CN113514226A - 用于分析显示装置的***及其颜色分析方法 - Google Patents

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Abstract

公开了一种用于分析显示装置的***及其颜色分析方法，该***包括：图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为CIE XYZ值，并且通过使用经转换的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。

Description

用于分析显示装置的***及其颜色分析方法
相关申请的交叉引用
本申请要求于2020年4月10日提交韩国知识产权局的韩国专利申请第10-2020-0044219号的优先权和权益，其整体内容通过引用合并且于此。
技术领域
本发明涉及用于分析显示装置的***及其颜色分析方法，并且例如涉及通过使用图像拍摄装置来分析显示装置的***及其颜色分析方法。
背景技术
显示装置是应用于电视、监视器、以及智能电话等以输出能够通过用户的眼睛观看的图像的装置。显示装置可以分为自身发光的发光型和利用外部光工作的光接收型。
发光型显示装置包括阴极射线管(CRT)、等离子体显示面板(PDP)、有机发光二极管(OLED)、有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)、以及量子点发光二极管(QLED)等。光接收型显示装置包括典型的液晶显示器(LCD)。
在这些显示装置中，OLED显示面板具有宽视角、优异的对比度和高响应速度的优点，因此OLED显示面板近来已被广泛用在便携式显示装置、智能电话、以及平板电脑等中，并且通过扩大而作为下一代显示装置引起了关注。
特别地，OLED显示面板的优点在于，与无机发光显示装置相比，诸如亮度、驱动电压和响应速度等的特性优异，并且可以进行多色化。
在OLED显示装置的情况下，提供了基板，在制造过程中薄膜晶体管(TFT)层通过各种薄膜形成工艺、以及刻蚀工艺等形成在基板中。在TFT层上形成由下电极、有机膜层(例如，空穴传输层、发光层和电子传输层)和上电极形成的有机发光层，然后通过使用封装基板来封装形成有TFT层和有机发光层的基板以完成OLED显示装置。
同时，对于各种最终完成的包括OLED的显示装置，可以对在基板上形成的单元执行检查处理，并且用于查验产品是否良好的检查处理包括对被施加检查信号的TFT层进行功能检查、校正电路检查、图像质量检查、光谱检查、图像检查、以及表面异物检查等，并且已经开发了用于处理各个检查处理的各种设备。
在现有检查处理中的图像质量检查和图像检查的情况下，凭借由颜色信号生成器传送到参考显示装置的第一RGB值、通过使用光谱仪拍摄从参考显示装置输出的调色板而测量的CIE XYZ值以及通过使用相机装置拍摄参考显示装置的调色板而测量的第二RGB值之间的关系来创建转换表。在此，CIE XYZ值是国际照明委员会定义的颜色空间标准的代表示例。
之后，使用拍摄设备对要检查的对象(显示装置)进行拍摄，并且从显示装置测量的RGB值利用预先创建的转换表被转换为CIE XYZ值。
然而，由于RGB值是通过根据拍摄装置的灵敏度对进入拍摄装置的光的波长进行积分而获得的数字值，因此在没有限制条件的情况下，则难以将RGB值转换为作为标准颜色坐标的CIE XYZ值。
特别地，反射从普通光源(发光)发出的光的光接收型显示装置的光的波长与从发光型显示装置输出的光的波长有很大不同，使得难以使用两种波长作为基准。
为了解决该问题，需要将用于校准(参考)的显示装置和要检查的显示装置限制为相同类型并且执行精确的校准。
发明内容
致力于本发明以提供一用于分析显示装置的***以及其颜色分析方法，该***对发光显示装置(有机发光二极管(OLED)、量子点发光二极管(QLED)、以及有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)等)同时执行整体图像拍摄、颜色测量和颜色分析，使得可以快速测量颜色并且提高检查效率。
本发明的一示例性实施方式提供了一种用于分析显示装置的***，该***包括：图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值，以及通过使用经转换的用于检查的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。
要检查的显示装置可以是发光显示装置。
检查控制单元可以将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较，并且根据用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定要检查的显示装置的缺陷。
检查控制单元可以包括：检查图像输出单元，其控制要检查的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与图像拍摄装置的通信以及接收用于检查的RGB值；以及颜色转换单元，其通过使用颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值。
该***还可以包括颜色分析装置，其被配置为拍摄用于校准的显示装置的用于校准的图像以及测量拍摄到的图像的光谱。
用于校准的显示装置可以是发光显示装置，是与要检查的显示装置的类型相同的类型。
颜色分析装置可以从光谱中获得光波长并且将所获得的光波长转换成用于校准的CIE XYZ值。
图像拍摄装置可以拍摄从用于校准的显示装置输出的用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值。
该***还可以包括校准控制单元，其被配置为通过使用由颜色分析装置获得的用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来计算颜色转换函数。
校准控制单元可以包括：校准图像输出单元，其控制用于校准的显示装置的输出；通信处理单元，其执行与颜色分析装置或图像拍摄装置的通信，以及接收用于校准的CIEXYZ值和用于校准的RGB值；以及颜色计算单元，其通过使用用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来生成颜色转换函数。
该***还可以包括夹具装置，夹具装置包括：安装单元，用于校准的显示装置安装到安装单元；以及固持单元，其设置在面对安装单元的位置，并且颜色分析装置和图像拍摄装置被固持在固持单元中。
夹具装置可以被配置为连接安装单元和固持单元并且具有允许前后和左右滑动操作的滑动结构。
该***还可以包括校准控制单元，校准控制单元被配置为通过凭借控制滑动结构来调整图像拍摄装置的位置，以拍摄用于校准的显示装置的中心部分和外部部分。
本发明的另一示例性实施方式提供了一种用于分析显示装置的***的分析颜色的方法，该方法包括：用于检查的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于检查的图像并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及缺陷检查操作，用于通过使用先前准备的颜色转换函数和用于检查的RGB值来确定用于检查的图像的缺陷。
该方法还可以包括：用于校准的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值；标准颜色拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的CIE XYZ值；以及颜色转换函数计算操作，用于通过使用用于校准的RGB值和用于校准的CIE XYZ值来计算颜色转换函数。
该方法还可以包括颜色转换函数存储操作，用于存储颜色转换函数。
该方法还可以包括用于检查的CIE XYZ值计算操作，用于通过使用颜色转换函数和用于检查的RGB值来计算用于检查的CIE XYZ值。
缺陷检查操作可以包括将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较并且根据用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定用于检查的图像的缺陷。
在用于校准的RGB图像拍摄操作和标准颜色拍摄操作中，可以通过使用夹具装置来拍摄用于校准的图像的中心部分和外部部分。
用于校准的图像和用于检查的图像可以是从发光显示装置输出的。
基于根据本发明的示例性实施方式的用于分析显示装置的***及其颜色分析方法，可以通过对显示装置诸如发光显示装置(OLED、QLED、AMOLED等)同时执行整体图像拍摄、颜色测量和颜色分析来快速测量颜色并且提高检查效率。
还可以通过使用普通的图像拍摄装置来检查显示装置，从而实现对显示装置的简单且廉价的检查。
通过使用通过图像拍摄装置拍摄图像而获得的CIE XYZ值和RGB值这两种类型的数据来创建转换方程，从而与现有技术相比提高了转换效率。
前述发明内容仅是说明性的，而无意于以任何方式进行限制。除了上述说明性方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下详细描述，其他方面、实施方式和特征将变得显而易见。
附图说明
图1是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的框图。
图2是示出图1的校准装置的示意图。
图3是用于描述OLED显示装置的子像素的示图。
图4A是示出实际拍摄到的图像的示例的示图。
图4B是示出根据RGB滤色器位置的值将RGB值应用于实际拍摄到的图像的情况的示图。
图5是示出用于描述是否需要针对每个像素的颜色恢复的拜耳(Bayer)图案的示图。
图6是示出线性插值方法的示例的示图。
图7A是示出根据从显示装置输出的图像的距离的颜色分布和估计曲线的示图。
图7B是示出显示装置的实际亮度(曲线图)和由颜色分析装置10接收到的输入值(条形图)的示图。
图8是用于描述通过使用颜色计算单元的颜色转换函数生成方法的示图。
图9是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法的第一流程图。
图10是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法的第二流程图。
应当理解，附图不一定按比例绘制，呈现了说明本发明的基本原理的各种特征的略微简化的表示。本文所公开的本发明的特定设计特征(包括例如特定尺寸、取向、位置和形状)将部分地由特定的预期应用和使用环境来确定。
在附图中，附图标记在附图中的若干图中指代本发明的相同或等同的部分。
具体实施方式
在下文中，将参考附图详细描述本发明的示例性实施方式。首先，应该注意的是，尽管相同的元件在不同的附图中示出，但是在给每个附图的元件赋予附图标记时，相同的附图标记指代相同的元件。应当理解，尽管在下文中描述了本发明的示例性实施方式，但是本发明的精神不限于此，并且本领域技术人员可以以各种方式改变和修改本发明。
图1是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的框图。
根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***1用于通过对显示装置的颜色分析来检查缺陷。
参照图1，根据本发明的用于分析显示装置的***1包括校准装置2和检查装置3。
校准装置2是用于准备转换基准值(例如，颜色转换函数)的装置，转换基准值用于通过使用校准显示装置4来检查要检查的显示装置5。
检查装置3是用于考虑由校准装置2准备的转换基准值来检查要检查的显示装置5的缺陷的装置。在下文中，将首先描述校准装置2，然后描述检查装置3。
校准装置2可以包括颜色分析装置10、图像拍摄装置20和校准控制单元30。
颜色分析装置10是用于拍摄在用于校准的显示装置4中显示的用于校准的图像并且测量拍摄到的图像的光谱的装置。这里，用于校准的显示装置4可以是发光显示装置，诸如有机发光二极管(OLED)、量子点发光二极管(QLED)和有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)。可以由校准控制单元30控制用于校准的显示装置4以输出表示单色或各种颜色的用于校准的图像。
颜色分析装置10可以获取拍摄到的图像的光谱中包括的三个光波长L1、L2和L3中的至少一个。在此，L1、L2和L3可以表示非规定的颜色坐标值。在示例性实施方式中，颜色分析装置10可以包括光谱仪、三色度色度计和包括光谱仪的RGB色度计。颜色分析装置10可以具有将非规定的颜色坐标值转换为CIE XYZ值的颜色匹配功能。颜色分析装置10可以通过使用颜色匹配功能将L1、L2和L3之中的每个光波长转换为CIE XYZ值。颜色分析装置10可以将经转换的CIE XYZ值传输到校准控制单元30。在示例性实施方式中，可以将由颜色分析装置10获得的CIE XYZ值限定为用于校准的CIE XYZ值。
图像拍摄装置20是用于拍摄在用于校准的显示装置4中显示的用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得RGB值的装置。在示例性实施方式中，图像拍摄装置20可以是使用互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器的RGB相机。这里，可以将在用于校准的图像中获得的RGB值限定为用于校准的RGB值。校准控制单元30是用于控制用于校准的显示装置4的图像的输出的装置，并且可以包括校准图像输出单元31、通信处理单元33和颜色计算单元35。
校准图像输出单元31可以通过将与用于校准的图像有关的信号传送到用于校准的显示装置4来控制用于校准的显示装置4的输出。校准图像输出单元31可以通过外部输入或自主地生成用于校准的图像。校准图像输出单元31可以生成单色的图像或具有各种颜色的组合的图像。
通信处理单元33是用于执行与颜色分析装置10或图像拍摄装置20的通信的装置。通信处理单元33可以通过与颜色分析装置10的通信来接收用于校准的图像的CIE XYZ值。通信处理单元33可以通过与图像拍摄装置20的通信来接收用于校准的图像的RGB值。
通信处理单元33可以通过与颜色分析装置10或图像拍摄装置20的通信来传送拍摄命令。
颜色计算单元35可以通过使用输入的CIE XYZ值和RGB值来生成转换基准值(例如，颜色转换函数)。颜色计算单元35可以通过使用多项式、线性变换、神经网络、查询表、以及多光谱变换方法等来生成颜色转换函数。下面将参照图8描述生成颜色转换函数的方法。
颜色计算单元35可以通过通信处理单元33将颜色转换函数传输到检查装置3。颜色转换函数可以用于确定要由检查装置3检查的显示装置5的缺陷。检查装置3可以包括检查控制单元40和图像拍摄装置50。这里，图像拍摄装置50可以具有与校准装置2的图像拍摄装置20相同的类型，但是不限于此。图像拍摄装置50可以拍摄在要检查的显示装置5中显示的用于检查的图像并且从拍摄到的图像获得RGB值。在示例性实施方式中，可以将从用于检查的图像获得的RGB值限定为用于检查的RGB值。
要检查的显示装置5是用于检查缺陷的目标，并且可以是与用于校准的显示装置4相同类型的显示装置。在示例性实施方式中，要检查的显示装置5可以是发光显示装置，诸如OLED、QLED和AMOLED。可以由检查控制单元40控制要检查的显示装置5以输出表示单色或各种颜色的用于检查的图像。
检查控制单元40是用于控制要检查的显示装置5的图像的输出的装置，并且可以包括检查图像输出单元41、通信处理单元43和颜色转换单元45。
检查图像输出单元41可以通过将与用于检查的图像有关的信号传送到要检查的显示装置5来控制要检查的显示装置5的输出。在此，用于检查的图像可以与用于校准的图像相同，但是不限于此。
通信处理单元43是用于执行与图像拍摄装置50的通信的装置。通信处理单元43可以通过与图像拍摄装置50的通信来传送拍摄命令。通信处理单元43可以通过与图像拍摄装置50的通信来接收用于检查的图像的用于检查的RGB值。
颜色转换单元45可以将输入的用于检查的RGB值转换为CIE XYZ值。颜色转换单元45可以通过使用由颜色计算单元35准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为CIEXYZ值。在示例性实施方式中，由颜色转换单元45获得的CIE XYZ值可以被限定为用于检查的CIE XYZ值。
即使在要检查的显示装置5的缺陷的检查期间不使用颜色分析装置10，检查控制单元40也可以通过颜色转换单元45获得用于检查的图像的CIE XYZ值。
检查控制单元40可以将准备的基准CIE XYZ值与由颜色转换单元45获得的CIEXYZ值进行比较，并且确定要检查的显示装置5的缺陷。这里，基准CIE XYZ值可以是与从检查图像输出单元41输出到要检查的显示装置5的信号相对应的值。根据检查控制单元40的比较结果来确定缺陷可以允许规定的错误。
图2是示出图1的校准装置的示意图。
参照图2，根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***1的校准装置2包括参照图1描述的配置，并且还可以包括夹具装置60。此外，可以将校准控制单元30的功能分配并且应用于用于显示的计算机100、控制计算机200和通信装置300。在下文中，对参照图1描述的配置的详细描述将被省略。
夹具装置60可以包括安装单元61，使得用于校准的显示装置4是可安装的。夹具装置60可以设置有固持单元63，使得颜色分析装置10和图像拍摄装置20可以被固持在面对安装单元61的位置。这里，颜色分析装置10和图像拍摄装置20可以按左右方向或上下方向并排固持在固持单元63上。固持单元63可以被形成为基于中心轴线可旋转，使得颜色分析装置10和图像拍摄装置20之间的位置转换是可能的。
夹具装置60可以形成有滑动结构65，该滑动结构65允许固持单元63向着安装单元61前后和左右移动。颜色分析装置10和图像拍摄装置20可以通过滑动结构65的移动来拍摄用于校准的显示装置4的中心部分和外部部分全部。
在用于显示的计算机100中，可以安装用于控制用于校准的显示装置4的输出的显示程序。用于显示的计算机100可以生成用于校准的图像。用于显示的计算机100可以控制用于校准的显示装置4输出用于校准的图像。
控制计算机200可以负责用于分析显示装置的***1的总体控制。控制计算机200可以包括控制服务器210和夹具控制单元220。
控制服务器210可以将图像显示命令传送到通过通信装置300连接的用于显示的计算机100。例如，控制服务器210可以传送其中R、G和B值中的每一个顺次显示[31,63,95,127,159,191,223,225]的图像显示命令。用于显示的计算机100可以生成用于校准的图像并且通过用于校准的显示装置4输出所生成的用于校准的图像，其中通过根据图像显示命令控制显示值来输出大约512种颜色。
控制服务器210可以将拍摄命令传送到颜色分析装置10或图像拍摄装置20。控制服务器210可以从颜色分析装置10或图像拍摄装置20接收拍摄到的图像的CIE XYZ值或RGB值。当用于校准的显示装置4被拍摄时，控制服务器210可以通过使用CIE XYZ值或RGB值来生成颜色转换函数。在夹具控制单元220中，安装了用于控制夹具装置60的程序。夹具控制单元220可以通过向安装在夹具装置60中的电机(未示出)施加控制信号来调整固持单元63的位置。夹具控制单元220可以通过适当地调整固持单元63的位置使固持在固持单元63中的颜色分析装置10和图像拍摄装置20移动到适当的位置。
通信装置300可以是局域网(LAN)通信装置。通信装置300执行用于显示的计算机100和控制计算机200之间的通信连接。
图3是用于描述OLED显示装置的子像素的示图。
参照图3，可以查验(check)OLED显示装置的子像素。OLED显示装置的像素可以由子像素的组合形成。当拍摄从OLED显示装置输出的用于校准的图像时，优选地测量每个子像素的颜色。
图4A示出了实际拍摄到的图像的示例，并且图4B是示出根据RGB滤色器位置的值将RGB值应用于实际拍摄到的图像的情况的示图。
在图4A中，每个子像素的强度依据位置而不一致，并且图像朝外侧显得更暗。在图4B中，可以查验针对可见性而被处理的图像。该图像可以通过根据RGB滤色器位置的值将RGB值应用于实际图像来获得。颜色分析装置10是拍摄光斑的光谱仪，以致颜色分析装置10不能具有每个子像素的值。因此，颜色分析装置10需要组合子像素的值并且将该值改变为普通像素的值。为此，需要两个处理。这两个处理包括适当地内插每个图案的值并且恢复每个位置的未知颜色值的处理，以及基于所获得的图像查验子像素并且组合每个子像素的值的处理。
图5是示出用于描述是否需要针对每个像素的颜色恢复的拜耳图案的示图。
参照图5，在拜耳图案中，R、G和B滤色器被分配给像素以检测颜色。一个像素仅检测一种颜色。因此，为了生成通常可识别的图像，需要通过插值来恢复颜色。
图6是示出线性插值方法的示例的示图。
参照图6，在插值中，可以查验线性插值方法。线性插值方法是用周围值的中间值填充每个像素之间的中间部分的方法。在普通图像的情况下，线性插值可以进行操作没有问题。然而，在其中一个像素的颜色重要的图像的情况下，线性插值方法的精度可能大大降低。本发明的检查***通过替换现有的线性插值方法来选择性地应用通过建模对像素之间的差异进行插值的方法。
图7A示出了根据从显示装置输出的图像的距离的颜色分布和估计曲线，并且图7B是示出显示装置的实际亮度(曲线图)和由颜色分析装置10接收到的输入值(条形图)的示图。
在图7A中，在以非常大的尺寸拍摄一个子像素之后，可以通过相应的颜色的分布和距离来对子像素的亮度变化进行建模。在将预定值应用于模型时，可以估计出与图7B所示的曲线图相对应的显示装置的亮度曲线。与按原样使用实际传感器的值的情况相比，这更准确。
在图7B中，实际亮度与传感器获得的值之间存在差异，这是因为作为传感器的最小单位的像素与显示装置之间的尺寸差异不大，使得无法检测到根据显示装置的位置的所有亮度变化。
本发明的检查***1合成如上所述的获得的每个像素信息并且生成基准RGB值，使得每种颜色具有一个值。基准RGB值可以根据每个测量位置而不同，使得在本发明中，将其中可以获得最准确值的中心部分周围的值设定为基准RGB值。此外，可以存在用于将测量值转换为一个值的各种方法，并且本发明应用了计算每个子像素的最大值以及计算最大值的平均值的方法。
图8是用于描述通过使用颜色计算单元的颜色转换函数生成方法的示图。
参照图8，当颜色分析装置10和图像拍摄装置20完全拍摄用于校准的显示装置4的用于校准的图像时，颜色计算单元35可以获得512对RGB、L1、L2和L3值。在示例性实施方式中，可以利用CIE XYZ值获得L1、L2和L3值。颜色计算单元35可以通过使用RGB值和CIE XYZ值来生成颜色转换函数(f(R))。在示例性实施方式中，颜色计算单元35可以通过使用多项式、线性变换、神经网络、查询表、以及多光谱变换方法等来生成颜色转换函数(f(R))。
图9是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法的第一流程图。
参照图1和图9，根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法包括：设置操作S910、用于校准的图像输出操作S920、用于校准的RGB图像拍摄操作S930、标准颜色拍摄操作S940、用于校准的图像输出终止操作S950、颜色转换函数计算操作S960和颜色转换函数存储操作S970。
在设置操作S910中，设置用于校准的显示装置4。这里，用于校准的显示装置4可以被设置在暗房中，以最小化其他光的干扰。
在用于校准的图像输出操作S920中，在将用于校准的显示装置4安装在指定位置之后，校准控制单元30通过控制用于校准的显示装置4来输出用于校准的图像。用于校准的图像可以包括根据先前准备的颜色列表的颜色。在示例性实施方式中，颜色列表可以包括第A至第Z颜色。第A颜色可以是红色，而第Z颜色可以是蓝色，但不限于此。可以适当地设定在第A颜色和第Z颜色之间的颜色。可以输出包括颜色列表中的第A至第Z颜色中的第C颜色和第I颜色之间的颜色的用于校准的图像，但不限于此。
在用于校准的RGB图像拍摄操作S930中，图像拍摄装置20拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值。在这种情况下，图像拍摄装置20的位置由夹具装置60控制，使得图像拍摄装置20可以拍摄用于校准的显示装置4的中心部分和外部部分。
在标准颜色拍摄操作S940中，颜色分析装置10拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的CIE XYZ值。在这种情况下，颜色分析装置10可以通过获得与拍摄到的图像的光谱中的光波长有关的L1、L2和L3值并且转换所获得的L1、L2和L3值，来获得用于校准的CIE XYZ值。
用于校准的RGB图像拍摄操作S930和标准颜色拍摄操作S940不限于顺次的执行顺序，而是可以以相同顺序执行或者也可以以相反顺序执行。
在用于校准的图像输出终止操作S950中，当图像拍摄装置20和颜色分析装置10完成拍摄时，校准控制单元30通过控制用于校准的显示装置4来终止用于校准的图像的输出。
在颜色转换函数计算操作S960中，当用于校准的显示装置4的图像输出终止时，校准控制单元30通过使用用于校准的RGB值和用于校准的CIE XYZ值来生成颜色转换函数。这里，校准控制单元30可以通过使用多项式、线性变换、神经网络、查询表、以及多光谱变换方法等来生成颜色转换函数。
在颜色转换函数存储操作S970中，校准控制单元30将所生成的颜色转换函数存储在存储装置中。所存储的颜色转换函数可以用于对要检查的显示装置5执行缺陷检查。下面可以通过图10查验对要检查的显示装置5的缺陷检查的执行。
图10是示出根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法的第二流程图。
参照图1和图10，根据本发明的一示例性实施方式的用于分析显示装置的***的颜色分析方法还可以包括设置操作S1110、用于检查的图像输出操作S1120、用于检查的RGB图像拍摄操作S1130、用于检查的图像输出终止操作S1140、用于检查的CIE XYZ值计算操作S1150、缺陷检查操作S1160、正常确定操作S1170和缺陷确定操作S1180。
在设置操作S1110中，设置要检查的显示装置5。在此，要检查的显示装置5可以被设置在暗房中，以使其他光的干扰最小。
在用于检查的图像输出操作S1120中，在将要检查的显示装置5安装在指定位置之后，检查控制单元40通过控制要检查的显示装置5来输出用于检查的图像。用于检查的图像可以包括先前准备的颜色列表中包括的颜色。在示例性实施方式中，可以输出包括颜色列表中的第A至第Z颜色中的第C颜色与第I颜色之间的颜色的用于检查的图像。
在用于检查的RGB图像拍摄操作S1130中，图像拍摄装置50拍摄用于检查的图像，并且从拍摄到的图像获得RGB值。在这种情况下，与用于校准的显示装置4不同，图像拍摄装置50可以仅拍摄要检查的显示装置5的中心部分。
在用于检查的图像输出终止操作S1140中，当图像拍摄装置50的拍摄终止时，检查控制单元40通过控制要检查的显示装置5来终止用于检查的图像的输出。
在用于检查的CIE XYZ值计算操作S1150中，当要检查的显示装置5的图像输出终止时，检查控制单元40通过使用先前准备的颜色转换函数和用于检查的RGB值来计算用于检查的CIE XYZ值。这里，用于检查的RGB值可以是通过透镜畸变校正而校正的值。同时，检查控制单元40还可以将计算出的用于检查的CIE XYZ值转换为光波长L1、L2和L3。
在缺陷检查操作S1160中，检查控制单元40将用于检查的CIE XYZ值与基准CIEXYZ值进行比较，并且确定用于检查的CIE XYZ值是否对应于基准CIE XYZ值。检查控制单元40还可以通过使用用于检查的CIE XYZ值来执行颜色平坦度查验等。
在正常确定操作S1170中，当用于检查的CIE XYZ值对应于基准CIE XYZ值时，检查控制单元40可以确定要检查的显示装置5是正常的。
在缺陷确定操作S1180中，当用于检查的CIE XYZ值不对应于基准CIE XYZ值时，检查控制单元40可以确定要检查的显示装置5具有缺陷。
尽管已经出于说明性目的描述了本发明的示例性实施方式，但是本领域技术人员将理解，在不脱离本发明的本质特征的情况下，可以进行各种修改、添加和替换。因此，本发明和附图中公开的实施方式并且非旨在限制本发明的技术精神，而是旨在说明本发明的技术思想的范围，并且本发明的技术范围不受实施方式和附图的限制。
如本领域技术人员可以认识到的，根据本发明的步骤和/或操作可以以不同的顺序进行，或者并行进行，或者在不同的示例性实施方式中同时在不同的时期进行等等。
根据示例性实施方式，可以通过使用存储在一个或更多个非暂态计算机可读介质中的命令、程序、交互式数据结构以及一个或更多个处理器驱动客户端和/或服务器来实现或执行步骤和/或操作的一部分或全部。一个或更多个非暂态计算机可读介质是例如软件、固件、硬件和/或它们的任何组合。此外，可以通过软件、固件、硬件和/或它们的任何组合来实现本说明书中讨论的“模块”的功能。
如上所述，已经在附图和说明书中描述和示出了示例性实施方式。选择和描述示例性实施方式是为了解释本发明的某些原理及其实际应用，从而使本领域的其他技术人员能够实现和利用本发明的各种示例性实施方式及其各种替代方案和修改方案。从前面的描述中可以明显看出，本发明的某些方面不受本文所示示例的特定细节的限制，因此可以预期，本领域技术人员将想到其他修改和应用或它们的等同方案。然而，在考虑说明书和附图之后，本构造的许多改变、修改、变化以及其他用途和应用对于本领域技术人员将变得显而易见。在不脱离本发明的精神和范围的情况下，所有这些改变、修改、变化以及其他用途和应用都被认为由本发明覆盖，本发明仅由所附权利要求书来限定。

Claims (20)

1.一种用于分析显示装置的***，所述***包括：
图像拍摄装置，其被配置为拍摄从要检查的显示装置输出的用于检查的图像，以及从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及
检查控制单元，其被配置为通过使用先前准备的颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值，以及通过使用经转换的用于检查的CIE XYZ值来确定要检查的显示装置的缺陷。
2.根据权利要求1所述的***，其中，要检查的显示装置是发光显示装置。
3.根据权利要求1所述的***，其中，所述检查控制单元将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较，并且根据用于检查的CIE XYZ值与所述基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定要检查的显示装置的缺陷。
4.根据权利要求1所述的***，其中，所述检查控制单元包括：
检查图像输出单元，其控制要检查的显示装置的输出；
通信处理单元，其执行与图像拍摄装置的通信以及接收用于检查的RGB值；以及
颜色转换单元，其通过使用所述颜色转换函数将用于检查的RGB值转换为用于检查的CIE XYZ值。
5.根据权利要求1所述的***，还包括：
颜色分析装置，其被配置为拍摄用于校准的显示装置的用于校准的图像以及测量拍摄到的图像的光谱。
6.根据权利要求5所述的***，其中，用于校准的显示装置是发光显示装置，是与要检查的显示装置的类型相同的类型。
7.根据权利要求5所述的***，其中，所述颜色分析装置从所述光谱中获得光波长，并且将所获得的光波长转换成用于校准的CIE XYZ值。
8.根据权利要求7所述的***，其中，所述图像拍摄装置拍摄从用于校准的显示装置输出的用于校准的图像，并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值。
9.根据权利要求8所述的***，还包括：
校准控制单元，其被配置为通过使用由所述颜色分析装置获得的用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来计算颜色转换函数。
10.根据权利要求9所述的***，其中，所述校准控制单元包括：
校准图像输出单元，其控制用于校准的显示装置的输出；
通信处理单元，其执行与所述颜色分析装置或图像拍摄装置的通信，以及接收用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值；以及
颜色计算单元，其通过使用用于校准的CIE XYZ值和用于校准的RGB值来生成所述颜色转换函数。
11.根据权利要求5所述的***，还包括：
夹具装置，其包括：安装单元，用于校准的显示装置安装到所述安装单元；以及固持单元，所述固持单元设置在面对所述安装单元的位置，并且所述颜色分析装置和所述图像拍摄装置被固持在所述固持单元中。
12.根据权利要求11所述的***，其中，所述夹具装置被配置为连接所述安装单元和所述固持单元，并且具有允许前后和左右滑动操作的滑动结构。
13.根据权利要求12所述的***，还包括：
校准控制单元，其被配置为：通过凭借控制所述滑动结构来调整所述图像拍摄装置的位置，以拍摄用于校准的显示装置的中心部分和外部部分。
14.一种用于分析显示装置的***的分析颜色的方法，所述方法包括：
用于检查的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于检查的图像并且从拍摄到的图像中获得用于检查的RGB值；以及
缺陷检查操作，用于通过使用先前准备的颜色转换函数和用于检查的RGB值来确定用于检查的图像的缺陷。
15.根据权利要求14所述的方法，还包括：
用于校准的RGB图像拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的RGB值；
标准颜色拍摄操作，用于拍摄用于校准的图像并且从拍摄到的图像获得用于校准的CIE XYZ值；以及
颜色转换函数计算操作，用于通过使用用于校准的RGB值和用于校准的CIE XYZ值来计算颜色转换函数。
16.根据权利要求15所述的方法，还包括：
颜色转换函数存储操作，用于存储所述颜色转换函数。
17.根据权利要求14所述的方法，还包括：
用于检查的CIE XYZ值计算操作，用于通过使用颜色转换函数和用于检查的RGB值来计算用于检查的CIE XYZ值。
18.根据权利要求17所述的方法，其中，所述缺陷检查操作包括：将用于检查的CIE XYZ值与基准CIE XYZ值进行比较，并且根据用于检查的CIE XYZ值与所述基准CIE XYZ值之间的对应关系来确定用于检查的图像的缺陷。
19.根据权利要求15所述的方法，其中，在所述用于校准的RGB图像拍摄操作和所述标准颜色拍摄操作中，通过使用夹具装置来拍摄用于校准的图像的中心部分和外部部分。
20.根据权利要求15所述的方法，其中，用于校准的图像和用于检查的图像是从发光显示装置输出的。
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