CN112150920A - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents

一种显示面板及显示装置 Download PDF

Info

Publication number
CN112150920A
CN112150920A CN202010879569.5A CN202010879569A CN112150920A CN 112150920 A CN112150920 A CN 112150920A CN 202010879569 A CN202010879569 A CN 202010879569A CN 112150920 A CN112150920 A CN 112150920A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection
display panel
sub
transistor
pixels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202010879569.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112150920B (zh
Inventor
柴青
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd filed Critical Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Priority to CN202010879569.5A priority Critical patent/CN112150920B/zh
Publication of CN112150920A publication Critical patent/CN112150920A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112150920B publication Critical patent/CN112150920B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
    • G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
    • G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

本申请提供一种显示面板及显示装置，其中，显示面板其包括：显示区和位于所述显示区***的非显示区，所述显示区包括多个子像素，至少一个所述子像素的阳极通过对应的检测单元，所检测单元根据第一检测控制信号开启或停止检测；位于所述非显示区的检测线，连接于所述子像素阳极和所述检测单元之间，所述检测线从所述显示面板的第一侧延伸至与所述显示面板第一侧相对的第二侧。以此检测显示面板是否出现显示裂纹，以提高失效分析效率及不良品的检出效率。

Description

一种显示面板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板及显示装置。
背景技术
随着全面屏的快速发展，各个工艺阶段出现异常都会产生屏体裂纹，进而在屏体上出现黑斑，因此显示面板裂纹检测技术尤为重要。但是目前裂纹检测线路需要每条数据线都连接一个检测开关，使得布线的空间变小。因此需要一种更加适用可靠的显示面板裂纹检测方法。
发明内容
本发明主要提供一种显示面板，以检测显示显示面板是否出现裂纹，用以提高失效分析效率及不良品的检出效率。
为解决上述技术问题，本发明提供的第一个技术方案为：提供一种显示面板，其特征在于，包括：
显示区和位于所述显示区***的非显示区；
所述显示区包括多个子像素，至少一个所述子像素的阳极通过对应的检测单元接收检测信号，所述检测单元根据第一检测控制信号开启或停止检测；
位于所述非显示区的检测线，连接于所述子像素阳极和所述检测单元之间，所述检测线从所述显示面板的第一侧延伸至与所述显示面板第一侧相对的第二侧。
其中，所述子像素阵列排布，其中位于同一行和/或位于同一列的所述子像素的阳极通过对应的所述检测单元接收所述检测信号。
其中，还包括检测开启单元，所述检测开启单元根据第二检测控制信号向所述检测单元提供第一检测控制信号。
其中，位于同一行的所述子像素对应的所述检测单元的控制端均连接至一个相同的所述检测开启单元；和/或位于同一列的所述子像素对应的所述检测单元的控制端均连接至一个相同的所述检测开启单元。
其中，所述显示面板还包括多条电源线，所述检测单元连接于所述电源线和所述子像素阳极之间，所述检测信号为所述电源线上的电源信号。
其中，所述检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线和所述第二检测线分别位于所述显示面板相对的第三侧和第四侧。
其中，所述检测线迂回设置，所述检测线包括靠近所述显示区的第一检测部和位于所述第一检测部远离所述显示区的一侧的第二检测部，所述检测单元连接第一检测部且所述子像素阳极连接第二检测部。
其中，所述显示面板包括一个位于所述显示面板第一侧的所述非显示区的测试焊盘，所述测试焊盘用于提供所述第一检测控制信号。
其中，所述检测单元包括第一晶体管；所述第一晶体管包括第一控制端、第一通路端和第二通路端，所述第一通路端连接所述电源线，所述第二通路端连接所述子像素的阳极所述第一控制端连接所述测试焊盘。
