CN109036236B - 阵列基板检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种阵列基板检测方法及检测装置，涉及显示技术领域，用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。阵列基板检测方法，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

Description

阵列基板检测方法及检测装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及阵列基板检测方法及检测装置。

背景技术

显示技术领域常用的显示面板包括OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机电致发光二极管)显示面板和LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示面板)。

以OLED显示面板为例，OLED显示面板具有薄、轻、宽视角、主动发光、发光颜色连续可调、成本低、高色域、高对比度、响应速度快、耗能小、驱动电压低、工作温度范围宽、生产工艺简单、发光效率高及可柔性显示等优点。

OLED显示面板在Array(阵列)段制程中，AT(Array Tester，阵列检测仪)会对形成的驱动薄膜晶体管(Driver Thin Film Transistor，简称DTFT)以及AA区(Ative Area，有效显示区)内的Pixel(像素)进行检测，并将缺陷种类、数量、位置等信息反馈产线，进而监控Array段工艺并不断改善，以此达到提高良率的目的。

然而，现有技术中的AT检测过程中，AT设备对阵列基板上每个Pixel进行测试，以确定发生短路的信号线的坐标，每张阵列基板测试时间大约为60分钟，导致阵列基板的测试效率低。

发明内容

本发明的实施例提供一种阵列基板检测方法及检测装置，用于改善现有技术中对阵列基板上的信号线进行良率测试的过程耗费时间长的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种阵列基板检测方法，包括：向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；获取每根所述数据线上的所述采集信号；根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

可选的，所述阵列基板检测方法还包括：向所述栅线逐行输入所述扫描开启信号之前，向阵列基板上的复位信号线输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

可选的，所述根据所述采集信号的突变，确定发生短路的所述数据线，包括：获取多个所述采集信号的平均值，将大于所述平均值的N倍的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

可选的，所述根据所述采集信号的突变，确定发生短路的所述数据线，包括：将大于设定值的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

第二方面，提供一种阵列基板检测装置，包括测试电压加载单元，用于向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；处理单元，用于在所述测试电压加载单元每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，对所述数据线上传输的电信号进行一次累计；电压采集单元，用于获取每根所述数据线上的所述采集信号；判断单元，用于根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

可选的，所述测试电压加载单元，还用于向阵列基板上的复位信号线输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

可选的，所述判断单元，具体用于将大于设定值的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

可选的，所述处理单元，还用于获取多个所述采集信号的平均值；所述判断单元，具体用于将大于所述平均值的N倍的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

第三方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在阵列基板检测装置上运行时，使得所述阵列基板检测装置执行第一方面所述的阵列基板检测方法。

第四方面，提供一种包含指令的计算机程序产品，当所述计算机程序产品在阵列基板检测装置上运行时，使得所述阵列基板检测装置执行第一方面所述的阵列基板检测方法。

本发明的实施例提供一种阵列基板检测方法及检测装置，通过仅在所有行栅线全部输入扫描开启信号后，获取数据线上最终形成的采集信号，通过一次检测就可以确定出数据线出现的不良数量以及位置。而并不是向一行栅线输入扫描开启信号，获取一次数据线上的电信号，获取多次数据线上的信号。实验表明，本发明实施例提供的阵列基板检测方法检测一张阵列基板所需的时间约为13分钟，仅为现有技术的21.67％。这样一来，可明显减少阵列基板的检测时间，从而提高了阵列基板的检出率，可增加阵列基板的监控数量，有助于提高产品良品率。

此外，经实验表明，选取某一型号的产品，进行多样本检测，通过本发明实施例提供的阵列基板检测方法检测出的问题产品与Final AT设备检测出的问题产品的匹配率高达89％左右，因此，利用本发明实施例提供的阵列基板检测方法对阵列基板进行检测，检测结果的准确率高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种阵列基板上的像素电路的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的阵列基板检测方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的阵列基板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的阵列基板的检测结果示意图；

图5为本发明实施例提供的发生短路的数据线在阵列基板中的位置示意图；

图6为本发明实施例提供的一种阵列基板检测装置的结构示意图。

附图标记：

T1-第一晶体管；T2-第二晶体管；T3-第三晶体管；T4第四晶体管；T5-第五晶体管；T6-第六晶体管；T7-第七晶体管；Cst-存储电容；L-自发光器件；VDD-电源线；VSS-接地线；Reset-复位信号线；Gate-栅线；Vdata-数据电压端；EM-使能信号线；Vinit-初始化电压端；Data-数据线；Data′-发生短路的数据线；10-测试电压加载单元；20-处理单元；30-电压采集单元；40-判断单元。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

以OLED显示面板为例，在显示面板的阵列(Array)段制程中，不可避免的会出现工艺误差，导致阵列基板出现点不良或线不良。其中，本领域技术人员通过对阵列基板进行Aging(老化)处理，来消除点不良引起的显示不良的问题，从而可减小阵列基板的点不良问题。然而，Aging处理无法解决线不良(目前主要是数据线的不良)的问题。

如图1所示，OLED显示面板通常包括用于传输数据电压的数据线Data、用于传输电源电压的电源线VDD、用于传输复位信号的复位信号线Reset等，受制备工艺的限制，数据线Data容易与电源线VDD或复位信号线Reset发生短路，导致OLED显示面板出现电学性不良，从而影响产品的良率。当然，数据线Data也可能与栅线Gate、公共电极线、其他数据线Data发生短路。为了解决线不良的问题，现有技术中通过AT设备对阵列基板内的每个像素进行检测，以确定发生不良的数据线Data。这样一来，每张阵列基板检测的时间比较长，极大的制约了阵列基板的监控数量。

图1中示意了一种常规的像素电路，具体的工作过程以及每个部件的功能可参考相关技术。

基于此，本发明实施例提供一种阵列基板检测方法，如图2所示，包括：

S10、向阵列基板上的多根栅线Gate逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线Data生成采集信号；其中，每向一根栅线Gate输入扫描开启信号，数据线Data上传输的电信号进行一次累计。

如图3所示，阵列基板上包括多根栅线Gate，在阵列基板检测过程中，向多根栅线Gate逐行输入扫描开启信号，例如可以通过GOA(Gate On Array，阵列基板行驱动)电路来完成。

每一行的栅线Gate上输入扫描开启信号后，阵列基板上的多根数据线Data上均会生成一次电信号，在向多根栅线Gate逐行输入扫描开启信号的过程中，对数据线Data上每次生成的电信号进行累计，最后一行栅线Gate输入扫描开启信号后，数据线Data上累计的电信号即为上述采集信号。

以图1所示的像素电路为例，栅线Gate输入扫描开启信号后，第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4开启，存储电容Cst上的电荷经第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4传输至数据线Data，数据线Data上会产生一个电信号，对该电信号进行累计，如此循环，直至向最后一行栅线Gate上输入扫描开启信号，数据线Data上累计的信号即为上述采集信号。

S20、获取每根数据线Data上的采集信号。

如图4所示，每根数据线Data上均会生成一个采集信号，图4中以阵列基板上包括n根数据线Data为例，结合数据线Data在阵列基板上的位置，对数据线Data进行编号，相当于数据线Data在阵列基板上的坐标。

本发明中仅获取最后的采集信号，对在向栅线Gate输入扫描开启信号的过程中，不获取数据线Data上的电信号，仅在所有栅线Gate均输入扫描开启信号后，在获取一次采集信号，减少信号的获取和分析次数。

S30、根据采集信号的突变，确定发生短路的数据线Data′以及发生短路的数据线Data′在阵列基板上的位置。

此处的突变是指明显异常与其他的采集信号，如图4所示，通过对数据线Data上的采集信号进行分析，即可得到发生突变的采集信号，将该发生突变的采集信号对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。如图5所示，可以根据发生短路的数据线Data′的序号得知发生短路的数据线Data′在阵列基板上的位置。

数据线Data发生短路，可以是数据线Data与数据线Data之间发生短路，也可以是数据线Data与栅线Gate发生短路、数据线Data与公共电极线发生短路、数据线Data与电源线VDD发生短路、数据线Data与复位信号线Reset发生短路等。图3中示意出了一种数据线Data与电源线VDD发生短路的情况。

其中，图3中的引脚(PAD)可对应连接AT设备，引脚通过级数转换器(MUX)与数据线Data连接，通过MUX的转换，一个引脚可对应连接多根数据线Data。

在一些实施例中，S30包括：

获取多个采集信号的平均值，将大于平均值的N倍的采集信号对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。

理论上来讲，数据线Data上的采集信号值应该相同，考虑工艺误差后，远远大于平均值的采集信号肯定为异常信号，与其对应的数据线Data为发生短路的数据线Data′。

其中，在对比采集信号和平均值时，仅对比数值的大小，不考虑正负。

在一些实施例中，S30包括：

将大于设定值的采集信号对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。

设定值可以根据经验选取，可以是固定值，也可以是变化值，结合具体产品确定。设定值的选取可以结合采集信号的阈值来选定，每个产品的阈值不同。阈值又叫临界值，是指一个效应能够产生的最低值或最高值。

如图4所示，在一些产品中，数据线Data上的采集信号的大小在10⁹⁹V～-10⁹⁹V之间，靠近或等于10⁹⁹V的采集信号即认定为发生突变，将其对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。

其中，在对比采集信号和设定值时，仅对比数值的大小，不考虑正负。

本发明实施例提供的阵列基板检测方法，通过仅在所有行栅线Gate全部输入扫描开启信号后，获取数据线Data上最终形成的采集信号，通过一次检测就可以确定出数据线Data出现的不良数量以及位置。而并不是向一行栅线Gate输入扫描开启信号，获取一次数据线Data上的电信号，获取多次数据线Data上的信号。实验表明，本发明实施例提供的阵列基板检测方法检测一张阵列基板所需的时间约为13分钟，仅为现有技术的21.67％。这样一来，可明显减少阵列基板的检测时间，从而提高了阵列基板的检出率，可增加阵列基板的监控数量，有助于提高产品良品率。

本发明实施例提供的阵列基板检测方法是在阵列基板上制备好电路结构后即对阵列基板进行检测，经实验表明，选取某一型号的产品，进行多样本检测，通过本发明实施例提供的阵列基板检测方法检测出的问题产品与Final AT设备(阵列基板的最后一次电学测试，此时阵列基板上的所有阵列结构均已制备完毕)检测出的问题产品的匹配率高达89％左右。因此，利用本发明实施例提供的阵列基板检测方法对阵列基板进行检测，检测结果的准确率高。

在此，后续的数据线Data修复过程与现有技术相同，例如可以将AOI(AutomaticOptic Inspection，自动光学检测)设备的测试结果和AT设备的测试结果相匹配，以对数据线Data短路位置进行维修，提升产品良率。

在一些实施例中，如图2所示，阵列基板检测方法还包括：

S05、向阵列基板上的复位信号线Reset输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

以图1所示的像素电路为例，复位信号线Reset输入开启信号后，第一晶体管T1打开，将初始化电压端Vinit的信号传输至存储电容Cst，对存储电容Cst进行初始化，也即对第三晶体管T3的栅极进行初始化。

在复位信号线Reset输入开启信号的过程中，栅线Gate没有输入扫描开启信号，此时数据线Data上不会产生信号，也不读取数据线Data上的信号。

存储电容Cst中会存在一些杂散电荷，影响检测的准确性，因此，本发明实施例提供的阵列基板检测方法在对数据线Data上的信号进行检测之前，先对像素电路进行初始化，以消除杂散电荷，可进一步提高检测的准确性。

本发明实施例还提供一种阵列基板检测装置，如图6所示，包括：

测试电压加载单元10，用于向阵列基板上的多根栅线Gate逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线Data生成采集信号。

处理单元20，用于在测试电压加载单元10每向一根栅线Gate输入扫描开启信号，对数据线Data上传输的电信号进行一次累计。

电压采集单元30，用于获取每根数据线Data上的采集信号。

判断单元40，用于根据采集信号的突变，确定发生短路的数据线Data′以及发生短路的数据线Data′在阵列基板上的位置。

在一些实施例中，判断单元40，具体用于将大于设定值的采集信号对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。

在一些实施例中，处理单元20，还用于获取多个采集信号的平均值。

判断单元40，具体用于将大于平均值的N倍的采集信号对应的数据线Data确定为发生短路的数据线Data′。

本发明实施例提供的阵列基板检测装置，通过仅在所有行栅线Gate全部输入扫描开启信号后，获取数据线Data上最终形成的采集信号，通过一次检测就可以确定出数据线Data出现的不良数量以及位置。而并不是向一行栅线Gate输入扫描开启信号，获取一次数据线Data上的电信号，获取多次数据线Data上的信号。实验表明，本发明实施例提供的阵列基板检测装置检测一张阵列基板所需的时间约为13分钟，仅为现有技术的21.67％。这样一来，可明显减少阵列基板的检测时间，从而提高了阵列基板的检出率，可增加阵列基板的监控数量，有助于提高产品良品率。

此外，经实验表明，选取某一型号的产品，进行多样本检测，通过本发明实施例提供的阵列基板检测装置检测出的问题产品与Final AT设备检测出的问题产品的匹配率高达89％左右，因此，利用本发明实施例提供的阵列基板检测装置对阵列基板进行检测，检测结果的准确率高。

为了消除杂散电荷对检测结果的影响，在一些实施例中，测试电压加载单元10，还用于向阵列基板上的复位信号线Reset输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

其中，测试电压加载单元10向栅线Gate逐行输入扫描开启信号之前，向复位信号线Reset输入开启信号。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当指令在阵列基板检测装置上运行时，使得阵列基板检测装置执行上述阵列基板检测方法。

本发明实施例还提供一种包含指令的计算机程序产品，当计算机程序产品在阵列基板检测装置上运行时，使得阵列基板检测装置执行上述阵列基板检测方法。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (9)

1.一种阵列基板检测方法，其特征在于，包括：

向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；其中，每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，所述数据线上传输的电信号进行一次累计；

获取每根所述数据线上的所述采集信号；

根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述阵列基板检测方法还包括：

向所述栅线逐行输入所述扫描开启信号之前，向阵列基板上的复位信号线输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

3.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述采集信号的突变，确定发生短路的所述数据线，包括：

获取多个所述采集信号的平均值，将大于所述平均值的N倍的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

4.根据权利要求1所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述采集信号的突变，确定发生短路的所述数据线，包括：

将大于设定值的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

5.一种阵列基板检测装置，其特征在于，包括：

测试电压加载单元，用于向阵列基板上的多根栅线逐行输入扫描开启信号，以使阵列基板上的数据线生成采集信号；

处理单元，用于在所述测试电压加载单元每向一根所述栅线输入所述扫描开启信号，对所述数据线上传输的电信号进行一次累计；

电压采集单元，用于获取每根所述数据线上的所述采集信号；

判断单元，用于根据所述采集信号的突变，确定发生短路的数据线以及所述发生短路的数据线在阵列基板上的位置。

6.根据权利要求5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述测试电压加载单元，还用于向阵列基板上的复位信号线输入开启信号，对阵列基板上的像素电路进行初始化。

7.根据权利要求5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述判断单元，具体用于将大于设定值的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

8.根据权利要求5所述的阵列基板检测装置，其特征在于，所述处理单元，还用于获取多个所述采集信号的平均值；

所述判断单元，具体用于将大于所述平均值的N倍的所述采集信号对应的所述数据线确定为所述发生短路的数据线。

9.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，其特征在于，当所述指令在阵列基板检测装置上运行时，使得所述阵列基板检测装置执行如权利要求1至4中任一项所述的阵列基板检测方法。

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