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Die
Erfindung betrifft einen Überlastschutz für eine Schaltungsanordnung
mit einem Transistor.
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Transistoren,
insbesondere Leistungstransistoren, wie z. B. Leistungs-MOSFET oder
Leistungs-IGBT, können
als Schalter zum Schalten elektrischer Lasten eingesetzt werden.
Solche Lasten können
induktive Lasten, wie z. B. Elektromotoren oder Magnetventile, sein.
Induktive Lasten nehmen bei leitend angesteuertem Transistor elektrische
Energie auf, die bei sperrend angesteuertem Transistor über eine
Abkommutierungsschaltung abkommutieren muss.
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Der
Transistor selbst kann Teil einer Abkommutierungsschaltung sein,
die dazu dient, die in der Last gespeicherte elektrische Energie
in Wärme
umzusetzen. Ein Halbleiterkörper
bzw. Halbleiterchip, in dem der Transistor integriert ist, erwärmt sich
während
einer Abkommutierung der Last. Hierbei sollte ein kritischer Betriebszustand,
bei dem die Gefahr einer Beschädigung
oder Zerstörung
des Transistors besteht, verhindert werden.
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Die
Wärmeleistung,
die ein Transistor aufnehmen kann, ohne dass ein kritischer Betriebszustand
erreicht wird, ist von verschiedenen Parametern abhängig, wie
z. B. der Chipfläche
oder vom Vorhandensein spezieller Kühlmaßnahmen, wie z. B. Kühlkörper. In
Datenblättern
von Leistungstransistoren ist eine maximale Verlustleistung, eine
maximale Abkommutierungsenergie, ein maximal zulässiger Strom, eine maximal
zu schaltende Induktivität
oder ein maximaler Duty-Cycle angegeben, die nicht überschritten
werden sollten. Ob diese Spezifizierung durch Kunden allerdings
beachtet wird, kann der Hersteller von Leistungstransistoren allerdings
nicht beeinflussen.
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Aufgabe
der vorliegenden Erfindung ist es, eine Ansteuerschaltung für einen
Transistor zur Verfügung
zu stellen, die den Transistor vor einer Überlastung schützt, ein
Verfahren zur Ansteuerung eines Transistors zur Verfügung zu
stellen, bei dem der Transistor vor einer Überlastung geschützt ist,
und eine Schaltungsanordnung mit einem Transistor zur Verfügung zu
stellen, bei der der Transistor vor einer Überlastung geschützt ist.
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Diese
Aufgabe wird durch eine Ansteuerschaltung nach Anspruch 1, ein Verfahren
nach Anspruch 15 und eine Schaltungsanordnung nach Anspruch 29 gelöst. Ausgestaltungen
und Weiterbildungen sind Gegenstand von Unteransprüchen.
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Ein
Aspekt der Erfindung betrifft eine Ansteuerschaltung für einen
Transistor, die einen Ausgang zur Bereitstellung eines Ansteuersignals
für den Transistor
aufweist, die dazu ausgebildet ist, den Transistor hinsichtlich
des Auftretens einer Überlastung
zu überwachen,
und die dazu ausgebildet ist, einen Überlastungsschutzzustand anzunehmen,
in dem sie den Transistor leitend ansteuert, wenn sie eine Überlastung
des Transistors detektiert.
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Ein
weiterer Aspekt betrifft ein Verfahren zur Ansteuerung eines Transistors,
der eine Laststrecke und einen Ansteueranschluss aufweist, wobei
das Verfahren aufweist: Detektieren einer Überlastung des Transistors;
Betreiben des Transistors in einem Überlastungsschutzzustand, in
dem der Transistor leitend angesteuert wird, wenn eine Überlastung
detektiert wird.
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Ein
weiterer Aspekt betrifft eine Schaltungsanordnung, die aufweist:
einen Transistor, der einen Ansteueranschluss und eine Laststrecke
aufweist; eine Ansteuerschaltung mit einem Ausgang, der an den Ansteueranschluss
des Transistors angeschlossen ist und die dazu ausgebildet ist,
den Transistor hinsichtlich des Auftretens einer Überlastung
zu überwachen,
und die dazu ausgebildet ist, einen Überlastungsschutzzustand anzunehmen,
in dem sie den Transistor leitend ansteuert, wenn sie eine Überlastung
des Transistors detektiert.
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Beispiele
werden nachfolgend unter Bezugnahme auf Figuren erläutert. Der
Schwerpunkt liegt dabei auf der Erläuterung des Grundprinzips.
In den Figuren sind somit lediglich die zum Verständnis dieses
Grundprinzips notwendigen Teile bzw. Signale dargestellt. In den
Figuren bezeichnen, sofern nicht anders angegeben, gleiche Bezugszeichen
gleiche Teile mit gleicher Bedeutung.
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1 veranschaulicht
eine Schaltungsanordnung mit einem Transistor und einer Ansteuerschaltung
für den
Transistor anhand eines Blockschaltbilds.
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2 veranschaulicht
die Funktionsweise eines ersten Beispiels der Ansteuerschaltung
anhand eines Zustandsdiagramms.
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3 veranschaulicht
ein Realisierungsbeispiel einer Spannungsbegrenzungsschaltung der
Ansteuerschaltung.
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4 veranschaulicht
ein erstes Beispiel eines Überlastungsdetektors
der Ansteuerschaltung.
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5 veranschaulicht
ein zweites Beispiel eines Überlastungsdetektors
der Ansteuerschaltung.
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6 veranschaulicht
ein drittes Beispiel eines Überlastungsdetektors
der Ansteuerschaltung.
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7 veranschaulicht
ein Beispiel einer Schaltungsanordnung zur Detektion eines Spannungsbegrenzungszustands.
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8 veranschaulicht
ein weiteres Beispiel eines Überlastungsdetektors
der Ansteuerschaltung.
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9 veranschaulicht
ein weiteres Beispiel der Ansteuerschaltung anhand eines Zustandsdiagramms.
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10 veranschaulicht
die Funktionsweise eines Beispiels der Ansteuerschaltung anhand
zeitlicher Signalverläufe.
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11 veranschaulicht
die Funktionsweise eines weiteren Beispiels der Ansteuerschaltung
anhand eines Zustandsdiagramms.
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12 veranschaulicht
anhand eines Zustandsdiagramms ein erstes Beispiel für einen
Zustandsübergang
von einem Überlastungsschutzzustand
zu einem Aus-Zustand.
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13 veranschaulicht
anhand eines Zustandsdiagramms ein zweites Beispiel für einen
Zustandsübergang
von einem Überlastungsschutzzustand
zu einem Aus-Zustand.
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14 veranschaulicht
anhand eines Zustandsdiagramms ein weiteres Beispiel für einen
Zustandsübergang
von einem Überlastungsschutzzustand
zu einem Aus-Zustand.
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1 veranschaulicht
ein Beispiel einer Ansteuerschaltung 10 für einen
Transistor. Zum besseren Verständnis
der Funktionsweise dieser Ansteuerschaltung 10 ist in 1 auch
ein durch diese Ansteuerschaltung 10 angesteuerter Transistor 1 dargestellt.
Der Transistor 1 umfasst einen Ansteueranschluss 11 und
erste und zweite Laststreckenanschlüsse 12, 13,
zwi schen denen eine Laststrecke verläuft. Der Transistor ist beispielsweise
ein MOSFET, insbesondere ein Leistungs-MOSFET, der einen Gateanschluss
als Ansteueranschluss 11, sowie Drain- und Sourceanschlüsse als
erste und zweite Laststreckenanschlüsse aufweist. Der Transistor 1 der
in 1 zur Erläuterung
dargestellt ist, ist ein selbstsperrender n-Kanal-MOSFET. Es sei darauf hingewiesen,
dass die Verwendung eines solchen MOSFET als Transistor 1 lediglich
als Beispiel zu verstehen ist und dass selbstverständlich beliebige
andere Arten von MOS-Transistoren wie z. B. p-Kanal-MOSFET oder
IGBT, oder auch Bipolartransistoren verwendet werden können.
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Die
Schaltungsanordnung mit dem Transistor 1 und der Ansteuerschaltung 10 kann
zum Schalten einer elektrischen Last verwendet werden. Die Laststrecke 12–13 des
Transistors 1 wird in diesem Fall in Reihe zu der Last
zwischen Klemmen für
erste und zweite Versorgungspotentiale bzw. positive und negatives
Versorgungspotentiale geschaltet. Zu Zwecken der weiteren Erläuterung
ist eine solche in Reihe zu der Laststrecke 12–13 des
Transistors 1 geschaltete Last Z in 1 ebenfalls
dargestellt. GND bezeichnet in 1 ein Bezugspotential,
und V+ bezeichnet ein positives Versorgungspotential bzw. eine auf
Bezugspotential GND bezogene Versorgungsspannung. Die Last Z ist
in dem dargestellten Beispiel zwischen den Transistor 1 und
eine Klemme für
ein positives Versorgungspotential V+ geschaltet, der Transistor 1 ist
als sogenannter Low-Side-Schalter verschaltet. Dies ist lediglich
als Beispiel zu verstehen. Das nachfolgend erläuterte Grundprinzip einer Ansteuerung
des Transistors 1 gilt in entsprechender Weise auch für sogenannte
High-Side-Schalter, bei denen die Last zwischen den Transistor und
eine Klemme für
ein negatives Versorgungspotential bzw. Bezugspotential geschaltet
ist.
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Um
die Last Z einzuschalten, steuert die Ansteuerschaltung 10 den
Transistor 1 leitend an, und um die Last auszuschalten
steuert die Ansteuerschaltung 10 den Transistor 1 sperrend
an. Eine leitende und sperrende Ansteuerung des Transistors 1 erfolgt
bei einem normalen Betrieb der Ansteuerschaltung 10 nach
Maßgabe
eines Schaltsignals Sin, das einem Eingang 14 der Ansteuerschaltung 10 zugeführt ist.
Eine Erzeugung dieses Schaltsignals Sin kann durch eine nicht näher dargestellte
zentrale Steuerschaltung, wie zum Beispiel einen Mikrocontroller
erfolgen.
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Die
Ansteuerschaltung 10 weist eine Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 und
einen Überlastungsdetektor 3 auf.
Der Überlastungsdetektor 3,
der in 1 schematisch dargestellt ist, ist dazu ausgebildet,
eine Überlastung
des Transistors 1 zu detektieren und ein Überlastungssignal
S3 zu erzeugen. Das Überlastungssignal
S3 weist einen Signalpegel auf, der davon abhängig ist, ob eine solche Überlastung
des Transistors 1 vorliegt. Das Überlastungssignal S3 ist beispielsweise
ein zweiwertiges Signal, das einen ersten Signalpegel annimmt, der
nachfolgend auch als Überlastungspegel
bezeichnet wird, wenn eine Überlastung
des Transistors 1 detektiert wird, und das sonst einen
zweiten Signalpegel annimmt. Die Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 kann
beispielsweise ein Mikrocontroller oder ein Teil eines Mikrocontrollers
sein.
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Der
Transistor 1 ist in nicht näher dargestellter Weise in
einem Halbleiterkörper
bzw. Halbleiterchip integriert. Der Überlastungsdetektor 3 kann
dabei in dem selben Halbleiterchip wie der Transistor 1 integriert
sein. Es besteht jedoch auch die Möglichkeit, den Überlastungsdetektor 3 in
einem separaten Halbleiterchip zu integrieren, der in Chip-an-Chip-Technologie, auf
dem Halbleiterchip des Transistors 1 oder in Chip-by-Chip-Technologie neben
dem Halbleiterchip des Transistors 1 angeordnet ist.
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Eine Überlastung
des Transistors 1 liegt vor, wenn sich der Transistor 1 in
einem kritischen Betriebszustand befindet oder wenn das Erreichen
eines solchen kritischen Betriebszustandes droht. Ein kritischer
Betriebszustand liegt beispielsweise dann vor, wenn eine Temperatur
des Transistors 1 bzw. eines Halbleiterkörpers (nicht
dargestellt), in dem der Transistor 1 integriert ist, eine
kritische Temperatur erreicht. Diese kritische Temperatur ist so
gewählt, dass
sie unterhalb einer Temperatur liegt, ab der die Gefahr einer Beschädigung oder
Zerstörung
des Transistors 1 droht.
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Eine
solche Überlastung
des Transistors 1 kann auf verschiedene Weise ermittelt
werden, wie z. B. durch: Messen der Temperatur des Transistors 1 bzw.
des Halbleiterkörpers;
Messen der in dem Transistor 1 während eines vorgegebenen Zeitfensters
in Wärme
umgesetzten elektrischen Energie; Messen der in dem Transistor 1 in
Wärme umgesetzten
elektrischen Leistung; Messen einer Zeitdauer, während der bei Ansteuerung einer
induktiven Last die Last abkommutiert; ...
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Das
von dem Überlastungsdetektor 3 bereitgestellte Überlastungssignal
S3, das eine Überlastung
des Transistors 1 anzeigt, und das Schaltsignal Sin sind
der Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 zugeführt, die
abhängig
von diesen Signalen ein Ansteuersignal S2 erzeugt, das dem Ansteueranschluss 11 des
Transistors 1 zugeführt
ist. Die Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 kann eine
Logikschaltung sein, das Ansteuersignal S2 kann dementsprechend
ein Logiksignal, das – je
nach Technologie – Signalpegel
zwischen 0 V und 5 V oder 0 V und 3 V annimmt. Zur Umsetzung solcher
Logiksignalpegel auf zur Ansteuerung des Transistors 1 geeignete
Signalpegel ist optional eine Treiberschaltung 5 (in 1 gestrichelt
dargestellt) vorgesehen, die zwischen die Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 und den
Ansteueranschluss 11 des Transistors 1 geschaltet
ist.
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Für die nachfolgende
Erläuterung
sei angenommen, dass das Ansteuersignal S2 ein zweiwertiges Signal
ist, das einen Einschaltpegel und einen Ausschaltpegel annehmen
kann und dass der Transistor 1 bei einem Einschaltpegel
des Ansteuersignals S2 vollständig
leitend angesteuert ist. Der in dem dargestellten Beispiel als Transistor
vorgesehene MOSFET 1 leitet abhängig von einer zwischen seinem
Gateanschluss 11 und seinem Sourceanschluss 13 anliegenden
Gate-Source-Spannung. Vollständig
leitend angesteuert ist der MOSFET 1 dann, wenn diese Gate-Source-Spannung
deutlich oberhalb einer Einsatzspannung des MOSFET liegt, wenn die
Gate-Source-Spannung also beispielsweise das 5-fache bis 10-fache
der Einsatzspannung beträgt.
Bei MOSFET auf Siliziumbasis liegt die Einsatzspannung etwa im Bereich
von 2 V bis 3 V.
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Bezugnehmend
auf 2, die ein Zustandsdiagramm der Ansteuerschaltung 10 zeigt,
kann die Ansteuerschaltung 10 wenigstens drei unterschiedliche
Betriebszustände
annehmen: einen Aus-Zustand 101, bei dem das Schaltsignal
Sin und das Ansteuersignal S2 jeweils einen Ausschaltpegel aufweisen;
einen Ein-Zustand 102, bei dem das Schaltsignal Sin und
das Ansteuersignal S2 jeweils einen Einschaltpegel aufweisen; und
einen Überlastschutzzustand 103 bei
dem das Ansteuersignal S2 unabhängig
von dem Schaltsignal Sin einen Einschaltpegel annimmt, um den Transistor 1 leitend
anzusteuern. Sin = H steht in 1 und in
folgenden Figuren für
einen Einschaltpegel und Sin = L steht für einen Ausschaltpegel des
Schaltsignals Sin. Die Ansteuerschaltung 10 geht in den Überlastschutzzustand 103 über, wenn
eine Überlastung
des Transistors 1 vorliegt. OL = T (OL für Overload,
T für True)
steht in 1 und in folgenden Figuren für eine detektierte Überlastung.
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Der
Transistor 1 wird im Ein-Zustand 102 und im Überlastschutzzustand 103 in
gleicher Weise leitend angesteuert. Nach Außen hin, d. h. bezüglich eines
die Last Z und den Transistor 1 durchfließenden Laststromes
I1, unterscheiden sich diese beiden Betriebszustände 102, 103 nicht.
Eine leitende Ansteuerung des Transistors 1 im Überlastschutzzustand 103 erfolgt
allerdings unabhängig
von dem Schaltsignal Sin und erfolgt mit dem Ziel, durch eine leitende Ansteuerung
des Transistors 1 das Erreichen eines kritischen Betriebszustandes
des Transistors zu verhindern bzw. zu Erreichen, dass der Transistor
einen solchen kritischen Betriebszustand wieder verlässt, um
damit eine mögliche
Beschädigung
oder Zerstörung
des Transistors 1 zu verhindern, wie nachfolgend noch erläutert wird.
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Wenn
sich die Ansteuerschaltung 10 im Aus-Zustand befindet,
wenn das Ansteuersignal S2 also einen Ausschaltpegel aufweist, besteht
die Gefahr eines kritischen Betriebszustandes, beispielsweise dann,
wenn der Transistor 1 in den Avalanchebetrieb übergeht.
Ein solcher Übergang
des Transistors 1 in den Avalanchebetrieb kann beispielsweise durch
eine induktive Last Z verursacht sein, in der nach einem Abschalten
des Transistors 1 eine so hohe Spannung induziert wird,
dass eine Spannung V1 über
der Laststrecke des Transistors 1 bis auf dessen Avalanchedurchbruch-Spannung
ansteigt, so dass der Transistor 1 durchbricht. Der Widerstand der
Laststrecke des Transistors 1 ist im Avalanchebetrieb wesentlich
höher als
der Einschaltwiderstand im leitend angesteuerten Zustand, so dass
im Avalanchebetrieb die Temperatur des Transistors 1 ansteigen
kann. Wie weit die Temperatur ansteigt ist beispielsweise abhängig davon,
wie viel Energie zuvor in der induktiven Last Z gespeichert wurde.
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Die
Gefahr, dass der Transistor 1 einen kritischen Betriebszustand
annimmt, kann auch durch eine Spannungsbegrenzungsschaltung 4,
die auch als Abkommutierungsschaltung oder Klemmschaltung bezeichnet
wird, bedingt sein. Eine solche Spannungsbegrenzungsschaltung ist
optional vorhanden und ist in 1 gestrichelt
dargestellt und mit dem Bezugszeichen 4 bezeichnet. Diese
Spannungsbegrenzungsschaltung 4 ist dazu ausgebildet, eine über der
Laststrecke 12–13 anliegende
Laststreckenspannung V1 durch Aufsteuern des Transistors 1 nach
oben hin zu begrenzen, wenn das Ansteuersignal S2 einen Ausschaltpegel
aufweist. Die Spannung, auf welche die Spannungsbegrenzungsschaltung 3 die
Spannung zwischen dem ersten Laststreckenanschluss und dem Ansteueranschluss
begrenzt, wird nachfolgen als Klemmspannung bezeichnet. In dem dargestellten
Beispiel ist die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 zwischen
dem der Last Z zugewandten Laststreckenanschluss (Drainanschluss) 12 des
Transistors 1 und den Ansteueranschluss 11 geschaltet.
Das elektrische Potential an diesem Laststreckenanschluss 12 entspricht
in diesem Fall der Laststreckenspannung V12. Eine solche Art der
Verschaltung, die in 1 für einen n-Kanal-MOSFET dargestellt, der als Low-Side-Schalter geschaltet
ist, gilt in nicht dargestellter Weise auch für einen n-Kanal-MOSFET als High-Side-Schalter oder
einen p-Kanal-MOSFET,
sei es als Low-Side- oder als High-Side-Schalter.
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Die
Spannungsbegrenzungsanordnung 4 bildet zusammen mit dem
Transistor 1 einen Regelkreis. In diesem Regelkreis wird
der Transistor durch die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 jeweils
so weit aufgesteuert, dass die Laststreckenspannung V1 nicht über einen
vorgegebenen Spannungsgrenzwert ansteigt. In nicht näher dargestellter
Weise kann ein Gleichrichterelement zwischen die Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 bzw.
die Treiberschaltung 5 und die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 geschaltet
sein, das verhindert, dass ein über
die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 fließender Strom über die
Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 bzw. die Treiberschaltung 5 abfließt.
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3 zeigt
ein Beispiel einer solchen Spannungsbegrenzungsanordnung 4.
Diese Spannungsbegrenzungsanordnung weist ein oder mehrere Spannungsbegrenzungselemente 41, 42, 4n,
die zwischen den ersten Laststreckenanschluss 12 und den
Ansteueranschluss 11 geschaltet sind. Diese Spannungsbegrenzungselemente
sind in dem dargestellten Beispiel Zenerdioden 41, 42, 4n,
die in Sperrrichtung zwischen den Laststreckenanschluss 12 und
den Ansteueranschluss geschaltet sind. In Sperrrichtung zwischen
den Ansteueranschluss 11 und den Laststreckenanschluss 12 ist
außerdem
ein Gleichrichterelement, in dem Beispiel eine Diode, geschaltet,
die bei leitend angesteuertem Transistor 1 verhindert,
dass das Ansteuerpotential am Ansteueranschluss 11 dem
elektrischen Potential des ersten Laststreckenanschlusses 12 folgt.
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Die
Funktionsweise einer solchen Spannungsbegrenzungs- oder Abkommutierungsschaltung 4 wird
nachfolgend für
den Fall erläutert,
dass die Last Z eine induktive Last ist. Eine induktive Last Z speichert
bei leitend angesteuertem Transistor 1 elektrische Energie.
Nach sperrender Ansteuerung des Transistors 1, also im
Aus-Zustand der Ansteuerschaltung 10, ermöglicht die
Spannungsbegrenzungsschaltung 4 ein Abkommutieren der induktiven Last.
Der Transistor wird hierbei nur so weit aufgesteuert, dass die Laststreckenspannung
V1 nicht über
den vorgegebenen Laststreckenschwellenwert ansteigt bzw. dass dessen
Einschaltwiderstand wesentlich größer ist als der Einschaltwiderstand
bei vollständig
leitend angesteuertem Transistor. Die Temperatur des Transistors 1 steigt
während
einer solchen Abkommutierung einer induktiven Last an, wodurch die
Gefahr besteht, dass der Transistor 1 einen kritischen
Betriebszustand annimmt.
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Die
in der induktiven Last Z gespeicherte elektrische Energie wird während dieses
Abkommutierungsvorgangs in dem Transistor 1 in Wärme umgesetzt.
Die Wärmeleistung,
die der Transistor 1 dabei aufnehmen muss, ist unter anderem
abhängig von
dem Induktivitätswert
der induktiven Last Z und der Zeitdauer, für welche die Last zuvor bei
leitend angesteuertem Transistor 1 elektrische Energie
aufgenommen hat. Erfolgt die Ansteuerung der Last Z getaktet, so
ist die im Aus-Zustand der Ansteuerschaltung von dem Transistor 1 aufzunehmende Wärmeleistung
unmittelbar abhängig
von dem Duty-Cycle der getakteten Ansteuerung.
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Eine
leitende Ansteuerung des Transistors 1 im Ein-Zustand 102 und
im Übertemperaturschutzzustand 103 einerseits
und während
der Abkommutierung einer induktiven Last andererseits, unterscheiden
sich in erläuterter
Weise hinsichtlich des Einschaltwiderstands des Transistors 1.
Die Ansteuerung des Transistors 1 während der zuerst genannten
Zustände 102, 103 erfolgt
mit dem Ziel, den Transistor 1 vollständig lei tend anzusteuern, d.
h. den Transistor 1 mit minimal möglichem Einschaltwiderstand
zu betreiben. Das Ansteuersignal S2 weist hierzu einen geeigneten
Ansteuerpegel auf, der durch die optional vorhandene Treiberschaltung 5 gegebenenfalls
noch verstärkt
wird. Während
einer Abkommutierungsphase erfolgt die Ansteuerung des Transistors 1 hingegen
mit dem Ziel, die Laststreckenspannung V1 so weit zu begrenzen,
dass eine Beschädigung
bzw. Zerstörung
des Transistors 1 verhindert wird, dass ein Einschaltwiderstand
des Transistors 1 jedoch so hoch ist, dass die Last möglichst rasch
abkommutiert, d. h. dass die in der Last gespeicherte Energie möglichst
rasch in Wärme
umgesetzt wird.
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Bei
einem Beispiel ist vorgesehen, den Transistor 1 im Überlastschutzzustand 103 mit
einer anderen Ansteuerspannung anzusteuern als bei einem Einschalten
im Ein-Zustand 102. Die Ansteuerschaltung 2 oder
die Treiberschaltung 5, der das Überlastungssignal S3 optional
zugeführt
ist, ist in diesem Fall dazu ausgebildet, den Signalpegel des Ansteuersignals
S2 abhängig
von dem Signalpegel des Überlastungssignals
S3 einzustellen.
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Bei
einem weiteren Beispiel ist vorgesehen, eine Klemmspannung, auf
welche eine optional vorhandene Spannungsbegrenzungsschaltung 4 die Spannung
zwischen dem ersten Laststreckenanschluss 12 und dem Ansteueranschluss 11 begrenzt, abhängig von
dem Signalpegel des Überlastungssignals
S3 einzustellen und zwar beispielsweise derart, dass diese Klemmspannung
des Transistors 1 im Überlastschutzzustand 103 geringer
ist als im Ein-Zustand 102. Der Spannungsbegrenzungsschaltung 4 ist
zu diesem Zweck das Überlastungssignal S3
zugeführt.
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Bei
einer Spannungsbegrenzungsschaltung 4 gemäß 3 kann
eine solche Reduktion der Klemmspannung beispielsweise durch einen
Schalter 44 erreicht werden, der parallel zu einer oder
zu mehreren der Zenerdioden 41–4n geschaltet ist
und der durch das Überlastungssignal
S3 angesteuert ist. Weist das Überlastungssignal
S3 einen Überlastungspegel
auf, so überbrückt der
Schalter die eine oder die mehreren Zenerdioden, zu denen er parallel geschaltet
ist, und bewirkt so eine Reduktion der Klemmspannung. Der Überlastschutzzustand 103 stellt
eine Sicherungsmaßnahme
dar, die eine Beschädigung
oder gar eine Zerstörung
des Transistors 1 durch verhindern soll. Der Überlastungsdetektor
ist dazu ausgebildet, eine Überlastung
des Transistors 1, bei der ein Übergang der Ansteuerschaltung 2 in den Überlastschutzzustand 103 erfolgt,
zu detektieren noch bevor ein kritischer Betriebszustand des Transistors 1 erreicht
wird. Ein solcher kritischer Betriebszustand könnte beispielsweise dann erreicht werden,
wenn der Transistor 1 zum Schalten von induktiven Lasten
eingesetzt wird, für
die er nicht spezifiziert ist. Das sind beispielsweise Lasten, die
bei eingeschaltetem Transistor 1 mehr elektrische Energie
aufnehmen, als anschließend
im Transistor ohne diesen zu beschädigen 1 in Wärme umgesetzt
werden kann Bei einer solchen Überlastung
wird einem Einschalten der Last Z vor einer Zerstörung des
Transistors 1 der Vorzug gegeben. Die Last Z ist in diesem
Fall über
das Schaltsignal Sin nicht mehr schaltbar. Durch zusätzliche
Sicherungen (nicht dargestellt), wie zum Beispiel Schmelzsicherungen
im Laststromkreis, kann in diesem Fall ein übermäßiges Ansteigen des Laststromes
verhindert werden.
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Eine
dauerhaft oder wenigstens vorübergehend
nicht mehr schaltbare Last stellt grundsätzlich einen nicht erwünschten
Betriebszustand dar. Wird ein Transistor im Vergleich dazu jedoch überlastet,
so dass dessen Temperatur bis auf den Wert einer Beschädigungs-
oder Zerstörungstemperatur
ansteigt, so kann ein Kurzschluss der Laststrecke des Transistors
auftreten. Insofern unterscheidet sich der Überlastschutzzustand 103 nicht
von einem Fehlerzustand, der bei beschädigtem oder zerstörten Transistor
auftritt, mit dem Unterschied, dass bei einem beschädigten oder
zerstörten
Transistor zusätzlich
aufgrund des kritischen Betriebszustandes auch eine Gefahr für weitere
Schaltungskomponenten einer Schaltung besteht, in der die Schaltungsanordnung mit
dem Transistor und der Ansteuerschaltung eingesetzt wird. Die Ansteuerschaltung 10 kann
dazu ausgebildet sein, nach einem Übergang in den ersten Temperaturschutzzustand
dauerhaft in diesen Überlastschutzzustand 103 zu
verbleiben. Die Ansteuerschaltung 10 kann jedoch auch dazu
ausgebildet sein, den Überlastschutzzustand
unter bestimmten Voraussetzungen wieder zu verlassen und beispielsweise
in den Aus-Zustand 101 oder den Ein-Zustand 102 überzugehen
(in 2 gestrichelt dargestellt), was nachfolgend noch
erläutert
werden wird.
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Eine Überlastung
des Transistors 1 kann auf verschiedene Weise bzw. anhand
verschiedener Betriebsparameter detektiert werden. In diesem Zusammenhang
sei darauf hingewiesen, dass im Zusammenhang mit der vorliegenden
Beschreibung eine Überlastung
des Transistors dann vorliegt, wenn einer oder mehrere Betriebsparameter
darauf hindeuten, dass die Gefahr besteht, dass der Transistor 1 einen
kritischen Betriebszustand annimmt. Geeignete Betriebsparamater
zur Detektion einer solchen Überlastung
ist beispielsweise die Temperatur des Transistors, eine in dem Transistor
in Wärme
umgesetzte elektrische Energie, der während eines Abkommutierens
fließende
Strom oder eine Abkommutierungsdauer. Realisierungsbeispiele für den Überlastungsdetektor 3,
der das Überlastungssignal
S3 erzeugt, werden nachfolgend erläutert.
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Bei
einem ersten Beispiel ist vorgesehen, für die Detektion einer Überlastung
des Transistors 1 eine Temperatur des Transistors 1 zu
ermitteln und auszuwerten. Ein Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 wird in diesem Fall dann erzeugt, wenn diese Temperatur einen
vorgegebenen ersten Schwellenwert Treff übersteigt. 4 veranschaulicht
einen Überlastungsdetektor 3 mit
einer solchen Funktionalität.
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Dieser Überlastungsdetektor 3 umfasst
einen Temperatursensor 311, der ein Temperatursignal bzw.
Temperaturmesssignal ST erzeugt, das die
Temperatur des Transistors repräsentiert,
und eine Referenzsignalquelle 312, die ein Referenzsignal
STref1 bereitstellt, dass den ersten Temperaturschwellenwert Tref1 repräsentiert.
Das Temperatursignal ST und das Referenzsignal
STref1 sind einem Vergleicher 313 zugeführt, der
diese beiden Werte vergleicht und der einen Ausgang aufweist, an
dem das Überlastungssignal
S3 zur Verfügung
steht. Der Vergleicher 313 ist dazu ausgebildet, einen Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 dann zu erzeugen, wenn das Temperatursignal ST darauf
hinweist, dass die Temperatur des Transistors 1 oberhalb
des durch das Referenzsignal STref1 repräsentierten
Schwellenwertes liegt. In dem in 4 dargestellten
Beispiel ist dies dann der Fall, wenn das Temperatursignal ST das Referenzsignal STref1 übersteigt.
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Bei
einem zweiten Beispiel ist vorgesehen, dass die während eines
vorgegebenen Zeitfensters in dem Transistor in Wärme umgesetzte elektrische Energie
gemessen und mit einem Energieschwellenwert Eref verglichen wird.
Ein Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 wird in diesem Fall dann erzeugt, wenn diese Energie den Energieschwellenwert
Eref übersteigt.
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5 veranschaulicht
einen Überlastungsdetektor 3 mit
einer solchen Funktionalität.
Dieser Überlastungsdetektor 3 umfasst
einen Leistungssensor 321, der an die Laststrecke des Transistors 1 angeschlossen
ist und der dazu ausgebildet ist, ein Leistungssignal bzw. Leistungsmesssignal
SP zu erzeugen, das eine momentan in dem
Transistor 1 in Wärme
umgesetzte elektrische Leistung repräsentiert. Der Leistungssensor
umfasst in nicht näher
dargestellter Weise beispielsweise eine Spannungsmessanordnung zur
Messung einer Spannung über der
Laststrecke des Transistors 1, eine Strommessanordnung
zur Messung eines Stromes durch die Laststrecke und einen Multiplizierer,
der von der Spannungsmessanordnung und der Strommessanordnung erzeugte
Messsignale zur Erzeugung des Leistungssignals SP multipliziert.
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Das
Leistungssignal SP ist einem Integrierer 322 zugeführt, der
dazu ausgebildet ist, das Leistungssignal SP während eines
vorgegebenen Zeitfensters, das ein gleitendes Zeitfenster sein kann, aufzuintegrieren
und ein Energiesignal SE zur Verfügung zu
stellen. Dieses Energiesignal SE repräsentiert
die während
des Zeitfensters in dem Transistor 1 in Wärme umgesetzte
elektrische Energie. Der Überlastungsdetektor 3 umfasst
außerdem
eine Referenzsignalquelle 323, die ein Referenzsignal SIref bereitstellt, dass den Energieschwellenwert
Eref repräsentiert.
Das Energiesignal SE und das Referenzsignal
SEref sind einem Vergleicher 324 zugeführt, der diese
beiden Werte vergleicht und der einen Ausgang aufweist, an dem das Überlastungssignal
S3 zur Verfügung
steht. Der Vergleicher 324 ist dazu ausgebildet, einen Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 dann zu erzeugen, wenn das Energiesignal SE darauf
hinweist, dass die im Transistor 1 während des Zeitfensters in Wärme umgesetzte elektrische
Energie oberhalb des durch das Referenzsignal SEref repräsentierten
Schwellenwertes Eref liegt. In dem in 5 dargestellten
Beispiel ist dies dann der Fall, wenn das Energiesignal SE das Referenzsignal SEref übersteigt.
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Bei
einem dritten Beispiel ist vorgesehen, den Laststrom des Transistors 1 während des Aus-Zustandes 101 auszuwerten.
Wie bereits erläutert,
kann ein Strom in diesem Zustand dann fließen, wenn sich der Transistor 1 im
Avalanchebetrieb befindet oder wenn eine Spannungsbegrenzungsschaltung 4 vorgesehen
ist, die den Transistor zum Abkommutieren einer Last aufsteuert. Überschreitet dieser
Laststrom während
des Aus-Zustandes 101 einen
vorgegebenen Laststromschwellenwert Iref, so liegt eine Überlastung
vor.
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Ein Überlastungsdetektor 3 mit
einer solchen Funktionalität
zur Detektion des Laststromes I1 während des Aus-Zustandes 101 ist
in 6 dargestellt. Dieser Überlastungsdetektor 3 umfasst
einen Stromsensor 331, der dazu ausgebildet ist, ein Stromsignal bzw.
Strommesssignal SI zu erzeugen, das einen die Laststrecke
des Transistors 1 durchfließenden Laststrom I1 repräsentiert.
Dieser Stromsensor kann ein beliebiger Stromsensor sein, insbesondere
auch ein nach dem sogenannten Stromsense-Prinzip funktionierender
Sensor.
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Der Überlastungsdetektor 3 umfasst
außerdem
eine Referenzsignalquelle 332, die ein Referenzsignal SIref bereitstellt, dass den Stromschwellenwert
Iref repräsentiert.
Das Stromsignal SI und das Referenzsignal
SEref sind einem Vergleicher 333 zugeführt, der
diese beiden Werte vergleicht und der einen Ausgang aufweist, an
dem ein Vergleichssignal S333 zur Verfügung steht. Der Vergleicher 333 ist dazu
ausgebildet, einen solchen Signalpegel des Vergleichssignals S333,
der einem Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 entspricht, dann zu erzeugen, wenn das Stromsignal SI darauf
hinweist, dass der im Transistor 1 fließende Strom höher als der
Stromschwellenwert SIref ist. In dem in 5 dargestellten
Beispiel ist dies dann der Fall, wenn das Stromsignal SI das
Referenzsignal SIref übersteigt.
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Das Überlastungssignal
S3 steht bei dem Überlastungsdetektor
gemäß 6 am
Ausgang eines UND-Gatters 334 zur Verfügung, dem das Vergleichssignal
S333 zugeführt
ist und das dazu ausgebildet ist, als Überlastungssignal S3 während des Aus-Zustandes 101 das
Vergleichssignal S333 auszugeben und den Pegel des Überlastungssignals
S3 sonst auf den zweiten Signalpegel, der eine Nicht-Überlastung
anzeigt, zu setzen. Hierdurch ist sichergestellt dass nur während des
Aus-Zustandes ein
den Referenzwert Iref übersteigender
Laststrom I1 zu einem Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 führt.
Dem UND-Gatter 334 ist in dem Beispiel hierzu das Schaltsignal
Sin an einem invertierenden Eingang zugeführt. Ein Low-Pegel des Schaltsignals
repräsentiert
hierbei den Aus-Zustand 101.
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Anstatt
des invertierten Schaltsignals Sin kann dem UND-Gatter 334 auch ein Spannungsbegrenzungssignal
S4 zugeführt sein,
das anzeigt, ob sich der Transistor 1 in einem Spannungsbegrenzungsbetrieb
befindet. Ein solcher Spannungsbegrenzungsbetrieb ist bezugnehmend
auf die bisher erläuterten
Beispiele entweder ein Avalanchebetrieb oder ein Betrieb mit aktivierter
Spannungsbegrenzungsschaltung 4 – sofern eine solche Spannungsbegrenzungsschaltung 4 vorhanden
ist. Das UND-Gatter 334 ermöglicht die Erzeugung eines Überlastungspegels
des Überlastungssignals
S3 in diesem Fall nur dann, wenn das Spannungsbegrenzungssignal
S4 auf einen Spannungsbegrenzungsbetrieb des Transistors 1 hinweist.
Wie erläutert
kann ein solcher Spannungsbegrenzungsbetrieb nur während des
Aus-Zustands 101 erfolgen.
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Ein
Beispiel einer Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines Spannungsbegrenzungssignals
S4 ist in 7 dargestellt. Diese Schaltungsanordnung wertet
zur Detektion des Spannungsbegrenzungsbetriebs des Transistors 1 das
elektrische Potential an dem der Last Z und dem Transistor 1 gemeinsamen Schaltungsknoten
aus. Bei dem anhand von 1 dargestellten Low-Side-Schalter
ist dieser Schaltungsknoten der erste Laststreckenanschluss 12 des Halbleiterschaltelements 1.
Steigt dieses elektrische Potential bei einem Low-Side-Schalter (wie in 1 dargestellt) über das
positive Versorgungspotential an, so ist die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 aktiviert
oder der Transistor befindet sich im Avalanchebetrieb. Sinkt dieses
elektrische Potential bei einem High-Side-Schalter (nicht dargestellt)
unter das negative Versorgungspotential ab, so ist die Spannungsbegrenzungsschaltung 3 aktiviert
oder der Transistor befindet sich im Avalanchebetrieb.
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Die
in 7 dargestellte Schaltungsanordnung weist einen
Komparator 44 auf, der das elektrische Potenzial an dem
Schaltungsknoten 12 mit dem Referenzpotential vergleicht,
das in dem dargestellten Beispiel das positive Versorgungspotenzial
ist. Am Ausgang dieses Komparators steht das Spannungsbegrenzungssignal
zur Verfügung.
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Man
macht sich bei dem Überlastungsdetektor 3 gemäß 6 zu
Nutze, dass im Avalanchebetrieb oder bei Einsatz einer Spannungsbegrenzungsschaltung 3 die
Spannung über
der Laststrecke annähernd
konstant ist, wenn ein Laststrom I1 fließt. Der hierbei fließende Strom,
der bei Abkommutieren einer induktiven Last am Beginn des Abkommutierens
am größten ist,
stellt damit ein Maß für die in
der Last gespeicherte elektrische Energie dar, die in dem Transistor 1 während der
Abkommutierung in Wärme umgesetzt
werden soll.
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Bei
einem weiteren Beispiel ist vorgesehen, die Zeitdauer zu messen,
während
der ein Laststrom I1 während
des Aus-Zustandes
durch den Transistor 1 fließt. Ist diese Zeitdauer bzw.
Abkommutierungsdauer größer als
eine vorgegebene Zeitdauer, so wird eine Überlastung angenommen.
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Ein
Beispiel eines Überlastungsdetektors
mit einer solchen Funktionalität
ist in 8 dargestellt. Dieser Überlastungsdetektor 3 umfasst
einen Stromdetektor, der eine Detektionssignal S342 erzeugt, dessen
Signalpegel abhängig
davon ist, ob ein Laststrom I1 fließt, der größer ist als ein vorgegebener Schwellenwert,
wie z. B. Null. Dieser Stromdetektor umfasst in dem Beispiel einen
Stromsensor 341, der dazu ausgebildet ist, ein Stromsignal
bzw. Strommesssignal SI zu erzeugen, das
einen die Laststrecke des Transistors 1 durchfließenden Laststrom
I1 repräsentiert.
Dieser Stromsensor kann ein beliebiger zu diesem Zweck geeigneter
Stromsensor sein.
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Das
Stromsignal SI und ein Referenzsignal SIref, in dem Beispiel Null, sind einem Vergleicher 342 zugeführt, der
diese beiden Werte vergleicht und der einen Ausgang aufweist, an
dem das Detektionssignal S342 zur Verfügung steht. Dieses Detektionssignal
S342 nimmt einen ersten Signalpegel an, der nachfolgend als Stromflusspegel
bezeichnet wird, wenn ein Laststrom detektiert wird.
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Das
Detektionssignal S342 ist einem Eingang eines UND-Gatters 343 zugeführt, dessen
anderem Eingang das invertierte Schaltsignal Sin oder alternativ
das Spannungsbegrenzungssignal S4 (nicht dargestellt) zugeführt ist.
Der dargestellte Überlastungsdetektor
ist dazu ausgebildet, einen Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 dann zu erzeugen, wenn während
des Aus-Zustandes 101 – auf
den das invertierte Schaltsignal Sin oder das Spannungsbegrenzungssignal
S4 hinweist – das
Detektionssignal S342 länger
als für
eine vorgegebene Zeitdauer einen Stromflusspegel annimmt. In dem dargestellte
Beispiel steht das Überlastungssignal
S3 am Ausgang eines Verzögerungsglieds 344 zur
Verfügung,
dem das Ausgangssignal S343 des UND-Gatters 343 zugeführt ist.
Dieses Verzögerungsglied 344 ist
ein asymmetrisches Verzögerungsglied,
das dazu ausgebildet ist, eine solche Flanke des Ausgangssignal
S344 des UND-Gatters, die auf einen fließenden Laststrom während des Aus-Zustandes
hinweist, zeitverzögert
weiterzugeben. Die Verzögerungszeit
entspricht der zuvor genannten vorgegebenen Zeitdauer. Eine Flanke,
des Ausgangssignal S344 des UND-Gatters,
die auf ein Ende des Aus-Zustandes 101 oder ein Absinken
des Laststroms I1 auf Null hinweist wird hingegen unmittelbar weitergegeben.
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Es
sei darauf hingewiesen, dass bei dem Überlastungsdetektor 3 gemäß 8 selbstverständlich beliebige
weitere Zeitmessanordnungen verwendet werden können, die dazu geeignet sind die
Zeitdauer zu messen, während
der im Aus-Zustand ein Laststrom fließt. Darüber hinaus sei darauf hingewiesen,
dass die zuvor erläuterten Überlastdetektoren 3 selbstverständlich sowohl
mit analogen als auch mit digitalen Schaltungskomponenten realisiert werden
können.
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Die
zuvor erläuterten
Kriterien, die erfüllt
sein müssen,
um vom Vorliegen einer Überlastung
auszugehen, können
selbstverständlich
kombiniert werden bzw. verknüpft
werden, indem beispielsweise ein Überlastungspegel des Überlastungssignals
s3 nur dann erzeugt, wird, wenn zwei oder mehr der zuvor genannten
Kriterien erfüllt
sind. Die Ausgangssignale von zwei oder mehr der zuvor erläuterten Überlastungsdetektoren 3 können hierzu
beispielsweise mittels eines UND-Gatters verknüpft werden.
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Bei
einem Beispiel der Ansteuerschaltung 10 ist vorgesehen,
dass die Ansteuerschaltung 10 nur ausgehend von einem Betriebszustand,
bei dem sich der Transistor 1 im Spannungsbegrenzungsbetrieb befindet,
in den Überlastschutzzustand 103 übergeht.
Ein solcher Betriebszustand, bei dem sich der Transistor 1 beispielsweise
im Avalanchebetriebszustand befindet oder bei dem die Spannungsbegrenzungsschaltung 4 aktiviert
ist, wird nachfolgend als Spannungsbegrenzungszustand 104 bezeichnet.
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Ein
Zustandsdiagramm für
eine solche Ansteuerschaltung 10, bei der ein Übergang
in den ersten Übertemperaturschutzzustand 103 nur
ausgehend von einem Spannungsbegrenzungszustand 104 erfolgen
kann, ist in 9 dargestellt. Ein Übergang
der Ansteuerschaltung 10 in den Spannungsbegrenzungszustand 104 erfolgt
beispielsweise dann, wenn im Aus-Zustand 101 ein Laststrom
fließt. Ein Übergang
der Ansteuerschaltung in den Spannungsbegrenzungszustand kann beispielsweise auch
dann erfolgen wenn – bei
einem Low-Side-Schalter – das
elektrische Potenzial an einem der Laststreckenanschlüsse des
Transistors das elektrische Potenzial an dem Versorgungsanschluss überschreitet
an den er über
die Last angeschlossen ist, oder wenn – bei einem High-Side-Schalter – das elektrische
Potenzial an einem der Laststreckenanschlüsse des Transistors das elektrische
Potenzial an dem Versorgungsanschluss unterschreitet an den er über die
Last angeschlossen ist.
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Eine
Rückkehr
vom Spannungsbegrenzungszustand 104 in den Aus-Zustand kann beispielsweise
dann erfolgen, wenn der Spannungsbegrenzungsbetrieb des Transistors 1 endet,
ohne dass eine Überlastung
detektiert wurde.
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Bezugnehmend
auf 9 erfolgt ein Übergang
von dem Spannungsbegrenzungszustand 104 in den Überlastschutzzustand 103 wenn
eine Überlastung
OL detektiert wird. Eine solche Funktionalität, dass ein Übergang
in den Überlastschutzzustand 103 nur
ausgehend von dem Spannungsbegrenzungszustand 104 erfolgen,
ist bei Verwendung der Überlastungsdetektoren
gemäß der 6 und 8 unmittelbar
gewährleistet.
Diese Überlastungsdetektoren 3 erzeugen
einen Überlastungspegel
des Überlastungssignals
S3 nur während
des Spannungsbegrenzungszustandes.
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Bei
den anhand der 4 und 5 erläuterten Überlastungsdetektoren 3 kann
eine solche Funktionalität
dadurch erreicht werden, dass das Ausgangssignal der Vergleicher
(313 in 4 und 324 in 5)
einem Eingang eines optionalen UND-Gatters (314 in 4 und 325 in 5)
zugeführt
ist, dessen anderem Eingang das invertierte Schaltsignal Sin oder
das Spannungsbegrenzungssignal S4 zugeführt ist und an dessen Ausgang
das Überlastungssignal
S3 zur Verfügung
steht. Dieses UND-Gatter 314 bzw. 324 ist in den 4 und 5 gestrichelt
dargestellt.
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Bei
einer Ansteuerschaltung 10, die in den Überlastungsschutzzustand 103 nur
ausgehend vom Spannungsbegrenzungszustand 104 übergehen kann,
ist sichergestellt, dass der Transistor 1 nicht auch dann
leitend angesteuert wird, wenn er sich im ausgeschalteten Zustand
befindet, wenn eine Detektion der Überlastung anhand der Temperatur
erfolgt und wenn dessen Temperatur bedingt durch äußere Einflüsse bis
auf den Wert eines Temperaturschwellenwertes Tref1 aufgeheizt wird.
Solche äußeren Einflüsse sind
beispielsweise defekte Schaltungskomponenten (nicht dargestellt),
die in der Nachbarschaft des Transistors 1 angeordnet sind.
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10 veranschaulicht
die Funktionsweise der zuvor erläuterten
Schaltungsanordnung anhand zeitlicher Verläufe des Schaltsignals Sin,
der Laststreckenspannung V1, der Temperatur T des Transistors 1 sowie
des Laststromes I1 für
den Fall, dass eine Überlastung
anhand der Temperatur T des Transistors 1 detektiert wird.
Für die
Erläuterung
sei angenommen, dass das Schaltsignal Sin zunächst einen Einschaltpegel – in dem
Beispiel einen High-Pegel – besitzt
und zu einem Zeitpunkt t1 von dem Einschaltpegel auf einen Ausschaltpegel – in dem
Beispiel einen Low-Pegel – wechselt.
Der Transistor 1 ist bis zu diesem Zeitpunkt t1 vollständig leitend
angesteuert. Während
dieses Betriebszustandes liegt annähernd die gesamte Versorgungsspannung,
die zwischen den Versorgungsspannungsklemmen zur Verfügung steht, über der
Last Z an, so dass die Laststreckenspannung V1 entsprechend klein
ist. Der Laststrom I1 ist in diesem Fall entsprechend groß.
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Zum
Zeitpunkt t1 steigt die Laststreckenspannung V1 sprungartig an.
Zu Zwecken der Erläuterung
sei angenommen, dass die durch den Transistor 1 angesteuerte
Last eine induktive Last ist. Die Laststreckenspannung V1 muss in
diesem Fall auf einen Wert ansteigen, der größer ist als die Versorgungsspannung
bzw. das obere Versorgungspotential V+. Der Transistor 1 geht
zu diesem Zeitpunkt unmittelbar in den Avalanchebetrieb übergeht
oder eine optional vorhandene Spannungsbegrenzungsschaltung 4 wird
aktiviert. Ein weiteres Ansteigen der Laststreckenspannung V1 wird
damit begrenzt. Der Laststrom I1 beginnt ab diesem Zeitpunkt abzusinken.
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In 10 sind
zwei unterschiedliche Szenarien dargestellt: Ein erstes Szenario,
für das
die Signalverläufe
als strichpunktierte Linien dargestellt sind und bei dem die Temperatur
T des Transistors während
der Abkommutierungsphase zwar ansteigt, jedoch nicht bis über den
ersten Temperaturschwellenwert Tref1 hinaus; und ein zweites Szenario,
für das die
Signalverläufe
als durchgezogene Linie dargestellt sind und bei dem die Temperatur
T während
der Abkommmutierungshase über
den ersten Temperaturschwellenwert Treff ansteigt. Im ersten Szenario kommutiert
die induktive Last vollständig
ab. Zu ei nem Zeitpunkt t2 ist dabei der Laststrom I1 auf Null und
die Laststreckenspannung V1 auf den Wert der Versorgungsspannung
V+ abgesunken. Im zweiten Szenario wird zu einem Zeitpunkt t3, zu
dem die Temperatur T den ersten Temperaturschwellenwert Treff übersteigt,
der Transistor 1 vollständig
leitend angesteuert, wodurch die Laststreckenspannung V1 absinkt
und der Laststrom I1 ansteigt. Ein weiterer Anstieg der Temperatur
T wird dadurch begrenzt.
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11 veranschaulicht
eine weitere Ansteuerschaltung 10 anhand eines Zustandsdiagramms. Diese
Ansteuerschaltung unterscheidet sich von der Ansteuerschaltung,
deren Zustandsdiagramm anhand von 9 erläutert wurde,
dadurch dass ein Zustandsübergang
vom Ein-Zustand 102 in den Aus-Zustand 101 nicht
nur abhängig
von dem Schaltsignal Sin erfolgt, sondern auch dann erfolgt, wenn die
Temperatur T im Bereich des Transistors 2 einen Temperaturschwellenwert
Tref2 übersteigt,
der kleiner ist als der Temperaturschwellenwert Treff bei Verwendung
des Überlastungsdetektors 3 gemäß 4.
Das Abschalten des Transistors 1 bei Übersteigen dieses zweiten Temperaturschwellenwertes Tref2
soll den Transistor vor einer Beschädigung oder Zerstörung schützen. Die
Ansteuerschaltung kann dazu ausgebildet sein, automatisch in den Ein-Zustand
zurückzukehren,
wenn die Temperatur unter den zweiten Schwellenwert absinkt. Um
ein Schwingungsverhalten zu vermeiden, besteht insbesondere die
Möglichkeit,
eine Hysterese für
den Übergang
in den temperaturbedingten Aus-Zustand und die Rückkehr in den Ein-Zustand vorzusehen.
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Wie
in dem Zustandsdiagramm dargestellt ist, kann die Schaltungsanordnung
von dem Aus-Zustand 101 unmittelbar in den Spannungsbegrenzungszustand 104 übergehen,
wenn während
des Aus-Zustands ein Laststrom fließt wenn die Last also beispielsweise
eine induktive Last ist.
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Die
Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 lässt sich unter Berücksichtigung
der bisher und der nachfolgend noch erläuter ten Zustandsdiagramme in beliebiger
Technologie als kombinatorische Logikschaltung realisieren, so dass
auf weitere Ausführungen
hierzu verzichtet werden kann.
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Die
Ansteuerschaltung 10 kann so realisiert sein, dass sie
ausgehend von dem Überlastschutzzustand 103 in
den Aus-Zustand 101 übergeht,
sobald keine Überlastung
mehr vorhanden ist. Ein Ausschnitt eines Zustandsdiagramms, in dem
diese Betriebszustände
und der erläuterte
Zustandsübergang dargestellt
sind, ist anhand von 12 veranschaulicht. OL = F steht
in diesem Zusammenhang dafür, dass
eine zuvor detektierte Überlastung
nicht mehr vorliegt, dass also beispielsweise die Temperatur unter
den vorgegebenen Referenzwert Tref1 abgesunken ist.
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Bezugnehmend
auf 13 ist bei einem weiteren Beispiel vorgesehen,
dass ein Zustandsübergang
von dem Überlastschutzzustand 103 in
den Aus-Zustand 101 dann erfolgt, wenn das Schaltsignal
Sin einen Ausschaltpegel annimmt und wenn nach einem Übergang
in den Überlastschutzzustand 103 eine
vorgegebene Zeitdauer td vergangen ist.
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Ein Übergang
vom Überlastschutzzustand
in den Ein-Zustand 102 kann in nicht näher dargestellter Weise unmittelbar
dann erfolgen, wenn das Schaltsignal Sin einen Einschaltpegel annimmt.
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Bei
einem weiteren Beispiel, für
welches das Zustandsdiagramm in 14 dargestellt
ist, ist vorgesehen, eine Anzahl NOLP-ON von
Zustandsübergängen in
den Überlastschutzzustand 103 zu
zählen
und die Ansteuerschaltung 10 dauerhaft in diesen Überlastschutzzustand 103 zu
belassen, wenn diese Anzahl NOLP-ON einen
vorgegebenen Wert n erreicht hat. Ist diese Anzahl kleiner als der
vorgegebene Wert n, so kann ein Übergang
vom Übertemperaturschutzzustand 103 in
den Aus-Zustand 101 abhängig
von einem der zuvor anhand der 12 und 13 erläuterten
Kriterien erfolgen. n kann insbesondere 1 sein. In diesem Punkt
bleibt die Ansteuerschaltung 10 dauerhaft im Übertemperaturschutzzustand,
sobald dieser einmal erreicht wurde.
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Die
anhand der 12 bis 14 erläuterten
Varianten gelten unabhängig
davon, auf welche Weise der Überlastschutzzustand 103 erreicht
wird, d. h. unabhängig
davon, ob ein Übergang
in den Übertemperaturschutzzustand 14 nur
aus dem Spannungsbegrenzungszustand 104 oder auch aus einem der
anderen Zustände
erfolgt.
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Bei
einem weiteren Beispiel weist die Ansteuerschaltung 10 einen
Rücksetzeingang
zur Zuführung
eines Rücksetzsignals
(RS in 1) auf. Über
diesen Rücksetzeingang
besteht die Möglichkeit,
die Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 in den Aus-Zustand 101 zurückzusetzen,
wenn sie sich im Überlastschutzzustand 103 befindet.
Die Ansteuerschaltung 10 kann außerdem einen Statusausgang aufweisen, über den
ein Statussignal ST ausgegeben werden kann, das signalisiert, ob
sich die Ansteuerschaltung 10 im Überlastschutzzustand befindet.
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Dieses
Statussignal ST kann einer Auswerteschaltung (nicht dargestellt)
zugeführt
sein, die beispielsweise dazu ausgebildet ist, das Rücksetzsignal nach
Ablauf einer vorgegebenen Zeitdauer zu erzeugen, nachdem das Statussignal
einen Überlastschutzzustand
angezeigt hat. Hierdurch kann nach Ablauf dieser Zeit eine erneute Überprüfung vorgenommen
werden, ob immer noch eine Überlastung vorliegt.
Diese Auswerteschaltung ist beispielsweise ein Mikrocontroller,
wobei die Funktion der Auswerteschaltung und der Ansteuersignalerzeugungsschaltung 2 durch
einen einzigen Mikrocontroller realisiert sein können.