为解决上述技术问题，本发明提供的第二个技术方案为：提供一种显示装置，包括上述任一项所述的显示面板。
本发明的有益效果，区别于现有技术的情况，本发明的显示面板的子像素的阳极通过对应的检测单元接收检测信号，位于非显示区的检测线，连接于子像素阳极和检测单元之间，检测线从显示面板的第一侧延伸至与显示面板第一侧相对的第二侧，检测单元根据第一检测控制信号开启检测后能够检测检测线是否断裂，进而确定屏体是否出现裂纹，进而提高失效分析效率及不良品的检出效率。
附图说明
图1是本发明显示面板的一实施例的结构示意图；
图2是本发明显示面板的另一实施例的结构示意图；
图3是本发明显示面板的另一实施例的结构示意图；
图4是本发明显示面板的另一实施例的结构示意图；
图5是本发明显示面板的另一实施例的结构示意图
图6是本发明显示面板的像素驱动电路的功能结构示意图；
图7是本发明显示面板的像素驱动电路的电路结构示意图；
图8是本发明显示装置的一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
本发明提供的显示面板，包括显示区和位于所述显示区***的非显示区，其中，显示区包括多个子像素，至少一个子像素的阳极通过对应的检测单元接收检测信号，检测单元根据第一检测控制信号开启或停止检测；位于非显示区的检测线，连接于子像素阳极和检测单元之间，检测线从显示面板的第一侧延伸至与显示面板第一侧相对的第二侧。
如图1至图3所示，检测线B连接于子像素阳极和检测单元(第一晶体管M1)之间，检测线B从显示面板的第一侧延伸至与显示面板第一侧相对的第二侧。具体的，如图1至图3所示，检测线B从显示面板的IC侧延伸至与IC侧相对的一侧，以此使得子像素均能与对应位置的检测线B连接，从而检测到显示面板是否存在裂纹。以此当显示面板处于检测状态时，检测单元根据第一检测控制信号Test1开启检测，以检测对应的子像素中是否发光，进而确定与子像素连接的检测线是否断裂，以检测显示面板屏体是否出现裂纹，提高失效分析效率及不良品的检出效率，具体的，若至少部分子像素不发光，则表示检测线存在断裂，显示面板出现裂纹；若子像素发光，则连接发光子像素部分的检测线完好，该部分检测线对应的显示面板处不出现裂纹。
具体的，请参见图1至图3，其中，子像素阵列排布，子像素可以为红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素中任一种。在一具体实施例中，子像素为发光二极管。位于同一行和/或位于同一列的子像素的阳极(即发光二极管的阳极)通过对应的检测单元接收检测信号。此时在测试屏体侧边是否出现裂纹时，可以通过单个子像素、一行子像素、一列子像素或所有子像素是否发光判定检测线是否断裂，从而识别显示面板是否出现裂纹。
在一实施例中，显示面板还包括检测开启单元，用于根据第二检测信号Test2向检测单元提供第一检测信号Test1。如图2所示，以检测单元与检测开启单元均为MOS管为例进行说明，检测单元包括第一晶体管M1，检测开启单元包括第二晶体管M2。在检测状态下，第二晶体管M2根据第二检测信号Test2打开，使第一晶体管M1的控制端接收第一控制信号Test1并开启检测，检测信号能够通过第一晶体管M1从而到达子像素阳极，从而驱动子像素在检测状态下发光；在正常显示状态下，第一晶体管M1接收第一检测控制信号Test1关闭，为防止异常信号打开第一晶体管M1，此时第二晶体管M2根据第二检测信号Test2关闭，从而防止第一晶体管M1再次被打开，避免影响正常显示。
可选地，同一行的子像素可以共用一个检测单元。具体地，如图2所示，位于同一行地子像素对应的第一晶体管M1的控制端连接至一个相同的第二晶体管M2的第一通路端，第二晶体管M2的第二通路端接收第一检测控制信号Test1，第二晶体管M2的控制端接收第二检测控制信号Test2，在检测状态时，能够根据第二检测控制信号Test2按行检测子像素是否发光。
可选地，同一列的子像素可以共用一个检测开启单元。具体地，如图3所示，位于同一列地像素对应的第一晶体管M1的控制端均连接至一个相同第二晶体管M2的第一通路端，第二晶体管M2的第二通路端接收第一检测控制信号Test1，第二晶体管M2的控制端接收第二检测控制信号Test2，在检测状态时，能够根据第二检测控制信号Test2按列检测子像素是否发光。
可选地，显示面板中所有子像素可以共用同一检测开启单元。如图4所示，显示面板中的所有第一晶体管M1的控制端连接至一个相同的第二晶体管M2的第一通路端，第二晶体管M2的第二通路端第二通路端接收第一检测控制信号Test1，第二晶体管M2的控制端接收第二检测控制信号Test2，在检测状态时，能够根据第二检测控制信号Test2检测整个显示面板子像素是否发光。
在一实施例中，显示面板包括位于显示面板第一侧非显示区域的测试焊盘，测试焊盘用于提供第一检测控制信号Tset1。此处所说的第一侧和检测线从显示面板第一侧开始延伸所指的第一侧相同，具体可以是显示面板的上侧或者下侧，也可以是显示面板的左侧或者右侧，也可以是显示面板中任意一个侧面。当显示面板只有第一晶体管M1的情况下，第一晶体管M1的控制端连接至测试焊盘；当显示面板包括第二晶体管M2的情况下，第二晶体管M2的第二通路端连接至测试焊盘。因此，只需要设置一个测试焊盘就能为显示面板的检测单元提供第一检测控制信号，有效减少了测试焊盘数量和走线的数量，有利于实现显示面板的窄边框。
在一实施例中，检测单元和子像素相邻设置，进而实现显示面板的窄边框设置。具体的，检测线B设置于显示面板的非显示区的边框内。
具体的，目前现有技术通常采用数据电压作为检测信号，本申请检测单元连接于电源线和子像素阳极之间，检测信号为电源线上的电源信号。由于电源电压低于数据电压，从而能够降低检测线B在换线孔位置处发生化学腐蚀的风险。在需要对显示面板进行检测时，使显示面板处于黑画面以进入检测状态。此时，在检测状态下，检测单元接收第一检测控制信号Test1开启检测，使得电源线与子像素之间的通路导通，将电源信号ELVDD通过与发光二极管D1连接的检测信号线B输送至子像素的阳极。此时，若显示面板中某一个、一行、某一列或全部的子像素不发光，则检测线存在断裂，显示面板存在裂纹。
可选地，在同一行的子像素共用同一检测开启单元时，如图2所示，位于同一行的子像素对应的所有第一晶体管M1沿行方向串联，该行子像素对应的第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，且该行子像素对应的第一晶体管M1的控制端均连接该行子像素对应的第二晶体管M2的第一通路端；而行方向最边缘处的第一晶体管M1的第二通路端连接检测线B，并通过检测线B连接至子像素的阳极。或者，在另一实施例中，所有第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，位于同一行的子像素对应的所有第一晶体管M1的第二通路端均连接至对应位置的检测线B，并通过检测线B连接至子像素的阳极，该行子像素对应的所有第一晶体管M1的控制端均连接至该行子像素对应的第二晶体管M2的第一通路端。
可选地，位于同一列的子像素共用同一检测开启单元时，如图3所示，位于同一行的子像素对应的所有第一晶体管M1沿行方向串联且第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，且位于同一列子像素对应的第一晶体管M1的控制端均连接对应该列子像素的第二晶体管M2的第一通路端；而行方向最边缘处的第一晶体管M1的第二通路端连接检测线B，并通过检测线B连接至子像素的阳极。或者，在另一实施例中，所有第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，而同一行所有第一晶体管M1的第二通路端均连接至对应位置的检测线B，并通过检测线B连接至子像素的阳极，同一列的第一晶体管M1的控制端均连接至对应该列子像素的第二晶体管M2的第一通路端。
在显示面板的所有子像素共用同一检测开启单元时，如图4所示，位于同一行的子像素对应的所有第一晶体管M1沿行方向串联且第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，且显示面板中的所有第一晶体管M1的控制端均连接第二晶体管M2的第一通路端；而行方向最边缘处的第一晶体管M1的第二通路端连接检测线B，并通过检测线B连接至子像素的阳极，或者在另一实施例中，还可以使得列方向最边缘处的第一晶体管M1的第二通路端连接检测线B，并通过检测线B连接至发光二极管的阳极。或者，在另一实施例中，所有第一晶体管M1的第一通路端连接电源线接收电源信号ELVDD，而同一行所有第一晶体管M1的第二通路端均连接至对应位置的检测线B，且显示面板中的所有第一晶体管M1的控制端均连接第二晶体管M2的第一通路端。
在一实施例中，如上述图1至图4所示，检测线B迂回设置，检测线B包括靠近显示区的第一检测部B1和位于第一检测部B1远离显示区的一侧的第二检测部B2，检测单元(第一晶体管M1)连接第一检测部B1且子像素阳极连接第二检测部B2。以此能够在子像素不发光时，准确定位至检测线B的断裂位置。具体以图2为例进行说明，在检测状态下进行检测时，第一晶体管M1及第二晶体管M2导通，第一行像素点中，电源信号ELVDD通过第一行的第一晶体管M1进而通过节点n1、n2之间的检测线提供至第一行的子像素阳极，使得第一行的子像素发光，此时，若节点n1和节点n2之间的检测线存在断裂时，则第一行的子像素不发光；对于第二行的像素点，电源信号ELVDD通过第二行的第一晶体管M1进而通过节点n3、n4之间的检测线提供至第二行的子像素阳极，使得第二行的子像素发光，此时，若节点n3和节点n4之间的检测线存在断裂时，则第二行的子像素不发光，从而定位检测线断裂的位置在第一行子像素和第二行子像素之间。以此类推，对于第m行像素点，电源信号ELVDD通过第m行的第一晶体管M1进而通过节点nm+1和节点nm+2之间的检测线提供至第m行的子像素阳极，使得第n行的子像素发光，此时，若节点nm+1和节点nm+2之间的检测线存在断裂时，则第m行的子像素不发光。
上述图1至图4所示的显示面板，其中检测线B位于显示面板的第三侧，并从显示面板的第一侧延伸至与显示面板第一侧相对的第二侧。在另一实施例中，检测线B还可以同时位于显示面板的第三侧和与第三侧相对的第四侧，并从显示面板的第一侧延伸至与显示面板第一侧相对的第二侧。具体地，以显示面板为矩形为例，如图1至图4，第一侧核第二侧可以为图中显示面板的上下两侧，第三侧、第四侧可以为显示面板的左右两侧。
请参见图5，其中，检测线B包括第一检测线11和第二检测线12，第一检测线11和第二检测线12分别位于显示面板相对的第三侧和第四侧。具体的，第一检测线11和第二检测线12同样迂回设置，包括靠近显示区且与显示区相邻的第一检测部B1和位于第一检测部B1远离显示区的一侧的第二检测部B2，检测单元连接第一检测部B1且子像素阳极连接第二检测部B2。本实施例在显示面板的两侧均设置检测线B，使得屏体左右两侧减少通过弯折区的检测线，以此增加了弯折区的布线空间。
请参见图6，为本发明显示面板的子像素的像素驱动电路结构示意图。其中，子像素的像素驱动电路包括：电源提供单元13、驱动信号写入单元14、驱动单元15、初始化单元16。
其中，电源提供单元13连接至发光使能信号线，接收发光使能信号，以根据发光使能信号而为发光二极管OLED即子像素提供电源信号；驱动信号写入单元14接收扫描信号，以在扫描信号的驱动下将驱动信号写入至发光二极管OLED；驱动单元15连接驱动信号写入单元14和电源提供单元13，以写入保存驱动信号，并根据驱动信号而利用电源信号而生成匹配驱动信号的驱动电流，从而利用驱动电流而驱动发光二极管OLED；初始化单元16接收初始化信号，并在初始化信号的驱动下接收参考信号；其中，初始化单元16连接至驱动单元15和发光二极管OLED，以利用参考信号对驱动单元15和发光二极管OLED进行初始化。
其中，检测单元12连接发光二极管OLED的阳极、电源提供单元13及检测开启单元11。
其中，驱动信号写入单元14通过驱动信号控制显示面板进入检测状态。
请结合图7，其中，电源提供单元13包括：第八晶体管M8及第九晶体管M9。其中，第八晶体管M8包括控制端、第一通路端和第二通路端。第八晶体管M8的控制端连接发光使能信号线以接收发光使能信号EM，第八晶体管M8的第一通路端连接至电源线以接收电源信号ELVDD，第八晶体管M8的第二通路端连接至驱动单元15，具体的，第八晶体管M8的第二通路端连接至驱动单元15的第五晶体管M5的第一通路端。第九晶体管M9包括控制端、第一通路端和第二通路端。第九晶体管M9的控制端连接发光使能信号线以接收发光使能信号EM，第九晶体管M9的第一通路端连接至驱动单元15，具体的，第九晶体管M9的第一通路端连接至驱动单元15的第五晶体管M5的第二通路端，第九晶体管M9的第二通路端连接至发光二极管D1。
其中，驱动信号写入单元14包括：第三晶体管M3及第四晶体管M4。第三晶体管M3包括控制端、第一通路端和第二通路端。第三晶体管M3的控制端连接扫描信号线以接收扫描信号S1，第三晶体管M3的第一通路端连接至驱动信号线以接收驱动信号Data，第三晶体管M3的第二通路端连接至第八晶体管M8，具体的，第三晶体管M3的第二通路端连接至第八晶体管M8的第二通路端。第四晶体管M4包括控制端、第一通路端和第二通路端。第四晶体管M4的控制端连接扫描信号线以接收扫描信号S1，第四晶体管M4的第一通路端连接至第九晶体管M9，具体的，第四晶体管M4的第一通路端连接至第九晶体管M9的第一通路端，第四晶体管M4的第二通路端连接至驱动单元15，具体的，第四晶体管M4的第二通路端连接至驱动单元15的第五晶体管M5的控制端。
其中，驱动单元15包括：第五晶体管M5，第五晶体管M5包括控制端、第一通路端和第二通路端。第五晶体管M5的控制端连接第四晶体管M4，第五晶体管M5的第一通路端连接至第八晶体管M8，第五晶体管M5的第二通路端连接至第九晶体管M9。具体的，第五晶体管M5的控制端连接第四晶体管M4的第二通路端，第五晶体管M5的第一通路端连接至第八晶体管M8的第二通路端，第五晶体管M5的第二通路端连接至第九晶体管M9的第一通路端。
其中，初始化单元16包括：第六晶体管M6和第七晶体管M7。其中，第六晶体管M6包括控制端、第一通路端和第二通路端。第六晶体管M6的控制端连接第一初始化信号线以接收第一初始化信号S2，第六晶体管M6第一通路端连接至驱动单元15，具体的，第六晶体管M6的第一通路端连接至驱动单元15的第五晶体管M5的控制端，第六晶体管M6的第二通路端连接至参考信号线以接收参考信号Verf。第七晶体管M7包括控制端、第一通路端和第二通路端。第七晶体管M7的控制端连接第二初始化信号线以接收第二初始化信号S3，第七晶体管M7的第一通路端连接至发光二极管D1，第七晶体管M7的第二通路端连接至参考信号线以接收参考信号Verf。
具体的，本实施例中，检测单元12为第一晶体管M1，第一晶体管M1的第一通路端连接第八晶体管M8的第一通路端，并连接电源线接收电源信号ELVDD，第一晶体管M1的第二通路端连接第九晶体管M9的第二通路端，并连接发光二极管D1的阳极，检测开启单元11为第二晶体管M2，第一晶体管M1的控制端连接第二晶体管M2的第一通路端，第二晶体管M2的控制端接收第二检测控制信号Test2，该第二检测控制信号Test2可以为VGL信号，使得第二晶体管M2处于常开状态，无需设置其他走线和信号，简化检测电路的结构，第二晶体管M2的第二通路端连接驱动芯片的测试焊盘以接收检测控制信号。其中，第一晶体管M1及第二晶体管M2均为PMOS管。
本实施例中，在显示面板处于正常模式中时，驱动芯片通过测试焊盘输出高电平的检测控制信号，使得第一晶体管M1不导通，显示面板正常发光进行显示。在需要对显示面板进行检测时，通过第三晶体管M3及第四晶体管M4写入7V的驱动信号data，使得显示面板处于黑画面下，以进入检测状态。此时，在检测状态下，驱动芯片通过测试焊盘输出低电平的检测控制信号使得第二晶体管M2及第一晶体管M1导通，将电源信号ELVDD通过与发光二极管D1连接的检测信号线B输送至发光二极管D1的阳极，使得发光二极管D1在检测状态下发光，此时，若存在不发光的发光二极管D1，则会出现多条暗线，则表示检测线出现断裂，显示面板存在裂纹，本发明的显示面板，其能够提高失效分析效率以及不良品的检出效率。
本实施例中，在第一晶体管M1及第二晶体管M2导通时，检测线B通过的是电源信号ELVDD，正常情况下，电源信号ELVDD的电压为4.6V，而现有的显示面板中，检测线的电压一般为7V，其在换线孔的位置处在高温高湿环境下容易发生电化学腐蚀，造成检测线断裂。本发明的显示面板，检测线B的电压为4.6V，其降低了换线孔位置发生电化学腐蚀的可能性。另外，本发明的显示面板，其设置检测线B的位置以及长度没有局限性，其仅需要通过驱动芯片来控制检测开启单元11的时序，即可达到裂纹检测的目的，驱动芯片仅需要预留一个输出端口，屏体的左右两侧可减少通过弯折区的检测线，增加了弯折区的布线空间。
请参见图8，为本发明显示装置的一实施例的结构示意图。具体的，本发明提供的显示装置，其包括上述图1至图7任一项所述的显示面板，具体结构在此不再赘述。
本实施例提供的显示装置，其在检测开启单元接收到检测控制信号后，第一晶体管M1及第二晶体管M2导通，电源线的电源信号ELVDD通过检测线被提供至像素点(发光二极管)的阳极，此时的发光二极管发光。具体的，若某一位置处的发光二极管不发光，使得该位置处产生暗线，则表示该行子像素对应的检测线断裂，以此提高失效分析效率及不良品的检出效率。
本发明提供的显示装置可以为双面显示面板、柔性显示面板、全面屏显示面板中任一种。柔性显示面板可以应用于弯曲的电子设备；双面显示面板可以应用于为使显示面板两侧的人员都能看到显示内容的面板；全面屏显示面板可以应用于全面屏手机或其他装置，在此不做限定。
本发明的显示面板具体可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于显示面板的其他必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此不做赘述，也不应作为对本发明的限制。
在本发明各实施例中，显示面板只描述了部分相关电路，其他结构与现有技术中的显示面板的结构相同，在此不再赘述。
以上仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：
显示区和位于所述显示区***的非显示区；
所述显示区包括多个子像素，至少一个所述子像素的阳极通过对应的检测单元接收检测信号，所述检测单元根据第一检测控制信号开启或停止检测；
位于所述非显示区的检测线，连接于所述子像素阳极和所述检测单元之间，所述检测线从所述显示面板的第一侧延伸至与所述显示面板第一侧相对的第二侧。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素阵列排布，其中位于同一行和/或位于同一列的所述子像素的阳极通过对应的所述检测单元接收所述检测信号。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括检测开启单元，所述检测开启单元根据第二检测控制信号向所述检测单元提供第一检测控制信号。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，位于同一行的所述子像素对应的所述检测单元的控制端均连接至一个相同的所述检测开启单元；和/或
位于同一列的所述子像素对应的所述检测单元的控制端均连接至一个相同的所述检测开启单元。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多条电源线，所述检测单元连接于所述电源线和所述子像素阳极之间，所述检测信号为所述电源线上的电源信号。
6.根据权利要求1-5所述的显示面板，其特征在于，所述检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线和所述第二检测线分别位于所述显示面板相对的第三侧和第四侧。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述检测线迂回设置，所述检测线包括靠近所述显示区的第一检测部和位于所述第一检测部远离所述显示区的一侧的第二检测部，所述检测单元连接第一检测部且所述子像素阳极连接第二检测部。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括一个位于所述显示面板第一侧的所述非显示区的测试焊盘，所述测试焊盘用于提供所述第一检测控制信号。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述检测单元包括第一晶体管；
所述第一晶体管包括第一控制端、第一通路端和第二通路端，所述第一通路端连接所述电源线，所述第二通路端连接所述子像素的阳极所述第一控制端连接所述测试焊盘。
10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的显示面板。
CN202010879569.5A 2020-08-27 2020-08-27 一种显示面板及显示装置 Active CN112150920B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010879569.5A CN112150920B (zh) 2020-08-27 2020-08-27 一种显示面板及显示装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010879569.5A CN112150920B (zh) 2020-08-27 2020-08-27 一种显示面板及显示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112150920A true CN112150920A (zh) 2020-12-29
CN112150920B CN112150920B (zh) 2022-08-30

Family

ID=73888346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010879569.5A Active CN112150920B (zh) 2020-08-27 2020-08-27 一种显示面板及显示装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112150920B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114093289A (zh) * 2021-11-19 2022-02-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090225067A1 (en) * 2005-09-28 2009-09-10 Kazuhiko Yoda Display Panel and Display Device
CN105374311A (zh) * 2014-08-06 2016-03-02 三星显示有限公司 显示装置和制造显示装置的方法
KR20160095313A (ko) * 2015-02-02 2016-08-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
EP3279886A1 (en) * 2016-08-01 2018-02-07 Samsung Display Co., Ltd. Display device
KR20180064596A (ko) * 2016-12-05 2018-06-15 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN108417561A (zh) * 2018-03-06 2018-08-17 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板以及显示装置
CN108922462A (zh) * 2018-07-20 2018-11-30 京东方科技集团股份有限公司 显示装置和用于显示装置的检测方法
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN109493772A (zh) * 2018-11-30 2019-03-19 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109559668A (zh) * 2019-01-28 2019-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其检测方法、显示装置
CN208954988U (zh) * 2018-10-31 2019-06-07 昆山国显光电有限公司 显示装置及显示装置母板
CN110333268A (zh) * 2019-07-11 2019-10-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置和裂纹检测方法
US20190355289A1 (en) * 2015-03-04 2019-11-21 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and method of testing the same
CN111192543A (zh) * 2020-02-28 2020-05-22 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN111307867A (zh) * 2020-02-21 2020-06-19 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂痕检测方法、显示装置

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090225067A1 (en) * 2005-09-28 2009-09-10 Kazuhiko Yoda Display Panel and Display Device
CN105374311A (zh) * 2014-08-06 2016-03-02 三星显示有限公司 显示装置和制造显示装置的方法
KR20160095313A (ko) * 2015-02-02 2016-08-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
US20190355289A1 (en) * 2015-03-04 2019-11-21 Samsung Display Co., Ltd. Display panel and method of testing the same
EP3279886A1 (en) * 2016-08-01 2018-02-07 Samsung Display Co., Ltd. Display device
KR20180064596A (ko) * 2016-12-05 2018-06-15 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN108417561A (zh) * 2018-03-06 2018-08-17 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板以及显示装置
CN108922462A (zh) * 2018-07-20 2018-11-30 京东方科技集团股份有限公司 显示装置和用于显示装置的检测方法
CN109345985A (zh) * 2018-10-25 2019-02-15 昆山国显光电有限公司 显示装置
CN208954988U (zh) * 2018-10-31 2019-06-07 昆山国显光电有限公司 显示装置及显示装置母板
CN109493772A (zh) * 2018-11-30 2019-03-19 昆山国显光电有限公司 显示装置和裂纹检测方法
CN109559668A (zh) * 2019-01-28 2019-04-02 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其检测方法、显示装置
CN110333268A (zh) * 2019-07-11 2019-10-15 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置和裂纹检测方法
CN111307867A (zh) * 2020-02-21 2020-06-19 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂痕检测方法、显示装置
CN111192543A (zh) * 2020-02-28 2020-05-22 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置、裂纹检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114093289A (zh) * 2021-11-19 2022-02-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN114093289B (zh) * 2021-11-19 2023-12-12 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN112150920B (zh) 2022-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110503907B (zh) 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US11574567B2 (en) Display panel, display apparatus and crack detection method therefor
CN110648618B (zh) 检测裂纹电路及显示面板
CN111509026B (zh) 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
US6924875B2 (en) Array substrate having diodes connected to signal lines, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display
US7265572B2 (en) Image display device and method of testing the same
CN113053288B (zh) 显示设备
CN111540294B (zh) 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN111564130A (zh) 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN111192543B (zh) 显示面板及显示装置、裂纹检测方法
CN111881847B (zh) 显示面板及其检测方法、显示装置
CN112150920B (zh) 一种显示面板及显示装置
CN113284443B (zh) 显示面板及其测试方法和显示装置
US7053649B1 (en) Image display device and method of testing the same
KR102596383B1 (ko) 표시장치
CN113466252A (zh) 显示面板、显示面板的检测方法和显示装置
US20230078752A1 (en) Display device
US11900843B2 (en) Display device and display driving method
CN115424554A (zh) 阵列基板及其vt测试方法、显示面板及显示装置
US11594160B2 (en) Pixel detection circuit, display apparatus, and detection method
CN110580869A (zh) 线路检测***
US20230123476A1 (en) Display device and method of detecting driving circuit
US11740720B2 (en) Touch display device
US20240087492A1 (en) Display substrate, test method for the same and display device
US11928996B2 (en) Display apparatus, drive chip, and electronic device

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant