CN108389536A - Goa检测电路及检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种GOA检测电路及检测方法，用于检测GOA电路，GOA电路包括多个级联的GOA单元，所述GOA检测电路包括串联于每一级GOA单元后的薄膜晶体管及发光单元，其中，所述薄膜晶体管的栅极与GOA单元相连，漏极与发光单元的阳极相连，薄膜晶体管的源极和发光单元的阴极两端分别施加有电压。本发明在GOA单元后加入薄膜晶体管及发光单元，通过发光单元的发光情况能够检测当前级GOA单元输出正常或异常，能够精准判断面板上GOA单元输出异常的精确位置。

Description

GOA检测电路及检测方法
技术领域
本发明涉及电路检测技术领域，特别是涉及一种GOA检测电路及检测方法。
背景技术
阵列基板行驱动(GOA，Gate Driver OnArray或Gate OnArray)电路，是利用现有薄膜晶体管显示装置(TFT-LCD)阵列(Array)制程将栅线(Gate)行扫描驱动信号电路制作在阵列基板上，以实现对栅线逐行扫描的驱动方式的一项技术。
GOA技术能让Gate电路能集成在面板上，这样可以省去提供栅极电位信号的电路。对于柔性OLED显示器，由于需要补偿阈值电压Vth和迁移率Mobility，因而需要更多栅极信号，这样，从外部电路提供栅极信号变得非常困难。同时GOA的稳定性对于面板来说也是十分重要。GOA电路以级传的方式工作，如果GOA电路中一级出现问题，后续的GOA输出也会出现异常。
因此，针对上述技术问题，有必要提供一种GOA检测电路及检测方法。
发明内容
为克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种GOA检测电路及检测方法，以检测面板上GOA输出异常的精确位置。
为了实现上述目的，本发明一实施例提供的技术方案如下：
一种GOA检测电路，用于检测GOA电路，GOA电路包括多个级联的GOA单元，所述GOA检测电路包括串联于每一级GOA单元后的薄膜晶体管及发光单元，其中，所述薄膜晶体管的栅极与GOA单元相连，漏极与发光单元的阳极相连，薄膜晶体管的源极和发光单元的阴极两端分别施加有电压。
作为本发明的进一步改进，所述薄膜晶体管的源极一端施加有第一直流电压VDD，发光单元的阴极一端施加有第二直流电压VSS。
作为本发明的进一步改进，所述发光单元为OLED或LED。
作为本发明的进一步改进，所述GOA检测电路包括：
第一状态，GOA单元输出正常时输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元导通，发光单元发光；
第二状态，GOA单元输出异常时不输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元截止，发光单元不发光。
本发明另一实施例提供的技术方案如下：
一种GOA检测电路的GOA检测方法，所述GOA检测方法包括：
对GOA单元依次扫描，输出脉冲信号；
判断对应级GOA单元后的发光单元是否发光，若是，则判定该级GOA单元输出正常，若否，则判定该级GOA单元输出异常。
作为本发明的进一步改进，所述GOA单元输出异常时，该级GOA单元后的GOA单元所对应的发光单元均不发光。
作为本发明的进一步改进，所述GOA单元输出正常时，输出为低电平。
本发明在GOA单元后加入薄膜晶体管及发光单元，通过发光单元的发光情况能够检测当前级GOA单元输出正常或异常，能够精准判断面板上GOA单元输出异常的精确位置。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例1中GOA检测电路的示意图。
图2为本发明实施例2中GOA电路输出的脉冲信号波形图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
本发明公开了一种GOA检测电路，用于检测GOA电路，GOA电路包括多个级联的GOA单元，GOA检测电路包括串联于每一级GOA单元后的薄膜晶体管及发光单元，其中，薄膜晶体管的栅极与GOA单元相连，漏极与发光单元的阳极相连，薄膜晶体管的源极和发光单元的阴极两端分别施加有电压。
本发明还公开了一种GOA检测电路的GOA检测方法，该GOA检测方法包括：
对GOA单元依次扫描，输出脉冲信号；
判断对应级GOA单元后的发光单元是否发光，若是，则判定该级GOA单元输出正常，若否，则判定该级GOA单元输出异常。
以下结合具体实施例对本发明作进一步说明。
实施例1：
参图1所示，本实施例中的一种GOA检测电路，用于检测GOA电路，GOA电路包括多个级联的GOA单元，每一级的GOA单元用于对相应的扫描线充电，GOA单元的级数为N，AA为面板的显示区。
本实施例中以FHD(全高清，Full High Definition)面板为例进行说明，分辨率能达到1920*1080，包括N＝2160级GOA单元，GOA靠级传方式进行工作。图1中仅示出了其中三级GOA单元，分别为第n+1级、n级、n-1级。
本发明中的GOA检测电路包括串联于每一级GOA单元后的薄膜晶体管及发光单元。
具体地，第n+1级GOA单元后串联有薄膜晶体管T3和发光单元OLED3，薄膜晶体管T3的栅极与第n+1级GOA单元输出端相连，薄膜晶体管T3的漏极与发光单元OLED3的阳极相连，薄膜晶体管T3的源极和发光单元OLED3的阴极两端分别施加有第一直流电压VDD和第二直流电压VSS。
第n级GOA单元后串联有薄膜晶体管T2和发光单元OLED2，薄膜晶体管T2的栅极与第n级GOA单元输出端相连，薄膜晶体管T2的漏极与发光单元OLED2的阳极相连，薄膜晶体管T2的源极和发光单元OLED2的阴极两端分别施加有第一直流电压VDD和第二直流电压VSS。
第n-1级GOA单元后串联有薄膜晶体管T1和发光单元OLED1，薄膜晶体管T1的栅极与第n-1级GOA单元输出端相连，薄膜晶体管T1的漏极与发光单元OLED1的阳极相连，薄膜晶体管T1的源极和发光单元OLED1的阴极两端分别施加有第一直流电压VDD和第二直流电压VSS。
应当理解的是，上述说明仅针对第n+1级、n级、n-1级GOA单元的检测电路进行，整个GOA检测电路是针对整个GOA电路的，即在N级GOA单元后均对应设有薄膜晶体管及发光单元，以实现所有GOA单元的检测。
其中，本实施例中的发光单元以OLED为例进行说明，在其他实施例中，发光单元也可以采用LED等，只要能实现发光闪烁的发光单元均属于本发明所保护的范围。
当GOA检测电路进行检测时，GOA单元包括正常状态和异常状态，分别为：
第一状态(正常状态)，GOA单元输出正常时输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元导通，发光单元发光；
第二状态(异常状态)，GOA单元输出异常时不输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元截止，发光单元不发光。
实施例2：
本实施例中的GOA检测方法依据实施例1中的GOA检测电路进行，GOA检测方法包括：
对GOA单元依次扫描，输出脉冲信号；
判断对应级GOA单元后的发光单元是否发光，若是，则判定该级GOA单元输出正常，若否，则判定该级GOA单元输出异常。
其中，GOA单元输出异常时，该级GOA单元后的GOA单元所对应的发光单元均不发光。
例如，图2为本实施例中GOA单元输出的脉冲信号波形图，包括3个阶段：
阶段1，第n+1级GOA单元输出正常时，在阶段1输出为低电平，此时薄膜晶体管T3打开，薄膜晶体管T2和T1截止，VDD通过薄膜晶体管T3的源极传入到发光单元OLED3的阳极，此时发光单元OLED3发光，发光单元OLED2和OLED1不发光。
阶段2，第n级GOA单元输出正常时，在阶段2输出为低电平，此时薄膜晶体管T2打开，薄膜晶体管T3和T1截止，VDD通过薄膜晶体管T2的源极传入到发光单元OLED2的阳极，此时发光单元OLED2发光，发光单元OLED3和OLED1不发光。
阶段3，第n-1级GOA单元输出异常时，在阶段3不输出低电平，此时薄膜晶体管T1无法打开，VDD无法通过薄膜晶体管T1的源极传入到发光单元OLED1的阳极，此时发光单元OLED1发光。
如在阶段3中，第n-1级GOA单元输出正常时，在阶段3输出应为低电平，此时薄膜晶体管T1打开，薄膜晶体管T3和T2截止，VDD通过薄膜晶体管T1的源极传入到发光单元OLED1的阳极，此时发光单元OLED1发光，发光单元OLED3和OLED2不发光。
如此，经过阶段1～阶段3的检测，可以判定第n+1级和第n级GOA单元输出正常，第n-1级GOA单元输出异常。
进一步地，通过以上方式实现第N级～第1级GOA单元输出正常或异常的检测，扫描的顺序可以从第N级依次扫描至第1级。
如在FHD面板中，在2160级GOA单元传递过程中，依据此方式，GOA单元输出正常时，GOA单元所连接的OLED会不断的闪烁，而输出异常的GOA单元所连接的OLED呈现不发光的状态，且从异常GOA单元往后的GOA单元因级传出现问题，后续GOA单元所连接的OLED也会不发光。以此方式进行GOA电路的检测，以精准判断面板上GOA单元输出异常的精确位置。
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：
在GOA单元后加入薄膜晶体管及发光单元，通过发光单元的发光情况能够检测当前级GOA单元输出正常或异常，能够精准判断面板上GOA单元输出异常的精确位置；
将GOA检测电路与GOA电路结合在一起，能够减少GOA数量，有利于窄边框的设计。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (7)

1.一种GOA检测电路，用于检测GOA电路，GOA电路包括多个级联的GOA单元，其特征在于，所述GOA检测电路包括串联于每一级GOA单元的薄膜晶体管及发光单元，其中，所述薄膜晶体管的栅极与GOA单元相连，所述薄膜晶体管的漏极与发光单元的阳极相连，所述薄膜晶体管的源极和发光单元的阴极两端分别施加有电压。
2.根据权利要求1所述的GOA检测电路，其特征在于，所述薄膜晶体管的源极一端施加有第一直流电压VDD，发光单元的阴极一端施加有第二直流电压VSS。
3.根据权利要求1所述的GOA检测电路，其特征在于，所述发光单元为OLED或LED。
4.根据权利要求1所述的GOA检测电路，其特征在于，所述GOA检测电路包括：
第一状态，GOA单元输出正常时输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元导通，发光单元发光；
第二状态，GOA单元输出异常时不输出低电平，对应的薄膜晶体管和发光单元截止，发光单元不发光。
5.一种如权利要求1～4中任一项所述的GOA检测电路的GOA检测方法，其特征在于，所述GOA检测方法包括：
对GOA单元依次扫描，输出脉冲信号；
判断对应级GOA单元后的发光单元是否发光，若是，则判定该级GOA单元输出正常，若否，则判定该级GOA单元输出异常。
6.根据权利要求5所述的GOA检测方法，其特征在于，所述GOA单元输出异常时，该级GOA单元后的GOA单元所对应的发光单元均不发光。
7.根据权利要求5所述的GOA检测方法，其特征在于，所述GOA单元输出正常时，输出为低电平。
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