CN110658442A - 用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于电路测试的结构件，该结构件为一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。金属丝能够同时连接多个测量仪器的连接接头，测量仪器通过金属丝连接到被测元器件的测试点，连接到电路中，十分方便教学实验。

Description

用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法

技术领域

本发明涉及电路领域，特别地，涉及用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法。

背景技术

设置测试点的目的是为了测验电路板上的元器件有没有符合标准以及焊性，比如说想查看一颗电路板上的电阻有没有问题，最简单的办法即是拿万用电表量放置于其两头测量就能够知道测量的电阻是否存在问题。

但是在电路板的实际使用中，测试点只适用于工厂机械测试，并不适合于教学实验。在教学实验中，有的元器件以及输入输出端可能需要连接多根导线。但是现有设置的测试点无法连接多根导线；同时，现有的测试点无法连接鳄鱼夹等较大的接线端子，对电路板的实际使用以及元器件的测量带来了很大的不便。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明提供一种能够连接多根导线方便进行教学实验的用于电路测试的结构件和电路板以及电路板测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一方面，

一种用于电路测试的结构件，所述结构件是一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，所述金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。

进一步地，所述金属丝的两端各有一个弯折段，其中一个所述弯折段是与测试点连接的插脚，另一弯折段固定在电路板上，两个所述弯折段之间是用于与测量仪器连接接头连接的连接部。

进一步地，所述结构件整体呈凵型，其中一条侧边为所述插脚，底边为所述连接部。

进一步地，所述插脚上设有限位凸起。

进一步地，所述限位凸起由所述金属丝压扁一截形成，或由其他金属焊接形成。

进一步地，所述结构件除凸起外的部分线径0.1cm，凵型侧边长0.3cm，底边长1cm。

另一方面，

一种电路板，设有至少一个元器件，每个所述元器件设有一个测试插孔和一个固定插孔，所述测试插孔和所述元器件的测试点连接，所述测试插孔和所述固定插孔分别用于***上述方案中任一项所述的用于电路测试的结构件两端。

另一方面，

一种电子实验箱，包括上述方案中所述的电路板。

另一方面，

一种电路板测试方法，包括以下步骤：

将上述方案任一项所述的用于电路测试的结构件安装在所述电路板上元器件的测试插孔及固定插孔上；

将测量仪器与所述结构件连接，对所述电路板上的元器件进行测试。

进一步地，将测量仪器与所述结构件连接，对所述电路板上的元器件进行测试包括：将测量仪器的连接接头连接到所述结构件的连接部上。

有益效果：

本发明技术方案提供一种用于电路测试的结构件，该结构件为一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。金属丝能够同时连接多个测量仪器的连接接头，测量仪器通过金属丝连接到被测元器件的测试点，连接到电路中，十分方便教学实验。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种的结构件的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种电路板的具体结构示意图

图3是本发明实施例提供的一种电路板测试方法的流程图；

图4是本发明实施例提供的一种电路板测试时的连接结构示意图。

具体实施方式

在电路板的生产中，在工厂大批量生产的过程中，没有办法让测试人员用电表慢慢去量测每一片板子上的每一颗电阻、电容、电感、乃至是IC的电路是不是准确，所以就有了所谓的ICT(In-Circuit-Test)自动化测验机台的呈现，它运用多根探针(一般称之为「针床(Bed-Of-Nails)」治具)同时触摸板子上一切需要被量测的零件线路，然后经由程序控制以列为主，并排为辅的办法循序量测这些电子零件的特性，一般按照这种方法测验一块板子的所有零件只需要1～2分钟的时间就能够测试完毕，具体测量中视电路板上的零件多寡而定，零件越多时刻越长。

但是假如让这些探针直触摸摸到板子上面的电子零件或是其焊脚，很有可能会压毁一些电子零件，反而拔苗助长，所以在实际生产中，工程师就发明了测试点，即在零件的两头额外引出一对圆形的小点，上面没有防焊(mask)，能够让测验用的探针接触到这些小点，而不必直接触到那些被量测的电子零件。

以前在电路板上面还都是传统插件(DIP)的时代，的确会拿零件的焊脚来当作测试点来用，因为传统零件的焊脚够健壮，不怕针扎，但是常常会有探针触摸不良的误判景象发作，因为一般的电子零件通过波峰焊(wave soldering)或是SMT吃锡之后，在其焊锡的外表一般都会构成一层锡膏助焊剂的残留薄膜，这层薄膜的阻抗十分高，常常会形成探针的触摸不良，所以其时常常可见产线的测验作业员，常常拿着空气喷枪拼命的吹，或是拿酒精擦洗这些需求测验的当地。

本来通过波峰焊的测试点也会有探针触摸不良的问题。但是后来SMT(表面贴装技术)盛行之后，测验误判的景象就得到了很大的改进，测试点的运用也被大大地赋予重担，因为SMT的零件一般很脆弱，无法接受测验探针的直触摸摸压力，运用测试点就能够不让探针直触摸摸到零件及其焊脚，不光维护零件不受损害，也直接大大地提高测验的可靠度，因此误判的情况大大减少了。

在学校的电路实验教学中，针对老师教学来说，通常电路的测试需要各种仪器设备，每一种引出的探针或者夹子型号不同，尤其是针对于信号放大电路，既需要信号放大器的输入，直流电源的供电，又需要示波器的测量，通常一个测试点容纳不下这么多同时相连，对实验上课来说非常不便。同时，针对学生来说，在实验过程中，如果使用磁珠式测试点测量数据并进行拍照记录，就必须要有另外一名同学固定测试点配合完成，否则测试点接触不良难以完成测试。

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

参照图1，一种用于电路测试的结构件，结构件是一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。

本发明实施例提供的一种用于电路测试的结构件，该结构件为一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。金属丝能够同时连接多个测量仪器的连接接头，测量仪器通过金属丝连接到被测元器件的测试点，连接到电路中，十分方便教学实验。

作为对上述实施例的可选的实现方式，金属丝的两端各有一个弯折段，其中一个弯折段是与测试点连接的插脚11，另一弯折段固定在电路板上，两个弯折段之间是用于与测量仪器连接接头连接的连接部12。插脚连接被测元器件的测试点，测量仪器通过连接接头连接连接部的方式连接被测元器件，连接部较大，可以连接多个连接接头，以及能够连接较大的连接端子。方便进行实验。

一些可选实施例中，结构件整体呈凵型，其中一条侧边为插脚，底边为连接部。可选地，插脚11上设有限位凸起13。需要说明的是，另一条侧边上也可以设置限位凸起。

一些可选实施例中，限位凸起由金属丝压扁一截形成，或由其他金属焊接形成。

示例性的，结构件除凸起外的部分线径0.1cm，凵型侧边长0.3cm，底边长1cm，采用硬金属材质，阻抗约为0欧。

一个实施例中，本发明提供了一种电路板，设有至少一个元器件，每个元器件设有一个测试插孔和一个固定插孔，测试插孔和元器件的测试点连接，测试插孔和固定插孔分别用于***上述实施例中提供的用于电路测试的结构件两端。

本发明实施例提供的一种电路板，可以方便学生和老师进行实验操作，本发明实施例的电路板连接的结构件能够连接多根导线以及多个设备的夹子，适合教学实验

为了更进一步的说明本发明的技术方案，本发明实施例还提供了一种电路板的具体实施例，电路板上绘制有共射极放大电路，如图2所示，左下角为输入端接地的金属丝结构件，主要将输入信号与直流电源进行共地。信号发生器、直流电源以及电路板的GND可以通过此的金属丝结构件进行共地操作，而传统的测试环，夹不了多个夹子，只能通过导线的形式进行共地，既麻烦，也不稳定。

输入信号A处的的金属丝结构件，为示波器和信号发生器的探头钩子，信号发生器将波形通过输入信号A处的的金属丝结构件进行输入，示波器通道1通过此测试点直接监测输入信号的波形。

电路板右上角为供电测试点，可以通过此测试点给共射极放大电路供5V电源，同样也可以夹多个电源的夹子，以达到主备电源的目的。

输出信号接示波器的通道2，可以测量输出波形，从而和通道1的输入波形进行比对，判断输入输出波形的变化及放大倍数。

右下角为输出端共地测试点，主要是将输出信号与直流电源进行共地。直流电源夹子、示波器及电路板通过此的金属丝结构件进行共地操作，起到了稳定信号输出的作用。

本发明实施例提供的一种电路板的具体实施例，可以方便学生和老师进行实验操作，通常实验条件下，需要多个设备的夹子进行夹取，而传统的测试点太小，是适用于工业生产领域的，并不适合教学实验。本发明实施例的结构件能够连接多根导线以及多个设备的夹子，适合教学实验。

一个实施例中，本发明提供一种电子实验箱，包括上述实施例中的电路板。

一个实施例中，本发明提供一种电路板测试方法，如图3所示，包括以下步骤：

将上述任一实施例提供的用于电路测试的结构件安装在电路板上元器件的测试插孔及固定插孔上；

将测量仪器与结构件连接，对电路板上的元器件进行测试。

在具体应用中，如图4所示，将测量仪器的连接接头41连接到结构件42的连接部上，对电路板上的元器件43进行测试。

本发明实施例提供的一种电路板测试方法，测量仪器通过的金属丝结构件连接在电路板上，的金属丝结构件能够同时连接多个测量仪器的连接接头，方便测量电路板上的参数。

可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指至少两个。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行***执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种用于电路测试的结构件，其特征在于：所述结构件是一段弯折的金属丝，在进行电路测试时，所述金属丝一端与被测元器件的测试点连接，另一端固定在电路板上。

2.根据权利要求1所述的结构件，其特征在于：所述金属丝的两端各有一个弯折段，其中一个所述弯折段是与测试点连接的插脚，另一弯折段固定在电路板上，两个所述弯折段之间是用于与测量仪器连接接头连接的连接部。

3.根据权利要求2所述的结构件，其特征在于：述结构件整体呈凵型，其中一条侧边为所述插脚，底边为所述连接部。

4.根据权利要求3所述的结构件，其特征在于：所述插脚上设有限位凸起。

5.根据权利要求4所述的结构件，其特征在于：所述限位凸起由所述金属丝压扁一截形成，或由其他金属焊接形成。

6.根据权利要求4所述的结构件，其特征在于：所述结构件除凸起外的部分线径0.1cm，凵型侧边长0.3cm，底边长1cm。

7.一种电路板，其特征在于：设有至少一个元器件，每个所述元器件设有一个测试插孔和一个固定插孔，所述测试插孔和所述元器件的测试点连接，所述测试插孔和所述固定插孔分别用于***权利要求1-6任一项所述的用于电路测试的结构件两端。

8.一种电子实验箱，其特征在于：包括权利要求7所述的电路板。

9.一种电路板测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

将权利要求1-6任一项所述的用于电路测试的结构件安装在所述电路板上元器件的测试插孔及固定插孔上；

将测量仪器与所述结构件连接，对所述电路板上的元器件进行测试。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于：将测量仪器与所述结构件连接，对所述电路板上的元器件进行测试包括：将测量仪器的连接接头连接到所述结构件的连接部上。

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