CN113834988A - 电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质；该检测方法包括：对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；向电致变色器件发射特定波长的光线；获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形；基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定电致变色器件的变色响应时间。该检测方法通过获取光线经过电致变色器件的波形，并基于波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定电致变色器件的变色响应时间。该检测方法可以解决不透光以及不均匀透光电致变色器件的测试难点，而无需在半成品阶段做测试，进而提高了生产效率和产品质量，具有检测流程简单、检测准确性和可靠性高的特点。

Description

电致变色器件变色响应时间检测方法、装置、存储介质

技术领域

本发明涉及电致变色器件变色响应时间检测的技术领域，具体是涉及一种电致变色器件变色响应时间的检测方法、检测装置以及计算机可读存储介质。

背景技术

电致变色器件已经开始越来越多的被应用，譬如建筑物外墙玻璃、电子设备变色壳体等。其中，电致变色器件的几项最重要的指标测试如响应时间、变色效率等，学术界和业界主要通过器件的透过率变化来测试和分析。以响应时间为例，电致变色器件响应时间大致按照峰值透过率和谷值透过率的差值来定义。

基于透过率变化的测试方案只能针对透明器件，如果带有其他不透光膜片或光线透过不均匀介质则不适用，如电致变色器件与作为衬底的纹理膜、磨砂玻璃等配合的组合结构件。在这种情况下，要监控产品的性能只能在制程中段，电致变色器件还未贴合其他膜层时做半成品的性能测试，对于成品的测试则无能为力。

而且，电致变色器件还未贴合其他膜层时半成品的光学性能并不能代表电致变色器件的真正使用场景(电致变色器件与其他膜层配合后，其整体的颜色效果会发生变化)，因此在电致变色器件还未贴合其他膜层时做半成品的性能测试并不能反映电致变色器件成品(贴合其他膜层后)的光学性能，常规技术中的透过率方案则无法实现对电致变色器件成品的光学性能(尤其是响应时间)进行检测。

另外，在半成品阶段检测电致变色器件的响应时间性能会严重影响器件整体的生产效率，同时也没办法得知器件完成成品后整体的响应时间性能是否发生变化，具有不可控性以及不确定性，检测数据只能作为参考，不能直接作为器件整体结构响应时间的检测结果。半成品的电致变色器件膜片由于未与保护层(玻璃盖板或者保护层膜片)贴合导致裸露时间长，即open-time长，前期器件进水量大影响可靠性。半成品的电致变色器件膜片在中段检测的话，由于无盖板玻璃等结构的支撑，测试过程中可能的操作弯折产生ITO裂纹、褶皱等一系列不利影响从而降低器件的整体良率。

发明内容

本申请实施例第一方面提供了一种电致变色器件变色响应时间的检测方法，包括：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

第二方面，本申请实施例提供一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，包括：

施压模块，用于对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

光线模块，用于向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取模块，用于获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

确定模块，用于基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

第三方面，本申请实施例提供一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，所述检测装置包括相互连接的处理器和存储器，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如上述实施例中任一项所述的检测方法。

另外，本申请实施例又提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用于实现如上述实施例中任一项所述的检测方法。

本申请实施例提供的电致变色器件变色响应时间的检测方法，基于反射原理，通过获取光线经过电致变色器件的反射光线波形，并基于所述反射光线波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。该检测方法可以解决不透光以及不均匀透光电致变色器件的测试难点，而无需在半成品阶段做测试，进而提高了生产效率和产品质量，具有检测流程简单、检测准确性和可靠性高的特点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请变色器件变色响应时间的检测方法一实施例的流程示意图；

图2是对电致变色器件施加恒压方波信号的示意图；

图3是本申请实施例中获得的反射光线波形图；

图4是计算反射光线波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔为电致变色器件的变色响应时间一实施例的流程示意框图；

图5是本申请实施例中获得的另一反射光线波形图；

图6是本申请变色器件变色响应时间检测装置的一实施例的模块结构示意图；

图7是本申请变色器件变色响应时间检测装置的另一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明作进一步的详细描述。特别指出的是，以下实施例仅用于说明本发明，但不对本发明的范围进行限定。同样的，以下实施例仅为本发明的部分实施例而非全部实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请实施例中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。本申请实施例中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或组件。

在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

作为在此使用的“电子设备”(或简称为“终端”)包括，但不限于被设置成经由有线线路连接(如经由公共交换电话网络(PSTN)、数字用户线路(DSL)、数字电缆、直接电缆连接，以及/或另一数据连接/网络)和/或经由(例如，针对蜂窝网络、无线局域网(WLAN)、诸如DVB-H网络的数字电视网络、卫星网络、AM-FM广播发送器，以及/或另一通信终端的)无线接口接收/发送通信信号的装置。被设置成通过无线接口通信的通信终端可以被称为“无线通信终端”、“无线终端”或“移动终端”。移动终端的示例包括，但不限于卫星或蜂窝电话；可以组合蜂窝无线电电话与数据处理、传真以及数据通信能力的个人通信***(PCS)终端；可以包括无线电电话、寻呼机、因特网/内联网接入、Web浏览器、记事簿、日历以及/或全球定位***(GPS)接收器的PDA；以及常规膝上型和/或掌上型接收器或包括无线电电话收发器的其它电子装置。手机即为配置有蜂窝通信模块的电子设备。

请参阅图1，图1是本申请变色器件变色响应时间的检测方法一实施例的流程示意图，本申请实施例中的检测方法可以用于透明、半透明以及不透明的变色器件的变色响应时间的检测。这里说的半透明以及不透明的变色器件具体可以是变色器件结构本身采用了透过率低的基材、变色材料等导致的变色器件透过率低甚至完全不透明；还可以是透明的变色器件与其他透过率低或者不透明的膜材(譬如变色器件与纹理膜、磨砂玻璃以及颜色膜等)配合形成的壳体组件或者其他变色器件组成的结构。本申请实施例中的变色器件可以是电致变色器件、光致变色器件以及磁致变色器件等。

其中，上述的变色器件或者其组合件的一个应用是在电子设备的壳体上，用于实现电子设备壳体的变色效果。而电子设备可以包括手机、平板电脑、笔记本电脑、可穿戴设备等，此处不再一一列举。本实施例中的变色器件变色响应时间检测方法包括但不限于以下步骤。需要说明的是，本实施例中的流程方法，各步骤的先后顺序并不代表有必然的先后执行关系，一些不存在因果关系的步骤之间，可以是同步进行，也可以先后进行。

该检测方法包括：步骤S100，对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号。

在该步骤中，请参阅图2，图2是对电致变色器件施加恒压方波信号的示意图，其中，所述恒压方波信号的固定周期T大于电致变色器件的完全变色周期。即，恒压方波信号的周期T要满足电致变色器件可以实现完全的变色过程。可选地，所述恒压方波信号的恒压值大于或等于电致变色器件的可实现完全变色的标准电压值。一般来讲，电致变色器件在变色的过程中，存在一个可以实现完全变色的最小电压值，也即标准电压值，只有达到这一电压值电致变色器件才可以实现完全变色。恒压方波信号的恒压值需要大于或等于电致变色器件的可实现完全变色的标准电压值。譬如，本实施例中的电致变色器件可实现完全变色的标准电压值为1.2V，那么恒压方波信号的恒压值可以是1.2V、1.3V或者图示实施例中的1.5V。

检测方法还包括：步骤S200，向电致变色器件发射特定波长的光线。

在步骤S200中，所述光线的特定波长与电致变色器件的变色颜色相适配。具体来讲，不同波长的光线对不同的电致变色器件(着色态)敏感度不同，也即需要表征被检测的电致变色器件在特定波长的反射率情况。譬如，着色态为洋红色的电致变色器件，宜对应波长在550nm左右光线，着色态为蓝色的电致变色器件，宜对应波长在600nm左右光线。

检测方法还包括：步骤S300，获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形。

在该步骤，具体可以是通过反射率仪器进行数据采集。其中，选定的测试区域的光散射和光吸收不应该太强。可选地，采样的时间间隔不大于0.1s。具体可以为0.1s、0.05s以及0.02s等数值，此处不做具体限定。可以使得数据采集的连续性更好。请参阅图3，图3是本申请实施例中获得的反射光线波形图。在图3所示实施例的波形中，反射光线的反射率基本在4％-8％之间波动。

检测方法还包括：步骤S400，基于波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定电致变色器件的变色响应时间。

在该步骤中，请继续参阅图3，图3中虚线a和虚线b之间的时间间隔即为一个变色周期内的褪色响应时间。而图3中虚线c和虚线d之间的时间间隔即为一个变色周期内的着色响应时间。

本申请实施例提供的电致变色器件变色响应时间的检测方法，基于反射原理，通过获取光线经过电致变色器件的反射光线波形，并基于所述反射光线波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。该检测方法可以解决不透光以及不均匀透光电致变色器件的测试难点，而无需在半成品阶段做测试，进而提高了生产效率和产品质量，具有检测流程简单、检测准确性和可靠性高的特点。

另外，计算所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔为电致变色器件的变色响应时间的步骤还可以是具体包括如下步骤。请参阅图4，图4是计算所述反射光线波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔为电致变色器件的变色响应时间一实施例的流程示意框图。

步骤S410，获取波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间。请继续参阅图3，图3中虚线框X表示为一个变色响应区间(本实施例中具体可以为褪色响应区间)，虚线框Y表示为另外一个变色响应区间(本实施例中具体可以为着色响应区间)。其中，虚线框X和Y的顶部和底部的差值可以为波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比，该预设百分比可以为波形的相邻波峰与波谷差值的80-90％，预设百分比具体可以为波形的相邻波峰与波谷差值的80％、82％、85％以及90％等数值，此处不做具体限定。通过设定相邻波峰与波谷差值的预设百分比，相较于将相邻波峰与波谷的差值直接定义为变色响应区间，可以减少波形噪声，提高准确性。

步骤S420，将变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间。

其中，请继续参阅图3，图3中虚线框X和Y的左右两侧边之间的宽度所对应的时间间隔为电致变色器件的变色响应时间。其中，虚线框X的宽度所对应的时间间隔为电致变色器件的褪色响应时间；虚线框Y的宽度所对应的时间间隔为电致变色器件的着色响应时间。

另外，在一些其他实施例中，还可以是获取所述波形的多个周期内的变色响应区间，请参阅图5，图5是本申请实施例中获得的另一反射光线波形图，在本实施例中，可以是获取虚线框X、Y、Z、W、P、Q三个周期内的6个变色响应区间，其中，虚线框X、P、W可以表示为褪色响应区间，而虚线框Y、Q、Z可以表示为着色响应区间。

可选地，所述将变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间的步骤可以包括：将所述多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为电致变色器件的变色响应时间。具体来讲，以图5中的虚线框X、Y、Z、W、P、Q三个周期内的6个变色响应区间为例进行说明。譬如，褪色响应区间虚线框X、P、W分别对应的时间间隔为1.3s、1.4s以及1.5s，那么，可以将间虚线框X、P、W分别对应的时间间隔取平均值，即(1.3+1.4+1.5)/3＝1.4s，将1.4s这一数值作为电致变色器件的褪色响应时间。另外，还可以是取间虚线框X、P、W分别对应的时间间隔的中位数作为电致变色器件的褪色响应时间，1.3s、1.4s以及1.5s的中位数为1.4s。同样地，着色响应区间虚线框Y、Q、Z分别对应的时间间隔可以为1.2s、1.4s以及1.3s，那么，可以将间虚线框Y、Q、Z分别对应的时间间隔取平均值，即(1.2+1.4+1.3)/3＝1.3s，将1.3s这一数值作为电致变色器件的褪色响应时间。另外，还可以是取间虚线框Y、Q、Z分别对应的时间间隔的中位数作为电致变色器件的褪色响应时间，1.2s、1.4s以及1.3s的中位数为1.3s。

其中，本申请实施例中的基于反射率原理的电致变色器件变色响应时间检测方法，可以与基于其他原理的检测方案进行相互验证，譬如基于Lab原理以及基于RGB色系原理的检测方案。关于其他原理的电致变色器件变色响应时间检测方法，本申请实施例将不再进行详述。

本实施例中的检测方法，通过获取反射光线波形的多个周期内的变色响应区间，并将多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为电致变色器件的变色响应时间，可以消除偶然误差，提高检测的准确性。

本申请实施例还提供一种变色器件变色响应时间的检测装置，请参阅图6，图6是本申请变色器件变色响应时间检测装置的一实施例的模块结构示意图。其中，该检测装置包括施压模块110、光线模块120、获取模块130以及确定模块140。其中，施压模块110用于对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；光线模块120用于向电致变色器件发射特定波长的光线；获取模块130用于获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形；确定模块140用于基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

可选地，确定模块140具体用于获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间，将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间。

可选地，确定模块140还具体用于获取所述波形的多个周期内的变色响应区间；所述将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：将所述多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为电致变色器件的变色响应时间。关于各个模块详细的工作过程请参阅前述方法实施例的详细描述，此处亦不再赘述。

本申请实施例提供的变色器件变色响应时间的检测装置，基于反射原理，通过获取光线经过电致变色器件的反射光线波形，并基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。该检测方法可以解决不透光以及不均匀透光电致变色器件的测试难点，而无需在半成品阶段做测试，进而提高了生产效率和产品质量，具有检测流程简单、检测准确性和可靠性高的特点。

请参阅图7，图7是本申请变色器件变色响应时间检测装置的另一实施例的结构示意图，该检测装置70包括相互连接的处理器71和存储器72，存储器72用于存储程序数据，处理器71用于执行程序数据以实现如下的方法：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向电致变色器件发射特定波长的光线；

获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

可选地，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的固定周期大于电致变色器件的完全变色周期。

可选地，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的恒压值大于或等于电致变色器件的可实现完全变色的标准电压值。

可选地，在所述向电致变色器件发射特定波长的光线的步骤中，所述光线的特定波长与电致变色器件的变色颜色相适配。

可选地，在所述获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形的步骤中，采样时间间隔不大于0.1s。

可选地，所述基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间，将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间。

可选地，所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比为80-90％。

可选地，所述获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间的步骤包括：获取所述波形的多个周期内的变色响应区间；所述将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：将所述多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为电致变色器件的变色响应时间。其中，关于上述各步骤的详细过程请参阅前述方法实施例的相关描述，此处亦不再详述。

本申请实施例还提供了一种计算机存储介质，该计算机存储介质中存储有程序数据，该程序数据在被处理器执行时，用以实现如下的方法：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向电致变色器件发射特定波长的光线；

获取光线经过电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

其中，关于上述各步骤的详细过程请参阅前述方法实施例的相关描述，此处亦不再详述。

在本申请所提供的几个实施方式中，应该理解到，所揭露的方法以及设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个***，或一些特征可以忽略，或不执行。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。

另外，在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述其他实施方式中的集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器(processor)执行本申请各个实施方式所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccess Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本发明的部分实施例，并非因此限制本发明的保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效装置或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (11)

1.一种电致变色器件变色响应时间的检测方法，其特征在于，包括：

对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的固定周期大于所述电致变色器件的完全变色周期。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号的步骤中，所述恒压方波信号的恒压值大于或等于所述电致变色器件的可实现完全变色的标准电压值。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述向电致变色器件发射特定波长的光线的步骤中，所述光线的特定波长与所述电致变色器件的变色颜色相适配。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形的步骤中，采样时间间隔不大于0.1s。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间，将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为所述电致变色器件的变色响应时间。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比为80-90％。

8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述获取所述波形的相邻波峰与波谷差值的预设百分比所对应的区间为变色响应区间的步骤包括：获取所述波形的多个周期内的变色响应区间；

所述将所述变色响应区间所对应的时间间隔作为所述电致变色器件的变色响应时间的步骤包括：将所述多个周期内的变色响应区间所对应的时间间隔的平均值或者中位数值作为所述电致变色器件的变色响应时间。

9.一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，其特征在于，包括：

施压模块，用于对电致变色器件施加一固定周期的恒压方波信号；

光线模块，用于向所述电致变色器件发射特定波长的光线；

获取模块，用于获取所述光线经过所述电致变色器件反射后光线的波形；

确定模块，用于基于所述波形的相邻波峰与波谷之间的时间间隔来确定所述电致变色器件的变色响应时间。

10.一种电致变色器件变色响应时间的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括相互连接的处理器和存储器，所述存储器用于存储程序数据，所述处理器用于执行所述程序数据以实现如权利要求1-8任一项所述的检测方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有程序数据，所述程序数据在被处理器执行时，用于实现如权利要求1-8任一项所述的检测方法。

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