CN109298313A - 示波器辅助测试电路板及示波器检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种示波器辅助测试电路板及示波器检测装置，示波器辅助测试电路板包括基板以及设置于所述基板上的多个第一焊盘、多个测试探针、至少一个第二焊盘与至少一个参考电平扣，其中所述多个第一焊盘与所述多个测试探针一一对应并电连接，所述第二焊盘与所述参考电平扣一一对应并电连接，本发明提供的示波器辅助测试电路板，结构简单、稳定性好、测试效率高；示波器检测装置包括示波器辅助测试电路板及与示波器辅助测试电路板电连接的多个示波器探头，示波器检测装置稳定可靠。
Description
【技术领域】
本发明涉及电子设备辅助测试设备领域，尤其涉及一种示波器辅助测试电路板及示波器检测装置。
【背景技术】
在电路设计中，示波器是电路板必不可少的一个调试测试工具。随着电子技术的发展，电子元器件的精密程度越来越高，电路板的线路布局也越来越紧凑，尤其是手机研发设计行业。手机电路板上预留的测试端口越来越少，越来越隐蔽，然而电路上的信号测试又是必不可少的，目前对于像手机等电子设备主板这样精密的电路板测试，通常是采用飞线(Jump wire，也称跳线)的方式将待测信号从电路板上引出后再进行测试。
这种测试方法虽然简单，但是存在诸多不足：1、由于飞线是细小的漆包线，而示波器探头又是通过测试勾直接与飞线连接，所以经常会有接触不良的情况，造成测试信号不稳定，对测试结果有很大的影响；2、飞线细小柔软，示波器探头稍有移动就容易将飞线拉断，飞翔拉断后需要重新焊接，严重影响到了测试效率；3、由于飞线的脆弱性，电子设备或者示波器探头稍微移动就有可能导致飞线断开或者接触不良的现象，要保证测试的稳定性，示波器探头和手机都不能随意移动，这样就给操作界面带来了极大的不便。
鉴于此，实有必要提供一种新的示波器辅助测试电路板以克服上述缺陷。
【发明内容】
本发明的目的是一方面是提供一种结构简单、稳定性好、测试效率高的示波器辅助测试电路板；另一方面是提供一种稳定可靠的示波器检测装置。
为了实现上述目的，本发明提供种示波器辅助测试电路板，包括基板以及设置于所述基板上的多个第一焊盘、多个测试探针、至少一个第二焊盘与至少一个参考电平扣，其中所述多个第一焊盘与所述多个测试探针一一对应并电连接，所述第二焊盘与所述参考电平扣一一对应并电连接。
在一个优选实施方式中，所述第一焊盘的数量为四个，所述测试探针的数量为四个；所述第二焊盘的数量为两个，所述参考电平扣的数量为两个。
在一个优选实施方式中，所述测试探针呈圆环形，所述参考电平扣呈“U”形。
在一个优选实施方式中，所述基板相背的两侧边缘分别开设有多个通孔，所述基板可通过胶带穿过所述多个通孔进而使得所述基板与电子设备固定。
在一个优选实施方式中，所述基板相背的两侧边缘分别开设有多个通孔，所述基板可通过所述多个通孔卡持固定多个弹性扣，并通过所述多个弹性扣使得所述基板与电子设备固定。
在一个优选实施方式中，所述基板相背的两侧边缘分别延伸形成两个弹性夹，所述基板通过所述弹性夹与电子设备固定。
一种示波器检测装置，包括所述的示波器辅助测试电路板及与所述示波器辅助测试电路板电连接的多个示波器探头，每个示波器探头包括用于电连接一个测试探针的表笔及连接于表笔且用于电连接任一个参考电平扣的夹子；所述示波器检测装置用于检测电子设备主板的电信号，所述电子设备主板上分布有与所述多个第一焊盘对应电连接的多个待测点及与所述参考电平扣对应电连接的参考地。
本发明提供的示波器辅助测试电路板，一方面通过设置多个第一焊盘、多个第二焊盘使得与所述主板的待测柱点、参考地的飞线连接方便、稳定；另一方面通过所述基板与电子设备固定，使得连接所用飞线保持静止、防止被拉断，进而保证测试的稳定性，提高了测试效率。本发明提供的示波器辅助测试电路板，结构简单、稳定性好、测试效率高。
【附图说明】
图1为本发明提供的示波器辅助测试电路板一个实施例的示意图。
图2为本发明提供的示波器检测装置与电子设备主板配合的示意图。
图3为本发明提供的示波器辅助测试电路板另一个实施例的主视图。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本发明进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本发明，并不是为了限定本发明。
请参照图1，本发明提供一种示波器辅助测试电路板100，包括基板10以及设置于基板10上的多个第一焊盘20、多个测试探针30、至少一个第二焊盘40与至少一个参考电平扣50，其中多个第一焊盘20与多个测试探针30一一对应并电连接，第二焊盘40与参考电平扣50一一对应并电连接。具体地，每个第一焊盘20与对应的测试探针30通过基板10内部线路连接，每个第二焊盘40与对应的参考电平扣50通过基板10内部线路连接。
请一并参照图2，一种示波器检测装置，包括示波器辅助测试电路板100及与示波器辅助测试电路板100电连接的多个示波器探头300，每个示波器探头300包括表笔301和分别连接于表笔301上的夹子302及线束303。示波器检测装置用于测试电子设备主板200的电信号。具体的，电子设备主板200上分布有多个信号待测点201及多个参考地202；多个第一焊盘20分别与多个待测柱点201中的部分待测柱点201一一对应并通过飞线焊接连接；第二焊盘40分别与多个参考地202中的部分参考地202一一对应并通过飞线焊接连接。示波器探头300的数量对应于测试探针30的数量；每个示波器探头300的夹子302可夹于任一个参考电平扣50上，多个示波器探头300的表笔301分别对应并卡持于一个测试探针30中，每个示波器探头300的线束303电连接于示波器用于显示对应待测柱点201的电信号。
本实施方式中，第一焊盘20的数量为四个，测试探针30的数量为四个；第二焊盘40的数量为两个，参考电平扣50的数量为两个。示波器检测装置的示波器探头300的数量为四个，四个示波器探头300可以同时用来测量四个待测柱点201的电信号，两个参考电平扣50的设置使得参考电平的稳定性更好。
本实施方式中，所述测试探针30呈圆环形，方便示波器探头300的表笔301卡持固定；所述参考电平扣呈“U”形且“U”形两端垂直连接于基板10上，方便示波器探头300的夹子302夹持固定。
基板10与电子设备固定连接。本实施例中，基板10相背的两侧边缘分别开设有多个通孔11。本实施方式中，基板10可通过胶带穿过多个通孔11进而使得基板10与电子设备例如手机固定，防止基板10相对电子设备移动，这种方式使用方便、灵活，受场地条件影响较小。在其他实施方式中，基板10可通过多个通孔11卡持固定多个弹性扣，并通过多个弹性扣使得基板10与电子设备固定，这种方式可重复使用，易拆卸，稳定性较好。
请一并参照图3，在其他的实施例中，基板10相背的两侧边缘分别延伸形成两个弹性夹12，基板10通过弹性夹12与电子设备固定。这种方式受电子设备尺寸影响较大，但使用快捷方便、测试稳定、效率更高。示波器检测装置稳定可靠。
本发明提供的示波器辅助测试电路板100，一方面通过设置多个第一焊盘20、多个第二焊盘40使得与电子设备主板200的待测柱点201、参考地202的飞线连接方便、稳定；另一方面通过基板10与电子设备固定，使得连接所用飞线保持静止、防止被拉断，进而保证测试的稳定性，提高了测试效率。本发明提供的示波器辅助测试电路板100，结构简单、稳定性好、测试效率高。
本发明并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述，因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改，故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本发明并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。
Claims (7)
1.一种示波器辅助测试电路板，其特征在于：包括基板以及设置于所述基板上的多个第一焊盘、多个测试探针、至少一个第二焊盘与至少一个参考电平扣，其中所述多个第一焊盘与所述多个测试探针一一对应并电连接，所述第二焊盘与所述参考电平扣一一对应并电连接。
2.如权利要求1所述的示波器辅助测试电路板，其特征在于：所述第一焊盘的数量为四个，所述测试探针的数量为四个；所述第二焊盘的数量为两个，所述参考电平扣的数量为两个。
3.如权利要求1所述的示波器辅助测试电路板，其特征在于：所述测试探针呈圆环形，所述参考电平扣呈“U”形。
4.如权利要求1所述的示波器辅助测试电路板，其特征在于：所述基板相背的两侧边缘分别开设有多个通孔，所述基板可通过胶带穿过所述多个通孔进而使得所述基板与电子设备固定。
5.如权利要求1所述的示波器辅助测试电路板，其特征在于：所述基板相背的两侧边缘分别开设有多个通孔，所述基板可通过所述多个通孔卡持固定多个弹性扣，并通过所述多个弹性扣使得所述基板与电子设备固定。
6.如权利要求1所述的示波器辅助测试电路板，其特征在于：所述基板相背的两侧边缘分别延伸形成两个弹性夹，所述基板通过所述弹性夹与电子设备固定。
7.一种示波器检测装置，其特征在于：包括任意一项权利要求1-6所述的示波器辅助测试电路板及与所述示波器辅助测试电路板电连接的多个示波器探头，每个示波器探头包括用于电连接一个测试探针的表笔及连接于表笔且用于电连接任一个参考电平扣的夹子；所述示波器检测装置用于检测电子设备主板的电信号，所述电子设备主板上分布有与所述多个第一焊盘对应电连接的多个待测点及与所述参考电平扣对应电连接的参考地。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110658442A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-01-07 | 北京智联友道科技有限公司 | 用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201114649Y (zh) * | 2007-09-29 | 2008-09-10 | 比亚迪股份有限公司 | 测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置 |
| CN103376380A (zh) * | 2013-07-04 | 2013-10-30 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种测试***及方法 |
| CN203313522U (zh) * | 2013-05-31 | 2013-11-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种印刷电路板 |
| CN203519782U (zh) * | 2013-10-16 | 2014-04-02 | 北大方正集团有限公司 | 一种电子设备 |
| CN103941047A (zh) * | 2014-04-21 | 2014-07-23 | 国家电网公司 | 一种电路板信号测试夹 |
| CN104515874A (zh) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 北大方正集团有限公司 | 用于电路板测试的转接板及测试方法、测试装置 |
| CN206020613U (zh) * | 2016-08-25 | 2017-03-15 | 北京小米移动软件有限公司 | 高速信号测量转接板 |
| CN206378519U (zh) * | 2016-12-09 | 2017-08-04 | 天合汽车科技（上海）有限公司 | Ecu信号测量装置 |
-
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Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201114649Y (zh) * | 2007-09-29 | 2008-09-10 | 比亚迪股份有限公司 | 测试手机组件的测试接口以及使用该测试接口的测试装置 |
| CN203313522U (zh) * | 2013-05-31 | 2013-11-27 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种印刷电路板 |
| CN103376380A (zh) * | 2013-07-04 | 2013-10-30 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种测试***及方法 |
| CN104515874A (zh) * | 2013-09-26 | 2015-04-15 | 北大方正集团有限公司 | 用于电路板测试的转接板及测试方法、测试装置 |
| CN203519782U (zh) * | 2013-10-16 | 2014-04-02 | 北大方正集团有限公司 | 一种电子设备 |
| CN103941047A (zh) * | 2014-04-21 | 2014-07-23 | 国家电网公司 | 一种电路板信号测试夹 |
| CN206020613U (zh) * | 2016-08-25 | 2017-03-15 | 北京小米移动软件有限公司 | 高速信号测量转接板 |
| CN206378519U (zh) * | 2016-12-09 | 2017-08-04 | 天合汽车科技（上海）有限公司 | Ecu信号测量装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110658442A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-01-07 | 北京智联友道科技有限公司 | 用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法 |
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