungsstellen für Elemente der Prüfvorrichtung sind Stellen zwischen den Stützwalzen der jeweiligen Verarbeitungsmaschine· Oft ist das sioh aohnell bewegende flaohmaterial auf Strecken von vielen fuss, zwischen den Walzen nicht gestützt;

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daher kann das Material an solchen Stellen leicht "flattern"« Es ist ein wesentliches Merkmal der Prüfvorrichtung, dass sie auf das Flattern des Flachmaterials nicht anspricht»

Wenn die Prüfvorrichtung bei der Herstellung von Materialien verwendet wird_s die normalerweise in Bogen zerschnitten werden, ist sie von besonderem Nutzen, weil der Ausgang der Anzeigevorrichtungen über angeschlossene Yerwertungsvorrichtungen verwendet werden kann, um das Erzeugnis in zwei Abteilungen zu sortieren, und zwar durch die Verwendung eines Ausschuss— tors bzw* einer Ablenkfläche* Auf diese Weise werden nur Bogen, die frei von Löchern sind, in der einen Abteilung gestapelt, während die Bogen mit löchern in die andere Abteilung gelenkt werden_o

Bei solchen Bogensortiermaschinen mit zwei Abteilungen oder "layboys" (ein gewöhnlich verwendeter Fachausdruck) ist die Bedingung für eine genaue Wahl geschnittener fehlerhafter Bogen eine scharf begrenzte "Prüflinie", die sich im rechten Winkel zur Bewegung das Flachmateriala befindete Ein Merkmal der Erfindung ist ein öffnungasystem, welches eine scharf begrenzte Prüflinie definiert und gleichzeitig die Anordnung von Elementen der Prüfvorrichtung einige Zoll von dem Flaoh·- material entfernt gestattet»

Es wurden Anstrengungen gemacht, um Löcher durch Bestrahlen

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der einen Seite des Materials mit starkem Licht im sichtbaren Spektralbereich und durch Verwendung photoelektrischer Einrichtung zur Beobachtung der anderen Materialseite festzustellen» Man wird einsehen, dass die durch ein kleines Loch im Material hindurchgehende Lichtmenge winzig ist im Vergleich zu der im Prüfbereich vorhandenen Menge Streulicht* Daher ergaben sich erhebliche Schwierigkeiten auf Grund unerwünschter NebenlichtSchwankungen als auch aus der Tatsache, dass das meiste Papier seiner Beschaffenheit nach im sichtbaren Spektralbereich mehr oder weniger durchscheinend ist, und die Ungleichförmigkeit in der Lichtdurchlässigkeit, die noch durch das Plattern des Materials unterstrichen wurde, erzeugte grössere Lichtschwankungen als die Veränderung, die auf dem durch das Loch imMaterial hindurchgehenden und von der photoelektrischen Einrichtung abgetasteten Licht beruhte·

Bei anderen Versuchen wurde sehr kurzwellige Ultraviolettstrahlung verwendet, und die Peststellung von Löchern erfolgte durch die Anwendung von komplizierten Filtern, die Phosphore enthalten, um diese Strahlung in den sichtbaren Teil des Spek-. t#ums umzuwandeln* Dies macht die Verwendung von äusserst empfindlichen Nachweismitteln erforderlich, da bei dem. Umwandlungsprozess hohe Verluste auftreten<>

So wearden ζ·Β« in der US-Patentschrift Nr* 3 128 385 als Strahlungssender Lampen verwendet, deren Maximum der Strahlungs-

energie bei einer Wellenlänge von 2537 A liegt; als Smpfänger

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werden ein sit einem Phosphor besohishtetes Ultraviolettfilter, zwei im sichtbaren Spektrum durchlässige Filter sowie eine für diese sichtbare elektromagnetische Energie empfindliche Photozelle verwendet»

Aufgabe der Erfindung ist es, die Torstehend erläuterten Mängel zu beheben·

Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die eine fläohe des Flachmaterials während der Prüfung mit elektromagnetischer Strahlung in dem seharf begrenzten Gebiet des ultravioletten Spektralbereioha beleuchtet und jede elektromagnetische Strahlung in dem seharf begrenzten Gebiet, die duroh fehler in dem Flachmaterial hindurchgeht, mittel» einer photoelektri·· sehen Zelle festgestellt wird, die auf Strahlung in den scharf begrenzten Gebiet ansprioht, während Licht im eiohtbaren Spektralbereich daran gehindert wird, die Photozelle zum Ansprechen zu bringen·

Ein wesentliches Merkmal der Erfindung lit die Anwendung eines Systems, das vorzugsweise als "Selektivfilterung¹¹, bezeichnet werden soll· Mit anderen »orten» JH.· Selektivität de· impfingers für dl· bestimmte Wellenlänge» bsi der dis UV-Iaape ihre maximale Strahlungsenergie aussendet, wird verbessert, und »war wird dies in wenigstens zwsi Stufen' erreioht· Ζ·Β· lässt sieh sin Sohmalband-Selsktivglasfiltsr verwenden, das für dls Wellenlängen des fftrahlungsBsnders durohlttesig ist und an das sioh

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eine Photozelle anachliesst, deren Empfindlichkeitsbereich wiederum schmal ist, wobei das Empfindlichkeitsmaximum auf dl· Wellenlänge des Senders abgeatimmt ist» Ein solches System besitit eine viel grossere Leistungsfähigkeit, sichtbare Strahlung zu sperren, als das in der US-Patenteohrift· Nr₉ 3 128 385 beschriebene Sandwich-Iiltersystem·

Zusätzlich wird die Selektivität des Empfängers weiter verbessert durch Verwendung eines Differentialverstärkersystema, das mit wenigstens zwei Empfängern (Photozellen) verbunden ist, die die Ichwankungen der umgebenden Strahlungsenergie nioht abtasten, weil sie die Phasengleiohheit und, im wesentlichen auf demselben Pegel, beide mit dem Differentialverstärkersystem verbundene Smpfänger beeinflussen und daher nioht verstärkt werden·

Dies« Erfindung nutzt die Tatsache aus, dass das meiste umgebende Licht wenig oder keine Energie Im "nahen" Ultraviolett·» bereich enthält, cUu Wellenlängen in der Grossenordnung von 3650 i· AuBserdem sind Papier und Papiererzeugniss« gegen Strahlung bei diesen. Wellenlänge» undurchlässig, selbst wenn sit für sichtbares Licht durchlässig ■ein mögen*

Um Merkmal der Erfindung beeieht sieh auf die Yerwendung tines filterelemente, das is Bereich von 3650 Jk. uneingeschränkt iurohlassig ist, jedooh sithttarts Liοnt 1» höht« Hasst absortitrk» Ditete lilttrtltmtmt wir* btnutst» um sichtbart frtmd-

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strahlung von den lichtempfindlichen Anzeigeeinrichtungen fern« zuhälten_e

Ein weiteres Merkmal des Systems bezieht sich auf die Verwendung einfacher, aus zwei Teilen bestehender Photozellen im Gegensatz zu den aus mehreren Teilen bestehenden Photovervielfacherröhreno Die resultierende Einfachheit sowohl als auch die Beseitigung von Hochspannungsstromquellen liegen für den Fachmann auf der Hand« Dies ist durch direkte Anzeige der ultravioletten Energie möglich statt durch Umwandlung dieser Energie (mit Hilfe verschiedener Phosphore) in eine längere Wellenlänge, was stets von erheblichen Energieverlusten begleitet isto

Signale, die sich aus "jchwankungen des umgebenden Lichts ergeben, UV-Strahlung enthaltende Störquellen, wie z*Bo elektrische Lichtbogen, oder Störquellen, die auf Veränderungen in der Durchlässigkeit des geprüften Materials oder auf dessen Flattern beruhen, sind in der Technik unter der allgemeinen Bezeichnung "Rauschen" bekannt· Signale* die lediglich durch die Löcher in dem zu prüfenden Material erzeugt werden» heisaen in der Technik "Nutzsignale" oder einfach "Signal"* Um auch noch die kleinsten Löcher feststellen zu können, muss das "Signal-zu-Rauschen-Verhältnis" des Systems so hoch wie möglich seino Die oben erwähnten Merkmale der Erfindung gewährleisten bereits ein aussergewöhnlioh hohes Signal-zu-Rauschen-Verhält-?owie die Feststellung von Löchern mit einem Durchmesser

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von 0,020 Zoll (0,503 mm) oder geringer bei Geschwindigkeiten bis zu 6000 Fuss (1800 m) pro Minute, und zwar in einem weiten Bereich von durchscheinenden und durchsichtigen Materialien, wie geleimte, Seiden- und Pauspapiere, plastische Materialien, wie dünne Zellophanfolien, oder Glas«

Um die Empfindlichkeit des erfindungsgemässen Prüfsystems gegenüber kleinen Löchern weiter zu verbessern, bezieht sich ein weiteres Merkmal der Erfindung auf die Verwendung eines mit jedem Verstärker verbundenen Integrators«. Die Anwendung des Integrators, der durch seine Fähigkeit, kleine Signale festzustellen, eine beträchtliche Empfindlichkeitssteigerung mit sich bringt, ermöglicht die Feststellung sehr kleiner Löcher«

Einige bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden näher erläutert«

Es zeigen:

Figo 1 eine schematische Ansicht, teilweise als Blooksohalt— bild, der erfindungsgemässen Vorrichtung zur Feststellung von Löchern;

Fig· 2 eine teilgeschnittene schematische Ansicht der Beleuchtungs- und Anzeigevorrichtung sowie ihre jeweilige Stellung gegenüber dem zu prüfenden Material}

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Fig* 3 ist eine Schnittansicht einer der photoelektrisohen Einrichtungen und

Figo 4 eine schematische Ansicht eines zweiten Ausführungsbeispiels^er Erfindung, bei dem zwei Bahnen des Materials gleichzeitig auf löcher geprüft werden können»

In Figo 1 bewegt sich eine kontinuierliche Bahn 1 des zu prüfenden Mediums bei einer beliebigen Geschwindigkeit (zoBo zwischen 50 und 5000 Fuss pro Minute (15,20 m bis 1520 m pro Minute)) zwischen nicht dargestellten Walzen oder anderen Transportmittel^ Obwohl die physikalischen Eigenschaften des zu prüfenden Materials gleichgültig sind, ausser dass es gegenüber der Strahlung im Bereich der Wellenlänge von 3560-A im wesentlichen undurchlässig sein muss, soll das Material in diesem Pail einfachheitshalber Papier sein»

Das Papier wird auf einer Seite von der durch die öffnung 7 im Lampengehäuse 2 austretenden Strahlung der Lampen 8A und 8B beleuchtet» Wie aus Fig« 2 deutlich hervorgeht, sind die Lampen 8 so angeordnet, dass sie sich überlappen und eine Beleuchtung von nahezu gleiohmässiger Intensität in einer zur Richtung der Papierbahn quer verlaufenden Richtung liefern. Die verwendeten Lampen gehören zu dem Typ, der im Handel unter der Bezeichnung "Sohwarzlichtlampen" verkauft wird, deren Strahlungsleistung im wesentlichen auf den Teil des Spektrums beschränkt ist» der im Wellenlängenbereioh von 3650 A liegt· Diese Strahlung ist

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für die Haut oder die Augeis, ungefährlich und stellt deshalb für die Bedienungsperson an der Prüfvorrichtung keine Gefahr dar» Eine oder mehrere Lampen 8 können je nach der Breite des zu prüfenden Materials verwendet werden»

