CN1605859A - 薄片状制品及其检查方法和检查***、图像显示装置 - Google Patents
薄片状制品及其检查方法和检查***、图像显示装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1605859A CN1605859A CNA2004100835464A CN200410083546A CN1605859A CN 1605859 A CN1605859 A CN 1605859A CN A2004100835464 A CNA2004100835464 A CN A2004100835464A CN 200410083546 A CN200410083546 A CN 200410083546A CN 1605859 A CN1605859 A CN 1605859A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- identifying information
- lamellar product
- lamellar
- product
- polaroid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
- G01N21/211—Ellipsometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/10—Devices for transferring samples or any liquids to, in, or from, the analysis apparatus, e.g. suction devices, injection devices
- G01N35/1065—Multiple transfer devices
- G01N35/1067—Multiple transfer devices for transfer to or from containers having different spacing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N35/00732—Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
- G01N2035/00742—Type of codes
- G01N2035/00762—Type of codes magnetic code
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/00584—Control arrangements for automatic analysers
- G01N35/00722—Communications; Identification
- G01N35/00732—Identification of carriers, materials or components in automatic analysers
- G01N2035/00792—Type of components bearing the codes, other than sample carriers
- G01N2035/00801—Holders for sample carriers, e.g. trays, caroussel, racks
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Polarising Elements (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
一种薄片状制品的检查方法,其中包括:在带状偏振片原材料N的宽度方向端部,沿着偏振片原材料N被移动的方向,每隔规定间隔记录表示输送方向的位置的识别信息的工序;读取被记录的识别信息的工序;检测偏振片原材料N的输送方向上的移动量的工序;检查偏振片原材料N的表面缺陷的检测工序;和根据所读取的识别信息和检测的移动量,运算所检测出的表面缺陷的位置,并将该运算出的位置信息存储在存储装置中的工序。
Description
技术领域
本发明涉及适于记录带状的薄片状制品的表面上存在的缺陷位置的薄片状制品的检查方法和检查***、以及薄片状制品和单片材及图像显示装置。
背景技术
作为带状的薄片状制品例如有用于液晶显示装置的偏振片原材料。从带状的偏振片原材料冲切各偏振片的工序按照如下步骤进行。首先检测存在于偏振片原材料表面上的损伤等缺陷。当检测出缺陷时,对该缺陷位置进行标记,将偏振片原材料卷绕成卷筒而进行保管。虽然根据来自用户的规格,作为最终制品的偏振片有各种大小,但是作为偏振片原材料可以共用,因此可以预先大量制造偏振片原材料,之后再根据需要(根据来自各个用户的订购要求)从偏振片原材料中冲裁出所需大小的偏振片制品。若要得到偏振片产品,必须避开存在表面缺陷的位置。因此,需要在检测缺陷的同时将该缺陷的位置存储在存储装置上。之所以要存储缺陷的位置,是因为并不是在检测出缺陷之后立即从带状偏振片原材料冲切出偏振片制品。也就是说,检测缺陷位置的工序,和冲切偏振片制品的工序是互不相同的工序,而且二者也有可能在完全不同的时期进行。于是,检测缺陷位置之后,需要将这种位置信息存储在存储装置中。
作为公开了检测带状的薄片状制品表面的缺陷的技术的公知技术,可以以下面说明的专利文献为例。
特开2002-148198号公报(参见摘要)中所公开的缺陷标记装置中,在取得薄片状制品的表面图像后进行图像处理,并由此检测缺陷,之后对存在缺陷的位置进行标记。
在特开2000-19127号公报(参见请求范围等)中公开的卷筒不良位置的检查确定方法中包括:确定检查开始位置的工序、检查并抽出不良位置的工序、和确定两个以上多个基准位置的工序。另外,也确定检查终止位置。不良位置可以根据上述基准位置确定。
本发明的课题如下。也就是说,在特开2002-148198号公报中,对缺陷位置直接进行标记,因此在进行标记之后,该薄片状制品的厚度将会局部变厚。检测缺陷后,有时会以将薄片状制品卷绕成卷筒的状态进行保管,如果在进行标记的状态下卷绕成卷筒,则有可能因标记部分而使薄片状制品表面受损伤,从而产生新的缺陷,因此不太理想。
在特开2000-19127号公报中,能够在不进行这种标记的情况下,检测不良位置(缺陷位置),并利用数据进行管理。因此,其构成是首先确定最初检查开始位置和检查终止位置,并且在这两个位置之间确定n处基准位置。以此基准位置作为基础确定缺陷位置,且这些检查开始位置、检查终止位置和基准位置的确定,是通过在卷状材料上形成标记来完成的。
然而,仅以赋予标记来确定基准位置等的方法中,从检测缺陷位置的角度考虑时,其简易性较差。按照此公知文献第0060段的记载,采用的方案是以多个基准位置中的任何一处作为起点,向下一工序传递检查开始位置、检查终止位置和缺陷位置的信息,这种信息的传递,虽然可靠但是却很繁杂。
发明内容
本发明是鉴于上述情况而提出的,其目的在于提供一种能够以简单的方式进行缺陷位置的检测和确定的薄片状制品的检查方法和检查***。
为了解决上述课题,本发明的薄片状制品的检查方法的特征在于包括:
在带状的薄片状制品的宽度方向端部上,沿着薄片状制品的输送方向,每隔规定间隔记录表示输送方向位置的识别信息的工序;
读取该被记录的识别信息的工序;
检测薄片状制品的输送方向上的移动量的工序;
检查薄片状制品的表面缺陷的检查工序;和
根据所读取的识别信息和检测出的移动量,运算被检测出的表面缺陷的位置信息,并将运算出的位置信息存储在存储装置中的工序。
具有这种构成的检查方法的作用和效果如下。首先,在带状的薄片状制品的宽度方向端部,每隔规定间隔记录表示输送方向位置的识别信息。被赋予这种识别信息的位置,相当于薄片状制品的输送方向上的座标。另外,具有检测薄片状制品的输送方向上的移动量的工序。根据每隔规定间隔的识别信息、和移动量的检测,能够确定输送方向上的位置。于是在检查薄片状制品的表面缺陷的工序中,当缺陷被检测出的情况下,基于所读取的识别信息和检测出的移动量,能够确定缺陷位置。如上所述,由于识别信息相当于座标,可以说其本身具有固有信息。因此无需像已有技术那样进行确定检查开始位置和检查终止位置的处理。此外,由于在存储装置中存储对应于该识别信息的缺陷位置信息,所以只要取得识别信息,就能读出与之对应的位置信息。因此无需像已有技术那样进行将检查开始位置、检查终止位置和缺陷位置的信息向下一工序传递的处理。其结果,能够提供一种能以简单方式进行检测和确定缺陷位置的处理的薄片状制品的检查方法。
还有,本发明的各工序无需连续进行。例如,可以只抽出记录识别信息的工序,与其他工序分开进行。也就是说,也可以在只记录识别信息之后,将薄片状制品卷绕成卷筒形。
作为本发明的优选实施方式,可以举出以下方法,其中包括:
检测带状的薄片状制品的输送方向上移动量的工序;
读取被记录在薄片状制品的宽度方向端部的识别信息的工序;
从所述存储装置读出缺陷的位置信息的工序;
根据所读出的位置信息、检测出的移动量和读取的识别信息,确定存在于带状的薄片状制品上的缺陷位置的工序。
记录缺陷信息后将缺陷位置信息存储在存储装置中之后,为了通过冲切等从带状的薄片状制品得到各个制品,需要确定缺陷位置。于是在从存储装置中读出位置信息的同时,根据被记录在薄片状制品的宽度方向端部的识别信息、和检测出的移动量,能够确定缺陷位置。由此能够避开形成有缺陷的区域,得到各个薄片状制品。
作为本发明的识别信息,可以采用距离数据。利用距离数据能够形成带状的薄片状制品的输送方向上的位置座标。
作为本发明的识别信息,还可以采用连续排列的数字数据。例如,可以采用使数值单纯地一个一个增加的方法等。所涉及的数字数据也可被作为位置座标。
作为本发明的另一优选的实施方式,可以举出在所述识别信息中还包含日期和时刻及制品名称信息的方法。通过也记录这种信息,易于对薄片状制品进行管理。
为了解决上述课题,本发明薄片状制品的检查***的特征在于,包括:
在带状的薄片状制品的宽度方向端部,沿着薄片状制品的输送方向,每隔预定间隔记录表示位置的识别信息的识别信息记录机构;
读取该被记录的识别信息的识别信息读取机构;
检测薄片状制品的输送方向上移动量的移动量检测机构;
检查薄片状制品的表面缺陷的检查装置;
根据所读取的识别信息和所检测出的移动量,运算被检测表面缺陷的位置信息的运算机构;和
存储该运算出的位置信息的存储装置。
作为本发明优选的实施方式,可以举出以下检查***,其中包括:
检测带状的薄片状制品的输送方向上的移动量的第2移动量检测机构;
读取被记录在薄片状制品的宽度方向端部上的识别信息的第2识别信息读取机构;和
根据从所述存储装置所读出的缺陷位置信息、所检测出的移动量和所读取的识别信息,确定存在于带状的薄片状制品上的缺陷位置的第2运算机构。
具有这种构成的检查***的作用和效果如同上述。还有,检查上述缺陷的检查装置也可以是多个,根据带状的薄片状制品的特征,例如能够使之适用于对不同深度的缺陷进行检查的情形。或者通过进行不同精度的检查能够把握缺陷的水平。
附图说明
图1是说明在偏振片原材料(带状的薄片状制品)上记录识别信息的工序的图。
图2是表示识别信息的具体例的图。
图3是说明检测偏振片原材料的表面缺陷的工序的图。
图4是说明缺陷位置信息的运算方法的图。
图5是说明从检查过缺陷的偏振片原材料冲切单片材的工序的立体图。
图6是说明从检查过缺陷的偏振片原材料冲切单片材的工序的控制功能方框图。
图7是说明不冲切单片材而卷绕成卷筒的构成例的图。
具体实施方式
<薄片状制品的具体例>
下面作为本***中进行处理的薄片状制品的实例,以偏振片原材料为例加以说明。偏振片原材料形成为长的带状,通过冲切可从薄膜状偏振片原材料获得不同大小的偏振片。偏振片原材料N,例如可以通过在事先制造好的PVA膜的正反两面上粘贴TAC膜的方法而得到。需要检测出存在于形成为多层结构的该偏振片原材料N的表面或内部的缺陷(损伤或异物等)。
偏振片原材料N可以利用包括(A)干燥已实施染色、交联和拉伸处理的聚乙烯醇系薄膜而获得偏振镜的工序、(B)在该偏振镜的一侧或两侧粘合保护层的工序、和(C)粘合后实施加热处理工序的制造方法进行制造。
聚乙烯醇系薄膜的染色、交联和拉伸等各种处理,不必单独进行,可以同时进行,而且各种处理的顺序也可以是任意的。还有,作为聚乙烯醇系薄膜,也可以采用经过膨润处理的聚乙烯醇系薄膜。一般而言,将聚乙烯醇系薄膜浸渍在含有碘或二色性色素的溶液中,使之吸附碘或二色性色素而进行染色后洗涤,在含有硼酸或硼砂等的溶液中以3~7倍的拉伸倍率进行单向拉伸之后再进行干燥。通过在含有碘或二色性色素的溶液中拉伸后,在含有硼酸或硼砂等的溶液中进一步拉伸(二级拉伸),之后进行干燥,可提高元素碘的取向性,改善偏振度特性,所以特别优选。
作为上述的聚乙烯醇系聚合物,例如可以举出使醋酸乙烯酯聚合后再经皂化的聚合物、使醋酸乙烯酯与少量不饱和羧酸、不饱和磺酸、阳离子性单体等能够共聚的单体共聚而成的聚合物等。对聚乙烯醇系聚合物的平均聚合度没有任何限制,可以任意地使用,但是优选在1000以上,更优选为2000~5000。另外,聚乙烯醇系聚合物的皂化度优选处于85摩尔%以上,更优选处于98~100摩尔%范围内。
所制造的偏振镜的厚度一般为5~80微米,但是并不限于此,而且关于偏振镜厚度的调整方法也无特别限制,可以采用拉幅机、辊延伸和压延等通常方法。
对偏振镜和作为保护层的透明保护膜之间的粘着处理,没有特别限制,例如可以利用由乙烯醇系聚合物组成的粘结剂,或者至少由硼酸或硼砂、戊二醛和蜜胺、草酸等乙烯醇系聚合物的水溶***联剂组成的粘结剂等进行。这种粘结剂以水溶液的涂布干燥层等形式形成,在制备该水溶液时根据需要也可以配入其他添加剂、及酸等催化剂。
作为设置在偏振镜的一侧或两侧的保护膜,可以使用适当的透明膜。其中优选使用由透明性和机械强度、热稳定性和水份屏蔽性等优良的聚合物制成的薄膜。作为这种聚合物,可以举出三乙酸纤维素之类的乙酸酯系树脂、聚碳酸酯系树脂、聚芳酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯等聚酯系树脂、聚酰亚胺系树脂、聚砜系树脂、聚醚砜系树脂、聚苯乙烯系树脂、聚乙烯、聚丙烯等聚烯烃系树脂、聚乙烯醇系树脂、聚氯乙烯系树脂、聚降冰片烯系树脂、聚甲基丙烯酸甲酯系树脂、液晶聚合物等。薄膜可以利用浇注法、压延法和挤压法等任一方法制造。
另外,还可以举出在特开2001-343529号公报(WO0l/37007)中记载的聚合物,例如含有(A)侧链上具有取代和/或未取代的亚氨基的热塑性树脂,和(B)侧链上具有取代和/或未取代的苯基和腈基的热塑性树脂的树脂组合物。作为具体实例可以举出含有异丁烯与N-甲基马来酸酐缩亚胺的交替共聚物和丙烯腈-苯乙烯共聚物的树脂组合物膜。作为膜可以使用由树脂组合物的混合挤压品等制成的膜。这种膜相位差小且光弹性系数小,所以能够消除因偏振片的变形引起的不匀等缺陷,而且由于透湿度小,加湿耐久性优良。
另外,保护膜最好不带颜色。因此,优选使用以Rth=[(nx+ny)/2-nz]·d(式中,nx和ny是膜平面内的主折射率,nz是膜厚方向上的折射率,d是膜的厚度)表示的膜厚方向上的相位差值为-90~+75nm的保护膜。通过使用这种膜厚方向上的相位差值(Rth)为-90~+75nm的保护膜,能够基本上消除起因于保护膜的偏振片的着色(光学着色)。膜厚方向上的相位差值(Rth)更优选为-80~+60nm,特别优选-70~+45nm。
从偏振特性和耐久性来看,优选三乙酸纤维素等乙酸酯系树脂,特别优选表面经碱的皂化处理的三乙酸纤维素膜。还有,在偏振膜两侧设置透明保护膜的情况下,也可以在其正反面使用由不同聚合物制成的透明保护膜。
保护膜可以采用任意厚度,但是从使偏振片薄型化的角度出发,一般设为500微米以下,优选1~300微米,更优选5~200微米。还有,在偏振膜两侧设置透明保护膜的情况下,也可以在其正反面使用由不同聚合物制成的透明保护膜。
只要不损害本发明的目的,透明保护膜也可以是实施了硬膜(hard-coat)处理或防反射处理、防止粘附或以扩散或者防眩光等为目的的处理的材料。硬膜处理是为了防止对偏振片表面的损伤等而实施的,例如可以利用在透明保护膜的表面附加由硅酮类等适宜的紫外线固化型树脂形成的、具有良好的硬度和光滑性等的硬化保护膜的方式等形成。
另一方面,防止反射处理是为了防止偏振片表面上的外来光的反射而实施的,可以通过形成以往的防止反射膜等来实现目的。另外,防止粘附处理是为了防止与相邻层的粘合而实施的,防眩光处理是为了防止因外来光在偏振片的表面反射而阻碍对偏振片透过光的辨识等而实施的,例如可以通过利用喷砂方式或压花加工方式等的粗糙化方式或透明微粒的配合方式等适宜的方式,在透明保护膜的表面附加微细凹凸构造来形成。
作为上述透明微粒,可以举出平均粒径为0.5~20微米的二氧化硅、氧化铝、氧化钛、氧化锆、氧化锡、氧化铟、氧化镉或氧化锑等,也可以使用具有导电性的无机系微粒,而且还可以使用由交联或未交联的聚合物颗粒等组成的有机微粒。透明微粒的使用量相对于100重量份透明树脂而言,一般为2~70重量份,优选5~50重量份。
此外配有透明微粒的防眩层,可以以透明保护层的形式,或者以透明保护层表面上的涂层等形式设置。防眩层还可以兼作用于使偏振片透过光扩散而扩大视角的扩散层(视角补偿功能等)。还有,上述的防反射层和防粘附层、扩散层和防眩层等,也可以作为由设置了这些层的薄片等构成的光学层,与透明保护层分开设置。
本发明的薄片状制品在实际使用时,可以将各种光学层层叠而作为光学膜使用。对于该光学层,没有特别限定,例如可以举出在所述透明保护膜的未粘接偏振镜的面(未设置所述粘结剂涂布层的面)上,实施硬膜处理或防止反射处理、以扩散或防止粘附或防眩光为目的的表面处理,或者层叠以视角补偿等为目的的取向液晶层的方法。另外,还可以举出粘贴1层或2层以上反射板或半透过板、相位差板(包括1/2或1/4等波长板(λ板))、视角补偿薄膜等用于液晶显示装置等的形成中的光学薄膜的方法。特别是,当薄片状制品为偏振片时,适合用作层叠反射板或半透过反射板而形成的反射型偏振片或半透过型偏振片、层叠相位差板而形成的椭圆偏振片或圆偏振片、层叠视角补偿层或视角补偿薄膜而形成的宽视角偏振片、或者层叠亮度改善薄膜而形成的偏振片。
反射型偏振片是在偏振片上设置反射层而成的,可用于形成反射从辨识侧(显示侧)入射的入射光来进行显示的类型的液晶显示装置等,并且可以省略内置的背光灯等光源,从而具有易于使液晶显示装置薄型化等优点。形成反射型偏振片时,可以通过根据需要介入透明保护层等后在偏振片的一面附设由金属等组成的反射层的方式等适当的方式进行。
作为反射型偏振片的具体例子,可以举例为通过根据需要在经消光处理的透明保护膜的一面上,附设由铝等反射性金属组成的箔或蒸镀膜而形成反射层的偏振片等。另外,还可以举例为通过使上述透明保护膜含有微粒而形成表面微细凹凸结构,并在其上具有微细凹凸结构的反射层的反射型偏振片等。上述的微细凹凸结构的反射层通过漫反射使入射光扩散,由此防止定向性和外观发亮,具有可以抑制明暗不均的优点等。另外,含有微粒的透明保护膜还具有当入射光及其反射光透过它时可以通过扩散进一步抑制明暗不均的优点等。反映透明保护膜的表面微细凹凸结构的微细凹凸结构的反射层的形成,例如可以通过用真空蒸镀方式、离子镀方式及溅射方式等蒸镀方式或镀覆方式等适当的方式在透明保护层的表面上直接附设金属的方法等进行。
反射板也可以不采用直接附设在所述偏振片的透明保护膜上的方式,而作成在以该透明薄膜为基准的适宜的薄膜上设置反射层而成的反射片等使用。还有,由于反射层通常由金属制成,因此从防止因氧化而造成的反射率的下降、进而长期维持初期反射率的观点或避免另外附设保护层的观点等出发,更优选在该反射面被透明保护膜或偏振片等所覆盖的状态下使用的方式。
还有,在上述中,半透过型偏振片可以通过作成用反射层反射光的同时使光透过的半透半反镜等半透过型的反射层而获得。半透过型偏振片通常被设于液晶单元的背面侧,可以形成如下类型的液晶显示装置等,即,在比较明亮的环境中使用液晶显示装置等的情况下,反射来自于辨识侧(显示侧)的入射光而显示图像,在比较暗的环境中,使用内置于半透过型偏振片的背面的背光灯等内置光源来显示图像的液晶显示装置等。即,半透过型偏振片在如下类型的液晶显示装置等的形成中十分有用,即,在明亮的环境下可以节约使用背光灯等光源的能量,在比较暗的环境下也可以用内置光源使用的类型的液晶显示装置的形成中非常有用。
下面对偏振片上再层叠相位差板而构成的椭圆偏振片或圆偏振片进行说明。在将直线偏振光改变为椭圆偏振光或圆偏振光,或者将椭圆偏振光或圆偏振光改变为直线偏振光,或者改变直线偏振光的偏振方向的情况下,可以使用相位差板等。特别是,作为将直线偏振光改变为圆偏振光或将圆偏振光改变为直线偏振光的相位差板,可使用所谓的1/4波长板(也称为λ/4板)。1/2波长板(也称为λ/2板)通常用于改变直线偏振光的偏振方向的情形。
椭圆偏振片,可以有效地用于补偿(防止)超扭转向列(STN)型液晶显示装置因液晶层的双折射而产生的着色(蓝色或黄色),从而进行没有上述着色的白黑显示的情形。另外,控制三维折射率的偏振片还可以补偿(防止)从斜向观察液晶显示装置的画面时产生的着色,因而十分理想。圆偏振光片可以有效地用于对以彩色显示图像的反射型液晶显示装置的图像的色调进行调整的情形,而且还具有防止反射的功能。
作为相位差板,可以举出将高分子材料进行单向或双向拉伸处理而成的双折射性膜、液晶聚合物的取向膜、用膜支撑液晶聚合物的取向层而成的材料等。拉伸处理例如可以利用滚筒拉伸法、沿长间隙拉伸法、拉幅机拉伸法、管式拉伸法等进行。拉伸倍率在单向拉伸的情况下,一般为1.1~3倍左右。对相位差板的厚度也没有特别限定,一般为10~200μm,优选20~100μm。
作为所述高分子材料,例如可以举出聚乙烯醇、聚乙烯醇缩丁醛、聚甲基乙烯醚、聚羟乙基丙烯酸酯、羟乙基纤维素、羟丙基纤维素、甲基纤维素、聚碳酸酯、聚芳酯、聚砜、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚萘二甲酸乙二醇酯、聚醚砜、聚苯硫醚、聚苯醚、聚烯丙基砜、聚乙烯醇、聚酰胺、聚酰亚胺、聚烯烃、聚氯乙稀、纤维素类聚合物、或它们的二元类、三元类各种共聚物、接枝共聚物、混合物等。这些高分子材料可通过拉伸等而成为取向物(拉伸薄膜)。
作为所述液晶性聚合物,例如可以举出在聚合物的主链或侧链上导入了赋予液晶取向性的共轭性的直线状原子团(mesogene)的主链型或侧链型各种聚合物。作为主链型液晶性聚合物的具体例,可以举出具有在赋予弯曲性的间隔部上结合了上述直线状原子团的构造的聚合物,例如向列取向性的聚酯类液晶性聚合物、圆盘状聚合物或胆甾醇型聚合物等。作为侧链型液晶性聚合物的具体例,可以举出如下的化合物等,即,将聚硅氧烷、聚丙烯酸酯、聚甲基丙烯酸酯或聚丙二酸酯为主链骨架,作为侧链隔着由共轭性的原子团构成的间隔部而具有由赋予向列取向性的对位取代环状化合物单元构成的上述直线状原子团部的化合物。这些液晶性聚合物通过以下方法进行处理,即,在对于形成在玻璃板上的聚酰亚胺或聚乙烯醇等薄膜的表面进行摩擦处理后的材料、斜向蒸镀了氧化硅的材料等的取向处理面上,铺展液晶性聚合物的溶液后进行热处理。
相位差板可以是例如各种波长板或用于补偿由液晶层的双折射造成的着色或视角等的材料等具有对应于使用目的的适宜的相位差的材料,也可以是层叠2种以上的相位差板而控制了相位差等光学特性的材料。
补偿视角薄膜是从不垂直于画面的稍微倾斜的方向观察液晶显示装置的画面的情况下也使图像看起来比较清晰的、用于扩大视角的薄膜。作为此种视角补偿相位差板,例如由相位差膜、液晶聚合物等的取向薄膜或透明基材上支撑了液晶聚合物等的取向层的材料等构成。通常作为相位差板使用的是沿其面方向被实施了单向拉伸的、具有双折射的聚合物薄膜,与此相对,作为被用作视角补偿薄膜的相位差板,可以使用沿其面方向被实施了双向拉伸的具有双折射的聚合物薄膜、沿其面方向被单向拉伸并且沿其厚度方向也被拉伸了的可控制厚度方向的折射率的具有双折射的聚合物或像倾斜取向膜等双向拉伸薄膜等。作为倾斜取向膜,例如可以举出在聚合物薄膜上粘接热收缩膜后在因加热形成的收缩力的作用下对聚合物薄膜进行了拉伸处理或/和收缩处理的材料、使液晶聚合物倾斜取向而成的材料等。作为相位差板的原材料聚合物可使用与上述的相位差板中说明的聚合物相同的聚合物,可以使用以防止基于由液晶单元造成的相位差而形成的辨识角的变化所带来的着色等或扩大辨识度良好的视角等为目的的适宜的聚合物。
另外,从实现辨识度良好的宽视角的观点出发,可以优选使用用三乙酸纤维素薄膜支撑由液晶聚合物的取向层、特别是圆盘状液晶聚合物的倾斜取向层构成的光学各向异性层的光学补偿相位差板。
将偏振片和亮度改善薄膜贴合在一起而成的偏振片通常被设于液晶单元的背面一侧。亮度改善薄膜是显示如下特性的薄膜,即,当因液晶显示装置等的背光灯或来自背面侧的反射等,有自然光入射时,反射特定偏振轴的直线偏振光或特定方向的圆偏振光,而使其他光透过。因此将亮度改善薄膜与偏振片层叠而成的偏振片可使来自背光灯等光源的光入射,而获得特定偏振光状态的透过光,同时,所述特定偏振光状态以外的光不能透过,被予以反射。借助设于其后侧的反射层等再次反转在该亮度改善薄膜面上反射的光,使之再次入射到亮度改善薄膜上,使其一部分或全部作为特定偏振光状态的光透过,从而增加透过亮度改善薄膜的光,同时向偏振镜提供难以吸收的偏振光,从而增大能够在液晶显示图像的显示等中利用的光量,并由此可以提高亮度。即,在不使用亮度改善薄膜而用背光灯等从液晶单元的背面侧穿过偏振镜而使光入射的情况下,具有与偏振镜的偏振轴不一致的偏振方向的光基本上被偏振镜所吸收,因而无法透过偏振镜。即,虽然会因所使用的偏振镜的特性而不同,但是大约50%的光会被偏振镜吸收掉,因此,液晶图像显示等中能够利用的光量将减少,导致图像变暗。由于亮度改善薄膜反复进行如下操作,即,使具有能够被偏振镜吸收的偏振方向的光不是入射到偏振镜上,而是使该类光在亮度改善薄膜上发生反射,进而借助设于其后侧的反射层等完成反转,使光再次入射到亮度改善薄膜上,这样,亮度改善薄膜只使在这两者间反射并反转的光中的、其偏振方向变为能够通过偏振镜的偏振方向的偏振光透过,同时将其提供给偏振镜,因此可以在液晶显示装置的图像的显示中有效地使用背光灯的光,从而可以使画面明亮。
也可以在亮度改善薄膜和所述反射层等之间设置扩散板。由亮度改善薄膜反射的偏振光状态的光射向所述反射层等,所设置的扩散板可将通过的光均匀地扩散,同时消除偏振光状态而使之成为非偏振光状态。即,扩散板使偏振光恢复到原来的自然光状态。反复进行如下的作业,即,将该非偏振光状态即自然光状态的光射向反射层等,经过反射层等而反射后,再次通过扩散板而又入射到亮度改善薄膜上。通过在亮度改善薄膜和所述反射层之间设置使偏振光恢复到原来的自然光状态的扩散板,可以在维持显示画面的亮度的同时,减少显示画面的亮度的不均,从而可以提供均匀并且明亮的画面。通过设置该扩散板,可适当增加初次入射光的重复反射次数,并结合扩散板的扩散功能,可以提供均匀明亮的显示画面。
作为所述亮度改善薄膜,例如可以使用:电介质的多层薄膜或折射率各向异性不同的薄膜多层叠层体之类的显示出使特定偏光轴的直线偏振光透过而反射其他光的特性的薄膜、胆甾醇型液晶聚合物的取向膜或在薄膜基材上支撑了该取向液晶层的薄膜之类的显示出将左旋或右旋中的任一种圆偏振光反射而使其他光透过的特性的薄膜等适宜的薄膜。
因此,通过利用所述的使特定偏光轴的直线偏振光透过的类型的亮度改善薄膜,使该透过光直接沿着与偏振轴一致的方向入射到偏振片上,可以在抑制由偏振片造成的吸收损失的同时,使光有效地透过。另一方面,利用胆甾醇型液晶层之类的使圆偏振光透过的类型的亮度改善薄膜,虽然可以直接使光入射到偏振镜上,但是,从抑制吸收损失这一点考虑,最好借助相位差板对该圆偏振光进行直线偏振光化,之后再入射到偏振片上。还有,通过使用1/4波长板作为该相位差板,可以将圆偏振光变换为直线偏振光。
在可见光区域等较宽波长范围内能起到1/4波长板作用的相位差板,例如可以利用以下方式获得,即,将相对于波长550nm的浅色光能起到1/4波长板作用的相位差层和显示其他的相位差特性的相位差层例如能起到1/2波长板作用的相位差层重叠的方式等。所以,配置于偏振片和亮度改善薄膜之间的相位差板可以由1层或2层以上的相位差层构成。
还有,就胆甾醇型液晶层而言,也可以组合不同反射波长的材料,构成重叠2层或3层以上的配置构造,由此获得在可见光区域等较宽的波长范围内反射圆偏振光的构件,从而可以基于此而获得较宽波长范围的透过圆偏振光。
另外,本发明的薄片状制品(例如偏振片)如同所述偏振光分离型偏振片,可以由层叠了偏振片和2层或3层以上的光学层的构件构成。所以,也可以是组合所述反射型偏振片或半透过型偏振片和相位差板而成的反射型椭圆偏振片或半透过型椭圆偏振片等。
在偏振片上层叠了所述光学层的光学薄膜可以利用在液晶显示装置等的制造过程中依次独立层叠的方式来形成,但是预先经层叠而成为光学薄膜的偏振片在质量的稳定性或组装操作等方面优良,因此具有可改善液晶显示装置等的制造工序的优点。在层叠中可以使用粘合剂层等适宜的粘接手段。在粘接所述偏振片和其他光学层时,它们的光学轴可以根据目标相位差特性等而采用适宜的配置角度。
本发明的偏振片或所述的层叠光学构件中,也可以设置用于与液晶单元等其他构件粘接的粘合层。对于该粘合层没有特别限定,可以用丙烯酸类等与以往相同的适宜的粘合剂来形成。从防止由吸湿造成的发泡现象或剥离现象、防止由热膨胀差等造成的光学特性的降低或液晶单元的翘曲以及形成高质量并且耐久性优良的图像显示装置等方面考虑,优选吸湿率低并且耐热性优良的粘合层。另外,可以采用通过含有微粒而显示出光扩散性的粘合层等。粘合层根据需要设置在所需要的面上即可,例如,对由偏光镜和保护膜构成的偏振片来说,根据需要在保护膜的单面或双面上设置粘合层即可。
对于所述粘合层的暴露面,为了在提供于实用之前防止其被污染,可以临时粘贴隔膜而将其覆盖。这样,就可以防止其在通常的处理状态下与粘合层接触。作为隔膜,除了所述厚度条件以外,例如可以使用如下的与以往相同的适宜的材料,即,根据需要用硅酮类或长链烷基类、氟类或硫化钼等适宜的剥离剂对塑料薄膜、橡胶薄片、纸、布、无纺布、网状物、发泡薄片或金属箔、它们的层压体等适宜的薄片体进行了涂覆处理的材料。
还有,在本发明中,在形成上述的偏振片的偏振镜或透明保护膜或光学膜等中,另外在粘合层等各层中,也可以利用例如用水杨酸酯类化合物或苯并苯酚(benzopheno1)类化合物、苯并***类化合物或氰基丙烯酸酯类化合物、镍络合盐类化合物等紫外线吸收剂进行处理的方式,使之具有紫外线吸收能力等。
本发明的薄片状制品,可以适用于液晶显示装置、有机EL显示装置、PDP等图像显示装置的形成。
本发明的偏振片或光学薄膜,可以适用于液晶显示装置等各种装置的形成等中。液晶显示装置的形成可以按照以往的方式进行。即,液晶显示装置一般来说可通过将液晶单元与偏振片或光学薄膜、以及根据需要而加入的照明***等构成部件适当组装后,装入驱动电路等方式形成,本发明中除使用本发明的偏振片或光学薄膜这一点以外,并没有特别限定,可以按照以往的方式进行。对于液晶单元而言,也可以使用例如TN型或STN型、π型等任意类型的液晶单元。
通过本发明可以形成在液晶单元的单侧或双侧配置了偏振片或光学薄膜的液晶显示装置、在照明***中使用了背光灯或反射片的装置等适宜的液晶显示装置。此时,本发明的偏振片或光学薄膜可以设置在液晶单元的单侧或双侧上。当将偏振片或光学薄膜设置在双侧时,它们既可以是相同的材料,也可以是不同的材料。另外,在形成液晶显示装置时,可以在适宜的位置上配置1层或2层以上例如扩散板、防眩光层、防止反射膜、保护板、棱镜阵列、透镜阵列薄片、光扩散板、背光灯等适宜的部件。
下面对有机电致发光装置(有机EL显示装置)进行说明。一般来说,有机EL显示装置中,在透明基板上依次层叠透明电极、有机发光层和金属电极而形成发光体(有机电致发光体)。这里,有机发光层是各种有机薄膜的层叠体,已知有:例如由三苯基胺衍生物等构成的空穴注入层和由蒽等荧光性的有机固体构成的发光层的层叠体、或此种发光层和由二萘嵌苯衍生物等构成的电子注入层的层叠体、或者具有这些空穴注入层、发光层及电子注入层的层叠体等各种组合。
有机EL显示装置根据如下的原理进行发光,即,通过在透明电极和金属电极上加上电压,向有机发光层中注入空穴和电子,由这些空穴和电子的复合而产生的能量激发荧光物质,被激发的荧光物质回到基态时,就会放射出光。中间的复合机理与一般的二极管相同,由此也可以推测出,电流和发光强度相对于外加电压显示出伴随整流性的较强的非线性。
在有机EL显示装置中,为了取出有机发光层中产生的光,至少一方的电极必须是透明的,通常将由氧化铟锡(ITO)等透明导电体制成的透明电极作为阳极使用。另一方面,为了容易进行电子的注入而提高发光效率,在阴极中使用功函数较小的物质是十分重要的,通常使用Mg-Ag、Al-Li等金属电极。
在具有此种构成的有机EL显示装置中,有机发光层由厚度为10nm左右的极薄的膜构成。所以,有机发光层也与透明电极一样,使光基本上完全地透过。其结果是,在不发光时从透明基板的表面入射并透过透明电极和有机发光层而在金属电极反射的光会再次向透明基板的表面侧射出,因此,当从外部进行识认时,有机EL装置的显示面如同镜面。
在包括如下所述的有机电致发光体的有机EL显示装置中,可以在透明电极的表面侧设置偏振片,同时在这些透明电极和偏振片之间设置相位差板,上述有机电致发光体中,在通过施加电压而进行发光的有机发光层的表面侧设有透明电极,同时在有机发光层的背面侧设有金属电极。
由于相位差板及偏振片具有使从外部入射并在金属电极反射的光成为偏振光的作用,因此利用该偏振光作用具有使得从外部无法辨识出金属电极的镜面的效果。特别是,采用1/4波长板构成相位差板,并且将偏振片和相位差板的偏振光方向的夹角调整为π/4时,可以完全遮蔽金属电极的镜面。
即,入射于该有机EL显示装置的外部光因偏振片的存在而只有直线偏振光成分透过。该直线偏振光一般会被相位差板转换成椭圆偏振光,特别是当相位差板为1/4波长板并且偏振片和相位差板的偏振方向的夹角为π/4时,就会成为圆偏振光。
该圆偏振光透过透明基板、透明电极、有机薄膜,在金属电极上反射,再次透过有机薄膜、透明电极、透明基板,由相位差板再次转换成直线偏振光。由于该直线偏振光与偏振片的偏振光方向正交,因此无法透过偏振片。其结果是,可以将金属电极的镜面完全地遮蔽。
本发明的薄片状制品(例如偏振片)可以适用于液晶显示装置等各种装置的形成等中。液晶显示装置可以形成为将本发明的薄片状制品(例如偏振片)配置在液晶单元的单侧或双侧而成的透过型或反射型或者透过·反射两用型的具有与以往相同的适宜的构造的装置。所以,形成液晶显示装置的液晶单元可以是任意的,例如也可以使用以薄膜晶体管型为代表的单纯矩阵驱动型的液晶单元等适宜类型的液晶单元。
另外,在液晶单元的两侧设置偏振片或光学部件时,这些既可以是相同的构件,也可以是互不相同的构件。进而,在形成液晶显示装置时,可以在适当的位置上设置1层或2层以上的棱镜阵列薄片或透镜阵列薄片、光扩散板或背光灯等适宜的部件。
<薄片状制品的检查***的构成>
以下利用附图说明本发明的薄片状制品的检查方法(检查***)的优选实施方式。
<识别信息记录工序>
图1是说明在偏振片原材料N(带状的薄片状制品)上记录识别信息的工序的图。偏振片原材料N以卷筒1的形式被保管,通过依次从卷筒1拉出,在偏振片原材料N宽度方向的端部记录识别信息。被记入识别信息的偏振片原材料N,再次被卷成卷筒2的形式被保管。偏振片原材料N沿着图1的箭头方向被图中未示出的输送机构输送,在偏振片原材料N宽度方向的端部印上识别信息。最终从偏振片原材料N冲切出预定平面形状的单片材(最终制品),由于偏振片原材料N宽度方向的端部是不被用作制品的区域,因此在此印上识别信息也不存在问题。
测长仪3(相当于移动量检测机构)将检测被输送机构输送的偏振片原材料N的移动量。具体讲,采用连动于偏振片原材料N的输送的回转式编码器检测移动量。打印装置4(相当于识别信息记录机构)是在宽度方向端部上记录(打印)识别信息用的装置,备有打印头4a。作为打印装置4虽然可以使用例如喷墨打印机或激光标识仪等,但是并不限于特定种类的打印装置。识别信息沿着偏振片原材料N被输送的方向以等间隔打印在其上。打印控制装置5基于由测长仪3输入的信号对打印装置4进行控制。也就是说,基于来自测长仪3的移动量信号(脉冲信号)向打印装置4发出指令,使其每隔规定间隔打印识别信息。打印识别信息的间隔并不限于特定的数值,例如可以定为1米间隔。
以下利用图2说明识别信息的具体实例。图2(a)是由条形码形成的实例。也与条形码一起打印有还有数字数据。数字数据构成为连续的数,以101、102、103…的顺序依次增加数字1。构成为连续数的情况下,并不限于图示的实例,可以采用各种方法。例如,也可以使数字以1为单位逐一减少。所增加数字也可以不是“1”。也可以不是数字而是文字序列(a、b、c…)。将条形码和数值都打印的情况下,也可以由操作员用肉眼进行确认。读取数字数据时,最好能读取条形码。上述的数字数据将表示偏振片原材料N输送方向上的位置座标。
图2(b)是二维码的实例。采用二维码的情况下,能记录比一维条形码更多的信息。于是不仅有连续信息,而且还可以一起打印日期和时刻信息和产品编号。日期和时刻信息能够记录记录了二维码的日期和时刻等。作为产品信息,不仅有产品编号,而且还可以打印产品名称和批号。在二维码的情况下,也可以一同打印数字数据。在图2(b)的实例中,也印有日期数字和连续排列的数字(序列号)。
按照以上的构成,只要以等间隔打印识别信息即可,没有必要专门确定检查开始位置和检查终止位置。
<缺陷位置检测工序>
以下利用图3说明缺陷位置检测工序。正如图1中所说明,将记录了识别信息的薄片状制品先卷绕成卷筒,但是进行检查时必须从卷筒中拉出。如图3所示,依次从卷筒11拉出带状的薄片状制品,检查终止后再将其卷绕成卷状12后进行保管。
测长仪13具有与图1中说明的测长仪3相同的功能。读取传感器6(相当于识别信息读取机构),具有读取由打印机4所打印出的识别信息的功能。例如,可以使用条形码传感器。CCD摄像机7(相当于图像获取机构),能获取偏振片原材料N的图像。CCD摄像机7需要取得偏振片原材料N的宽度方向上的全景图像,必要时还可以设置多台。另外设置在CCD摄像机7上的图像传感器,既可以是线传感器,也可以是面传感器。
检查装置8基于由CCD摄像机7摄取的图像信息检测缺陷,同时检测缺陷的位置。缺陷的检测可以采用图像处理技术进行,检测算法可以采用公知方法,其说明省略。被检测的缺陷位置信息被存储在存储装置9中。
<缺陷位置信息的运算>
以下利用图4说明缺陷位置信息的运算方法。图4表示从正上方俯视偏振片原材料时的状态。另外以方框图说明检查装置8的功能。移动量运算部分8a,根据由测长仪13输入的脉冲信号,运算偏振片原材料N的移动量。具体说是,以各识别信息为基准运算从识别信息的移动量(相当于移动距离)。识别信息解析部分8b,对读取的识别信息进行解析。具体为,解析识别信息中包含的数字数据。包含日期和时刻及产品编号等信息的情况下,也就这些信息进行解析。图像处理部分8c,根据由CCD摄像机7摄取的图像信息,解析是否存在缺陷,而且也解析缺陷的位置。被图像处理部分8c解析的缺陷位置数据,是所获取的图像中的位置座标,其中包括缺陷位置与宽度方向端部间的距离(图4中用B表示)。
缺陷位置运算部分8d,根据移动量运算部分8a和识别信息解析部分8b的运算结果、以及由图像处理部分8c检测的缺陷位置信息,确定整个薄片状制品中的缺陷位置信息。可以根据由CCD摄像机摄取图像信息的时刻、和该瞬间的识别信息的数字数据、以及移动量数据,确定缺陷位置。也就是说,如图4所示,依靠与记录有连续编号103的位置间的距离A,能够确定偏振片原材料在输送方向上的位置。另外宽度方向的位置能够利用距离B(由图像信息求出)确定。按照以上方式得到的缺陷位置信息(连续编号103、距离A,B)被存储在存储装置9中。
综上所述,能够以识别信息为基准求出缺陷位置。另外由于以等间隔记录有识别信息,所以即使某个识别信息表面被污染,无法用读取传感器6读取,也能根据除此之外的识别信息确定出位置。由于识别信息是由连续编号的数字数据构成的,因此可以实现这一点。
<单片材的制造(冲切)>
以下用图5和图6说明从经缺陷检查的偏振片原材料冲切(冲裁)出单片材的工序。如图5所示,偏振片原材料N事先被卷成卷筒21,若要获得单片材,需要依次从卷筒21拉出偏振片原材料N。测长仪23和读取传感器16,具有与图3中说明的测长仪13(相当于第2位置检测机构)和读取传感器6(相当于第2识别信息读取机构)相同的功能。
图6中,剪切控制装置10使切刀18运转,从带状偏振片原材料N切出单片材M。单片材M例如具有矩形形状,相当于最终制品。剪切控制装置10具有移动量运算部分10a和识别信息解析部分10b,这些具有与图4中说明的移动量运算部分8a和识别信息解析部分8b相同的功能。缺陷位置确定部分10c(相当于第2运算机构),根据被存储在存储装置9中的缺陷位置信息以及移动量运算部分10a和识别信息解析部分10b的运算结果,确定缺陷位置。
运转切刀18(冲切装置)而制造单片材时,利用适当方法除去包含缺陷位置的单片材M。读取传感器16与切刀18之间的距离L是预先决定的。另外单片材的大小(图6中用W表示)也是预先决定的。如图6所示,如果根据被存储在存储装置9中的缺陷位置信息,查明在与某识别信息(定为“103”的编码信息)距离A处有缺陷,则从由读取传感器16读取“103”编码信息的时刻开始输送L+A的量,此时缺陷恰好处于切刀18的位置。因此,能够判定用切刀18冲切的单片材M上是否存在缺陷。
可以利用适当方法除去包含缺陷的单片材M。另外如图5所示,单片材M被冲切后的其余部分,单独卷绕成卷筒。还有,也可以在使切刀18运作时使之避开缺陷位置而获得单片材M。
<未冲切单片材的构成例>
根据本发明的检查***,能以高精度(10毫米以下)检测缺陷的位置。其中如图5所示,也可以不冲切单片材M而在缺陷位置进行标记并将其卷绕成卷筒之后出厂。用图7说明这种构成例。
图7中,设有标记装置17,在缺陷位置进行标记。标记装置17受标记装置控制部15的控制。标记装置17备有能沿着偏振片原材料的宽度方向移动的万能笔(magic)17a,对缺陷位置进行标记。另外图7中的测长仪23、读取传感器6、移动量运算部分15a和识别信息解析部分15b与已经说明的相同。
缺陷位置确定部分15c,根据移动量运算部分15a和识别信息解析部分15b的运算结果、以及从存储装置9读出的缺陷位置信息,确定整个薄片状制品中的缺陷位置信息。具有与图6中的缺陷位置确定部分10c相同的功能。基于被存储在存储部分9中的缺陷位置信息,使万能笔17a动作,对缺陷位置进行标记。标记后卷绕成卷筒32,以卷筒32的形式制成产品出厂。
综上所述,本发明的检查***(检查方法)中,由打印装置在薄片状制品宽度方向的端部打印识别信息。识别信息以等间隔打印的形式被记录。以此识别信息作为基准,可将缺陷位置信息存储在存储装置之中。结合被存储在存储装置中的位置信息、和被输送的薄片状制品现在的位置信息,能够确定缺陷位置。基于此能以高精度排除包含缺陷的不合格品。其结果能够抑制合格率的下降。
<其他实施方式>
(1)本实施方式中,图1的识别信息记录工序、图3中的缺陷检查及存储工序、以及图5中的单片材的冲切工序安排成单个独立工序,但是并不限于此。例如也可以在记录识别信息之后,立即进行检查工序和存储工序。
(2)识别信息记录在带状的薄片状制品宽度方向的端部,但是也可以记录在宽度方向的两侧。
Claims (10)
1.一种薄片状制品的检查方法,其中包括:
在带状的薄片状制品的宽度方向端部上,沿着薄片状制品的输送方向,每隔规定间隔记录表示输送方向位置的识别信息的工序;
读取该被记录的识别信息的工序;
检测薄片状制品的输送方向上的移动量的工序;
检查薄片状制品的表面缺陷的检查工序;和
根据所读取的识别信息和检测出的移动量,运算被检测出的表面缺陷的位置信息,并将该运算出的位置信息存储在存储装置中的工序。
2.按照权利要求1所述的薄片状制品的检查方法,其中包括:
检测带状的薄片状制品的输送方向上的移动量的工序;
读取被记录在薄片状制品的宽度方向端部的识别信息的工序;
从所述存储装置读出缺陷的位置信息的工序;
根据所读出的位置信息、所检测出的移动量和所读取的识别信息,确定存在于带状的薄片状制品上的缺陷的位置的工序。
3.按照权利要求1所述的薄片状制品的检查方法,其特征在于所述识别信息是距离数据。
4.按照权利要求1所述的薄片状制品的检查方法,其特征在于所述识别信息是连续排列的数字数据。
5.按照权利要求1所述的薄片状制品的检查方法,其特征在于所述识别信息中还包含日期和时刻及制品名称信息。
6.一种薄片状制品的检查***,其中包括:
在带状的薄片状制品的宽度方向端部上,沿着薄片状制品的输送方向,每隔预定间隔记录表示位置的识别信息的识别信息记录机构;
读取该被记录的识别信息的识别信息读取机构;
检测薄片状制品的输送方向上的移动量的移动量检测机构;
检查薄片状制品的表面缺陷的检查装置;
根据所读取的识别信息和所检测出的移动量,运算被检测出的表面缺陷的位置信息的运算机构;和
存储该运算出的位置信息的存储装置。
7.按照权利要求6所述的薄片状制品的检查***,其中包括:
检测带状的薄片状制品的输送方向上的移动量的第2移动量检测机构;
读取被记录在薄片状制品的宽度方向端部上的识别信息的第2识别信息读取机构;和
根据从所述存储装置所读出的缺陷位置信息、所检测出的移动量和所读取的识别信息,确定存在于带状的薄片状制品上的缺陷的位置的第2运算机构。
8.一种带状的薄片状制品,其特征在于,是利用权利要求1所述的检查方法检查的带状的薄片状制品,且将被检测出的缺陷位置信息存储在存储装置之后,被卷绕成卷筒。
9.一种单片材,其特征在于,是利用权利要求1所述的检查方法检查的薄片状制品,且从带状的薄片状制品分别冲切成各制品的形状。
10.一种图像显示装置,其中具有权利要求9所述的单片材。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003351122A JP2005114624A (ja) | 2003-10-09 | 2003-10-09 | シート状製品の検査方法及びシート状製品の検査システム及びシート状製品及び枚葉物 |
JP2003351122 | 2003-10-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1605859A true CN1605859A (zh) | 2005-04-13 |
CN100491983C CN100491983C (zh) | 2009-05-27 |
Family
ID=34542486
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2004100835464A Active CN100491983C (zh) | 2003-10-09 | 2004-10-09 | 薄片状制品及其检查方法和检查***、图像显示装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2005114624A (zh) |
KR (1) | KR20050034539A (zh) |
CN (1) | CN100491983C (zh) |
TW (1) | TW200519374A (zh) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101035946B (zh) * | 2004-04-19 | 2011-03-30 | 3M创新有限公司 | 分析材料织物特征的方法及标记材料织物的***和方法 |
CN102067023A (zh) * | 2009-05-15 | 2011-05-18 | 日东电工株式会社 | 光学显示装置的制造***以及制造方法 |
CN101910924B (zh) * | 2008-04-15 | 2012-08-29 | 日东电工株式会社 | 连续带状光学膜层积体及其制造方法及制造装置 |
CN104204785A (zh) * | 2012-03-23 | 2014-12-10 | 东丽株式会社 | 被测长产品的检查方法以及检查装置 |
CN105424706A (zh) * | 2014-09-12 | 2016-03-23 | 昭和电工包装株式会社 | 电化学设备用外装膜的检查方法 |
CN106886070A (zh) * | 2015-10-15 | 2017-06-23 | 住友化学株式会社 | 光学膜的制造装置以及光学膜的制造方法 |
CN107167952A (zh) * | 2016-03-07 | 2017-09-15 | 东友精细化工有限公司 | 偏光板以及用于检验片状产品的***和方法 |
CN109283243A (zh) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 迅得机械股份有限公司 | 软板标记***及方法 |
CN110090808A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-06 | 智翼博智能科技(苏州)有限公司 | 偏光片全自动投料外观检测设备及检测方法 |
CN110153020A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-23 | 智翼博智能科技(苏州)有限公司 | 偏光片全自动投料Mark检测设备及检测方法 |
CN110522068A (zh) * | 2019-09-18 | 2019-12-03 | 湖北中烟工业有限责任公司 | 烟草薄片偏移量检测装置以及烟草薄片加工*** |
CN111788066A (zh) * | 2018-07-08 | 2020-10-16 | 洛希亚有限公司 | 用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置和方法 |
CN114910483A (zh) * | 2022-07-15 | 2022-08-16 | 中科视语(北京)科技有限公司 | 超晶板质量检测装置、方法及*** |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101010990B1 (ko) | 2006-10-17 | 2011-01-26 | 닛토덴코 가부시키가이샤 | 광학 부재 부착방법 및 그것을 이용한 장치 |
KR100899558B1 (ko) * | 2007-05-03 | 2009-05-27 | 에버테크노 주식회사 | 편광필름 검사장치의 마킹제어방법 |
JP4307510B1 (ja) * | 2007-12-27 | 2009-08-05 | 日東電工株式会社 | 光学表示装置の製造システム及び製造方法 |
US8366858B2 (en) | 2007-12-27 | 2013-02-05 | Nitto Denko Corporation | Manufacturing system and manufacturing method for optical display device |
JP2009244064A (ja) * | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 偏光フィルムの検査方法 |
JP4913838B2 (ja) | 2008-04-14 | 2012-04-11 | 日東電工株式会社 | 光学表示装置製造システム及び光学表示装置製造方法 |
JP5415017B2 (ja) * | 2008-04-28 | 2014-02-12 | 日立ビークルエナジー株式会社 | 二次電池、二次電池の製造方法、及び製造システム |
KR101380204B1 (ko) | 2008-12-31 | 2014-04-01 | 동우 화인켐 주식회사 | 편광판의 결함 제거방법 및 그 방법이 구현된 시스템 |
KR101045852B1 (ko) * | 2009-03-05 | 2011-07-01 | 도판 인사츠 가부시키가이샤 | 외관 검사 시스템 |
JP2010262265A (ja) | 2009-04-10 | 2010-11-18 | Nitto Denko Corp | 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法 |
JP4503689B1 (ja) * | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子の連続製造方法及び装置 |
JP4503692B1 (ja) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置において用いられる情報格納読出演算システム及び情報格納読出演算システムの製造方法 |
JP4503693B1 (ja) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 連続ウェブ形態の切込線入り光学フィルム積層体の連続ロール並びにその製造方法及び製造装置 |
JP4503690B1 (ja) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液晶表示素子を連続製造する装置に用いられる情報格納読出システム、及び、前記情報格納読出システムを製造する方法及び装置 |
JP4503691B1 (ja) | 2009-10-13 | 2010-07-14 | 日東電工株式会社 | 液層表示素子の連続製造方法及び装置 |
JP5519330B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2014-06-11 | 日東電工株式会社 | 切断情報決定方法、並びに、これを用いた帯状偏光シートの製造方法、光学表示ユニットの製造方法、帯状偏光シート及び偏光シート原反 |
JP5474869B2 (ja) * | 2010-09-03 | 2014-04-16 | 日東電工株式会社 | 偏光膜を有する積層体ストリップロールの製造方法 |
JP5668593B2 (ja) * | 2011-04-25 | 2015-02-12 | コニカミノルタ株式会社 | 偏光板、その製造方法及び垂直配向型液晶表示装置 |
JP2014071067A (ja) * | 2012-10-01 | 2014-04-21 | Dac Engineering Co Ltd | 巻き替え検品方法、巻き替え検品装置及び巻き替え検品システム |
WO2015068599A1 (ja) * | 2013-11-05 | 2015-05-14 | シャープ株式会社 | 光拡散部材、光拡散部材の検査装置、光拡散部材の製造装置及び製造方法 |
CN104048973B (zh) * | 2014-05-28 | 2016-08-17 | 苏州科技学院 | 卷状遮光料的漏光检测装置 |
CN105784720A (zh) * | 2014-12-16 | 2016-07-20 | 徐帆 | 布料缺陷的检测方法和*** |
JP6682259B2 (ja) * | 2015-09-29 | 2020-04-15 | キヤノン株式会社 | 定着用回転体及び加熱装置 |
JP6604805B2 (ja) * | 2015-09-30 | 2019-11-13 | 日東電工株式会社 | 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法 |
AT518443B1 (de) * | 2016-03-21 | 2017-12-15 | Softsolution Gmbh | Inspektionsanlage für das optische Prüfen einer Flachglasscheibe |
TWI639367B (zh) | 2017-07-07 | 2018-10-21 | 迅得機械股份有限公司 | 軟板標記系統及方法 |
WO2022107756A1 (ja) * | 2020-11-18 | 2022-05-27 | 日東電工株式会社 | シート状製品の製造方法、シート状製品、原反及び中間体 |
CN112830309B (zh) * | 2020-12-30 | 2023-03-21 | 中国特种飞行器研究所 | 一种卷验机半自动数据采集记录*** |
-
2003
- 2003-10-09 JP JP2003351122A patent/JP2005114624A/ja active Pending
-
2004
- 2004-09-04 KR KR1020040070623A patent/KR20050034539A/ko not_active Application Discontinuation
- 2004-10-08 TW TW093130597A patent/TW200519374A/zh unknown
- 2004-10-09 CN CNB2004100835464A patent/CN100491983C/zh active Active
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101035946B (zh) * | 2004-04-19 | 2011-03-30 | 3M创新有限公司 | 分析材料织物特征的方法及标记材料织物的***和方法 |
CN101910924B (zh) * | 2008-04-15 | 2012-08-29 | 日东电工株式会社 | 连续带状光学膜层积体及其制造方法及制造装置 |
CN101925846B (zh) * | 2008-04-15 | 2012-09-26 | 日东电工株式会社 | 光学薄膜层积体卷筒及其制造方法与*** |
CN101910925B (zh) * | 2008-04-15 | 2013-06-05 | 日东电工株式会社 | 用于连续制造液晶显示元件的方法与装置 |
CN102067023A (zh) * | 2009-05-15 | 2011-05-18 | 日东电工株式会社 | 光学显示装置的制造***以及制造方法 |
CN102067023B (zh) * | 2009-05-15 | 2012-10-10 | 日东电工株式会社 | 光学显示装置的制造***以及制造方法 |
CN104204785A (zh) * | 2012-03-23 | 2014-12-10 | 东丽株式会社 | 被测长产品的检查方法以及检查装置 |
CN105424706A (zh) * | 2014-09-12 | 2016-03-23 | 昭和电工包装株式会社 | 电化学设备用外装膜的检查方法 |
CN106886070A (zh) * | 2015-10-15 | 2017-06-23 | 住友化学株式会社 | 光学膜的制造装置以及光学膜的制造方法 |
CN106886070B (zh) * | 2015-10-15 | 2020-07-28 | 住友化学株式会社 | 光学膜的制造装置以及光学膜的制造方法 |
CN107167952A (zh) * | 2016-03-07 | 2017-09-15 | 东友精细化工有限公司 | 偏光板以及用于检验片状产品的***和方法 |
CN109283243A (zh) * | 2017-07-19 | 2019-01-29 | 迅得机械股份有限公司 | 软板标记***及方法 |
CN111788066A (zh) * | 2018-07-08 | 2020-10-16 | 洛希亚有限公司 | 用于管理转化线上的卷带材料中的缺陷的装置和方法 |
CN110090808A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-06 | 智翼博智能科技(苏州)有限公司 | 偏光片全自动投料外观检测设备及检测方法 |
CN110153020A (zh) * | 2019-05-17 | 2019-08-23 | 智翼博智能科技(苏州)有限公司 | 偏光片全自动投料Mark检测设备及检测方法 |
CN110522068A (zh) * | 2019-09-18 | 2019-12-03 | 湖北中烟工业有限责任公司 | 烟草薄片偏移量检测装置以及烟草薄片加工*** |
CN114910483A (zh) * | 2022-07-15 | 2022-08-16 | 中科视语(北京)科技有限公司 | 超晶板质量检测装置、方法及*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005114624A (ja) | 2005-04-28 |
TWI349771B (zh) | 2011-10-01 |
KR20050034539A (ko) | 2005-04-14 |
CN100491983C (zh) | 2009-05-27 |
TW200519374A (en) | 2005-06-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1605859A (zh) | 薄片状制品及其检查方法和检查***、图像显示装置 | |
JP4869053B2 (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置、積層フィルム、及び画像表示装置 | |
CN100476414C (zh) | 薄片状制品的检查方法及检查*** | |
JP5051874B2 (ja) | 積層フィルムの製造方法、積層フィルムの欠陥検出方法、積層フィルムの欠陥検出装置 | |
US8182637B2 (en) | System and method for manufacturing optical display | |
JP2005062165A (ja) | シート状製品の検査方法、検査システム、シート状製品、及び、画像表示装置 | |
WO2006054597A1 (ja) | 光学補償層付偏光板、液晶パネル、液晶表示装置、画像表示装置および光学補償層付偏光板の製造方法 | |
CN101241203A (zh) | 光学薄膜体及光学薄膜体的制造方法 | |
KR20080033862A (ko) | 검사 데이터 처리 장치 및 검사 데이터 처리 방법 | |
CN101281258A (zh) | 光学薄膜体及光学薄膜体的制造方法 | |
JP2008292201A (ja) | 積層フィルムの検査方法及び積層フィルムの検査装置 | |
JP2004148419A (ja) | 積層シートの切削加工方法及び積層シート及び光学素子及び画像表示装置 | |
JP5797885B2 (ja) | 光学表示装置の製造システム及びその製造方法 | |
JP2004167672A (ja) | 積層シートの切削加工方法及び積層シート及び光学素子及び画像表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |