CN115052472B - 利用拾取装置校正元件位置的方法及拾取装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种利用拾取装置校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的方法，包括以下步骤：‑由所述拾取装置的夹持装置在至少一个拾取位置夹持至少一个元件；‑由所述拾取装置的移动装置在所述至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动所述夹持装置；‑由所述拾取装置的检测装置检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置；‑由所述拾取装置的位置校正装置将至少一个被夹持的第一元件的所测得的实际位置校正到目标位置；‑由所述位置校正装置基于对所述至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来预校正至少一个被夹持的第二元件。本发明还涉及一种拾取装置、计算机程序产品和计算机可读介质。

Description

利用拾取装置校正元件位置的方法及拾取装置
技术领域
本发明涉及一种利用拾取装置校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的方法。本发明还涉及一种校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的拾取装置。本发明还涉及一种借助拾取装置校正元件位置的计算机程序产品以及一种带有计算机程序的计算机可读介质。
背景技术
为衬底装配元件的装配机需要持续供应可用来装配衬底的元件。元件通常布置于不同配置的元件存储机构中，通过供给装置(即所谓的供料器)供应到自动装配机。供给装置可以执行多项功能。目前，应考虑供给装置和装配机的功能部段，其中将元件从元件存储机构中取出并转送到装配机或例如直接放置在衬底上。
元件存储机构例如可以配置为具有袋口和/或隔室的料带卷筒，其中元件布置于袋口和/或隔室中以供拾取装置取出。替代地或附加地，元件可以布置于碟、盘和/或板上。例如，如果对卷筒和料带的推进力仅作用于卷筒和/或料带的一侧，则可能存在元件与例如推进方向的位置和/或角度偏差。此外，还可能例如因料带袋口的构型具有用于移取元件所需的公差而出现元件的位置和/或角度偏差。元件在拾取位置和/或夹持装置上的位置和/或角度偏差在不校正元件位置的情况下可能导致元件在衬底上的位置和/或角度偏差，进而常造成有缺陷的元件和/或衬底。
公知的设备不包括用于校正元件位置偏差的装置，或者需要大量时间和/或计算工作来校正元件位置偏差。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的是至少部分地克服现有技术中的上述缺陷。特别地，本发明的目的是提供一种能够特别简单快速地校正元件位置的方法。特别地，本发明的目的还在于提供一种校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的拾取装置、一种利用拾取装置校正元件位置的计算机程序产品以及一种带有计算机程序产品的计算机可读介质。
为了达成上述目的，根据本发明第一方面，提出了一种利用拾取装置校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的方法，包括以下步骤：
-由拾取装置的夹持装置在至少一个拾取位置夹持至少一个元件；
-由拾取装置的移动装置在至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动夹持装置；
-由拾取装置的检测装置检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置；
-由拾取装置的位置校正装置将至少一个被夹持的第一元件的所测得的实际位置校正到目标位置；
-由位置校正装置基于对至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来预校正至少一个被夹持的第二元件。
上文和下文描述的方法步骤可以单独、组合、单次、多次、时间上并行和/或按任意顺序相继执行，除非另作明确说明。例如指定为“第一方法步骤”和“第二方法步骤”不决定任何时间顺序和/或优先顺序。
在本发明范围内，“元件”优选理解为用于装配给衬底的电子元件、芯片和/或处理器。在本发明范围内，第一元件和第二元件表示至少部分地时间上相继经过根据本发明的方法的元件。第一元件和第二元件优选为相同的元件。第一元件和第二元件的定义主要用于阐明第一元件和第二元件至少部分地相继经过所述拾取装置和/或所述方法。第一元件和第二元件不是同一个元件。
根据本发明的方法的目的是使得至少一个元件均以限定的方向和/或限定的位置被传递和/或放置。为此，在第一方法步骤中，在至少一个拾取位置夹持至少一个第一元件。拾取位置通常由元件存储机构指定。然而，在拾取位置内，至少一个元件可能错位和/或具有位置和/或角度偏差。由拾取装置的夹持装置完成夹持。夹持装置优选地配置为吸移管。
在第二方法步骤中，由移动装置将夹持装置中和/或夹持装置上的至少一个所拾取的元件移动到分配位置。移动装置可以配置为，例如，机械臂、滑轨和/或轴杆。由检测装置检测至少一个被夹持第一元件的实际位置。在此，实际位置表示至少一个被夹持的第一元件在夹持装置上和/或夹持装置中的位置和/或方向。优选地，可以在夹持装置与至少一个元件的移动期间进行检测。
由于上述影响，元件在所测得的实际位置通常与目标位置存在位置和/或角度偏差。上述偏差既会存在于每个空间平面中，又会存在于每个空间轴周围。在本发明范围内，目标位置优选为限定的位置，尤其是目标位置上的元件水平和/或正交于例如拾取装置和/或元件存储机构的进给方向。可以由拾取装置的用户自由限定至少一个元件在夹持装置上的目标位置。重点仅在于，目标位置定义为能够实现至少一个元件的限定放置和/或限定传递。优选地在每个空间平面中和/或围绕每个空间轴定义和/或可定义目标位置。
在第四方法步骤中，由拾取装置的位置校正装置将至少一个被夹持的第一元件从所测得的实际位置校正到目标位置。位置校正装置是用于校正至少一个被夹持元件的位置的装置。位置校正装置优选地配置为移动夹持装置和/或元件。位置校正装置优选地配置为使至少一个被夹持元件在每个空间平面中和/或围绕每个空间轴移动。优选地，校正包括例如由拾取装置的计算单元将至少一个被夹持元件的所测得的实际位置与目标位置进行比较，其中由位置校正装置校正至少一个被夹持元件的所测得的实际位置，将其从所测得的实际位置校正到目标位置。
在第五方法步骤中，由位置校正装置基于对至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来预校正至少一个被夹持的第二元件。通过第五方法步骤，根据本发明的方法具有特殊优势。清楚地，考虑第一元件的至少一次先前执行的校正来预校正至少一个第二元件。来自元件存储机构的元件在拾取位置上通常具有相同或至少相似的位置和/或角度偏差。根据本发明的方法能够有利地通过考虑至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来实现对至少一个被夹持的第二元件的预校正而得以加速。清楚地，所述方法执行对至少一个第一元件的校正，作为对后续第二元件的预校正。至少一个第一元件的已完成校正是通过检测第一元件的实际位置并然后将至少一个第一元件从实际位置校正到目标位置而完成。与校正至少一个第一元件相比，预校正至少一个第二元件不是基于检测第二元件的实际位置，而是基于对至少一个第一元件已完成的校正。
预校正至少一个被夹持的第二元件优选地基于若干次已完成的校正，其中优选地根据用于预校正的已完成校正生成平均值和/或子午线。
借此清楚地，所述方法通过对至少一个被夹持的第一元件的校正学***均位置和/或角度偏差，并用于预校正至少一个被夹持的第二元件。优选地，预校正至少部分地在时间上并行于由拾取装置的移动装置在至少一个拾取位置与一个分配位置之间移动夹持装置期间而进行。优选地，通过对至少一个第二元件的预校正，不再需要检测第二元件的实际位置并校正所测得的第二元件的实际位置，或者对所测得的第二元件的实际位置进行的校正至少小于未经预校正的元件，这样根据本发明的方法会节约时间。
借此，根据本发明的方法优选地实现了初始检测时段，在此期间检测和纠正至少一个被夹持的第一元件的实际位置。特别地，在所测得的第一元件的位置和/或角度偏差相同和/或相似的情况下，可以在进一步过程中省去检测和校正，因为元件通过预校正已经纠正到目标位置或至少足够准确地纠正到目标位置。优选地，根据本发明的检查预校正的方法可以包括以时间间隔检测实际位置和/或校正至少一个被夹持的元件，其中该时间间隔彼此相同或不同。
根据本发明的方法优选地在上述方法步骤之后包括将至少一个被夹持的元件输送到分配位置。分配位置可以直接布置于衬底上和/或其他设备中和/或其他设备上。
这样设计的方法尤具优势的原因在于，能够特别简单快速地利用拾取装置校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置。根据本发明的方法优选地能够通过预校正实现更快和/或更准确地校正元件位置。
根据本发明一优选改进方案，在该方法中可以规定，预校正进一步包括：
-由拾取装置的计算单元基于至少两次已完成的校正来确定预校正值，特别地其中，按照确定的预校正值进行预校正。
优选地，预校正至少一个被夹持的第二元件是基于至少两次已完成的校正，其中由拾取装置的计算单元基于至少两次已完成的校正来确定预校正值。这样按照所确定的预校正值来进行预校正。预校正值优选为根据已完成校正的平均值和/或子午线。这样设计的方法尤具优势的原因在于，可以采用简单手段低成本地实现校正元件位置的准确性。
根据本发明一优选改进方案，该方法中可以规定，该方法进一步包括至少一个以下方法步骤：
-由拾取装置的检测装置检测经预校正后的至少一个被夹持的第二元件的实际位置；
-由拾取装置的位置校正装置将经预校正后的至少一个被夹持的第二元件的所测得的实际位置校正到目标位置。
作为根据上述第五方法步骤预校正至少一个被夹持的第二元件的补充，例如为了提高位置校正的准确性，根据本发明的方法可以包括：由拾取装置的检测装置检测经预校正后的至少一个被夹持的第二元件的实际位置；和/或由拾取装置的位置校正装置校正经预校正后的至少一个被夹持的第二元件的所测得的实际位置，将其从所测得的实际位置校正到目标位置。这样设计的根据本发明的方法尤具优势的原因在于，该方法能够在可能最快速的位置校正与可能最准确的位置校正之间相互协调。就位置校正的极高精度而言，第二元件通过预校正以及预校正后检测实际位置并随后将实际位置校正到目标位置而得以纠正。就可能最快速的位置校正而言，仅在初始检测时段内检测和纠正至少一个被夹持的第一元件的实际位置。在初始检测时段之后，可以省去检测和校正实际位置，和/或检查预校正的方法可以包括以时间间隔检测实际位置和/或校正至少一个被夹持的元件，其中该时间间隔彼此相同或不同。
根据本发明一优选改进方案，该方法可以规定，校正和/或预校正包括位置校正装置的倾斜运动和/或旋转运动。如果校正和/或预校正包括位置校正装置的倾斜运动和/或旋转运动，则根据本发明的方法将是特别有利的。通过位置校正装置的倾斜运动和/或旋转运动，优选地使得至少一个被夹持元件能够进行倾斜运动和/或旋转运动，进而能够将元件从实际位置校正到目标位置。
根据本发明一优选改进方案，该方法可以规定，检测包括由检测装置检测至少一个被夹持元件的位置和/或角度。检测实际位置优选地包括检测至少一个被夹持元件的位置和/或角度。由于上述元件偏差既可存在于每个空间平面中，又可存在于每个空间轴周围，特别有利的是，检测装置配置为检测至少一个被夹持元件的位置和/或角度。
根据本发明一优选改进方案，该方法可以规定，该方法进一步包括至少一个以下方法步骤：
-由移动装置将夹持装置移动到暂存位置；
-由夹持装置将至少一个被夹持元件暂存在暂存位置处；
-由夹持装置从暂存位置纠正夹持至少一个元件。
特别地，在位置校正装置的校正移动路径和/或途径有限的情况下，暂存至少一个被夹持元件可能具有优势。例如，位置校正装置提供围绕每个空间轴+/-5°的校正移动路径。在所测得的元件绕空间轴的角度偏差大于5°的情况下，所述示例性位置校正装置无法将元件纠正到0°的目标位置。由夹持装置将至少一个被夹持元件暂存在暂存位置，允许由夹持装置从暂存位置纠正夹持至少一个元件。在本发明范围内，“纠正夹持”应理解为由夹持装置从暂存位置重新夹持至少一个元件，此时的位置和/或角度偏差相比将至少一个被夹持元件暂存在暂存位置之前的位置和/或角度偏差有所减小。这样设计的方法尤具优势的原因在于，即使极大的位置和/或角度偏差也能得以纠正，进而可通过简单低成本的手段防止或至少减少元件废品。
为了达成上述目，根据本发明第二方面，提出了一种校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的拾取装置。所述拾取装置包括：夹持装置，用于夹持至少一个元件；移动装置，用于在至少一个元件的至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动夹持装置；检测装置，用于检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置；以及位置校正装置，用于将至少一个被夹持的第一元件从所测得的实际位置校正到目标位置，其中位置校正装置配置为基于对至少一个第一元件的至少一次已完成校正来预校正至少一个被夹持的第二元件。
第一元件和第二元件优选为相同的元件。第一元件和第二元件的定义主要用于阐明第一元件和第二元件至少部分地相继经过所述拾取装置和/或所述方法。第一元件和第二元件不是同一个元件。
所述拾取装置用来校正用于借助装配机装配给衬底的元件的位置。校正元件位置尤具优势的原因在于，至少一个元件均能以限定的方向和/或限定的位置被传递和/或放置。为此，所述拾取装置具有用于夹持至少一个元件的夹持装置。夹持装置优选地配置为移取管，尤其是吸移管。替代地，可以由夹持装置以机械方式夹持至少一个元件。通常由元件存储机构指定拾取位置。然而，在拾取位置内，至少一个元件可能错位和/或具有位置和/或角度偏差。由拾取装置的夹持装置完成夹持。所述拾取装置还包括移动装置，用于使夹持装置在至少一个元件的至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动。移动装置可以例如配置为机械臂、滑轨和/或轴杆。所述拾取装置还包括用于检测至少一个被夹持元件的实际位置的检测装置以及用于将至少一个被夹持元件从所测得的实际位置校正到至少一个第一元件的目标位置的位置校正装置。由检测装置检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置。在此，实际位置表示至少一个被夹持的第一元件在夹持装置上和/或夹持装置中的位置和/或方向。优选地，可以在夹持装置与至少一个元件的移动期间进行检测。
由于上述影响，元件在所测得的实际位置通常与目标位置存在位置和/或角度偏差。上述偏差既会存在于每个空间平面中，又会存在于每个空间轴周围。在本发明范围内，目标位置优选为定义位置，尤其是目标位置上的元件水平和/或正交于例如拾取装置和/或元件存储机构的进给方向。可以由拾取装置的用户自由限定至少一个元件在夹持装置上的目标位置。重点仅在于，目标位置限定为能够实现至少一个元件的定义放置和/或定义传递。优选地在每个空间平面中和/或围绕每个空间轴限定和/或可限定目标位置。
位置校正装置能够将至少一个被夹持的第一元件从所测得的实际位置校正到目标位置。位置校正装置表示用于校正至少一个被夹持元件的位置的装置。位置校正装置优选地配置为移动夹持装置和/或元件。优选地，所述拾取装置配置为例如由拾取装置的计算单元将至少一个被夹持元件的所测得的实际位置与目标位置进行比较，其中该拾取装置配置为由位置校正装置校正至少一个被夹持元件的所测得的实际位置，将其从所测得的实际位置校正到目标位置。
位置校正装置还配置为基于对至少一个第一元件的至少一次已完成校正来预校正至少一个被夹持的第二元件。清楚地，位置校正装置配置为考虑第一元件的至少一次先前执行的校正来预校正至少一个第二元件。来自元件存储机构的元件在拾取位置上通常具有相同或至少相似的位置和/或角度偏差。根据本发明的拾取装置能够有利地通过考虑至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来实现对至少一个被夹持的第二元件的预校正而得以加速。清楚地，所述拾取装置能够执行对至少一个第一元件的校正，作为对后续第二元件的预校正。至少一个第一元件的已完成校正是通过检测第一元件的实际位置并然后将至少一个第一元件从实际位置校正到目标位置实现而完成。与校正至少一个第一元件相比，预校正至少一个第二元件不是基于检测第二元件的实际位置，而是基于对至少一个第一元件已完成的校正。
这样设计的拾取装置尤具优势的原因在于，特别简单快速地实现了校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置。根据本发明的拾取装置优选地能够通过预校正实现更快和/或更精准地校正元件的位置。
根据本发明一优选改进方案，该拾取装置可以规定，拾取装置配置为执行根据第一方面所述的方法，从而所述拾取装置就能获得已经针对根据本发明第一方面的方法描述的全部优势。
根据本发明一优选改进方案，拾取装置可以规定，该拾取装置包括计算单元，其中该计算单元配置为基于至少两次已完成的校正来确定预校正值，和/或位置校正装置配置为通过倾斜运动和/或旋转运动校正所测得的实际位置。优选地，预校正至少一个被夹持的第二元件是基于至少两次已完成的校正，其中由拾取装置的计算单元基于至少两次已完成的校正来确定预校正值。这样按照所确定的预校正值来进行预校正。预校正值优选地确定为根据已完成校正的平均值和/或子午线。这样设计的方法尤具优势的原因在于，可以采用简单手段低成本地实现校正元件位置的准确性。
根据本发明的拾取装置特别有利的是，位置校正装置配置为通过倾斜运动和/或旋转运动进行校正和/或预校正。通过位置校正装置的倾斜运动和/或旋转运动，优选地使得至少一个被夹持的元件能够进行倾斜运动和/或旋转运动，进而能够将元件从实际位置校正到目标位置。
根据本发明一优选改进方案，拾取装置可以规定，计算单元配置为将至少一个被夹持的元件的所测得的实际位置与目标位置进行比较，特别地，位置校正装置配置为按照比较得出的位置差将至少一个被夹持的元件从所测得的实际位置校正到目标位置。优选地，所述拾取装置配置为例如由拾取装置的计算单元将至少一个被夹持的元件的所测得的实际位置与目标位置进行比较，其中该拾取装置配置为由位置校正装置校正至少一个被夹持的元件的所测得的实际位置，将其从所测得的实际位置校正到目标位置。
根据本发明一优选改进方案，拾取装置可以规定，检测装置包括存储单元，用于存储至少一个被夹持的元件的至少一个所测得的实际位置和/或至少一次已完成的校正，特别地，计算单元配置为基于对至少一个第一元件的至少一次已完成且存储的校正来确定对至少一个被夹持的第二元件的预校正。存储单元有利地能够存储至少一个被夹持元件的至少一个所测得的实际位置和/或至少一次已完成的校正。预校正优选地基于对至少一个第一元件的至少一次已完成且存储的校正，特别优选地基于若干次已完成且存储的校正。优选地，存储单元还能够有利地分析、发送、转发和/或读取所测得的实际位置和/或校正。
根据本发明一优选改进方案，拾取装置可以规定，检测装置包括至少一个传感器，其中该传感器配置为图像采集传感器，尤其是相机，特别地，至少两个传感器从两侧检测至少一个被夹持的元件。传感器优选地采集图像数据以便利用该数据来确定至少一个被夹持的第一元件的实际位置。优选地，传感器从上方检测至少一个被夹持的第一元件。从两侧检测至少一个第一元件有利地提高了所测得的实际位置的准确性。
根据本发明一优选改进方案，拾取装置可以规定，移动装置配置为将夹持装置移动到暂存位置，其中拾取装置配置为将至少一个被夹持的元件暂存在暂存位置处。特别地，在位置校正装置的校正移动路径和/或途径有限的情况下，暂存至少一个被夹持的元件可能具有优势。例如，位置校正装置提供围绕每个空间轴+/-5°的校正移动路径。在所测得的元件绕空间轴的角度偏差大于5°的情况下，所述示例性位置校正装置无法将元件纠正到0°的目标位置。由夹持装置将至少一个被夹持的元件暂存在暂存位置，允许由夹持装置从暂存位置纠正对至少一个元件的夹持。在本发明范围内，“纠正夹持”应理解为由夹持装置从暂存位置重新夹持至少一个元件，此时的位置和/或角度偏差相比将至少一个被夹持的元件暂存在暂存位置之前的位置和/或角度偏差有所减小。这样设计的拾取装置尤具优势的原因在于，即使极大的位置和/或角度偏差也能得以纠正，进而可通过简单低成本的手段减少元件废品。
为了达成上述目的，根据本发明第三方面，提出了一种利用拾取装置校正元件位置的计算机程序产品。所述计算机程序产品包括促使根据第二方面的拾取装置执行根据第一方面的方法步骤的命令。所述计算机程序产品就能获得已经针对根据本发明第一方面的方法和根据本发明第二方面的拾取装置描述的全部优势。
为了达成上述目的，根据本发明第四方面，提出了一种计算机可读介质，其中该计算机可读介质上存储有根据第三方面的计算机程序产品。所述计算机可读介质就能获得已经针对根据本发明第三方面的计算机程序产品描述的全部优势。
附图说明
下面结合附图详述根据本发明的方法、拾取装置、计算机程序产品和计算机可读介质。图中：
图1示出用于校正元件位置的拾取装置在拾取位置和分配位置的透视图；
图2示出具有夹持装置、移动装置、位置校正装置和元件的拾取装置在实际位置和目标位置的透视图；
图3示出用于校正元件位置的拾取装置在拾取位置、暂存位置和分配位置的透视图；
图4示出带有计算机程序产品的计算机可读介质；以及
图5示出根据本发明的方法的流程图。
附图标记说明：
10拾取装置
12夹持装置
14移动装置
16位置校正装置
30检测装置
32传感器
34计算单元
36存储单元
80拾取位置
82分配位置
84暂存位置
100 元件
100a 第一元件
100b 第二元件
200 校正元件位置的方法
202 夹持
204 移动
206 检测
208 校正
210 预校正
212 确定
214 检测
216 校正
218 移动
220 暂存
222 纠正夹持
300 计算机程序产品
400 计算机可读介质
SP 目标位置
IP实际位置
PD 位置差
VKW 预校正值。
具体实施方式
在图1至图5中，具有相同功能和作用模式的构件均标有相同的附图标记。
图1示意性示出用于校正元件100位置的拾取装置10在拾取位置80和分配位置82的透视图。拾取装置10包括用于夹持元件100的夹持装置12、用于使夹持装置12在元件100的至少一个拾取位置80与至少一个分配位置82之间移动的移动装置14、用于检测被夹持的元件100的位置的检测装置30以及用于校正被夹持的元件100的位置校正装置16。位置校正装置16配置为基于对先前元件100的若干次已完成校正来预校正被夹持的元件100。为此，拾取装置10包括具有存储单元36的计算单元34，该存储单元36配置为存储元件100的所测得位置和已完成校正。
图2示意性示出具有夹持装置12、移动装置14、位置校正装置16和元件100的拾取装置10在实际位置IP和目标位置SP的透视图。位置校正装置16表示用于校正至少一个被夹持的元件100的位置的装置。在所示的配置中，位置校正装置16配置为移动夹持装置12和元件100。优选地，由位置校正装置16进行的校正包括例如由拾取装置10的计算单元(未示出)将被夹持的元件100的所测得的实际位置IP与目标位置SP进行比较，其中由位置校正装置16对被夹持的元件100的所测得的实际位置IP进行校正，将其从所测得的实际位置IP校正到目标位置SP。出于清楚说明目的，用虚线显示目标位置SP。位置校正装置16配置为使被夹持元件100在每个空间平面中围绕每个空间轴移动，以纠正元件100的实际位置IP与元件100的目标位置SP的相应偏差。位置校正装置16配置为按照比较得出的位置差PD将至少一个被夹持的元件100从所测得的实际位置IP校正到目标位置SP。根据本发明的方法和根据本发明的拾取装置10可以有利地通过考虑对第一元件100a的若干次已完成校正来实现对被夹持第二元件100b的预校正而得以加速。如图所示，根据本发明的方法和/或拾取装置10执行对至少一个第一元件100a的校正，作为对后续第二元件100b的预校正。校正至少一个第一元件是通过检测第一元件100a的实际位置IP并然后将至少一个第一元件100a从实际位置IP校正到目标位置SP而完成。与校正至少一个第一元件100a相比，预校正至少一个第二元件100b不是基于检测第二元件100b的实际位置IP，而是基于对第一元件100a已完成的校正。优选地，预校正至少一个被夹持的第二元件100b是基于至少两次已完成的校正，其中由拾取装置10的计算单元(未示出)基于至少两次已完成的校正来确定预校正值VKW。这样按照所确定的预校正值VKW来进行预校正。预校正值VKW优选地确定为根据已完成校正的平均值和/或子午线。这样设计的方法和这样设计的拾取装置10尤具优势的原因在于，可以采用简单手段低成本地实现校正元件100位置的准确性。
图3示意性示出用于校正元件100位置的拾取装置10在拾取位置80、分配位置82和暂存位置84的透视图。由夹持装置12将被夹持的元件100暂存在暂存位置84处，使得夹持装置12能够从暂存位置84纠正对元件100的夹持。在本发明范围内，“纠正夹持”应理解为由夹持装置12从暂存位置84重新夹持至少一个元件100，此时的位置和/或角度偏差相比于将至少一个被夹持的元件100暂存在暂存位置84之前的位置和/或角度偏差有所减小。
图4示意性示出带有计算机程序产品300的计算机可读介质400。
图5示意性示出根据本发明利用拾取装置10(未示出)校正借助自动装配机装配给衬底的元件100(未示出)位置的方法200的流程图。在第一方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的夹持装置12(未示出)在至少一个拾取位置80(未示出)夹持202至少一个元件100(未示出)。在第二方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的移动装置14(未示出)使夹持装置12(未示出)在至少一个拾取位置80(未示出与和至少一个分配位置82(未示出)之间的移动204。在第三方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的检测装置30(未示出)检测206至少一个被夹持的第一元件100a(未示出)的实际位置IP(未示出)。在第四方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的位置校正装置16(未示出)将至少一个被夹持的第一元件100a(未示出)的所测得的实际位置IP(未示出)校正208到目标位置SP(未示出)。在第五方法步骤中，方法200包括由位置校正装置16(未示出)基于对至少一个第一元件100a(未示出)的至少一次已完成的校正208来预校正210至少一个被夹持的第二元件100b(未示出)。预校正210还包括由拾取装置10(未示出)的计算单元34(未示出)基于至少两次已完成的校正208来确定212预校正值VKW(未示出)，其中按照所确定的预校正值VKW(未示出)来进行预校正210。在进一步方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的检测装置30(未示出)检测214经预校正210后的至少一个被夹持的第二元件100b(未示出)的实际位置IP(未示出)。在进一步方法步骤中，方法200包括由拾取装置10(未示出)的位置校正装置16(未示出)将经预校正210后的至少一个被夹持的第二元件的所测得的实际位置校正216到目标位置。在进一步方法步骤中，方法200包括由移动装置14(未示出)将夹持装置12(未示出)移动218到暂存位置84(未示出)。在进一步方法步骤中，方法200包括由夹持装置12(未示出)将至少一个被夹持元件100(未示出)暂存220在暂存位置84(未示出)。在进一步方法步骤中，方法200包括由夹持装置12(未示出)从暂存位置84(未示出)纠正对至少一个元件100的夹持222。

Claims (13)

1.一种利用拾取装置校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的方法，包括以下步骤：
-由所述拾取装置的夹持装置在至少一个拾取位置夹持至少一个元件；
-由所述拾取装置的移动装置在所述至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动所述夹持装置；
-由所述拾取装置的检测装置检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置；
-由所述拾取装置的位置校正装置将所述至少一个被夹持第一元件的所测得的实际位置校正到目标位置；
-由所述位置校正装置基于对所述至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来预校正至少一个被夹持的第二元件；
进一步包括至少一个以下的方法步骤：
-由所述拾取装置的检测装置检测经所述预校正后的至少一个被夹持的第二元件的实际位置；
-由所述拾取装置的位置校正装置将经所述预校正后的所述至少一个被夹持的第二元件的所测得的实际位置校正到目标位置。
2.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于，
所述预校正进一步包括：
-由所述拾取装置的计算单元基于至少两次已完成的校正来确定预校正值，其中，按照确定的预校正值进行所述预校正。
3.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于，
所述校正和/或所述预校正包括所述位置校正装置的倾斜运动和/或旋转运动。
4.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于，
所述检测包括由所述检测装置检测至少一个被夹持元件的位置和/或角度。
5.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于，
所述方法进一步包括至少一个以下方法步骤：
-由所述移动装置将所述夹持装置移动到暂存位置；
-由所述夹持装置将所述至少一个被夹持元件暂存在所述暂存位置处；
-由所述夹持装置从所述暂存位置纠正对所述至少一个元件的夹持。
6.一种校正借助自动装配机装配给衬底的元件的位置的拾取装置，所述拾取装置包括：夹持装置，用于夹持至少一个元件；移动装置，用于在所述至少一个元件的至少一个拾取位置与至少一个分配位置之间移动所述夹持装置；检测装置，用于检测至少一个被夹持的第一元件的实际位置；以及位置校正装置，用于将所述至少一个被夹持的第一元件从所测得的实际位置校正到目标位置，
其特征在于，
所述位置校正装置配置为基于对所述至少一个第一元件的至少一次已完成的校正来预校正至少一个被夹持的第二元件；
所述拾取装置配置为执行根据权利要求1至5中任一项所述的方法。
7.根据权利要求6所述的拾取装置，
其特征在于，
所述拾取装置包括计算单元，其中，所述计算单元配置为基于至少两次已完成的校正来确定预校正值；且/或
所述位置校正装置配置为通过倾斜运动和/或旋转运动来校正所测得的实际位置。
8.根据权利要求7所述的拾取装置，
其特征在于，
所述计算单元配置为将至少一个被夹持的元件的所测得的实际位置与所述目标位置进行比较，其中，所述位置校正装置配置为按照比较得出的位置差将所述至少一个被夹持的元件从所测得的实际位置校正到所述目标位置。
9.根据权利要求7所述的拾取装置，
其特征在于，
所述检测装置包括存储单元，用于存储所述至少一个被夹持元件的至少一个所测得的实际位置和/或至少一次已完成的校正，其中，所述计算单元配置为基于对所述至少一个第一元件的至少一次已完成且存储的校正来确定对所述至少一个被夹持的第二元件的预校正。
10.根据权利要求6所述的拾取装置，
其特征在于，
所述检测装置包括至少一个传感器，其中，所述传感器配置为图像采集传感器，特别地，至少两个传感器从两侧检测所述至少一个被夹持的元件。
11.根据权利要求6所述的拾取装置，
其特征在于，
所述移动装置配置为将所述夹持装置移动到暂存位置，其中，所述拾取装置配置为将所述至少一个被夹持的元件暂存在所述暂存位置处。
12.一种借助拾取装置校正元件位置的计算机程序产品，
其特征在于，
所述计算机程序产品包括促使根据权利要求6所述的拾取装置执行根据权利要求1所述的方法步骤的命令。
13.一种计算机可读介质，其上存储有根据权利要求12所述的计算机程序产品。
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