CN211234321U - 共轴对位检测光学*** - Google Patents
共轴对位检测光学*** Download PDFInfo
- Publication number
- CN211234321U CN211234321U CN202020191498.5U CN202020191498U CN211234321U CN 211234321 U CN211234321 U CN 211234321U CN 202020191498 U CN202020191498 U CN 202020191498U CN 211234321 U CN211234321 U CN 211234321U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- semi
- material positioning
- prism
- optical system
- plane mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
一种共轴对位检测光学***，属于自动化检测组装技术领域。该共轴对位检测光学***包括上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。本实用新型通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测，节省了物料定位时间，且提高了精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及的是一种自动化检测组装领域的技术，具体是一种共轴对位检测光学***。
背景技术
在自动化检测组装行业，一般对位组装工站会使用两组视觉***进行上下物料的对位检测，下相机获取下物料图像并定位之后，再由上相机定位上物料，并由机械臂抓取上物料移动至与下物料同轴的位置处，这类对位组装过程耗时较长且定位精度不高，而且需要两组镜头相机组成的视觉***，会增加成本。
为了解决现有技术存在的上述问题，本实用新型由此而来。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术存在的上述不足，提出了一种共轴对位检测光学***，通过立方棱镜实现双光路的同轴定位检测，节省了物料定位时间，且提高了精度。
本实用新型包括：上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；
立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；立方棱镜设置在上物料定位组件和下物料定位组件之间；
上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。
优选地，所述上物料定位组件与下物料定位组件关于立方棱镜中心对称放置，且上环形光源、上半透半反平面镜、下半透半反平面镜、下环形光源和立方棱镜的几何中心在同一条垂轴上。
进一步优选地，所述上半透半反平面镜和下半透半反平面镜均镀有半透半反膜。
优选地，所述两方形平面以及立方棱镜上靠近工业镜头一方形平面均镀有增透膜，立方棱镜上远离工业镜头一方形平面镀有反射膜。
优选地，本实用新型设置在暗室中。
进一步优选地，对应上物料定位组件设有上背光源，对应下物料定位组件设有下背光源。
技术效果
与现有技术相比，本实用新型具有如下技术效果：
1)通过立方棱镜实现了双光路的同轴定位检测，大大节省了上下物料定位所需要的时间，同时也提高了定位精度，上下物料的定位检测仅使用一组镜头相机，节省了成本；
2)立方棱镜上远离工业镜头一方形平面镀有反射膜，减少了光线在传播过程中的损失，提高了物料打光亮度；
3)背光源结合半透半反平面镜的设计，起到了对物料补光的作用，使抓取物料图像更清晰，从而定位更精确。
附图说明
图1为实施例1的整体结构示意图；
图2为图1中立方棱镜侧视图；
图中：上物料定位组件1、下物料定位组件2、立方棱镜3、工业镜头4、工业相机5、平面镜夹持件6；
上环形光源11、上半透半反平面镜12、上背光源13；
下环形光源21、下半透半反平面镜22、下背光源23；
直角棱镜31、粘结面32、方形平面33、方形平面35、方形平面36。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型进行详细描述。
实施例1
如图1和图2所示，本实施例包括：上物料定位组件1、下物料定位组件2、立方棱镜3、工业镜头4和工业相机5；
立方棱镜3由两直角棱镜31粘结得到，两直角棱镜31中至少一个在粘结面32镀有半透半反膜；粘结面32与工业镜头4对应设置，工业镜头4与工业相机5连接；
上物料定位组件1包括上环形光源11和上半透半反平面镜12，下物料定位组件2包括下环形光源21和下半透半反平面镜22，上半透半反平面镜12和下半透半反平面镜22通过平面镜夹持件6固定且表面均镀有半透半反膜；上半透半反平面镜12与立方棱镜3上方形平面33相对设置，下半透半反平面镜22与立方棱镜3上方形平面34相对设置，方形平面33和方形平面34平行设置。
立方棱镜3中方形平面33、方形平面34和方形平面35均镀有增透膜，方形平面36镀有反射膜。
上物料定位组件1与下物料定位组件2关于立方棱镜3中心对称放置，且上环形光源11、上半透半反平面镜12、下半透半反平面镜22、下环形光源21和立方棱镜3的几何中心在同一条垂轴上；根据工业镜头4的工作距离，调整工业镜头4和工业相机5的位置，即可进行检测。
本实施例设置在暗室中，对应地，上物料定位组件1还包括上背光源13，下物料定位组件2还包括下背光源23，拍摄上方物料时开启上环形光源11和上背光源13，关闭下环形光源21和下背光源23，拍摄下方物料时开启下环形光源21和下背光源23，关闭另一侧环形光源和背光源，防止在拍摄上方物料、下方物料图像时相互干扰。
本实施例的工作过程如下：
开启下环形光源21向下打光照亮下方物料；开启下背光源23，下背光源23发出的光经过下半透半反平面镜22向下反射，再经过下环形光源21的中孔照亮下方物料；照射到下方物料上的光线反射后通过下半透半反平面镜22，立方棱镜3，工业镜头4成像在工业相机5中，然后通过软件算法完成对下方物料进行定位；
关闭下环形光源21和下背光源23，开启上环形光源11向上打光照亮上方物料；开启上背光源13，上背光源13发出的光经过上半透半反平面镜12向上反射，再经过上环形光源11的中孔照亮上方物料；照射到上方物料上的光线反射后通过上半透半反平面镜12，立方棱镜3，工业镜头4成像在工业相机5中，然后再通过软件算法对上方物料进行定位。
需要强调的是：以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (6)
1.一种共轴对位检测光学***，其特征在于，包括：上物料定位组件、下物料定位组件、立方棱镜、工业镜头和工业相机；
立方棱镜由两直角棱镜粘结得到，两直角棱镜中至少一个在粘结面镀有半透半反膜；粘结面与工业镜头对应设置，工业镜头与工业相机连接；立方棱镜设置在上物料定位组件和下物料定位组件之间；
上物料定位组件包括上环形光源和上半透半反平面镜，下物料定位组件包括下环形光源和下半透半反平面镜；上半透半反平面镜与一直角棱镜上一方形平面相对设置，下半透半反平面镜与另一直角棱镜上一方形平面相对设置，两方形平面平行设置。
2.根据权利要求1所述共轴对位检测光学***，其特征是，所述上物料定位组件与下物料定位组件关于立方棱镜中心对称放置，且上环形光源、上半透半反平面镜、下半透半反平面镜、下环形光源和立方棱镜的几何中心在同一条垂轴上。
3.根据权利要求2所述共轴对位检测光学***，其特征是，所述上半透半反平面镜和下半透半反平面镜均镀有半透半反膜。
4.根据权利要求1所述共轴对位检测光学***，其特征是，所述两方形平面以及立方棱镜上靠近工业镜头一方形平面均镀有增透膜，立方棱镜上远离工业镜头一方形平面镀有反射膜。
5.根据权利要求1所述共轴对位检测光学***，其特征是，所述共轴对位检测光学***设置在暗室中。
6.根据权利要求5所述共轴对位检测光学***，其特征是，对应上物料定位组件设有上背光源，对应下物料定位组件设有下背光源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202020191498.5U CN211234321U (zh) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 共轴对位检测光学*** |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202020191498.5U CN211234321U (zh) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 共轴对位检测光学*** |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN211234321U true CN211234321U (zh) | 2020-08-11 |
Family
ID=71941668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202020191498.5U Active CN211234321U (zh) | 2020-02-21 | 2020-02-21 | 共轴对位检测光学*** |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN211234321U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114260933A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-01 | 重庆市灵龙自动化设备有限公司 | 一种高精密装配实时校准对位方法及装置 |
| CN114295078A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-08 | 歌尔股份有限公司 | 一种棱镜校准装置及平行度校准方法 |
-
2020
- 2020-02-21 CN CN202020191498.5U patent/CN211234321U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114260933A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-01 | 重庆市灵龙自动化设备有限公司 | 一种高精密装配实时校准对位方法及装置 |
| CN114295078A (zh) * | 2021-12-28 | 2022-04-08 | 歌尔股份有限公司 | 一种棱镜校准装置及平行度校准方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN211234321U (zh) | 共轴对位检测光学*** | |
| CN106442544B (zh) | 全景成像*** | |
| CN102004110A (zh) | 光学检查装置和利用其的检查方法 | |
| CN111965192A (zh) | 一种多面成像的视觉检测***及检测方法 | |
| WO2019076160A1 (zh) | 光学模组组装设备及方法 | |
| CN212180654U (zh) | 一种相机模组调整装置 | |
| CN111044524B (zh) | 实现半导体晶粒相对两表面等光程成像的光学检测装置及方法 | |
| CN211669102U (zh) | 基板检查装置 | |
| JPS58182718A (ja) | 位置合わせ装置 | |
| CN112558244B (zh) | 一种光芯片倒装耦合的方法和装置 | |
| CN117861943A (zh) | 一种激光器镜片自动耦合装置及方法 | |
| CN111895924B (zh) | 一种镜片厚度自动测量装置 | |
| CN111638578A (zh) | 一种基于镜像双目视觉的自动光准直耦合定位装置 | |
| CN109212775B (zh) | 一种生物测量仪零点臂调试装置及方法 | |
| CN113271405B (zh) | 晶圆校准相机及具有其的探针台 | |
| CN114858096A (zh) | 一种水平光路传递测角仪及测量方法 | |
| CN214173702U (zh) | 一种光学膜片检验治具 | |
| CN111781800B (zh) | 激光直写设备中多路光路校准***及方法 | |
| CN211741108U (zh) | 获得半导体晶粒相对两面光学检测完全等照度照明的装置 | |
| CN215003571U (zh) | 光学大视野快速影像测量仪专用的远心平行轮廓照明装置 | |
| CN110806410A (zh) | 对半导体晶粒天面与侧面同时进行检测的光学装置及方法 | |
| CN205920267U (zh) | 多视角成像装置 | |
| CN218995177U (zh) | 一种多面成像的视觉检测装置 | |
| CN219320077U (zh) | 一种双工位检测光源装置 | |
| CN209606058U (zh) | 一种全新的测试透镜偏心的靶标装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |