CN201845029U - 测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位，令该测试探针受压时能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，而能缩小可布测试探针间距。

Description

测试探针

技术领域

本实用新型有关一种测试探针，提供一种可避免各测试探针组装固定或测试使用时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性的测试探针。

背景技术

一般具有复数个被测点(如电子组件接点)的诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等制成后，均需透过一种专用治具予以检测，俾藉以确认是否为良品或有无断路现象。又，按习知产业间所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等被测物的方式，大抵如图1所示，在一治具10上表设置有若干支探针20，该若干支探针20且配合被测物30底面的各被检测点(图未示)位置设置；另，并设有至少一接头11，该接头11一端与探针20电性连接，而该等接头11另端且与电路检测机的排线(图未示)相连接导通。

当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线***接头11，续将被测物30对应放置在治具10的探针20上，藉由探针20与被测物30底面的被检测点接触后，电路测试机便可显示被测物30是否有断路或不良等现象。又，为了使该被测物30的诸被检测点具检测确实性，及被测物30被探针20实施触压检测时，该探针20或被检测点不会发生破坏现象，该诸探针20且设置呈可弹性伸缩作动。

如图2所示为习有治具的结构示意图，该治具10设有间隔配置的上支持体12以及下支持体13，该上、下支持体12、13则分别设有第一、第二穿孔121、131，该第一、第二穿孔121、131错位配置，该探针20则穿设于第一、第二穿孔121、131中而定位，且该探针20中段处并形成偏移的倾斜部21。

当与被测物30接触时，如图3所示，其瞬间碰触的冲击力道藉由该等探针20的弹性变形减缓，而该等探针20受压吸收撞击外力时，其最大变形部位在其中段处的倾斜部21；然而，习用探针20主要受压变形的部位皆无适当构件辅助限制其变形幅度，进而影响探针与晶圆接触的稳定性。再者，若所有探针20其倾斜部21偏摆的角度、方向无法统一限定，不仅相邻两探针的倾斜部21会有相互干扰之虞，更无法将治具所能容置各探针的间距缩小，使其应用层面受到限制，而有加以改良的必要。

实用新型内容

本实用新型所解决的技术问题即在提供一种测试探针，目的在避免各测试探针组装固定或测试使用时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性的测试探针。

本实用新型的技术方案为：一种测试探针，该测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位。

其中，该测试探针具有一上部穿设于第一、第二穿孔中，该测试探针具有一下部穿设于第三、第四穿孔中，而该测试探针并具有一中部连接于上、下部间，该中部形成弯曲状。

该下部进一步连接有电极。

该第一、第二穿孔中心对位配置。

该第一、第二穿孔错位配置，而该第一、第二穿孔的错位偏移量小于第三、第四穿孔的错位偏移量。

该第二、第三穿孔错位配置。

该第一上支持板上表面进一步设有一沉孔。

本实用新型的有益效果为：本实用新型的测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位，令该测试探针受压时能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，而能缩小各测试探针的间距。

附图说明

图1一般检测治具与被测物的立体示意图。

图2为习有探针的结构示意图。

图3为习有探针受压变形的结构示意图。

图4为本实用新型中测试探针第一实施例的结构示意图。

图5为本实用新型中测试探针第一实施例受压变形的结构示意图。

图6为本实用新型中测试探针第二实施例的结构示意图。

图7为本实用新型中测试探针第二实施例受压变形的结构示意图。

图号说明：中心A1、A2、A3、A4；治具10；接头11；上支持体12；第一穿孔121；下支持体13；第二穿孔131；探针20；倾斜部21；被测物30；测试探针40；上部41；下部42；中部43；电极44；承接板45；治具50；上支持体51；第一上支持板511；第二上支持板512；第一穿孔513；第二穿孔514；沉孔515；下支持体52；第一下支持板521；第二下支持板522；第三穿孔523；第四穿孔524。　             

具体实施方式

本实用新型测试探针，该测试探针40同样装设于治具50中，该治具50设有间隔配置的上支持体51以及下支持体52，如图4的第一实施例所示，该上支持体51设有上下相邻的第一、第二上支持板511、512，该第一、第二上支持板511、512设有第一、第二穿孔513、514，而该下支持体52设有上下相邻的第一、第二下支持板521、522，该第一、第二下支持板521、522设有第三、第四穿孔523、524，该第一、第二穿孔513、514中心对位配置，该第三、第四穿孔523、524错位配置，且该第二、第三穿孔514、523错位配置，如图所示，该第一、第二穿孔513、514的中心A1、A2位于同一轴向位置，该第三、第四穿孔523、524的中心A3、A4位于不同轴向位置，该第二、第三穿孔514、523的中心A2、A3位于不同轴向位置；该第一上支持板511上表面可进一步设有一沉孔515可避免线路板上沾黏的异物堆积，影响探针动作顺畅度。

而该测试探针40则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔513、514、523、524中而定位，该测试探针40具有一上部41穿设于第一、第二穿孔513、514中，该测试探针40具有一下部42穿设于第三、第四穿孔523、524中，而该测试探针40并具有一中部43连接于上、下部41、42间，该中部43形成弯曲状，该下部42进一步连接有电极44，该电极44用以透过接头与电路检测机的排线(图未示)相连接导通，且该电极44处可进一步设有一承接板45，垓承接板45用以承接治具50。

当与被测物30接触时，如图5所示，其瞬间碰触的冲击力道藉由该等测试探针40的弹性变形减缓，而该等测试探针40受压吸收撞击外力时，其最大变形部位在其中段处的中部43，而该中部43因受压变形能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，并防止相邻两测试探针的中部43会有相互干扰的缺失。

如图6的第二实施例所示，该第一、第二穿孔513、514错位配置，该第三、第四穿孔523、524错位配置，且该第二、第三穿孔514、523错位配置，如图所示，该第一、第二穿孔513、514的中心A1、A2位于不同轴向位置，该第三、第四穿孔523、524的中心A3、A4位于不同轴向位置，该第二、第三穿孔514、523的中心A2、A3位于不同轴向位置，而该第一、第二穿孔513、514的错位偏移量小于第三、第四穿孔523、524的错位偏移量；当然，该等测试探针40受压变形时同样能统一朝相同方向变形，如图7所示。

值得一提的是，本实用新型相较于习有测试探针可避免各测试探针组装固定或测试使用时产生不当的偏摆变形，并能增加该等测试探针受压变形稳定性，且该等测试探针受压时能统一朝相同方向变形，避免产生空间上的冲突，而能增加设置的数量。

Claims (7)

1.一种测试探针，其特征在于，该测试探针装设于治具中，该治具设有间隔配置的上支持体以及下支持体，该上支持体设有上下相邻的第一、第二上支持板，该第一、第二上支持板设有第一、第二穿孔，而该下支持体设有上下相邻的第一、第二下支持板，该第一、第二下支持板设有第三、第四穿孔，该第三、第四穿孔错位配置，该测试探针则穿设于第一、第二、第三、第四穿孔中而定位。

2.如权利要求1所述的测试探针，其特征在于，该测试探针具有一上部穿设于第一、第二穿孔中，该测试探针具有一下部穿设于第三、第四穿孔中，而该测试探针并具有一中部连接于上、下部间，该中部形成弯曲状。

3.如权利要求2所述的测试探针，其特征在于，该下部进一步连接有电极。

4.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一、第二穿孔中心对位配置。

5.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一、第二穿孔错位配置，而该第一、第二穿孔的错位偏移量小于第三、第四穿孔的错位偏移量。

6.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第二、第三穿孔错位配置。

7.如权利要求1、2或3所述的测试探针，其特征在于，该第一上支持板上表面进一步设有一沉孔。

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