CN112187352A - 一种连接设备及测试*** - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种连接设备及测试***。由于连接设备上的光口连接器与光模块进行连接,与该光口连接器通过测试电路连接的金手指接口与交换机进行连接,保证光模块通过该连接设备与交换机之间进行信息交互,而该测试电路上设置有测试点,将该测试点与测量设备连接,测量设备可在不破坏交换机与光模块之间的交互环境的情况下,测量光模块与交换机进行信息交互时,通过测试点测量光模块的电气接口参数,简化了测量光模块的电气接口参数的过程,提高测试效率,且不破坏光模块的实际工作场景,测量的电气接口参数更加贴近光模块与交换机进行正常信息交互时产生的电气接口参数,提高测量的电气接口参数的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及光纤通信技术领域,尤其涉及一种连接设备及测试***。
背景技术
在实际应用场景中,光模块***交换机上的光口笼子后,光模块的金手指和交换机的簧针会被封闭在光笼子内,光模块和光口笼子紧密贴合,使得示波器等测试设备无法直接探测到光口笼子中的光模块接口。因此测量光模块各部分工作电压、电流及功耗,或者测试交换机和光模块之间的数据交互、状态控制时,即测量光模块的电气接口参数,一般需要拆解光模块或者交换机,使得测试过程不仅效率低,还会造成光模块的实际工作场景被破坏,获取的测试数据的准确性不高。故而迫切需要一种在不破坏光模块的实际工作场景的测试装置,来测试光模块的电气接口参数。
现有技术中,可以通过主机兼容性测试板(HCB)将交换机端口的高速信号引出到屏蔽线接头上,从而配合示波器进行高速信号测试。另外一种是通过光模块兼容性测试板(MCB)将光模块接口的低速信号则连接到其微处理器上,通过上位机访问MCB的微处理器,再由软件解析该低速信号从而获取光模块的状态信息。对于上述两种方法,只能测得主机或者光模块在相互独立状态下,也即非通信状态下的高速信号或者状态信息,获取到的电气接口参数会不准确,无法反馈交换机与光模块之间信息交互过程中的真实情况。
发明内容
本发明实施例提供了一种连接设备及测试***,用以解决现有无法在不破坏交换机和光模块进行正常信息交互的工作场景下,测量光模块的电气接口参数的问题。
本发明实施例提供了一种连接设备,所述连接设备包括:光口连接器、金手指接口以及测试点;
所述光口连接器通过测试线路与所述金手指接口连接,用于与光模块进行连接,以使所述光模块通过所述连接设备与交换机进行信息交互;
所述金手指接口,用于与所述交换机进行连接,以使所述交换机通过所述连接设备与所述光模块进行信息交互;
所述测试线路上设置有所述测试点,所述测试点,用于与测量设备进行连接,以使测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述测试点测量所述光模块的电气接口参数。
进一步地,所述测试点包括供电测试点、信号测试点以及状态测试点中的至少一种。
进一步地,所述连接设备还包括:单刀双掷开关、外部电源接口;
所述光口连接器上设置有第一供电管脚,所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端连接;
所述金手指接口上设置有第二供电管脚,所述第二供电管脚与所述单刀双掷开关的第一不动端连接;
所述外部电源接口上设置有外部电源管脚,所述外部电源管脚与所述单刀双掷开关的第二不动端连接。
进一步地,若所述测试点包括供电测试点,所述第一供电管脚通过供电线路与所述单刀双掷开关的动端连接,且在所述供电线路上设置有所述供电测试点;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的实际电压和噪声。
进一步地,所述测试点还包括输入供电测试点;
连接所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端的供电线路上设置有电阻,所述输入供电测试点位于所述电阻与所述动端之间,所述供电测试点位于所述电阻与所述第一供电管脚之间;
所述输入供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述输入供电测试点,测量所述光模块的第一输入电压;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的第二输入电压。
进一步地,所述供电测试点包括控制芯片供电测试点、发射模块供电测试点以及接收模块供电测试点;
所述第一供电管脚包括控制供电管脚、发射供电管脚以及接收供电管脚;
所述单刀双掷开关包括第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关以及第三单刀双掷开关;
所述供电线路包括控制供电线路、发射供电线路以及接收供电线路;
所述控制供电管脚通过所述控制供电线路与所述第一单刀双掷开关的动端连接,且所述控制供电线路上设置有控制芯片供电测试点;
所述发射供电管脚通过所述发射供电线路与所述第二单刀双掷开关的动端连接,且所述发射供电线路上设置有所述发射模块供电测试点;
所述接收供电管脚通过所述接收供电线路与所述第三单刀双掷开关的动端连接,且所述接收供电线路上设置有所述接收模块供电测试点。
进一步地,若所述测试点包括所述信号测试点,所述光口连接器上设置有第一信号管脚,所述金手指接口上设置有第二信号管脚,所述第一信号管脚通过信号线路与所述第二信号管脚连接,且所述信号线路上设置有所述信号测试点;
所述信号测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述信号测试点,测量所述光模块在所述信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
进一步地,所述信号测试点位于所述信号线路上靠近所述第一信号管脚的一侧。
进一步地,所述信号测试点包括数据线信号测试点以及控制线信号测试点;
所述第一信号管脚包括第一数据信号管脚以及第一控制信号管脚;
所述第二信号管脚包括第二数据信号管脚以及第二控制信号管脚;
所述信号线路包括数据线信号线路以及控制线信号线路;
所述第一数据信号管脚通过所述数据线信号线路与所述第二数据信号管脚连接,所述数据线信号线路传输的是数据线信号,且所述数据线信号线路上设置有所述数据线信号测试点;
所述第一控制信号管脚通过所述控制线信号线路与所述第二控制信号管脚连接,所述控制线信号线路传输的是控制线信号,且所述控制线信号线路上设置有所述控制线信号测试点。
进一步地,若所述测试点包括所述状态测试点,所述光口连接器上设置有第一状态控制管脚,所述金手指接口上设置有第二状态控制管脚,所述第一状态控制管脚通过状态控制线路与所述第二状态控制管脚连接,且所述状态控制线路上设置有所述状态测试点;
所述状态测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述状态测试点,测量所述状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
进一步地,所述状态测试点位于所述状态控制线路上靠近所述第一状态控制管脚的一侧。
进一步地,所述状态测试点包括光模块片选测试点、光模块功耗控制测试点、光模块复位测试点、光模块在位测试点以及光模块中断测试点;
所述第一状态控制管脚包括第一片选管脚、第一功耗控制管脚、第一复位管脚、第一在位线路管脚以及第一中断管脚;
所述第二状态控制管脚包括第二片选管脚、第二功耗控制管脚、第二复位管脚、第二在位线路管脚以及第二中断管脚;
所述状态控制线路包括片选线路、功耗控制线路、复位线路、在位线路、中断线路;
所述第一片选管脚通过所述片选线路与所述第二片选管脚连接,所述片选线路传输的是光模块片选信号,在所述片选线路上设置有所述光模块片选测试点;
所述第一功耗控制管脚通过所述功耗控制线路与所述第二功耗控制管脚连接,所述功耗控制线路传输的是光模块功耗控制信号,在所述功耗控制线路上设置有所述光模块功耗控制测试点;
所述第一复位管脚通过所述复位线路与所述第二复位管脚连接,所述复位线路传输的是光模块复位信号,在所述复位线路上设置有所述光模块复位测试点;
所述第一在位管脚通过所述在位线路与所述第二在位管脚连接,所述在位线路传输的是光模块在位信号,在所述在位线路上设置有所述光模块在位测试点;
所述第一中断管脚通过所述中断线路与所述第二中断管脚连接,所述中断线路上传输的是光模块中断信号,在所述终端线路上设置有所述光模块中断测试点。
本发明实施例提供了一种测试***,所述***包括:连接设备、光模块、交换机以及测量设备;
所述光模块与所述连接设备上的光口连接器连接,用于通过所述连接设备与所述交换机进行信息交互;
所述交换机与所述连接设备上的金手指接口连接,用于通过所述连接设备与所述光模块进行信息交互;
所述测量设备与所述连接设备上的测试点连接,用于在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的测试点测量所述光模块的电气接口参数。
进一步地,所述测试点包括供电测试点、信号测试点以及状态测试点中的至少一种。
进一步地,所述测试***还包括:外部电源;
所述外部电源与所述连接设备上的外部电源接口连接,用于以不同电源参数为所述光模块供电。
进一步地,所述测量设备,具体用于若所述测试点包括所述供电测试点,在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的所述供电测试点,测量所述光模块的实际电压和第噪声。
进一步地,若所述测试点还包括输入供电测试点;
所述测量设备,具体用于在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的所述输入供电测试点,测量所述光模块的第一输入电压;并在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的所述供电测试点,测量所述光模块的第二输入电压;根据所述第一输入电压以及所述第二输入电压,确定所述光模块的功耗电流。
进一步地,所述测量设备,具体用于若所述测试点包括所述信号测试点,在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的所述信号测试点,测量所述光模块在所述信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
进一步地,所述信号测试点位于靠近所述光模块的位置处。
进一步地,所述测量设备,具体用于若所述测试点包括所述状态测试点,在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的所述状态测试点,测量所述状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
由于本发明实施例提供的连接设备上的光口连接器可以与光模块进行连接,与该光口连接器通过测试电路连接的金手指接口可以与交换机进行连接,从而保证光模块可以通过该连接设备与交换机之间进行信息交互,而该测试电路上设置有测试点,通过该测试点可以与测量设备进行连接,以便测量设备可以在不破坏交换机与光模块之间的交互环境的情况下,即不拆解光模块或者交换机的情况下,测量光模块与交换机进行信息交互时,通过测试点测量光模块的电气接口参数,不仅简化了测量光模块的电气接口参数的过程,提高了测试效率,还不破坏光模块的实际工作场景,使测量的电气接口参数更加贴近光模块与交换机进行正常信息交互时产生的电气接口参数,提高了测量的电气接口参数的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种连接设备的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种供电线路的电路连接示意图;
图3为本发明实施例提供的一种连接设备上的供电线路的电路连接示意图;
图4为本发明实施例提供的一种信号线路的电路连接示意图;
图5为本发明实施例提供的一种状态控制线路的电路连接示意图;
图6为本发明实施例提供的一种连接设备的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的一种测试***的结构示意图。
具体实施方式
为了方便且准确地测量出光模块与交换机进行正常信息交互时,光模块的电气接口参数,本发明实施例提供了一种连接设备及测试***。
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
近年来,大数据、5G、物联网、无人驾驶等应用市场快速发展,给数据流量带来了***性增长,数据中心互联逐渐发展成为光通信的研究热点。数据中心集群为实现各种互联网业务和应用市场的正常工作,要求数据中心之间协同运转。但随着科技的发展,人们对数据中心互联网络的需求越来越高,如何实现数据中心之间产生的信息可以实时海量交互,是近几年来人们日益关注的问题。而光纤通信正是解决上述技术问题的必要手段。其中,用于实现光-电/电-光变换的光模块是光纤通信***中重要的器件,是实现拥有更高效率、更低功耗以及更加小型化交换设备的核心因素,决定了数据中心之间信息交互的过程中能否实现更大更密集的信息量传输。
光模块主要包括光电转换器件、控制芯片及接口。接口主要包括电气接口和光接口,前者用于光模块与交换机或其他设备实现电信号传输,后者用于光模块与光模块之间光信号传输。光模块电气接口主要包括供电接口、用于寄存器配置及状态读取的两线式串行总线(Inter-Integrated Circuit,I2C)接口、用于数据发送的TX DATA BUS接口、用于接收数据的RX DATA BUS接口,以及其他控制及状态监控信号。其中供电接口包含了向模块控制芯片供电的VCC1,向发射模块供电的VCCT及向接收模块供电的VCCR。此外,I2C数据信号作为交换机与光模块之间的寄存器配置及状态读取信号,使用较为频繁。
实施例1:
图1为本发明实施例提供的一种连接设备的结构示意图,该连接设备包括:光口连接器11、金手指接口12以及测试点13;
所述光口连接器11通过测试线路与所述金手指接口12连接,用于与光模块进行连接,以使所述光模块通过所述连接设备与交换机进行信息交互;
所述金手指接口12,用于与所述交换机进行连接,以使所述交换机通过所述连接设备与所述光模块进行信息交互;
所述测试线路上设置有所述测试点13,所述测试点13,用于与测量设备进行连接,以使测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述测试点13测量所述光模块的电气接口参数。
在本发明实施例中,该连接设备包括有光口连接器11、金手指接口12以及测试点13。该连接设备上设置有底板,光口连接器11与金手指接口12均位于该底板上,光口连接器11通过测试线路与金手指接口12连接,并在该测试线路上设置有测试点13。该光口连接器11可以与光模块进行连接,金手指接口12则可以与交换机进行连接。其中,该金手指接口12上有38个凹槽,每个凹槽中嵌有金黄色的导电触片。连接设备通过由测试线路连接的光口连接器11以及金手指接口12,即可实现光模块通过该连接设备与交换机进行信息交互。而在测试线路上设置有测试点13,该测试点13可以与测量设备进行连接,从而方便测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该测试点13测量光模块的电气接口参数。
其中,该底板可以为印制电路(PCB)板,该PCB板可以将测试线路封装在底板中,以实现交换机与光模块之间通过连接设备可以建立通信连接,同时该底板还可以用于装配连接设备所需的元器件、装置、测试点13。
具体实施过程中,为了实现测量光模块的电气接口参数,需要工作人员将光模块的金手指接口(为了方便描述,与连接设备上的金手指接口12进行区分,记为第一金手指接口)***该连接设备的光口连接器11上,该连接设备的光口连接器11上的簧针会分别搭接在光模块上的第一金手指接口上的凹槽中,然后再将连接有光模块的连接设备的金手指接口12***到交换机的光口连接器(为了方便描述,与连接设备上的光口连接器11进行区分,记为第一光口连接器)上,该第一光口连接器上的簧针也会分别搭接在连接设备上的金手指接口12上的凹槽中,通过上述步骤的连接,即可实现光模块通过连接设备与交换机进行信息交互。
其中,为了保证光模块与交换机之间能够进行正常的信息交互,该连接设备的光口连接器11的结构可以与交换机上的第一光口连接器的结构相同,而连接设备的金手指接口12的结构则可以与光模块的第一金手指接口的结构相同,这样即可实现无需改变现有的光模块以及交换机的结构,即可实现光模块通过连接设备与交换机进行信息交互。
当工作人员希望测量光模块的电气接口参数时,可以将测量设备与该连接设备上的测试点13进行连接。测试设备通过连接的测试点13,即可测量到光模块与交换机进行信息交互时光模块的电气接口参数。
其中,为了方便测量设备与连接设备上的测试点13进行连接,可以在测试点13处引出用于测量的探针或引线,后续测量设备可以通过探头或者线夹与该测试点13连接,也可以是在该测试点13设置一个可供测量设备的探头***的测试孔。具体实施过程中,可以根据实际需求进行灵活设置在此不做具体限定。
在本发明实施例中,该测量设备可以是示波器、万用表等设备,也可以是电压表、电流表等设备。
由于本发明实施例提供的连接设备上的光口连接器11可以与光模块进行连接,与该光口连接器11通过测试电路连接的金手指接口12可以与交换机进行连接,从而保证光模块可以通过该连接设备与交换机之间进行信息交互,而该测试电路上设置有测试点13,通过该测试点13可以与测量设备进行连接,以便测量设备可以在不破坏交换机与光模块之间的交互环境的情况下,即不拆解光模块或者交换机的情况下,测量光模块与交换机进行信息交互时,通过测试点13测量光模块的电气接口参数,不仅简化了测量光模块的电气接口参数的过程,提高了测试效率,还不破坏光模块的实际工作场景,测量的电气接口参数更加贴近光模块与交换机进行正常信息交互时产生的电气接口参数,提高了测量的电气接口参数的准确性。
实施例2:
在实际应用场景中,如果直接将光模块与交换机进行连接,交换机通过第一光口连接器上供电接口管脚对应的簧针,搭接在光模块的第一金手指接口上供电接口管脚对应的凹槽上,以向光模块供电;通过第一光口连接器上的I2C接口管脚对应的簧针,搭接在第一金手指接口上I2C接口管脚对应的凹槽上,以读写光模块内的寄存器,从而获得光模块的温度、工作电压、激光器偏置电流、发光功率、接收功率等状态监控信息;并且还可通过第一光口连接器上的状态控制接口管脚对应的簧针,搭接在第一金手指接口上状态控制接口管脚对应的凹槽上,实现控制和初始化光模块的发光状态。因此,在光模块与交换机进行信息交互的过程中,交换机以及光模块上各个接口管脚正常工作,比如供电接口管脚、I2C接口管脚以及状态控制接口管脚等,是交换机和光模块之间进行正常信息交互的基础条件。
为使得交换机和光模块之间相互适配,光模块的电气接口参数需要满足协议规范的指标要求,SFF-8679QSFP+4X Base Electrical Specification协议对QSFP28光模块及交换机的I2C接口管脚、供电接口管脚、状态控制接口管脚等均提出了具体要求。针对I2C接口管脚及状态控制接口管脚,上述协议中主要对其高低电平幅值作出了具体要求;针对供电接口管脚,协议则对其电压幅值、噪声、功耗电流、热插拔瞬态峰值电流、热插拔稳态峰值电流、热插拔稳态电流值等作出了具体的要求。而根据该协议中的各个指标要求,以及测量设备在测试点上测量到的电气接口参数,可以确定当前交换机以及光模块之间是否正常工作。因此,在本发明实施例中,根据不同类型的接口管脚,在连接设备上,所述测试点包括供电测试点、信号测试点以及状态测试点中的至少一种。基于不同的测试点,可以测试到不同的电气接口参数。
为了方便确定光模块损伤的失效具体条件,在上述实施例的基础上,在本发明实施例中,所述连接设备还包括:单刀双掷开关、外部电源接口;
所述光口连接器11上设置有第一供电管脚,所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端连接;
所述金手指接口12上设置有第二供电管脚,所述第二供电管脚与所述单刀双掷开关的第一不动端连接;
所述外部电源接口上设置有外部电源管脚,所述外部电源管脚与所述单刀双掷开关的第二不动端连接。
在实际应用过程中,交换机的光模块接口供电异常时,比如过压、过电流、静电释放(ESD)等,经常会造成光模块发生致命性的损伤。为避免光模块再次被同类故障导致损坏,需要进一步确认造成光模块损伤的失效具体条件。而如果可以通过精确调整为光模块供电的电源参数,来获取光模块在不同的供电环境下电气接口参数,从而找出导致光模块与交换机进行交互过程中发生损伤的失效具体条件是一种十分有效的分析手段。
目前,虽然可以通过MCB以及示波器能够获取光模块电气接口的电压、电流、时序等电气接口参数,但MCB集成了大量的芯片、有源器件、被动器件等元器件,MCB制造成本高昂,且MCB除了给光模块供电之外,还需要向MCB的微处理器及其他有源器件供电,为了保证MCB上的其他有源器件的工作,避免其他有源器件发生短路等损伤情况,MCB上可以为光模块供电的接口一般只能提供一种模式的供电环境,其无法对自身可以提供的电源参数进行修改,从而实现为光模块提供不同的供电环境,方便示波器获取光模块在不同的供电环境下电气接口参数。如果希望为光模块提供不同的供电环境的话,只能通过更换电源参数不同的MCB,或者专门设计一种具有多个不同电源参数的接口的MCB,操作非常繁琐且复杂,需要付出大量的人力物力。
在另一种可能的实施方式中,HCB可以将交换机上的第一光口连接器所输出的高速信号以及低速信号从第一光口连接器中引出,相当于对光口连接器11上的接口管脚做了一定的延长,从而实现对交换机的第一光口连接器输出的信号进行测量,但由于将高速信号以及低速信号从第一光口连接器中引出,会占用第一光口连接器,使光模块无法与该交换机进行连接,从而无法在交换机与光模块进行信息交互的过程中,测量光模块的电气接口参数,更加无法为光模块提供不同电源参数的供电环境,测量光模块在不同的供电环境下的电气接口参数。
基于此,在本发明实施例中,为了可以为光模块提供不同电源参数的供电环境,可以在连接设备上设置有外部电源接口。通过该外部电源接口,可以实现连接设备与外部电源的连接,以便外部电源可以为光模块提供不同电源参数的供电环境,而与测试点连接的测量设备可以通过测试点,测量出光模块与交换机在不同的供电环境下的信息交互的过程中光模块的电气接口参数。
在本发明实施例中,如果只是希望测量光模块与交换机在正常信息交互的过程中光模块的电气接口参数,一般是不需要外部电源为光模块进行供电的,直接通过交换机的第一光口连接器上的供电接口管脚对应的簧针,即可实现交换机对光模块进行供电,而只有在进行光模块的失效具体条件的确定时,才需要将连接设备与外部电源连接,从而实现外部电源以不同的电源参数为光模块进行供电。因此,为了方便对当前为光模块进行供电的电源进行选择,在本发明实施例中,该连接设备中还包括单刀双掷开关,工作人员可以通过对该单刀双掷开关的控制,实现电源的切换。
具体的,在光口连接器11上设置有第一供电管脚,将该第一供电管脚与单刀双掷开关的动端连接;金手指接口12上设置有第二供电管脚,该第二供电管脚与单刀双掷开关的第一不动端连接;而外部电源接口上也设置有外部电源管脚,该外部电源管脚与单刀双掷开关的第二不动端连接。
当希望交换机为光模块进行供电时,工作人员通过对单刀双掷开关的控制,将单刀双掷开关闭合到第一不动端上,实现第一供电管脚与第二供电管脚之间的连接。交换机的第一光口连接器上的供电接口管脚对应的簧针,搭接到连接设备的金手指接口12上第二供电管脚对应的凹槽上后,可以将交换机所提供的电流传输到第一供电管脚处,进而通过连接设备的光口连接器11上第一供电管脚对应的簧针,向光模块供电。
当希望外部电源为光模块进行供电时,工作人员先将外部电源与外部电源接口连接,然后通过对单刀双掷开关的控制,将单刀双掷开关闭合到第二不动端上,实现外接供电管脚与第二供电管脚之间的连接,以使外部电源可以通过外部电源管脚,将所提供的电流传输到第一供电管脚处,进而通过连接设备的光口连接器11上第一供电管脚对应的簧针,向光模块供电。
实施例3:
为了保证测量的电气接口参数的多样性,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,若所述测试点包括供电测试点,所述第一供电管脚通过供电线路与所述单刀双掷开关的动端连接,且在所述供电线路上设置有所述供电测试点;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的实际电压和噪声。
在本发明实施例中,该第一供电管脚是通过供电线路与单刀双掷开关的动端连接的,并且在该供电线路上设置有供电测试点,以通过该供电测试点,可以测量光模块的电气接口参数。
具体实施过程中,当电源为光模块供电后,即交换机或外部电源为光模块供电后,工作人员将测量设备与该连接设备上的供电测试点连接,通过测量设备,即可在该供电测试点处,测量到交换机与光模块进行信息交互时供电线路上的电压和噪声,即测量到光模块工作时的实际电压以及存在的噪声。
在实际应用过程中,为了光模块可以工作,电源需要为光模块中的控制芯片模块、发射模块以及接收模块供电。因此,在本发明实施例中,可以根据光模块中需要供电的不同模块,该连接设备中的第一供电管脚可以分为控制供电管脚、发射供电管脚以及接收供电管脚,该连接设备上的单刀双掷开关包括第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关以及第三单刀双掷开关,供电线路包括控制供电线路、发射供电线路以及接收供电线路。该控制供电管脚通过该控制供电线路与该第一单刀双掷开关的动端连接,且该控制供电线路上设置有控制芯片供电测试点;该发射供电管脚通过该发射供电线路与该第二单刀双掷开关的动端连接,且该发射供电线路上设置有该发射模块供电测试点;该接收供电管脚通过该接收供电线路与该第三单刀双掷开关的动端连接,且该接收供电线路上设置有该接收模块供电测试点。
图2为本发明实施例提供的一种供电线路的电路连接示意图。如图2所示,连接设备中的供电线路包括控制(VCC1)供电线路、发射(VCCT)供电线路以及接收(VCCR)供电线路,VCC1供电线路上的第一单刀双掷开关31、VCCT供电线路的第一单刀双掷开关32以及VCCR供电线路上的第三单刀双掷开关33组成了连接设备上的电源转换开关。其中,该VCC1供电管脚通过该控制供电线路与该第一单刀双掷开关31的动端连接,该VCCT供电管脚通过该发射供电线路与该第二单刀双掷开关32的动端连接,该VCCR供电管脚通过该接收供电线路与该第三单刀双掷开关33的动端连接。
电源所产生的电流通过该VCC1供电线路,可以传输到VCC1供电管脚,并通过连接设备的光口连接器11上的VCC1供电管脚对应的簧针,将电流传输到光模块的第一金手指接口上控制芯片模块接口VCC1管脚对应的凹槽,从而实现将电流传输给光模块,进而给光模块中的控制芯片模块供电。而该VCC1供电线路上设置的VCC1供电测试点与测量设备连接之后,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该VCC1供电线路上的VCC1供电测试点,可以测量到该VCC1供电线路的实际电压和噪声,即光模块上的控制芯片模块接口的实际电压和噪声。
同样的,电源所产生的电流通过该VCCT供电线路,可以传输到VCCT供电管脚,并通过连接设备的光口连接器11上的VCCT供电管脚对应的簧针,将电流传输到光模块的第一金手指接口上VCCT模块接口管脚对应的凹槽,从而实现将电流传输给光模块,进而给光模块中的VCCT模块供电。而该VCCT供电线路上设置的VCCT模块供电测试点与测量设备连接之后,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该VCCT供电线路上的VCCT模块供电测试点,可以测量到该VCCT供电线路的实际电压和噪声,即光模块上的VCCT模块接口的实际电压和噪声。
电源所产生的电流通过该VCCR供电线路,可以传输到VCCR供电管脚,并通过连接设备的光口连接器11上的VCCR供电管脚对应的簧针,将电流传输到光模块的第一金手指接口上VCCR模块接口管脚对应的凹槽,从而实现将电流传输给光模块,进而给光模块中的VCCR模块供电。而该VCCR供电线路上设置的VCCR模块供电测试点与测量设备连接之后,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该VCCR供电线路上的VCCR模块供电测试点,可以测量到该VCCR供电线路的实际电压和噪声,即光模块上的VCCR模块接口的实际电压和噪声。
为了进一步保证测量的电气接口参数的多样性,所述测试点还包括输入供电测试点;
连接所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端的供电线路上设置有电阻,所述输入供电测试点位于所述电阻与所述动端之间,所述供电测试点位于所述电阻与所述第一供电管脚之间;
所述输入供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述输入供电测试点,测量所述光模块的第一输入电压;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的第二输入电压。
在本发明实施例中,为了方便计算供电线路上的电流,从而确定光模块的功耗电流,在连接第一供电管脚与单刀双掷开关的动端的供电线路上设置有电阻,并在该供电线路上电阻与单刀双掷开关的动端之间,设置有输入供电测试点,而在该供电线路上电阻与第一供电管脚之间,设置有供电测试点。由于两个测试点之间存在电阻,该电阻会造成一定的压降,从而根据两个测试点之间的压降,以及预先配置的电阻的阻值,即可确定该供电线路上的功耗电流。
其中,在设置电阻的阻值时,为了可以测量设备可以测量出两个测试点之间的压降,该电阻的阻值不宜过小,至少大于测量设备的最小精度所能测量到的压降,而为了避免电阻过大,使得光模块无法正常工作,该电阻的阻值不宜过大。
具体实施过程中,工作人员可以将测量设备与该供电线路上的输入供电测试点连接,即可通过测量设备,测量到光模块与交换机进行信息交互时,电源所输入到供电线路上的输入电压,即电源输入给光模块的第一输入电压。而工作人员将该测量设备与该供电线路上的供电测试点连接,即可通过测量设备,测量到光模块与交换机进行信息交互时,电源所提供的电压经过该供电线路上的电阻压降后的电压,即电源实际输入给光模块用于工作的第二输入电压。
当基于上述实施例获取到测量设备测量的第一输入电压以及第二输入电压之后,测量设备可以获取该第一输入电压以及第二输入电压之间的电压差值;测量设备根据该电压差值以及预先配置的电阻的阻值,采用欧姆定律,确定该供电线路上的功耗电流,即确定光模块提供的功耗电流。
基于上述实施例中相同的理由,在本发明实施例中,根据光模块中需要供电的不同模块,该连接设备中的第一供电管脚可以分为控制供电管脚、发射供电管脚以及接收供电管脚,该连接设备上的单刀双掷开关包括第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关以及第三单刀双掷开关,供电线路包括控制供电线路、发射供电线路以及接收供电线路,供电测试点包括控制芯片供电测试点、发射模块供电测试点以及接收模块供电测试点。
图3为本发明实施例提供的一种连接设备上的供电线路的电路连接示意图,为了方便描述,现结合图3进行详细的说明:
如图3所示,VCC1供电线路、VCCT供电线路以及VCCR供电线路组成了一个供电测试网络4。
将该VCC1供电线路上设置的控制芯片供电测试点43、输入供电测试点41(为了方便描述,记为第一输入供电测试点)均与测量设备连接之后,测量设备通过该VCC1供电线路上的第一输入供电测试点41,在光模块与交换机进行信息交互时,电源所输入到VCC1供电线路上的输入电压,即电源输入给光模块的控制芯片模块的第一输入电压,并通过该VCC1供电线路上的控制芯片供电测试点43,可以测量到电源所提供的电压经过该VCC1供电线路上的电阻42压降后的电压,即电源实际输入给光模块的控制芯片模块用于工作的第二输入电压;获取第一输入电压与第二输入电压之间的电压差值;根据该电压差值以及设置在该VCC1供电线路上的电阻42的阻值,采用欧姆定律,即可获取该VCC1供电线路对应的功耗电流,即获取光模块的控制芯片模块工作时的功耗电流。
同样的,将该VCCT供电线路上设置的VCCT供电测试点46、输入供电测试点44(为了方便描述,记为第二输入供电测试点)均与测量设备连接之后,测量设备通过该VCCT供电线路上的第二输入供电测试点44,在光模块与交换机进行信息交互时,电源所输入到VCCT供电线路上的输入电压,即电源输入给光模块的发射模块的第一输入电压,并通过该VCCT供电线路上的VCCT供电测试点46,可以测量到电源所提供的电压经过该VCCT供电线路上的电阻45压降后的电压,即电源实际输入给光模块的发射模块用于工作的第二输入电压;获取第一输入电压与第二输入电压之间的电压差值;根据该电压差值以及设置在该VCCT供电线路上的电阻45的阻值,采用欧姆定律,即可获取该VCCT供电线路对应的功耗电流,即获取光模块的发射模块工作时的功耗电流。
将该接收供电线路上设置的VCCR供电测试点49、输入供电测试点47(为了方便描述,记为第二输入供电测试点)均与测量设备连接之后,测量设备通过该VCCR供电线路上的第二输入供电测试点47,在光模块与交换机进行信息交互时,电源所输入到VCCR供电线路上的输入电压,即电源输入给光模块的接收模块的第一输入电压,并通过该VCCR供电线路上的VCCR供电测试点49,可以测量到电源所提供的电压经过该VCCR供电线路上的电阻48压降后的电压,即电源实际输入给光模块的接收模块用于工作的第二输入电压;获取第一输入电压与第二输入电压之间的电压差值;根据该电压差值以及设置在该VCCR供电线路上的电阻48的阻值,采用欧姆定律,即可获取该VCCR供电线路对应的功耗电流,即获取光模块的接收模块工作时的功耗电流。
在一种可能的实施方式中,为了实现可以测量到光模块在热插拔的过程中的电气接口参数,该连接设备的金手指接口12为热插拔金手指接口12,工作人员将测量设备与连接设备的任一供电线路上的供电测试点连接后,通过拔插该连接设备的光口连接器11连接的光口连接设备,并监控测量设备通过供电测试点测量到的数据,即可获取到该供电线路上产生的热插拔瞬态峰值电流、热插拔稳态峰值电流、热插拔稳态电流值等参数,即获取到光模块的供电接口对应的热插拔瞬态峰值电流、热插拔稳态峰值电流、热插拔稳态电流值。
实施例4:
为了保证测量的电气接口参数的多样性,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,若所述测试点包括所述信号测试点,所述光口连接器11上设置有第一信号管脚,所述金手指接口12上设置有第二信号管脚,所述第一信号管脚通过信号线路与所述第二信号管脚连接,且所述信号线路上设置有所述信号测试点;
所述信号测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述信号测试点,测量所述光模块在所述信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
实际应用过程中,交换机与光模块进行信息交互的过程中,会不可避免的要进行信号的传输。而为了实现交换机与光模块之间正常的信息交互,该光口连接器11上设置有第一信号管脚,而金手指接口12上设置有第二信号管脚,该第二信号管脚是通过信号线路与第一信号管脚进行连接的,并且在该信号线路上设置有信号测试点,以通过与该信号测试点连接的测量设备,在交换机与光模块进行信息交互时,测量到光模块工作时在信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
具体实施过程中,光模块可以通过第一金手指接口上I2C接口管脚对应的凹槽,将待传输信号通过连接设备的光口连接器11上第一信号管脚对应的簧针,传输到信号线路上,进而传输到连接设备上的第二信号管脚。通过连接设备的金手指接口12上第二信号管脚对应的凹槽,将该待传输信号通过交换机的第一光口连接器上I2C接口管脚对应的簧针,传输给交换机,从而实现光模块将产生的信号传输给交换机。
当然,交换机也可以通过第一光口连接器上I2C接口管脚对应的簧针,搭接到连接设备的金手指接口12上第二信号管脚对应的凹槽,以实现将交换机发送的信号传输到连接设备的信号线路上,进而传输到连接设备上的第一信号管脚。通过连接设备的光口连接器11上第一信号管脚对应的簧针,搭接到光模块的第一金手指接口上I2C接口管脚对应的凹槽,从而实现将交换机产生的信号传输给光模块。
需要说明的是,由于光模块产生的信号在连接设备中的信号线路上传输时,会不可避免的产生损失,为了减少由于信号传输过程中所产生的损失,并提高测量的光模块的电气接口参数的准确性,在本发明实施例中,所述信号测试点位于所述信号线路上靠近所述第一信号管脚的一侧。
实际应用过程中,为了方便光模块与交换机之间进行信息交互,该光模块中的I2C接口主要用于传输数据线(SDA)信号以及控制线(SCL)信号。因此,在本发明实施例中,根据光模块的I2C接口所传输的信号的类型,该连接设备中的第一信号管脚可以分为第一数据信号管脚以及第一控制信号管脚,该连接设备中的第二信号管脚包括第二数据信号管脚以及第一控制信号管脚,信号测试点包括SDA信号测试点以及SCL信号测试点。其中,该SDA信号测试点用于测试I2C接口对应的SDA信号,SCL信号测试点用于测试I2C接口对应的SCL信号。第一数据信号管脚通过该SDA信号线路与该第二数据信号管脚连接,该SDA信号线路传输的是SDA信号,且该SDA信号线路上设置有该SDA信号测试点;该第一控制信号管脚通过该SCL信号线路与该第二控制信号管脚连接,该SCL信号线路传输的是SCL信号,且该SCL信号线路上设置有该SCL信号测试点。
图4为本发明实施例提供的一种信号线路的电路连接示意图,为了方便描述,现结合图4进行说明:
如图4所示,SDA信号线路与SCL信号线路组成了I2C接口测试网络6。
连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二控制信号管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的SCL信号(为了方便描述记为第一SCL信号),并将该第一SCL信号通过SCL信号线路,传输到第一控制信号管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一控制信号管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一SCL信号传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一控制信号管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的SCL信号(为了方便描述记为第二SCL信号),并将该第二SCL信号通过SCL信号线路,传输到第二控制信号管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二控制信号管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二SCL信号传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行SCL信号的传输。而将该SCL信号线路上设置的SCL信号测试点61与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该SCL信号线路上的SCL信号测试点61,可以测量到该SCL信号线路上传输的SCL信号的电压幅值和电压时序,即光模块上的I2C接口的电压幅值和电压时序。
同样的,连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二数据信号管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的SDA信号(为了方便描述记为第一SDA信号),并将该第一SDA信号通过SDA信号线路,传输到第一数据信号管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一数据信号管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一SDA信号传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一数据信号管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的SDA信号(为了方便描述记为第二SDA信号),并将该第二SDA信号通过SDA信号线路,传输到第二数据信号管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二数据信号管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二SDA信号传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行SDA信号的传输。而将该SDA信号线路上设置的SDA信号测试点62与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该SDA信号线路上的SDA信号测试点62,可以测量到该SDA信号线路上传输的SDA信号的电压幅值和电压时序,即光模块上的I2C接口的电压幅值和电压时序。
实施例5:
为了保证测量的电气接口参数的多样性,在上述各实施例的基础上,在本发明实施例中,若所述测试点包括所述状态测试点,所述光口连接器11上设置有第一状态控制管脚,所述金手指接口12上设置有第二状态控制管脚,所述第一状态控制管脚通过状态控制线路与所述第二状态控制管脚连接,且所述状态控制线路上设置有所述状态测试点;
所述状态测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述状态测试点,测量所述状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
实际应用过程中,交换机与光模块进行信息交互的过程中,还需要进行信号及状态控制信号的传输。而为了实现交换机与光模块之间正常的信息交互,该光口连接器11上设置有第一状态控制管脚,而金手指接口12上设置有第二状态控制管脚,该第二状态控制管脚是通过状态控制线路与第一状态控制管脚进行连接的,并且在该状态控制线路上设置有状态测试点,以通过与该状态测试点连接的测量设备,在交换机与光模块进行信息交互时,测量到光模块工作时在状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序,即测量到光模块上的状态控制接口管脚的电压幅值和电压时序。
具体实施过程中,光模块可以通过第一金手指接口上状态控制接口管脚对应的凹槽,将信号通过连接设备的光口连接器11上第一状态控制管脚对应的簧针,传输到状态控制线路上,进而传输到连接设备上的第二状态控制管脚。通过连接设备的金手指接口12上第二状态控制管脚对应的凹槽,将该信号通过交换机的第一光口连接器上状态控制接口管脚对应的簧针,传输给交换机,从而实现光模块将产生的信号及状态监控信号传输给交换机。
当然,交换机也可以通过第一光口连接器上状态控制接口管脚对应的簧针,搭接到连接设备的金手指接口12上第二状态控制管脚对应的凹槽,以实现将信号传输到连接设备的状态控制线路上,进而传输到连接设备上的第一状态控制管脚。通过连接设备的光口连接器11上第一状态控制管脚对应的簧针,搭接到光模块的第一金手指接口上状态控制接口管脚对应的凹槽,从而实现将交换机产生的信号及状态监控信号传输给光模块。
需要说明的是,由于光模块产生的信号及状态监控信号在连接设备中的状态控制线路上传输时,会不可避免的产生损失,为了减少由于信号传输过程中所产生的损失,并提高测量的光模块的电气接口参数的准确性,在本发明实施例中,所述状态测试点位于所述状态控制线路上靠近所述第一状态控制管脚的一侧。
实际应用过程中,为了方便光模块与交换机之间进行信息交互,该光模块中的状态控制接口主要用于光模块片选信号、光模块功耗控制信号、光模块复位信号、光模块在位信号以及光模块中断信号。因此,在本发明实施例中,根据光模块的状态控制接口所传输的信号的类型,该连接设备中的第一状态控制管脚包括第一片选管脚、第一功耗控制管脚、第一复位管脚、第一在位线路管脚以及第一中断管脚,该连接设备中的第二状态控制管脚包括第二片选管脚、第二功耗控制管脚、第二复位管脚、第二在位线路管脚以及第二中断管脚,状态控制线路包括片选线路、功耗控制线路、复位线路、在位线路、中断线路,状态测试点包括光模块片选测试点、光模块功耗控制测试点、光模块复位测试点、光模块在位测试点以及光模块中断测试点。
该第一片选管脚通过该片选线路与该第二片选管脚连接,该片选线路传输的是光模块片选信号,在该片选线路上设置有该光模块片选测试点;该第一功耗控制管脚通过该功耗控制线路与该第二功耗控制管脚连接,该功耗控制线路传输的是光模块功耗控制信号,在该功耗控制线路上设置有该光模块功耗控制测试点;该第一复位管脚通过该复位线路与该第二复位管脚连接,该复位线路传输的是光模块复位信号,在该复位线路上设置有该光模块复位测试点;该第一在位管脚通过该在位线路与该第二在位管脚连接,该在位线路传输的是光模块在位信号,在该在位线路上设置有该光模块在位测试点;该第一中断管脚通过该中断线路与该第二中断管脚连接,该中断线路上传输的是光模块中断信号,在该终端线路上设置有该光模块中断测试点。
图5为本发明实施例提供的一种状态控制线路的电路连接示意图,为了方便描述,现结合图5进行说明:
如图5所示,片选(ModSelL)线路、功耗控制(LPMode)线路、复位(Resetl)线路、在位(ModPresl)线路、中断(Intl)线路组成状态控制接口测试网络7。
具体的,连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二片选管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的ModSelL(为了方便描述记为第一ModSelL),并将该第一ModSelL通过ModSelL线路,传输到第一片选管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一片选管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一ModSelL传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一片选管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的ModSelL(为了方便描述记为第二ModSelL),并将该第二ModSelL通过ModSelL线路,传输到第二片选管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二片选管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二ModSelL传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行ModSelL的传输。而将该ModSelL线路上设置的ModSelL测试点71与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该ModSelL线路上的ModSelL测试点71,可以测量到该ModSelL线路上传输的ModSelL的电压幅值和电压时序,即光模块上的状态控制接口传输的ModSelL的电压幅值和电压时序。
同样的,连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二功耗控制管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的LPMode(为了方便描述记为第一LPMode),并将该第一LPMode通过LPMode线路,传输到第一功耗控制管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一功耗控制管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一LPMode传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一功耗控制管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的LPMode(为了方便描述记为第二LPMode),并将该第二LPMode通过LPMode线路,传输到第二功耗控制管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二功耗控制管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二LPMode传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行LPMode的传输。而将该LPMode线路上设置的LPMode测试点72与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该LPMode线路上的LPMode测试点72,可以测量到该LPMode线路上传输的LPMode的电压幅值和电压时序,即光模块上的状态控制接口传输的LPMode的电压幅值和电压时序。
连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二复位管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的Resetl(为了方便描述记为第一Resetl),并将该第一Resetl通过Resetl线路,传输到第一复位管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一复位管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一Resetl传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一复位管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的Resetl(为了方便描述记为第二Resetl),并将该第二Resetl通过Resetl线路,传输到第二复位管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二复位管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二Resetl传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行Resetl的传输。而将该Resetl线路上设置的Resetl测试点73与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该Resetl线路上的Resetl测试点73,可以测量到该Resetl线路上传输的Resetl的电压幅值和电压时序,即光模块上的状态控制接口传输的Resetl的电压幅值和电压时序。
连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二在位管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的ModPresl(为了方便描述记为第一ModPresl),并将该第一ModPresl通过ModPresl线路,传输到第一在位管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一在位管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一ModPresl传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一在位管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的ModPresl(为了方便描述记为第二ModPresl),并将该第二ModPresl通过ModPresl线路,传输到第二在位管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二在位管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二ModPresl传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行ModPresl的传输。而将该ModPresl线路上设置的ModPresl测试点74与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该ModPresl线路上的ModPresl测试点74,可以测量到该ModPresl线路上传输的ModPresl的电压幅值和电压时序,即光模块上的状态控制接口传输的ModPresl的电压幅值和电压时序。
连接设备分别与光模块以及交换机连接后,通过连接设备上第二中断管脚对应的凹槽,可以接收交换机产生的Intl(为了方便描述记为第一Intl),并将该第一Intl通过Intl线路,传输到第一中断管脚,通过连接设备的光口连接器11上的该第一中断管脚对应的簧针,即可实现将传输的第一Intl传输给光模块;而连接设备还可以通过连接设备的光口连接器11上第一中断管脚对应的簧针,可以接收光模块产生的Intl(为了方便描述记为第二Intl),并将该第二Intl通过Intl线路,传输到第二中断管脚,通过连接设备的金手指接口12上的该第二中断管脚对应的凹槽,即可实现将传输的第二Intl传输给交换机。
基于上述实施的过程,即可实现交换机通过连接设备与光模块进行Intl的传输。而将该Intl线路上设置的Intl测试点75与测量设备连接,测量设备在光模块与交换机进行信息交互时,通过该Intl线路上的Intl测试点75,可以测量到该Intl线路上传输的Intl的电压幅值和电压时序,即光模块上的状态控制接口传输的Intl的电压幅值和电压时序。
实施例6:
为了方便对本发明实施例提供的连接设备的工作流程进行描述,图6为本发明实施例提供的一种连接设备的结构示意图,现结合图6进行详细的说明:
如图6所述,该连接设备的底板上的一端设置有用于与交换机的第一光口连接器进行连接的热插拔金手指接口1,另一端设置有用于与光模块的第一金手指接口进行连接的光口连接器2,在图中底板的上方设置有用于与外部电源连接的外部电源接口5。
其中,VCC1供电线路、VCCT供电线路以及VCCR供电线路组成了一个供电测试网络4。
光口连接器上的控制供电管脚通过控制供电线路VCC1与第一单刀双掷开关的动端连接,金手指接口上的第二控制供电管脚与该第一单刀双掷开关的第一不动端连接,外部电源接口上的外接控制供电管脚与第一单刀双掷开关的第二不动端连接,该在控制供电线路VCC1上设置有一个电阻,且在控制供电线路上该电阻与控制供电管脚之间设置有控制芯片供电测试点,在电阻与动端之间设置有第一输入供电测试点。
光口连接器上的发射供电管脚通过发射供电线路VCCT与第二单刀双掷开关的动端连接,金手指接口上的第二发射供电管脚与该第二单刀双掷开关的第一不动端连接,外部电源接口上的外接发射供电管脚与第二单刀双掷开关的第二不动端连接,在发射供电线路VCCT上设置有一个电阻,且在发射供电线路VCCT上该电阻与发射供电管脚之间设置有发射模块供电测试点,在电阻与动端之间设置有第二输入供电测试点。
光口连接器上的接收供电管脚通过接收供电线路VCCR与第三单刀双掷开关的动端连接,金手指接口上的第二接收供电管脚与该第三单刀双掷开关的第一不动端连接,外部电源接口上的外接接收供电管脚与第三单刀双掷开关的第二不动端连接,在接收供电线路VCCR上设置有一个电阻,且在接收供电线路VCCR上该电阻与接收供电管脚之间设置有接收模块供电测试点,在电阻与动端之间设置有第三输入供电测试点。
其中,可以将控制供电线路VCC1、发射供电线路VCCT以及接收供电线路VCCR上的单刀双掷开关组合成电源切换开关,用户可以通过调整电源切换开关3,比如,按键、旋钮,等,同时调整每个单刀双掷开关所连接的不动端,即对光模块供电的电源进行切换。
其中,SDA信号线路与SCL信号线路组成了I2C接口测试网络6。
光口连接器上的第一数据信号管脚通过SDA线路与金手指接口上的第二数据信号管脚连接,SDA线路传输的是SDA,且SDA线路上设置有SDA测试点;光口连接器上的第一控制信号管脚通过SCL线路与金手指接口上第二控制信号管脚连接,SCL线路传输的是SCL,且SCL线路上设置有SCL测试点。
其中,片选(ModSelL)线路、功耗控制(LPMode)线路、复位(Resetl)线路、在位(ModPresl)线路、中断(Intl)线路组成状态控制接口测试网络7。
光口连接器上的第一片选管脚通过ModSelL线路与金手指接口上的第二片选管脚连接,ModSelL线路传输的是ModSelL,在ModSelL线路上设置有ModSelL测试点;光口连接器上的第一功耗控制管脚通过LPMode线路与金手指接口上的第二功耗控制管脚连接,LPMode线路传输的是LPMode,在LPMode线路上设置有LPMode测试点;光口连接器上的第一复位管脚通过Resetl线路与金手指接口上的第二复位管脚连接,Resetl线路传输的是Resetl,在Resetl线路上设置有Resetl测试点;光口连接器上的第一在位管脚通过ModPresl线路与金手指接口上的第二在位管脚连接,ModPresl线路传输的是ModPresl,在ModPresl线路上设置有ModPresl测试点;光口连接器上的第一中断管脚通过Intl线路与金手指接口上的第二中断管脚连接,Intl线路上传输的是Intl,在终端线路上设置有Intl测试点,ModSelL线路、LPMode线路、Resetl线路、ModPresl线路以及Intl线路组成了用于光模块与交换机之间高速电信号传输的高速信号线组。
在具体实施过程中,通过将连接设备的金手指接口***交换机的第一光口连接器,将光模块的第一金手指接口***到连接设备的光口连接器,将测量设备与连接设备上的各个测试点连接,便可通过连接设备的各个测试点,在不影响光模块及交换机之间正常信息交互的情况下,测量到光模块的电气接口参数。
并且可选地,在电源切换开关的配合下,还可通过外部电源接口与外部电源连接,从而通过外部电源为光模块提供不同电源参数的供电环境,进而测试光模块在不同供电环境下的电气接口参数,确定光模块在不同供电环境下工作的稳定性。
在现有技术中,SFF-8679QSFP+4X Base Electrical Specification协议中还针对光模块及交换机的所有接口管脚的防静电等级提出了具体的要求。因此,在本发明实施例中,将光模块与连接设备连接后,可以通过连接设备上的各个测试点,向光模块引入静电。当向光模块引入静电之后,将连接有该光模块的连接设备与交换机连接,测量设备与该连接设备的各个测试点连接,测量设备可以根据当前在各个测试点测量到的数据,确定该光模块是否可以和交换机进行正常的信息通信,从而确定该光模块的真实防静电等级是否满足协议中的要求。
实施例7:
本发明实施例提供了一种测试***,图7为本发明实施例提供的一种测试***的结构示意图,该***包括:连接设备71、光模块72、交换机73以及测量设备74;
所述光模块72与所述连接设备71上的光口连接器连接,用于通过所述连接设备71与所述交换机73进行信息交互;
所述交换机73与所述连接设备71上的金手指接口连接,用于通过所述连接设备71与所述光模块72进行信息交互;
所述测量设备74与所述连接设备71上的测试点连接,用于在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的测试点测量所述光模块72的电气接口参数。
进一步地,所述测试点包括供电测试点、信号测试点以及状态测试点中的至少一种。
进一步地,所述测试***还包括:外部电源;
所述外部电源与所述连接设备71上的外部电源接口连接,用于以不同电源参数为所述光模块72供电。
进一步地,所述测量设备74,具体用于若所述测试点包括所述供电测试点,在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的所述供电测试点,测量所述光模块72的实际电压和第噪声。
进一步地,若所述测试点还包括输入供电测试点;
所述测量设备74,具体用于在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的所述输入供电测试点,测量所述光模块72的第一输入电压;并在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的所述供电测试点,测量所述光模块72的第二输入电压;根据所述第一输入电压以及所述第二输入电压,确定所述光模块72的功耗电流。
进一步地,所述测量设备74,具体用于若所述测试点包括所述信号测试点,在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的所述信号测试点,测量所述光模块72在所述信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
进一步地,所述信号测试点位于靠近所述光模块72的位置处。
进一步地,所述测量设备74,具体用于若所述测试点包括所述状态测试点,在所述光模块72与所述交换机73进行信息交互时,通过所述连接设备71上的所述状态测试点,测量所述状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
由于本发明实施例提供的连接设备上的光口连接器可以与光模块进行连接,与该光口连接器通过测试电路连接的金手指接口可以与交换机进行连接,从而保证光模块可以通过该连接设备与交换机之间进行信息交互,而该测试电路上设置有测试点,通过该测试点可以与测量设备进行连接,以便测量设备可以在不破坏交换机与光模块之间的交互环境的情况下,即不拆解光模块或者交换机的情况下,测量光模块与交换机进行信息交互时,通过测试点测量光模块的电气接口参数,不仅简化了测量光模块的电气接口参数的过程,提高了测试效率,还不破坏光模块的实际工作场景,测量的电气接口参数更加贴近光模块与交换机进行正常信息交互时产生的电气接口参数,提高了测量的电气接口参数的准确性。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、***、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请的方法、设备(***)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (13)
1.一种连接设备,其特征在于,所述连接设备包括:光口连接器、金手指接口以及测试点;
所述光口连接器通过测试线路与所述金手指接口连接,用于与光模块进行连接,以使所述光模块通过所述连接设备与交换机进行信息交互;
所述金手指接口,用于与所述交换机进行连接,以使所述交换机通过所述连接设备与所述光模块进行信息交互;
所述测试线路上设置有所述测试点,所述测试点,用于与测量设备进行连接,以使测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述测试点测量所述光模块的电气接口参数。
2.根据权利要求1所述的连接设备,其特征在于,所述测试点包括供电测试点、信号测试点以及状态测试点中的至少一种。
3.根据权利要求2所述的连接设备,其特征在于,所述连接设备还包括:单刀双掷开关、外部电源接口;
所述光口连接器上设置有第一供电管脚,所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端连接;
所述金手指接口上设置有第二供电管脚,所述第二供电管脚与所述单刀双掷开关的第一不动端连接;
所述外部电源接口上设置有外部电源管脚,所述外部电源管脚与所述单刀双掷开关的第二不动端连接。
4.根据权利要求3所述的连接设备,其特征在于,若所述测试点包括供电测试点,所述第一供电管脚通过供电线路与所述单刀双掷开关的动端连接,且在所述供电线路上设置有所述供电测试点;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的实际电压和噪声。
5.根据权利要求4所述的连接设备,其特征在于,所述测试点还包括输入供电测试点;
连接所述第一供电管脚与所述单刀双掷开关的动端的供电线路上设置有电阻,所述输入供电测试点位于所述电阻与所述动端之间,所述供电测试点位于所述电阻与所述第一供电管脚之间;
所述输入供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述输入供电测试点,测量所述光模块的第一输入电压;
所述供电测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述供电测试点,测量所述光模块的第二输入电压。
6.根据权利要求3-5任一所述的连接设备,其特征在于,所述供电测试点包括控制芯片供电测试点、发射模块供电测试点以及接收模块供电测试点;
所述第一供电管脚包括控制供电管脚、发射供电管脚以及接收供电管脚;
所述单刀双掷开关包括第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关以及第三单刀双掷开关;
所述供电线路包括控制供电线路、发射供电线路以及接收供电线路;
所述控制供电管脚与所述第一单刀双掷开关的动端通过所述控制供电线路连接,且所述控制供电线路上设置有控制芯片供电测试点;
所述发射供电管脚与所述第二单刀双掷开关的动端通过所述发射供电线路连接,且所述发射供电线路上设置有所述发射模块供电测试点;
所述接收供电管脚与所述第三单刀双掷开关的动端通过所述接收供电线路连接,且所述接收供电线路上设置有所述接收模块供电测试点。
7.根据权利要求2所述的连接设备,其特征在于,若所述测试点包括所述信号测试点,所述光口连接器上设置有第一信号管脚,所述金手指接口上设置有第二信号管脚,所述第一信号管脚通过信号线路与所述第二信号管脚连接,且所述信号线路上设置有所述信号测试点;
所述信号测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述信号测试点,测量所述光模块在所述信号线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
8.根据权利要求7所述的连接设备,其特征在于,所述信号测试点位于所述信号线路上靠近所述第一信号管脚的一侧。
9.根据权利要求7或8所述的连接设备,其特征在于,所述信号测试点包括数据线信号测试点以及控制线信号测试点;
所述第一信号管脚包括第一数据信号管脚以及第一控制信号管脚;
所述第二信号管脚包括第二数据信号管脚以及第二控制信号管脚;
所述信号线路包括数据线信号线路以及控制线信号线路;
所述第一数据信号管脚通过所述数据线信号线路与所述第二数据信号管脚连接,所述数据线信号线路传输的是数据线信号,且所述数据线信号线路上设置有所述数据线信号测试点;
所述第一控制信号管脚通过所述控制线信号线路与所述第二控制信号管脚连接,所述控制线信号线路传输的是控制线信号,且所述控制线信号线路上设置有所述控制线信号测试点。
10.根据权利要求2所述的连接设备,其特征在于,若所述测试点包括所述状态测试点,所述光口连接器上设置有第一状态控制管脚,所述金手指接口上设置有第二状态控制管脚,所述第一状态控制管脚通过状态控制线路与所述第二状态控制管脚连接,且所述状态控制线路上设置有所述状态测试点;
所述状态测试点,具体用于与所述测量设备进行连接,以使所述测量设备在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述状态测试点,测量所述状态控制线路上传输的信号的电压幅值和电压时序。
11.根据权利要求10所述的连接设备,其特征在于,所述状态测试点位于所述状态控制线路上靠近所述第一状态控制管脚的一侧。
12.根据权利要求10或11所述的连接设备,其特征在于,所述状态测试点包括光模块片选测试点、光模块功耗控制测试点、光模块复位测试点、光模块在位测试点以及光模块中断测试点;
所述第一状态控制管脚包括第一片选管脚、第一功耗控制管脚、第一复位管脚、第一在位线路管脚以及第一中断管脚;
所述第二状态控制管脚包括第二片选管脚、第二功耗控制管脚、第二复位管脚、第二在位线路管脚以及第二中断管脚;
所述状态控制线路包括片选线路、功耗控制线路、复位线路、在位线路、中断线路;
所述第一片选管脚通过所述片选线路与所述第二片选管脚连接,所述片选线路传输的是光模块片选信号,在所述片选线路上设置有所述光模块片选测试点;
所述第一功耗控制管脚通过所述功耗控制线路与所述第二功耗控制管脚连接,所述功耗控制线路传输的是光模块功耗控制信号,在所述功耗控制线路上设置有所述光模块功耗控制测试点;
所述第一复位管脚通过所述复位线路与所述第二复位管脚连接,所述复位线路传输的是光模块复位信号,在所述复位线路上设置有所述光模块复位测试点;
所述第一在位管脚通过所述在位线路与所述第二在位管脚连接,所述在位线路传输的是光模块在位信号,在所述在位线路上设置有所述光模块在位测试点;
所述第一中断管脚通过所述中断线路与所述第二中断管脚连接,所述中断线路上传输的是光模块中断信号,在所述终端线路上设置有所述光模块中断测试点。
13.一种测试***,其特征在于,所述***包括:连接设备、光模块、交换机以及测量设备;
所述光模块与所述连接设备上的光口连接器连接,用于通过所述连接设备与所述交换机进行信息交互;
所述交换机与所述连接设备上的金手指接口连接,用于通过所述连接设备与所述光模块进行信息交互;
所述测量设备与所述连接设备上的测试点连接,用于在所述光模块与所述交换机进行信息交互时,通过所述连接设备上的测试点测量所述光模块的电气接口参数。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113746540A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-03 | 迈矽科技(上海)有限公司 | 一种基于qsfp的可变功耗高速回环测试模块 |
CN115801711A (zh) * | 2022-11-18 | 2023-03-14 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种光口测试芯片及装置 |
CN117595928A (zh) * | 2024-01-17 | 2024-02-23 | 苏州元脑智能科技有限公司 | 一种注错测试治具 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110182191A1 (en) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | Dean Jackson | Testing Network Equipment |
CN202488463U (zh) * | 2012-03-29 | 2012-10-10 | 成都新易盛通信技术股份有限公司 | 一种xenpak转sfp+光模块的转换电路及转换器 |
CN202978940U (zh) * | 2012-11-08 | 2013-06-05 | 绍兴飞泰光电技术有限公司 | 一种光模块自动测试*** |
CN104993863A (zh) * | 2015-06-10 | 2015-10-21 | 四川华拓光通信股份有限公司 | 网络通讯设备测试用的光模块 |
CN206602524U (zh) * | 2017-02-21 | 2017-10-31 | 深圳市迅特通信技术有限公司 | 一种用于光模块测试的转换板 |
CN108462659A (zh) * | 2017-02-17 | 2018-08-28 | 北京国基科技股份有限公司 | 网络交换设备及其数据传输方法 |
CN110247702A (zh) * | 2019-07-12 | 2019-09-17 | 南通同洲电子有限责任公司 | 用于gpon、epon光模块的测试***及其测试方法 |
CN110501533A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-26 | 深圳市迅特通信技术有限公司 | 一种qsfp28光模块测试转接装置及测试方法 |
CN211123377U (zh) * | 2019-10-12 | 2020-07-28 | 南京芯宁光技光电有限公司 | 排针型光模块转接板 |
CN111538689A (zh) * | 2020-04-22 | 2020-08-14 | 中国科学院自动化研究所 | 两端异构的多通道pcie转接卡 |
-
2020
- 2020-09-25 CN CN202011024551.3A patent/CN112187352B/zh active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110182191A1 (en) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | Dean Jackson | Testing Network Equipment |
CN202488463U (zh) * | 2012-03-29 | 2012-10-10 | 成都新易盛通信技术股份有限公司 | 一种xenpak转sfp+光模块的转换电路及转换器 |
CN202978940U (zh) * | 2012-11-08 | 2013-06-05 | 绍兴飞泰光电技术有限公司 | 一种光模块自动测试*** |
CN104993863A (zh) * | 2015-06-10 | 2015-10-21 | 四川华拓光通信股份有限公司 | 网络通讯设备测试用的光模块 |
CN108462659A (zh) * | 2017-02-17 | 2018-08-28 | 北京国基科技股份有限公司 | 网络交换设备及其数据传输方法 |
CN206602524U (zh) * | 2017-02-21 | 2017-10-31 | 深圳市迅特通信技术有限公司 | 一种用于光模块测试的转换板 |
CN110247702A (zh) * | 2019-07-12 | 2019-09-17 | 南通同洲电子有限责任公司 | 用于gpon、epon光模块的测试***及其测试方法 |
CN110501533A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-26 | 深圳市迅特通信技术有限公司 | 一种qsfp28光模块测试转接装置及测试方法 |
CN211123377U (zh) * | 2019-10-12 | 2020-07-28 | 南京芯宁光技光电有限公司 | 排针型光模块转接板 |
CN111538689A (zh) * | 2020-04-22 | 2020-08-14 | 中国科学院自动化研究所 | 两端异构的多通道pcie转接卡 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
郑朝阳: "高速光无线传输仪器研制及测试", 《实验室研究与探索》 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113746540A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-03 | 迈矽科技(上海)有限公司 | 一种基于qsfp的可变功耗高速回环测试模块 |
CN115801711A (zh) * | 2022-11-18 | 2023-03-14 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种光口测试芯片及装置 |
CN115801711B (zh) * | 2022-11-18 | 2024-07-09 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种光口测试芯片及装置 |
CN117595928A (zh) * | 2024-01-17 | 2024-02-23 | 苏州元脑智能科技有限公司 | 一种注错测试治具 |
CN117595928B (zh) * | 2024-01-17 | 2024-04-05 | 苏州元脑智能科技有限公司 | 一种注错测试治具 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112187352B (zh) | 2022-05-20 |
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