CN202885758U - 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 - Google Patents
方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 Download PDFInfo
- Publication number
- CN202885758U CN202885758U CN 201220200390 CN201220200390U CN202885758U CN 202885758 U CN202885758 U CN 202885758U CN 201220200390 CN201220200390 CN 201220200390 CN 201220200390 U CN201220200390 U CN 201220200390U CN 202885758 U CN202885758 U CN 202885758U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- glass substrate
- square
- plate glass
- work top
- table top
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其包括一个三角形工作台面和一个圆盘,在所述工作台面上分别安置三个圆座,每个圆座上安置一个能够转动的小钢球,所述三个圆座分别设置于靠近所述三角形工作台面的三条边处,在所述三角形工作台面的边缘三角位置,均分别设有一小滚珠轴承固定座,所述圆盘与所述三个小滚珠轴承固定座滚动连接,所述圆盘中央设有一开口,所述开口的四个角上均分别设有安置方形玻璃基片的槽座,在所述工作台面的中心位置下方设有一台千分表,本实用新型提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪克服了各类规格方形玻璃基片由于玻璃自重而产生的变形影响测量精度的不利因素,使测量精度大大提高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测仪,尤其涉及一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪。
背景技术
随着全球微电子产业的迅速发展,集成电路掩膜版基片、各类方形超高质量表面光学基片在该领域的应用越来越大。在这些超高质量表面要求的方形玻璃基片的生产过程中,需要对这些产品的各类尺寸误差进行全面检测。“方形玻璃基片平面度”质量指标对产品的应用十分重要,直接影响到微电子(集成电路掩膜版)行业大批量产品生产的使用效果。
在以往的平面度检验测试中,常使用“激光平面干涉仪”(如中科院光机所制PG15-J4型激光平面干涉仪)测量光圈的方法虽然精度高达0.2~0.3μm,但对于大规模生产使用不便,影响生产效率,特别是在研磨阶段,毛面不能检测,并且对于大面积大尺寸(边长为4、5、6、7英寸)和超薄型的玻璃基片测量十分困难(光圈变形无法数清),并无法实行数字化直读。
实用新型内容
本实用新型提供一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,旨在解决上述缺陷。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其包括一个三角形工作台面和一个圆盘,在所述工作台面上分别安置三个圆座,每个圆座上安置一个能够转动的小钢球,所述三个圆座分别设置于靠近所述三角形工作台面的三条边处,在所述三角形工作台面的边缘三角位置,均分别设有一小滚珠轴承固定座,所述圆盘与所述三个小滚珠轴承固定座滚动连接,所述圆盘中央设有一开口,所述开口的四个角上均分别设有安置方形玻 璃基片的槽座,在所述工作台面的中心位置下方设有一台千分表。
进一步的,所述三个圆座与其相应的所述三个小滚珠轴承固定座均能够分级调整,所述级为2或3或4。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
与现有技术相比,本实用新型提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的有益效果是:克服了各类规格方形玻璃基片由于玻璃自重而产生的变形影响测量精度的不利因素,使测量精度大大提高(可达0.001mm),特别适用于常用大面积(边长为4、5、6、7英寸)超薄型易变性的方形玻璃玻璃基片,该方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪不仅操作方便,检查直观,而且工作效率极高,十几秒钟即可从千分表中读出数值。
附图说明
下面结合附图对本实用新型作进一步说明:
图1为本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的主视图;
图2为图1中K处的放大图;
图3为本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的俯视图。
在图1至图3中,
1:圆座;2:小滚珠轴承固定座;3:工作台面;4:千分表;5:方形玻璃基片;6:圆盘;11:小钢球;61:槽座。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
本实用新型的核心思想在于,提供一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其包括一个三角形工作台面和一个圆盘,在所述工作台面上分别安置三个 圆座,每个圆座上安置一个能够转动的小钢球,所述三个圆座分别设置于靠近所述三角形工作台面的三条边处,在所述三角形工作台面的边缘三角位置,均分别设有一小滚珠轴承固定座,所述圆盘与所述三个小滚珠轴承固定座滚动连接,所述圆盘中央设有一开口,所述开口的四个角上均分别设有安置方形玻璃基片的槽座,在所述工作台面的中心位置下方设有一台千分表,与现有技术相比,本实用新型提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的有益效果是:克服了各类规格方形玻璃基片由于玻璃自重而产生的变形影响测量精度的不利因素,使测量精度大大提高,特别适用于常用大面积超薄型易变性的方形玻璃玻璃基片,该方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪不仅操作方便,检查直观,而且工作效率极高,十几秒钟即可从千分表中读出数值。
请参考图1至图3,图1为本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的主视图;图2为图1中K处的放大图;图3为本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪的俯视图。
如图1至图3所示,本实用新型实施例提供一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其包括一个三角形工作台面3和一个圆盘6,在所述工作台面3上分别安置三个圆座1,每个圆座1上安置一个能够转动的小钢球11,所述三个圆座1分别设置于靠近所述三角形工作台面3的三条边处,在所述三角形工作台面3的边缘三角位置,均分别设有一小滚珠轴承固定座2,所述圆盘1与所述三个小滚珠轴承固定座2滚动连接,所述圆盘1中央设有一开口,所述开口的四个角上均分别设有安置方形玻璃基片5的槽座61,在所述工作台面3的中心位置下方设有一台千分表4。
进一步的,所述三个圆座1与其相应的所述三个小滚珠轴承固定座2均能够分级调整,所述级为2或3或4。
在本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪利用三点决定一个平面的科学原理,在工作台面3上中部分布的的三个固定圆座1上分别安放可转动的金属小钢球11(使平板玻璃成点接触定位),并且三个圆座1的相对距离是可以分级调整的,以适应不同直径大小方形玻璃基片5的测量要求,另外,在三角形工作台面3是边缘三角位置,分别均布一小滚珠轴承固定座2,它的用途是起旋转测量的靠山作用,在方形玻璃基片5跟随圆盘6一起旋转并 进行测量时防止其离开测量位置导致测量的精度降低,这三个小滚珠轴承固定座2亦可分级调整,以适应不同大小的方形玻璃基片5的测量要求。
在工作台面3中心位置设有一个开孔,在开孔下方安置了一台千分表4(精度为1μm),利用标准平面样板(平面度等于0.5μm)校准零位后放上被测工件(方形玻璃基片5),转动工件便可测量它的平面度,千分表4读数直观、方便、实用。
测量各类方形玻璃基片5(4、5、6、7英寸)时,将该方形玻璃基片5先放在圆盘6的开口中的四个槽座61上,使其搁置在三定位小钢球11上,圆盘6边缘有台阶分别靠架在三个小滚珠轴承固定座2上,使该圆盘6能够转动带动方形玻璃基片5一起转动以进行测量,这种设计使在测量过程中方形玻璃基片5的转动灵活,读数方便,并且不同大小方形玻璃基片5规格(4、5、6、7英寸)测量时能够使用相应大小的圆盘6及操作61来进行基片的保护及旋转工作。
本实用新型实施例提供的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪大大提高了检验工件(方形玻璃基片5)平面度的精度和工作效率,使方形掩膜版玻璃基片生产行业的规范生产得以顺利进行。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变形而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (2)
1.一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其特征在于,包括一个三角形工作台面和一个圆盘,在所述工作台面上分别安置三个圆座,每个圆座上安置一个能够转动的小钢球,所述三个圆座分别设置于靠近所述三角形工作台面的三条边处,在所述三角形工作台面的边缘三角位置,均设有一小滚珠轴承固定座,所述圆盘与所述三个小滚珠轴承固定座滚动连接,所述圆盘中央设有一开口,所述开口的四个角上均设有安置方形玻璃基片的槽座,在所述工作台面的中心位置下方设有一台千分表。
2.根据权利要求1所述的方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,其特征在于,所述三个圆座与相对应的所述三个小滚珠轴承固定座均能够分级调整,所述级为2或3或4。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201220200390 CN202885758U (zh) | 2012-05-04 | 2012-05-04 | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 201220200390 CN202885758U (zh) | 2012-05-04 | 2012-05-04 | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN202885758U true CN202885758U (zh) | 2013-04-17 |
Family
ID=48077179
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN 201220200390 Expired - Fee Related CN202885758U (zh) | 2012-05-04 | 2012-05-04 | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN202885758U (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104864794A (zh) * | 2015-06-23 | 2015-08-26 | 苏州赛腾精密电子股份有限公司 | 笔记本脚垫检查治具 |
CN108089408A (zh) * | 2017-12-12 | 2018-05-29 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种应用于光刻装置的被动式调平锁紧机构 |
CN108779983A (zh) * | 2016-02-29 | 2018-11-09 | Agc株式会社 | 形状测定装置 |
CN114193232A (zh) * | 2021-11-26 | 2022-03-18 | 齐齐哈尔二机床(集团)有限责任公司 | 重型落地镗铣床五轴刀尖跟随功能精度测量装置及方法 |
-
2012
- 2012-05-04 CN CN 201220200390 patent/CN202885758U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104864794A (zh) * | 2015-06-23 | 2015-08-26 | 苏州赛腾精密电子股份有限公司 | 笔记本脚垫检查治具 |
CN108779983A (zh) * | 2016-02-29 | 2018-11-09 | Agc株式会社 | 形状测定装置 |
CN108089408A (zh) * | 2017-12-12 | 2018-05-29 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种应用于光刻装置的被动式调平锁紧机构 |
CN108089408B (zh) * | 2017-12-12 | 2020-03-20 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种应用于光刻装置的被动式调平锁紧机构 |
CN114193232A (zh) * | 2021-11-26 | 2022-03-18 | 齐齐哈尔二机床(集团)有限责任公司 | 重型落地镗铣床五轴刀尖跟随功能精度测量装置及方法 |
CN114193232B (zh) * | 2021-11-26 | 2023-09-19 | 齐齐哈尔二机床(集团)有限责任公司 | 重型落地镗铣床五轴刀尖跟随功能精度测量装置及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101936699B (zh) | 摆臂式三维轮廓仪 | |
CN202885758U (zh) | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 | |
CN104698632A (zh) | 一种基板检测装置及突起高度检测方法 | |
CN204100955U (zh) | 一种多用途高度尺 | |
CN210773947U (zh) | 一种非接触式的配流盘平面度检测装置 | |
CN1851387A (zh) | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 | |
CN202885759U (zh) | 圆形光盘母盘玻璃基片平面度检测仪 | |
CN103673915A (zh) | 触摸屏保护玻璃翘曲度快速测量装置 | |
CN1851386A (zh) | 圆形光盘母盘玻璃基片平面度检测仪 | |
CN2814329Y (zh) | 圆形光盘母盘玻璃基片平面度检测仪 | |
CN207741686U (zh) | 一种家具平整度检测仪 | |
CN204007976U (zh) | 一种电刷弹簧扭力检测仪 | |
CN202974223U (zh) | 径向及端面跳动测量装置 | |
CN202648606U (zh) | 一种洗衣机控制面板直线度测量装置 | |
CN205279967U (zh) | 一种用于球笼保持架外形检测的测量装置 | |
CN201720739U (zh) | 轴承套圈测量工装 | |
CN203672328U (zh) | 触摸屏保护玻璃翘曲度快速测量装置 | |
CN201497483U (zh) | 一种晶片研磨下盘面平整度测量装置 | |
CN201757636U (zh) | 工件对称度检测装置 | |
CN206862254U (zh) | 一种测量刷辊刷丝质量的装置 | |
CN102889846B (zh) | 一种蒙皮桁条结构产品的形状、位置尺寸的测量方法 | |
CN2828738Y (zh) | 方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪 | |
CN204788177U (zh) | 一种专用厚度测量装置 | |
CN210802292U (zh) | 一种两端对称内台阶管状工件的内台阶高度测量装置 | |
CN202304729U (zh) | 高合成像素滤光组合镜头玻璃基片平面度检测仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20130417 Termination date: 20190504 |