KR20080105656A - 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법 - Google Patents

액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20080105656A
KR20080105656A KR1020070053504A KR20070053504A KR20080105656A KR 20080105656 A KR20080105656 A KR 20080105656A KR 1020070053504 A KR1020070053504 A KR 1020070053504A KR 20070053504 A KR20070053504 A KR 20070053504A KR 20080105656 A KR20080105656 A KR 20080105656A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
defect
crystal display
display panel
repair
Prior art date
Application number
KR1020070053504A
Other languages
English (en)
Inventor
이우철
김성진
김병열
Original Assignee
엘지전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020070053504A priority Critical patent/KR20080105656A/ko
Publication of KR20080105656A publication Critical patent/KR20080105656A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법, 액정 디스플레이 패널의 제조 방법에 관한 것으로, 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 결함 추출부와; 상기 액정 디스플레이 패널의 결함들과 각각 대응되는 리페어 타입들이 미리 저장되어 있는 저장부와; 상기 결함 추출부에서 추출된 결함과 상기 저장부에 저장되어 있는 결함들을 비교하여, 상기 결함 추출부에서 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 리페어 타입 설정부와; 상기 리페어 타입 설정부에서 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 리페어 수행부로 구성된다.
따라서, 본 발명은 액정 디스플레이 패널의 결함을 수공정으로 리페어하는 것을, 자동화 및 무인화시켜 리페어(Repair)함으로써, 원가 절감할 수 있고, 수작업으로 리페어하는 종래의 기술에 의하여 인건비 상승 및 택트 타임(Tact time) 상승 을 방지할 수 있는 장점이 있다.
리페어, 자동, 타입, 픽셀, 패스, 액정

Description

액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법, 액정 디스플레이 패널의 제조 방법 { Apparatus and method for automatically repairing defect of liquid crystal display panel, and method for manufacturing liquid crystal display panel }
도 1은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어(Repair)하는 장치의 개략적인 구성 블록도
도 2는 본 발명에 적용된 액정 디스플레이 패널의 개략적인 단면도
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어하는 방법의 개략적인 흐름도
도 4a와 4b는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동 으로 리페어하는 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도
도 5는 본 발명에 따라 저장부에 저장된 픽셀 내의 세부 영역에 대응되는 리페어 타입의 데이터 베이스를 도시한 도면
도 6a와 6b는 본 발명에 따라 결함이 리페어된 상태를 도시한 사진도
도 7은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어하는 방법의 개략적인 흐름도
도 8a와 8b는 본 발명에 따라 액정 디스플레이 패널에서 결함이 있는 픽셀을 추출하는 과정을 설명하기 위한 개념적인 평면도
도 9는 본 발명에 따라 표준 리페어 패스(Standard Repair Path)의 개략적인 개통도를 도시한 도면
도 10a 내지 10c는 본 발명에 따라 표준 리페어 패스의 종류를 설명하기 위한 개념도
도 11a 내지 11d는 본 발명에 따라 표준 리페어 패스에서 변형된 리페어 패스를 설명하기 위한 개념도
도 12a와 12b는 본 발명에 따른 표준 리페어 패스에서 변형된 리페어 패스로 리페어된 상태를 설명하기 위한 사진도
도 13은 본 발명에 따라 액정 디스플레이 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
10 : 상부 기판 11,12,13 : 박막 트랜지스터
20 : 액정 물질 30 : 블랙 매트릭스 패턴
31,32,33 : 칼라 필터 50 : 상부 기판
110 : 결함 추출부 120 : 저장부
130 : 리페어(Repair) 타입 설정부 140 : 리페어 수행부
150 : 제어부 200,201 : 픽셀(Pixel)
300,310,320,330 : 결함 400 : 라인 커팅(Ling Cutting)
410,420,430,450,451 : 리페어 패스
본 발명은 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법, 액정 디스플레이 패널의 제조 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정 디스플레이 패널의 결함을 자동으로 리페어하여 원가를 절감할 수 있는 장치 및 방법, 액정 디스플레이 패널의 제조 방법에 관한 것이다.
최근, 계속해서 주목받고 있는 평판표시소자 중 하나인 액정디스플레이(Liquid Crystal Display, LCD)는 액체의 유동성과 결정의 광학적 성질을 겸비하는 액정에 전계를 인가하여 광학적 이방성을 변화시키는 소자로서, 종래 음극선관(Cathode Ray Tube)에 비해 소비전력이 낮고 부피가 작으며 대형화 및 고정세가 가능하여 널리 사용되고 있다.
이러한 특성을 갖는 액정디스플레이는 상부기판인 컬러필터(Color filter) 기판과 하부기판인 TFT(Thin Film Transistor) 어레이 기판이 서로 대향되도록 합착되고, 그 사이에 액정층이 형성되는 구조로 구비되어, 화소 선택용 어드레스(Address) 배선을 통해 수십만개의 화소에 부가된 박막트랜지스터를 스위칭 동작시켜 해당 화소에 전압을 인가해 주는 방식으로 구동된다.
전술된 바와 같은 액정디스플레이를 제조하기 위해서는 대략적으로, 박막트랜지스터 어레어 기판 공정, 컬러필터 기판 공정, 액정셀 공정 등을 수행하여야 한다.
상기 박막트랜지스터 어레이 기판 공정은 증착(Deposition) 및 포토리소그래피(Photilithography), 식각 공정을 반복하여 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소 전극을 형성하는 공정이다.
그리고, 상기 컬러 필터 기판 공정은 블랙 매트릭스(Black matrix)가 형성된 기판 상에 일정한 순서로 배열되어 색상을 구현하는 적(Red), 녹(Green), 청(Blue)의 컬러필터층을 제작한 후, 공통전극용 ITO막을 형성하는 공정이다.
또한, 액정셀 공정은 박막 트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판 사이에 일정한 틈이 유지되도록 합착한 후, 그 틈 사이로 액정을 주입하여 액정층을 형성하는 공정이다.
이러한 액정 디스플레이는 제조하는 공정에서 글래스의 결함을 검사하는 공정이 여러 차례 반복된다.
액정 디스플레이의 결함검사는 보통 거시검사(Macro inspection)와 미시검사(Micro inspection)로 구분되며, 거시검사는 작업자가 직접 눈으로 직접 결함 여부를 확인하는 방법이고, 미시 검사는 발견된 결함위치로 현미경, 카메라와 레이저로 구성된 광학계를 이동 후 초점(Focusing)을 맞추어 자세하게 검사하는 방법이다.
일반적으로, 리페어 장치에서 처리해야할 결함들은 크게 레이저 리페 어(Laser Repair)를 해야할 불량 결함과 리페어를 하지 않아도 성능에 영향을 주지 않는 양품 결함으로 나뉜다.
전 공정에서 정밀검사가 필요하다고 판단된 결함들에 대해 리페어 장치로 결함 리스트를 넘겨주면, 리페어 장치에선 다시 작업자가 현미경을 그 위치로 이동시켜 미시검사를 하게 된다.
이때, 이 결함의 성질, 크기, 픽셀 상에 위치 등을 기초로 양품 불량인지, 불량 결함인지를 논리적으로 구분하게 된다.
이렇게, 검사 과정에서 불량 결함이라고 판단된 결함에 대해서는 리페어를 해서 양품화시키는 과정이 바로 리페어과정이다.
종래의 리페어 방법은 상당히 복잡하며 가변적이어서, 제조 회사에서는 많은 시간을 작업자 교육에 투자하고 있는 것이 현실이다.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 액정 디스플레이 패널의 결함을 수공정으로 리페어하는 것을, 자동화 및 무인화시켜 리페어(Repair)함으로써, 원가 절감할 수 있는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법, 액정 디스플레이 패널의 제조 방법을 제공하는 데 목적이 있다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 1 양태(樣態)는,
액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 결함 추출부와;
상기 액정 디스플레이 패널의 결함들과 각각 대응되는 리페어 타입들이 미리 저장되어 있는 저장부와;
상기 결함 추출부에서 추출된 결함과 상기 저장부에 저장되어 있는 결함들을 비교하여, 상기 결함 추출부에서 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 리페어 타입 설정부와;
상기 리페어 타입 설정부에서 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 리페어 수행부로 구성된 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치가 제공된다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 2 양태(樣態)는,
액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 단계와;
상기 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 단계와;
상기 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법이 제공된다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 3 양태(樣態)는, 액정 디스플레이 패널의 복수개의 픽셀(Pixel)들 중에, 결함이 있는 픽셀을 추출하는 단계와;
상기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출하는 단계와;
상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하는 단계와;
상기 설정된 리페어 타입으로 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법이 제공된다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 4 양태(樣態)는,
액정 디스플레이 패널의 픽셀들 중, R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출하는 단계와;
상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하는지 여부를 체크하는 단계와;
상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하면, 상기 결함이 존재하는 상기 검출된 픽셀의 세부 영역을 추출하는 단계와;
상기 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 추출하는 단계와;
상기 리페어 타입으로 상기 결함을 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법이 제공된다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 제 5 양태(樣態)는, 액정 디스플레이 패널용 상부 기판을 형성하는 단계와;
액정 디스플레이 패널용 하부 기판을 형성하는 단계와;
액정을 사이에 두고 상기 상부 기판과 하부 기판을 합착하는 단계와;
상기 액정 디스플레이 패널의 픽셀들에서 결함이 있는 픽셀을 추출하고, 상 기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출한 후, 상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하고, 상기 설정된 리페어 타입으로 자동 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 제조 방법이 제공된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어(Repair)하는 장치의 개략적인 구성 블록도로서, 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 결함 추출부(110)와; 상기 액정 디스플레이 패널의 결함들과 각각 대응되는 리페어 타입들이 미리 저장되어 있는 저장부(120)와; 상기 결함 추출부(110)에서 추출된 결함과 상기 저장부(120)에 저장되어 있는 결함들을 비교하여, 상기 결함 추출부(110)에서 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 리페어 타입 설정부(130)와; 상기 리페어 타입 설정부(130)에서 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 리페어 수행부(140)로 구성된다.
그리고, 제어부(150)는 상기 결함 추출부(110), 리페어 타입 설정부(130) 및 리페어 수행부(140)를 제어한다.
이렇게 구성된 본 발명의 액정 디스플레이 패널의 리페어 장치는 상기 결함 추출부(110)에서 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하고, 상기 리페어 타입 설정 부(130)는 상기 결함 추출부(110)에서 추출된 결함과 상기 저장부(120)에 저장되어 있는 결함들을 비교하여, 상기 결함 추출부(110)에서 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정한다.
그리고, 상기 리페어 수행부(140)는 상기 리페어 타입 설정부(130)에서 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어를 수행한다.
여기서, 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 촬영하는 카메라가 더 구비되어 있는 것이 바람직하다.
이때, 상기 결함 추출부(110)는 상기 카메라에서 촬영된 영상으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출한다.
도 2는 본 발명에 적용된 액정 디스플레이 패널의 개략적인 단면도로서, 하부 기판(10)과; 상기 하부 기판(10)과 이격된 상부에 위치하고 있는 상부 기판(50)과; 상기 하부 기판(10)과 상부 기판(50) 사이에 충진된 액정물질(20)을 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 상부 기판(50) 하부에는 녹색광, 적색광과 청색광을 각각 투과시키는 제 1 내지 3 칼라필터들(31,32,33)이 형성되어 있다.
그리고, 상기 하부 기판(10) 상부에 복수개의 박막 트랜지스터(Thin film transistor)들(11,12,13)이 배열되어 있다.
그리고, 상기 제 1 내지 3 칼라필터들(31,32,33) 사이에는 블랙매트릭스 패턴(30)이 형성되어 있는 것이 바람직하다.
이렇게, 구성된 액정 디스플레이 패널은 상기 하부 기판(10) 하부에 입사되는 백색광이 액정물질(20)을 통과하고, 상기 제 1 내지 3 칼라필터들(31,32,33)에서 녹색광, 적색광과 청색광으로 방출된다.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어하는 방법의 개략적인 흐름도로서, 먼저, 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출한다.(S10단계)
그 후, 상기 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정한다.(S20단계)
연이어, 상기 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어한다.(S30단계)
도 4a와 4b는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동 으로 리페어하는 방법을 설명하기 위한 개략적인 평면도로서, 액정 디스플레이 패널에는 복수개의 픽셀(Pixel)들(200)이 형성되어 있다.
도 4a와 같이, 이 복수개의 픽셀들(200) 중에, 결함이 있는 픽셀(201)을 추출한다.
그 후, 상기 추출된 픽셀(201) 내부의 세부 영역들(A,B,C,D,E) 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역(D)을 추출한다.(도 4b)
이어서, 상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정한다.
이때, 상기 리페어 타입의 설정은 도 5의 데이터 베이스에 수록된 데이터를 이용한다.
계속하여, 상기 설정된 리페어 타입으로 리페어한다.
도 5는 본 발명에 따라 저장부에 저장된 픽셀 내의 세부 영역에 대응되는 리페어 타입의 데이터 베이스를 도시한 도면으로서, 결함이 있는 액정 디스플레이 패널의 픽셀은 복수개의 세부 영역들로 나누고, 이 나뉘어진 각각의 세부 영역들에 리페어 타입(Repair Type)이 설정된 데이터 베이스가 저장부에 저장되어 있다.
즉, 도 5의 데이터 베이스와 같이, 결함이 세부 영역 A에 있는 경우 리페어 타입이 용접(Welding)이고, 결함이 세부 영역 A와 B에 있는 경우 리페어 타입은 암점화이고, 결함이 세부 영역 D에 있는 경우 리페어 타입은 라인 커팅(Line Cutting)이다.
여기서, 픽셀 내부의 세부영역들 모두에 결함이 존재하지 않는 경우 리페어할 불량이 아니다.
이와 같이, 저장부에 저장된 데이터 베이스는 결함이 있는 픽셀이 추출되고, 그 픽셀의 세부 영역들 중에서 결함이 존재하는 세부 영역이 추출되면, 세부 영역에 대응되는 리페어 타입을 설정할 수 있는 것이다.
도 6a와 6b는 본 발명에 따라 결함이 리페어된 상태를 도시한 사진도로서, 도 6a에 도시된 사진도와 같이 픽셀(201)의 세부 영역에 결함(Defect)(300)이 존재 할 때, 도 6b의 사진도와 같이 레이저로 결함을 라인 커팅(Line Cutting)(400)하는 리페어 공정을 수행한다.
도 7은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널을 자동으로 리페어하는 방법의 개략적인 흐름도로서, 액정 디스플레이 패널의 픽셀들 중, R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출한다.(S100단계)
여기서, 상기 R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출하는 것은, 특정 픽셀의 R,G,B 색정보값이 정상상태인 픽셀의 RGB 색정보값과 비교해서 일정 기준치 이상 차이가 있는 경우 특이한 픽셀이라 정의하여 검출한다.
이때, 상기 특이 픽셀을 검출하는 알고리즘은 주위에 인접한 상하좌우 픽셀을 비교하여 추출하는 알고리즘과 정상 픽셀 이미지를 미리 데이터 베이스에 등록해놓고, 그 정상 이미지와 비교해서 특이 픽셀을 검출하는 알고리즘 등 다양하게 설계할 수 있는 것이다.
그 후, 상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하는지 여부를 체크한다.(S110단계)
이어서, 상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하면, 상기 결함이 존재하는 상기 검출된 픽셀의 세부 영역을 추출한다.(S120단계)
계속하여, 상기 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 추출한다.(S130단계)
그 다음, 상기 리페어 타입으로 상기 결함을 리페어 한다.(S140단계)
도 8a와 8b는 본 발명에 따라 액정 디스플레이 패널에서 결함이 있는 픽셀을 추출하는 과정을 설명하기 위한 개념적인 평면도로서, 도 8a와 같이, 액정 디스플레이 패널의 픽셀들(200)의 R,G,B 색정보값을 측정하여 R,G,B 색정보값이 기준 이하의 픽셀들을 추출한다.
여기서, 추출된 R,G,B 색정보값이 기준 이하의 픽셀들은 결함이 있는 픽셀들이라 간주하는 것이다.
결국, R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출하는 것은, 특정 픽셀의 R,G,B 색정보값이 정상상태인 픽셀의 RGB 색정보값과 비교해서 기준 이상 차이가 있는 경우 특이한 픽셀이라 정의하여 검출하는 것이다.
그 후, 상기 R,G,B 색정보값이 기준 이하의 픽셀들 내부에 결함이 존재하는지를 체크한다.
도 8b에 도시된 바와 같이, 상기 결함(300)이 R,G,B 색정보값이 기준 이하의 픽셀(201) 내부에 위치되면, 리페어를 수행해야할 불량 픽셀이고, 상기 결함이 R,G,B 색정보값이 기준 이하의 픽셀들 내부에 위치되지 않으면, 리페어를 수행하지 않아도 되는 양품 불량이다.
도 9는 본 발명에 따라 표준 리페어 패스(Standard Repair Path)의 개략적인 개통도를 도시한 도면으로서, 리페어는 레이저를 이용하여 수행하는 것이 바람직하며, 레이저는 광학적인 패스(Path)로 결함 영역을 조사하여 리페어하게 된다.
이때, 레이저가 결함 영역을 조사하게 되는 패스가 표준 리페어 패스로 데이 터 베이스에 수록되어 있다.
그리고, 상기 표준 리페어 패스는 도 10a 내지 10c에 도시된 바와 같이, 포인트(Point) 리페어 패스, 블록(Block) 리페어 패스와 라인(Line) 리페어 패스 중 하나로 수행한다.
여기서, 상기 포인트 리페어 패스는 도 10a와 같이 점 형상의 결함(310)의 외주면을 레이저로 리페어하는 패스(410)이고, 상기 블록 리페어 패스는 도 10b에 도시된 바와 같이, 블록 형상의 결함(320)의 외주면을 레이저로 리페어하는 패스(420)이다.
그리고, 크기가 큰 결함(330)을 라인 형상으로 리페어하는 패스(430)가 라인 리페어 패스이다.
상기 라인 리페어 패스에는 컨스턴트 타입(Constant type) 패스, 쉬프트 타입(Shift type) 패스, 벡터 타입(Vector type) 패스와 스캔 타입(Scan type) 패스가 있다.
그리고, 상기 포인트 리페어 패스에는 컨스턴트 타입 패스 및 쉬프트 타입 패스가 있다.
또, 상기 블록 리페어 패스는 컨스턴트 타입 패스가 있다.
여기서, 전술된 컨스턴트 타입 패스는 데이터 베이스에 수록된 표준 리페어 패스의 크기 및 위치 등이 변하지 않고, 실제 리페어 패스로 그대로 반영되어지는 리페어 패스이며, 항상 일정한 위치 일정한 크기로 리페어할 때 많이 사용한다.
그리고, 쉬프트 타입 패스는 지정된 방향으로 결함을 피해서 리페어 패스를 형성하는 것이고, 벡터 타입 패스는 결함의 형상보다 일정한 마진(Margin)을 두어 결함의 크기에 맞게끔 최적의 사이즈로 크기를 변경하는 리페어 패스이다.
또한, 스캔 타입 패스는 일정영역의 폭을 가지고 벡터 타입의 성질을 가지는 리페어 패스이다.
도 11a 내지 11d는 본 발명에 따라 표준 리페어 패스에서 변형된 리페어 패스를 설명하기 위한 개념도로서, 라인 리페어 패스인 경우에서, 좌측도면에서 우측도면으로 레이저 리페어 패스가 변형된 것이다.
즉, 도 11a는 컨스턴트 타입(Constant type) 패스일 때, 'a11'에서 'a12'로 리페어 패스가 변형된 것이고, 도 11b는 벡터 타입(Vector type) 패스일 때, 'a21'에서 'a22'로 리페어 패스가 변형된 것이고, 도 11c는 쉬프트 타입(Shift type) 패스일 때, 'a31'에서 'a32'로 리페어 패스가 변형된 것이고, 도 11d는 스캔 타입(Scan type) 패스일 때, 'a41'에서 'a42'로 리페어 패스가 변형된 것이다.
이렇게 여러개의 표준 리페어 패스들로 데이터 베이스에 수록된 패스들은 결함의 크기 및 형상 정보를 바탕으로 최종적으로 실제 리페어해야 할 최종 레이저 리페어 패스로 변형되어 리페어를 수행한다.
도 12a와 12b는 본 발명에 따른 표준 리페어 패스에서 변형된 리페어 패스로 리페어된 상태를 설명하기 위한 사진도로서, 결함(300)을 리페어할 때, 도 12a와 같은 표준 리페어 패스(450)에서, 결함(300)의 크기 및 형상에 따라 도 12b와 같은 변형된 패스(451)로 리페어를 수행한다.
도 13은 본 발명에 따라 액정 디스플레이 패널의 제조 방법을 설명하기 위한 흐름도로서, 먼저, 액정 디스플레이 패널용 상부 기판을 형성한다.(S200단계)
이 상부 기판은 블랙 매트릭스가 형성된 기판 상에 일정한 순서로 배열되어 색상을 구현하는 적(Red), 녹(Green), 청(Blue)의 컬러필터층과 공통전극용 ITO막이 형성되어 있는 통상적인 액정 디스플레이 패널용 상부 기판이다.
그 후, 액정 디스플레이 패널용 하부 기판을 형성한다.(S210단계)
여기서, 상기 하부 기판은 기판 상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소 전극이 형성되어 있는 기판이다.
연이어, 상기 액정을 사이에 두고 상부 기판과 하부 기판을 합착한다.(S220단계)
계속하여, 전술된 바와 같은 자동 리페어 공정을 수행한다.(S230단계)
여기서, 상기 자동 리페어 공정은, 액정 디스플레이 패널의 픽셀들에서 결함이 있는 픽셀을 추출하고, 상기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출한 후, 상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하고, 상기 설정된 리페어 타입으로 자동 리페어하는 공정인 것이 바람직하다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명은 액정 디스플레이 패널의 결함을 수공정으로 리페어하는 것을, 자동화 및 무인화시켜 리페어(Repair)함으로써, 원가 절감할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 액정 디스플레이 패널의 픽셀들에서 결함이 있는 픽셀을 추출하고, 상기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출한 후, 상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하고, 상기 설정된 리페어 타입으로 자동 리페어함으로써, 수작업으로 리페어하는 종래의 기술에 의하여 인건비 상승 및 택트 타임(Tact time) 상승 을 방지할 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.

Claims (10)

  1. 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 결함 추출부와;
    상기 액정 디스플레이 패널의 결함들과 각각 대응되는 리페어 타입들이 미리 저장되어 있는 저장부와;
    상기 결함 추출부에서 추출된 결함과 상기 저장부에 저장되어 있는 결함들을 비교하여, 상기 결함 추출부에서 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 리페어 타입 설정부와;
    상기 리페어 타입 설정부에서 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 리페어 수행부로 구성된 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 촬영하는 카메라가 더 구비되어 있는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 리페어 타입은,
    용접(Welding), 암점화 또는 라인 커팅(Line cutting) 중 하나인 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치.
  4. 액정 디스플레이 패널의 결함을 추출하는 단계와;
    상기 추출된 결함에 대응되는 리페어 타입을 설정하는 단계와;
    상기 설정된 리페어 타입으로 상기 액정 디스플레이 패널의 결함을 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  5. 액정 디스플레이 패널의 복수개의 픽셀(Pixel)들 중에, 결함이 있는 픽셀을 추출하는 단계와;
    상기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출하는 단계와;
    상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하는 단계와;
    상기 설정된 리페어 타입으로 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  6. 액정 디스플레이 패널의 픽셀들 중, R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출하는 단계와;
    상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하는지 여부를 체크하는 단계와;
    상기 검출된 픽셀 내부에 결함이 존재하면, 상기 결함이 존재하는 상기 검출된 픽셀의 세부 영역을 추출하는 단계와;
    상기 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 추출하는 단계와;
    상기 리페어 타입으로 상기 결함을 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 액정 디스플레이 패널의 픽셀들 중, R,G,B 색정보값이 특이한 픽셀을 검출하는 단계는,
    특정 픽셀의 R,G,B 색정보값이 정상상태인 픽셀의 RGB 색정보값과 비교해서 일정 기준치 이상 차이가 있는 경우 특이한 픽셀이라 정의하여 검출하는 단계인 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  8. 제 4 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 리페어는,
    레이저를 이용하여 수행하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 레이저로 리페어를 수행할 때, 결함의 크기 및 형상에 따라 데이터 베이스에 수록된 표준 리페어 패스에서 변형된 리페어 패스로 수행하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 방법.
  10. 액정 디스플레이 패널용 상부 기판을 형성하는 단계와;
    액정 디스플레이 패널용 하부 기판을 형성하는 단계와;
    액정을 사이에 두고 상기 상부 기판과 하부 기판을 합착하는 단계와;
    상기 액정 디스플레이 패널의 픽셀들에서 결함이 있는 픽셀을 추출하고, 상기 추출된 픽셀 내부의 세부 영역들 중에서, 상기 결함이 위치된 세부 영역을 추출한 후, 상기 결함이 위치된 픽셀의 추출된 세부 영역에 대응하는 리페어 타입을 설정하고, 상기 설정된 리페어 타입으로 자동 리페어하는 단계로 이루어진 액정 디스플레이 패널의 제조 방법.
KR1020070053504A 2007-05-31 2007-05-31 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법 KR20080105656A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070053504A KR20080105656A (ko) 2007-05-31 2007-05-31 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070053504A KR20080105656A (ko) 2007-05-31 2007-05-31 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20080105656A true KR20080105656A (ko) 2008-12-04

Family

ID=40366908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070053504A KR20080105656A (ko) 2007-05-31 2007-05-31 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20080105656A (ko)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101128907B1 (ko) * 2009-08-31 2012-03-27 (주)미래컴퍼니 레이저 가공 장치 및 이를 이용한 픽셀 결함 수정 방법
KR101149049B1 (ko) * 2010-04-08 2012-05-24 주식회사 영우디에스피 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치
KR20140072991A (ko) * 2012-12-05 2014-06-16 엘지디스플레이 주식회사 액정표시 패널의 수리 장치 및 그 방법
KR102043664B1 (ko) * 2019-04-29 2019-12-05 주식회사 에이치비테크놀러지 기판 내 결함을 검출하고 리페어하는 오토 리페어 시스템 및 방법
CN114354622A (zh) * 2021-12-30 2022-04-15 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101128907B1 (ko) * 2009-08-31 2012-03-27 (주)미래컴퍼니 레이저 가공 장치 및 이를 이용한 픽셀 결함 수정 방법
KR101149049B1 (ko) * 2010-04-08 2012-05-24 주식회사 영우디에스피 평판 디스플레이패널의 레이저 리페어장치
KR20140072991A (ko) * 2012-12-05 2014-06-16 엘지디스플레이 주식회사 액정표시 패널의 수리 장치 및 그 방법
KR102043664B1 (ko) * 2019-04-29 2019-12-05 주식회사 에이치비테크놀러지 기판 내 결함을 검출하고 리페어하는 오토 리페어 시스템 및 방법
CN114354622A (zh) * 2021-12-30 2022-04-15 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质
CN114354622B (zh) * 2021-12-30 2024-01-19 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 显示屏的缺陷检测方法、装置、设备和介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9934741B1 (en) Active device array substrate and method for inspecting the same
KR100926117B1 (ko) 가상 리뷰를 이용한 검사 시스템 및 그 방법
US7545162B2 (en) Method and apparatus for inspecting and repairing liquid crystal display device
KR20070099398A (ko) 기판검사장치와 이를 이용한 기판검사방법
KR20130051796A (ko) 기판 검사장치
KR20080105656A (ko) 액정 디스플레이 패널의 결함 자동 리페어 장치 및 방법,액정 디스플레이 패널의 제조 방법
WO2014132506A1 (ja) 表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置
CN111522156B (zh) 基板缺陷的检测方法及装置
JP4765522B2 (ja) カラーフィルタの検査方法
CN115167021B (zh) 显示面板的检测方法及检测装置
WO2017049863A1 (zh) 液晶滴注***及控制方法
KR101286548B1 (ko) 액정표시장치의 검사 시스템 및 방법
JP4664417B2 (ja) 表示パネル点灯検査装置、及び表示パネル点灯検査方法。
US20120129419A1 (en) Display-panel inspection method, and method for fabricating display device
JP2019158442A (ja) 表示パネル検査システムおよび表示パネル検査方法
JP5572925B2 (ja) Ｖａパターン欠損検査方法および検査装置
KR101034923B1 (ko) 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
JP2008216810A (ja) 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法
KR102063680B1 (ko) 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법
JP2710582B2 (ja) カラー液晶表示装置
JP2006322973A (ja) 画像表示パネルの修復方法
KR20090065844A (ko) 칼라필터 결함 검사 장치 및 방법
JPH11288463A (ja) 物体の検査装置
WO2012115004A1 (ja) 液晶パネルの検査装置および検査方法
KR101250234B1 (ko) 액정표시소자 검사시스템 및 방법, 이를 이용한액정표시소자 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application