CN117146758A - 形状测定装置 - Google Patents

Abstract

形状测定装置是测定具有第一面和第二面的弯曲基材的形状的形状测定装置。形状测定装置具备：对弯曲基材的第二面进行支承并与第二面平行的基材支承部；及对弯曲基材的形状进行测定的形状测定部。由此，能够准确地测定弯曲基材的曲率或距设计的法线偏差。

Description

形状测定装置

本申请是申请日为2017年2月17日、申请号为201780013839.0、发明名称为“形状测定装置”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及形状测定装置。

背景技术

作为检查玻璃板的曲率及尺寸的装置，已知有专利文献1记载的装置。如图18及图19所示，在专利文献1的检查装置100中，首先将玻璃板100A与限动件109对位而载置于检查模具101的上表面。由此，玻璃板100A以其周缘沿着修整线106的方式位于模具主体103上。并且，将检查用工具102A的块体110A安设于模具主体103，将度盘式指示器111的测头110触抵于玻璃板100A缘部附近的上表面。由此，测定相对于曲率基准面107的玻璃板100A上表面的高度，基于该测定值来求出玻璃板100A的曲率。这样，通过曲率基准面107和与之抵接的块体110A，提高安装于块体110A的度盘式指示器111的位置设定的精度，实现高精度地进行基于该度盘式指示器111的测定的情况。

然而，模具主体103为了载置玻璃板100A的周缘而设为矩形环状。因此，仅玻璃板100A的周缘由模具主体103支承，因此通过模具主体103而朝向上方的力作用于玻璃板100A的周缘，通过重力而朝向下方的力作用于玻璃板100A的中央。其结果是，在玻璃板100A产生挠曲，难以求出正确的曲率。而且，由于玻璃板100A的中央部未被支承，因此容易摇晃，曲率测定时的误差变大。而且，仅对于玻璃板100A的周缘测定曲率，未想到测定中央部的曲率的情况，无法测定玻璃板100A整体的曲率。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本国实开昭63-67903号公报

发明内容

发明要解决的课题

本发明鉴于前述的课题而作出，其目的在于提供一种能够准确地测定弯曲基材的曲率或距设计的法线偏差的形状测定装置。

用于解决课题的方案

本发明的上述目的通过下述结构来实现。

(1)一种形状测定装置，测定具有第一面和第二面的弯曲基材的形状，其中，所述形状测定装置具备：

对所述弯曲基材的第二面进行支承的基材支承部；及

对所述弯曲基材的形状进行测定的形状测定部。

(2)根据(1)记载的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有支承所述第二面且与所述第二面平行的曲面。

(3)根据(1)记载的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有与所述第二面分别进行点接触的多个支承片，

将所述多个支承片的前端连结而成的假想曲面与所述第二面平行。

(4)根据(3)记载的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有与所述第二面平行的曲面及所述多个支承片，

通过将相互为同一形状的所述多个支承片设置在所述曲面上，从而使得连结所述多个支承片的前端而成的假想曲面与所述第二面平行。

(5)根据(3)记载的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有与所述第二面不平行的面及所述多个支承片，

通过将多个种类的所述多个支承片设置在所述面上，从而使得连结所述多个支承片的前端而成的假想曲面与所述第二面平行。

(6)根据(1)～(5)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述形状测定部具有测定所述弯曲基材的形状的至少一个形状测定器和支承所述至少一个形状测定器的测定器支承部。

(7)根据(6)记载的形状测定装置，其中，

所述测定器支承部与所述基材支承部为不同的部件。

(8)根据(6)或(7)记载的形状测定装置，其中，

所述至少一个形状测定器配置在与将所述多个支承片的前端连结而成的假想曲面为面垂直的方向上。

(9)根据(6)～(8)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述形状测定部具有多个所述形状测定器，

所述多个形状测定器彼此的对应的部位存在于与所述第一面平行的假想曲面上。

(10)根据(6)～(9)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述形状测定器被所述测定器支承部支承为能够移动。

(11)根据(10)记载的形状测定装置，其中，

利用所述形状测定器的移动轨迹构成的假想曲面与所述第一面平行。

(12)根据(6)～(11)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述形状测定器为曲率测定器。

(13)根据(1)～(12)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有：测定所述弯曲基材的尺寸的尺寸测定装置的测头；及用于使该测头与所述弯曲基材的侧面抵接的测定用槽。

(14)根据(1)～(13)中任一项记载的形状测定装置，其中，

所述弯曲基材为玻璃。

发明效果

根据本发明，能够提供一种可准确地测定弯曲基材的曲率、距设计的法线偏差的形状测定装置。

附图说明

图1是弯曲基材的剖视图。

图2是弯曲基材的剖视图。

图3是图1的弯曲基材的立体图。

图4(a)及(b)分别是变形例的弯曲基材的剖视图。

图5是形状测定装置的立体图。

图6是设置有弯曲基材及度盘式指示器的形状测定装置的立体图。

图7是图6的形状测定装置的剖视图。

图8是图6的形状测定装置的剖视图。

图9是设置有弯曲基材及度盘式指示器的形状测定装置的立体图。

图10是变形例的形状测定装置的剖视图。

图11是形状测定装置的立体图。

图12是设置有弯曲基材及激光位移计的形状测定装置的立体图。

图13是设置有弯曲基材及激光位移计的形状测定装置的立体图。

图14是表示使支承台的上表面与基准面一致的状态的图。

图15是表示使支承台的上表面与基准面一致的状态的图。

图16是表示使支承台的上表面与规格下限一致的状态的图。

图17是表示使支承片与基准面一致的状态的图。

图18是专利文献1的检查装置的立体图。

图19是专利文献1的检查装置的局部剖视图。

具体实施方式

以下，说明本发明的实施方式，但是本发明没有限定为以下的实施方式。而且，不脱离本发明的范围，能对以下的实施方式施加各种变形及置换等。

(弯曲基材)

本实施方式的弯曲基材具有第一面和与第一面相对的第二面。该弯曲基材是具有三维形状的基材，至少在一部分具有弯曲部。“弯曲部”是指以第一面或第二面成为曲面的方式弯曲且其平均曲率不为0的部分。这样的弯曲基材构成在整体上具有规定的曲率的曲面形状。作为弯曲基材的形态，可列举板、膜等。

作为弯曲基材的材料，可列举玻璃、金属、树脂、硅、木材、纸等。作为树脂，可列举聚对苯二甲酸乙二醇酯、三乙酰纤维素等。其中从安全性、强度的观点出发而优选玻璃。此外，作为车载用基材而使用的话，从高耐热性、高耐候性的观点出发也优选玻璃。作为玻璃，可以使用无机玻璃和聚碳酸酯或丙烯酸等的有机玻璃。

另外，无机玻璃、有机玻璃、合成树脂等可以是不分同种、异种地重叠的基材，也可以在其之间***各种粘结层。

作为弯曲基材中使用的基材的厚度，优选为0.5mm以上且5mm以下。这具有如下优点：只要是具备下限值以上的厚度的基材就具有高强度，也具有良好的质感，因此能得到兼具高强度和良好质感的弯曲基材。此外，在前述那样的薄基材的情况下，由于容易挠曲，因此通过使用本发明的形状测定装置能够减少挠曲，实施准确的测定。下限值更优选为0.7mm以上，进一步优选为1mm以上。上限值更优选为3mm以下。

弯曲基材的弯曲部的曲率半径优选为5000mm以下，更优选为3000mm以下，进一步优选为1000mm以下。即便是具有上限值那样的大的曲率半径的弯曲部的弯曲基材，通过使用本发明的形状测定装置也能够测定微妙的变化，能够准确地实施形状测定。

弯曲基材的弯曲部的曲率半径没有特别限制，但是优选为1mm以上，更优选为5mm以上，进一步优选为10mm以上。下限值那样小的曲率半径的弯曲部宽度变细而难以实施测定，但是通过使用本发明的形状测定装置，即使宽度较窄也能够测定微妙的变化，能够准确地实施形状测定。

在弯曲基材的厚度方向剖视观察下，将连结2个端部的线段和与之平行的直线中的与弯曲基材的弯曲部相切的切线的距离定义为“弯曲深度h”，弯曲深度h优选为5mm以上，更优选为10mm以上，进一步优选为20mm以上。越是弯曲深度h大的弯曲基材，越难以确认成形精度的情况为课题。根据本发明所述的形状测定装置，这样的基材的成形精度也能够准确且容易地测定。

对于弯曲基材的第一面或第二面也可以进行防眩层(AG层)、反射防止层(AR层)、耐指纹层(AFP层)等表面处理等。而且，也可以在弯曲基材的第一面或第二面形成装饰或隐蔽用的印刷层或树脂层。

弯曲基材可以进行倒角等加工处理，也可以进行研磨处理，还可以进行强化处理。在使用无机玻璃作为弯曲基材的情况下，作为形成压缩应力层的强化处理方法，已知风冷强化法(物理强化法)及化学强化法作为代表性的强化处理方法。风冷强化法(物理强化法)是对于加热至软化点附近的基材主面通过风冷等进行急速冷却的方法。而且，化学强化法以玻化温度以下的温度，将基材浸渍在硝酸钾熔融盐中进行离子更换。由此，是将存在于基材主面的离子半径小的碱金属离子(典型的是Li离子、Na离子)更换为离子半径更大的碱离子(典型的是相对于Li离子而为Na离子或K离子，相对于Na离子而为K离子。)的方法。

在对于上述那样的比较薄的无机玻璃进行强化处理的情况下，化学强化处理适当。

上述的弯曲基材能够使用于各种用途，但是特别是能够搭载于汽车、电车、船舶、飞机等输送器而良好地使用。而且，当使用于仪表板、平视显示器(HUD)、前围板、副仪表板、换挡手把等的输送器的内装零件时，能够对该内装零件赋予高的外观性、高级感等，能提高输送器的内装设计。而且，适合于要求高尺寸精度的弯曲基材的显示器用罩构件。需要说明的是，在本实施方式中，将第一面也称为上表面，将第二面也称为下表面。

例如，图1及图2示出具有弯曲部7和侧面9的弯曲基材1，该侧面9夹于下表面3与上表面5之间而将两者连接。需要说明的是，图中的Z方向是与弯曲基材1的中央部的厚度方向平行的方向，X及Y方向分别是与Z方向垂直的方向。

也参照图3，图1的弯曲基材1由整体随着朝向X方向两端侧而向下表面3侧(Z方向下侧)弯曲的弯曲部7构成。需要说明的是，该弯曲基材1在Y方向上不向Z方向弯曲。在此，下表面3及上表面5相互平行。因此，该弯曲基材1构成整体具有规定的曲率的曲面形状。

图2的弯曲基材1具有与图1同样的截面形状，但是在图1中，弯曲部7仅朝向基材的X方向两端侧延伸，相对于此，在图2中，在弯曲部7从弯曲基材1的中心朝向周缘部(从中心朝向X及Y方向)延伸的点上结构不同。因此，图2的弯曲基材1设为在下表面3侧具有开口的有底形状。需要说明的是，在该弯曲基材1中，也是下表面3及上表面5相互平行。

需要说明的是，在上述的图1～2中，将Z方向下侧表面表示为下表面3，将Z方向上侧表面表示为上表面5，但是当然也可以将Z方向下侧表面设为上表面5，将Z方向上侧表面设为下表面3。

另外，弯曲基材1不需要下表面3及上表面5相互平行，可以适用任意的形状的下表面3及上表面5。例如图4所示，弯曲基材1也可以是下表面3为平面形状，上表面5为曲面形状。可以如图4(a)那样具有侧面9作为将上表面5与下表面3连接的部位，也可以如图4(b)那样没有侧面9。而且，弯曲基材1也可以是下表面3为曲面形状，上表面5为平面形状。

上述那样的弯曲基材1的曲率、尺寸与设计上的曲率、尺寸完全一致的情况是理想情况，但是根据成形工序或化学强化工序的条件等而可能会产生误差。因此，弯曲基材1的实际的曲率、尺寸优选与设计上的曲率、尺寸相比为能够容许的范围内，或者在生产工序中进行全数检查。因此，本发明者们发明了以下说明那样的通过简易的结构能够准确地测定弯曲基材1的形状的形状测定装置。

(形状测定装置)

如图5～8所示，本实施方式的形状测定装置10具备沿XY方向延伸的平面状的基台11、配置在基台11的上表面并对弯曲基材1进行支承的基材支承部12、及测定弯曲基材1的曲率的曲率测定部20。

基材支承部12具有在基台11的上表面固定的支承台13和在支承台13的上表面13a配置的多个支承片14。支承台13由例如金属、碳、玻璃、陶瓷构成，支承片14由例如合成树脂、橡胶等构成。

支承台13具有与X及Y方向平行的作为平面(与基台11平行的平面)的下表面和与弯曲基材1的下表面3平行的作为曲面的上表面13a。在本实施方式中，说明形状测定装置10测定由整体随着朝向X方向两端侧而向下表面3侧弯曲的弯曲部7构成的弯曲基材1(参照图1及3)的形状的例子。因此，与弯曲基材1的形状同样，支承台13的上表面13a具有在X方向上随着朝向两端侧而向Z方向下侧弯曲，在Y方向上不向Z方向弯曲的形状。

如图7所示，在支承台13的上表面13a，在X及Y方向上等间隔地形成有多个支承片固定槽13b。在图示的例子中，支承片固定槽13b在X方向上等间隔地设置三个，在Y方向上等间隔地设置四个，总计设置12个。而且，支承片固定槽13b以相对于支承台13的上表面13a而成为面垂直(与上表面13a的切线垂直)的方式凹陷设置。

支承片14具有：基部14a，具有与支承片固定槽13b大致相等的形状；及球状部14b，在基部14a的前端形成。并且，基部14a***于支承片固定槽13b而固定成拆装自如，由此支承片14设置于支承台13的上表面13a。在图示的例子中，相互为同一形状的支承片14在X方向上等间隔地设置三个，在Y方向上等间隔地设置四个，总计设置12个。而且，支承片14以相对于支承台13的上表面13a成为面垂直的方式配置。因此，将多个支承片14的球状部14b的前端(Z方向上方端)连结而成的假想曲面A与支承台13的上表面13a及弯曲基材1的下表面3平行。需要说明的是，也可以不是如本实施方式那样将支承片14固定于支承台13而成为一体，而是通过作为凸部将支承片14直接形成于支承台13而使支承片14与支承台13成为一体构造。而且，支承片固定槽13b及支承片14的个数或设置的位置没有特别限定。

如图5及图6所示，在支承台13的上表面13a设有用于将弯曲基材1定位于所希望的位置的限动件16。在图示的例子中，限动件16在上表面13a的X方向一端侧设置一个，在Y方向一端侧设置二个。在此，限动件16拆装自如地固定于在上表面13a形成的限动件固定槽13c。因此，通过将限动件固定槽13c预先设置在各种位置，根据弯曲基材1的X及Y方向的尺寸能够选择装配限动件16的限动件固定槽13c，适当地决定弯曲基材1的位置。在图6的例子中，对应于弯曲基材1的X及Y方向的尺寸，而在支承台13的上表面13a的X方向一端侧设置的二个限动件固定槽13c中的内侧的限动件固定槽13c装配限动件16。而且，在图9的例子中，X及Y方向的尺寸比图6的弯曲基材大，因此在支承台13的上表面13a的X方向一端侧设置的二个限动件固定槽13c中的外侧的限动件固定槽13c装配限动件16。需要说明的是，在限动件固定槽13c中的不使用的部位，也可以作为与上表面13a齐平的盖。

并且，如图7所示以使上述假想曲面A与弯曲基材1的下表面3平行的方式在多个支承片14的上部配置弯曲基材1。因此，弯曲基材1与多个支承片14的球状部14b的前端进行点接触而被支承。而且，弯曲基材1的X及Y方向侧面与多个限动件16抵接而将该弯曲基材1在X及Y方向上定位。

这样，弯曲基材1的下表面3支承于与该弯曲基材1的下表面3平行的基材支承部12，因此能够抑制弯曲基材1的形状变化，能够进行基于曲率测定部20的准确的形状测定。

另外，基材支承部12具有与弯曲基材1的下表面3分别进行点接触的多个支承片14，将多个支承片14的上方端连结而成的假想曲面A与弯曲基材1的下表面3平行，因此弯曲基材1与基材支承部12的接触面积减小，能够抑制弯曲基材1产生损伤的情况。此外，在支承片14为合成树脂制的情况下，能够容易地进行更换，因此通过适当进行更换而能够维持测定精度。另外，在支承片14为橡胶制的情况下，能够抑制由于测定中的振动等而弯曲基材1偏移的情况，因此能够维持测定精度。

另外，如图7及图8所示，在支承台13的上表面13a，在与弯曲基材1的X方向两侧面9a及Y方向两侧面9b沿Z方向相对的位置设有测定用槽13e。在测定用槽13e***有测定弯曲基材1的X及Y方向的尺寸的尺寸测定装置的测头(例如游标卡尺的爪)。该测头与弯曲基材1的X方向侧面9a及Y方向侧面9b抵接。并且，基于一对的与X方向侧面9a抵接的测头彼此的距离来测定弯曲基材1的X方向的尺寸，基于一对的与Y方向侧面9b抵接的测头彼此的距离来测定弯曲基材1的Y方向的尺寸。

如图5及图6所示，曲率测定部20具有：测定弯曲基材1的曲率的多个度盘式指示器21(曲率测定器)；及支承多个度盘式指示器21的测定器支承部23。本实施方式的测定器支承部23具有在X方向上等间隔地配置的三个门型的托架24。需要说明的是，作为曲率测定器，只要能够测定距某基准的距离或位移量即可。具体而言，可以使用度盘式指示器或激光位移计，但是没有特别限定。利用该曲率测定器将被测定物在面内进行多个测定，根据其结果能够预估被测定物的曲率或距设计的法线偏差。

托架24具有沿Y方向分离配置的一对柱部24a和将一对柱部24a沿Y方向连结的梁部24b。一对柱部24a分别拆装自如地固定于在支承台13的上表面13a设置的托架固定槽13d。托架固定槽13d以相对于支承台13的上表面13a成为面垂直(与上表面13a的切线垂直)的方式凹陷设置，因此托架24也同样地相对于支承台13的上表面13a面垂直地配置。需要说明的是，柱部24a不必设置一对，例如也可以通过一个柱部24a来支承梁部24b。这种情况下，柱部24a可以具有能够转动的机构，由此梁部24b也可以能够转动。而且，托架固定槽13d相对于支承台13的上表面13a可以不必面垂直地凹陷设置。

托架24的梁部24b沿Y方向等间隔地具有多个(在本例中为九个)工艺固定孔24c。在图5中，九个中的四个工艺固定孔24c在支承台13的上表面13a的面垂直方向上形成于与支承片14相对的位置。即，在将上述四个工艺固定孔24c向支承台13的上表面13a侧延长的情况下，支承片14位于该延长线上。以后，有时将在与支承片14相对的位置形成的四个工艺固定孔24c称为第一工艺固定孔24h，将除此以外的五个工艺固定孔24c称为第二工艺固定孔24i。在本实施方式中，第一及第二工艺固定孔24h、24i沿Y方向交替配置。

另外，如上所述，托架24相对于支承台13的上表面13a而面垂直地配置。因此，如图7所示，固定于工艺固定孔24c的度盘式指示器21的杆21a及从该杆21a延伸的主轴21b及测头21c相对于支承台13的上表面13a而沿面垂直方向延伸，即相对于弯曲基材1而沿面垂直方向延伸。特别是固定于第一工艺固定孔24h的度盘式指示器21的杆21a、主轴21b及测头21c与支承片14相对。这样，使测头21c面垂直地抵接于弯曲基材1的上表面5，基于多个度盘式指示器21的测定结果，求出弯曲基材1的曲率、法线偏差。

需要说明的是，在固定于第一工艺固定孔24h的度盘式指示器21中，使测头21c与支承片14抵接而测定出的结果被使用作为求出弯曲基材1的曲率时的基准(所谓0点)。并且，以该0点为基准，通过固定于第二工艺固定孔24i的度盘式指示器21进行测定，由此求出弯曲基材1的曲率。

另外，在固定于第二工艺固定孔24i的度盘式指示器21中，也可以使用使测头21c与支承台13的上表面13a抵接而测定出的结果作为求出弯曲基材1的曲率时的基准(0点)。并且，以该0点为基准，通过固定于第一工艺固定孔24h的度盘式指示器21进行测定，由此求出弯曲基材1的曲率。

另外，除了上述的方法之外，也可以将度盘式指示器21固定于专用工具来求出0点。即，只要适当地求出0点即可，可以采用任意的方法。

在本实施方式中，特别是度盘式指示器21相对于弯曲基材1的上表面5的测定点而配置成面垂直方向，由此测头21c面垂直地与该测定点抵接，因此能够提高测定精度。

另外，将多个度盘式指示器21彼此的对应的部位连结而成的假想曲面B(在图7及8中，将杆21a的上端彼此连结而成的假想曲面)与支承台13的上表面13a或弯曲基材1平行。由此，即使如弯曲基材1那样基材弯曲的情况下，也能够测定法线方向的偏差，因此相对于测定位置偏离误差，能够进行误差小的测定。

需要说明的是，度盘式指示器21可以不必设置多个，只要设置至少一个即可。例如，在度盘式指示器21仅设置一个的情况下，为了能够测定弯曲基材1整体的曲率而度盘式指示器21也可以由测定器支承部23支承为能够移动。而且，即使在度盘式指示器21设置多个的情况下，度盘式指示器21也可以由测定器支承部23(例如托架24)支承为能够移动。这样，在度盘式指示器21能够移动的情况下，通过其移动轨迹而形成的假想曲面与上述的假想曲面B(参照图7及8)同样优选与弯曲基材1的上表面5或支承台13的上表面13a平行。由此，通过使度盘式指示器21在弯曲基材1的上表面5上移动而能够进行连续测定，因此测定点增加，能够进行精确的测定。需要说明的是，当使度盘式指示器21在弯曲基材1的上表面5上滑动时，在该上表面5可能会产生擦伤。因此，测头21c的材质优选设为能够减少与上表面的摩擦的材质，例如氟树脂。

需要说明的是，托架24可以不必一体地固定于支承台13，也可以固定于地板或顶棚等构造物并与支承台13为分体。在托架24与支承台13为分体的情况下，能够实现自动测定化。而且，在反复测定中，在托架24与测定器的接触部，对于因磨损等而容易产生松动的部分能够容易地更换。而且，通过托架24的更换而测头的变更变得容易。需要说明的是，托架24的形状或个数没有特别限定。

另外，基材支承部12也可以不具有支承片14，可以通过具有与弯曲基材1的设计上的曲率相等的曲率的支承台13的上表面13a来支承弯曲基材1的下表面3。即使在这种情况下，也是弯曲基材1由具有与该弯曲基材1的设计上的下表面3的曲率相等的曲率的基材支承部12支承，因此能够抑制弯曲基材1的形状变化，能够进行基于曲率测定部20的准确的形状测定。

另外，在本实施方式中，基材支承部12具有与弯曲基材1的下表面3平行的支承台13的上表面13a和多个支承片14，通过将相互为同一形状的多个支承片14设置于支承台13的上表面13a，从而将多个支承片14的上方端连结而成的假想曲面A与弯曲基材1的下表面3平行。由此，只要将同一形状的多个支承片14固定于支承台13的上表面13a即可，因此非常简便。然而，将多个支承片14的上方端连结而成的假想曲面A只要与弯曲基材1的下表面3平行即可，支承台13或多个支承片14的结构没有限定。例如图10所示，也可以将支承台13的上表面13a设为与弯曲基材1的下表面3不平行的面(例如平面)，通过将长度不同的多个种类的支承片14设置于支承台13的上表面13a而将连结多个支承片14的前端而成的假想曲面A设定为与弯曲基材1的下表面3平行。由此，仅通过变更支承片14的长度就能够对应于具有不同的曲率或曲面形状的各种弯曲基材1。

如图11～13所示，曲率测定部20也可以取代度盘式指示器21而适用激光位移计25作为测定弯曲基材1的曲率的曲率测定器。这种情况下，支承多个激光位移计25的测定器支承部23与图5～9所示的例子相比，在梁部24b的结构上不同。需要说明的是，在图12的例子中，对应于弯曲基材1的X及Y方向的尺寸，在设置于支承台13的上表面13a的X方向一端侧的二个限动件固定槽13c中的内侧的限动件固定槽13c装配限动件16。而且，在图13的例子中，与图12的弯曲基材相比X及Y方向的尺寸大，因此在设置于支承台13的上表面13a的X方向一端侧的二个限动件固定槽13c中的外侧的限动件固定槽13c装配限动件16。

梁部24b具有：分别沿Y方向延伸，以夹持柱部24a的方式相互沿X方向分离的一对长边部24d；将一对长边部24d的Y方向两端部彼此连结且在其下方固定有柱部24a的短边部24e；及将一对长边部24d的Y方向中间部彼此连结的三个连结部24f。在连结部24f的X方向两端设有用于将激光位移计25的固定工具26固定的一对销24g。

在一对销24g固定有固定工具26的情况下，与固定工具26连结的激光位移计25相对于梁部24b而面垂直地振荡出激光(参照图中的虚线的箭头。)。在此，托架24相对于支承台13的上表面13a而面垂直地配置，因此从激光位移计25发出的激光相对于支承台13的上表面13a而沿着面垂直方向前进，即相对于弯曲基材1而沿着面垂直方向前进。这样，使激光面垂直地照射于弯曲基材1的上表面5，基于多个激光位移计25的测定结果来求出弯曲基材1的曲率。

在本实施方式中，特别是激光位移计25相对于弯曲基材1的上表面5的测定点而配置成面垂直方向，由此激光面垂直地向该测定点照射，对于该测定点以恒定的角度入射，因此能够提高测定精度。

需要说明的是，在将激光相对于弯曲基材1的上表面5的测定点沿面垂直方向照射的情况下，可以通过激光位移计25检测垂直地反射的反射光，也可以通过配置在倾斜了任意的角度θ的位置的检测器(未图示)来检测散射光。而且，对于上述测定点，也可以使激光从由上表面5的法线倾斜了-θ的方向入射，通过配置在倾斜了+θ的位置的检测器进行检测。而且，对于上述测定点，也可以使激光从上表面5的法线倾斜-θ的方向入射，通过配置成面垂直方向的检测器进行检测。

另外，将多个激光位移计25彼此的对应的部位彼此连结而成的假想曲面与支承台13的上表面13a或弯曲基材1平行。由此能够测定法线方向的偏差，因此难以受到位置偏离造成的误差的影响。

需要说明的是，激光位移计25可以不必设置多个，只要设置至少一个即可。例如，在激光位移计25仅设置一个的情况下，为了能够测定弯曲基材1整体的曲率，激光位移计25也可以由测定器支承部23支承为能够移动。而且，即使在激光位移计25设置多个的情况下，激光位移计25也可以由测定器支承部23(例如托架24)支承为能够移动。这样，在激光位移计25能够移动的情况下，通过其移动轨迹而形成的假想曲面优选与弯曲基材1的上表面5或支承台13的上表面13a平行。由此，通过使激光位移计25在弯曲基材1的上表面5上移动而能够连续测定，因此测定点增加，能够进行更精确的测定。而且，能够使激光位移计25相对于弯曲基材1的上表面5非接触地移动，因此在上表面5不会产生擦伤等。

在通过上述那样的方法来测定弯曲基材1的曲率时，该弯曲基材1是合格品还是不合格品的判断例如图14所示，基于弯曲基材1是否处于规格上限Smax与规格下限Smin之间来进行。在此，规格上限Smax相对于具有与弯曲基材1的设计上的曲率相等的曲率的基准面Sbase而位于面垂直方向上方的规定的公差处，规格下限Smin相对于基准面Sbase而位于面垂直方向下方的规定的公差处。而且，基准面Sbase、规格上限Smax及规格下限Smin相互平行。

图14示出基材支承部12不具有支承片14，通过具有与弯曲基材1的设计上的下表面3的曲率相等的曲率的支承台13的上表面13a来支承弯曲基材1的下表面3的结构。支承台13的上表面13a与基准面Sbase一致。这种情况下，图14所示的弯曲基材1配置在基准面Sbase与规格上限Smax之间，因此判断为合格品。

然而，图15所示的弯曲基材1本来应被判断为合格品，但是由于存在位于比规格上限Smax靠上方的部分，因此被判断为不合格品。其原因是从基准面Sbase至规格下限Smin的范围存在于支承台13内的缘故。

因此，如图16所示，如果使支承台13的上表面13a与规格下限Smin一致，则关于与图15同样的弯曲基材1，也位于规格下限Smin至规格上限Smax之间，因此能够准确地判断为合格品。

支承台13的上表面13a只要为规格下限Smin至规格上限Smax之间即可，其位置没有特别限定，但是为了关于弯曲基材1准确地判断合格或不合格而优选位于规格下限Smin。

这样，在弯曲基材1的下表面3由支承台13的上表面13a支承的情况下，弯曲基材1与支承台13的接触面积变大，两者可能会产生伤痕。而且，在弯曲基材1的形状测定时，机械振动等从支承台13向弯曲基材1容易传递的点、容易受到测定环境的粉尘的影响的点等也可列举作为问题点。

为了解决这些问题点，如图17所示，优选适用将与弯曲基材1的下表面3分别进行点接触的多个支承片14配置于支承台13的上表面13a的结构。由此，弯曲基材1与基材支承部12的接触面积变小，能够抑制弯曲基材1产生伤痕的情况。此外，支承片14由橡胶等摩擦系数大的材料构成，由此能够抑制因测定中的振动等而弯曲基材1偏离的情况。

支承片14的前端与基准面Sbase一致。这种情况下，与图14及图15的例子不同，从基准面Sbase至规格下限Smin的范围不存在于支承台13内。因此，关于与图15同样的弯曲基材1，也位于规格下限Smin至规格上限Smax之间，能够准确地判断为合格品。

支承片14的前端的位置只要为规格下限Smin至规格上限Smax之间即可，没有特别限定，但是为了关于弯曲基材1准确地判断合格或不合格而优选位于基准面Sbase。

需要说明的是，本发明没有限定为前述的实施方式，可以适当进行变更、改良等。

例如，曲率测定器的种类没有限定为度盘式指示器或激光位移计，可以适用任意的位移计。

另外，不仅是形状测定，也可以使用于基材的色调或光的透过率、反射率等的光学特性评价、求出表面的粗糙度或起伏的表面形状评价、水等的接触角测定等的对液体界面评价、使用了铅笔等触头的表面强度评价等。

作为本发明的弯曲基材，也可以是曲面形状与平面形状的组合。即使在这种情况下，也是只要基材支承部的曲面及平面、或将基材支承部的多个支承片的前端连结而成的假想曲面及假想平面与第二面平行，例如，为大致同一形状即可。

本申请基于在2016年2月29日提出申请的日本专利申请2016-38024，并将其内容作为参照而援引于此。

标号说明

1弯曲基材

3下表面(第二面)

5上表面(第一面)

7 弯曲部

9 侧面

9a X方向侧面

9b Y方向侧面

10 形状测定装置

11 基台

12 基材支承部

13 支承台

13a 上表面

13b 支承片固定槽

13c 限动件固定槽

13d 托架固定槽

13e 测定用槽

14 支承片

14a 基部

14b 球状部

16 限动件

20 曲率测定部

21度盘式指示器(曲率测定器)

21a 杆

21b 主轴

21c 测头

23 测定器支承部

24 托架

24a 柱部

24b 梁部

24c 工艺固定孔

24d 长边部

24e 短边部

24g 销

24h 第一工艺固定孔

24i 第二工艺固定孔

25 激光位移计

26 固定工具

A、B假想曲面

Sbase 基准面

Smax 规格上限

Smin 规格下限。

Claims (15)

1.一种形状测定装置，测定具有第一面和第二面的弯曲基材的形状，其中，所述形状测定装置具备：

形状测定时对所述弯曲基材的第二面进行支承的基材支承部；及

对所述弯曲基材的形状进行测定的形状测定部，

所述基材支承部具有与所述第二面分别进行点接触的多个支承片，

所述形状测定部具有测定所述弯曲基材的形状的至少一个形状测定器，该形状测定器的至少一个与所述多个支撑片的一个相对。

2.一种形状测定装置，测定具有第一面和第二面的弯曲基材的形状，所述弯曲基材为玻璃，将连结所述弯曲基材的2个端部的线段和与之平行的直线中的与所述弯曲基材的弯曲部相切的切线的距离定义为弯曲深度h，弯曲深度h为5mm以上，其中，所述形状测定装置具备：

形状测定时对所述弯曲基材的第二面以减少所述弯曲基材的挠曲的方式进行支承的基材支承部；及

对所述弯曲基材的形状进行测定的形状测定部，

所述基材支承部具有与所述第二面分别进行点接触的多个支承片，

将所述多个支承片的前端连结而成的假想曲面与所述第二面的设计上的形状平行。

3.根据权利要求1或2所述的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有支承所述第二面且与所述第二面平行的曲面。

4.根据权利要求1或2所述的形状测定装置，其中，

所述基材支承部的将所述多个支承片的前端连结而成的假想曲面与所述第二面平行。

5.根据权利要求3所述的形状测定装置，其中，

所述基材支承部通过将相互为同一形状的所述多个支承片设置在所述曲面上，从而使得连结所述多个支承片的前端而成的假想曲面与所述第二面平行。

6.根据权利要求1或2所述的形状测定装置，其中，

所述基材支承部还具有与所述第二面不平行的面，

通过将多个种类的所述多个支承片设置在所述面上，从而使得连结所述多个支承片的前端而成的假想曲面与所述第二面平行。

7.根据权利要求1、2、5中任一项所述的形状测定装置，其中，

所述形状测定部具有测定所述弯曲基材的形状的至少一个形状测定器和支承所述至少一个形状测定器的测定器支承部。

8.根据权利要求7所述的形状测定装置，其中，

所述测定器支承部与所述基材支承部为不同的部件。

9.根据权利要求7所述的形状测定装置，其中，

所述至少一个形状测定器配置在与将所述多个支承片的前端连结而成的假想曲面为面垂直的方向上。

10.根据权利要求7所述的形状测定装置，其中，

所述形状测定部具有多个所述形状测定器，

所述多个形状测定器彼此的对应的部位存在于与所述第一面平行的假想曲面上。

11.根据权利要求7所述的形状测定装置，其中，

所述形状测定器被所述测定器支承部支承为能够移动。

12.根据权利要求11所述的形状测定装置，其中，

利用所述形状测定器的移动轨迹构成的假想曲面与所述第一面平行。

13.根据权利要求7所述的形状测定装置，其中，

所述形状测定器为曲率测定器。

14.根据权利要求1、2、5中任一项所述的形状测定装置，其中，

所述基材支承部具有：测定所述弯曲基材的尺寸的尺寸测定装置的测头；及用于使该测头与所述弯曲基材的侧面抵接的测定用槽。

15.根据权利要求1或5所述的形状测定装置，其中，

所述弯曲基材为玻璃。