DE112006002088T5

DE112006002088T5 - Mehrschichtkeramikkondensator

Info

Publication number: DE112006002088T5
Application number: DE112006002088T
Authority: DE
Inventors: Makito Nagaokakyo Nakano; Noriyuki Nagaokakyo Inoue; Kenichi Nagaokakyo Kawasaki
Original assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 2005-08-19
Filing date: 2006-07-11
Publication date: 2008-06-05
Also published as: JP4525753B2; CN101243527A; TW200733158A; KR100944098B1; US7715171B2; CN101243527B; JPWO2007020757A1; TWI299173B; WO2007020757A1; US20080130198A1; KR20080031962A

Abstract

Ein Mehrschichtkeramikkondensator, der folgende Merkmale aufweist:
einen Kondensatorkörper mit einer Mehrschichtstruktur, die eine Mehrzahl dielektrischer Keramikschichten und eine Mehrzahl interner Elektroden, die entlang einer Mehrzahl jeweiliger Grenzflächen zwischen den dielektrischen Keramikschichten gebildet sind, umfasst, und mit einer im Wesentlichen rechteckigen Parallelepipedform, die durch eine erste und eine zweite Hauptoberfläche, die sich in einer Richtung erstrecken, in der sich die dielektrischen Keramikschichten erstrecken, eine erste und eine zweite Endoberfläche, die sich in einer Richtung orthogonal zu den Hauptoberflächen erstrecken, und eine erste und eine zweite Seitenoberfläche definiert ist; und
eine erste und eine zweite externe Elektrode, die über der jeweiligen ersten und zweiten Endoberfläche gebildet sind, sich von denselben zu jeweiligen Teilen der Hauptoberflächen und Seitenoberflächen benachbart zu den Endoberflächen erstrecken und mit spezifischen der internen Elektroden derart verbunden sind, dass Kapazitäten extrahiert werden, die zwischen den internen Elektroden gebildet sind, die einander mit den dielektrischen Keramikschichten zwischen sich...

Description

Technisches Gebiet
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Mehrschichtkeramikkondensator und insbesondere auf Verbesserungen zum Unterdrücken von „Pfeifen", das auftritt, wenn ein elektrisches Feld an einen Mehrschichtkeramikkondensator, der an einem Substrat befestigt ist, angelegt wird.
Hintergrundtechnik
14 ist eine Querschnittsansicht eines befestigten Mehrschichtkeramikkondensators 1.
Der Mehrschichtkeramikkondensator 1 umfasst einen Kondensatorkörper 4 mit einer Mehrschichtstruktur, die eine Mehrzahl dielektrischer Keramikschichten 2 und eine Mehrzahl interner Elektroden 3a und 3b, die entlang einer Mehrzahl jeweiliger Grenzflächen zwischen den dielektrischen Keramikschichten 2 gebildet sind, umfasst. Der Kondensatorkörper 4 weist eine rechteckige Parallelepipedform auf, die durch eine erste und eine zweite Hauptoberfläche 5 und 6, die sich in einer Richtung erstrecken, in der sich die dielektrischen Keramikschichten 2 erstrecken, eine erste und eine zweite Endoberfläche 7 und 8, die sich in einer Richtung orthogonal zu der ersten und der zweiten Hauptoberfläche 5 und 6 erstrecken, und eine erste und eine zweite Seitenoberfläche (parallel zu der Ebene von 14, in 14 jedoch nicht gezeigt) definiert ist.
Obwohl Kanten eines Kondensatorkörpers im Allgemeinen abgeschrägt sind, ist die Darstellung der abgeschrägten Kanten des Kondensatorkörpers 4 und derjenigen anderer Kondensatorkörper in 14 und anderen Zeichnungen untergelassen.
Der Mehrschichtkeramikkondensator 1 umfasst ferner eine erste und eine zweite externe Elektrode 11 und 12, die mit den internen Elektroden 3a bzw. 3b verbunden sind, derart, dass Kapazitäten, die zwischen den internen Elektroden 3a und 3b gebildet sind, die einander mit den dielektrischen Keramikschichten 2 zwischen sich zugewandt sind, extrahiert werden. Die erste und die zweite externe Elektrode 11 und 12 sind über der jeweiligen ersten und zweiten Endoberfläche 7 und 8 des Kondensatorkörpers 4 gebildet und erstrecken sich von denselben zu jeweiligen Teilen der Hauptoberflächen 5 und 6 und Seitenoberflächen benachbart zu den Endoberflächen 7 und 8.
Der Mehrschichtkeramikkondensator 1 ist durch Verbinden der ersten und der zweiten externen Elektrode 11 und 12 mit dem Substrat 13 mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials 14, wie z. B. eines Lötmittels oder eines leitfähigen Haftmittels, an einem Substrat 13 befestigt, wobei die erste Hauptoberfläche 5 des Kondensatorkörpers 4 dem Substrat 13 zugewandt ist.
Ein Abschnitt, der zu einer Bildung von Kapazitäten zwischen den internen Elektroden 3a und 3b in dem Kondensatorkörper 4 beiträgt, wird als „aktiver Teil" bezeichnet. In 14, die den Mehrschichtkeramikkondensator 1 darstellt, ist ein aktiver Teil 15 durch eine Region dargestellt, die durch eine gestrichelte Linie umgeben ist. Der aktive Teil 15 weist eine rechteckige Parallelepipedform auf.
15 stellt den Mehrschichtkeramikkondensator 1 an der gleichen Position wie derjenigen in 14 dar. In 15 ist die Darstellung der internen Elektroden 3a und 3b in dem Kondensatorkörper 4 weggelassen und nur der aktive Teil 15 ist dargestellt.
Wenn eine Spannung über die erste und die zweite externe Elektrode 11 und 12 des Mehrschichtkeramikkondensators 1 angelegt wird, tritt eine dielektrische Polarisation an Positionen auf, an denen benachbarte interne Elektroden 3a und 3b einander zugewandt sind. Dies macht es möglich, Kapazitäten zu erhalten, wie oben beschrieben wurde. Dielektrika jedoch, die durch die dielektrischen Keramikschichten 2 bereitgestellt werden und sich in dem aktiven Teil 15 befinden, bewirken eine durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung in Abhängigkeit von der angelegten Spannung, wie durch Pfeile 16 in 15 angezeigt ist. Dies bewirkt, dass sich der Mehrschichtkeramikkondensator 1 verformt, wie in 15 durch gestrichelte Linien angezeigt ist.
So bewirkt, wenn eine Wechselspannung an den Mehrschichtkeramikkondensator 1 angelegt wird, eine Verformung des Mehrschichtkeramikkondensators 1, die aus einer durch ein elektrisches Feld induzierten Verzerrung resultiert, dass das Substrat 13 schwingt und ein Geräusch erzeugt, das „Pfeifen" genannt wird. So wird eine Kraft, die ein Schwingen des Substrats 13 bewirkt, von Teilen der externen Elektroden 11 und 12, die sich auf der ersten Hauptoberfläche 5 des Kondensatorkörpers 4 befinden, ausgeübt. Dann entsteht, wenn der Pegel des „Pfeifens" zunimmt, ein Rauschproblem.
Um ein „Pfeifen" zu unterdrücken, schlägt die japanische ungeprüfte Patentanmeldung Veröffentlichungsnummer 2000-281435 (Patentdokument 1) eine Technik vor, bei der eine Dielektrikum-Zusammensetzung, die BaTiO₃, SrZrO₃ und CaZrO₃ beinhaltet, als ein Material dielektrischer Keramikschichten verwendet wird. Diese Dielektrikum-Zusammensetzung ist sehr resistent gegenüber einer Reduktion, wenn sie gebrannt wird, und besitzt eine hohe Dielektrizitätskonstante, einen geringen Verzerrungsfaktor und gute Kapazität-Temperatur-Charakteristika.
Bei der Technik jedoch, bei der eine Verzerrung durch eine Verbesserung der Materialzusammensetzung unterdrückt wird, wie im Patentdokument 1 beschrieben ist, gibt es dahingehend Probleme, dass es schwierig ist, eine hohe Dielektrizitätskonstante und dergleichen, sowie die Unterdrückung einer Verzerrung zu erzielen, und dahingehend, dass der Grad an Entwurfsfreiheit eingeschränkt ist.
Andererseits schlägt die japanische ungeprüfte Patentanmeldung Veröffentlichungsnummer 2004-39937 (Patentdokument 2) eine Konfiguration vor, bei der in einem Mehrschichtkeramikkondensator, der Bariumtitanat als dielektrisches Material beinhaltet, eine Keramikbasis mit Ausnahme eines Isolationszwischenraums mit einem Metallfilm bedeckt ist, der Anschlusselektroden an beiden Enden umfasst. Die Keramikbasis ist mit dem Metallfilm derart bedeckt, dass das Verhältnis der Oberflächenfläche eines Abschnitts, der mit dem Metallfilm bedeckt ist, zu der gesamten Oberflächenfläche der Keramikbasis größer oder gleich 0,8 ist. So weist die Keramikbasis, da die Oberfläche der Keramikbasis größtenteils mit dem Metallfilm bedeckt ist, eine große Steifigkeit auf, was es möglich macht, mechanische Schwingungen zu unterdrücken, die durch Elektrostriktion (durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung) bewirkt werden.
Das Verfahren zum Unterdrücken von „Pfeifen" jedoch, das im Patentdokument 2 beschrieben ist, hat dahingehend ein Problem, dass der Vorgang des Bildens eines Metallfilms unter Beibehaltung eines geeigneten Isolationszwischenraums kompliziert ist.

Patentdokument 1: Japanische ungeprüfte Patentanmeldung Veröffentlichungsnummer 2000-281435
Patentdokument 2: Japanische ungeprüfte Patentanmeldung Veröffentlichungsnummer 2004-39937

Offenbarung der Erfindung
Durch die Erfindung zu losende Probleme
Entsprechend besteht eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine Konfiguration eines Mehrschichtkeramikkondensators bereitzustellen, die in der Lage ist, ein „Pfeifen", das durch eine durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung bewirkt wird, zu unterdrücken, ohne die Materialzusammensetzung einer Dielektrikum-Zusammensetzung zu beeinträchtigen und ohne eine zusätzliche Komponente zu verwenden.
Mittel zum Losen der Probleme
Zusammenfassend richtet sich die vorliegende Erfindung auf ein Lösen der oben beschriebenen technischen Probleme durch Modifizieren der Konfiguration interner Elektroden.
Ein Mehrschichtkeramikkondensator gemäß der vorliegenden Erfindung umfasst einen Kondensatorkörper und eine erste und eine zweite externe Elektrode.
Der Kondensatorkörper weist eine Mehrschichtstruktur auf, die eine Mehrzahl dielektrischer Keramikschichten und eine Mehrzahl interner Elektroden, die entlang einer Mehrzahl jeweiliger Grenzflächen zwischen den dielektrischen Keramikschichten gebildet sind, umfasst, und weist eine im Wesentlichen rechteckige Parallelepipedform auf, die durch eine erste und eine zweite Hauptoberfläche, die sich in einer Richtung erstrecken, in der sich die dielektrischen Keramikschichten erstrecken, eine erste und eine zweite Endoberfläche, die sich in einer Richtung orthogonal zu den Hauptoberflächen erstrecken, und eine erste und eine zweite Seitenoberfläche definiert ist.
Die erste und die zweite externe Elektrode sind über der jeweiligen ersten und zweiten Endoberfläche gebildet, erstrecken sich von denselben zu jeweiligen Teilen der Hauptoberflächen und Seitenoberflächen benachbart zu den Endoberflächen und sind mit spezifischen der internen Elektroden derart verbunden, dass Kapazitäten, die zwischen den internen Elektroden gebildet sind, die einander mit den dielektrischen Keramikschichten zwischen sich zugewandt sind, extrahiert werden.
In dem Kondensatorkörper weist ein aktiver Teil, der zu einer Bildung von Kapazitäten zwischen den internen Elektroden beiträgt, die einander zugewandt sind, eine im Wesentlichen rechteckige Parallelepipedform auf.
Der Mehrschichtkeramikkondensator ist an einem Substrat durch Verbinden der externen Elektroden mit demselben mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials verbunden, wobei die erste Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers dem Substrat zugewandt ist.
Der Mehrschichtkeramikkondensator mit dieser Konfiguration ist dadurch gekennzeichnet, dass er die folgende Konfiguration besitzt, um die oben beschriebenen technischen Probleme zu lösen.
Dies bedeutet, dass der Mehrschichtkeramikkondensator dadurch gekennzeichnet ist, dass, wenn L ein Abstand zwischen der ersten und der zweiten Endoberfläche in der Linksrichtung des Kondensatorkörpers ist, Regionen mit geringer Aktivität in jeweiligen zylindrischen Regionen in dem aktiven Teil positioniert sind, wobei jede zylindrische Region einen Radius von 0,025 L um eine Linie aufweist, in der eine Ebene, die parallel zu den Endoberflächen ist und durch eine Position einer Endkante einer der ersten und zweiten externen Elektrode auf der ersten Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers verläuft, eine Oberfläche des aktiven Teils benachbart zu der ersten Hauptoberfläche schneidet, und eine zugewandte Fläche der internen Elektroden zum Bilden von Kapazitäten in den Regionen mit geringer Aktivität kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen geringer Aktivität beträgt.
Bei der vorliegenden Erfindung ist es vorzuziehen, dass der aktive Teil in Bezug auf eine Ebene symmetrisch ist, die parallel zu der ersten und der zweiten Hauptoberfläche ist und durch eine Mitte zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche verläuft.
Es wird darauf verwiesen, dass der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung außerdem einen Mehrschichtkeramikkondensator abdeckt, der nicht durch einen Befestigungszustand, wie z. B. den oben beschriebenen, eingeschränkt ist, bei dem der Mehrschichtkeramikkondensator an einem Substrat durch Verbinden der externen Elektroden mit demselben mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials befestigt ist, wobei die erste Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers dem Substrat zugewandt ist.
Vorteile
Gemäß der vorliegenden Erfindung sind die Regionen geringer Aktivität in den jeweiligen zylindrischen Regionen in dem aktiven Teil positioniert, wobei jede zylindrische Region einen Radius von 0,025 L um eine Linie aufweist, in der eine Ebene, die parallel zu den Endoberflächen ist und durch eine Position einer Endkante einer der externen Elektroden auf der ersten Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers verläuft, die Oberfläche des aktiven Teils benachbart zu der ersten Hauptoberfläche schneidet. Kurz gesagt, in dem aktiven Teil sind die Regionen geringer Aktivität nahe an den jeweiligen Endkanten der jeweiligen externen Elektroden positioniert. Zusätzlich ist eine zugewandte Fläche der internen Elektroden in den Regionen geringer Aktivität kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen geringer Aktivität. Deshalb kann in den Regionen geringer Aktivität eine Verzerrung, die auftritt, wenn ein elektrisches Feld an den Mehrschichtkeramikkondensator angelegt wird, klein gemacht werden. Dies macht es möglich, eine Kraft zu unterdrücken, die bewirkt, dass sich das Substrat, auf dem der Mehrschichtkeramikkondensator befestigt ist, biegt, und so ein „Pfeifen" zu unterdrücken.
Außerdem ist es gemäß der vorliegenden Erfindung, da die Regionen geringer Aktivität, in denen die zugewandte Fläche der internen Elektroden zum Unterdrücken eines „Pfeifens" relativ klein gemacht ist, eingeschränkte Regionen in dem aktiven Teil sind, wie z. B. Regionen nahe an den Endkanten der externen Elektroden, möglich, ein „Pfeifen" zu unterdrücken, ohne wesentlich Kapazitäten, die erhalten werden können, zu opfern.
Zusätzlich besteht gemäß der vorliegenden Erfindung, wenn der aktive Teil in Bezug auf eine Ebene symmetrisch ist, die parallel zu der ersten und der zweiten Hauptoberfläche ist und durch eine Mitte zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche verläuft, kein Bedarf, eine Unterscheidung zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche zu treffen, wenn der Mehrschichtkeramikkondensator befestigt werden soll. Dies macht es möglich, einen effizienten Befestigungsvorgang zu erzielen und Fehler beim Befestigen zu reduzieren.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen
1 stellt ein erstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar und zeigt einen aktiven Teil 15 anstelle interner Elektroden. 1(a) ist eine Gesamtansicht eines Mehrschichtkeramikkondensators 1a. 1(b) ist eine vergrößerte Ansicht eines Teils des Mehrschichtkeramikkondensators 1a.
2(a) und 2(b) sind Draufsichten, die eine interne Elektrodenstruktur in dem Mehrschichtkeramikkondensator 1a aus 1 darstellen.
3 stellt ein zweites Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 2 und zeigt eine exemplarische Modifizierung der internen Elektrodenstruktur.
4 stellt ein drittes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 2 und zeigt eine weitere exemplarische Modifizierung der internen Elektrodenstruktur.
5 stellt ein viertes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 1(a) und zeigt eine exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15.
6 stellt ein fünftes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 1(a) und zeigt eine weitere exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15.
7 stellt ein sechstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 1(a) und zeigt wiederum eine weitere exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15.
8 stellt ein siebtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 1(a) und zeigt wiederum eine weitere exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15.
9 stellt ein achtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entspricht 1(a) und zeigt wiederum eine weitere exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15.
10 stellt ein neuntes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar und ist eine Querschnittsansicht eines Mehrschichtkeramikkondensators 1i.
11(a) und 11(b) sind Draufsichten, die eine interne Elektrodenstruktur in dem Mehrschichtkeramikkondensator 1i aus 10 darstellen.
12 stellt eine Probe dar, die bei einem exemplarischen Experiment hergestellt wird, das gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführt wird, und entspricht 1(a) und stellt den Mehrschichtkeramikkondensator 1a dar.
13 stellt ein Verfahren zum Messen einer Substratverschiebung dar, die bei dem exemplarischen Experiment bewertet wird.
14 ist eine Querschnittsansicht, die einen Zustand darstellt, in dem der herkömmliche Mehrschichtkeramikkondensator 1, der auf die vorliegende Erfindung bezogen ist, an dem Substrat 13 befestigt ist.
15 ist eine Querschnittsansicht, die eine durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung darstellt, die in dem in 14 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1 auftritt.
Beste Modi zur Ausführung der Erfindung
Die 1 und 2 stellen ein erstes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar. Wie in dem Fall von 15 stellt 1(a) den aktiven Teil 15 anstelle der internen Elektroden dar. Ein Mehrschichtkeramikkondensator 1a, der in 1(a) dargestellt ist, soll an einem Substrat so befestigt werden, dass seine Unterseite benachbart zu dem Substrat ist. 1(b) ist eine vergrößerte Ansicht eines Teils von 1. Die 2(a) und 2(b) sind Draufsichten, die eine interne Elektrodenstruktur in dem Mehrschichtkeramikkondensator 1a aus 1 darstellen. In den 1 und 2 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in den 14 und 15 dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben und eine redundante Beschreibung ist weggelassen. Obwohl dies in 14 nicht dargestellt ist, sind eine erste und eine zweite Seitenoberfläche 9 und 10 in 2 dargestellt.
Eine charakteristische Konfiguration des Mehrschichtkeramikkondensators 1a gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel wird nun beschrieben.
Ein Bezugszeichen L bezeichnet den Abstand zwischen der ersten und der zweiten Endoberfläche 7 und 8 in der Längsrichtung des Kondensatorkörpers 4. In dem aktiven Teil 15 ist eine Region geringer Aktivität 30 in einer zylindrischen Region 28 mit einem Radius 26 von 0,025 L um eine Linie 24 positioniert, in der eine Ebene 21, die parallel zu den Endoberflächen 7 und 8 ist und durch die Position einer Endkante 19 der ersten externen Elektrode 11 auf der ersten Hauptoberfläche 5 des Kondensatorkörpers 4 verläuft, eine Oberfläche 23 des aktiven Teils 15 benachbart zu der ersten Hauptoberfläche 5 schneidet. Ähnlich ist in dem aktiven Teil 15 eine Region geringer Aktivität 31 in einer zylindrischen Region 29 mit einem Radius 27 von 0,025 L um eine Linie 25 positioniert, in der eine Ebene 22, die parallel zu den Endoberflächen 7 und 8 ist und die Position einer Endkante 120 der zweiten externen Elektrode 12 auf der ersten Hauptoberfläche 5 des Kondensatorkörpers 4 passiert, die Oberfläche 23 des aktiven Teils 15 benachbart zu der ersten Hauptoberfläche 5 schneidet. In den Regionen 30 und 31 geringer Aktivität ist die zugewandte Fläche der internen Elektroden zum Bilden von Kapazitäten kleiner oder gleich einem Fünftel der zugewandten Fläche der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen mit geringer Aktivität 30 und 31.
Zur Bildung der Regionen geringer Aktivität 30 und 31, die oben beschrieben sind, übernimmt das Ausführungsbeispiel die in 2 dargestellte interne Elektrodenstruktur. Die internen Elektroden 3a und 3b, die einander zugewandt sind, zum Bilden von Kapazitäten sind in 2(a) bzw. 2(b) dargestellt.
Die interne Elektrode 3a weist eine Einkerbung 32 und eine Einkerbung 33 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 30 bzw. der Region geringer Aktivität 31 auf. Ähnlich weist die interne Elektrode 3b eine Einkerbung 34 und eine Einkerbung 35 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 30 bzw. der Region geringer Aktivität 31 auf.
Die Einkerbungen 32 bis 35 arbeiten derart, dass die zugewandte Fläche der internen Elektroden 3a und 3b in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 kleiner oder gleich einem Fünftel derjenigen in einer normalen Region beträgt. So kann eine durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 klein gemacht werden. Deshalb kann, wenn der Mehrschichtkeramikkondensator 1 an einem Substrat durch Verbinden der ersten und der zweiten externen Elektrode 11 und 12 mit demselben mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials befestigt ist, eine Kraft, die ein Biegen und Schwingen des Substrats bewirken würde, reduziert werden, was eine Unterdrückung von „Pfeifen" möglich macht.
Wieder Bezug nehmend auf 15 ist eine Verformung, die auftritt, wenn eine Spannung an den Mehrschichtkeramikkondensator 1 des herkömmlichen typischen Typs angelegt wird, als (x1 – x2)/x3 > 0,65 ausgedrückt, wobei x1 die Verschiebungsmenge in einer Laminierungsrichtung an Endkanten der ersten und der zweiten externen Elektrode 11 und 12 ist, x2 die Verschiebungsmenge in der Laminierungsrichtung an Ecken ist, an denen die erste und die zweite Endoberfläche 7 und 8 des Kondensatorkörpers 4 die erste Hauptoberfläche 5 schneiden, und x3 die Verschiebungsmenge in der Laminierungsrichtung in einer Mitte zwischen der ersten und der zweiten Endoberfläche 7 und 8 des Kondensatorkörpers 4 ist.
Andererseits kann, da der Mehrschichtkeramikkondensator 1a des vorliegenden Ausführungsbeispiels die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 in dem aktiven Teil 15 besitzt, die Inklination (x1 – x2), die in der ersten und der zweiten externen Elektrode 11 und 12 auftritt, wenn eine Spannung an den Mehrschichtkeramikkondensator 1a angelegt wird, klein gemacht werden und so kann (x1 – x2)/x3 ≤ 0,6 erfüllt werden. Deshalb kann, wie oben beschrieben wurde, eine Kraft, die ein Biegen und Schwingen des Substrats bewirken würde, reduziert werden, was die Unterdrückung von „Pfeifen" möglich macht.
Bei dem ersten Ausführungsbeispiel sind, wie in 1(a) dargestellt ist, die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 auch auf einer weiteren Seite des aktiven Teils 15 benachbart zu der zweiten Hauptoberfläche 16 gebildet. Dies bedeutet, dass der aktive Teil 15 in Bezug auf eine Ebene symmetrisch ist, die parallel zu der ersten und der zweiten Hauptoberfläche 5 und 6 ist und durch eine Mitte zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche 5 und 6 verläuft. Deshalb besteht, wenn der Mehrschichtkeramikkondensator 1a befestigt werden soll, kein Bedarf, eine Unterscheidung zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche 5 und 6 zu treffen. Dies macht es möglich, einen effizienten Befestigungsvorgang zu erzielen und Fehler beim Befestigen zu reduzieren.
3 stellt einen Mehrschichtkeramikkondensator 1b gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin dung dar. 3 entspricht 2 und zeigt eine exemplarische Modifizierung der internen Elektrodenstruktur. In 3 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in 2 dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben und eine redundante Beschreibung ist weggelassen.
Wie in 3(a) dargestellt ist, weisen die Einkerbungen 32 und 33, die in der internen Elektrode 3a gebildet sind, Öffnungen auf unterschiedlichen Seiten der internen Elektrode 3a auf. Ähnlich weisen, wie in 3(b) dargestellt ist, die Einkerbungen 34 und 35, die in der internen Elektrode 3b gebildet sind, Öffnungen auf unterschiedlichen Seiten der internen Elektrode 3b auf.
Die internen Elektrodenstrukturen, die in sowohl 2 als auch 3 dargestellt sind, sind derart gebildet, dass die internen Elektroden 3a und 3b einander in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 nicht zugewandt sind, d. h. derart, dass die zugewandte Fläche der internen Elektroden 3a und 3b in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 Null beträgt. Diese zugewandte Fläche jedoch muss nicht zwangsläufig Null sein und muss nur kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen in einer normalen Region sein. Dies ist so, da, wenn die zugewandte Fläche kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen in einer normalen Region ist, eine durch ein elektrisches Feld induzierte Verzerrung in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 als im Wesentlichen Null betrachtet werden kann.
Deshalb besteht wie für die in 2 dargestellte interne Elektrodenstruktur, obwohl die Einkerbungen 32 und 33 in der internen Elektrode 3a gebildet sind, kein Bedarf, Einkerbungen in der internen Elektrode 3b zu bilden, wenn die Breite eines schmalen Abschnitts, der nach einer Bildung der Einkerbungen 32 und 33 verbleibt, kleiner oder gleich einem Fünftel der Breite des anderen Abschnitts der internen Elektrode 3a beträgt. Ähnlich besteht wie für die in 3 dargestellte interne Elektrodenstruktur, obwohl die Einkerbungen 32 und 33 in der internen Elektrode 3a gebildet sind, kein Bedarf, Einkerbungen in der internen Elektrode 3b zu bilden, wenn die Breite eines schmalen Abschnitts, der nach einer Bildung der Einkerbungen 32 und 33 verbleibt, kleiner oder gleich einem Fünftel der Breite des anderen Abschnitts der internen Elektrode 3a beträgt.
4 stellt einen Mehrschichtkeramikkondensator 1c gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar. 4 entspricht 2 und zeigt eine weitere exemplarische Modifizierung der internen Elektrodenstruktur. In 4 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in 2 dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben und eine redundante Beschreibung ist weggelassen.
Wie in 4(a) dargestellt ist, sind Einkerbungen 36 und 37 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 31 in der internen Elektrode 3a so gebildet, dass ihre Öffnungen in Richtungen, die entgegengesetzt zueinander sind, ausgerichtet sind. Ein schmaler Abschnitt 38 bleibt zwischen den Einkerbungen 36 und 37. Ähnlich sind, wie in 4(b) dargestellt ist, Einkerbungen 39 und 40 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 30 in der internen Elektrode 3b so gebildet, dass ihre Öffnungen in Richtungen, die entgegengesetzt zueinander sind, ausgerichtet sind. Ein schmaler Abschnitt 41 bleibt zwischen den Einkerbungen 39 und 40. Die Breite beider schmalen Abschnitte 41 und 38 ist kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der anderen Abschnitte der internen Elektroden 3a und 3b.
Gemäß dem in 4 dargestellten dritten Ausführungsbeispiel sind in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 die internen Elektroden 3a und 3b einander an den schmalen Abschnitten 38 und 41 zugewandt. Da jedoch die Breite der schmalen Abschnitte 41 und 38 kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der anderen Abschnitte ist, wie oben beschrieben wurde, ist die zugewandte Fläche der internen Elektroden 3a und 3b in den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 ebenso kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen in einer normalen Region.
Die 5 bis 9 stellen ein jeweiliges viertes bis achtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar, entsprechen 1(a) und zeigen eine exemplarische Modifizierung des aktiven Teils 15. In den 5 bis 9 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in 1(a) dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben und eine redundante Beschreibung ist weggelassen.
Bei einem in 5 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1d erreichen die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 Endabschnitte des aktiven Teils 15. Mit dieser Konfiguration ist es, da die Verschiebungsmenge x2, die in 15 gezeigt ist, klein gemacht ist, schwierig, den Wert von (x1 – x2)/x3 ausreichend zu reduzieren. Folglich ist es unter Umständen nicht möglich, eine Verformung eines Substrats, auf dem der Mehrschichtkeramikkondensator 1d befestigt ist, ausreichend zu unterdrücken.
Bei einem in 6 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1e verlaufen die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 in der Dickenrichtung durch den aktiven Teil 15.
Bei einem in 7 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1f sind die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 leicht innerhalb der Oberfläche des aktiven Teils 15 gebildet.
Bei einem in 8 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1g ist die Region geringer Aktivität 30 mit einem halbkreisförmigen oder im Wesentlichen halbkreisförmigen Querschnitt, und keinem rechteckigen Querschnitt versehen. Dies kann z. B. bei der unter Bezugnahme auf 2 beschriebenen internen Elektrodenstruktur dadurch realisiert werden, dass die Breite jeder der Einkerbungen 32 bis 35 allmählich variiert wird.
Bei einem in 9 dargestellten Mehrschichtkeramikkondensator 1h sind die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 auf nur einer Seite des aktiven Teils 15 gebildet. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist es, wenn der Mehrschichtkeramikkondensator 1h an einem Substrat befestigt werden soll, notwendig, die erste Hauptoberfläche 5 des Kondensatorkörpers 4 benachbart zu den Regionen geringer Aktivität 30 und 31 in Richtung des Substrats zu richten.
Die in 9 dargestellte Konfiguration, bei der die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 auf nur einer Seite des aktiven Teils 15 gebildet sind, ist auch auf die Ausführungsbeispiele anwendbar, die unter Bezugnahme auf die 5, 7 und 8 beschrieben sind.
Die 10 und 11 stellen ein neuntes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung dar. 10 ist eine Querschnittsansicht eines Mehrschichtkeramikkondensators 1i. 11 stellt eine interne Elektrodenstruktur in dem Mehrschichtkeramikkondensator 1i dar. In den 10 und 11 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in den 1, 2 oder 14 dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben und eine redundante Beschreibung ist weggelassen.
Zusammenfassend ist der Mehrschichtkeramikkondensator 1i dadurch gekennzeichnet, dass er ein Mehrschichtkondensator vom Serienkapazitätstyp ist. Deshalb sind als interne Elektroden eine interne Elektrode 3c, die mit der ersten externen Elektrode 11 verbunden ist, eine interne Elektrode 3d, die mit der zweiten externen Elektrode 12 verbunden ist, und eine interne Elektrode 3e, die beiden internen Elektroden 3c und 3d zugewandt ist, gebildet.
Wie in 10 dargestellt ist, weist der Mehrschichtkeramikkondensator 1i den aktiven Teil 15 auf, der durch eine Region dargestellt ist, die durch eine gestrichelte Linie umgeben ist. Der aktive Teil 15 weist die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 auf, die durch Regionen dargestellt sind, die durch abwechselnd kurz und lang gestrichelte Linien in 10 angezeigt sind.
Wie in 11(a) dargestellt ist, weist die interne Elektrode 3c eine Einkerbung 42 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 30 auf und die interne Elektrode 3d weist eine Einkerbung 43 zum Bereitstellen der Region geringer Aktivität 31 auf. Gleichzeitig weist, wie in 11(b) dargestellt ist, die interne Elektrode 3e Einkerbungen 44 und 45 zum Bereitstellen der Regionen geringer Aktivität 30 bzw. 31 auf.
Wie in 10 dargestellt ist, weist der Mehrschichtkeramikkondensator 1i die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 auf, die in der Dickenrichtung durch den aktiven Teil 15 verlaufen. Alternativ könnten die Regionen geringer Aktivität 30 und 31 in der Dickenrichtung in einem Teil des aktiven Teils 15 vorgesehen sein.
Obwohl die vorliegende Erfindung unter Bezugnahme auf die dargestellten Ausführungsbeispiele beschrieben wurde, können verschiedene Modifizierungen innerhalb des Schutzbereichs der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden.
Bei den dargestellten Ausführungsbeispielen z. B. sind Einkerbungen zum Bereitstellen von Regionen geringer Aktivität in spezifischen Teilen interner Elektroden gebildet. Alternativ könnten zum Reduzieren der zugewandten Fläche interner Elektroden spezifische Teile der internen Elektroden in einer maschenartigen Struktur gebildet sein.
Als nächstes wird ein exemplarisches Experiment beschrieben, das durchgeführt wird, um numerische Einschränkungen zu bestimmen, die den Schutzbereich der vorliegenden Erfindung definieren, und um die Wirkung der vorliegenden Erfindung zu bestätigen.
12 entspricht 1(a) und stellt eine Probe dar, die bei dem exemplarischen Experiment hergestellt wurde. In 12 sind Elementen, die äquivalent zu denjenigen sind, die in 1(a) dargestellt sind, die gleichen Bezugszeichen gegeben.
12 zeigt Abmessungen verschiedener Teile des Mehrschichtkeramikkondensators 1a. Von diesen Abmessungen wurden L, T, E, TG und LG als L = 2,0 mm, T = 1,25 mm, E = 0,425 mm, TG = 0,1 mm und LG = 0,1 mm festgelegt. Dann wurden, wie in den folgenden Tabellen 1 und 2 gezeigt ist, Proben mit unterschiedlichen Werten von dL und dT hergestellt.
Obwohl dies in 12 nicht gezeigt ist, war die Größe des Kondensatorkörpers 4 in der Breitenrichtung (d. h. die Größe in der Richtung orthogonal zu der Ebene aus 12) 1,25 mm, die Dicke einer internen Elektrode betrug 1,2 μm und die Dicke einer dielektrischen Keramikschicht betrug 3 μm. Die Anzahl laminierter interner Elektroden betrug 250. Die dielektrischen Keramikschichten waren aus einem Material auf BaTiO₃-Basis zusammengesetzt, eine leitfähige Komponente der internen Elektroden bestand aus Ni und ein leitfähiges Material der ersten und der zweiten externen Elektrode 11 und 12 war Cu.
Dann wurde eine Substratverschiebung für jede der hergestellten Proben bewertet. 13 stellt ein Verfahren zum Bewerten einer Substratverschiebung dar. 13(a) ist eine Draufsichtung und 13(b) ist eine Frontansicht.
Wie in 13 dargestellt ist, wurde ein Substrat 51, das aus Glasepoxydharz hergestellt war und Maße von 100 mm Länge mal 40 mm Breite mal 0,8 mm Dicke besaß, hergestellt.
Dann wurde der Mehrschichtkeramikkondensator 1a, der als eine Probe diente, an dem Substrat 51 in der Mitte desselben befestigt. Eutektisches Sn-Pb-Lötmittel wurde als ein leitfähiges Verbindungsmaterial zum Befestigen verwendet. Der Mehrschichtkeramikkondensator 1a wurde derart befestigt, dass die Längsrichtung des Mehrschichtkeramikkondensators 1a mit derjenigen des Substrats 51 übereinstimmte. Dann wurde eine Spannung von 10 V an den Mehrschichtkeramikkondensator 1a angelegt. Wie in 13(b) dargestellt ist, wurde eine Verschiebung 52 an einem Ende in der Längsrichtung des Substrats 51 in Bezug auf einen Ursprung in der Mitte des Substrats 51 gemessen. Die gemessene Verschiebung 52 wird als Substratverschiebung verwendet.
Tabelle 1 zeigt jede Substratverschiebung in einem Prozentsatz in Bezug auf die Substratverschiebung, die auftrat, als dL = 0 galt. Tabelle 2 zeigt jede Substratverschiebung in einem Prozentsatz in Bezug auf die Substratverschiebung, die auftrat, als dT = 0 galt. Für jede Probe wurde der Wert von (x1 – x2)/x3 aus Messungen der Verschiebungen x1, x2 und x3, die in 15 gezeigt sind, bestimmt. Die resultierenden Werte sind in Tabelle 1 und Tabelle 2 gezeigt.
Mit dem Wert von dT fest bei 0,05 mm vergleicht Tabelle 1 Proben mit unterschiedlichen Werten von dL. [Tabelle 1]

Probe Nr. dL [mm] dL/L Substratverschiebung [%] (x1 – x2)/x3

1 0 0 100 0,65

2 0,04 0,02 92 0,61

3 0,05 0,025 90 0,60

4 0,1 0,05 83 0,58

5 0,2 0,1 75 0,57

6 0,325 0,1625 85 0,59
Wie in Tabelle 1 gezeigt ist, ist für alle Proben 3 bis 6 mit Werten von dL von größer oder gleich 0,05 mm der Wert von dL/L größer oder gleich 0,025, die Substratverschiebung ist auf kleiner oder gleich 90% unterdrückt und der Wert von (x1 – x2)/x3 ist auf kleiner oder gleich 0,06 unterdrückt.
Obwohl der Wert von dL/L für die Probe 6 größer als der für die Probe 5 ist, sind die Substratverschiebung und der Wert von (x1 – x2)/x3 für die Probe 6 größer als diejenigen für die Probe 5. Dies ist so, da die Probe 6 mit dL = 0,325 mm dem in 5 dargestellten Ausführungsbeispiel entspricht.

Als nächstes vergleicht Tabelle 2 mit dem Wert von dL fest bei 0,05 mm Proben mit unterschiedlichen Werten von dT. [Tabelle 2]

Probe Nr.	dT [mm]	dT/L	Substratverschiebung [%]	(x1 – x2)/x3
11	0	0	100	0,65
12	0,04	0,02	92	0,61
13	0,05	0,025	90	0,60
14	0,1	0,05	85	0,58
15	0,2	0,1	76	0,52
16	0,3	0,15	73	0,50
17	0,4	0,2	69	0,47
18	0,525	0,2625	67	0,45

Die Proben 11 und 13, die in Tabelle 2 gezeigt sind, sind äquivalent zu jeweiligen Proben 1 und 3, die in Tabelle 1 gezeigt sind.
Wie in Tabelle 2 gezeigt ist, ist für alle Proben 13 bis 18 mit Werten von dT größer oder gleich 0,05 mm der Wert von dT/L größer oder gleich 0,025, die Substratverschiebung ist auf kleiner oder gleich 90% unterdrückt und der Wert von (x1 – x2)/x3 ist auf kleiner oder gleich 0,06 unterdrückt.
Die Probe 18 entspricht dem in 6 dargestellten Ausführungsbeispiel, wie aus dem Wert von dT zu sehen ist.
Zusammenfassung
Eine Aufgabe besteht darin, ein „Pfeifen" zu unterdrücken, das auftritt, wenn ein elektrisches Feld an einen Mehrschichtkeramikkondensator angelegt wird, der an einem Substrat befestigt ist.
In einem aktiven Teil (15), der zu einer Bildung von Kapazitäten zwischen internen Elektroden beiträgt, die einander in einem Kondensatorkörper (4) zugewandt sind, sind Regionen (30, 31) geringer Aktivität nahe an jeweiligen Endkanten (19, 20) jeweiliger externer Elektroden (11, 12) positioniert. Eine zugewandte Fläche der internen Elektroden in den Regionen geringer Aktivität (30, 31) ist kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen geringer Aktivität (30, 31). Dies macht es möglich, ein Auftreten einer durch ein elektrisches Feld induzierten Verzerrung nahe der externen Elektroden (11, 12), die mit einem Substrat (13) verbunden sind, zu unterdrücken und eine Kraft zu reduzieren, die ein Biegen des Substrats (13) bewirkt.

1, 1a bis 1i: Mehrschichtkeramikkondensator
2: dielektrische Keramikschicht
3a bis 3e: interne Elektrode
4: Kondensatorkörper
5: erste Hauptoberfläche
6: zweite Hauptoberfläche
7: erste Endoberfläche
8: zweite Endoberfläche
9: erste Seitenoberfläche
10: zweite Seitenoberfläche
11: erste externe Elektrode
12: zweite externe Elektrode
13: Substrat
14: leitfähiges Verbindungsmaterial
15: aktiver Teil
19, 20: Endkante der externen Elektrode
21, 22: zu Endoberflächen parallele Ebene
23: Oberfläche des aktiven Teils benachbart zu der ersten Hauptoberfläche
24, 25: Linie, die als Zentralachse dient
26, 27: Radius
28, 29: zylindrische Region
30, 31: Region geringer Aktivität
32 bis 37, 39, 40, 42 bis 45: Einkerbung

Claims

Ein Mehrschichtkeramikkondensator, der folgende Merkmale aufweist: einen Kondensatorkörper mit einer Mehrschichtstruktur, die eine Mehrzahl dielektrischer Keramikschichten und eine Mehrzahl interner Elektroden, die entlang einer Mehrzahl jeweiliger Grenzflächen zwischen den dielektrischen Keramikschichten gebildet sind, umfasst, und mit einer im Wesentlichen rechteckigen Parallelepipedform, die durch eine erste und eine zweite Hauptoberfläche, die sich in einer Richtung erstrecken, in der sich die dielektrischen Keramikschichten erstrecken, eine erste und eine zweite Endoberfläche, die sich in einer Richtung orthogonal zu den Hauptoberflächen erstrecken, und eine erste und eine zweite Seitenoberfläche definiert ist; und eine erste und eine zweite externe Elektrode, die über der jeweiligen ersten und zweiten Endoberfläche gebildet sind, sich von denselben zu jeweiligen Teilen der Hauptoberflächen und Seitenoberflächen benachbart zu den Endoberflächen erstrecken und mit spezifischen der internen Elektroden derart verbunden sind, dass Kapazitäten extrahiert werden, die zwischen den internen Elektroden gebildet sind, die einander mit den dielektrischen Keramikschichten zwischen sich zugewandt sind, wobei in dem Kondensatorkörper ein aktiver Teil, der zu einer Bildung von Kapazitäten zwischen den internen Elektroden, die einander zugewandt sind, beiträgt, eine im Wesentlichen rechteckige Parallelepipedform aufweist; wobei der Mehrschichtkeramikkondensator an einem Substrat durch Verbinden der externen Elektroden mit demselben mittels eines leitfähigen Verbindungsmaterials befestigt ist, wobei die erste Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers dem Substrat zugewandt ist; und wobei L ein Abstand zwischen der ersten und der zweiten Endoberfläche in der Längsrichtung des Kondensatorkörpers ist, Regionen geringer Aktivität in zumindest jeweiligen zylindrischen Regionen in dem aktiven Teil positioniert sind, jede zylindrische Region einen Radius von 0,025 L um eine Linie aufweist, in der eine Ebene, die parallel zu den Endoberflächen ist und durch eine Position einer Endkante einer der ersten und der zweiten externen Elektrode auf der ersten Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers läuft, eine Oberfläche des aktiven Teils benachbart zu der ersten Hauptoberfläche schneidet, und eine zugewandte Fläche der internen Elektroden zum Bilden von Kapazitäten in den Regionen geringer Aktivität kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen geringer Aktivität beträgt.
Der Mehrschichtkeramikkondensator gemäß Anspruch 1, bei dem der aktive Teil in Bezug auf eine Ebene, die parallel zu der ersten und der zweiten Hauptoberfläche ist und durch eine Mitte zwischen der ersten und der zweiten Hauptoberfläche verläuft, symmetrisch ist.
Ein Mehrschichtkeramikkondensator, der folgende Merkmale aufweist: einen Kondensatorkörper mit einer Mehrschichtstruktur, die eine Mehrzahl dielektrischer Keramikschichten und eine Mehrzahl interner Elektroden, die entlang einer Mehrzahl jeweiliger Grenzflächen zwischen den die lektrischen Keramikschichten gebildet sind, umfasst, und mit einer im Wesentlichen rechteckigen Parallelepipedform, die durch eine erste und eine zweite Hauptoberfläche, die sich in einer Richtung erstrecken, in der sich die dielektrischen Keramikschichten erstrecken, eine erste und eine zweite Endoberfläche, die sich in einer Richtung orthogonal zu den Hauptoberflächen erstrecken, und eine erste und eine zweite Seitenoberfläche definiert ist; und eine erste und eine zweite externe Elektrode, die über der jeweiligen ersten und zweiten Endoberfläche gebildet sind, sich von denselben zu jeweiligen Teilen der Hauptoberflächen und Seitenoberflächen benachbart zu den Endoberflächen erstrecken und mit spezifischen der internen Elektroden derart verbunden sind, dass Kapazitäten extrahiert werden, die zwischen den internen Elektroden gebildet sind, die einander mit den dielektrischen Keramikschichten zwischen sich zugewandt sind, wobei in dem Kondensatorkörper ein aktiver Teil, der zu einer Bildung von Kapazitäten zwischen den internen Elektroden, die einander zugewandt sind, beiträgt, eine im Wesentlichen rechteckige Parallelepipedform aufweist; und wobei L ein Abstand zwischen der ersten und der zweiten Endoberfläche in der Längsrichtung des Kondensatorkörpers ist, Regionen geringer Aktivität in jeweiligen zylindrischen Regionen in dem aktiven Teil positioniert sind, jede zylindrische Region einen Radius von 0,025 L um eine Linie aufweist, in der eine Ebene, die parallel zu den Endoberflächen ist und durch eine Position einer Endkante einer der ersten und zweiten externen Elektrode auf der ersten Hauptoberfläche des Kondensatorkörpers verläuft, eine Oberfläche des aktiven Teils benachbart zu der ersten Hauptoberfläche schneidet, und eine zugewandte Fläche der internen Elektroden zum Bilden von Kapazitäten in den Regionen geringer Aktivität kleiner oder gleich einem Fünftel von derjenigen der internen Elektroden in einer normalen Region mit dem gleichen Volumen wie demjenigen der Regionen geringer Aktivität beträgt.