DE1099646B - Unipolarer Transistor mit einem plattenfoermigen Halbleiterkoerper und mindestens drei einander umschliessenden Elektroden auf dessen einer Oberflaeche und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
Unipolarer Transistor mit einem plattenfoermigen Halbleiterkoerper und mindestens drei einander umschliessenden Elektroden auf dessen einer Oberflaeche und Verfahren zu seiner HerstellungInfo
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Description
DEUTSCHES
Die Erfindung bezieht sich auf unipolare Transistoren mit einem plattenförmigen Halbleiterkörper und
mindestens drei einander umschließenden Elektroden auf dessen einer Oberfläche, insbesondere solche mit
einem kreisförmigen, bezüglich seiner Achse rotationssymmetrischen Halbleiterplättchen, sowie auf ein Verfahren
zu ihrer Herstellung.
Bekanntlich treten bei unipolaren Transistoren die Steuer- und Verstärkerwirkungen durch Vermittlung
von Ladungsträgern mit Ladungen gleicher Polarität, der Majoritätsträger, ein, die der Einwirkung eines
modulierenden elektrischen Feldes unterworfen werden. Unipolartransistoren unterscheiden sich somit von
üblichen Transistoren, bei denen die Bewegung der Minoritätsträger eine überwiegende Rolle spielt.
Unipolare Transistoren sind in einem erstmals bekannten Aufbau von W. Shock ley in dessen Aufsatz
»A Unipolar ,Field Effect' Transistor«, Proceedings of
the Institute of Radio Engineers, Bd. 40, November 1952, S. 1365 bis 1376, beschrieben. Auch ist dort gezeigt,
daß die Betriebsweise und die Kennlinien eines solchen Transistors denen einer Elektronenröhre des
Typs einer Pentode äußerst ähnlich sind.
Angeregt durch den von Shock ley beschriebenen Aufbau sind später weitere Unipolartransistoranordnungen
bekanntgeworden. Der überwiegende Teil dieser Transistoranordnungen zielt darauf ab, die Unipolartransistoren
mit geringer Leistung zu verbessern. Mit diesen Verbesserungen sucht man im wesentlichen
einerseits die Leistung zu steigern und andererseits die Steilheit der Strom-Spannungskennlinie zu vergrößern
sowie den Wert der Verstärkung und Schwingung beeinflussenden Grenzfrequenz zu erhöhen.
Unter den von dem von Shockley angegebenen
Aufbau ausgehenden bereits bekannten Unipolartransistoranordnungen ist der Aufbau mit ebener und konzentrischer
Elektrodenanordnung von besonderem Interesse, der z. B. in der deutschen Auslegeschrift
1 034 272 beschrieben ist. Der dort beschriebene und dargestellte Unipolartransistor besteht aus einem
Halbleitermaterial, auf dessen Flächen Elektroden von einer zu der zu den Flächen dieses Plättchens senkrechten,
durch dessen Mitte verlaufenden Achse rotationsgeometrischen Form angeordnet sind. Von den
Quellen- oder Saugelektroden ist die eine ringförmig, die andere kreisrund, und die Steuerelektrode ist ringförmig.
Hieraus ergibt sich, daß die Kontraktionsoder Einschnürungslinie kreisrund ist. Die Herstellung
solcher ringförmigen Elektroden für Unipolartransistoren bringt aber einige Schwierigkeiten mit
sich.
Die Erfindung hat es sich nun zur Aufgabe gemacht, die Fertigung derartiger Ringelektroden einfacher
zu gestalten. Die hier vorgeschlagenen Verbesserungen Unipolarer Transistor mit einem
plattenförmigen Halbleiterkörper
und mindestens drei einander
umschließenden Elektroden
auf dessen einer Oberfläche
und Verfahren zu seiner Herstellung
Anmelder:
Joachim Immanuel Franke, Paris
Joachim Immanuel Franke, Paris
Vertreter:
Dipl.-Ing. Dipl. oec. publ. D. Lewinsky, Patentanwalt,
München-Pasing, Agnes-Bernauer-Str. 202
Beanspruchte Priorität:
Frankreich, vom 29. August 1958
Frankreich, vom 29. August 1958
Joachim Immanuel Franke, Paris,
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
gestatten außerdem, den Unipolartransistoren mit konzentrischem Aufbau vorteilhafte Änderungen zu verleihen,
die insbesondere in nennenswerter Weise die Steilheiten der Strom-Spannungskennlinien solcher
Transistoren vergrößern.
Die eine, nämlich die das Steuergitter bildende Ringelektrode ist mit größter Sorgfalt herzustellen,
da bekanntlich das Steuergitter mit dem Halbleiterkörper einen sperrenden Kontakt haben oder zu ihm
einen pn-übergang aufweisen muß. Das ringförmige Steuergitter läßt sich dadurch herstellen, daß man in
dem Halbleiterplättchen eine kreisförmige Vertiefung ausspart und den Boden derselben mit einem mit dem
Halbleiterkörper einen sperrenden Kontakt bildenden Metallniederschlag ausfüllt. Wenn beispielsweise der
Halbleiterkörper aus Germanium des η-Typs besteht, kann die Vertiefung durch elektrolytisches Beizen ausgehöhlt
werden und der z. B. aus Indium bestehende Metallniederschlag ebenfalls auf elektrolytischem
Wege erfolgen.
Die Herstellung besagter Vertiefung durch Elektrolyse birgt infolge nachstehender Gründe jedoch
einige Schwierigkeiten in sich:
109 510/347
a) Die elektrolytische Behandlung muß derart gelenkt werden, daß die Tiefe der kreisförmigen
Vertiefung für alle ihre Querschnitte bis auf etwa
einige Mikron genau gleich wird. Die Regelmäßigkeit dieser Tiefe ist von höchster Bedeutung, denn
der Boden der betreffenden Vertiefung muß sich an allen Punkten zu einer durch einen pn-übergang
"beispielsweise gebildeten Ebene in gleichem Abstand befinden,
b) Die elektrolytische Behandlung muß derart erfolgen, daß die Breite der kreisförmigen \rertiefung
so gering wie möglich wird. Diese Breite muß etwa 20 μ betragen. Unglücklicherweise ist es jedoch
während der Elektrolysebehandlung schwierig, die Verbreiterung der Vertiefung zu verhindern.
c) Außerdem muß man versuchen, die zwischen der Quellen- und Saugelektrode des Transistors bestehenden,
in Reihe liegenden Störwiderstände weitgehend herabzusetzen.
Die obenerwähnten Herstellungsschwierigkeiten werden im wesentlichen dadurch gemindert, daß auf
dem zur Bildung des Transistors bestimmten Plättchen aus Germanium des η-Typs durch Diffusion eine
Germaniumschicht des n+-Typs abgesetzt wird, wobei das Symbol n+ bedeutet, daß diese Zone gegenüber der
η-Zone an Verunreinigungen reicher ist und daß die kreisförmige Vertiefung, die in bisher bekannter
Weise in dem Germanium des η-Typs ausgespart war, in dem Germanium des n+-Typs vorgesehen wird, so
daß der Boden der Vertiefung mit der Grenzebene zwischen der n+-Schicht und dem η-Germanium des
Plättchens zusammenfällt.
Der aus einem plattenförmigen Halbleiterkörper bestehende und mindestens drei einander umschließende
Elektroden auf dessen einer Oberfläche aufweisende unipolare Transistor ist nun erfindungsgemäß dadurch
gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper eine Zonenfolge n+np bzw. p+pn hat, daß auf der n+- bzw. p+-
Zone die zwei ohmschen Elektroden angebracht sind, daß zwischen den beiden Elektroden eine oder mehrere
in sich geschlossene, bis zum n+n- bzw. p+p-Übergang
reichende Vertiefungen vorgesehen sind und daß in diesen Vertiefungen je eine nichtohmsche Elektrode
zum Steuern angebracht ist.
Bei der Herstellung eines solchen unipolaren Transistors wird vorzugsweise erfindungsgemäß so vorgegangen,
daß die n+- bzw. p+-Zone auf einem np- bzw.
pn-Halbleiterkörper durch Eindiffundieren hergestellt
wird, daß die Diffusionsschicht mit einer Lackschicht überzogen wird, daß die Lackschicht längs der zu
schaffenden Vertiefung eingeritzt wird, daß dann die Diffusionsschicht bis zum n+n- bzw. p+p-Übergang
elektrolytisch abgetragen wird, daß darauf in die so gewonnene Vertiefung ein zur Bildung der nichtohmschen
Elektrode geeignetes Metall elektrolytisch niedergeschlagen wird und daß die Lackschicht entfernt
wird und auf die Diffusionsschicht die ohmschen Elektroden angebracht werden.
Um einige Größenwerte zu geben, soll bemerkt werden, daß das Plättchen aus η-Germanium einen spezifischen
Widerstand zwischen einigen und einigen 10 Ohm · cm besitzt, während der n+-Leitfähigkeitsbereich
einen spezifischen Widerstand zwischen einigen hundertste] und einigen tausendstel Ohm · cm aufweist.
Dieser geringe spezifische Widerstand des n+- Bereiches ist für das Aussparen der Vertiefung von
Vorteil, denn in diesem Medium ist die Geschwindigkeit des elektrolytischen Ätzens groß. Ferner wird
dieses elektrolytische Ätzen praktisch beendet, sobald es die den beiden n- und n+-Bereichen gemeinsame
Grenzebene erreicht. Es ist daher leicht, genau die Tiefe der kreisförmigen Vertiefung vorauszubestimmen,
denn diese ist offensichtlich gleich der Stärke der n+'Diffusionschicht. Diese läßt sich bekanntlich mit
großer Genauigkeit herstellen. Außerdem wird gleichzeitig eine weitere bekannte Eigenschaft bezüglich der
n+-Schicht mit Vorteil benutzt, die darin besteht, daß sie durch Oberflächendiffusion hergestellt worden ist
ίο und somit eine Leitfähigkeit besitzt, die mit der Eindringtiefe
abnimmt; dies führt dazu, daß bei der Elektrolyse die Breite der Vertiefung sich mit zunehmender
Tiefe verringert.
Neben diesen im wesentlichen verfahrensmäßigen Vorteilen bietet der unipolare Transistor gemäß der
Erfindung auch beachtliche elektrische Vorzüge. Die an der Oberfläche des Halbleiterkörpers befindliche,
die beiden ohmschen Elektroden tragende n+-Schicht läßt für die Quellen- und insbesondere die Saugelektrode
ohmsche Kontakte hoher Güte erreichen, was zur Vermeidung von Instabilitäten äußerst wichtig
ist, die sich auf Grund eines negativen Widerstandes zwischen Gitter und Saugelektrode einstellen könnten.
Die so erhöhte Leitfähigkeit dieser n+-Zone vermindert den Widerstand zwischen Quellenelektrode und
Gitter und zwischen Gitter und Saugelektrode, woraus sich ergibt, daß einerseits die maximale Schwingungsfrequenz erhöht wird, andererseits die Störspannungsabfälle
zwischen diesen Elektroden verringert werden und damit dieEinschnürungsspannung auf ihren theoretischen
Wert herabgesetzt wird, ferner die durch den Joule-Effekt eintretende Erwärmung des Halbleiterkörpers
kleiner wird und demzufolge die angelegte Leistung sich steigern läßt und schließlich die Steilheit
gegenüber bisher bekannten unipolaren Transistoren größer ist.
Es ist weiterhin in elektrischer Hinsicht von Vorteil, daß die n+- bzw. p+-Zone des Halbleiterkörpers
eine Leitfähigkeit besitzt, die mit der Tiefe abnimmt und so an ihrer freien Oberfläche eine verhältnismäßig
große Leitfähigkeit aufweist, demzufolge an der Quellenelektrode keine Injektion von Minoritätsträgern
auftreten kann.
Um die Kapazität durch Zusammenschnüren des der η-Schicht gegenüberliegenden Teils der Sperrschicht
des Steuergitters weitgehend herabzusetzen und so die Grenzfrequenz und Steilheit des Transistors möglichst
zu vergrößern, ist es ferner vorteilhaft, daß die Breite der Vertiefung bzw. der Vertiefungen sich mit der
Tiefe verringert.
Schließlich ist es mit den oben angegebenen Verfahrensmaßnahmen möglich, die mittlere n- bzw.
p-Zone des Halbleiterkörpers in einer Dicke von unter 100 μ herzustellen und so eine ausreichende Modulation
derselben zu erzielen.
Im übrigen ist darauf hinzuweisen, daß die die vorgenannte dünne mittlere n- bzw. p-Schicht tragende
untere p- bzw. η-Schicht jede beliebige Dicke haben kann und im Gegensatz zu den meisten bisher bekannten
Unipolartransistoren lediglich als Stützschicht dient. Für diese Stützschicht wird vorliegend
nur deswegen ein Halbleitermaterial verwendet, um eine freie, mit Ladungen behaftete Oberfläche zu vermeiden.
Auch sei bemerkt, daß diese Stützschicht niemais von Ladungsträgern durchsetzt wird und der der
Feldwirkung unterworfene Leitkanal ausschließlich in der mittleren Schicht dem der Stützschicht entgegengesetzten
Halbleitertyps enthalten ist.
Die Merkmale der Erfindung und die durch sie erreichten Vorteile gehen noch im einzelnen aus der
5 6
nachfolgenden Beschreibung der Zeichnungen hervor, tronenröhre den Elektronenfluß zwischen Kathode
die unter anderem ein Ausführungsbeispiel des Tran- und Anode steuern. Die steuernde Signalquelle ist mit
sistors schematisch veranschaulichen. 8 bezeichnet.
Fig. 1 stellt schematisch einen bekannten unipolaren Da das Gitter 4-4' umgekehrt vorgespannt ist, ist
Transistor dar, wie er von W. Shockley angegeben 5 der in dem Gitterkreis fließende Strom äußerst gering,
wurde; Wie bei einer Elektronenröhre ergibt sich folglich der
Fig. 2 zeigt schematisch einen unipolaren Transistor Verstärkungsgrad dadurch, daß die Steuerelektrode
mit einem konzentrischen Aufbau; einen sehr hohen Widerstand hat.
Fig. 3 bringt nun schematisch einen unipolaren Bekanntlich stößt die Herstellung derartiger uni-
Transistor gemäß der Erfindung; io polarer Transistoren auf beträchtliche Schwierig-
Fig. 4 veranschaulicht schließlich die Strom-Span- keiten. Da nämlich die Tiefe der Raumladungszonen 2
nungskennlinien eines solchen unipolaren Transistors. und 2' höchstens einige 10 μ beträgt, darf die Dicke
Zum besseren Verständnis der Erfindung wird zu- des mittleren Bereichs 7 die Größenordnung von 100 α
nächst an Hand der Fig. 1 kurz an den Aufbau und nicht überschreiten, damit die Modulation des Querden
Betrieb des von W. Shockley in dem oben- 15 Schnitts dieses wirksamen Bereichs überhaupt nennenserwähnten
Artikel beschriebenen bekannten unipolaren wert sein kann. Die Herstellung eines solchen Germa-Transistors
erinnert. Dieser Transistor besteht aus niumplättchens 1, das einerseits eine derartige Dünne
einem Gerrnaniumplättchen 1 des p-Typs, das zwischen und dabei eine praktisch gleichmäßige Stärke aufzwei
Germaniumschichten 4 und 4' des n+-Typs ein- weisen und andererseits aus einem beinahe idealen,
gebettet ist. Selbstverständlich können wie auch in den 20 auf seinen beiden Flächen von mit Verunreinigungen
weiteren noch zu beschreibenden Fig. 2 und 3 die Leit- angereicherten Halbleiterschichten entgegengesetzten
fähigkeitstypen der verschiedenen Teile des Tran- Typs bedeckten Halbleiter bestehen soll, bringt offensistors
umgekehrt werden, und zwar unter der Bedin- sichtlich erhebliche Schwierigkeiten mit sich,
gung, daß das oder die Gitter gegenüber dem Halb- Außerdem birgt dieser unipolare Transistor die Geleiterkörper im umgekehrten Sinne vorgespannt 25 fahr in sich, daß die Raumladungen 2 und 2' über die werden. Außenfläche kurzgeschlossen werden, und zwar insbe-
gung, daß das oder die Gitter gegenüber dem Halb- Außerdem birgt dieser unipolare Transistor die Geleiterkörper im umgekehrten Sinne vorgespannt 25 fahr in sich, daß die Raumladungen 2 und 2' über die werden. Außenfläche kurzgeschlossen werden, und zwar insbe-
Die Zwischenschicht 1 weist an ihren beiden Enden sondere an dem der Saugelektrode benachbarten Ende,
in sie eingelegte metallisch leitende Anschlußkontakt- an dem zwischen dem mittleren Bereich 7 und den
stücke 5 und 6 des p+-Typs auf. Der geerdete Kon- Halbleiterschichten 4 und 4' eine erhebliche Potentakt
6, von dem die Ladungsträger ausgehen, die in 30 tialdifferenz herrscht. Diese Gefahr wird durch die
diesem Falle Löcher sind, stellt die Quellenelektrode Wirkung der Ränder erhöht, die eine Konzentration
dar. Der die Ladungsträger aufnehmende Kontakt 5 des elektrischen Feldes herbeiführen,
ist die Saugelektrode; sie besitzt gegenüber der Ouel- Ein Transistor mit konzentrischem ebenem Aufbau, lenelektrode mit Hilfe der Gleichstromquelle 10 eine wie ein solcher in Fig. 2 dargestellt ist, ist in seiner negative Vorspannung. 35 Herstellung wesentlich einfacher als der der Fig. 1
ist die Saugelektrode; sie besitzt gegenüber der Ouel- Ein Transistor mit konzentrischem ebenem Aufbau, lenelektrode mit Hilfe der Gleichstromquelle 10 eine wie ein solcher in Fig. 2 dargestellt ist, ist in seiner negative Vorspannung. 35 Herstellung wesentlich einfacher als der der Fig. 1
Die beiden seitlichen Schichten 4 und 4' sind über und läßt gewisse der obenerwähnten Nachteile vereinen
Metalldraht miteinander leitend verbunden und meiden.
bilden das Steuergitter des unipolaren Transistors, das Diese Unipolartransistoranordnung der Fig. 2 be-
durch die Gleichstromquelle 9 gegenüber Erdpotential steht aus einem beispielsweise kreisrunden dünnen
vorgespannt ist. In diesem Falle, da für den Halb- +0 Germaniumplättchen, das einen np-Übergang auf weist,
leiterkörper der p-Typ Verwendung findet, ist diese Der Teil 12 vom p-Typ ist der stärkere Teil, um dem
Vorspannung des Gitters gegenüber der Quellenelek- Plättchen die notwendige mechanische Festigkeit zu
trode 6 positiv. Sie wäre gegenüber der gleichen Quel- verleihen, und der nutzbare Teil 11 des η-Typs ist sehr
lenelektrode negativ zu wählen, wenn der Halbleiter- dünn und besitzt eine Stärke, die einige wenige 10 μ
körper vom η-Typ sein würde. Da die beiden Gitter 4 45 nicht überschreiten soll. In Fig. 2 ist die Stärke des
und 4' nun gegenüber dem mittleren Bereich des Teils 11 gegenüber dem Teil 12 übertrieben groß ge-
Plättchens umgekehrt vorgespannt sind, bilden sich in zeichnet.
den an den pn+-Übergängen angrenzenden Halbleiter- Auf der Vorderseite des Plättchens 11 ist auf elek-
schichten Raumladungen. Diese Raumladungszonen trolytischem Wege eine kreisförmige Vertiefung 13
erstrecken sich fast ausschließlich in den gegenüber 50 ausgespart, in der ein Ring 14 aus Indium angeordnet
den n+-Schichten sehr viel weniger leitenden p-Bereich. ist. Der mit dem η-Germanium des Plättchens 11 in
Die zwischen Saugelektrode 5 und Quellenelek- Berührung stehende Teil dieses Ringes 14 gibt mit
trode 6 auf Grund der Stromquelle 10 angelegte Span- dem Plättchen einen sperrenden Kontakt. Der Ring 14
nung ruft in dem Germaniumplättchen 1 ein elektri- bildet das Steuergitter des Unipolartransistors, das
sches Längsfeld hervor. Dieses Feld bewirkt infolge 55 durch die Gleichstromquelle 19 im umgekehrten Sinne
der Verschiebung der gewöhnlich in einem solchen polarisiert, d. h. bei Germanium des η-Typs gegenüber
Plättchen vorhandenen positiven beweglichen Ladun- der Quellenelektrode negativ vorgespannt ist.
gen (Löcher) einen elektrischen Strom. Dieser Strom Auf dem mittleren Teil des Plättchens 11 ist durch kann jedoch nur in dem mittleren Bereich 7, dem söge- Ablagerung von n+-Germanium eine Elektrode 16 genannten leitenden Kanal, fließen, da den beiden äuße- 60 bildet. Eine solche nn+-Schicht verhält sich etwa wie ren, mit Raumladungen behafteten Bereichen 2 und 2' ein metallisch leitender Kontakt. Die so gebildete des Plättchens 1 freie Löcher völlig entzogen sind. Der Elektrode 16 spielt die Rolle der Saugelektrode. Die für den Stromdurchgang zwischen der Saugelektrode 5 Saugelektrode 16 erhält ihre Spannung von derGleich- und der Quellenelektrode 6 nutzbare Querschnitt des stromquelle 20. Auf dem umfänglichen Teil des Plätt-Leitkanals 7 und demzufolge der effektive Widerstand 65 chensll ist eine ringförmige Elektrode 15 aus n+-Gerdieser Schicht ändern sich daher mit der Tiefe der manium angeordnet, die geerdet ist und die Quellen-Raumladungszonen 2 und 2', d. h. mit der an das elektrode bildet. Die steuernde Signalquelle ist mit 18 Gitter 4-4' angelegten Spannung. Diese Spannung bezeichnet.
gen (Löcher) einen elektrischen Strom. Dieser Strom Auf dem mittleren Teil des Plättchens 11 ist durch kann jedoch nur in dem mittleren Bereich 7, dem söge- Ablagerung von n+-Germanium eine Elektrode 16 genannten leitenden Kanal, fließen, da den beiden äuße- 60 bildet. Eine solche nn+-Schicht verhält sich etwa wie ren, mit Raumladungen behafteten Bereichen 2 und 2' ein metallisch leitender Kontakt. Die so gebildete des Plättchens 1 freie Löcher völlig entzogen sind. Der Elektrode 16 spielt die Rolle der Saugelektrode. Die für den Stromdurchgang zwischen der Saugelektrode 5 Saugelektrode 16 erhält ihre Spannung von derGleich- und der Quellenelektrode 6 nutzbare Querschnitt des stromquelle 20. Auf dem umfänglichen Teil des Plätt-Leitkanals 7 und demzufolge der effektive Widerstand 65 chensll ist eine ringförmige Elektrode 15 aus n+-Gerdieser Schicht ändern sich daher mit der Tiefe der manium angeordnet, die geerdet ist und die Quellen-Raumladungszonen 2 und 2', d. h. mit der an das elektrode bildet. Die steuernde Signalquelle ist mit 18 Gitter 4-4' angelegten Spannung. Diese Spannung bezeichnet.
kann demgemäß den in dem Bereich 7 fließenden Strom Die Betriebsweise der Unipolartransistoranordnung
in gleicher Weise wie das Steuergitter einer Elek- 70 gemäß der Fig. 2 ist analog derjenigen des Transistors
der Fig. 1. Jedoch die die Verbindung des Gitters 14 umgebende Raumladungszone, deren Grenze gestrichelt
eingezeichnet ist, besitzt eine Ringform, die die im Zusammenhang mit dem Aufbau der Fig. 1 erwähnten
Randwirkungen aufheben läßt. Andererseits gestattet die in Fig. 2 wiedergegebene Elektrodenanordnung,
zwischen den Elektroden einen äußerst geringen Abstand zu erhalten, wodurch die elektrischen Kennwerte
des betreffenden Unipolartransistors bedeutend verbessert werden. Die Schwierigkeiten in der Herstellung
des Gitters 14 bei dem Aufbau der Fig. 2 wurden bereits oben aufgewiesen.
Die in Fig. 3 dargestellte Transistorenanordnung gemäß der Erfindung besitzt ebenso wie die der Fig. 2
ein kreisförmiges Plättchen 22 aus Germanium des p-Typs, das mit einer dünnen, den nutzbaren Teil bildenden
gedopten Schicht 21 vom η-Typ belegt ist. Auf die Vorderseite dieser Schicht 21 ist durch Diffusion
eine Schicht 27 aus Germanium des n+-Typs aufgebracht.
Wie bereits darauf hingewiesen wurde, besteht das wesentliche Merkmal der Erfindung darin, in der
Schicht 27 aus n+-Germanium auf elektrolytischem Wege die kreisförmige Vertiefung 23 auszusparen, deren
Boden durch die freigelegte Fläche der Verbindung zwischen den Schichten 21 und 27 gebildet ist. Während
der elektrolytischen Behandlung ist der Transistorkörper mit einem Isolierlack belegt und daher
durch den Elektrolyten unbeeinflußbar. In diesen Lacküberzug ritzt man mit einer Diamantspitze an der
Stelle der späteren Vertiefung eine Kreislinie ein. Wenn die elektrolytische Behandlung beendet ist, wird,
während der Lacküberzug immer noch vorhanden ist, in die Vertiefung 23 durch elektrolytischen Niederschlag
ein Ring 24 aus Indium eingebracht, der das Gitter des Unipolartransistors bildet, das seine Spannung
von der Gleichstromquelle 29 erhält. Auf dem mittleren Bereich der Schicht 27 wird durch Ablagerung
von ihr gegenüber noch stärker gedoptem Germanium des n+-Typs eine Elektrode 26 hergestellt,
die die Saugelektrode des Transistors bildet und ihre Spannung von der Gleichstromquelle 30 empfängt. Auf
dem umfänglichen Randbereich der Schicht 27 wird eine ringförmige Elektrode 25 aus gegenüber der
Schicht 27 noch stärker gedoptem Germanium des n+-Typs angeordnet, die geerdet ist und die Quellenelektrode
bildet. Mit 31 ist der pn-übergang vor der Steuerelektrode 24, nämlich die p-Schicht, auf letzterer
als Sperrschicht gegenüber der n+-Schicht 27 angedeutet.
Die steuernde Signalquelle ist mit 28 bezeichnet.
Die Betriebsweise des Unipolartransistors ist die gleiche wie die von Transistoren der Fig. 1 und 2.
Jedoch ist die Feldwirkung bei dem Transistor gemäß der Erfindung stärker als bei den Transistoranordnungen
von Shockley und den bekannten konzentrischen ebenen Aufbauten. Bekanntlich ist nämlich die Feldwirkung
um so besser, je höher der spezifische Widerstand des Halbleiters des Plättchens ist. Hieraus ergibt
sich, daß die Raumladung in dem n-Germanium des Plättchens 21 bedeutet größer als in dem in dem
Teil 27 diffundierten n+-Germanium ist. Somit wird die Reduzierung der »effektiven« Länge in radialer
Richtung der Einschnürungskehle zwischen der Grenzfläche der Raumladung und der durch den Übergang
21-22 gebildeten Grenzebene wesentlich begünstigt. Fig. 4 stellt eine Schar von an einem Unipolartransistor
gemäß der Erfindung experimentell aufgenommenen Strom-Spannungskennlinien dar. Auf der
Abszissenachse ist die Spannung Vä der Saugelektrode
in Volt, auf der Ordinatenachse der von dem Transistor abgegebene Saugstrom Id in Milliampere aufgetragen.
Jede Kennlinie zeigt die S tromspannungsVerhältnisse
bei einem bestimmten Wert der Gitterspannung Vg.
Die wesentlichen Abmessungen des Transistors mit den Kennlinien der Fig. 4 sind folgende:
Durchmesser des Transistors 5 mm
Dicke des η-Germaniums 20' μ
Dicke des n+-Germaniums 25 μ
Durchmesser des die kreisförmige Vertiefung an der freien Fläche des n+-Germaniums begrenzenden
Innenumfangs 2 mm
Breite der Vertiefung an der freien Fläche des n+-Germaniums 50 μ
Breite der am Boden der Vertiefung freigelegten Ringfläche des Germaniums
20 μ
Selbstverständlich erstrecken sich Aufbau und Verfahren, die vorstehend für den Fall beschrieben sind,
bei dem der Transistor nur ein ringförmiges Gitter aufweist, auch auf Transistoren mit zwei, drei oder
mehreren ringförmigen, zueinander konzentrischen Gittern.
Claims (5)
1. Unipolarer Transistor mit einem plattenförmigen Halbleiterkörper und mindestens drei einander
umschließenden Elektroden auf dessen einer Oberfläche, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper
eine Zonenfolge n+np bzw. p+pn hat,
daß auf der n+- bzw. p+-Zone die zwei ohmschen
Elektroden angebracht sind, daß zwischen den beiden Elektroden eine oder mehrere in sich geschlossene,
bis zum n+n- bzw. p+p-Übergang reichende
Vertiefungen vorgesehen sind und daß in diesen Vertiefungen je eine nichtohmsche Elektrode
zum Steuern angebracht ist.
2. Unipolarer Transistor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die n+- bzw. p+-Zone
des Halbleiterkörpers eine Leitfähigkeit besitzt, die mit der Tiefe abnimmt.
3. Unipolarer Transistor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Breite der Vertiefung
bzw. der Vertiefungen sich mit der Tiefe verringert.
4. Unipolarer Transistor nach den Ansprüchen 1 'bis Sf, dadurch gekennzeichnet, daß die mittlere
n- bzw. p-Zone des Halbleiterkörpers eine Dicke von kleiner als 100 μ hat.
5. Verfahren zur Herstellung eines unipolaren Transistors gemäß den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die n+- bzw. p+-Zone
auf einem np- bzw. pn-Halbleiterkörper durch Eindiffundieren
hergestellt wird, daß die Diffusionsschicht mit einer Lackschicht überzogen wird, daß
die Lackschicht längs der zu schaffenden Vertiefung eingeritzt wird, daß dann die Diffusionsschicht bis zum n+n- bzw. p+p-Übergang elektrolytisch
abgetragen wird, daß darauf in die so gewonnene Vertiefung ein zur Bildung der nicht-
1 099 Ö4ö
ohmschen Elektrode geeignetes Metall elektrolytisch niedergeschlagen wird und daß die Lackschicht
entfernt wird und auf die Diffusionsschicht die ohmschen Elektroden angebracht
werden.
In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1034272, 1035 776;
deutsches Gebrauchsmuster Nr. 1 768 285; französische Patentschrift Nr. 1 141 521.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
109 510/347 2.61
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GB (1) | GB899858A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1150153B (de) * | 1962-02-01 | 1963-06-12 | Ibm Deutschland | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes und nach diesem Verfahren hergestelltes Halbleiterbauelement |
DE1237693B (de) * | 1962-02-19 | 1967-03-30 | Motorola Inc | Feldeffekttransistor und Verfahren zu dessen Herstellung |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1245720A (fr) * | 1959-09-30 | 1960-11-10 | Nouvelles structures pour transistor à effet de champ | |
US3189800A (en) * | 1959-12-14 | 1965-06-15 | Westinghouse Electric Corp | Multi-region two-terminal semiconductor device |
DE1197987B (de) * | 1960-01-26 | 1965-08-05 | Fuji Electric Co Ltd | Halbleiterbauelement mit Feldsteuerung fuer Schaltzwecke und Betriebsschaltungen |
NL123575C (de) * | 1960-04-01 | |||
GB921947A (en) * | 1960-05-02 | 1963-03-27 | Westinghouse Electric Corp | Semiconductor device |
NL269131A (de) * | 1960-10-25 | |||
US3242395A (en) * | 1961-01-12 | 1966-03-22 | Philco Corp | Semiconductor device having low capacitance junction |
DE1464669B1 (de) * | 1961-03-06 | 1971-02-04 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Halbleiterdiode mit stark spannungsabhaengiger Kapazitaet |
US3287611A (en) * | 1961-08-17 | 1966-11-22 | Gen Motors Corp | Controlled conducting region geometry in semiconductor devices |
US3171042A (en) * | 1961-09-08 | 1965-02-23 | Bendix Corp | Device with combination of unipolar means and tunnel diode means |
US3223904A (en) * | 1962-02-19 | 1965-12-14 | Motorola Inc | Field effect device and method of manufacturing the same |
NL290035A (de) * | 1962-03-12 | |||
US3246214A (en) * | 1963-04-22 | 1966-04-12 | Siliconix Inc | Horizontally aligned junction transistor structure |
DE1639306B1 (de) * | 1963-05-30 | 1971-10-07 | Licentia Gmbh | Verfahren zum herstellen eines gemeinsamen kontaktes an min destens zwei benachbarten zonen entgegengesetzten leitungs typs eines steuerbaren halbleiterbauelements sowie danach hergestelltes halbleiterbauelement |
FR1377330A (fr) * | 1963-07-26 | 1964-11-06 | Perfectionnements aux dispositifs semiconducteurs à effet de champ à canaux multiples intégrés | |
US3316131A (en) * | 1963-08-15 | 1967-04-25 | Texas Instruments Inc | Method of producing a field-effect transistor |
US3450960A (en) * | 1965-09-29 | 1969-06-17 | Ibm | Insulated-gate field effect transistor with nonplanar gate electrode structure for optimizing transconductance |
NL153947B (nl) * | 1967-02-25 | 1977-07-15 | Philips Nv | Werkwijze voor het vervaardigen van halfgeleiderinrichtingen, waarbij een selectief elektrolytisch etsproces wordt toegepast en halfgeleiderinrichting verkregen met toepassing van de werkwijze. |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1141521A (fr) * | 1954-12-27 | 1957-09-03 | Clevite Corp | Transistor à jonction fonctionnant à grande puissance |
DE1768285U (de) * | 1955-10-29 | 1958-06-12 | Siemens Ag | Flaechengleichrichter bzw. -transistor. |
DE1034272B (de) * | 1954-08-17 | 1958-07-17 | Gen Motors Corp | Unipolartransistor-Anordnung |
DE1035776B (de) * | 1954-09-27 | 1958-08-07 | Ibm Deutschland | Transistor mit einem flachen Halbleiterkoerper und mehreren sperrfreien und sperrenden Elektroden |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE500302A (de) * | 1949-11-30 | |||
US2764642A (en) * | 1952-10-31 | 1956-09-25 | Bell Telephone Labor Inc | Semiconductor signal translating devices |
NL198572A (de) * | 1954-07-27 |
-
1958
- 1958-08-29 FR FR1210880D patent/FR1210880A/fr not_active Expired
-
1959
- 1959-08-14 CH CH7701259A patent/CH370488A/fr unknown
- 1959-08-17 DE DEF29194A patent/DE1099646B/de active Pending
- 1959-08-26 US US836202A patent/US2952804A/en not_active Expired - Lifetime
- 1959-08-27 GB GB29298/59A patent/GB899858A/en not_active Expired
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1034272B (de) * | 1954-08-17 | 1958-07-17 | Gen Motors Corp | Unipolartransistor-Anordnung |
DE1035776B (de) * | 1954-09-27 | 1958-08-07 | Ibm Deutschland | Transistor mit einem flachen Halbleiterkoerper und mehreren sperrfreien und sperrenden Elektroden |
FR1141521A (fr) * | 1954-12-27 | 1957-09-03 | Clevite Corp | Transistor à jonction fonctionnant à grande puissance |
DE1768285U (de) * | 1955-10-29 | 1958-06-12 | Siemens Ag | Flaechengleichrichter bzw. -transistor. |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1150153B (de) * | 1962-02-01 | 1963-06-12 | Ibm Deutschland | Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes und nach diesem Verfahren hergestelltes Halbleiterbauelement |
DE1237693B (de) * | 1962-02-19 | 1967-03-30 | Motorola Inc | Feldeffekttransistor und Verfahren zu dessen Herstellung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US2952804A (en) | 1960-09-13 |
FR1210880A (fr) | 1960-03-11 |
GB899858A (en) | 1962-06-27 |
CH370488A (fr) | 1963-07-15 |
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