CN111855145A - 一种光纤宏弯测试装置的使用方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种光纤宏弯测试装置的使用方法，光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接测试仪器的输出端和光纤的引纤以及用于将引纤和光纤融合为一体的熔接机，使用方法包括：S1、熔接机将测试仪器输出端的引纤和光纤融合为一体；S2、测试仪器控制光纤进行打圈操作，并记录弯曲状态下的光纤的衰减情况和第一功率损耗值；S3、测试仪器控制打圈的光纤进行松开操作，并记录直线状态下的光纤的衰减情况和第二功率损耗值；S4、测试仪器计算第一功率损耗值和第二功率损耗值的差值。通过使用本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法，可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。

Description

一种光纤宏弯测试装置的使用方法
技术领域
本发明涉及光纤技术领域，更具体地说，涉及一种光纤宏弯测试装置的使用方法。
背景技术
现有技术中，大多数光纤光缆厂在对光纤进行宏弯测试时，都是使用V型槽来连接测试仪器的引纤与被测光纤。然而，V型槽在测试过程中压块容易松动，导致测试仪器的注入功率发生变化，当被测光纤的输入端面或输出端面的平整度、光滑度较差时，也会导致测试仪器的注入功率不稳定，从而不能保证宏弯损耗测试的真实性。
综上所述，如何提供一种可有效保证宏弯损耗测试准确性的测试方法，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的是提供一种光纤宏弯测试装置的使用方法，其可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接所述测试仪器的输出端和所述光纤的引纤以及用于将所述引纤和所述光纤融合为一体的熔接机，所述使用方法包括：
S1、熔接机将测试仪器输出端的引纤和光纤融合为一体；
S2、所述测试仪器控制所述光纤进行打圈操作，并记录弯曲状态下的所述光纤的衰减情况和第一功率损耗值；
S3、所述测试仪器控制打圈的所述光纤进行松开操作，并记录直线状态下的所述光纤的衰减情况和第二功率损耗值；
S4、所述测试仪器计算所述第一功率损耗值和所述第二功率损耗值的差值。
优选的，所述S1还包括：分别制作所述引纤的端面和所述光纤的端面，利用所述熔接机融合所述引纤端面和所述光纤端面。
优选的，所述S1还包括：如果所述引纤端面和所述光纤端面的融合损耗超出限定值，则重新制作所述引纤端面和所述光纤端面，再进行融合操作；如果所述引纤端面和所述光纤端面的融合损耗未超出所述限定值，则执行所述S2操作。
在利用本发明所提供的使用方法对光纤宏弯测试装置进行操作时，首先，可以利用熔接机对引纤端面和光纤端面进行熔接操作。由于熔接机可以利用高压电弧将引纤与光纤的端面熔化，同时可以利用高精度运动机构平缓推进引纤与光纤，使得引纤与光纤融合成一体，以有效保证引纤和光纤的连接效果、实现光纤模场的耦合，继而可以保证测试仪器注入功率的稳定性。待引纤和光纤融合为一体后，测试仪器可以控制光纤进行宏弯损耗测试操作，以使测试仪器可得到准确的宏弯损耗测试结果。
综上所述，本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法，可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明所提供的光纤宏弯测试装置的结构示意图；
图2为本发明所提供的光纤宏弯测试装置使用方法的流程示意图。
图1和图2中：
1为测试装置、2为熔接机、3为引纤、4为光纤。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的核心是提供一种应用于光纤宏弯测试装置的使用方法，其可以保证光纤宏弯损耗测试的准确性。
请参考图1和图2，其中，图1为本发明所提供的光纤宏弯测试装置的结构示意图；图2为本发明所提供的光纤宏弯测试装置使用方法的流程示意图。
本具体实施例提供了一种光纤宏弯测试装置的使用方法，光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤4进行宏弯损耗测试的测试仪器1、用于衔接测试仪器1的输出端和光纤4的引纤3以及用于将引纤3和光纤4融合为一体的熔接机2，使用方法包括：
S1、熔接机2将测试仪器1输出端的引纤3和光纤4融合为一体；
S2、测试仪器1控制光纤4进行打圈操作，并记录弯曲状态下的光纤4的衰减情况和第一功率损耗值；
S3、测试仪器1控制打圈的光纤4进行松开操作，并记录直线状态下的光纤4的衰减情况和第二功率损耗值；
S4、测试仪器1计算第一功率损耗值和第二功率损耗值的差值。
需要说明的是，测试仪器1可以向光纤4发送信号，并接收光纤4传递的信号，且可以分析和处理光纤4在进行宏弯损耗测试时传递的信号，以便于得到光纤4的宏弯损耗值。为了确保测试仪器1和光纤4之间信号传递的准确性，必须保证测试仪器1输出端与光纤4之间的连接紧密，故通过熔接机2将引纤3和光纤4融合为一体式结构，可以有效确保光纤4在进行宏弯测试时不会与引纤3发生松脱现象，继而可以保证光纤4的宏弯损耗测试结果准确真实。
可以在实际运用过程中，根据实际情况和实际需求，对测试仪器1、引纤3以及熔接机2的结构、尺寸、位置等进行确定。
在使用本发明所提供的光纤宏弯测试装置对光纤4进行宏弯损耗测试时，由于熔接机2可以使引纤3和光纤4融合为一体，实现光纤4模场的耦合，这样可以有效保证引纤3和光纤4的连接效果，以避免对后续的光纤4宏弯损耗测试造成影响。待熔接机2将引纤3和光纤4融合为一体后，测试仪器1可以控制光纤4进行宏弯损耗测试操作，使测试仪器1可得到准确的宏弯损耗测试结果。
故在利用本发明所提供的使用方法对光纤宏弯测试装置进行操作时，首先，可以利用熔接机2将引纤3和光纤4融合为一体，然后再利用测试仪器1对光纤4进行宏弯损耗测试操作。
优选的，S1还包括：分别制作引纤3的端面和光纤4的端面，利用熔接机2融合引纤3端面和光纤4端面。
需要说明的是，光纤宏弯测试装置还可以包括用于制作引纤3和光纤4的端面的切割刀。也即：首先可以通过切割刀分别切割引纤3和光纤4，以使得引纤3和光纤4均制作出平整度较高的端面，而后，再利用熔接机2将引纤3端面和光纤4端面进行熔接，该熔接过程中，熔接机2可以利用高压电弧将引纤3端面与光纤4端面熔化，同时，可以利用高精度运动机构平缓推进引纤3端面与光纤4端面，以使熔化状态下的引纤3和光纤4融合成一体式结构，最终可以实现光纤4模场的耦合，以确保测试仪器1的注入功率稳定，最终可以有效保证宏弯损耗测试的真实性。
优选的，S1还包括：如果引纤3端面和光纤4端面的融合损耗超出限定值，则重新制作引纤3端面和光纤4端面，再进行融合操作；如果引纤3端面和光纤4端面的融合损耗未超出限定值，则执行S2操作。
需要说明的是，光纤宏弯测试装置还可以包括用于检测引纤3和光纤4之间的熔接损耗情况的检测器和与检测器连接的反馈器，当熔接损耗超出损耗预设值时，反馈器可发出需要重新熔接的信号。
本实施例中，可以根据实际情况和实际需求，提前设置一个用于判断引纤3和光纤4的熔接效果的损耗预设值，如果检测器检测到引纤3和光纤4之间的熔接损耗超出损耗预设值，则反馈器可以发出信号，以提示使用者引纤3和光纤4的熔接效果较差，需要重新进行熔接操作。如果检测器检测到引纤3和光纤4之间的熔接损耗未超出损耗预设值，则反馈器不发出信号，说明引纤3和光纤4的熔接效果符合要求，使用者可以利用测试仪器1对光纤4进行宏弯损耗测试操作。
可以在实际运用过程中，根据实际情况和实际需求，对检测器和反馈器的形状、尺寸、结构等进行确定。
需要说明的是，在利用本发明所提供的使用方法对光纤宏弯测试装置进行操作时，首先，可以利用切割刀对引纤3和光纤4进行切割，以制作出光滑平整的端面。而后，利用熔接机2对引纤3端面和光纤4端面进行熔接操作。由于熔接机2可以利用高压电弧将引纤3与光纤4的端面熔化，同时可以利用高精度运动机构平缓推进引纤3与光纤4，使得引纤3与光纤4融合成一体，以实现光纤4模场的耦合。并且，熔接机2还可以检测光纤4输入端面和输出端面的平整度、光滑度。当光纤4的平整度和光滑度不符合要求时，熔接机2会发出报警，停止当前的熔接操作，因此，通过利用熔接机2熔接引纤3和光纤4，将可以保证测试仪器1注入功率的稳定性，从而保证光纤4的宏弯损耗测试的真实准确性。
还需要补充说明的是，此处的限定值和上述的损耗预设值可以为同一值，且可以在实际运用过程中，根据实际情况和实际需求，对该数值进行选取确定。
而且，在进行熔接操作时，如果引纤3端面和光纤4端面的融合损耗超出限定值，则需重新制作引纤3和光纤4的端面，而后再利用熔接机2对引纤3和光纤4进行熔接操作。
如果引纤3端面和光纤4端面的融合损耗未超出限定值，则测试仪器1可以控制光纤4进行宏弯损耗测试，也即可以先控制光纤4进行打圈操作，并记录弯曲状态下的光纤4的衰减情况和第一功率损耗值，然后再控制打圈的光纤4进行松开操作，并记录直线状态下的光纤4的衰减情况和第二功率损耗值，最后测试仪器1可以通过计算第一功率损耗值和第二功率损耗值的差值，得到该被测光纤4的宏弯损耗值。
此外，需要补充说明的是，在判断引纤3和光纤4之间的熔接效果时，也可以通过观察熔接机2上引纤3端面和光纤4端面的熔接处是否平整，以判断熔接效果的好坏，如果熔接处平整、没有毛刺等现象，可以表示引纤3端面和光纤4端面的熔接效果较好，如果熔接处不平整、有毛刺等现象，可以表示引纤3端面和光纤4端面的熔接效果较差，则使用者需要对引纤3和光纤4重新制作端面，再进行熔接操作。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。本发明所提供的所有实施例的任意组合方式均在此发明的保护范围内，在此不做赘述。
以上对本发明所提供的光纤宏弯测试装置的使用方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (3)

1.一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤(4)进行宏弯损耗测试的测试仪器(1)、用于衔接所述测试仪器(1)的输出端和所述光纤(4)的引纤(3)以及用于将所述引纤(3)和所述光纤(4)融合为一体的熔接机(2)，其特征在于，所述使用方法包括：
S1、熔接机(2)将测试仪器(1)输出端的引纤(3)和光纤(4)融合为一体；
S2、所述测试仪器(1)控制所述光纤(4)进行打圈操作，并记录弯曲状态下的所述光纤(4)的衰减情况和第一功率损耗值；
S3、所述测试仪器(1)控制打圈的所述光纤(4)进行松开操作，并记录直线状态下的所述光纤(4)的衰减情况和第二功率损耗值；
S4、所述测试仪器(1)计算所述第一功率损耗值和所述第二功率损耗值的差值。
2.根据权利要求1所述的光纤宏弯测试装置的使用方法，其特征在于，所述S1还包括：分别制作所述引纤(3)的端面和所述光纤(4)的端面，利用所述熔接机(2)融合所述引纤(3)端面和所述光纤(4)端面。
3.根据权利要求2所述的光纤宏弯测试装置的使用方法，其特征在于，所述S1还包括：如果所述引纤(3)端面和所述光纤(4)端面的融合损耗超出限定值，则重新制作所述引纤(3)端面和所述光纤(4)端面，再进行融合操作；如果所述引纤(3)端面和所述光纤(4)端面的融合损耗未超出所述限定值，则执行所述S2操作。
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