CN113466252A - 显示面板、显示面板的检测方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置。该显示面板包括至少一个孔区域、围绕孔区域的显示区以及围绕显示区的非显示区；显示区包括电源信号线和至少一条检测线；第二电源信号线分别沿一个孔区域的一侧延伸，检测线分别围绕一个孔区域设置，在同一孔区域处，第一电源信号线与检测线的第一端电连接，检测线的第二端与第二电源信号线电连接；非显示区包括裂纹检测电路，裂纹检测电路的输入端与第二电源信号线电连接，裂纹检测电路的控制端与第一控制信号线电连接，裂纹检测电路的每个输出端分别与显示面板的第一数据线一一对应电连接。可以增加裂纹检测的准确性性，保证显示面板的显示效果，有利于降低显示面板的制作成本。

Description

显示面板、显示面板的检测方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置。

背景技术

当前显示面板正向着全面屏的方向发展。在全面屏中，显示区需要设置开孔用于放置摄像头等结构。然而对显示区进行开孔时容易出现膜层裂纹，降低了显示面板的可靠性。

发明内容

本发明提供一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置，在不影响显示面板的像素排布的基础上提高显示面板的可靠性，同时有利于降低显示面板的制作成本。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括至少一个孔区域、围绕所述孔区域的显示区以及围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括电源信号线和至少一条检测线，所述电源信号线包括至少一条第一电源信号线和至少一条第二电源信号线；沿第一方向，每一所述第二电源信号线分别沿一个所述孔区域的一侧延伸，每一所述检测线分别围绕一个所述孔区域设置，在同一所述孔区域处，所述第一电源信号线与所述检测线的第一端电连接，所述检测线的第二端与所述第二电源信号线电连接；其中，所述第一方向为所述显示面板中数据线的延伸方向；

所述非显示区包括裂纹检测电路，所述裂纹检测电路的输入端与所述第二电源信号线电连接，所述裂纹检测电路的控制端与所述显示面板的第一控制信号线电连接，所述裂纹检测电路的每个输出端分别与所述显示面板的第一数据线一一对应电连接，其中，所述第一数据线包括至少两条数据线。

可选地，所述检测线与所述电源信号线同层设置。

可选地，所述检测线包括至少两条金属走线，至少两条所述金属走线不同层设置，且至少两条所述金属走线并联设置；

优选地，每一所述金属走线与所述显示面板的一层金属层同层设置。

可选地，沿所述第一方向，所述显示面板包括第一边框和第二边框；所述孔区域到所述第一边框的距离小于所述孔区域到所述第二边框的距离；所述第二电源信号线设置于所述孔区域远离所述第二边框的一侧。

可选地，沿所述第一方向，所述第二电源信号线的长度小于所述第一电源信号线的长度。

可选地，所述裂纹检测电路包括至少两个第一晶体管；所述第一晶体管的栅极作为所述裂纹检测电路的控制端，所述第一晶体管的第一极作为所述裂纹检测电路的输入端，每一所述第一晶体管的第二极作为所述裂纹检测电路的一个输出端。

可选地，所述显示面板还包括第二晶体管、第三晶体管和多个第四晶体管；所述裂纹检测电路的输入端通过所述第二晶体管与所述第二电源信号线电连接；

所述第二晶体管的栅极与所述显示面板的第一检测控制信号线电连接，所述第二晶体管的第一极与所述第二电源信号线电连接，所述第二晶体管的第二极与所述第一晶体管的第一极和所述第三晶体管的第一极电连接；所述第三晶体管的栅极与所述显示面板的第二检测控制信号线电连接，所述第三晶体管的第二极与所述显示面板的检测信号线和所述第四晶体管的第一极电连接；所述第四晶体管的栅极与所述第一控制信号线电连接，所述第四晶体管的第二极分别与所述显示面板的第二数据线一一对应电连接，其中，所述第二数据线为所述第一数据线以外的数据线。

可选地，所述孔区域包括两个；所述检测线、所述第一电源信号线和所述第二电源信号线均为两条；两条所述第一电源信号线接触。

第二方面，本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，用于对本发明任意实施例提供的显示面板进行检测；包括：

提供电源信号至所述显示面板的裂纹检测电路；所述裂纹检测电路根据所述电源信号控制所述显示面板第一数据线对应的像素单元是否发光。

第三方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示面板。

本发明实施例的技术方案，通过在显示面板的显示区设置电源信号线和检测线，电源信号线包括第一电源信号线和第二电源信号线，沿第一方向，每一第二电源信号线分别沿一个孔区域的一侧延伸，每一检测线分别围绕一个孔区域设置，在同一孔区域处，第一电源信号线与检测线的第一端电连接，检测线的第二端与第二电源信号线电连接，第二电源信号线与裂纹检测电路电连接。第一数据线连接的像素单元与第二电源信号线连接的像素单元同时出现异常时判断为孔区域周围存在裂纹，排出了其他因素导致的第一数据线连接的像素单元或第二电源信号线连接的像素单元显示异常的情况，增加了裂纹检测的准确性性。而且，通过设置电源信号线和检测线为裂纹检测电路提供检测信号，实现孔区域周围的裂纹检测，无需在扫描信号线或数据信号线所在金属层额外设置金属走线，从而可以在不影响显示面板的像素排布的基础上提高显示面板的可靠性，保证了显示面板的显示效果。同时可以在制作触控工艺之前完成显示面板的裂纹检测，从而有利于降低显示面板的制作成本。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

在制作有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示面板时，先制作阵列基板，然后在阵列基板上蒸镀形成OLED。在蒸镀形成OLED后进行开孔，采用激光去掉孔区域对应的OLED膜层。另外，在后期形成偏光片后，继续采用激光去除孔区域对应的阵列基板，从而形成完整的孔区域。在采用激光去除OLED膜层和阵列基板的过程中，会造成孔区域周围的显示区出现膜层裂纹，造成显示区的显示异常或降低显示面板的可靠性。现有技术中，可以在扫描信号线或数据信号线所在金属层额外设置金属走线，用于检测裂纹。然而额外设置金属走线会增加金属走线占用显示面板的面积，从而影响显示面板的像素排布。而且像素之间的距离与正常显示区不同，会降低显示面板的显示效果。另外，还可以在触控层设置金属走线用于检测裂纹。此时只能在触控层的工艺完成后才能进行裂纹检测，如果检测到裂纹，则增加了制作触控层的生产成本，不利于降低显示面板的制作成本。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。如图1所示，显示面板包括至少一个孔区域110、围绕孔区域110的显示区120以及围绕显示区120的非显示区130；显示区120包括电源信号线121和至少一条检测线122，电源信号线121包括至少一条第一电源信号线1211和至少一条第二电源信号线1212；沿第一方向X，每一第二电源信号线1212分别沿一个孔区域110的一侧延伸，每一检测线122分别围绕一个孔区域110设置，在同一孔区域110处，第一电源信号线1211与检测线122的第一端电连接，检测线122的第二端与第二电源信号线1212电连接；其中，第一方向X为显示面板中数据线123的延伸方向；非显示区130包括裂纹检测电路131，裂纹检测电路131的输入端in与第二电源信号线1212电连接，裂纹检测电路131的控制端ctrl与显示面板的第一控制信号线132电连接，裂纹检测电路131的每个输出端out分别与显示面板的第一数据线1231一一对应电连接，其中，第一数据线1231包括至少两条数据线123。

具体地，孔区域110可以为通孔，也可以为盲孔。其中，通孔为贯穿阵列基板的孔，盲孔为保留阵列基板中的基板以外的孔。电源信号线121可以为高电平信号线，用于为像素电路提供正电压。示例性地，显示面板中的电源信号线121包括第一电源信号线1211、第二电源信号线1212和第三电源信号线1213，第一电源信号线1211和第三电源信号线1213电连接，同时可以为与第一电源信号线1211和第三电源信号线1213电连接的像素单元提供电源信号。第二电源信号线1212通过检测线122与第一电源信号线1211电连接，从而为与其电连接的像素单元提供电源信号。电源信号线121可以横纵交错排布，使得为显示面板的像素单元提供的电压信号比较均一，从而可以提高显示面板的显示均一性。检测线122设置于孔区域110的周围。图1示例性地示出了显示面板包括一个孔区域110，对应的显示区120可以包括一条检测线122，电源信号线121可以包括一条第一电源信号线1211和一条第二电源信号线1212。当孔区域110周围无裂纹时，检测线122不会断裂，第一电源信号线1211上的电源信号可以通过检测线122传输至第二电源信号线1212。当孔区域110周围存在裂纹时，检测线122会断裂，检测线122的电阻比较大，即第一电源信号线1211上的电源信号传输至检测线122时压降比较大，第二电源信号线1212接收的电源信号的电压比较低。

第二电源信号线1212与裂纹检测电路131的输入端in电连接。在检测过程中，控制裂纹检测电路131的输入端in和输出端out之间导通。当孔区域110周围无裂纹时，第二电源信号线1212将第一电源信号线1211传输的电源信号输出至裂纹检测电路131，裂纹检测电路131将电源信号输出至第一数据线1231，使得与第一数据线1231连接的像素单元输入高电平信号，当显示面板上的像素单元中驱动晶体管为P型晶体管时，显示面板上与第一数据线1231连接的像素单元显示为0灰阶，显示为黑画面，显示面板无异常。同时，与第二电源信号线1212连接的像素单元也可以发光，孔区域110周围的显示区120可以正常显示。当孔区域110周围存在裂纹时，第一电源信号线1211上的电源信号通过检测线122时压降很大，传输至第二电源信号线1212时电压比较低，与第二电源信号线1212连接的像素单元输入电压比较低的信号，因此与第二电源信号线1212连接的像素单元不能正常发光。同时第二电源信号线1212输出电压比较低的信号至裂纹检测电路131，则与裂纹检测电路131的第一数据线1231不会输入高电平信号，与第一数据线1231连接的像素单元显示不是黑画面，像素单元发光，则显示面板出现亮线，显示异常。示例性地，与第一数据线1231连接的像素单元为绿色像素单元，当孔区域110周围无裂纹时，与第一数据线1231连接的绿色像素单元显示黑画面，同时与第二电源信号线1212连接的像素单元可以正常显示，显示面板无异常。当孔区域110周围存在裂纹时，与第一数据线1231连接的绿色像素单元显示为绿色，即显示面板中出现绿线，同时与第二电源信号线1212连接的像素单元无法正常显示，显示面板异常。由此可以根据第二电源信号线1212连接的像素单元以及第一数据线1231连接的像素单元的显示判断孔区域110周围是否存在裂纹。而且，第一数据线1231连接的像素单元与第二电源信号线1212连接的像素单元同时出现异常时判断为孔区域110周围存在裂纹，进一步的排出了其他因素导致的第一数据线1231连接的像素单元或第二电源信号线1212连接的像素单元显示异常的情况，增加了裂纹检测的准确性性。

另外，本实施例的技术方案，通过设置电源信号线121和检测线122为裂纹检测电路131提供检测信号，无需在扫描信号线或数据信号线所在金属层额外设置金属走线，从而可以在不影响显示面板的像素排布的基础上提高显示面板的可靠性，保证了显示面板的显示效果。同时可以在制作触控工艺之前完成显示面板的裂纹检测，从而有利于降低显示面板的制作成本。

需要说明的是，检测线可以设置在显示面板额外增加的一层金属层内，还可以设置在显示面板已有的任意一层金属层内。第一数据线1231至少包括两条数据线123，使得至少两列像素单元用于检测孔区域110周围的裂纹，可以降低其他因素导致的显示异常错误判断为裂纹，提高了检测裂纹的可靠性。在其他实施例中，第一数据线1231还可以包括多条数据线123，例如可以包括4条数据线123或6条数据线123，可以进一步地提高检测裂纹的可靠性。

可选地，检测线与电源信号线可以同层设置。

具体地，检测线和第一电源信号线和第二电源信号线同层设置，因此检测线可以通过同一掩膜版与第一电源信号线和第二电源信号线同时形成，并可以通过掩膜版使检测线与第一电源信号线和第二电源信号线接触，直接实现检测线与第一电源信号线和第二电源信号线的电连接，有利于减少显示面板的制作工艺流程，降低显示面板的制作难度。

可选地，检测线包括至少两条金属走线，至少两条金属走线不同层设置，且至少两条金属走线并联设置。

具体地，检测线包括至少两条并联的金属走线，可以减小检测线上的阻抗，当第一电源信号线上的电源信号经过检测线传输至第二电源信号线上时，可以避免电源信号具有较大的压降，从而有利于提高显示面板显示的均一性。另外，并联的两条金属走线可以设置在不同层，优选地，至少两条金属走线沿显示面板厚度方向的垂直投影可以重合。此时不仅可以实现减小检测线的阻抗，而且可以避免检测线占用显示面板比较大的面积，有利于显示面板的像素排布。

优选地，每一金属走线与显示面板的一层金属层同层设置，可以避免额外增加显示面板的制作工艺流程，从而有利于降低显示面板的制作成本。

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图2所示，沿第一方向X，显示面板包括第一边框140和第二边框150；孔区域110到第一边框140的距离小于孔区域110到第二边框150的距离；第二电源信号线1212设置于孔区域110远离第二边框150的一侧。

具体地，当第一电源信号线1211通过检测线122为第二电源信号线1212提供电源信号时，检测线122的阻抗会影响电源信号的大小，使得第二电源信号线1212上的电源信号与第一电源信号线1211上的电源信号具有一定的差值，从而会使得与第二电源信号线1212连接的像素单元和与第一电源信号线1211连接的像素单元显示的均一性比较差。如图2所示，第二电源信号线1212设置在孔区域110距离比较近的边框的一侧，使得沿第一方向X的第二电源信号线1212的长度比较小，与第二电源信号线1212连接的同列像素单元的数量比较少，从而可以尽量减小检测线122对显示面板的均一性的影响。

可选地，沿第一方向X，第二电源信号线1212的长度小于第一电源信号线1211的长度。

具体地，第二电源信号线1212和第一电源信号线1211可以为相邻两列像素电路对应的电源信号线121。沿第一方向X，孔区域110不同位置到第一边框140的距离不相等，因此第一电源信号线1211和第二电源信号线1212的长度不相等。通过选取孔区域110到第一边框140的距离比较短的位置对应的电源信号线121作为第二电源信号线1212，使得第二电源信号线1212的长度小于第一电源信号线1211的长度，可以减少第二电源信号线1212连接的像素单元的数量，从而可以进一步地减小检测线122对显示面板的均一性的影响。

优选地，孔区域110到第一边框140的距离最短的位置对应的电源信号线121作为第二电源信号线1212，可以使得第二电源信号线1212连接的像素单元的数量最少，最大程度的减小检测线122对显示面板的均一性的影响。

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图3所示，裂纹检测电路131包括至少两个第一晶体管T1；第一晶体管T1的栅极作为裂纹检测电路131的控制端ctrl，第一晶体管T1的第一极作为裂纹检测电路131的输入端in，每一第一晶体管T1的第二极作为裂纹检测电路131的一个输出端out。

具体地，第一晶体管T1可以为P型晶体管，也可以为N型晶体管，图3中示例性地示出了裂纹检测电路131包括2个第一晶体管T1，第一晶体管T1为P型晶体管。如图3所示，第一晶体管T1的栅极与第一控制信号线132电连接，第一晶体管T1的第一极与第二电源信号线1212电连接，第一晶体管T1的第二极与第一数据线1231电连接。当裂纹检测电路131包括2个第一晶体管T1，对应的第一数据线1231包括2条数据线123。在显示面板进行裂纹检测时，第一控制信号线132输出低电平控制第一晶体管T1导通。当孔区域110周围无裂纹时，第二电源信号线1212输出电源信号，并通过第一晶体管T1输出至第一数据线1231上，与第一数据线1231连接的像素单元输入高电平信号，显示为黑画面，显示面板无异常。同时与第二电源信号线1212连接的像素单元也可以被提供电源电压，像素单元正常发光，孔区域110周围的显示区120可以正常显示。当孔区域110周围存在裂纹时，检测线122上的压降很大，第二电源信号线1212输出的信号小于电源信号，并通过第一晶体管T1输出至第一数据线1231上，与第一数据线1231连接的像素单元输入信号，像素单元发光，显示面板出现亮线，显示异常。同时与第二电源信号线1212连接的像素单元被提供的电源信号的电压比较小，像素单元无法正常发光，孔区域110周围的显示区120可以显示异常。

需要说明的是，当第一晶体管T1为N型晶体管时，在显示面板进行裂纹检测时，第一控制信号线132输出高电平控制第一晶体管T1导通，其具体工作过程与上述过程相同，此处不再赘述。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图4所示，显示面板还包括第二晶体管T2、第三晶体管T3和多个第四晶体管T4；裂纹检测电路131的输入端in通过第二晶体管T2与第二电源信号线1212电连接；第二晶体管T2的栅极与显示面板的第一检测控制信号线160电连接，第二晶体管T2的第一极与第二电源信号线1212电连接，第二晶体管T2的第二极与第一晶体管T1的第一极和第三晶体管T3的第一极电连接；第三晶体管T3的栅极与显示面板的第二检测控制信号线170电连接，第三晶体管T3的第二极与显示面板的检测信号线180和第四晶体管T4的第一极电连接；第四晶体管T4的栅极与第一控制信号线132电连接，第四晶体管T4的第二极分别与显示面板的第二数据线1232一一对应电连接，其中，第二数据线1232为第一数据线1231以外的数据线123。

具体地，第二晶体管T2和第三晶体管T3可以组成选通单元，用于选择第一晶体管T1的第一极输入的信号。当第二晶体管T2导通，第三晶体管T3关闭时，第一晶体管T1的第一极输入第二电源信号线1212上的信号。当第二晶体管T2关闭，第三晶体管T3导通时，第一晶体管T1的第一极输入检测信号线180提供的检测信号。因此，在显示面板进行面板检测时，可以设置第二晶体管T2关闭，第三晶体管T3导通，使得第一晶体管T1用于为第一数据线1231连接的像素单元进行检测。在显示面板进行裂纹检测时，可以设置第二晶体管T2导通，第三晶体管T3关闭，使得第一晶体管T1用于检测孔区域110周围是否存在裂纹。因此，第一晶体管T1可以在面板检测和裂纹检测中复用，从而可以减少面板检测电路和裂纹检测电路131的占用显示面板的面积，不仅可以降低显示面板的制作成本，还有利于显示面板的窄边框设计。

检测信号线180提供的检测信号还输出至第四晶体管T4的第一极，用于为第四晶体管T4提供检测信号，第四晶体管T4输出检测信号至与其电连接的第二数据线1232上，与第二数据线1232连接的像素单元在检测信号下显示。示例性地，检测信号线180提供的检测信号可以为高电平，在面板检测时，像素单元在高电平的作用下显示为黑画面，则显示面板显示正常，当像素单元在高电平的作用下存在亮点和/或亮线，则显示面板显示异常。

显示面板可以包括多个第四晶体管T4，第一晶体管T1的第二极和第四晶体管T4的第二极分别与第一数据线1231和第二数据线1232一一对应电连接，第一数据线1231和第二数据线1232组成显示面板的数据线123，从而可以实现显示面板的面板检测。

示例性地，图4中包括2个第一晶体管T1和4个第四晶体管T4。第一晶体管T1和第四晶体管T4示例性地为P型晶体管，第二晶体管T2和第三晶体管T3示例性地为N型晶体管。在面板检测过程中，第一检测信号线160输出的第一检测信号为低电平，第二检测信号线170输出的第二检测信号为高电平，第二晶体管T2关闭，第三晶体管T3导通，第一晶体管T1和第四晶体管T4输入检测信号线180提供的检测信号，对显示面板所有列的像素单元进行检测。在裂纹检测过程中，第一检测信号线160输出的第一检测信号为高电平，第二检测信号线170输出的第二检测信号为低电平，第二晶体管T2导通，第三晶体管T3关闭，第一晶体管T1输入第二电源信号线1212的信号，此时第一晶体管T1用于检测孔区域110的周围是否存在裂纹。由此可知，第一晶体管T1可以在面板检测和裂纹检测中复用，当显示面板包括面板检测电路时，无需额外设置第一晶体管T1，仅需在面板检测电路的基础上，设置第二晶体管T2和第三晶体管T3组成选通单元，即可在面板检测的基础上实现裂纹检测。从而可以减少面板检测电路和裂纹检测电路的占用显示面板的面积，不仅可以降低显示面板的制作成本，还有利于显示面板的窄边框设计。

需要说明的是，上述实施例中第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3和第四晶体管T4的类型仅是示例，而不是限定。在其他实施例中，第一晶体管T1和第四晶体管T4也可以为N型晶体管，第二晶体管T2和第三晶体管T3也可以为P型晶体管，在此基础上适应性修改第一控制信号线132、第一检测信号线160和第二检测信号线170的电平控制其导通或关闭即可。

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图5所示，孔区域110包括两个；检测线122、第一电源信号线1211和第二电源信号线1212均为两条；两条第一电源信号线1211接触。

具体地，当显示面板包括多个孔区域110时，需要对每个孔区域110的周围进行裂纹检测。示例性地，图5所示的显示面板包括两个孔区域110，每个空区域110的周围设置有第二电源信号线1212，并且第二电源信号线1212的一端通过检测线122与第一电源信号线1211电连接，用于获取电源信号，第二电源信号线1212的另一端与裂纹检测电路131电连接，用于输出信号用于检测。每个孔区域110的检测与显示面板包括一个孔区域110的检测过程相同，此处不再赘述。

另外，两条第一电源信号线可以接触，实现电连接，从而可以降低制作电源信号线的工艺难度。

在其他实施例中，当孔区域包括两个，显示面板还包括第二晶体管、第三晶体管和第四晶体管时，第二晶体管和第三晶体管均可以包括两个，一个孔区域分别对应一个第二晶体管和第三晶体管。第二晶体管的栅极与第一检测控制信号线电连接，第二晶体管的第一极与第二电源信号电连接，第二晶体管的第二极与孔区域对应的第一晶体管的第一极和对应的第三晶体管的第一极电连接。第三晶体管的栅极与第二检测控制信号线电连接，第三晶体管的第二极与检测信号线和第四晶体管的第一极电连接。因此，一个孔区域对应的第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管可以分别对对应的孔区域周围的裂纹进行检测，不同的孔区域存在裂纹时，显示面板不同的区域具有亮线异常。另外，第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和第四晶体管可以实现显示面板的面板检测，具体过程与一个孔区域时的面板检测相同，此处不再赘述。

本发明实施例还提供一种显示面板的检测方法，用于对本发明任意实施例提供的显示面板进行检测。图6为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图。如图6所示，该方法包括：

S60、提供电源信号至显示面板的裂纹检测电路；裂纹检测电路根据电源信号控制显示面板第一数据线对应的像素单元是否发光。

具体地，当孔区域周围无裂纹时，电源信号通过检测线时压降比较小，裂纹检测电路接收到的电源信号为高电平，则与第一数据线连接的像素单元显示高电平画面为黑画面，显示面板无异常，同时与第二电源信号线连接的像素单元可以正常发光。当孔区域周围存在裂纹时，电源信号通过检测线时压降比较大，裂纹检测电路接收到的电压信号不是高电平，则与第一数据线连接的像素单元显示不是黑画面，显示面板出现亮线，显示异常。同时与第二电源信号线连接的像素单元的电源信号电压比较低，无法正常发光。由此可以实现对裂纹的检测。

本实施例的技术方案，通过设置电源信号线和检测线为裂纹检测电路提供检测信号，无需在扫描信号线或数据信号线所在金属层额外设置金属走线，从而可以在不影响显示面板的像素排布的基础上提高显示面板的可靠性，保证了显示面板的显示效果。同时可以在制作触控工艺之前完成显示面板的裂纹检测，从而有利于降低显示面板的制作成本。

在上述技术方案的基础上，当裂纹检测电路包括至少两个第一晶体管，同时显示面板还包括第二晶体管、第三晶体管和多个第四晶体管时，显示面板可以进行面板检测和裂纹检测。当进行面板检测时，控制第二晶体管关闭，第三晶体管导通，第一晶体管和第四晶体管用于实现显示面板的面板检测。当进行裂纹检测时，第二晶体管导通，第三晶体管关闭，第一晶体管用于实现孔区域周围的裂纹检测。显示面板可以实现第一晶体管在面板检测和裂纹检测的复用，从而可以减少裂纹检测电路的占用显示面板的面积，不仅可以降低显示面板的制作成本，还有利于显示面板的窄边框设计。

本发明实施例还提供一种显示装置。图7为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图7所示，该显示装置200包括本发明任意实施例提供的显示面板210。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括至少一个孔区域、围绕所述孔区域的显示区以及围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括电源信号线和至少一条检测线，所述电源信号线包括至少一条第一电源信号线和至少一条第二电源信号线；沿第一方向，每一所述第二电源信号线分别沿一个所述孔区域的一侧延伸，每一所述检测线分别围绕一个所述孔区域设置，在同一所述孔区域处，所述第一电源信号线与所述检测线的第一端电连接，所述检测线的第二端与所述第二电源信号线电连接；其中，所述第一方向为所述显示面板中数据线的延伸方向；

所述非显示区包括裂纹检测电路，所述裂纹检测电路的输入端与所述第二电源信号线电连接，所述裂纹检测电路的控制端与所述显示面板的第一控制信号线电连接，所述裂纹检测电路的每个输出端分别与所述显示面板的第一数据线一一对应电连接，其中，所述第一数据线包括至少两条数据线。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测线与所述电源信号线同层设置。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测线包括至少两条金属走线，至少两条所述金属走线不同层设置，且至少两条所述金属走线并联设置；

优选地，每一所述金属走线与所述显示面板的一层金属层同层设置。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，沿所述第一方向，所述显示面板包括第一边框和第二边框；所述孔区域到所述第一边框的距离小于所述孔区域到所述第二边框的距离；所述第二电源信号线设置于所述孔区域远离所述第二边框的一侧。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，沿所述第一方向，所述第二电源信号线的长度小于所述第一电源信号线的长度。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测电路包括至少两个第一晶体管；所述第一晶体管的栅极作为所述裂纹检测电路的控制端，所述第一晶体管的第一极作为所述裂纹检测电路的输入端，每一所述第一晶体管的第二极作为所述裂纹检测电路的一个输出端。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第二晶体管、第三晶体管和多个第四晶体管；所述裂纹检测电路的输入端通过所述第二晶体管与所述第二电源信号线电连接；

所述第二晶体管的栅极与所述显示面板的第一检测控制信号线电连接，所述第二晶体管的第一极与所述第二电源信号线电连接，所述第二晶体管的第二极与所述第一晶体管的第一极和所述第三晶体管的第一极电连接；所述第三晶体管的栅极与所述显示面板的第二检测控制信号线电连接，所述第三晶体管的第二极与所述显示面板的检测信号线和所述第四晶体管的第一极电连接；所述第四晶体管的栅极与所述第一控制信号线电连接，所述第四晶体管的第二极分别与所述显示面板的第二数据线一一对应电连接，其中，所述第二数据线为所述第一数据线以外的数据线。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述孔区域包括两个；所述检测线、所述第一电源信号线和所述第二电源信号线均为两条；两条所述第一电源信号线接触。

9.一种显示面板的检测方法，用于对权利要求1-8任一项所述的显示面板进行检测；其特征在于，包括：

提供电源信号至所述显示面板的裂纹检测电路；所述裂纹检测电路根据所述电源信号控制所述显示面板第一数据线对应的像素单元是否发光。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-8任一项所述的显示面板。

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