CN117854569B - 一种存储器的性能测试***及性能测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种存储器的性能测试***及性能测试方法，包括性能测试端以及主机端，主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，性能测试端包括多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器；以及中央处理器，用于基于主机端确定的子写入模型，对多个存储器进行写入测试，以获取每个子写入模型对应的场景写放大系数；主机端还用于对多个场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个存储器的总写放大系数的数据对比表。本发明可搭建数据写入模型模拟存储器的目标应用场景，大大提高测试分析效率以及测试数据的全面性。

Description

一种存储器的性能测试***及性能测试方法

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，特别涉及一种存储器的性能测试***及性能测试方法。

背景技术

存储器被广泛应用于各类终端产品中，用于存储数据。写放大系数是用于评价存储器内部固件性能的关键指标，写放大系数越趋近于一，则说明存储器性能越好。因此，对于不同厂家的存储器，通过比较写放大系数，即可了解到不同存储器之间的性能差异。然而目前，在对不同存储器的写放大系数进行测试分析时，存在测试分析效率低并且测试数据不全面的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供了一种存储器的性能测试***及性能测试方法，本发明在对不同存储器的写放大系数进行测试分析时，可以大大提高测试分析效率以及测试数据的全面性。

本发明提供了一种存储器的性能测试***，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；

所述主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例，所述性能测试端包括：

多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器，其中，所述数据写入模型是所述主机端基于多个所述存储器的目标应用场景进行搭建的，所述目标应用场景是顺序写操作、随机写操作、乒乓写操作及热点写操作的场景融合；以及

中央处理器，通信连接于多个所述存储器测试座，用于基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据，并用于对所述测试数据进行分析处理，以获取每个所述子写入模型对应的场景放大系数；

所述主机端还用于接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异；

其中，多个所述存储器的总写放大系数表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+ WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。

在本发明一实施例中，所述性能测试***还包括测试板卡，多个所述存储器测试座集成于所述测试板卡上，所述测试板卡设置有多个供电通道以及多个数字通道，多个所述供电通道分别为多个所述存储器供电，所述中央处理器同时通过多个所述数字通道分别对多个所述存储器进行写入测试。

在本发明一实施例中，所述性能测试端还包括：

闪存模块，所述中央处理器用于将所述主机端预设的***镜像文件烧录至所述闪存模块内，所述闪存模块用于存储所述***镜像文件；以及

内存模块，用于存储所述性能测试端的运行数据。

在本发明一实施例中，所述测试数据包括所述存储器写入的数据量以及对应的所述主机端的主机写入的数据量，所述场景写放大系数为所述存储器写入的数据量与所述主机写入的数据量之比。

在本发明一实施例中，所述主机端用于预先搭建多个数据写入模型，多个所述数据写入模型分别对应于多个目标应用场景，且每个所述目标应用场景分别对应一组顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例。

在本发明一实施例中，所述主机端还用于判断当前的写入测试是否完成，若当前的写入测试完成，所述主机端切换所述数据写入模型，并使所述中央处理器基于切换后的所述数据写入模型对多个所述存储器进行写入测试，以使所述主机端生成多个所述存储器在另一种所述目标应用场景下的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在另一种所述目标应用场景下的性能差异。

本发明还提供一种存储器的性能测试方法，应用于存储器的性能测试***，所述性能测试***包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接，所述性能测试端包括多个存储器测试座以及中央处理器，且所述中央处理器通信连接于多个所述存储器测试座，所述性能测试方法包括如下步骤：

所述主机端预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子测试模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例；

在多个所述存储器测试座上分别安装多个存储器，其中，所述数据写入模型是所述主机端基于多个所述存储器的目标应用场景进行搭建的，所述目标应用场景是顺序写操作、随机写操作、乒乓写操作及热点写操作的场景融合；

所述中央处理器基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据，并用于对所述测试数据进行分析处理，以获取每个所述子写入模型对应的场景放大系数；

所述主机端接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异；

其中，多个所述存储器的总写放大系数表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+ WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。

如上所述，本发明提供的一种存储器的性能测试***及性能测试方法，本发明在对不同存储器的写放大系数进行测试分析时，可以搭建数据写入模型模拟存储器的目标应用场景，快速简易地对多个不同存储器的写放大系数进行测试分析，大大提高测试分析效率。同时，可以基于存储器的应用场景对存储器进行测试，显著提高测试数据的全面性。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例中存储器的性能测试***的结构图；

图2为本发明一实施例中主机端的可视化界面图；

图3为本发明一实施例中存储器的性能测试方法的流程图；

图4为图3中步骤S20、步骤S30及步骤S40的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

首先需要说明的是，在实际应用中，存储器是在不同的目标应用场景下写入数据的，例如某一目标应用场景是顺序写操作（Sequential Write）及随机写操作（RandomWrite）的场景融合，又例如某一应用场景是顺序写操作（Sequential Write）、随机写操作（Random Write）、乒乓写操作（Pingpong写）及热点写操作（Hot Spot写）的场景融合，还例如某一应用场景是顺序写操作（Sequential Write）、随机写操作（Random Write）、热点写操作（Hot Spot写）的场景融合。当某一应用场景是顺序写操作（Sequential Write）、随机写操作（Random Write）、乒乓写操作（Pingpong写）及热点写操作（Hot Spot写）的场景融合时，一部分数据采用顺序写操作（Sequential Write）、一部分数据采用随机写操作（RandomWrite）、一部分数据采用乒乓写操作（Pingpong写）、一部分数据采用热点写操作（Hot Spot写）。值得解释的是，顺序写操作（Sequential Write）是指数据按照顺序写入到存储芯片的连续地址中，随机写操作（Random Write）是指数据写入到存储芯片的随机地址中，乒乓写操作（Pingpong写）是指数据交替写入不同的存储区域，热点写操作（Hot Spot写）是指数据集中写入部分存储区域。

请参阅图1，图1示出了本发明一存储器的性能测试***的结构图。该性能测试***可应用于对多个存储器进行性能测试的场景中，例如是对多个不同厂家的eMMC存储器进行性能测试。性能测试***可以包括性能测试端10以及主机端20。主机端20可以基于存储器的实际应用场景即目标应用场景去预先搭建好数据写入模型，因此，数据写入模型可搭建为顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型等多个子写入模型的融合，以使数据写入模型指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例，顺序写模型表示数据的顺序写操作、随机写模型表示数据的随机写操作、乒乓写模型表示数据的乒乓写操作、热点写模型表示数据的热点写操作。后续通过设定各个子写入模型的数据写入比例，从而实现对目标应用场景的模拟。

进一步来说，当某一目标应用场景抽象为顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型等多个子写入模型的融合时，主机端20每次可确定一子写入模型，性能测试端10可以基于主机端20每次确定的某个子写入模型来对多个不同厂家的存储器进行写入测试，以获取多个不同存储器在每个子写入模型下的场景写放大系数。进一步地，主机端20可以与性能测试端10通信连接，从而，性能测试端10可以将多个场景写放大系数传输至主机端20，主机端20可对多个场景写放大系数进行汇总处理，以生成每个存储器在该目标应用场景下的总写放大系数，从而生成多个存储器的总写放大系数在同一目标应用场景下的数据对比表，即可多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异，并筛选出性能更优的存储器。需要说明的是，待测试的存储器可以是eMMC存储器，也可以是其他类型的存储器，在此可不加限制。

需要说明的是，多个所述存储器的总写放大系数为多个场景写放大系数的融合，其融合规则可以是基于顺序写模型对应的数据写入比例、随机写模型对应的数据写入比例、乒乓写模型对应的数据写入比例，热点写模型对应的数据写入比例来融合，多个数据写入比例作为融合参数，因此总写放大系数可表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+ WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。可解释的是，为模拟多个目标应用场景，主机端20可通过改变A%、B%、C%及D%的具体比例数值来搭建。例如，A%为30%、B%为20%、C%为20%、D%为30%，以模拟30%数据写入比例的顺序写操作、20%数据写入比例的随机写操作、20%数据写入比例的乒乓写操作及30%数据写入比例的热点写操作。又例如，A%为30%、B%为30%、C%为0%、D%为40%，此时乒乓写操作的数据写入比例为0%，不进行乒乓写操作，仅模拟顺序写操作、随机写操作及热点写操作的写入。

请参阅图1，对于性能测试端10，具体来说，性能测试***的性能测试端10可以是多通道固件测试板卡，多通道固件测试板卡可以包括闪存模块11、内存模块12、多个存储器测试座13、通信接口14以及中央处理器15。多个存储器测试座13可集成于测试板卡上，以放置不同的存储器，以使该性能测试端10可对多个存储器进行测试，从而获取多个存储器的写放大系数，即可快速对比出多个不同存储器之间的性能差异。

在存储器进行测试准备时，闪存模块11可以存储性能测试端10的***镜像文件，中央处理器15执行该***镜像文件可启动性能测试端10，从而进行后续的性能测试。该闪存模块11可以是SD卡或者其他闪存单元。内存模块12可以存储性能测试端10的运行数据，以保证性能测试端10能够正常运行。该内存模块12可以是随机存取存储器，例如是DRAM内存或者其他内存单元。

进一步来说，在存储器进行测试时，中央处理器15可以与多个存储器测试座13通信连接，用以对存储器测试座13上的存储器进行写入测试，在对多个存储器的测试数据进行分析处理后，可获取每个存储器在多个子写入模型下的场景写放大系数。通信接口14例如是USB接口可以使中央处理器15与主机端20进行通信，从而中央处理器15可以将场景写放大系数传输至主机端20，以使主机端20对每个不同存储器的场景写放大系数进行汇总处理，生成总写放大系数的数据对比表。该数据对比表可以显示出不同存储器在同一目标应用场景下的总写放大系数的差异，即不同存储器在同一目标应用场景下的性能差异。上述测试***可以简易而快速地对比出不同存储器的性能差异，也便于主机端20的用户在不同的目标应用场景下根据存储器需求进行选型。需要说明的是，上述测试板卡上可设置有多个供电通道以及多个数字通道，多个所述供电通道可分别为多个所述存储器供电，多个数字通道可用于在存储器以及中央处理器15之间传输数据，从而，所述中央处理器15可以同时通过多个数字通道分别对多个存储器进行写入测试，进一步提高了测试分析效率。

请参阅图1及图2，对于主机端20，具体来说，主机端20可以包括***镜像文件以及可视化软件，在需要进行存储器写放大系数测试时，可先在主机端20选择正确的***镜像文件，性能测试端10的中央处理器15可将选定的***镜像文件烧录至闪存模块11内，以使中央处理器15执行该***镜像文件来启动性能测试端10。性能测试端10在进行写入测试后，中央处理器15可将多个存储器的写放大系数上传至主机端20的可视化软件中，该可视化软件可生成多个不同存储器的总写放大系数的数据对比表，该数据对比表可以对比展示多个不同存储器的总写放大系数，从而可以简易快捷地对比多个不同存储器之间的性能差异。

请参阅图1及图2，需要说明的是，该性能测试端10在对多个存储器进行测试时，主机端20可以分多次写入不同的数据量，以快速获取多个不同存储器在不同的数据写入量下的总写放大系数。具体来说，测试时，主机端20在不同时间点写入不同的数据量，性能测试端10每次记录的测试数据可以包括主机端20写入的数据量、每个存储器实际写入的数据量以及测试时间。中央处理器15通过计算每个存储器实际写入的数据量与主机要向存储器写入的数据量之比，即可获得每个存储器在不同数据写入量下的场景写放大系数。需要说明的是，测试后，中央处理器15可将不同数据写入量下的场景写放大系数以及每次测试的时间发送至主机端20中，以使主机端20，将每次每个存储器的多个场景写放大系数基于对应的数据写入比例汇总成总放大系数，并依照时间顺序，将总放大系数汇总成写放大系数变化表，更全面的展现每个存储器的写放大系数。

为了使该性能测试***能够更加全面地测试存储器在实际应用场景下的数据，主机端20可以基于存储器的目标应用场景预先搭建数据写入模型来进行测试，数据写入模型可用于指示写入测试时的数据写入比例。数据写入比例可以包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例。例如，如果存储器在主要执行顺序写任务的应用场景中使用，数据写入模型可以是提高顺序写模型的数据写入比例，降低随机写模型的数据写入比例，降低乒乓写模型的数据写入比例，并降低热点写模型的数据写入比例来对存储器进行写入测试。如果存储器在主要执行随机写任务的应用场景中使用，可以提高随机写模型的数据写入比例，降低顺序写模型的数据量比例，降低乒乓写模型的数据写入比例，并降低热点写模型的数据写入比例来对存储器进行写入测试。

请参阅图2，进一步来说，主机端20可以预先搭建多个数据写入模型，多个所述数据写入模型可分别对应于多个目标应用场景，在多个目标应用场景下，每个目标应用场景对应的数据写入模型可分别对应一组数据写入比例，即顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例，以使多个数据写入模型可以分别对应于多个目标应用场景。从而用户可以从主机端20选择所需的应用场景进行测试。当然，用户也可以依次基于每个数据写入模型对多个存储器进行测试，以更加全面的测试不同应用场景下存储器的写放大系数。具体来说，每次基于一个数据写入模型进行测试时，主机端20可判断当前的写入测试是否完成，若当前的写入测试完成，用户可以从主机端20的可视化软件上切换一个新的数据写入模型，以使所述中央处理器15基于切换后的所述数据写入模型对多个所述存储器进行写入测试。从而中央处理器15可获取多个应用场景下不同存储器的总写放大系数，提高了存储器性能测试的全面性。

请参阅图2，具体来说，主机端20的可视化软件选择需要的数据写入模型后，接着主机端20将数据写入模型的模型数据传输至中央处理器15，以供中央处理器15基于该模型数据执行写入测试，从而获得多个不同存储器在该数据写入模型下对应的子写入模型的场景写放大系数。进而，中央处理器15将多个子写入模型的场景写放大系数上传至主机端，以使主机端20分析生成多个不同存储器在同一数据写入模型下的总写放大系数的数据对比表。需要说明的是，主机端20的可视化软件界面生成一类数据写入模型对应的数据对比表后，说明当前的写入测试完成，可通过主机端20的可视化软件界面继续选择下一类数据写入模型来进行测试，从而获得多个不同存储器在下一类数据写入模型下的总写放大系数。进一步地，每次通过一类数据写入模型进行测试并生成数据对比表后，可继续在未测试的数据写入模型中选择一类数据写入模型再次测试，直至所有数据写入模型全部测试完成为止。在利用上述方式进行测试时，该性能测试***可以更加全面地分析对比多个不同存储器在各类测试模型下的总写放大系数。

请参阅图2，中央处理器15可以将每种数据写入模型测试得到的总写放大系数传输至主机端20的可视化软件上，可视化软件分析写放大系数后，其可视化界面可显示出每类数据写入模型下的数据对比表，该数据对比表可显示每类数据写入模型下，多个不同存储器的写放大系数。进一步地，多个不同存储器在每类数据写入模型下可以在不同时间测试多次，每次采取不同的数据写入量，从而中央处理器15可计算得到每类数据写入模型中，存储器在不同数据写入量下的场景写放大系数。进而，中央处理器15可将多个不同存储器在每类数据写入模型下的多次场景写放大系数上传至可视化软件中，可视化软件可显示出每类数据写入模型下多个不同存储器的多次总写放大系数。

例如，请参阅下表1，下表1为某个存储器在子写入模型下，在不同时间点主机端20向每个存储器写入的数据量、每个存储器实际写入的数据量以及对应的场景写放大系数。

表1

请参阅图2，在中央处理器15将数据写入模型下多个子写入模型的场景写放大系数上传至主机端20的可视化软件后，主机端20可对多个不同存储器在多个子写入模型下的多次场景写放大系数进行汇总分析，得到多个不同存储器在数据写入模型下不同时间点的总写放大系数变化折线图。进一步地，用户可在可视化软件界面上查看数据写入模型下，多个不同存储器的总写放大系数变化折线图，从而能更加明确地展现数据写入模型下不同存储器的性能差异，提高了性能测试***的全面性。

请参阅图2，为了提高可视化软件界面的操作简易性，可以将***镜像文件21选择按钮、烧录22按钮、测试模型23选择按钮以及测试状态24按钮集成于可视化软件界面上。点击***镜像文件21选择按钮，可选择正确的***镜像文件。点击烧录22按钮，可将***镜像文件烧录至闪存模块11中。点击测试模型23选择按钮，可选择某个类别的数据写入模型来进行测试。点击测试状态24按钮可查看存储器的测试状态。进一步地，可视化软件界面还可以基于主机端20的选择，来显示某类数据写入模型下多个不同存储器的总写放大系数变化折线图，从而能更加明确地展现每类数据写入模型下不同存储器的性能差异，提高了性能测试***的全面性。

请参阅图2，例如，当数据写入模型对应主要执行顺序写任务的应用场景，可视化软件界面可显示数据写入模型下，四种不同厂家的闪存存储器的总写放大系数变化折线图。四种存储器可分别定义为第一类闪存、第二类闪存、第三类闪存以及第四类闪存，四类闪存的变化折线图可汇总在一张总表中，横坐标可表示不同时间点，纵坐标可表示写放大系数值，从而直观展现四类闪存的性能差异。

综上所述，存储器的性能测试装置可以快速简易地对多个不同存储器的写放大系数进行测试分析，并快速生成性能数据，大大提高测试分析效率。同时，该性能测试***通过搭建各类数据写入模型，可以更加全面地测试存储器在各类应用场景下的数据，更加明确地展现各类应用场景下不同存储器的性能差异，提高了性能测试***的全面性。

请参阅图3，图3示出了本发明一存储器的性能测试方法的流程图。本发明的性能测试方法可应用于存储器的性能测试***，性能测试***可以包括性能测试端10以及主机端20，所述性能测试端10可以包括多个存储器测试座13以及中央处理器15，本发明的方法可以包括以下步骤：

步骤S101、主机端预先搭建数据写入模型，数据写入模型为多个子测试模型的融合，多个子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型。

步骤S10、在多个所述存储器测试座上分别安装多个存储器。

步骤S20、所述中央处理器基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据。

步骤S30、所述中央处理器对多个所述存储器的测试数据进行分析处理，以获取每个所述子写入模型对应的场景写放大系数。

步骤S40、所述主机端接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异。

请参阅图3，在本发明一实施例中，当执行步骤S10、步骤S20及步骤S30时，具体来说，存储器测试座13可以设置多个，多个存储器测试座13上可以分别放置不同的存储器，以使该性能测试端10可对多个存储器进行测试。中央处理器15可以执行写入测试，以获取多个存储器在不同子写入模型下的场景写放大系数。需要说明的是，该性能测试端10在对存储器进行测试时，可以通过多个存储器测试座13同时对多个不同存储器进行写入测试，测试时记录主机端20的主机要向每个存储器写入的数据量以及每个存储器实际写入的数据量。中央处理器15通过计算每个存储器实际写入的数据量与主机要向存储器写入的数据量之比，即可获得每个存储器的场景写放大系数。

在本发明一实施例中，在执行步骤S10之前，还可以包括如下步骤：

S11、通过主机端确定***镜像文件；

S12、中央处理器将所述主机端确定的***镜像文件烧录至闪存模块内；

在本发明一实施例中，当执行步骤S11以及步骤S12时，需要说明的是，性能测试端10还可以包括闪存模块11以及内存模块12，在存储器进行测试准备时，闪存模块11可以存储性能测试端10的***镜像文件，中央处理器15执行该***镜像文件可启动性能测试端10，从而进行后续的性能测试。该闪存模块11可以是SD卡或者其他闪存单元。内存模块12可以存储性能测试端10的运行数据，以保证性能测试端10能够正常运行。该内存模块12可以是随机存取存储器，例如是DRAM内存或者其他内存单元。进一步来说，主机端20可预先配置有***镜像文件，在需要进行存储器写放大系数测试时，可先在主机端20选择正确的***镜像文件，性能测试端10的中央处理器15可获取该***镜像文件，并烧录至闪存模块11内，以使中央处理器15执行该***镜像文件来启动性能测试端10。

请参阅图4，在本发明一实施例中，在执行步骤S20、步骤S30及步骤S40时，可以包括如下步骤：

步骤S21、主机端在多个所述数据写入模型中选择用于进行写入测试的数据写入模型。

步骤S22、所述中央处理器基于所述主机端选择的数据写入模型中的子写入模型，对多个存储器执行写入测试，以获取对应的测试数据。

步骤S23、所述中央处理器对所述测试数据进行分析处理，以获取每个所述子写入模型对应的场景写放大系数。

步骤S24、主机端接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表。

步骤S25、主机端判断当前的写入测试是否完成，若当前的写入测试完成，所述主机端切换所述数据写入模型，并使所述中央处理器基于切换后的所述数据写入模型对多个所述存储器进行写入测试，以使所述主机端生成多个所述存储器在另一种所述目标应用场景下的数据对比表。

请参阅图4，在本发明一实施例中，在执行步骤S21时，具体来说，为了使该性能测试***能够更加全面地测试存储器在实际应用场景下的数据，主机端20可以基于存储器的目标应用场景预先搭建数据写入模型来进行测试，数据写入模型可用于指示写入测试时的数据写入比例。数据写入比例可以包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例。例如，如果存储器在主要执行顺序写任务的应用场景中使用，数据写入模型可以是提高顺序写模型的数据写入比例，降低随机写模型的数据写入比例，降低乒乓写模型的数据写入比例，并降低热点写模型的数据写入比例来对存储器进行写入测试。如果存储器在主要执行随机写任务的应用场景中使用，可以提高随机写模型的数据写入比例，降低顺序写模型的数据写入比例，降低乒乓写模型的数据写入比例，并降低热点写模型的数据写入比例来对存储器进行写入测试。进一步来说，主机端20可以预先搭建多个数据写入模型，多个数据写入模型可配置不同的数据写入比例，以使多个数据写入模型可以分别对应于多个目标应用场景。从而用户可以从主机端20选择所需的应用场景进行测试。

请参阅图4，在本发明一实施例中，在执行步骤S22及步骤S23时，具体来说，用户可以在主机端20选择需要的数据写入模型以模拟目标应用场景，接着主机端20将数据写入模型的模型数据即顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例传输至中央处理器15，以供中央处理器15基于该模型数据执行写入测试，从而获得多个不同存储器在该数据写入模型下的多个子写入模型的场景写放大系数。

需要说明的是，关于存储器的性能测试方法的具体限定可以参见上文中对于存储器的测试***的限定，在此不再赘述。

在本说明书的描述中，参考术语“本实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种存储器的性能测试***，其特征在于，包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接；

所述主机端用于预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例，所述性能测试端包括：

多个存储器测试座，分别用于安装多个存储器，其中，多个所述数据写入模型是所述主机端基于多个所述存储器的目标应用场景进行搭建的，多个所述数据写入模型分别对应多个所述存储器的目标应用场景，所述目标应用场景是顺序写操作、随机写操作、乒乓写操作及热点写操作的场景融合；以及

中央处理器，通信连接于多个所述存储器测试座，用于基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据，并用于对所述测试数据进行分析处理，以获取所述顺序写模型、所述随机写模型、所述乒乓写模型及所述热点写模型的对应的场景写放大系数；

所述主机端还用于接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异；

其中，多个所述存储器的总写放大系数表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+ WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。

2.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试***，其特征在于，还包括测试板卡，多个所述存储器测试座集成于所述测试板卡上，所述测试板卡设置有多个供电通道以及多个数字通道，多个所述供电通道分别为多个所述存储器供电，所述中央处理器同时通过多个所述数字通道分别对多个所述存储器进行写入测试。

3.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试***，其特征在于，所述性能测试端还包括：

闪存模块，所述中央处理器用于将所述主机端预设的***镜像文件烧录至所述闪存模块内，所述闪存模块用于存储所述***镜像文件；以及

内存模块，用于存储所述性能测试端的运行数据。

4.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试***，其特征在于，所述测试数据包括所述存储器写入的数据量以及对应的所述主机端的主机写入的数据量，所述场景写放大系数为所述存储器写入的数据量与所述主机写入的数据量之比。

5.根据权利要求1所述的一种存储器的性能测试***，其特征在于，所述主机端用于预先搭建多个数据写入模型，多个所述数据写入模型分别对应于多个目标应用场景，且每个所述目标应用场景分别对应一组顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型的数据写入比例。

6.根据权利要求5所述的一种存储器的性能测试***，其特征在于，所述主机端还用于判断当前的写入测试是否完成，若当前的写入测试完成，所述主机端切换所述数据写入模型，并使所述中央处理器基于切换后的所述数据写入模型对多个所述存储器进行写入测试，以使所述主机端生成多个所述存储器在另一种所述目标应用场景下的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在另一种所述目标应用场景下的性能差异。

7.一种存储器的性能测试方法，其特征在于，应用于存储器的性能测试***，所述性能测试***包括性能测试端以及主机端，所述性能测试端与所述主机端通信连接，所述性能测试端包括多个存储器测试座以及中央处理器，且所述中央处理器通信连接于多个所述存储器测试座，所述性能测试方法包括如下步骤：

所述主机端预先搭建数据写入模型，所述数据写入模型为多个子写入模型的融合，多个所述子写入模型包括顺序写模型、随机写模型、乒乓写模型及热点写模型，且所述数据写入模型用于指示顺序写模型的数据写入比例、随机写模型的数据写入比例、乒乓写模型的数据写入比例以及热点写模型的数据写入比例；

在多个所述存储器测试座上分别安装多个存储器，其中，多个所述数据写入模型是所述主机端基于多个所述存储器的目标应用场景进行搭建的，多个所述数据写入模型分别对应多个所述存储器的目标应用场景，所述目标应用场景是顺序写操作、随机写操作、乒乓写操作及热点写操作的场景融合；

所述中央处理器基于所述主机端确定的数据写入模型中的子写入模型，对多个所述存储器进行写入测试，以获取多个所述存储器的测试数据，并用于对所述测试数据进行分析处理，以获取所述顺序写模型、所述随机写模型、所述乒乓写模型及所述热点写模型的对应的场景放大系数；

所述主机端接收所述中央处理器传输的多个场景写放大系数，并对多个所述场景写放大系数进行汇总处理，以生成多个所述存储器的总写放大系数的数据对比表，所述数据对比表用于指示多个所述存储器在同一种所述目标应用场景下的性能差异；

其中，多个所述存储器的总写放大系数表示为WAI，WAI=WAIsw×A%+ WAIrw×B%+WAIpp×C%+WAIhs×D%，其中，WAIsw表示所述顺序写模型对应的场景写放大系数，WAIrw表示所述随机写模型对应的场景写放大系数，WAIpp表示所述乒乓写模型对应的场景写放大系数，WAIhs表示所述热点写模型对应的场景写放大系数，A%为顺序写模型的数据写入比例，B%为随机写模型对应的数据写入比例，C%为乒乓写模型对应的数据写入比例，D%为热点写模型对应的数据写入比例，且A%+B%+C%+D%=100%。