CN111722422B - 一种液晶面板的检测方法和液晶面板 - Google Patents

一种液晶面板的检测方法和液晶面板 Download PDF

Info

Publication number
CN111722422B
CN111722422B CN202010525557.2A CN202010525557A CN111722422B CN 111722422 B CN111722422 B CN 111722422B CN 202010525557 A CN202010525557 A CN 202010525557A CN 111722422 B CN111722422 B CN 111722422B
Authority
CN
China
Prior art keywords
liquid crystal
crystal panel
chromaticity
tested
polaroid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010525557.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111722422A (zh
Inventor
海博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd filed Critical Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co Ltd
Priority to CN202010525557.2A priority Critical patent/CN111722422B/zh
Publication of CN111722422A publication Critical patent/CN111722422A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111722422B publication Critical patent/CN111722422B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

本申请实施例提供的液晶面板的检测方法，包括：将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果，根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。本申请实施例方法能够快速厘清影响液晶面板色度出现异常的原因。

Description

一种液晶面板的检测方法和液晶面板
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种液晶面板的检测方法和液晶面板。
背景技术
液晶电视的色度影响观众的主观感受，是消费者第一直观感觉到的参数。我们的液晶面板和BLU结合共同显示，不同的液晶面板色度会不同，所以液晶面板的色度规格很重要，是写在产品规格书中的重要参数。平时需要光学量测来监控。而液晶面板有很多层材料，是很复杂的***，每层材料都会影响液晶面板色度。而且不同材料的影响是不同的。
当液晶面板的色度出现异常时，如何快速厘清影响因子，成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种液晶面板的检测方法和液晶面板，能够快速厘清影响液晶面板色度出现异常的原因。
本申请提供一种液晶面板的检测方法，所述液晶面板包括上偏光片、液晶盒以及下偏光片，所述上偏光片设置在所述液晶盒的上表面，所述下偏光片设置在所述液晶盒的下表面，包括步骤：
获取待测液晶面板的色度和透光率，将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果；
获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果；
获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果；
获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果；
根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板在白画面的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板在白画面的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板的透光率。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除上偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述上偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述上偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述上偏光片和下偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述上偏光片和下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述下偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果，包括：
若将所述第一对比结果大于预设阈值；将第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果进行比较，确定所述第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结中数值最大的影响因素最大的检查结果。
本申请实施例还提供一种液晶面板，使用上述所述的液晶面板的检测方法制程的液晶面板。
本申请实施例所提供的液晶面板的检测方法和液晶面板，液晶面板的检测方法，包括：获取待测液晶面板的色度和透光率，将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果，获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果，获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果，获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果，根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。本申请通过将待测液晶面板和对照液晶面板在各层材料分别剔除的情况下进行色度对比，从而得到不同情况下的对比结果，然后再根据对比结果确定在哪种情况下出现的对比结果影响最大，确定检测结果，从而能够快速厘清影响液晶面板色度出现异常的原因。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的液晶面板的检测方法流程示意图。
图2为本申请实施例待测液晶面板的结构示意图。
图3为本申请实施例待测液晶面板去除上偏光片后的结构示意图。
图4为本申请实施例待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的结构示意图。
图5为本申请实施例待测液晶面板去除下偏光片后的结构示意图。
图6为本申请实施例提供的液晶面板的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供一种液晶面板的检测方法和液晶显示面板，以下对液晶面板的检测方法做了详细介绍。
请参阅图1，图1为本申请实施例提供的液晶面板的检测方法流程示意图。其中，本申请实施例提供一种液晶面板的检测方法，所述液晶面板包括上偏光片、液晶盒以及下偏光片，所述上偏光片设置在所述液晶盒的上表面，所述下偏光片设置在所述液晶盒的下表面，包括步骤：
101、获取待测液晶面板的色度和透光率，将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果。
需要说明的是，分别测量待测液晶面板的色度和对照液晶面板的色度。其中，测量待测液晶面板和对照液晶面板的色度的方法可以通过色度测量装置测量。本申请实施例中对测量待测液晶面板和对照液晶面板的色度的具体测量方法不做过多赘述。另外的，将待测液晶面板的色度和对照液晶面板的色度相减，得到第一对比结果。对照液晶面板为色度正常的液晶面板，若第一对比结果的数值超过预设阈值，则说明待测液晶面板色度异常。可以理解的是，预设阈值是可以根据需要进行确定，比如，预设阈值为0.001。再比如，待测液晶面板的色度，x＝0.279，y＝0.303，对照液晶面板的色度，x1＝0.273，y1＝0.311，那么，待测液晶面板和对照液晶面板的色度差异为x-x1＝0.006，y-y1＝-0.009，那么色度的总差异值大于预设阈值，则确定待测液晶面板的色度存在异常。
其中，待测液晶面板透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过待测液晶面板后的亮度。从而得到待测液晶面板的透光率。对照液晶面板也可以采用待测液晶面板同样的方法测量，当然，还可以采用其他方式测量，本申请实施例中不过多赘述。
请参阅图2，图2为本申请实施例待测液晶面板的结构示意图。可以测量如图2所示的待测液晶面板来确定待测液晶面板的色度是否异常。其中，待测液晶面板包括上偏光片10、液晶盒20以及下偏光片30。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板的色度和透光率，具体包括步骤：
(1)获取待测液晶面板在白画面的色度和亮度。
(2)获取待测液晶面板在背光源的亮度。
(3)基于所述待测液晶面板在白画面的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板的透光率。
需要说明的是，待测液晶面板的透光率等于待测液晶面板在白画面的亮度除以背光源的亮度。具体的公式为：T＝L1/L＝η下偏光片自然光*AR*ηcf*ηLC*η上偏光片偏振光。具体的，T表示待测液晶面板的透光率，L1表示待测液晶面板白画面的亮度，也是透过待测液晶面板的亮度，η下偏光片自然光表示下偏光片对入射自然光的透过频谱，AR表示待测液晶面板开口率的透过频谱，ηcf表示液晶盒内各膜层的透过频谱，ηLC表示效率透过频谱，η上偏光片偏振光表示上偏光片对入射偏振光的透过频谱。
由上可知，待测液晶面板的透光率可以通过待测液晶面板在白画面的亮度和背光源的亮度得到。
102、获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果。
需要说明的是，分别测量待测液晶面板去除上偏光片后的色度和对照液晶面板的色度。其中，测量待测液晶面板和对照液晶面板去除上偏光片后的色度的方法可以采用通过色度测量装置测量。将待测液晶面板的色度和对照液晶面板去除上偏光片后的色度相减，得到第二对比结果。比如，待测液晶面板去除上偏光片后的色度为：x＝0.282，y＝0.300，对照液晶面板去除上偏光片后的色度为：x2＝0.279，y2＝0.303，那么，待测液晶面板和对照液晶面板的色度差异为：x-x2＝0.002，y-y2＝-0.002。因为去除了上偏光片，因此，可以判断下偏光片对色度的影响。待测液晶面板和对照液晶面板去除上偏光片后的色度的总差异值大于预设阈值，则确定下偏光片对待测液晶面板色度异常存在影响。
其中，待测液晶面板去除上偏光片透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除上偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。对照液晶面板去除上偏光片后的透光率也可以采用待测液晶面板同样的方法测量，当然，还可以采用其他方式测量，本申请实施例中不过多赘述。
请参阅图3，图3为本申请实施例待测液晶面板去除上偏光片后的结构示意图。可以测量如图3所示的待测液晶面板来确定待测液晶面板100的色度是否异常。其中，待测液晶面板包括上偏光片10、液晶盒20以及下偏光片30。其中，上偏光片10为部分剥离。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，包括步骤：
(1)获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度，包括：
(11)将所述上偏光片从所述待测液晶面板上剥离。
(12)测量剥离所述上偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度。
需要说明的是，待测液晶面板去除上偏光片透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除上偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。
(2)获取待测液晶面板在背光源的亮度。
(3)基于所述待测液晶面板去除上偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。
需要说明的是，待测液晶面板去除上偏光片后的透光率等于待测液晶面板去除上偏光片后在白画面的亮度除以背光源的亮度。具体的公式为：T1＝L2/L＝η下偏光片自然光*AR*ηcf。
可以理解的是，T1为待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。L2为待测液晶面板去除上偏光片后在白画面的亮度。通过公式T1＝L2/L＝η下偏光片自然光*AR*ηcf可以验证下偏光片对待测液晶面板色度异常的影响。
103、获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果。
需要说明的是，分别测量待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度。其中，测量待测液晶面板和对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度的方法可以采用通过色度测量装置测量。将待测液晶面板的色度和对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后色度相减，得到第三对比结果。比如，待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度为：x＝0.275，y＝0.291，对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度为：x3＝0.274，y3＝0.392，那么，待测液晶面板和对照液晶面板的色度差异为x-x3＝0.001，y-y3＝-0.001。因为去除了上偏光片和下偏光片后，因此，可以判断液晶盒对色度的影响。待测液晶面板和对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度的总差异值没有大于预设阈值，则确定液晶盒对色度异常存在影响较小。
其中，待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除上偏光片和下偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率也可以采用待测液晶面板同样的方法测量，当然，还可以采用其他方式测量，本申请实施例中不过多赘述。
请参阅图4，图4为本申请实施例待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的结构示意图。可以测量如图4所示的待测液晶面板100来确定待测液晶面板的色度是否异常。其中，待测液晶面板包括上偏光片10、液晶盒20以及下偏光片30。其中，上偏光片10和下偏光片30均为部分剥离。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，包括步骤：
(1)获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度，包括步骤：
(11)将所述上偏光片和下偏光片从所述待测液晶面板上剥离。
(12)测量剥离所述上偏光片和下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度。
需要说明的是，待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除上偏光片和下偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。
(2)获取待测液晶面板在背光源的亮度。
(3)基于所述待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。
需要说明的是，待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率等于待测液晶面板去除上偏光片后在白画面的亮度除以背光源的亮度。具体的公式为：T2＝L3/L＝AR*ηcf。
可以理解的是，T2为待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。L3为待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后在白画面的亮度。同时，由此公式可以验证液晶盒和开口率对待测液晶面板色度的影响。
104、获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果。
需要说明的是，分别测量待测液晶面板去除下偏光片后的色度和对照液晶面板的色度。其中，测量待测液晶面板和对照液晶面板去除下偏光片后的色度的方法可以采用通过色度测量装置测量。将待测液晶面板的色度和对照液晶面板去除下偏光片后的色度相减，得到第四对比结果。比如，待测液晶面板去除下偏光片后的色度为：x＝0.282，y＝0.299，对照液晶面板去除上偏光片后的色度，x5＝0.279，y5＝0.302，那么，待测液晶面板和对照液晶面板的色度差异为x-x5＝0.002，y-y4＝-0.002。因为去除了下偏光片，因此，可以判断上偏光片对色度的影响。待测液晶面板和对照液晶面板去除下偏光片后的色度的总差异值大于预设阈值，则确定上偏光片对待测液晶面板色度异常存在影响。
其中，待测液晶面板去除下偏光片透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除下偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。对照液晶面板去除下偏光片后的透光率也可以采用待测液晶面板同样的方法测量，当然，还可以采用其他方式测量，本申请实施例中不过多赘述。
请参阅图5，图5为本申请实施例待测液晶面板去除下偏光片后的结构示意图。其中，可以测量如图5所示的待测液晶面板来确定待测液晶面板的色度是否异常。其中，待测液晶面板包括上偏光片10、液晶盒20以及下偏光片30。另外的，下偏光片30为部分剥离。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，包括步骤：
(1)获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度。
在一些实施例中，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度，包括步骤：
(11)将所述下偏光片从所述待测液晶面板上剥离。
(12)测量剥离所述下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度。
需要说明的是，待测液晶面板去除下偏光片透光率的方式可以测量待测液晶面板背光源的亮度和透过去除下偏光片后待测液晶面板的亮度。从而得到待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。
(2)获取待测液晶面板在背光源的亮度。
(3)基于所述待测液晶面板去除下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。
需要说明的是，待测液晶面板去除下偏光片后的透光率等于待测液晶面板去除下偏光片后在白画面的亮度除以背光源的亮度。具体的公式为：T3＝L4/L＝η上偏光片偏振光*AR*ηcf。
可以理解的是，T3为待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。L4为待测液晶面板去除下偏光片后在白画面的亮度。
另外的，T3/2T2＝η上偏光片偏振光，通过这个公式可以验证上偏光片对待测液晶面板色度异常的影响。
105、根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。
需要说明的是，第一对比结果确定待测液晶面板与对照液晶面板色度是否出现异常。第二对比结果确定下偏光片对待测液晶面板色度出现异常是否具有明显影响，第三对比结果确定液晶盒盒开口率对待测液晶面板色度出现异常是否具有明显影响，第四对比结果确定上偏光片对待测液晶面板色度出现异常是否具有明显影响。
在一些实施例中，所述根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果，包括步骤：
若将所述第一对比结果大于预设阈值；将第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果进行比较，确定所述第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结中数值最大的影响因素最大的检查结果。
需要说明的是，第一对比结果若果大于预设阈值，则确定待测液晶面板色度异常，这时候将第二对比结果、第三对比结果、第四对比结果进行对比，确定那个结果的数值最大，则确定哪个为影响待测液晶面板出现色色度异常的影响因素。
具体的，待测液晶面板对色度影响量测方案和计算公式汇整如下总结表如下：
Figure BDA0002533645970000111
本申请实施例所提供的液晶面板的检测方法，液晶面板的检测方法，包括：获取待测液晶面板的色度和透光率，将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果，获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果，获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果，获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和透光率，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果，根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。本申请通过将待测液晶面板和对照液晶面板在各层材料分别剔除的情况下进行色度对比，从而得到不同情况下的对比结果，然后再根据对比结果确定在哪种情况下出现的对比结果影响最大，确定检测结果，从而能够快速厘清影响液晶面板色度出现异常的原因。
请参阅图6，图6为本申请实施例提供的液晶显示面板的结构示意图。其中，本申请实施例还提供一种液晶面板，使用上述所述的液晶面板的检测方法制程的液晶面板。上述实施例中已经对液晶面板的检测方法做了详细介绍，因此，本申请实施例中对液晶面板的检测方法不做过多赘述。
以上对本申请实施例提供的液晶面板的检测方法和液晶面板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请。同时，对于本领域的技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (9)

1.一种液晶面板的检测方法，所述液晶面板包括上偏光片、液晶盒以及下偏光片，所述上偏光片设置在所述液晶盒的上表面，所述下偏光片设置在所述液晶盒的下表面，其特征在于，包括步骤：
获取待测液晶面板在白画面的色度和透光率，将待测液晶面板的色度与对照液晶面板的色度进行对比，得到第一对比结果；
获取待测液晶面板去除上偏光片后在白画面的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片后的色度进行对比，得到第二对比结果；
获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后在白画面的色度和透光率，将待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度与对照液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度进行对比，得到第三对比结果；
获取待测液晶面板去除下偏光片后在白画面的色度和透光率，将待测液晶面板去除下偏光片后的色度与对照液晶面板去除下偏光片后的色度进行对比，得到第四对比结果；
根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果。
2.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板在白画面的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板在白画面的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板在白画面的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板的透光率。
3.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后在白画面的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除上偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片后的透光率。
4.根据权利要求3所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述上偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述上偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片后的色度和亮度。
5.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后在白画面的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的透光率。
6.根据权利要求5所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述上偏光片和下偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述上偏光片和下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除上偏光片和下偏光片后的色度和亮度。
7.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后在白画面的色度和透光率，包括：
获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度；
获取待测液晶面板在背光源的亮度；
基于所述待测液晶面板去除下偏光片后的亮度和背光源的亮度得到待测液晶面板去除下偏光片后的透光率。
8.根据权利要求7所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述获取待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度，包括：
将所述下偏光片从所述待测液晶面板上剥离；
测量剥离所述下偏光片后待检测液晶面板，以得到待测液晶面板去除下偏光片后的色度和亮度。
9.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述第一对比结果、第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果确定检测结果，包括：
若将所述第一对比结果大于预设阈值；将第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结果进行比较，确定所述第二对比结果、第三对比结果以及第四对比结中数值最大的影响因素最大的检查结果。
CN202010525557.2A 2020-06-10 2020-06-10 一种液晶面板的检测方法和液晶面板 Active CN111722422B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010525557.2A CN111722422B (zh) 2020-06-10 2020-06-10 一种液晶面板的检测方法和液晶面板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010525557.2A CN111722422B (zh) 2020-06-10 2020-06-10 一种液晶面板的检测方法和液晶面板

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111722422A CN111722422A (zh) 2020-09-29
CN111722422B true CN111722422B (zh) 2023-05-02

Family

ID=72566360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010525557.2A Active CN111722422B (zh) 2020-06-10 2020-06-10 一种液晶面板的检测方法和液晶面板

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111722422B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105700209A (zh) * 2016-04-19 2016-06-22 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的液晶方位角的测量方法以及测量装置
CN106094348A (zh) * 2016-08-19 2016-11-09 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板及具有该液晶面板的液晶显示器
CN106969906A (zh) * 2017-04-26 2017-07-21 武汉华星光电技术有限公司 一种显示器的色度学计算方法及色度计算方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4842034B2 (ja) * 2006-07-12 2011-12-21 株式会社日本マイクロニクス 液晶パネルの検査方法および画像処理装置
TWI306504B (en) * 2006-10-12 2009-02-21 Arima Display Corp A device and method for measuring optical parameters of a liquid crystal display
WO2013089028A1 (ja) * 2011-12-14 2013-06-20 シャープ株式会社 液晶表示パネルの検査方法および検査装置
CN104345481B (zh) * 2013-07-30 2017-11-10 北京京东方光电科技有限公司 一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备
CN205121094U (zh) * 2015-11-23 2016-03-30 苏州三星显示有限公司 液晶面板检测装置
CN107942545A (zh) * 2017-11-02 2018-04-20 深圳同兴达科技股份有限公司 Lcd显示模组面内透过率测试仪及测试方法
CN108153007B (zh) * 2018-01-03 2020-06-19 京东方科技集团股份有限公司 液晶盒测试装置以及液晶显示面板的测试方法
CN109597231A (zh) * 2019-01-29 2019-04-09 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板显示异常分析方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105700209A (zh) * 2016-04-19 2016-06-22 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的液晶方位角的测量方法以及测量装置
CN106094348A (zh) * 2016-08-19 2016-11-09 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板及具有该液晶面板的液晶显示器
CN106969906A (zh) * 2017-04-26 2017-07-21 武汉华星光电技术有限公司 一种显示器的色度学计算方法及色度计算方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN111722422A (zh) 2020-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107241467B (zh) 电子装置
US9946086B2 (en) Stereoscopic image display and method of driving the same
CN101210890A (zh) 缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块
CN111722422B (zh) 一种液晶面板的检测方法和液晶面板
TW201335893A (zh) 表面花紋之檢測方法
CN101556250A (zh) 产品质量的检验***及其方法
CN112465780B (zh) 绝缘层膜厚异常监控方法及装置
WO2017049863A1 (zh) 液晶滴注***及控制方法
US10408682B2 (en) Method and apparatus for detecting display screen
KR20080105656A (ko) 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법
EP2372650A1 (en) Method for mura effect level measurement of a display
CN107255872A (zh) 一种显示装置线不良的淡化方法
CN115204728A (zh) 一种用于lcd液晶显示屏的存储管理方法
US9465241B2 (en) Apparatus for applying curing voltages to liquid crystal substrate
CN108957797B (zh) 一种lcd偏光眼镜测试屏
KR20140067574A (ko) 평판 디스플레이 패널의 외관 스크래치 검사 방법
CN111103708A (zh) 改善亮度视角的方法
US10801948B2 (en) Detection apparatus, method and system
US10846869B2 (en) Streak-like region detecting device, streak-like region detecting method, and program
CN107942575B (zh) 多层tn-lcd的显示***
CN111427175B (zh) 一种显示面板故障检测方法
KR20090048524A (ko) Ｌｃｄ 패널 검사 시스템의 압흔 검사방법
JPH09257639A (ja) 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置
CN108181739B (zh) 显示面板mura及点线不良的淡化方法及显示面板
KR100570268B1 (ko) 특징점 강도를 이용한 플랫패널용 광관련판요소의 부정형성 얼룩 검출방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant