发明内容
基于此,有必要针对传统的传感器检测电路缺乏安全诊断单元而导致难以及时发现传感器检测电路故障的问题,提供一种传感器诊断装置和传感器检测电路。
一种传感器诊断装置,包括:第一输入端、第二输入端、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、第五开关、第一比较器、第二比较器、门限电压发生器及逻辑或单元;所述第一电阻一端与所述第一输入端相连接,另一端经由所述第一开关连接电源电压;所述第二电阻一端与所述第一输入端相连接,另一端经由所述第二开关接地;所述第三电阻一端与所述第二输入端相连接,另一端经由所述第三开关连接所述电源电压;所述第四电阻一端与所述第二输入端相连接,另一端经由所述第四开关接地;所述第一比较器的正输入端与所述第二比较器的负输入端短接后连接到所述第五开关的一端,所述第五开关的另一端与所述第一输入端或所述第二输入端相连接;所述门限电压发生器的第一输出端与所述第一比较器的负输入端相连接,所述门限电压发生器的第二输出端与所述第二比较器的正输入端相连接;所述逻辑或单元的第一输入端与所述第一比较器的输出端相连接,所述逻辑或单元的第二输入端与所述第二比较器的输出端相连接,所述逻辑或单元的输出端作为所述传感器诊断装置的输出端。
上述传感器诊断装置,在连接到传感器后,可以通过变换开关的连通和断开状态,统计不同开关状态下传感器诊断装置的输出结果,据此快速地确定传感器是否出现功能异常,方便快捷。
在其中一个实施例中,所述门限电压发生器向所述第一比较器的负输入端输入第一电压,并向所述第二比较器的正输入端输入第二电压,所述第一电压大于所述第二电压。
在其中一个实施例中,所述第一电压包括第一电压值UP1及第二电压值UP2,所述第二电压包括第三电压值DN1及第四电压值DN2;其中,UP1=(VDD/3)+△V,UP2=(VDD*2/3)+△V,DN1=(VDD/3)-△V,DN2=(VDD*2/3)-△V,VDD为所述电源电压,△V为偏置电压。
一种传感器检测电路,包括:传感器,所述传感器包括正输出端及负输出端;前述任一实施例中的传感器诊断装置,所述传感器诊断装置的所述第一输入端与所述传感器的正输出端相连接,所述传感器诊断装置的所述第二输入端与所述传感器的负输出端相连接。
上述传感器检测电路,通过变换传感器诊断装置中的开关的连通和断开状态,可以检测到传感器内部电压情况,并根据电压的变化和门限电压值,输出不同的数字逻辑信号,用户可以根据不同开关状态下得到数字逻辑信号确定传感器是否出现功能异常,方便快捷,便于用户及时发现传感器故障,进行更换或维修。
在其中一个实施例中,所述传感器包括电桥型阻式传感器,所述电桥型阻式传感器包括多个可变电阻。
在其中一个实施例中,所述电桥型阻式传感器中的所述可变电阻的初始阻值与所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻及所述第四电阻的阻值均相同。
在其中一个实施例中,传感器检测电路还包括:仪表放大器,包括正输入端、负输入端及输出端,所述仪表放大器的正输入与所述传感器的正输出端相连接,所述仪表放大器的负输入端与所述传感器的负输出端相连接;缓冲器,所述缓冲器的输入端与所述仪表放大器的输出端相连接;模数转换器,所述模数转换器的输入端与所述缓冲器的输出端相连接。
在其中一个实施例中,所述传感器诊断装置、所述仪表放大器、所述缓冲器及所述模数转换器集成于同一芯片内。
在其中一个实施例中,所述传感器还包括电源端及接地端;所述芯片包括电源引脚、第一输入引脚、第二输入引脚及接地引脚,所述电源引脚与所述传感器的电源端相连接,所述接地引脚与所述传感器的接地端相连接,所述第一输入引脚与所述传感器诊断装置的所述第一输入端及所述传感器的正输出端相连接,所述第二输入引脚与所述传感器诊断装置的第二输入端及所述传感器的负输出端相连接。
在其中一个实施例中,所述电源引脚经由键合线与所述传感器的电源端相连接,所述接地引脚经由键合线与所述传感器的接地端相连接,所述第一输入引脚经由键合线与所述传感器诊断装置的所述第一输入端及所述传感器的正输出端相连接,所述第二输入引脚经由键合线与所述传感器诊断装置的第二输入端及所述传感器的负输出端相连接。
附图说明
图1为一实施例中传感器诊断装置的等效电路图;
图2为一实施例中传感器检测电路的示意图。
图3为一实施例中闭合第一开关且第五开关与第一输入端连接时传感器诊断装置的等效电路图;
图4为一实施例中闭合第一开关且第五开关与第一输入端连接时传感器检测电路的等价电路示意图;
图5为一实施例中闭合第三开关且第五开关与第二输入端连接时传感器诊断装置的等效电路图;
图6为一实施例中闭合第三开关且第五开关与第二输入端连接时传感器检测电路的等价电路示意图;
图7为一实施例中闭合第二开关且第五开关与第一输入端连接时传感器诊断装置的等效电路图;
图8为一实施例中闭合第二开关且第五开关与第一输入端连接时传感器检测电路的等价电路示意图;
图9为一实施例中闭合第四开关且第五开关与第二输入端连接时传感器诊断装置的等效电路图;
图10为一实施例中闭合第四开关且第五开关与第二输入端连接时传感器检测电路的等价电路示意图;
图11为另一实施例中传感器检测电路的示意图;
图12为一实施例中传感器与传感器接口芯片的连接示意图。
附体标号说明:传感器诊断装置、1;传感器、2;电源端、21;正输出端、22;负输出端、23;接地端、24;第一输入端、IN1;第二输入端、IN2;第一电阻、R1;第二电阻、R2;第三电阻、R3;第四电阻、R4;第一开关、S1;第二开关、S2;第三开关、S3;第四开关、S4;第五开关、S5;门限电压发生器、11;第一比较器、12;第二比较器、13;逻辑或单元、OR;仪表放大器、3;缓冲器、4;模数转换器、5;传感器接口芯片、6;电源引脚、61;第一输入引脚、62;第二输入引脚、63;接地引脚、64。
具体实施方式
为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
在描述位置关系时,除非另有规定,否则当一元件例如层、膜或基板被指为在另一膜层“上”时,其能直接在其他膜层上或亦可存在中间膜层。进一步说,当层被指为在另一层“下”时,其可直接在下方,亦可存在一或多个中间层。亦可以理解的是,当层被指为在两层“之间”时,其可为两层之间的唯一层,或亦可存在一或多个中间层。
在使用本文中描述的“包括”、“具有”、和“包含”的情况下,除非使用了明确的限定用语,例如“仅”、“由……组成”等,否则还可以添加另一部件。除非相反地提及,否则单数形式的术语可以包括复数形式,并不能理解为其数量为一个。
如图1所示,本申请的一个实施例公开了一种传感器诊断装置1,包括:
第一输入端IN1、第二输入端IN2、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3、第四开关S4、第五开关S5、第一比较器12、第二比较器13、门限电压发生器11及逻辑或单元OR;
所述第一电阻R1一端与所述第一输入端IN1相连接,另一端经由所述第一开关S1连接电源电压;所述第二电阻R2一端与所述第一输入端IN1相连接,另一端经由所述第二开关S2接地;所述第三电阻R3一端与所述第二输入端IN2相连接,另一端经由所述第三开关S3连接所述电源电压;所述第四电阻R4一端与所述第二输入端IN2相连接,另一端经由所述第四开关S4接地;所述第一比较器12的正输入端与所述第二比较器13的负输入端短接后经由连接到所述第五开关S5的一端,所述第五开关S5的另一端与所述第一输入端IN1或所述第二输入端IN2相连接;所述门限电压发生器11的第一输出端与所述第一比较器12的负输入端相连接,所述门限电压发生器11的第二输出端与所述第二比较器13的正输入端相连接;所述逻辑或单元OR的第一输入端IN1与所述第一比较器12的输出端相连接,所述逻辑或单元OR的第二输入端IN2与所述第二比较器13的输出端相连接,所述逻辑或单元OR的输出端作为所述传感器诊断装置1的输出端。
在本实施例中,第一输入端IN1和第二输入端IN2用于接收来自传感器2的电压信号。请继续参考图1,第一电阻R1和第二电阻R2共同连接到第一输入端IN1上的A点,第三电阻R3和第四电阻R4共同连接到第二输入端IN2上的B点。通过闭合或断开第一开关S1、第二开关S2、第三开关S3以及第四开关S4,A点和B点上的电压会发生变化,然后通过第五开关S5将A点或B点的电压传输到第一比较器12的正输入端以及第二比较器13的负输入端。其中,第一比较器12的正输入端和第二比较器13的负输入端短接,可以确保两者电压(用V2表示)保持一致。门限电压发生器11分别向第一比较器12的负输入端和第二比较器13的正输入端提供不同的门限电压(分别用V1和V3表示)。第一比较器12根据V1和V2的比较结果,输出高电平或低电平;第二比较器13根据V2和V3的比较结果,输出高电平或低电平。第一比较器12和第二比较器13的输出电平经过逻辑或单元OR后输出,作为传感器诊断装置1的输出结果。
上述传感器诊断装置1,在连接到传感器2后,可以通过变换开关的连通和断开状态,统计不同开关状态下传感器诊断装置1的输出结果,据此快速地确定传感器2是否出现功能异常,方便快捷。
在一个示例中,门限电压发生器11向所述第一比较器12的负输入端输入第一电压,并向所述第二比较器13的正输入端输入第二电压,所述第一电压大于所述第二电压。第一电压包括第一电压值UP1及第二电压值UP2,所述第二电压包括第三电压值DN1及第四电压值DN2;其中,UP1=(VDD/3)+△V,UP2=(VDD*2/3)+△V,DN1=(VDD/3)-△V,DN2=(VDD*2/3)-△V,VDD为所述电源电压,△V为偏置电压。
可选的,门限电压发生器11输出UP1给第一比较器12的负输入端,输出DN1给第二比较器13的负输出端。或者,门限电压发生器11输出UP2给第一比较器12的负输入端,输出DN2给第二比较器13的负输出端。其中,△V为偏置电压,设置偏置电压的原因是:传感器2中用于测量外部变化量的可变电阻可能在检测过程中发生阻值的变化,进而造成A点或B点处的电压变化。为了避免该电压变化对第一比较器12和第二比较器13的比较结果造成影响,进而造成检测结果的误判,门限电压发生器11在向第一比较器12的负输入端和第二比较器13的负输出端输入电压时,设置偏置电压△V。这样,即使传感器2中的电阻发生变化,比如变化量为△R1,造成A点或B点的电压变化量为△V1,只要△V1小于△V,就不会对比较器的比较结果产生影响。△V大小的设置可以参考传感器2在全量程下电阻阻值的变化所对应的电压变化量,或者传感器2在失调状态下电阻阻值变化所对应的电压变化量。通过设置偏置电压△V,可以提高传感器诊断装置1的稳定性、正确性和实用性。
本申请的另一方面还提供一种传感器检测电路,如图2所示,包括:传感器2,所述传感器2包括正输出端及负输出端;上述任一项实施例中的传感器诊断装置1,所述传感器诊断装置1的所述第一输入端IN1与所述传感器2的正输出端相连接,所述传感器诊断装置1的所述第二输入端IN2与所述传感器2的负输出端相连接。
具体的,传感器2可以是电桥型阻式传感器,所述电桥型阻式传感器包括多个可变电阻。可变电阻的类型由传感器2的类型决定,比如可以是热敏电阻、力敏电阻或气敏电阻。
在一个示例中,请继续参考图2,传感器2(以电桥型阻式传感器为例)中的可变电阻的初始阻值与传感器诊断装置1中的第一电阻R1、所述第二电阻R2、所述第三电阻R3及所述第四电阻R4的阻值均相同。例如,当传感器2在非工作状态(即未对外部变量进行检测时),各可变电阻保持在初始阻值,与第一电阻R1、所述第二电阻R2、所述第三电阻R3及所述第四电阻R4的阻值相同,用R表示。在本实施例中,传感器检测电路的工作原理如下:
S11:闭合第一开关S1,将第五开关S5连接到传感器诊断装置1的第一输入端IN1(A点);门限电压发生器11的输出电压设定为:UP2=(VDD*2/3)+△V,DN2=(VDD*2/3)-△V。其中,UP2输入到第一比较器12的负输入端,DN2输入到第二比较器13的正输入端。
在本步骤中,传感器诊断装置1的内部电路连接关系如图3所示,传感器检测电路可以简化为图4所示的电路,在各个电阻阻值相等的情况下(均为R),A点电压的计算公式为:
VA=R/(R+R//R)*VDD
因此,VA=VDD*2/3,大于DN2且小于UP2,对于第一比较器12和第二比较器13来说,均为负输入端电压大于正输入端电压,因此,第一比较器12和第二比较器13均输出低电平信号,用0表示。两个低电平信号经过逻辑或单元OR后,仍然输出低电平信号。所以,在步骤S11中,传感器诊断装置1的输出结果为0,记为FW1(FW:Fault Warning,错误警告)。
S12:闭合第三开关S3,将第五开关S5连接到传感器诊断装置1的第二输入端IN2(B点);门限电压发生器11的输出电压设定为:UP2=(VDD*2/3)+△V,DN2=(VDD*2/3)-△V。其中,UP2输入到第一比较器12的负输入端,DN2输入到第二比较器13的正输入端。
在本步骤中,传感器诊断装置1的内部电路连接关系如图5所示,传感器检测电路可以简化为图6所示的电路,在各个电阻阻值相等的情况下(均为R),B点电压的计算公式为:
VB=R/(R+R//R)*VDD
因此,VB=VDD*2/3,大于DN2且小于UP2,对于第一比较器12和第二比较器13来说,均为负输入端电压大于正输入端电压,因此,第一比较器12和第二比较器13均输出低电平信号,用0表示。两个低电平信号经过逻辑或单元OR后,仍然输出低电平信号。所以,在步骤S12中,传感器诊断装置1的输出结果为0,记为FW2。
S13:闭合第二开关S2,将第五开关S5连接到传感器诊断装置1的第一输入端IN1(A点);门限电压发生器11的输出电压设定为:UP1=(VDD/3)+△V,DN1=(VDD/3)-△V。其中,UP2输入到第一比较器12的负输入端,DN2输入到第二比较器13的正输入端。
在本步骤中,传感器诊断装置1的内部电路连接关系如图7所示,传感器检测电路可以简化为图8所示的电路,在各个电阻阻值相等的情况下(均为R),A点电压的计算公式为:
VA=(R//R)/(R+R//R)*VDD
因此,VA=VDD/3,大于DN2且小于UP2,对于第一比较器12和第二比较器13来说,均为负输入端电压大于正输入端电压,因此,第一比较器12和第二比较器13均输出低电平信号,用0表示。两个低电平信号经过逻辑或单元OR后,仍然输出低电平信号。所以,在步骤S13中,传感器诊断装置1的输出结果为0,记为FW3。
S14:闭合第四开关S4,将第五开关S5连接到传感器诊断装置1的第二输入端IN2(B点);门限电压发生器11的输出电压设定为:UP1=(VDD/3)+△V
,DN1=(VDD/3)-△V。其中,UP2输入到第一比较器12的负输入端,DN2输入到第二比较器13的正输入端。
在本步骤中,传感器诊断装置1的内部电路连接关系如图9所示,传感器检测电路可以简化为图10所示的电路,在各个电阻阻值相等的情况下(均为R),B点电压的计算公式为:
VB=(R//R)/(R+R//R)*VDD
因此,VB=VDD/3,大于DN2且小于UP2,对于第一比较器12和第二比较器13来说,均为负输入端电压大于正输入端电压,因此,第一比较器12和第二比较器13均输出低电平信号,用0表示。两个低电平信号经过逻辑或单元OR后,仍然输出低电平信号。所以,在步骤S14中,传感器诊断装置1的输出结果为0,记为FW4。
如果经过上述四个步骤,FW1、FW2、FW3和FW4均为0,则说明传感器2功能正常。
在一个示例中,如图11所示,传感器检测电路还包括仪表放大器3,包括正输入端、负输入端及输出端,所述仪表放大器3的正输入与所述传感器2的正输出端相连接,所述仪表放大器3的负输入端与所述传感器2的负输出端相连接;缓冲器4,所述缓冲器4的输入端与所述仪表放大器3的输出端相连接;模数转换器5,所述模数转换器5的输入端与所述缓冲器4的输出端相连接。
其中,仪表放大器3用于将传感器2测得的信号进行放大,缓冲器4用于临时存储仪表放大器3放大后的信号,模数转换器5用于将模拟信号转化为数字信号进行输出。
在一个示例中,如图12所示,所述传感器诊断装置1、所述仪表放大器3、所述缓冲器4及所述模数转换器5集成于同一传感器接口芯片6内,传感器2与传感器接口芯片6通过键合线连接,集成度高,便于携带、安装和使用。
在一个示例中,请继续参考图12,所述传感器2还包括电源端21及接地端24;所述芯片包括电源引脚61、第一输入引脚62、第二输入引脚63及接地引脚64,所述电源引脚61与所述传感器2的电源端21相连接,所述接地引脚64与所述传感器2的接地端24相连接,所述第一输入引脚62与所述传感器诊断装置1的所述第一输入端IN1及所述传感器2的正输出端22相连接,所述第二输入引脚63与所述传感器诊断装置1的第二输入端IN2及所述传感器2的负输出端23相连接。其中,电源引脚61经由键合线BD1与所述传感器2的电源端21相连接,所述接地引脚64经由键合线BD2与所述传感器2的接地端24相连接,所述第一输入引脚62经由键合线BD3与所述传感器诊断装置1的所述第一输入端IN1及所述传感器2的正输出端22相连接,所述第二输入引脚63经由键合线BD4与所述传感器诊断装置1的第二输入端IN2及所述传感器2的负输出端23相连接。
在本实施例中,经过步骤S11-S14的测试操作,还可以检测出各键合线是否正常连接,以及传感器2中的可变电阻是否存在连接异常,比如短路或断路连接。常见的失效场景总结如表1。其中,R5、R6、R7和R8表示电桥型阻式传感器中的四个可变电阻。
通过步骤S11-S14的测试操作,并统计传感器诊断装置1在每个步骤之后的输出信号FW,即可根据FW1-FW4的值,判断出传感器2是否出现故障,以及具体的故障位置,方便快捷。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。