DE1283399B - Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen Elektroden und mit einer isolierten Steuerelektrode - Google Patents
Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen Elektroden und mit einer isolierten SteuerelektrodeInfo
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 title claims description 41
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 28
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 claims description 3
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims 2
- 101100400378 Mus musculus Marveld2 gene Proteins 0.000 claims 1
- 108091006146 Channels Proteins 0.000 description 115
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 5
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 5
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 5
- 239000013641 positive control Substances 0.000 description 4
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 108010075750 P-Type Calcium Channels Proteins 0.000 description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 3
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013642 negative control Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 2
- KPZGRMZPZLOPBS-UHFFFAOYSA-N 1,3-dichloro-2,2-bis(chloromethyl)propane Chemical compound ClCC(CCl)(CCl)CCl KPZGRMZPZLOPBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(4-methoxyphenyl)piperazin-1-yl]aniline Chemical compound C1=CC(OC)=CC=C1N1CCN(C=2C=CC(N)=CC=2)CC1 VXEGSRKPIUDPQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LLLVZDVNHNWSDS-UHFFFAOYSA-N 4-methylidene-3,5-dioxabicyclo[5.2.2]undeca-1(9),7,10-triene-2,6-dione Chemical group C1(C2=CC=C(C(=O)OC(=C)O1)C=C2)=O LLLVZDVNHNWSDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000881711 Acipenser sturio Species 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N phosphorus trichloride Chemical compound ClP(Cl)Cl FAIAAWCVCHQXDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005049 silicon tetrachloride Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 150000003568 thioethers Chemical group 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N trichloroborane Chemical compound ClB(Cl)Cl FAQYAMRNWDIXMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/7838—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate without inversion channel, e.g. buried channel lateral MISFETs, normally-on lateral MISFETs, depletion-mode lateral MISFETs
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
HOIl
Deutsche Kl.: 21g -11/02
Nummer: 1283 399
Aktenzeichen: P 12 83 399.7-33 (R 36306)
Anmeldetag: 10. Oktober 1963
Auslegetag: 21. November 1968
Die Erfindung betrifft einen Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen Elektroden und mit einer isolierten
Steuerelektrode.
Derartige Feldeffekt-Transistoren haben einen Kanal aus Halbleitermaterial niedrigen spezifischen
Widerstands, an dem im Abstand voneinander zwei als stromzuführende bzw. als stromabführende Elektrode
bezeichnete ohmsche Elektroden angeschlossen sind. Außerdem ist am Kanal, jedoch von diesem
isoliert, eine Steuerelektrode angeordnet. Wird zwischen stromzuführender und stromabführender Elektrode
eine Betriebsspannung gelegt, so fließt im Kanal ein Strom, dessen Größe von der Betriebsspannung
und der Anzahl der im Kanal verfügbaren freien Ladungsträger abhängt. Die Anzahl der freien
Ladungsträger im Kanal kann durch eine an die Steuerelektrode gelegte Steuerspannung beeinflußt
oder moduliert werden. Eine als Stromdrosselungsoder Verarmungsmodulation bezeichnete Steuerungsart besteht darin, daß durch die Steuerspannung die
Anzahl der freien Ladungsträger verringert wird. Andererseits läßt sich gemäß einer als Stromerhöhungs-
oder Anreicherungsmodulation bezeichneten Steuerungsart der Kanalstrom auch dadurch
steuern, daß durch die Steuerspannung die Anzahl der freien Ladungsträger erhöht wird.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Feldeffekt-Transistor so auszubilden, daß er eine
»doppelwertige« Strom-Spannungs-Kennlinie hat. Mit »doppelwertiger« Strom-Spannungs-Kennlinie ist
hier eine Strom-Spannungs-Kennlinie gemeint, nach der eine Änderung der Steuerspannung von einem
bestimmten Wert aus in sowohl positiver als auch negativer Richtung ein Anwachsen des Kanalstroms
bewirkt.
Es ist ein Feldeffekt-Transistor bekannt, bei dem zwischen einer stromzuführenden Elektrode und
einer stromabführenden Elektrode, jede mit einer vorgelagerten N-Zone, parallele Streifen oder Balken
aus Halbleitermaterial von abwechselnd P-Leitungstyp und N-Leitungstyp angeordnet sind, die quer und
in unmittelbarem Kontakt, d. h. ohne dazwischen befindliche Isolierschicht, von einer Steuerelektrodenzone
vom P-Leitungstyp überspannt werden, wobei die Steuerelektrode, d. h. die Elektrode an der
Steuerelektrodenzone, hier nicht von den stromführenden Teilen des Feldeffekt-Transistors isoliert
ist. Bei dieser Anordnung bilden die N-leitenden Streifen den stromführenden Kanal, während die
trennenden P-leitenden Zwischenstreifen dazu dienen, die Leitfähigkeit des N-leitenden Kanals bzw.
der N-leitenden Kanäle mittels des durch die Steuer-
Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen
Elektroden und mit einer isolierten
Steuerelektrode
Elektroden und mit einer isolierten
Steuerelektrode
Anmelder:
Radio Corp. of America,
New York, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter:
Dr.-Ing. Ernst Sommerfeld, Patentanwalt,
8000 München
Als Erfinder benannt:
Frederic Paul Heiman,
Highland Park, N. J. (V. St. A.)
Frederic Paul Heiman,
Highland Park, N. J. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 15. Oktober 1962 (230 449)
spannung erzeugten Querfeldes zu steuern. Wie ohne weiteres ersichtlich, läßt sich mit dieser Anordnung
die angestrebte Charakteristik nicht erreichen.
Bei einem weiteren bekannten Feldeffekt-Transistor sind zwei stromführende Kanäle, die einen
PN-Übergang bilden, mit jeweils getrennten Elektrodenanschlüssen versehen. Auch damit läßt sich die
angestrebte Wirkung nicht erreichen.
Sodann ist ein Feldeffekt-Transistor bekannt, bei dem beiderseits eines N-leitenden Kanals in unmittelbarem
Kontakt mit diesem, d. h. nicht isoliert vom Kanal, eine P-leitende Steuerelektrodenzone angeordnet
ist, wobei die Widerstandssteuerung des Kanals in bekannter Weise durch Feldeinwirkung
über die Verarmungsrandschicht an dem PN-Übergang der Steuerelektrodenzone erfolgt. Auch damit
läßt sich die angestrebte Wirkung nicht erzielen.
"Schließlich ist auch ein Feldeffekt-Halbleiterbauelement bekannt, bei dem an zwei stromführende
Kanäle vom N-Leitungstyp bzw. P-Leitungstyp jeweils getrennte, also insgesamt vier Elektroden
angeschlossen sind. Eine isolierte Steuerelektrode ist hier nicht vorgesehen. Damit wird erreicht, daß
die Anordnung eine tunneldiodenähnliche Strom-
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3 4
Spannungs-Kennlinie mit einem Gebiet negativen F i g. 1 eine erste Ausführungsform eines Feld-Widerstands
hat, derart, daß der Strom in diesem effekt-Transistors nach der Erfindung in Schnitt-Gebiet
bei ansteigender Spannung abnimmt. Auch ansicht und eine Schaltungsanordnung zum Betrieb
dies ist eine andersartige Wirkung, als sie angestrebt dieses Feldeffekt-Transistors,
wird. 5 Fig. 2 eine Strom-Spannungs-Kennlinie, die die
Demgegenüber wird die obengenannte Aufgabe, Abhängigkeit des Kanalstroms von der Steuerspannämlich
eine Charakteristik zu erreichen, bei der nung für den in der F i g. 1 dargestellten Feldeff ektder
Kanalstrom des Feldeffekt-Transistors mit zwei Transistor zeigt,
ohmschen Elektroden und mit einer isolierten Steuer- F i g. 3 Strom-Spannungs-Kurven, die aus der in
elektrode sowohl bei negativer als auch bei positiver io der F i g. 2 dargestellten Strom-Spannungs-Kennlinie
Änderung der Steuerspannung zunimmt, durch die gewonnen sind und die Abhängigkeit der in den
Erfindung gelöst; und zwar besteht die Erfindung einzelnen Kanälen fließenden Ströme von der Steuerdarin,
daß ein erster Kanal aus Halbleitermaterial spannung des in der Fig. 1 dargestellten Feldeffektniedrigen
spezifischen Widerstands vom einen Lei- Transistors zeigen und
tungstyp und ein zweiter Kanal aus Halbleitermate- 15 F i g. 4 eine perspektivische, teilweise geschnittene
rial niedrigen spezifischen Widerstands vom ent- Darstellung einer zweiten Ausführungsform eines
gegengesetzten Leitungstyp in ihrer Längsrichtung Feldeffekt-Transistors nach der Erfindung, und
übereinanderliegen, daß in Längsrichtung an einem in
der beiden Kanäle eine Steuerelektrode über einer F i g. 1 und 4 sind gleiche Teile mit Bezugszeichen
Isolierschicht angebracht ist und daß sowohl die 20 versehen, die sich lediglich durch den Buchstaben a
stromabführende ohmsche Elektrode als auch die unterscheiden.
stromzuführende ohmsche Elektrode jeweils an einer Der in der Fig. 1 dargestellte Feldeffekt-Transi-
Endfläche der beiden Kanäle so angeordnet ist, daß stör 21 enthält eine Unterlage 23. Diese kann ent-
jede der beiden ohmschen Elektroden die Grenze weder ein Halbleiter-Einkristall, ein polykristallines
zwischen den beiden Kanälen überdeckt. Vorzugs- 25 Halbleitermaterial oder ein Isolator sein. Es eignen
weise ist der Kanal ohne isolierte Steuerelektrode sich beispielsweise eigenleitendes Silizium, Glas,
auf einer stützenden Isolierunterlage angeordnet. Aluminiumoxyd-Keramik und Kunststoffe, wie PoIy-
Beim Betrieb dieses Transistors wird der Strom- äthylenterephthalat-Polymerisate. Die Unterlage 23
fluß in beiden Kanälen durch ein elektrisches Feld trägt die anderen Teile des Feldeffekt-Transistors,
gesteuert, das durch die gemeinsame Steuerelektrode 30 im übrigen ist sie passiv, d. h., sie hat keine elek-
erzeugt wird. Die Anordnung arbeitet im Anreiche- trische Funktion und kann daher beliebige Abmes-
rungs- oder Stromerhöhungsbetrieb, wobei der Strom sungen haben. Wenn die anderen Teile des Tran-
im einen Kanal hauptsächlich ein Elektronenstrom sistors selbsttragend ausgeführt werden, kann die
und im anderen Kanal hauptsächlich ein Löcher- Unterlage 23 entfallen.
strom ist. Der gesamte Kanalstrom setzt sich aus 35 Auf einer Oberfläche der Unterlage 23 ruht ein
den in beiden Kanälen fließenden Einzelströmen erster Kanal 25, der aus einem Halbleitermaterial
zusammen. niedrigen spezifischen Widerstands und eines ersten
Ein Feldeffekt-Transistor nach der Erfindung Leitfähigkeitstyps (P) besteht. Ein zweiter Kanal 27
kann vorteilhaft nach einem der folgenden drei aus einem Halbleitermaterial niedrigen spezifischen
Verfahren hergestellt werden. Bei dem ersten Ver- 40 Widerstands, das dem anderen Leitfähigkeitstyp (N)
fahren wird auf eine Isolierunterlage aus Halbleiter- angehört, ruht auf dem ersten Kanal 25. Die beiden
material hohen spezifischen Widerstands das Halb- Kanäle 25, 27 haben also entgegengesetzten Leitleitermaterial
des ersten Kanals epitaktisch auf- fähigkeitstyp, so daß sich zwischen ihnen ein
wachsen gelassen, auf den ersten Kanal das Halb- PN-Übergang befindet. Der P-leitende Kanal kann
leitermaterial des zweiten Kanals epitaktisch auf- 45 entweder an die Unterlage 23 angrenzen oder von
wachsen gelassen und dann die Isolierschicht sowie dieser durch einen N-leitenden Kanal getrennt sein,
die drei Elektroden nach einem beliebigen Verfahren Bei der in der F i g. 1 beispielsweise dargestellten
angebracht. Einrichtung soll der N-leitende Kanal 27 durch den
Bei dem zweiten Verfahren wird auf die Isolier- P-Ieitenden Kanal 25 von der Unterlage 23 getrennt
unterlage das Halbleitermaterial des ersten Kanals 50 sein. Die Kanäle 25, 27 können beide einkristallin
aufgedampft, auf den ersten Kanal das Halbleiter- oder polykristallin sein, oder der eine Kanal kann
material des zweiten Kanals aufgedampft und dann einkristallin und der andere polykristallin sein, sie
die Isolierschicht sowie die drei Elektroden nach können aus einem beliebigen Halbleitermaterial be-
einem beliebigen Verfahren angebracht, wobei die stehen, wie es zur Herstellung von Transistoren
Isolierschicht und die Steuerelektrode vorzugsweise 55 gebräuchlich ist. Es eignen sich z. B. Germanium,
ebenfalls aufgedampft werden. Silizium, Galliumarsenid, Indiumantimonid und Kad-
Bei dem dritten Verfahren wird in die Isolier- miumsulfid. Die beiden Kanäle können aus dem
unterlage zwecks Bildung des ersten Kanals ein gleichen Halbleitermaterial oder aus verschiedenen
entsprechender Dotierungsstoff eindiffundiert, auf Halbleitermaterialien bestehen,
den ersten Kanal der zweite Kanal thermisch auf- 60 Auf dem zweiten Kanal 27 befindet sich eine
wachsen gelassen und dann die Isolierschicht sowie Schicht 29 aus einem isolierenden Werkstoff. Die
die drei Elektroden nach einem beliebigen Verfahren Schicht 29 kann aus irgendeinem isolierenden Mateaufgebracht, wobei man die Isolierschicht Vorzugs- rial oder einem Material hohen spezifischen Widerweise thermisch auf dem zweiten Kanal aufwachsen stands bestehen, wie sie beispielsweise in der Halbläßt.
65 leitertechnik verwendet werden. Beispiele geeigneter Nachstehend wird die Erfindung an Hand von Materialien sind Siliziumdioxyd oder organische
Ausführungsbeispielen in Verbindung mit der Zeich- Polymerisatschichten. Auf der isolierenden Schicht
nung erläutert. Es zeigt 29 ruht eine Steuerelektrode 31. Die Steuerelektrode
31 besteht vorzugsweise aus Metall, z. B. Aluminium, Gold oder Silber.
Ein Ende der Kanäle 25, 27 ist durch eine stromzuführende Elektrode 33 kontaktiert. Die stromzuführende
Elektrode 33 bildet mit beiden Kanälen 25, 27 einen niederohmigen Kontakt. Das andere
Ende beider Kanäle 25, 27 wird durch eine stromabführende Elektrode 35 kontaktiert, die ebenfalls
einen Kontakt niedrigen Widerstands mit den Kanälen 25, 27 bildet. Die stromzuführende Elektrode 33
ist mit einem Elektrodenanschluß 37 und die stromabführende Elektrode 35 mit einem Elektrodenanschluß
39 versehen. Die stromzuführende Elektrode 33 und die stromabführende Elektrode 35 können
aus Metall bestehen. Sie können auch jeweils eine Halbleiterzone niedrigen spezifischen Widerstands
enthalten, die von den aus Metall bestehenden Elektrodenanschlüssen 37 bzw. 39 niederohmig kontaktiert
sind. Es ist ferner möglich, die stromzuführende Elektrode 33 und den Elektrodenanschluß 37 so
als einen einzigen Teil auszubilden. Ebenso können die stromabführende Elektrode 35 und der Elektrodenanschluß
39 ausgebildet sein.
Aus der Fig. 1 ist ersichtlich, daß die beiden Kanäle 25,27 praktisch die gleiche Länge haben,
die gleich dem Abstand zwischen der stromzuführenden Elektrode 33 und der stromabführenden Elektrode
35 ist. Dies ist jedoch nicht unbedingt nötig, die Kanäle können auch verschieden lang sein. Die
Kanallänge ist nicht besonders wesentlich. Die Hochfrequenzeigenschaften des Feldeffekt - Transistors
werden jedoch mit abnehmender Kanallänge besser. Die Länge der Kanäle kann zwischen etwa 2,5 und
250 μΐη liegen. Die Steuerelektrode 31 hat vorzugsweise
etwa dieselbe wirksame Länge wie die Kanäle 25, 27. Die Isolierschicht 29 ist mindestens so lang
wie die Steuerelektrode 31. Wenn die Steuerelektrode 31 kürzer ist als die Kanäle 25, 27, kann in Reihe
mit einem oder beiden Kanälen ein unerwünschter Widerstand auftreten. Ist die Steuerelektrode 31
länger als die Kanäle 25, 27, so werden die Eigenkapazitäten zwischen der Steuerelektrode 31 und der
stromzuführenden Elektrode 33 und/oder der stromabführenden Elektrode 35 unnötig vergrößert.
Im Prinzip können die Kanäle verschiedene Breite, gerechnet in der F i g. 1 senkrecht zur Papierebene,
besitzen, vorzugsweise sind sie jedoch gleich breit. Die Isolierschicht 29 ist vorzugsweise breiter als die
Kanäle 25,27. Die Steuerelektrode 31 kann an sich eine praktisch beliebige Breite haben, vorzugsweise
wird sie etwas breiter bemessen als die Kanäle 25,27, so daß sie deren Enden überlappt. Die Kanäle 25,27
sind vorzugsweise beide möglichst dünn, um den Ruhestrom/,,,, der weiter unten noch genauer definiert
wird, möglichst klein zu halten. Die Dicken der Kanäle 25, 27 und der Isolierschicht 29 können
so gewählt werden, daß der Feldeffekt-Transistor in einem bestimmten Steuerspannungsbereich, bei einer
bestimmten Kanalspannung und bei einem bestimmten Kanalstrom optimal arbeiten. Die Eigenschaften
des Feldeffekt-Transistors lassen sich außerdem gewünschtenfalls durch eine nicht dargestellte isolierende
Schicht zwischen den Kanälen 25 und 27 beeinflussen.
Derartige Feldeffekt-Transistoren können einzeln hergestellt werden, man kann jedoch auch auf einer
einzigen Unterlage eine Anzahl von solchen Feldeffekt-Transistoren herstellen und die Unterlage dann
teilen, so daß man einzelne Feldeffekt-Transistoren erhält, man kann auch mehrere auf einer einzigen
Unterlage befindliche Feldeffekt-Transistoren verdrahten und in Schaltungen verwenden. Geeignete,
bereits verdrahtete Anordnungen solcher Feldeffekt-Transistoren können mit oder ohne passive Schaltungselemente
direkt auf einer einzigen Unterlage hergestellt werden.
In der F i g. 1 ist auch eine Schaltungsanordnung zum Betrieb des Feldeffekt-Transistors 21 dargestellt.
Der Elektrodenanschluß 37 ist über eine Leitung 53 mit Masse 51 verbunden. Die Steuerelektrode 31 ist
über eine Leitung 57 an eine Klemme einer Spannungsquelle 55 angeschlossen, die eine Steuerspannung
Vg liefert. Die andere Klemme der Spannungsquelle 55 liegt an Masse. Der Elektrodenanschluß 39
ist über einen als Widerstand 63 dargestellten Verbraucher und eine Leitung 61 mit der einen Klemme
einer regelbaren Spannungsquelle 59 verbunden, die eine einstellbare Kanalspannung Vd liefert. Die
andere Klemme der Spannungsquelle 59 liegt an Masse. An den Widerstand 63 sind zwei Ausgangsklemmen
65 angeschlossen.
Bei einer ersten Betriebsart wird die Kanalspannung Vd auf einen gewünschten Wert eingestellt. Die
Steuerspannungsquelle 55 liefert eine Steuerspannung Vg, die das Eingangssignal des Feldeffekt-Transistors
21 darstellt. Diese Spannung kann eine Gleichspannung, eine Wechselspannung bis etwa 100 MHz
oder eine Impulsspannung sein; gleichzeitig kann auch eine Vorspannung angelegt werden. Ein Kanalstrom
Ζ,;, der das Ausgangssignal des Feldeffekt-Transistors
darstellt, fließt von der Spannungsquelle 59 durch die Leitung 61, den Arbeitswiderstand 63
zum Elektrodenanschluß 39, durch die stromabführende Elektrode 35, einen oder beide Kanäle 25, 27,
die stromzuführende Elektrode 33, den Elektrodenanschluß 37 und über Masse 51 zurück zum anderen
Pol der Spannungsquelle 59. Der Kanalstrom /,, ist ein Abbild der Steuerspannung Vg. Die Ausgangsleistung
kann ein Mehrfaches der Eingangsleistung betragen, und die Eingangsimpedanz kann ein Vielfaches
der Ausgangsimpedanz sein. Der Feldeffekt-Transistor kann also dazu verwendet werden, einen
Eingang höherer Impedanz in einen Ausgang niedriger Impedanz umzusetzen und/oder eine Eingangsleistung zu verstärken.
Die F i g. 2 zeigt eine statische Strom-Spannungs-Kennlinie eines Feldeffekt-Transistors nach der
Fig. 1, dabei sind auf der Ordinate der Kanalstrom Id und auf der Abszisse die Steuerspannung Vg
aufgetragen. Bei der Messung war die Kanalspannung Vd konstant, und der Elektrodenanschluß 37
der stromzuführenden Elektrode 33 lag an Masse. Es wurde der Kanalstrom ld in Milliampere als
Funktion der Steuerspannung Vg in Volt gemessen,
der Arbeitswiderstand 63 war Null. Wenn die Steuerspannung Vg von Null aus in positiver Richtung
wächst, steigt der Kanalstrom Id in erster Näherung
proportional dem Quadrat der Steuerspannung Vg. Läßt man die Steuerspannung Vg in negativer Richtung
wachsen, so sinkt der Kanalstrom ld bis zu einem Mmimalwert/m ab, der bei der Steuerspannung
V1, erreicht wird und steigt dann etwa proportional
dem Quadrat der Steuerspannung Vg wieder an. Die Spannung Vn beim Stromminimum Im ist die
Abschnürspannung des N-leitenden Kanals 27. Die Eingangsimpedanz der Steuerelektrode 31 ist bei
7 8
niedrigen Frequenzen kapazitiv. Der Ableitwider- träger in den beiden Kanälen 25, 27 und der Dicke
stand über die Isolierschicht 29 dürfte im Bereich der Isolierschicht 29 sowie durch den Einsatz einer
von etwa 1014 bis 1016 Ohm liegen. isolierenden Schicht zwischen die beiden Kanäle 25,
Die in der F i g. 2 dargestellte Strom-Spannungs- 27 beeinflußt werden.
Kennlinie kann an Hand der in der Fig. 3 dargestell- 5 .
ten Kurven erklärt werden. Die Kurve 43 in der .Beispiel 1
F i g. 3 stellt den Elektronenstrom dar, der im Das folgende Ausführungsbeispiel eines Feldeffekt-
N-leitenden Kanal 27 fließt. Die gestrichelte Kurve 45 Transistors nach der Erfindung entspricht im Aufbau
ist der Defektelektronenstrom im P-leitenden Kanal dem Feldeffekt-Transistor nach der Fig. 1. Die
25. Bei der Steuerspannung Vg = 0 fließt ein ge- ίο Kanäle, die Isolierschicht 29 und die Steuerelektrode
wisser Strom von der stromzuführenden Elektrode 33 31 wurden dadurch hergestellt, daß auf einer Unter-
zur stromabführenden Elektrode 35, der im N-leiten- lage 23 nacheinander Schichten niedergeschlagen
den Kanal 27 von Elektronen und im P-leitenden wurden. Zur Bildung des N-leitenden Kanals ließ
Kanal 25 von Defektelektronen getragen wird. Bei man auf einer Unterlage 23 aus einem eigenleitenden
positiver Steuerspannung Vg entstehen im N-leiten- 15 Halbleiter eine N-leitende Schicht epitaktisch auf-
den Kanal 27 zusätzlich Elektronen, und der Elek- wachsen. Auf dieser N-leitenden Schicht wurde
tronenstrom im N-leitenden Kanal 27 nimmt daher anschließend durch epitaktisches Aufwachsen der
entsprechend dem Anreicherungsbetrieb eines Feld- P-leitende Kanal gebildet. Anschließend wurden die
effekt-Transistors zu, wie die ausgezogene Kurve 43 Isolierschicht 29 und die Steuerelektrode 31 nieder-
im Bereich positiver Steuerspannungen Vg zeigt, ao geschlagen.
Da sich diese zusätzlichen Elektronen in der Nähe Als Ausgangsmaterial diente eine einkristalline
der Grenzfläche zwischen dem Kanal 27 und der Scheibe 23 aus Silizium hohen spezifischen WiderIsolierschicht 29 ansammeln, wird das durch die stands (typischer Wert 1000 Ohm · cm), deren Abpositive
Steuerspannung Vg erzeugte Feld vom messungen etwa 2,5X2,5X0,25 mm betrugen. Die
P-leitenden Kanal 25 abgeschirmt, so daß sich der 25 Scheibe 23 wurde in einer Siliziumtetrachlorid und
Defektelektronenstrom nicht ändert. Dies ist durch etwas Phosphortrichlorid enthaltenden Wasserstoffden
waagerecht verlaufenden Teil der gestrichelten atmosphäre etwa 10 Minuten auf 10250C erhitzt.
Kurve 45 im Bereich positiver Steuerspannungen Vg Auf der Oberfläche der Scheibe schlägt sich dabei
dargestellt. eine etwa 0,2 μπι dicke Schicht aus N-Silizium nieder.
Eine negative Steuerspannung Vg bewirkt eine 30 Anschließend wurde die Scheibe 23 in einer Silizium-Verarmung
an Elektronen im N-leitenden Kanal 27 tetrachlorid und etwas Bortrichlorid enthaltenden
und setzt den Elektronenstrom in diesem Kanal Wasserstoffatmosphäre erhitzt, dabei schlug sich auf
entsprechend einem Verarmungsbetrieb eines Feld- der vorher aufgebrachten N-leitenden Schicht eine
effekt-Transistors herab, wie der ausgezogene Teil etwa 0,2 μπι dicke Schicht aus P-Silizium nieder. Als
der Kurve 43 im Bereich negativer Steuerspannun- 35 nächstes wurden etwa 2 μπι dicke, mit Antimon
gen Vg zeigt. Vp ist die Abschnürspannung für den dotierte Goldschichten auf denjenigen Teilen der
N-leitenden Kanal 27, also die Spannung, die erfor- P-Schicht aufgedampft, an denen die stromzufühderlich
ist, um den N-leitenden Kanal 27 vollständig rende Elektrode 33 und die stromabführende Elekan
Elektronen verarmen zu lassen. Wenn der N-lei- trode 35 angebracht werden sollten. Die Scheibe 23
tende Kanal 27 an Elektronen verarmt ist, kann das 40 wurde dann etwa 5 Minuten auf 450° C erhitzt, um
elektrische Feld der Steuerelektrode 31 zum P-leiten- das mit Antimon dotierte Gold durch die N-leitende
den Kanal 25 durchgreifen und die Defektelektronen- und die P-leitende Schicht hindurch bis zu einer
konzentration im P-leitenden Kanal 25 erhöhen. Tiefe von mehr als 0,4 μπι einzulegieren, so daß die
Dies hat zur Folge, daß der Defektelektronenstrom stromzuführende Elektrode 33 und der Elektrodenim
P-leitenden Kanal 25 mit in negativer Richtung 45 anschluß 37 sowie die stromabführende Elektrode 35
weiter wachsender Steuerspannung Vg ansteigt, wie und der Elektrodenanschluß 39 gebildet und die
der linke Teil der Kurve 45 zeigt. Der Gesamtstrom, Kanallänge definiert wurde.
der den Feldeffekt-Transistor durchfließt, ist die Der Elektrodenanschluß 37 und der Elektroden-Summe
des Defektelektronenstroms und des Elek- anschluß 39 werden durch das Gold gebildet, das
tronenstroms, die der Kurve 42 in der F i g. 2 ent- 50 während der Erhitzung nicht so tief eindringt wie
spricht. das Antimon. Als nächstes wurde eine etwa 1000 A
Wenn die Elektrodenanschlüsse der stromzufüh- dicke Isolierschicht 29 aus Siliziummonoxyd im
renden Elektrode 33 und der stromabführenden Kanalbereich auf die P-leitende Schicht aufgedampft.
Elektrode 35 vertauscht werden, so daß die strom- Schließlich wurde auf die Siliziummonoxydschicht 29
abführende Elektrode 35 an Masse 51 und die strom- 55 gegenüber dem P-leitenden Kanal eine Aluminium-
zuführende Elektrode 33 an der Spannungsquelle 59 schicht 31 aufgedampft,
liegen, ergibt sich praktisch die gleiche Kennlinie 41
liegen, ergibt sich praktisch die gleiche Kennlinie 41
(Fig. 2), obgleich sich die Stromrichtung in den Beispiel 2
Kanälen 25, 27 umgekehrt hat. Vertauscht man die
Kanälen 25, 27 umgekehrt hat. Vertauscht man die
Lage des N-leitenden Kanals 27 und des P-leitenden 60 Ein zweites Ausführungsbeispiel eines Feldeffekt-Kanals
25, so erhält man eine ähnliche Steuerspan- Transistors nach der Erfindung ist in der F i g. 4
nung-Kanalstrom-Charakteristik, die Polarität der dargestellt. Bei diesem Ausführungsbeispiel wurde
Steuerspannung muß jedoch umgekehrt werden. Da der P-leitende Kanal 25 α durch Eindiffundieren eines
die Form der Kurve 41 von der Konzentration an Dotierungsstoffes in eine eigenleitende Halbleiterfreien Ladungsträgern in den beiden Kanälen 25,27 65 scheibe hergestellt; der N-leitende Kanal 27 a und
abhängt, können das Stromminimum Im, die Ab- die Isolierschicht 29 α ließ man unter Wärmeeinwirschnürspannung
Vp und die Form der Kurve durch kung auf den durch Diffusion hergestellten Kanal
Änderungen der Konzentration der freien Ladungs- 25 a aufwachsen und die stromzuführende Elektrode
33 a, die stromabführende Elektrode 35 α und die
Steuerelektrode 31 α wurden aufgedampft.
Als Ausgangsmaterial diente eine einkristalline Scheibe 23 α aus Silizium hohen spezifischen Widerstandes
(etwa 1000 Ohm · cm), deren Abmessungen 5X5X0,25 mm betrugen. Durch Diffusion wurde
ein dünner P-leitender Kanal 25 α in der Siliziumscheibe
23 α gebildet. Man kann hierzu auf einem Teil der Siliziumscheibe 23 α mit Bor dotiertes Siliziumdioxyd
niederschlagen und das Bor dann durch einstündiges Erhitzen der Scheibe bei 1050° C in
einer trockenen Stickstoffatmosphäre zur Eindiffusion bringen. Durch diesen Verfahrensschritt wird
der erste Kanal 25 α gebildet. Das restliche dotierte Siliziumdioxyd wird entfernt, z. B. durch chemisches
Ätzen, und die dotierte Siliziumoberfläche wird durch etwa vierstündiges Erhitzen der Siliziumscheibe 23 α
in trockenem Sauerstoff bei etwa 925° C oxydiert. Bei dieser Oxydation entsteht eine Außenschicht von
thermisch aufgewachsenem Siliziumoxyd 29 a, außer- ao dem wird der Leitungstyp eines Teiles der Siliziumscheibe
23 a unter der thermisch aufgewachsenen Oxydschicht 29 a umgekehrt und bildet einen N-leitenden
Kanal 27 a (Inversionsschicht) an der Oberfläche der Siliziumscheibe 23 a. Die oxydierte Ober- as
fläche wird mittels einer lichtempfindlichen Ätzschutzschicht so maskiert, daß die thermisch aufgewachsene
Siliziumdioxydschicht und die Inversionsschicht über dem für die stromzuführende
Elektrode und die stromabführende Elektrode vorgesehenen Bereich chemisch abgeätzt werden können.
Dann werden durch eine Maske etwa 0,5 μηι dicke Schichten 41, 43 aus mit Antimon dotiertem Gold
auf den N-Kanal27a aufgedampft. Man erhitzt die Scheibe dann 5 Minuten auf 450° C, um das aufgedampfte
Gold in den N-Kanal27a einzulegieren. Nun dampft man durch eine Maske etwa 0,5 um
dicke Aluminiumschichten 45, 47 auf, die den N-leitenden Kanal 27 a und den P-leitenden Kanal 25 α
überlappen, wie die F i g. 4 zeigt. Zum Einlegieren des aufgedampften Aluminiums wird etwa 5 Minuten
auf 600° C erhitzt. Eine im Kanalbereich auf die thermisch aufgewachsene Siliziumdioxydschicht 29 α
aufgedampfte metallische Steuerelektrode31 a, z.B. aus Aluminium, vervollständigt den Feldeffekt-Transistor.
Claims (7)
1. Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen Elektroden und mit einer isolierten Steuerelek- so
trode, dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Kanal aus Halbleitermaterial niedrigen
spezifischen Widerstands vom einen Leitungstyp (25) und ein zweiter Kanal aus Halbleitermaterial
niedrigen spezifischen Widerstands vom entgegengesetzten Leitungstyp (27) in ihrer Längsrichtung
übereinanderliegen, daß in Längsrichtung an einem der beiden Kanäle (25,27) eine
Steuerelektrode (31) über einer Isolierschicht (29) angebracht ist und daß sowohl die stromabführende
ohmsche Elektrode (35) als auch die stromzuführende ohmsche Elektrode (33) jeweils an
einer Endfläche der beiden Kanäle (25,27) so angeordnet ist, daß jede der beiden ohmschen
Elektroden (33, 35) die Grenze zwischen den beiden Kanälen (25, 27) überdeckt.
2. Feldeffekt-Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kanal (25) ohne
isolierte Steuerelektrode auf einer stützenden Isolierunterlage (23) angeordnet ist.
3. Verfahren zum Herstellen eines Feldeffekt-Transistors nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß auf eine Isolierunterlage (23) aus Halbleitermaterial hohen spezifischen Widerstands
das Halbleitermaterial des ersten Kanals (25) epitaktisch aufwachsen gelassen wird, daß
auf den ersten Kanal (25) das Halbleitermaterial des zweiten Kanals (27) epitaktisch aufwachsen
gelassen wird und daß dann die Isolierschicht (29) sowie die drei Elektroden (31, 33, 35) angebracht
werden.
4. Verfahren zum Herstellen eines Feldeffekt-Transistors nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß auf eine Isolierunterlage (23) aus Halbleitermaterial hohen spezifischen Widerstands
das Halbleitermaterial des ersten Kanals (25) aus der Dampfphase niedergeschlagen wird,
daß auf den ersten Kanal (25) das Halbleitermaterial des zweiten Kanals (27) aus der Dampfphase
niedergeschlagen wird und daß dann die Isolierschicht (29) sowie die drei Elektroden (31,
33, 35) angebracht werden.
5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht (29) und
die Steuerelektrode (31) aufgedampft werden.
6. Verfahren zum Herstellen eines Feldeffekt-Transistors nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß in eine Isolierunterlage (23) aus Halbleitermaterial hohen spezifischen Widerstands
zwecks Bildung des ersten Kanals (25) ein entsprechender Dotierungsstoff eindiffundiert
wird, daß auf den ersten Kanal (25) der zweite Kanal (27) thermisch aufwachsen gelassen wird
und daß dann die Isolierschicht (29) sowie die drei Elektroden (31, 33, 35) angebracht werden.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Isolierschicht (29) thermisch
auf dem zweiten Kanal aufwachsen gelassen wird.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Französische Patentschriften Nr. 1 242 628,
699, 1306187;
USA.-Patentschriften Nr. 2791759, 2 993 998.
Französische Patentschriften Nr. 1 242 628,
699, 1306187;
USA.-Patentschriften Nr. 2791759, 2 993 998.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
809 638/1529 11.68 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US230449A US3283221A (en) | 1962-10-15 | 1962-10-15 | Field effect transistor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1283399B true DE1283399B (de) | 1968-11-21 |
Family
ID=22865266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DER36306A Pending DE1283399B (de) | 1962-10-15 | 1963-10-10 | Feldeffekt-Transistor mit zwei ohmschen Elektroden und mit einer isolierten Steuerelektrode |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3283221A (de) |
AT (1) | AT245626B (de) |
BE (1) | BE638316A (de) |
CH (1) | CH441509A (de) |
DE (1) | DE1283399B (de) |
ES (1) | ES292458A1 (de) |
GB (1) | GB1060731A (de) |
NL (1) | NL299194A (de) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3335038A (en) * | 1964-03-30 | 1967-08-08 | Ibm | Methods of producing single crystals on polycrystalline substrates and devices using same |
BE666834A (de) * | 1964-07-13 | |||
US3375419A (en) * | 1965-02-25 | 1968-03-26 | Union Carbide Corp | Field effect transistor with poly-p-xylylene insulated gate structure and method |
US3378737A (en) * | 1965-06-28 | 1968-04-16 | Teledyne Inc | Buried channel field effect transistor and method of forming |
US3459944A (en) * | 1966-01-04 | 1969-08-05 | Ibm | Photosensitive insulated gate field effect transistor |
US3458798A (en) * | 1966-09-15 | 1969-07-29 | Ibm | Solid state rectifying circuit arrangements |
US3461323A (en) * | 1968-02-08 | 1969-08-12 | Bendix Corp | Negative resistance semiconductor device |
US3593070A (en) * | 1968-12-17 | 1971-07-13 | Texas Instruments Inc | Submount for semiconductor assembly |
US3591852A (en) * | 1969-01-21 | 1971-07-06 | Gen Electric | Nonvolatile field effect transistor counter |
US3967305A (en) * | 1969-03-27 | 1976-06-29 | Mcdonnell Douglas Corporation | Multichannel junction field-effect transistor and process |
JPS4915668B1 (de) * | 1969-04-15 | 1974-04-16 | ||
US3648127A (en) * | 1970-09-28 | 1972-03-07 | Fairchild Camera Instr Co | Reach through or punch{13 through breakdown for gate protection in mos devices |
US3914137A (en) * | 1971-10-06 | 1975-10-21 | Motorola Inc | Method of manufacturing a light coupled monolithic circuit by selective epitaxial deposition |
US4021835A (en) * | 1974-01-25 | 1977-05-03 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device and a method for fabricating the same |
US4065781A (en) * | 1974-06-21 | 1977-12-27 | Westinghouse Electric Corporation | Insulated-gate thin film transistor with low leakage current |
US4000504A (en) * | 1975-05-12 | 1976-12-28 | Hewlett-Packard Company | Deep channel MOS transistor |
US4132998A (en) * | 1977-08-29 | 1979-01-02 | Rca Corp. | Insulated gate field effect transistor having a deep channel portion more highly doped than the substrate |
JPS6019152B2 (ja) * | 1977-08-31 | 1985-05-14 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 電界効果トランジスタ |
US4166223A (en) * | 1978-02-06 | 1979-08-28 | Westinghouse Electric Corp. | Dual field effect transistor structure for compensating effects of threshold voltage |
NL7904200A (nl) * | 1979-05-29 | 1980-12-02 | Philips Nv | Lagenveldeffecttransistor. |
US4523368A (en) * | 1980-03-03 | 1985-06-18 | Raytheon Company | Semiconductor devices and manufacturing methods |
GB2140617B (en) * | 1980-03-03 | 1985-06-19 | Raytheon Co | Methods of forming a field effect transistor |
JPS58188165A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-02 | Nec Corp | 半導体装置 |
US4575746A (en) * | 1983-11-28 | 1986-03-11 | Rca Corporation | Crossunders for high density SOS integrated circuits |
JPS62128175A (ja) * | 1985-11-29 | 1987-06-10 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
GB2233822A (en) * | 1989-07-12 | 1991-01-16 | Philips Electronic Associated | A thin film field effect transistor |
KR20060078925A (ko) * | 2004-12-30 | 2006-07-05 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 전류의 제어가 정반대인 금속 산화물 반도체 트랜지스터 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2791759A (en) * | 1955-02-18 | 1957-05-07 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductive device |
FR1242628A (fr) * | 1958-12-11 | 1960-09-30 | Western Electric Co | Dispositif de translation semi-conducteur |
US2993998A (en) * | 1955-06-09 | 1961-07-25 | Sprague Electric Co | Transistor combinations |
FR1293699A (fr) * | 1960-05-02 | 1962-05-18 | Westinghouse Electric Corp | Dispositif semi-conducteur |
FR1306187A (fr) * | 1960-09-26 | 1962-10-13 | Westinghouse Electric Corp | Transistor unipolaire |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1900018A (en) * | 1928-03-28 | 1933-03-07 | Lilienfeld Julius Edgar | Device for controlling electric current |
FR1037293A (fr) * | 1951-05-19 | 1953-09-15 | Licentia Gmbh | Redresseur sec à contrôle électrique et son procédé de fabrication |
US2756285A (en) * | 1951-08-24 | 1956-07-24 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor signal translating devices |
US2900531A (en) * | 1957-02-28 | 1959-08-18 | Rca Corp | Field-effect transistor |
US2979427A (en) * | 1957-03-18 | 1961-04-11 | Shockley William | Semiconductor device and method of making the same |
NL237225A (de) * | 1958-03-19 | |||
BE632998A (de) * | 1962-05-31 |
-
0
- NL NL299194D patent/NL299194A/xx unknown
- BE BE638316D patent/BE638316A/xx unknown
-
1962
- 1962-10-15 US US230449A patent/US3283221A/en not_active Expired - Lifetime
-
1963
- 1963-08-29 CH CH1066163A patent/CH441509A/de unknown
- 1963-09-20 AT AT759363A patent/AT245626B/de active
- 1963-09-26 GB GB38032/63A patent/GB1060731A/en not_active Expired
- 1963-10-10 DE DER36306A patent/DE1283399B/de active Pending
- 1963-10-14 ES ES0292458A patent/ES292458A1/es not_active Expired
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2791759A (en) * | 1955-02-18 | 1957-05-07 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductive device |
US2993998A (en) * | 1955-06-09 | 1961-07-25 | Sprague Electric Co | Transistor combinations |
FR1242628A (fr) * | 1958-12-11 | 1960-09-30 | Western Electric Co | Dispositif de translation semi-conducteur |
FR1293699A (fr) * | 1960-05-02 | 1962-05-18 | Westinghouse Electric Corp | Dispositif semi-conducteur |
FR1306187A (fr) * | 1960-09-26 | 1962-10-13 | Westinghouse Electric Corp | Transistor unipolaire |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AT245626B (de) | 1966-03-10 |
ES292458A1 (es) | 1964-04-01 |
CH441509A (de) | 1967-08-15 |
NL299194A (de) | |
GB1060731A (en) | 1967-03-08 |
BE638316A (de) | |
US3283221A (en) | 1966-11-01 |
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