Wie bereits erwähnt, ist eine der Voraussetzungen für einen zuverlässigen Betrieb die Schaffung einer gleichmässigen Beleuchtung β intensität auf dem Material in einer Richtung quer zur Bewegungsrichtung des Materials· Das wird durch zwei Bedingungen erreicht: Erstens durch Verwendung einer gut gesiebtem Gleichstromquelle für die Lampen 8«, Auf diese Weise werden Jlaokererscheinungen oder periodische Helligkeitssohwankungen, wie sie bei einer Weohselstromquelle auftreten» abgeschaltet« Zweitens entwickeln röhrenförmige Pluoreszenzlampen, wenn sie mit Gleichstrom betrieben werden, bekanntlich auf Grund der Wanderung des Quecksilberdampfes an einem Ende eine dunkle bzw» Schwärzungsstelle» Eine Verminderung dieses Effekte wird durch die Verwendung von Umpoleinrichtungen erreicht, welche die Riohtung des Stromflusses in den Lampen von Zeit zu Zeit umkehren» Derartige Einrichtungen können unter Verwendung von bekannten Zeitschaltern entweder von Hand oder automatisch betätigt werden·

Darüber hinaus reduziert das Itberlappen der Lampen für eine kurze Streoke und ihre versetzte Anordnung, wie sie aus !ig» ersichtlich ist, aolohe Wirkungen bis auf vernaohlässigbare Verhältnisse»

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Wie ebenfalls in Figo 2 dargestellt ist, ragt die dem Rand des Materials am nächsten befindliche Lampe 8A über diesen Rand des Materials hinaus, damit die Prüfwirksamkeit auf Grund der in der Lampe auftretenden Endschwärzungaeffekte nicht beeinträchtigt wird·

Ferner kann das elektrische Verstärkungssystem nicht auf Schwankungen in der Lampenspeisespannung reagieren, wenn die Frequenz solcher Schwankungen ausserhalb des Frequenzwiedergabebereichs des Verstärkungsaystems liegte Daher ist es erwünscht, die NF-Wiedergabe des Verstärkers zu begrenzen und eine niedrig begrenzende Zeitkonstante "ran etwa einer Sekunde zu verwenden» Die HF-Wiedergabe des Verstärkers ist auf etwa 20 000 Hz bei dem oberen Frequenzgangpegel von - 3 dB begrenzt, so dass das kleinste Loch noch box der höchsten Betriebsgeschwindigkeit des Flachmaterials durch die Verarbeitungsmasehine feststellbar ist«

Daher ist die Stabilität des Gleichstrompotentials, das die Lampen speist, über die Zeitkonstante Ton einer Sekunde oder über die Frequenzgrenze von 20 000 Hz hinaus nicht kritisch* Deshalb kann eine die Lampe speisende Wechselstromquelle, die beispielsweise 30 000 mal in der Sekunde erregt wird, die Gleichstromquelle ersetzen»

Damit unterschiedliche Materialbreiten geprüft werden können, sind an den Enden des Lampengehäuses 2 verstellbare Abdeckungen

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T4 vorgesehen, die entlanggezogen werden und auf diese Weise die Öffnung 7 schliessen, bis ihre Länge der gewünschten Prüfbreite entspricht© Zweokmässigerweise werden Federzugroilos verwendet.

Bei einem anderen, doch ähnlichen in Figo 4· dargestellten Ausführungsbeispiel ist das Lampengehäuse 2 mit einer zweiten Öffnung 7A versehen,, Bei diesem Ausführungsbeispiel wird durch Verwendung eines zweiten Prüfkopfes 9A, wie gezeigt, gleichzeitig eine zweite Bahn 15 eines sich kontinuierlich bewegenden Materials geprüft· Auf diese Weise wird eine überflüssige Verdoppelung der Beleuchtungsquelle 2 vermieden·

Photoelektrische Anlagen 3 werden verwendet, um Jedes Licht» das von der Strahlungsquelle 2 durch ein Loch in dem Material 1 dringt, festzustellen. Es werden ebenso viele photoelektri— sehe Anlagen 3 verwendet, wie erforderlich sind, um die gesamte Breite des Materials zu erfassen» In Fig. 1 sind zwei photoelektrische Anlagen dargestellt, die vier Photozellen 12 und vier Filterelemente 11 aufweisen» Wie aus Figo 2 ereioht- ■ lieh, sind die photoelektriechen Anlagen 3 in dem Prüfkopf 9 eingebaut und werden von diesem getragen· Dieser Prüfkopf 9 bildet zusammen mit den Abschirmungen 1OA und 10B auch eine Abschirmung für die photoelektrischen Anlagen 3 (2X₉ 3B usw<,) gegen Streustrahlung und andere unerwünschte Strahlung. Die Abschirmungen 10A und 10B dienen einem weiteren Zweck, indem sie an der Unterseite des Prüfkopfes 9 eine öffnung 13 bilden»

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Die Breite dieser Öffnung 13 kann so eingestellt werden, dass sie hinsichtlich der genauen Kenntnis von der Lage eines festgestellten Loches in der Bewegungsrichtung des Materials die erforderliche Begrenzung ergibt₀

Mit anderen Worten: Die Öffnung 13 kann eine rechtwinklig zur Papierbewegung verlaufende scharf begrenzte Prüflinie gewährleisten, wodurch eine wesentliche !Forderung nach genauer Kennzeichnung bzw«, Aussonderung von Mängeln erfüllt wird, inabesondere, wenn die Verarbeitungsmaschine eine Bogensortiermaschine ist, die zerschnittene Bogen in zwei Abteilungen für Ausschussbogen und für als einwandfrei abgenommene Bogen einsortiert»

Ha ausserdem die Öffnung 13 sich verhältnismässig nahe der Papierebene befindet und zu dieser parallel verläuft sowie von der Photokathode des photoelektrischen Empfängers (der Photozelle) einen relativ grossen Abstand besitzt, wird der maximale und optimale Raumwinkel des Lichtes, welches durch ein Loch zwischen Lampe und Photozelle hindurohgehen kann, duroh die Öffnung in keiner Weise reduziert oder begrenzt»_%Dadurch ist eine maximale Ansprechempfindlichkeit gegenüber kleinen Löchern gewährleistet»

Wo eine soharfs Prüflinie nicht benötigt wird, ist auoh die Öffnung 13 nicht erforderlich, und daher können die einzelnen photoelektrieohen Anlagen 3 einzeln auf einem Halterahmen

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statt in dem Prüfkopf 9 wie dargestellt befestigt werden«

Pig. 1 zeigt die Verbindungen von den photoelektrischen Anlagen 3A und 3 B zu den Verstärkern 4A und 4B in Blockfornu Es ist zu ersehen, dass zwei benachbarte Photozellen 12 nicht mit demselben Verstärker verbunden sind; vielmehr sind die Verbindungsleitungen "verschränkt"» Der Fachmann wird erkennen, dass es sich um eine Differentialschaltung handelt, bei der der Differentialverstärker 4A die Differenz zwischen den von den Photozellen 12A und 12C erzeugten Signalen verstärkt» In gleicher Weise verstärkt der Differenzialverstärker 4B die Differenz zwischen den von den Photozellen 12B und 12D erzeugten Signalen» Auf Grund dieser Anordnung werden Signale, die die Anwesenheit von Löchern darstellen, normalerweise verstärkt, während Stör- und andere unerwünschte Signale, wie Leitungsaummen und Rauschen, Schwankungen des umgebenden Lichts, die alle Schaltungen in mehr oder weniger gleicher Weise beeinflussen (beeinträchtigen), nicht verstärkt werden»

Die verschiedenen Bauteile, die sich an die photoelektrischen Anlagen 3 ansohliessen und insbesondere die Verstärker 4 nebst ihren Integratoren, den Trigger-*Impulsgenerator 5 sowie die einstellbare Verzögerungsvorrichtung 6 aufweisen, sind sämtlich in der kanadischen Patentschrift Nr· 638 763 enthalten und dort ausführlich beschrieben· Die Verbindung dieser, Vorrichtungen untereinander aewie ihr Betrieb werden in ähnlicher Weise

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durchgeführt, wobei die erzielten Vorteile dieselben sind·

Das Signal-zu-Rausohen-Verhältnis des Prüfsystems wird um Grössenordnungen erhöht, indem die grösstmögliche elektromagnetische !Energie im engstmöglichen Spektralbereich hindurch· gelassen wird; äie als Sender verwendete Ultraviolettlampe soll im Idealfall sogar nur auf einer einzigen Wellenlänge Strahlung aussenden» Diese Bedingung wird durch die Verwendung von "Schwarzlichtlampen" erfüllt, die Strahlung der Vellenlänge 3650 A aussenden©

Das Grlasfilter vor dem Empfänger (der Photozelle) hat ein ent~ sprechendes und sehr schmales Durchlassbando Daher wird das Prinzip der "Selektivfilterung" in der Vorrichtung bis zu dieser Stiife eingehalten« Eine weitere Selektivfilterung ist durch Verwendung einer Photozelle möglich, deren Photokathode eine enge Wellenlängenempfindlichkeit für elektromagnetische Strahlung besitzt und deren EmpfindlichkeitsiiaYi.mum bei 3650 A liegtο Das oben beschriebene Differentialsystem von Phot©- zellenschaltung und Verstärkung bewahrt ohne Störung das hohe Signal-zu-Rauschen-Verhältnis der "dreistufigen" Verwendung des in dieser Anmeldung beschriebenen Selektivfilterungssystemsβ

Viele Änderungen und Anordnungen sind möglich, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen. Die verwendeten Bezeichnungen sind

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- It) -

Bezugs- und Beschreitungsbezeichnungen und keinesfalls einschränkende Bezeichnungen·

Patentanspruch et

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Claims (1)

1. Al PATENTANWALT DIPL.-IN«. HANS-HE.NRICH WEY

   ja München Z2 · widenmayerstrasse 49

   «ΤTELEFN

   Λ,^L j München Z2 · widenmayerstrasse 49

   76 29 07 - TELEQRAMMEr PROPiNßUS «Τ TELEFON : 22 BS 85 · TELEGRAMME; PROPINDUS

   _{17 610} !Belegexemplar

   Darf nicht geändert werden

   Berlin, den 19. September 1966

   Naah and Harrison Limited, Ottawa, Ontario (Canada)

   Pat entansprüohe ι

   1β Verfahren zur Feststellung von fehlern, wie ZoB» Löchern und Lücken, in sich bewegendem Flachmaterial, das gegenüber elektromagnetischer Strahlung in einem scharf begrenzten Gebiet des ultravioletten Spektralbereichs im wesentlichen undurchlässig ist, dadurch gekennzeichnet, dass die eine Fläche des Flachmaterials (1) während der Prüfung mit elektromagnetischer Strahlung in dem soharf begrenzten Gebiet des ultravioletten Spektralbereiohs beleuchtet und jede elektromagnetische Strahlung in dem scharf begrenzten Gebiet, die durch Fehler in dem. Flaohmaterial hindurchgeht, mittels einer photoelektrisohen Zelle (12) festgestellt wird', die auf Strahlung in dem scharf begrenzten Gebiet anspricht, während Licht im sichtbaren Spektralbereich daran gehindert wird, die Photozelle zum Ansprechen zu bringen,

   2· Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das scharf begrenzte Gebiet im Wellenlängengebiet von 3650' A liegt·

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   3· Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Prüfkopf (9) benachbart einer fläche des Flachmaterials (1) angeordnet ist,, der wenigstens eine Photozelle (12) enthält, die auf Strahlung in dem scharf begrenzten Gebiet ansprichtj ferner dadurch, dass die Photozelle (12) von PiItermitteln (11) abgedeckt ist, welche Strahlung im sieht« baren Spektralbereich in hohem Masse absorbieren, während sie Strahlung von Wellenlängen in dem scharf begrenzten Gebiet im wesentlichen ungehindert hindurchlassen, und sohliesslich dadurch, dass wenigstens eine Lampe (8) unter dem flachmaterial (1) angeordnet ist» welche die der einen fläche entgegengesetzte fläche beleuchtet und deren Strahlung im wesentlichen auf das scharf begrenzte Gebiet beschränkt ist, wobei Lampe (8), filter (11) und Photozelle (12) ein System hoher Silektivität bilden, das sich durch ein hohes Signal-zu-Bausehen-Yerhältnis auszeichnete

   4* Einrichtung nach Anspruch 3» daduroh gekennzeichnet, dass der Prüfkopf (9) über der fläche des flachmaterials (1) angeordnet ist»

   5· Einrichtung nach Anspruoh 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet» dass der Prüfkopf (9) wenigstens vier Photozellen (12A, 12B, 12G, 12D) enthält, dass eine oder mehrere Lampen (8A₉ 8B) unter dem flaohmaierial gegenüber dem Prüfkopf (9) ange-

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   ordnet sind, sowie gekennzeichnet durch wenigstens zwei symmetrische Gegentaktverstärker (4A_r 4B) mit zwei Eingangselektroden, von denen Jede mit einer gleichen Zahl von Photozellen verbunden ist, und mit zwei Ausgangselektroden, wobei in jedem Verstärker phasengleiohe Signale, die gleichzeitig an die Eingangselektroden gelegt werden, kein Aus« gangssignal über die Ausgangselektroden erzeugen und über die Ausgangselektroden ein Stromverbraucherkreis eingeschaltet ist»

   β» Einrichtung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, dass Abschirmmittel an dem Prüfkopf (9) befestigt sind, welche die Photozellen (12A, 12B, 12C, 12D) im wesentlichen von allem umgebenden Licht abschirmen und die gewünschte Strahlung ohne Schwächung hindurchlassen·

   Einrichtung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, dass die nebeneinanderliegenden Photozellen mit den Eingangeelektroden verschiedener Verstärker rerbunden sind, so dass nebeneinanderliegende Photozellen, die durch ein Loch in dem zu prüfenden Flachmaterial_s das sich zwischen; dieeen nebeneinanderliegenden Photozellen befindet, in demselben Ausmass (Grad) moduliert werden können, an verschiedene Verstärker angeschlossen sind·

   >-'-" Einrichtung nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, dass (ϊ - Nutzstromkreis einen Impulsgenerator (5) aufweist, der

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   nur auf Signale anspricht, die über einem mit den Ausgangselektroden verbundenen vorbestimmten Pegel liegen, sowie einen zwischen* die Ausgangselektroden und den Impulsgenerator (5) geschalteten Integrator mit einer Zeitkonstante» die der Laufzeit eines oder mehrerer kleiner Löcher unterhalb des Prüfkopfa (9) entsprechen, von denen jedes zu klein ist, um an den Ausgangselektroden ein verstärktes Signal zu erzeugen, das grosser ist als der vorbestimmte Pegel, wobei jedoch solche Löcher in dem Integrator ein integriertes Ausgangssignal erzeugen, das grosser als der vorbestimmte Pegel istο

   9· Einrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Photozellen (12) einfache, aus zwei Teilen (Elementen) bestehende Zellen sind, die auf Strahlung im Wellenlängenbereich von 3650 A ansprechen, und dadurch, dass die Filtermittel (11) aus einem einfachen Durchlässigkeitsfilter ohne Phosphor oder andere Mittel zur Umwandlung von Energie oder Wellenlängen bestehen·

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   Le β rseι te