CN117595928B - 一种注错测试治具 - Google Patents
一种注错测试治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117595928B CN117595928B CN202410066347.XA CN202410066347A CN117595928B CN 117595928 B CN117595928 B CN 117595928B CN 202410066347 A CN202410066347 A CN 202410066347A CN 117595928 B CN117595928 B CN 117595928B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- unit
- interface
- optical fiber
- test
- main control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 270
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 205
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 170
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 170
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims abstract description 57
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
- H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
- H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/80—Optical aspects relating to the use of optical transmission for specific applications, not provided for in groups H04B10/03 - H04B10/70, e.g. optical power feeding or optical transmission through water
- H04B10/801—Optical aspects relating to the use of optical transmission for specific applications, not provided for in groups H04B10/03 - H04B10/70, e.g. optical power feeding or optical transmission through water using optical interconnects, e.g. light coupled isolators, circuit board interconnections
- H04B10/802—Optical aspects relating to the use of optical transmission for specific applications, not provided for in groups H04B10/03 - H04B10/70, e.g. optical power feeding or optical transmission through water using optical interconnects, e.g. light coupled isolators, circuit board interconnections for isolation, e.g. using optocouplers
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/80—Optical aspects relating to the use of optical transmission for specific applications, not provided for in groups H04B10/03 - H04B10/70, e.g. optical power feeding or optical transmission through water
- H04B10/806—Arrangements for feeding power
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Power Sources (AREA)
Abstract
本发明公开了一种注错测试治具,涉及测试技术领域,包括:主控单元、隔离单元、接口单元、USB端口测试单元、光纤端口测试单元以及供电单元;主控单元用于下发注错指令;隔离单元用于根据注错指令,在光纤端口测试单元模拟总线短路时,切断主控单元的总线信号接口与接口单元的连接通道;USB端口测试单元用于连接交换机的USB端口,并根据注错指令模拟USB端口电源过电流;光纤端口测试单元用于连接交换机的光纤端口,并根据注错指令模拟光纤端口电源过电流与总线短路。该注错测试治具能够自动完成对交换机的光纤端口的电源过流测试、总线信号短路测试,对交换机的USB端口的电源过流测试,提升测试效率,节省人力。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术领域,特别涉及一种注错测试治具。
背景技术
为了保证光纤交换机的高可靠性与高可用性,需要对光纤交换机进行大量的测试。注错测试为其中的一项重要测试。注错测试通过在光纤交换机启动以及运行过程中注入异常扰动,而验证光纤交换机在故障场景下的反应是否满足预期。光纤交换机的USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)端口与光纤端口如果出现故障,会对网络***产生较大影响,因此需要对光纤交换机的USB端口与光纤端口进行注错测试。然而,目前对光纤交换机的USB端口与光纤端口进行注错测试的方式是人工构造故障场景,然后查看光纤交换机在故障场景下的反应是否满足预期。这样的注错测试方式效率低,且需要消耗大量的人力。因此,提供一种效率高的光纤交换机端口的注错测试方案已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种注错测试治具,能够自动完成对交换机的光纤端口的电源过流测试、总线信号短路测试,完成对交换机的USB端口的电源过流测试,提升测试效率,节省人力。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种注错测试治具,包括:
主控单元、隔离单元、接口单元、USB端口测试单元、光纤端口测试单元以及供电单元;所述主控单元分别连接所述隔离单元、所述接口单元、所述USB端口测试单元以及所述供电单元;所述隔离单元还连接所述接口单元;所述接口单元还连接所述光纤端口测试单元;
所述主控单元,用于向所述隔离单元、所述光纤端口测试单元以及所述USB端口测试单元下发注错指令;
所述隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟总线短路时,切断所述主控单元的总线信号接口与所述接口单元的连接通道;
所述USB端口测试单元,用于连接交换机的USB端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟USB端口电源过电流;
所述光纤端口测试单元,用于连接所述交换机的光纤端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟光纤端口电源过电流与总线短路。
可选的,所述隔离单元包括:
第一隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟数据信号短路时,切断所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元的连接通道;
第二隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟时钟信号短路时,切断所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元的连接通道。
可选的,所述第一隔离单元包括:
第一开关;所述第一开关分别连接所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元;当所述主控单元使能所述第一开关,所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元的连接通道切断。
可选的,所述第二隔离单元包括:
第二开关;所述第二开关分别连接所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元;当所述主控单元使能所述第二开关,所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元的连接通道切断。
可选的,所述USB端口测试单元包括:
第一注错单元,用于模拟USB端口电源过电流;
USB接口单元,用于连接交换机的USB端口。
可选的,所述第一注错单元包括:
多路第一负载电路与第一电压电流检测电路;所述第一负载电路分别连接所述主控单元与所述USB接口单元的电源接口;
所述第一负载电路,用于提供负载电流;
所述第一电压电流检测电路,用于检测所述USB接口单元的电源接口的电流与电压并反馈给所述主控单元。
可选的,所述光纤端口测试单元包括:
光纤接口单元,用于连接交换机的光纤端口;
第二注错单元,用于将所述光纤接口单元的数据信号接口短路到电源或地;
第三注错单元,用于将所述光纤接口单元的时钟信号接口短路到电源或地;
第四注错单元,用于短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;
第五注错单元,用于模拟光纤端口的第一电源过电流;
第六注错单元,用于模拟光纤端口的第二电源过电流。
可选的,所述第二注错单元包括:
第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管以及第一电阻;所述第一晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第一晶体管的第二端接地,所述第一晶体管的第三端连接所述第一电阻的一端与所述第二晶体管的第一端,所述第一电阻的另一端连接电源,所述第二晶体管的第二端连接所述光纤接口单元的数据信号接口,所述第二晶体管的第三端连接电源,所述第三晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第三晶体管的第二端接地,所述第三晶体管的第三端连接所述光纤接口单元的数据信号接口。
可选的,所述第三注错单元包括:
第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管以及第二电阻;所述第四晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第四晶体管的第二端接地,所述第四晶体管的第三端连接所述第二电阻的一端与所述第五晶体管的第一端,所述第二电阻的另一端连接电源,所述第五晶体管的第二端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口,所述第五晶体管的第三端连接电源,所述第六晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第六晶体管的第二端接地,所述第六晶体管的第三端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口。
可选的,所述第四注错单元包括:
第三开关;所述第三开关连接所述接口单元、所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;当所述主控单元使能所述第三开关,所述第三开关短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口。
可选的,所述第五注错单元包括:
多路第二负载电路与第二电压电流检测电路;所述第二负载电路连接所述接口单元与所述光纤接口单元的第一电源接口;
所述第二负载电路,用于提供负载电流;
所述第二电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第一电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元。
可选的,所述第六注错单元包括:
多路第三负载电路与第三电压电流检测电路;所述第三负载电路连接所述接口单元与所述光纤接口单元的第二电源接口;
所述第三负载电路,用于提供负载电流;
所述第三电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第二电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元。
可选的,还包括:
显示单元,用于显示注错测试过程中检测到的数据。
可选的,所述显示单元还用于:将用户操控所述显示单元输入的操作指令发送给所述主控单元,以使所述主控单元根据所述操作指令下发注错指令。
可选的,所述供电单元包括:
输入电源切换单元,用于进行外部直流电压与内部电池电压切换;
电压转换单元,用于进行电压转换。
可选的,所述输入电源切换单元包括:
第一二极管与第二二极管;所述第一二极管与所述第二二极管共阴极,所述第一二极管的阳极用于输入外部直流电压,所述第二二极管的阴极输入内部电池电压。
可选的,还包括:
存储单元,用于存储注错测试治具的配置信息。
可选的,所述主控单元具体用于:当对交换机的USB端口进行注错测试时,若测试模式为强制过流测试,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流;若测试模式为工作后过流测试,则当所述USB接口单元的电源接口的电压高于第一阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第一延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流。
可选的,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为电源测试且测试模式为强制过流模式,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流;若测试项为电源测试且测试模式为工作后过流测试,则当光纤接口单元的电源接口的电压高于第二阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第二延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流。
可选的,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为强制短路模式,则控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第三阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第三延时时间时,控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;所述短路点包括电源与地。
可选的,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号间短路且测试模式为强制短路模式,则控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接;若测试项为总线信号间短路且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第四阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第四延时时间时,控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。
本发明所提供的注错测试治具,包括:主控单元、隔离单元、接口单元、USB端口测试单元、光纤端口测试单元以及供电单元;所述主控单元分别连接所述隔离单元、所述接口单元、所述USB端口测试单元以及所述供电单元;所述隔离单元还连接所述接口单元;所述接口单元还连接所述光纤端口测试单元;所述主控单元,用于向所述隔离单元、所述光纤端口测试单元以及所述USB端口测试单元下发注错指令;所述隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟总线短路时,切断所述主控单元的总线信号接口与所述接口单元的连接通道;所述USB端口测试单元,用于连接交换机的USB端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟USB端口电源过电流;所述光纤端口测试单元,用于连接所述交换机的光纤端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟光纤端口电源过电流与总线短路。
可见,本发明所提供的注错测试治具,在供电单元供电的基础上,通过USB端口测试单元可以模拟USB端口电源过电流,通过光纤端口测试单元可以模拟光纤端口电源过电流与总线短路,从而可以自动完成对交换机的光纤端口的电源过流测试、总线信号短路测试,对交换机的USB端口的电源过流测试,提升测试效率,节省人力。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种测试治具的示意图;
图2为本发明实施例所提供的另一种测试治具的示意图;
图3为本申请实施例所提供的第一隔离单元与第二注错单元的示意图;
图4为本申请实施例所提供的第二隔离单元与第三注错单元的示意图;
图5为本申请实施例所提供的第一注错单元的示意图;
图6为本申请实施例所提供的第四注错单元的示意图;
图7为本申请实施例所提供的第五注错单元的示意图;
图8为本申请实施例所提供的第六注错单元的示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种注错测试治具,能够自动完成对交换机的光纤端口的电源过流测试、总线信号短路测试,对交换机的USB端口的电源过流测试,提升测试效率,节省人力。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参考图1,图1为本发明实施例所提供的一种注错测试治具的示意图,参考图1所示,该注错测试治具包括:
主控单元10、隔离单元20、接口单元30、USB端口测试单元40、光纤端口测试单元50以及供电单元60;所述主控单元10分别连接所述隔离单元20、所述接口单元30、所述USB端口测试单元40以及所述供电单元60;所述隔离单元20还连接所述接口单元30;所述接口单元30还连接所述光纤端口测试单元50;
所述主控单元10,用于向所述隔离单元20、所述光纤端口测试单元50以及所述USB端口测试单元40下发注错指令;
所述隔离单元20,用于根据所述主控单元10下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元50模拟总线短路时,切断所述主控单元10的总线信号接口与所述接口单元30的连接通道;
所述USB端口测试单元40,用于连接交换机的USB端口,并根据所述主控单元10下发的注错指令模拟USB端口电源过电流;
所述光纤端口测试单元50,用于连接所述交换机的光纤端口,并根据所述主控单元10下发的注错指令模拟光纤端口电源过电流与总线短路。
在一些实施例中,还包括:
显示单元,用于显示注错测试过程中检测到的数据。可以明白的是,除了采用注错测试治具设置显示单元,通过显示单元显示注错测试过程中检测到的数据(电流数据、电压数据等)的方式外,还可以采用其他方式显示注错测试过程中检测到的数据。例如,可以将注错测试过程中检测到的数据发送给其他设备进行显示。也可以将注错测试过程中检测到的数据进行存储,后续从注错测试治具读取数据在其他设备上进行显示。
主控单元10可以为任意一种嵌入式控制芯片。例如,主控单元10为STM32F103RBT6芯片。主控单元10内部的代码包括显示控制模块与逻辑控制模块。显示控制模块用于与显示单元进行数据交互。逻辑控制模块用于下发注错指令,以实现交换机光纤端口电源信号、总线信号以及USB端口电源信号的注错测试。
所述隔离单元20负责根据所述主控单元10下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元50模拟总线短路时,切断所述主控单元10的总线信号接口与所述接口单元30的连接通道。
参考图2所示,在一些实施例中,所述隔离单元20包括:
第一隔离单元,用于根据所述主控单元10下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟数据信号短路时,切断所述主控单元10的数据信号接口与所述接口单元30的连接通道;
第二隔离单元,用于根据所述主控单元10下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟时钟信号短路时,切断所述主控单元10的时钟信号接口与所述接口单元30的连接通道。
第一隔离单元分别连接主控单元10的数据信号接口与接口单元30。另外,第一隔离单元连接主控单元10的一路GPIO接口。示例性的,第一隔离单元连接主控单元10的GPIO_0。主控单元10通过GPIO_0控制第一隔离单元,使第一隔离单元接通或切断主控单元10的数据信号接口与接口单元30的连接通道。
第二隔离单元分别连接主控单元10的时钟信号接口与接口单元30。另外,第二隔离单元连接主控单元10的一路GPIO接口。示例性的,第二隔离单元连接主控单元10的GPIO_6。主控单元10通过GPIO_6控制第二隔离单元,使第二隔离单元接通或切断主控单元10的时钟信号接口与接口单元30的连接通道。
第一隔离单元与第二隔离单元的作用是隔离总线数据信号与总线时钟信号,可以为任意具有隔离功能的芯片。示例性的,第一隔离单元与第二隔离单元为PCA9511芯片,其可以在总线信号短路测试时,断开主控单元10与交换机光纤端口间的信号连接,避免总线信号短路到电源或地等故障场景下对主控单元10产生损伤。
参考图3所示,在一些实施例中,所述第一隔离单元包括:
第一开关;所述第一开关分别连接所述主控单元10的数据信号接口与所述接口单元30;当所述主控单元10使能所述第一开关,所述主控单元10的数据信号接口与所述接口单元30的连接通道切断。
第一开关分别连接主控单元10的数据信号接口与接口单元30。另外,第一开关的使能端连接主控单元10的一路GPIO接口。示例性的,第一开关的使能端连接主控单元10的GPIO_0。主控单元10通过GPIO_0控制第一开关,使第一开关接通或切断主控单元10的数据信号接口与接口单元30的连接通道。
参考图4所示,在一些实施例中,所述第二隔离单元包括:
第二开关;所述第二开关分别连接所述主控单元10的时钟信号接口与所述接口单元30;当所述主控单元10使能所述第二开关,所述主控单元10的时钟信号接口与所述接口单元30的连接通道切断。
第二开关分别连接主控单元10的时钟信号接口与接口单元30。另外,第二开关的使能端连接主控单元10的一路GPIO接口。示例性的,第二开关的使能端连接主控单元10的GPIO_6。主控单元10通过GPIO_6控制第二开关,使第二开关接通或切断主控单元10的时钟信号接口与接口单元30的连接通道。
接口单元30为任意连接器。其中,为了保证与光纤端口测试单元50可靠连接,接口单元30可选用带有Latch锁固功能的连接器。
参考图2所示,在一些实施例中,所述USB端口测试单元40包括:
第一注错单元,用于模拟USB端口电源过电流。
USB接口单元,用于连接交换机的USB端口。
其中,参考图5所示,在一些实施例中,所述第一注错单元包括:
多路第一负载电路与第一电压电流检测电路;所述第一负载电路分别连接所述主控单元10与所述USB接口单元的电源接口;
所述第一负载电路,用于提供负载电流;
所述第一电压电流检测电路,用于检测所述USB接口单元的电源接口的电流与电压并反馈给所述主控单元10。
每一路第一负载电路可以提供预设大小的负载电流。示例性的,每一路第一负载电路提供0.25A的负载电流。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择一定数量的第一负载电路提供负载电流。第一电压电流检测电路实时检测USB接口单元的5V-USB接口的负载电流与电压值,并反馈给主控单元10,并可在显示单元上进行显示。
第一负载电路可以包括MOS(Metal-Oxide-Semiconductor Field-EffectTransistor,金属-氧化物半导体场效应晶体管)管与电阻。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择导通一定数量的MOS管,进而由MOS管导通的第一负载电路提供负载电流。
参考图2所示,在一些实施例中,所述光纤端口测试单元50包括:
光纤接口单元,用于连接交换机的光纤端口;
第二注错单元,用于将所述光纤接口单元的数据信号接口短路到电源或地;
第三注错单元,用于将所述光纤接口单元的时钟信号接口短路到电源或地;
第四注错单元,用于短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;
第五注错单元,用于模拟光纤端口的第一电源过电流;
第六注错单元,用于模拟光纤端口的第二电源过电流。
光纤接口单元连接交换机的光纤端口。光纤接口单元与交换机的光纤端口相适配。光纤接口单元可以为SFP(SMALL FORM FACTOR PLUGGABLE,小型可插拔接口)光纤接口、QSFP(Quad Small Form-factor Pluggable,四通道小型可插拔接口)光纤接口、QSFP-DD(Quad Small Form-factor Pluggable Double Density,双密度四通道小型可插拔接口)光纤接口等,以适配不同类型的光纤端口的测试。
第二注错单元分别连接接口单元30与光纤接口单元,经由接口单元30,第一注错单元与第一隔离单元以及主控单元10连接。第二注错单元用于短路所述光纤接口单元的数据信号接口,可以将光纤接口单元的数据信号接口短路到电源,也可以将光纤接口单元的数据信号接口短路到地。
第三注错单元分别连接接口单元30与光纤接口单元,经由接口单元30,第三注错单元与第二隔离单元以及主控单元10连接。第二注错单元用于短路所述光纤接口单元的时钟信号接口,可以将光纤接口单元的时钟信号接口短路到电源,也可以将光纤接口单元的时钟信号接口短路到地。
第四注错单元连接接口单元30与光纤接口单元,经由接口单元30,第四注错单元与主控单元10连接。第四注错单元用于短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口。
第五注错单元连接接口单元30与光纤接口单元的第一电源接口,经由接口单元30,第五注错单元与主控单元10连接。第五注错单元用于模拟光纤端口的第一电源过电流。
第六注错单元连接接口单元30与光纤接口单元的第二电源接口,经由接口单元30,第六注错单元与主控单元10连接。第六注错单元用于模拟光纤端口的第二电源过电流。
示例性的,第一电源接口为SFP光纤接口的VCCR(接收部分电源)电源接口,第二电源接口为SFP光纤接口的VCCT(发射部分电源)电源接口。
参考图3所示,在一些实施例中,所述第二注错单元包括:
第一晶体管Q1、第二晶体管Q2、第三晶体管Q3以及第一电阻R1;所述第一晶体管Q1的第一端连接所述主控单元10,所述第一晶体管Q1的第二端接地,所述第一晶体管Q1的第三端连接所述第一电阻R1的一端与所述第二晶体管Q2的第一端,所述第一电阻R1的另一端连接电源,所述第二晶体管Q2的第二端连接所述光纤接口单元的数据信号接口,所述第二晶体管Q2的第三端连接电源,所述第三晶体管Q3的第一端连接所述主控单元10,所述第三晶体管Q3的第二端接地,所述第三晶体管Q3的第三端连接所述光纤接口单元的数据信号接口。
第一晶体管Q1、第二晶体管Q2、第三晶体管Q3可以为NMOS管。晶体管的第一端为NMOS管的栅极,晶体管的第二端为NMOS管的源极,晶体管的第三端为NMOS管的漏极。
示例性的,第一晶体管Q1的第一端连接主控单元10的GPIO_2,第三晶体管Q3的第一端连接主控单元10的GPIO_1。GPIO_2默认输出高电平,GPIO_1默认输出低电平,从而将光纤接口单元的数据信号接口与VCCR电源以及地断开。当GPIO_2输出低电平,将光纤接口单元的数据信号接口短路到VCCR电源。当GPIO_1输出高电平,将光纤接口单元的数据信号接口短路到地。
参考图4所示,在一些实施例中,所述第三注错单元包括:
第四晶体管Q4、第五晶体管Q5、第六晶体管Q6以及第二电阻R2;所述第四晶体管Q4的第一端连接所述主控单元10,所述第四晶体管Q4的第二端接地,所述第四晶体管Q4的第三端连接所述第二电阻R2的一端与所述第五晶体管Q5的第一端,所述第二电阻R2的另一端连接电源,所述第五晶体管Q5的第二端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口,所述第五晶体管Q5的第三端连接电源,所述第六晶体管Q6的第一端连接所述主控单元10,所述第六晶体管Q6的第二端接地,所述第六晶体管Q6的第三端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口。
第四晶体管Q4、第五晶体管Q5、第六晶体管Q6可以为NMOS管。晶体管的第一端为NMOS管的栅极,晶体管的第二端为NMOS管的源极,晶体管的第三端为NMOS管的漏极。
示例性的,第四晶体管Q4的第一端连接主控单元10的GPIO_5,第六晶体管Q6的第一端连接主控单元10的GPIO_4。GPIO_5默认输出高电平,GPIO_4默认输出低电平,从而将光纤接口单元的时钟信号接口与VCCR电源以及地断开。当GPIO_5输出低电平,将光纤接口单元的时钟信号接口短路到VCCR电源。当GPIO_4输出高电平,将光纤接口单元的时钟信号接口短路到地。
第四注错单元可以为任意具有开关功能的芯片。
参考图6所示,在一些实施例中,所述第四注错单元包括:
第三开关;所述第三开关连接所述接口单元30、所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;当所述主控单元10使能所述第三开关,所述第三开关短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口。
第三开关连接接口单元30,经由接口单元30连接主控单元10。示例性的,第三开关单元经由接口单元30连接主控单元10的GPIO_3。GPIO_3默认输出低电平,此时第三开关不闭合,光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口断开。当GPIO_3输出高电平,使能第三开关,第三开关闭合,将光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。
参考图7所示,在一些实施例中,所述第五注错单元包括:
多路第二负载电路与第二电压电流检测电路;所述第二负载电路连接所述接口单元30与所述光纤接口单元的第一电源接口;
所述第二负载电路,用于提供负载电流;
所述第二电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第一电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元10。
每一路第二负载电路可以提供预设大小的负载电流。示例性的,每一路第二负载电路提供0.33A的负载电流。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择导通一定数量的第二负载电路提供负载电流。第二电压电流检测电路实时检测光纤接口单元的第一电源接口的电流与电压,并反馈给主控单元10,并可在显示单元上进行显示。
第二负载电路可以包括MOS管与电阻。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择导通一定数量的MOS管。示例性的,第一电源接口为VCCR电源接口,VCCR=3.3V,电阻的阻值为10Ω。第二负载电路可以提供0.33A的负载电流。
参考图8所示,在一些实施例中,所述第六注错单元包括:
多路第三负载电路与第三电压电流检测电路;所述第三负载电路连接所述接口单元30与所述光纤接口单元的第二电源接口;
所述第三负载电路,用于提供负载电流;
所述第三电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第二电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元10。
每一路第三负载电路可以提供预设大小的负载电流。示例性的,每一路第三负载电路提供0.33A的负载电流。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择导通一定数量的第三负载电路提供负载电流。第三电压电流检测电路实时检测光纤接口单元的第二电源接口的电流与电压,并反馈给主控单元10,并可在显示单元上进行显示。
第三负载电路可以包括MOS管与电阻。根据配置的过流电流大小,主控单元10选择导通一定数量的MOS管。示例性的,第二电源接口为VCCT电源接口,VCCT=3.3V,电阻的阻值为10Ω。第三负载电路可以提供0.33A的负载电流。
在一些实施例中,所述显示单元还用于:将用户操控所述显示单元输入的操作指令发送给所述主控单元10,以使所述主控单元10根据所述操作指令下发注错指令。
显示单元可以为UART接口的LCD触控屏,用户可以通过LCD触控屏输入操作指令,LCD触控屏将操作指令传递至主控设备。
供电单元60负责供电。在一些实施例中,所述供电单元60包括:
输入电源切换单元,用于进行外部直流电压与内部电池电压切换;
电压转换单元,用于进行电压转换。
其中,在一些实施例中,所述输入电源切换单元包括:
第一二极管与第二二极管;所述第一二极管与所述第二二极管共阴极,所述第一二极管的阳极用于输入外部直流电压,所述第二二极管的阴极输入内部电池电压。
本实施例中输入电源切换单元包括共阴极连接的二极管,利用二极管的反向不导通特性,自动输入电压较高端的电压作为阴极输出,实现外部直流电压与内部电池电压的自动切换。电压转换单元进行电压转换得到9V电压、5V电压以及3.3V电压,为显示单元、主控单元10等供电。
在一些实施例中,还包括:
存储单元,用于存储注错测试治具的配置信息。
存储单元可以为任意信号的Flash存储芯片。示例性的,存储单元为GD25B512MEFFRR Flash存储芯片。
在一些实施例中,所述主控单元10具体用于:当对交换机的USB端口进行注错测试时,若测试模式为强制过流测试,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流;若测试模式为工作后过流测试,则当所述USB接口单元的电源接口的电压高于第一阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第一延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流。
可以通过显示单元配置过电流大小。示例性的,如图5所示,GPIO_E~GPIO_E+Y中每个GPIO拉高后,相应的MOS管导通提供0.25A的负载电流。如果测试模式为强制过流测试,主控单元10根据配置的过电流大小,选择导通相应数量的MOS管。如果测试模式为工作后过流测试,则主控单元10通过I2C(Inter-Integrated Circuit,集成电路总线)接口实时读取第一电压电流检测电路检测到的5V-USB接口的电压值,并当5V-USB接口的电压高于第一阈值时,启动延时计时。当延时计时达到第一延时时间时,主控单元10根据配置的过电流大小,选择导通相应数量的MOS管。
在一些实施例中,所述主控单元10具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为电源测试且测试模式为强制过流模式,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流;若测试项为电源测试且测试模式为工作后过流测试,则当光纤接口单元的电源接口的电压高于第二阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第二延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流。
例如,光纤接口单元为SFP光纤接口单元。电源接口包括VCCR电源接口与VCCT电源接口。当测试项为VCCR电源测试且测试模式为强制过流模式,则根据配置的过电流大小,选择相应数量的第二负载电路提供负载电流。当测试项为VCCR电源测试且测试模式为工作后过流测试,主控单元10通过I2C接口实时读取第二电压电流检测电路检测到的VCCR电源接口的电压值。当VCCR电源接口的电压高于第二阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第二延时时间时,根据配置的过电流大小,选择相应数量的第二负载电路提供负载电流。当测试项为VCCT电源测试且测试模式为强制过流模式,则根据配置的过电流大小,选择相应数量的第三负载电路提供负载电流。当测试项为VCCT电源测试且测试模式为工作后过流测试,主控单元10通过I2C接口实时读取第三电压电流检测电路检测到的VCCT电源接口的电压值。当VCCT电源接口的电压高于第二阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第二延时时间时,根据配置的过电流大小,选择相应数量的第三负载电路提供负载电流。
VCCR电源测试时的第二阈值与VCCT电源测试时的第二阈值可以相等,也可以不等。VCCR电源测试时的第二延时时间与VCCT电源测试时的第二延时时间可以相等,也可以不等。
在一些实施例中,所述主控单元10具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为强制短路模式,则控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第三阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第三延时时间时,控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;所述短路点包括电源与地。
以短路点为VCCR电源为例,如果将数据信号短路到VCCR电源且测试模式为强制短路模式,则主控单元10控制第一开关断开,并控制第二注错单元将光纤接口单元的数据信号接口短路到VCCR电源。如果测试项为数据信号短路到VCCR电源且测试模式为工作后短路,则当光纤接口单元上VCCR电源接口的电压高于第三阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第三延时时间时,控制第一开关断开,并控制第二注错单元将数据信号接口短路到VCCR电源。
如果将时钟信号短路到VCCR电源且测试模式为强制短路模式,则主控单元10控制第二开关断开,并控制第三注错单元将光纤接口单元的数据信号接口短路到VCCR电源。如果测试项为时钟信号短路到VCCR电源且测试模式为工作后短路,则当光纤接口单元上VCCR电源接口的电压高于第三阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第三延时时间时,控制第二开关断开,并控制第三注错单元将时钟信号接口短路到VCCR电源。
在一些实施例中,所述主控单元10具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号间短路且测试模式为强制短路模式,则控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接;若测试项为总线信号间短路且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第四阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第四延时时间时,控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。
如果将数据信号与时钟信号短路且测试模式为强制短路模式,则主控单元10控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。以目标电源接口为VCCR电源接口为例,如果将数据信号与时钟信号短路且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上VCCR电源接口的电压高于第四阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第四延时时间时,控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。
以光纤接口单元为SFP接口为例,利用注错测试治具进行注错测试的流程可以包括:
(1)测试治具开机启动,进入步骤(2)。
(2)选择测试端口。如果选择测试USB端口,进入步骤(3)。如果选择测试SFP端口,进入步骤(9)。
(3)选择测试模式。如果选择强制过流模式,即对USB端口进行强制过流测试,则进入步骤(4)。如果选择工作后过流模式,即对USB端口进行工作状态下过流测试,则进入步骤(6)。
(4)根据USB端口类型(USB2.0或USB3.0等),用户可通过显示单元的界面配置过流电流大小,然后进入步骤(5)。
(5)注错单元中MOS管导通可提供0.25A的负载电流。根据步骤(4)配置的过流电流大小,注错测试治具自动导通相应数量的MOS管,从而提供所需大小的过电流。同时,第一电压电流检测电路实时检测USB接口单元的5V-USB接口的负载电流,并通过显示单元进行显示,进入步骤(35)。
(6)根据USB端口类型(USB2.0或USB3.0等),通过显示界面,配置过流电流大小,并配置延时时间T0,即配置5V-USB接口上电多长时间后启动过流,然后进入步骤(7)。
(7)主控单元通过I2C接口(I2C2)实时读取第一电压电流检测电路,检测到的5V-USB接口的电压值,当5V-USB接口的电压高于阈值(该阈值可配置,例如阈值为4.7V)后开始启动延时计时,进入步骤(8)。
(8)当延时计时时间等于T0时,根据步骤(6)配置的过流电流大小,注错测试治具自动选择导通相应数量的MOS管,同时第一电压电流检测电路实时检测5V-USB接口的负载电流,并通过显示单元进行显示,进入步骤(35)。
(9)选择测试项。如果选择VCCR电源测试,则进入步骤(10),如果选择I2C信号测试,则进入步骤(16)。
(10)选择测试模式。如果对VCCR电源进行强制过流模式测试,则进入步骤(11)。如果对VCCR电源进行工作状态下过流测试,则进入步骤(13)。
(11)根据VCCR电源实际工作电流大小,通过显示单元的界面,配置过流电流大小,进入步骤(12)。
(12)GPIO_A~ GPIO _A+X中每个GPIO拉高后,相应的MOS管导通可提供0.33A负载电流(VCCR=3.3V)。根据步骤(11)配置的过流电流大小,注错测试治具自动选择导通相应数量的MOS管。同时,第二电压电流检测电路实时检测VCCR电源接口的负载电流,并通过显示单元进行显示,进入步骤(35)。
(13)根据VCCR电源实际工作电流大小,通过显示单元的界面,配置过流电流大小,并配置延时时间T1即配置VCCR电源接口上电多长时间后启动过流,进入步骤(14)。
(14)主控单元通过I2C接口(I2C0)实时读取第二电压电流检测电路检测到的VCCR电源接口的电压值,当VCCR电源接口的电压值高于阈值(该阈值可配置,例如阈值为3V)后开始启动延时计时,进入步骤(15)。
(15)当延时计时时间等于T1时,根据步骤(13)配置的过流电流大小,注错测试治具自动选择导通相应数量的MOS管,同时第二电压电流检测电路实时检测VCCR电源接口的负载电流,并通过单元进行显示,进入步骤(35)。
(16)选择I2C信号测试子项。如果进行I2C信号短路到电源测试,则进入步骤(17)。如果进行I2C信号间短路测试,则进入步骤(29)。
(17)以数据信号为例,GPIO_2默认输出高电平,GPIO_1默认输出低电平,SDA信号与VCCR电源和GND间断开,进入步骤(18)。
(18)选择短路点。如果选择短路到VCCR电源,则进入步骤(19)。如果选择短路到地(GND),则进入步骤(24)。
(19)选择测试模式。如果选择强制短路测试,则进入步骤(20)。如果选择工作后短路测试,进入步骤(21)。
(20)第一开关断开,GPIO_2输出低电平,SDA信号短路到VCCR电源,进入步骤(35)。
(21)配置延时时间T2,进入步骤(22)。
(22)主控单元通过I2C接口(I2C0)实时读取第二电压电流检测电路检测到VCCR电源接口的电压值,当VCCR电源接口的电压高于阈值(该阈值可配置,例如阈值为3V)后开始启动延时计时,进入步骤(23)。
(23)当延时计时时间等于T2时,第一开关断开,同时GPIO_2输出低电平,SDA信号短路到VCCR电源(延时计时时间内,交换机可以正常访问主控单元I2C接口,以模拟交换机I2C信号在正常工作状态下的短路异常),进入步骤(35)。
(24)选择测试模式。如果选择强制短路测试,则进入步骤(25)。如果选择工作后短路测试,进入步骤(26)。
(25)第一开关断开,GPIO_1输出高电平,SDA信号短路到GND,进入步骤(35)。
(26)配置延时时间T3,进入步骤(27)。
(27)主控单元通过I2C接口(I2C0)实时第二读取电压电流检测单元检测到的VCCR电源接口的电压值,当VCCR电源接口的电压高于阈值(该阈值可配置,例如阈值为3V)后开始启动延时计时,进入步骤(28)。
(28)当延时计时时间等于T3时,第一开关断开,同时GPIO_1输出高电平,SDA信号短路到GND(延时计时时间内,交换机可以正常访问主控单元I2C接口,以模拟交换机I2C信号在正常工作状态下的短路异常),进入步骤(35)。
(29)GPIO_3默认输出低电平,SDA与SCL断开,进入步骤(30)。
(30)选择测试模式。如果选择强制短路测试,则进入步骤(31)。如果选择工作后短路测试,则进入步骤(32)。
(31)GPIO_3输出高电平,SDA与SCL短接,进入步骤(35)。
(32)配置延时时间T4,进入步骤(33)。
(33)主控单元通过I2C接口(I2C0)实时读取第二电压电流检测电路检测到的VCCR电源接口的电压值,当VCCR电源接口的电压高于阈值(该阈值可配置,例如阈值为3V)后开始启动延时计时,进入步骤(34)。
(34)当延时计时时间等于T4时,GPIO_3输出高电平,SDA与SCL短接(延时计时时间内,交换机可以正常访问主控单元I2C接口,以模拟交换机I2C信号在正常工作状态下的短路异常),进入步骤(35)。
(35)是否需结束测试,若是,进入步骤(36)。否则,返回步骤(2)。
(36)测试结束。
综上所述,本发明所提供的注错测试治具,在供电单元供电的基础上,通过USB端口测试单元可以模拟USB端口电源过电流,通过光纤端口测试单元可以模拟光纤端口电源过电流与总线短路,从而可以自动完成对交换机的光纤端口的电源过流测试、总线信号短路测试,对交换机的USB端口的电源过流测试,提升测试效率,节省人力。同时,该注错测试治具还能够检测光纤端口供电电流,便于设计人员更精准的查看端口保护功能何时生效。
因为情况复杂,无法一一列举进行阐述,本领域技术人员应能意识到,在本发明提供的实施例的基本原理下结合实际情况可以存在多个例子,在不付出足够的创造性劳动下,应均在本发明的范围内。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
以上对本发明所提供的注错测试治具进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明的保护范围。
还需要说明的是,在本说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其它要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (18)
1.一种注错测试治具,其特征在于,包括:
主控单元、隔离单元、接口单元、USB端口测试单元、光纤端口测试单元以及供电单元;所述主控单元分别连接所述隔离单元、所述接口单元、所述USB端口测试单元以及所述供电单元;所述隔离单元还连接所述接口单元;所述接口单元还连接所述光纤端口测试单元;
所述主控单元,用于向所述隔离单元、所述光纤端口测试单元以及所述USB端口测试单元下发注错指令;
所述隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟总线短路时,切断所述主控单元的总线信号接口与所述接口单元的连接通道;
所述USB端口测试单元,用于连接交换机的USB端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟USB端口电源过电流;
所述光纤端口测试单元,用于连接所述交换机的光纤端口,并根据所述主控单元下发的注错指令模拟光纤端口电源过电流与总线短路;
所述USB端口测试单元包括:
第一注错单元,用于模拟USB端口电源过电流;
USB接口单元,用于连接交换机的USB端口;
所述第一注错单元包括:
多路第一负载电路与第一电压电流检测电路;所述第一负载电路分别连接所述主控单元与所述USB接口单元的电源接口;
所述第一负载电路,用于提供负载电流;
所述第一电压电流检测电路,用于检测所述USB接口单元的电源接口的电流与电压并反馈给所述主控单元;
所述光纤端口测试单元包括:
光纤接口单元,用于连接交换机的光纤端口;
第二注错单元,用于将所述光纤接口单元的数据信号接口短路到电源或地;
第三注错单元,用于将所述光纤接口单元的时钟信号接口短路到电源或地;
第四注错单元,用于短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;
第五注错单元,用于模拟光纤端口的第一电源过电流;
第六注错单元,用于模拟光纤端口的第二电源过电流。
2.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述隔离单元包括:
第一隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟数据信号短路时,切断所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元的连接通道;
第二隔离单元,用于根据所述主控单元下发的注错指令,在所述光纤端口测试单元模拟时钟信号短路时,切断所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元的连接通道。
3.根据权利要求2所述的注错测试治具,其特征在于,所述第一隔离单元包括:
第一开关;所述第一开关分别连接所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元;当所述主控单元使能所述第一开关,所述主控单元的数据信号接口与所述接口单元的连接通道切断。
4.根据权利要求2所述的注错测试治具,其特征在于,所述第二隔离单元包括:
第二开关;所述第二开关分别连接所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元;当所述主控单元使能所述第二开关,所述主控单元的时钟信号接口与所述接口单元的连接通道切断。
5.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述第二注错单元包括:
第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管以及第一电阻;所述第一晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第一晶体管的第二端接地,所述第一晶体管的第三端连接所述第一电阻的一端与所述第二晶体管的第一端,所述第一电阻的另一端连接电源,所述第二晶体管的第二端连接所述光纤接口单元的数据信号接口,所述第二晶体管的第三端连接电源,所述第三晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第三晶体管的第二端接地,所述第三晶体管的第三端连接所述光纤接口单元的数据信号接口。
6.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述第三注错单元包括:
第四晶体管、第五晶体管、第六晶体管以及第二电阻;所述第四晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第四晶体管的第二端接地,所述第四晶体管的第三端连接所述第二电阻的一端与所述第五晶体管的第一端,所述第二电阻的另一端连接电源,所述第五晶体管的第二端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口,所述第五晶体管的第三端连接电源,所述第六晶体管的第一端连接所述主控单元,所述第六晶体管的第二端接地,所述第六晶体管的第三端连接所述光纤接口单元的时钟信号接口。
7.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述第四注错单元包括:
第三开关;所述第三开关连接所述接口单元、所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口;当所述主控单元使能所述第三开关,所述第三开关短接所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口。
8.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述第五注错单元包括:
多路第二负载电路与第二电压电流检测电路;所述第二负载电路连接所述接口单元与所述光纤接口单元的第一电源接口;
所述第二负载电路,用于提供负载电流;
所述第二电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第一电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元。
9.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述第六注错单元包括:
多路第三负载电路与第三电压电流检测电路;所述第三负载电路连接所述接口单元与所述光纤接口单元的第二电源接口;
所述第三负载电路,用于提供负载电流;
所述第三电压电流检测电路,用于检测所述光纤接口单元的第二电源接口的电流与电压,并反馈给所述主控单元。
10.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,还包括:
显示单元,用于显示注错测试过程中检测到的数据。
11.根据权利要求10所述的注错测试治具,其特征在于,所述显示单元还用于:将用户操控所述显示单元输入的操作指令发送给所述主控单元,以使所述主控单元根据所述操作指令下发注错指令。
12.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述供电单元包括:
输入电源切换单元,用于进行外部直流电压与内部电池电压切换;
电压转换单元,用于进行电压转换。
13.根据权利要求12所述的注错测试治具,其特征在于,所述输入电源切换单元包括:
第一二极管与第二二极管;所述第一二极管与所述第二二极管共阴极,所述第一二极管的阳极用于输入外部直流电压,所述第二二极管的阴极输入内部电池电压。
14.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,还包括:
存储单元,用于存储注错测试治具的配置信息。
15.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述主控单元具体用于:当对交换机的USB端口进行注错测试时,若测试模式为强制过流测试,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流;若测试模式为工作后过流测试,则当所述USB接口单元的电源接口的电压高于第一阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第一延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的所述第一负载电路提供负载电流。
16.根据权利要求8所述的注错测试治具,其特征在于,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为电源测试且测试模式为强制过流模式,则根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流;若测试项为电源测试且测试模式为工作后过流测试,则当光纤接口单元的电源接口的电压高于第二阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第二延时时间时,根据配置的过电流大小,选择目标数量的相应的负载电路提供负载电流。
17.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为强制短路模式,则控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;若测试项为总线信号短路到短路点且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第三阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第三延时时间时,控制相应的开关断开,并控制相应的注错单元使所述光纤接口单元的总线信号接口短路到所述短路点;所述短路点包括电源与地。
18.根据权利要求1所述的注错测试治具,其特征在于,所述主控单元具体用于:当对交换机的光纤端口进行注错测试时,若测试项为总线信号间短路且测试模式为强制短路模式,则控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接;若测试项为总线信号间短路且测试模式为工作后短路模式,则当光纤接口单元上目标电源接口的电压高于第四阈值时,启动延时计时,并当延时计时达到第四延时时间时,控制第四注错单元将所述光纤接口单元的数据信号接口与所述光纤接口单元的时钟信号接口短接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202410066347.XA CN117595928B (zh) | 2024-01-17 | 2024-01-17 | 一种注错测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202410066347.XA CN117595928B (zh) | 2024-01-17 | 2024-01-17 | 一种注错测试治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117595928A CN117595928A (zh) | 2024-02-23 |
CN117595928B true CN117595928B (zh) | 2024-04-05 |
Family
ID=89913632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202410066347.XA Active CN117595928B (zh) | 2024-01-17 | 2024-01-17 | 一种注错测试治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN117595928B (zh) |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN206863511U (zh) * | 2016-11-30 | 2018-01-09 | 科大智能电气技术有限公司 | 一种多元化测试模式的馈线自动化仿真测试*** |
CN211791556U (zh) * | 2020-03-03 | 2020-10-27 | 深圳市共进电子股份有限公司 | 一种poe交换机测试电路及poe交换机陪测设备 |
CN112187352A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-01-05 | 锐捷网络股份有限公司 | 一种连接设备及测试*** |
CN112367115A (zh) * | 2020-10-13 | 2021-02-12 | 杭州初灵信息技术股份有限公司 | 一种应用于5g前传的wdm***实时光纤检测模块及方法 |
CN115628759A (zh) * | 2022-12-21 | 2023-01-20 | 北京星途探索科技有限公司 | 一种用于光纤捷联航姿***的测试装置 |
CN115856618A (zh) * | 2023-03-01 | 2023-03-28 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种基于储能电源的低压开关设备短路测试装置及方法 |
CN219223762U (zh) * | 2022-11-24 | 2023-06-20 | 株洲菲斯罗克光电科技股份有限公司 | 一种便携式光纤陀螺测试装置 |
CN116319492A (zh) * | 2023-01-29 | 2023-06-23 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 交换机的测试方法、装置、存储介质及电子设备 |
CN116990608A (zh) * | 2023-07-24 | 2023-11-03 | 中国重汽集团济南动力有限公司 | 电池管理***过电流保护功能的测试装置、***及方法 |
CN117054788A (zh) * | 2023-08-29 | 2023-11-14 | 浙江方圆电气设备检测有限公司 | 一种新能源汽车用电器低感直流测试*** |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11604219B2 (en) * | 2020-12-15 | 2023-03-14 | Teradyne, Inc. | Automatic test equipement having fiber optic connections to remote servers |
-
2024
- 2024-01-17 CN CN202410066347.XA patent/CN117595928B/zh active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN206863511U (zh) * | 2016-11-30 | 2018-01-09 | 科大智能电气技术有限公司 | 一种多元化测试模式的馈线自动化仿真测试*** |
CN211791556U (zh) * | 2020-03-03 | 2020-10-27 | 深圳市共进电子股份有限公司 | 一种poe交换机测试电路及poe交换机陪测设备 |
CN112187352A (zh) * | 2020-09-25 | 2021-01-05 | 锐捷网络股份有限公司 | 一种连接设备及测试*** |
CN112367115A (zh) * | 2020-10-13 | 2021-02-12 | 杭州初灵信息技术股份有限公司 | 一种应用于5g前传的wdm***实时光纤检测模块及方法 |
CN219223762U (zh) * | 2022-11-24 | 2023-06-20 | 株洲菲斯罗克光电科技股份有限公司 | 一种便携式光纤陀螺测试装置 |
CN115628759A (zh) * | 2022-12-21 | 2023-01-20 | 北京星途探索科技有限公司 | 一种用于光纤捷联航姿***的测试装置 |
CN116319492A (zh) * | 2023-01-29 | 2023-06-23 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 交换机的测试方法、装置、存储介质及电子设备 |
CN115856618A (zh) * | 2023-03-01 | 2023-03-28 | 国网山西省电力公司电力科学研究院 | 一种基于储能电源的低压开关设备短路测试装置及方法 |
CN116990608A (zh) * | 2023-07-24 | 2023-11-03 | 中国重汽集团济南动力有限公司 | 电池管理***过电流保护功能的测试装置、***及方法 |
CN117054788A (zh) * | 2023-08-29 | 2023-11-14 | 浙江方圆电气设备检测有限公司 | 一种新能源汽车用电器低感直流测试*** |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
配电自动化工程仿真测试***;张少雷等;《广东电力》;20150228;第28卷(第2期);全文 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN117595928A (zh) | 2024-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8756358B2 (en) | Method and device for identifying universal serial bus (USB) insertion or charger insertion of mobile terminal | |
US9201832B2 (en) | Electronic device with USB interface and method for starting USB communication therefor | |
CN210119534U (zh) | 多协议快充测试装置 | |
US20140229126A1 (en) | Fault detection method and device | |
CN103913695B (zh) | 一种测试*** | |
CN104635102A (zh) | 电子元件检测装置及其检测方法 | |
CN110988540A (zh) | 一种物联网通讯设备的上下电自动化测试*** | |
WO2023184830A1 (zh) | 一种备份电池单元的控制电路、方法、装置及存储*** | |
CN108595299A (zh) | 终端设备的测试*** | |
CN104993469A (zh) | 防呆保护电路 | |
CN117595928B (zh) | 一种注错测试治具 | |
CN110658439A (zh) | 一种保护电路的测试方法及*** | |
CN104467167B (zh) | 一种电源路径管理电路 | |
CN103245869A (zh) | 一种集成电路电源管脚短路判定检测方法 | |
CN112834898A (zh) | 一种存储设备电源芯片稳定性的测试方法、装置及设备 | |
CN111122994B (zh) | 一种模拟断路器人机交互测试装置 | |
CN116662232A (zh) | 一种电子设备和检测方法 | |
CN102095997B (zh) | 光模块的内部电路与外壳短路异常的自动检测装置及方法 | |
CN108674699A (zh) | 一种分时复用双极选通的卫星等效*** | |
CN100407511C (zh) | 一种防止单板误插的方法及其实现装置 | |
CN210573652U (zh) | 一种服务器断电装置 | |
CN105652114A (zh) | 一种测试显示屏时的供电方法、装置及测试治具 | |
CN111060811A (zh) | 一种芯片脚位识别模组及其识别方法 | |
CN208672109U (zh) | 一种燃气表功能测试电路 | |
CN219872362U (zh) | 一种计算机主板的测试治具及测试*** |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |