CN111445841B - 显示装置及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

一种显示装置，包括：显示基板、N个级联的栅极驱动单元以及N个第一检测电路；其中，N个栅极驱动单元设置在显示基板上，第i个栅极驱动单元的输出端与第i+1个栅极驱动单元的输入端连接；第n个第一检测电路与第n个栅极驱动单元的输出端连接，用于指示前n个栅极驱动单元的信号传输情况。其中，N为大于0的整数，i为大于0且小于N的整数，n为大于0且小于或等于N的整数。

Description

显示装置及其检测方法
技术领域
本文涉及但不限于显示技术领域，尤指一种显示装置及其检测方法。
背景技术
随着显示设备的窄边框发展趋势，对于设置在显示设备两侧边框区域的栅极驱动电路，没有单独设置印制电路板(PCB，Printed Circuit Board)给栅极驱动电路提供电信号，通常采用位于源极驱动电路一侧的印制电路板通过边框区域的栅极链接驱动(PLG，Propel Link Gate)走线给栅极驱动电路提供电信号。在边框区域的栅极驱动电路出现异常时，无法锁定出现异常的区域，通常会对整个边框区域进行操作，例如，将边框区域的全部栅极覆晶薄膜祛除进行重新绑定，以判断异常是否与绑定工艺有关。
发明内容
本公开提供了一种显示装置及其检测方法。
一方面，本公开提供了一种显示装置，包括：显示基板、N个级联的栅极驱动单元以及N个第一检测电路；其中，所述N个栅极驱动单元设置在所述显示基板上，第i个栅极驱动单元的输出端与第i+1个栅极驱动单元的输入端连接；第n个第一检测电路与第n个栅极驱动单元的输出端连接，用于指示前n个栅极驱动单元的信号传输情况；其中，N为大于0的整数，i为大于0且小于N的整数，n为大于0且小于或等于N的整数。
另一方面，本公开提供了一种显示装置的检测方法，应用于如上所述的显示装置，所述检测方法，包括：向第一个栅极驱动单元提供初始输入信号；根据N个第一检测电路的指示结果，确定信号传输存在异常的栅极驱动单元。
本公开提供的显示装置，通过在每个栅极驱动单元的输出端连接第一检测电路，可以实现独立判断每个栅极驱动单元的信号传输情况，从而提高显示装置的检测效率和维修效率。
本公开的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本公开而了解。本公开的其他优点可通过在说明书以及附图中所描述的方案来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本公开技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。
图1为本公开至少一实施例的显示装置的示意图；
图2为本公开至少一实施例的显示装置的一示例图；
图3为本公开至少一实施例的显示装置的另一示例图；
图4为本公开至少一实施例的显示装置的另一示例图；
图5为本公开至少一实施例的显示装置的另一示例图。
具体实施方式
本公开描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本公开所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。
本公开包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本公开已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的方案。因此，应当理解，在本公开中示出或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行一种或多种修改和改变。
此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本公开实施例的精神和范围内。
在附图中，有时为了明确起见，夸大表示了构成要素的大小、层的厚度或区域。因此，本公开的一个方式并不一定限定于该尺寸，附图中每个部件的形状和大小不反映真实比例。此外，附图示意性地示出了理想的例子，本公开的一个方式不局限于附图所示的形状或数值等。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或科学术语为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。本公开中，“多个”可以表示两个或两个以上的数目。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
在本公开中，“连接”、“耦接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“电性的连接”包括构成要素通过具有某种电作用的元件连接在一起的情况。“具有某种电作用的元件”只要可以进行连接的构成要素间的电信号的授受，就对其没有特别的限制。“具有某种电作用的元件”的例子不仅包括电极和布线，而且可以包括晶体管等开关元件、电阻器、电感器、电容器、其它具有一种或多种功能的元件等。
在本公开中，晶体管是指至少包括栅电极、漏电极以及源电极这三个端子的元件。晶体管在漏电极(漏电极端子、漏区域或漏电极)与源电极(源电极端子、源区域或源电极)之间具有沟道区域，并且电流能够流过漏电极、沟道区域以及源电极。在本公开中，沟道区域是指电流主要流过的区域。
在使用极性相反的晶体管的情况或电路工作中的电流方向变化等情况下，“源电极”及“漏电极”的功能有时互相调换。因此，在本公开中，“源电极”和“漏电极”可以互相调换。示例性地，本公开中使用的薄膜晶体管可以是低温多晶硅薄膜晶体管或氧化物(Oxide)薄膜晶体管。薄膜晶体管可以为P型晶体管，或者可以为N型晶体管。
为了保持本公开实施例的以下说明清楚且简明，本公开省略了部分已知功能和已知部件的详细说明。本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
本公开实施例提供一种显示装置及其检测方法，可以实现独立判断每个栅极驱动单元的信号传输情况，从而提升显示装置的检测效率和维修效率。
本公开实施例提供一种显示装置，包括：显示基板、N个级联的栅极驱动单元以及N个第一检测电路。其中，N个栅极驱动单元设置在显示基板上。第i个栅极驱动单元的输出端与第i+1个栅极驱动单元的输入端连接。第n个第一检测电路与第n个栅极驱动单元的输出端连接，用于指示前n个栅极驱动单元的信号传输情况。其中，N为大于0的整数，i为大于0且小于N的整数，n为大于0且小于或等于N的整数。
本实施例中，显示基板可以为发光二极管(LED，Light Emitting Diode)显示基板、有机发光二极管(OLED，Organic Light Emitting Diode)显示基板或液晶显示(LCD，Liquid Crystal Display)基板。本实施例对此并不限定。
本实施例提供的显示装置可以为手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。本实施例对此并不限定。
在一些示例性实施方式中，显示装置还可以包括：N个栅极覆晶薄膜，任一栅极驱动单元可以通过一个栅极覆晶薄膜设置在显示基板。覆晶薄膜(COF，Chip On Film)为将集成电路(IC，Integrated Circuit)固定于柔性线路板上的晶粒软膜。栅极驱动单元可以通过栅极覆晶薄膜绑定至显示基板，用于给显示基板上的栅线提供栅极驱动信号。本示例性实施例提供的显示装置，可以独立判断每个栅极覆晶薄膜的信号传输情况，在维修过程中可以针对信号传输异常的栅极覆晶薄膜进行重新绑定或修复处理，从而可以提高栅极覆晶薄膜的检测效率和维修效率，并改善由于误操作导致的栅极覆晶薄膜浪费问题。
图1为本公开至少一实施例的显示装置的示意图。如图1所示，本示例性实施例的显示装置可以包括：显示基板、设置在显示基板上的N个级联的栅极驱动单元G1至GN、以及N个第一检测电路D1至DN。
在本示例性实施例中，图1仅示意了位于显示基板的一侧边框区域(例如，左侧边框区域)的N个栅极驱动单元。在显示基板的右侧边框区域同样可以设置N个级联的栅极驱动单元，并提供N个第一检测电路对右侧边框区域的N个级联的栅极驱动单元进行检测。本实施例对此并不限定。
在本示例性实施例中，N个栅极驱动单元可以按照级联顺序依次编号，且编号连续的栅极驱动单元的位置可以相邻。例如，在图1中，N个栅极驱动单元可以从下向上传输信号，则可以从下向上编号。然而，本实施例对此并不限定。在一些示例中，N个栅极驱动单元可以从上向下传输信号，则可以从上向下编号。
在本示例性实施例中，第一个栅极驱动单元G1的输入端IN1可以与初始信号输入端IN连接，第i个栅极驱动单元Gi的输出端OUTi可以与第i+1个栅极驱动单元Gi+1的输入端INi+1连接。其中，i可以为大于0且小于N的整数，N可以为大于0的整数。初始信号输入端IN可以位于显示基板。然而，本实施例对此并不限定。在一些示例中，初始信号输入端IN可以位于与显示基板连接的印制电路板上。
在本示例性实施例中，N个栅极驱动单元可以直接设置在显示基板上，或者，每个栅极驱动单元可以通过一个栅极覆晶薄膜设置在显示基板上。设置有栅极驱动电路的栅极覆晶薄膜可以与显示基板连接，用于通过显示基板上的PLG接收输入信号，并向显示基板上的栅线提供栅极驱动信号。然而，本实施例对此并不限定。
在本示例性实施例中，每个栅极驱动单元可以包括多个级联的移位寄存器单元，任一级的移位寄存器单元的输出端与下一级移位寄存器单元的输入端连接。栅极驱动单元的输入端可以为其中包括的第一级移位寄存器单元的输入端，栅极驱动单元的输出端可以为其中包括的最后一级移位寄存器单元的输出端。换言之，本示例性实施例可以将多个级联的移位寄存器单元分为多个组，每一组可以作为一个栅极驱动单元。显示基板可以包括交叉设置的多条栅线和多条数据线，每一级移位寄存器单元的输出端可以与一条栅线连接，用于给该栅线提供栅极驱动信号。
在本示例性实施例中，第n个第一检测电路Dn可以用于指示前n个栅极驱动单元的信号传输情况。其中，n可以为大于0且小于或等于N的整数。如此一来，根据多个第一检测电路的指示情况，可以确定信号传输存在异常的栅极驱动单元。例如，当第n个第一检测单元Dn指示前n个栅极驱动单元的信号传输正常，且第n+1个第一检测单元Dn+1指示前n+1个栅极驱动单元的信号传输异常，则可以锁定第n+1个栅极驱动单元Gn+1的信号传输存在异常。在一些示例中，当栅极驱动单元通过栅极覆晶薄膜设置在显示基板时，可以根据多个第一检测电路的指示情况，判断每个独立的栅极覆晶薄膜的信号传输情况，从而可以锁定单个存在异常的栅极覆晶薄膜所在的区域，检查显示基板上连通锁定的栅极覆晶薄膜的走线，或对存在异常的栅极覆晶薄膜进行重新绑定操作。如此一来，可以节约显示装置的修复时间和人力成本，提高维修效率。
在一些示例性实施方式中，第i个第一检测电路可以包括：开关单元和指示单元。其中，第i个第一检测电路的开关单元可以分别与第i个栅极驱动单元的输出端、指示信号输入端以及第i个第一检测电路的指示单元连接，用于在第i个栅极驱动单元的输出端的控制下，向指示单元提供指示信号输入端的信号。其中，i为大于0且小于N的整数。第N个第一检测电路可以包括：指示单元，该指示单元可以与第N个栅极驱动单元的输出端连接。
图2为本公开至少一实施例的显示装置的一种示例图。如图2所示，在本示例性实施例中，第i个第一检测电路可以包括：一个开关单元和一个指示单元。第i个第一检测电路的开关单元可以分别与第i个栅极驱动单元Gi的输出端OUTi、指示信号输入端BL以及对应的指示单元连接，用于在第i个栅极驱动单元Gi的输出端OUTi的控制下，向对应的指示单元提供指示信号输入端BL的信号。其中，第i个第一检测电路的开关单元可以包括开关晶体管Ti。开关晶体管Ti的控制极可以与对应的栅极驱动单元Gi的输出端OUTi连接，开关晶体管Ti的第一极可以与指示信号输入端BL连接，开关晶体管Ti的第二极可以与对应的指示单元连接。第i个第一检测电路的指示单元可以包括：一个发光二极管(LED，Light EmittingDiode)Li。i可以为大于或0且小于N的整数。在一些示例中，指示单元可以包括其他类型的具有指示功能的器件，例如其他类型的指示灯。本实施例对此并不限定。
需要说明的是，图2中示出了开关单元的示例性结构。本领域技术人员容易理解是，开关单元的实现方式不限于此，只要能够实现其功能即可。
在本示例性实施例中，第N个第一检测电路可以包括一个指示单元，该指示单元可以与第N个栅极驱动单元GN的输出端OUTN连接。如图2所示，第N个第一检测电路的指示单元可以包括发光二极管LN。
在本示例性实施例中，指示信号传输端BL的信号可以用于点亮发光二极管。指示信号传输端BL可以设置在显示基板上，且指示信号传输端BL的信号可以由显示基板提供。然而，本实施例对此并不限定。在一些示例中，指示信号传输端的信号可以由与显示基板连接的印制电路板提供。
在本示例性实施例中，当第i个第一检测电路的发光二极管Li被点亮，则说明前i个级联的栅极驱动单元的信号传输正常，当第i个第一检测电路的发光二极管Li不亮，则说明前i个级联的栅极驱动单元的信号传输存在异常。如此一来，根据N个第一检测电路的发光二极管被点亮的情况，可以快速识别存在信号传输异常的栅极驱动单元。例如，当第i个第一检测电路的发光二极管Li被点亮，第i+1个第一检测电路的发光二极管Li+1不亮，则说明第i+1个栅极驱动单元的信号传输存在异常。本示例性实施例的显示装置的检测方式简单快捷，可以节约时间和人力，从而提高显示装置的检测效率。
关于本示例性实施例的显示装置的其他结构可以参照上述实施例的说明，故于此不再赘述。
本示例性实施例提供的显示装置，通过在栅极驱动单元之间增加第一检测电路，逐个检测栅极驱动单元的信号传输情况，并通过指示单元指示信号传输情况，从而可以快速定位存在异常的栅极驱动单元，以便于后续简单快捷地解决栅极驱动单元的异常问题，可以节约时间和人力。
在一些示例性实施方式中，第n个第一检测电路可以包括：开关单元和指示单元。其中，第n个第一检测电路的开关单元可以分别与第n个栅极驱动单元的输出端、指示信号输入端以及对应的指示单元连接，用于在第n个栅极驱动单元的输出端的控制下，向指示单元提供指示信号输入端的信号。其中，n可以为大于0且小于或等于N的整数。
图3为本公开至少一实施例的显示装置的一种示例图。如图3所示，在本示例性实施例中，第n个第一检测电路可以包括：一个开关单元和一个指示单元。第n个第一检测电路的开关单元可以分别与第n个栅极驱动单元Gn的输出端OUTn、指示信号输入端BL以及对应的指示单元连接，用于在第n个栅极驱动单元Gn的输出端OUTn的控制下，向对应的指示单元提供指示信号输入端BL的信号。其中，第n个第一检测电路的开关单元可以包括开关晶体管Tn。开关晶体管Tn的控制极可以与对应的栅极驱动单元Gn的输出端OUTn连接，开关晶体管Tn的第一极可以与指示信号输入端BL连接，开关晶体管Tn的第二极可以与对应的指示单元连接。第n个第一检测电路的指示单元可以包括一个发光二极管Ln。其中，n可以为大于0且小于或等于N的整数。
在本示例性实施例中，根据N个第一检测电路的发光二极管被点亮的情况，可以快速识别存在信号传输异常的栅极驱动单元，从而可以节约检测时间和人力，提高检测效率。
关于本示例性实施例的显示装置的其他结构可以参照上述实施例的说明，故于此不再赘述。
在一些示例性实施方式中，显示装置还可以包括：源极覆晶薄膜以及印制电路板。其中，印制电路板可以通过源极覆晶薄膜与显示基板连接。N个第一检测电路可以位于显示基板、源极覆晶薄膜以及印制电路板中的至少一项上。在一些示例中，N个第一检测电路可以均位于显示基板、源极覆晶薄膜或者印制电路板上。在一些示例中，N个第一检测电路的开关单元可以位于显示基板，N个第一检测电路的指示单元可以位于源极覆晶薄膜或印制电路板上。在一些示例中，N个第一检测电路的开关单元可以位于源极覆晶薄膜上，N个第一检测电路的指示单元可以位于印制电路板上。然而，本实施例对此并不限定。
在一些示例性实施例中，源极覆晶薄膜可以包括：第一传输信号输入端和第一传输信号输出端。第一个栅极驱动单元的输入端可以与源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端连接，源极覆晶薄膜的第一传输信号输入端可以与印制电路板连接。印制电路板可以通过源极覆晶薄膜向第一个栅极驱动单元提供初始输入信号。显示装置还可以包括：第二检测电路。第二检测电路可以与源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端连接，用于指示源极覆晶薄膜的信号传输情况。
在一些示例性实施方式中，第二检测电路可以包括：开关单元和指示单元。第二检测电路的开关单元可以与源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端、指示信号输入端以及对应的指示单元连接，用于在源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端的控制下，向该指示单元提供指示信号输入端的信号。
在一些示例性实施方式中，源极覆晶薄膜可以包括：第二传输信号输入端和第二传输信号输出端。第N个栅极驱动单元的输出端可以与源极覆晶薄膜的第二传输信号输入端连接。显示装置还可以包括：第二检测电路；第二检测电路可以包括：与源极覆晶薄膜的第二传输信号输出端连接的指示单元。
图4为本公开至少一实施例的显示装置的一种示例图。在本示例性实施例中，以位于显示基板10左侧边框区域的三个栅极驱动单元为例进行说明。如图4所示，本示例性实施例的显示装置，可以包括：显示基板10、三个分别设置栅极驱动单元的栅极覆晶薄膜C1至C3、源极覆晶薄膜S1、三个第一检测电路以及一个第二检测电路。其中，一个栅极驱动单元可以通过一个栅极覆晶薄膜设置在显示基板10上。三个栅极覆晶薄膜可以按照栅极驱动单元的级联顺序依次编号，且编号连续的栅极覆晶薄膜的位置可以相邻。在本示例中，三个栅极覆晶薄膜可以按照从下往上的编号顺序传输信号。
在本示例性实施例中，源极覆晶薄膜S1的一端可以与印制电路板20连接，用于接收印制电路板20提供的信号，另一端可以与显示基板10连接，用于向显示基板10上的PLG走线提供用于栅极驱动的初始输入信号，以及向显示基板10上设置的多条数据线提供数据信号。在本示例中，源极覆晶薄膜的数目可以为多个。图4中仅绘示一个源极覆晶薄膜进行说明。在本示例性实施例中，通过左侧第一个源极覆晶薄膜S1给位于左侧边框区域的多个栅极驱动单元传输信号。然而，本实施例对此并不限定。
需要说明的是，在本示例性实施例的显示基板的右侧边框区域同样可以设置多个栅极覆晶薄膜，每个栅极覆晶薄膜上设置一个栅极驱动单元，并设置多个第一检测电路用于检测右侧边框区域的栅极驱动单元。对于右侧边框区域的多个栅极驱动单元，可以通过右侧第一个源极覆晶薄膜传输信号。本实施例对此并不限定。
在本示例性实施例中，位于第一个栅极覆晶薄膜C1上的栅极驱动单元的输入端IN1可以通过显示基板10的走线以及源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的初始信号输入端IN连接。位于第一个栅极覆晶薄膜C1上的栅极驱动单元的输出端OUT1可以与位于第二个栅极覆晶薄膜C2上的栅极驱动单元的输入端IN1连接；位于第二个栅极覆晶薄膜C2上的栅极驱动单元的输出端OUT2可以与位于第三个栅极覆晶薄膜C3上的栅极驱动单元的输入端IN3连接。
在本示例性实施例中，第一个第一检测电路可以包括：一个开关晶体管T1和一个发光二极管L1；第二个第一检测电路可以包括：一个开关晶体管T2和一个发光二极管L2；第三个第一检测电路可以包括：一个发光二极管L3。其中，开关晶体管T1至T3可以位于显示基板10上，发光二极管L1至L3可以位于印制电路板20上。然而，本实施例对此并不限定。比如，多个第一检测电路的开关晶体管和发光二极管可以均位于源极覆晶薄膜S1上，或者，可以均位于印制电路板20上。
在本示例性实施例中，开关晶体管T1的控制极可以与位于第一个栅极覆晶薄膜C1上的栅极驱动单元的输出端OUT1连接，开关晶体管T1的第一极可以与指示信号输入端BL连接，开关晶体管T1的第二极可以通过源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的发光二极管L1连接。开关晶体管T2的控制极可以与位于第二个栅极覆晶薄膜C2上的栅极驱动单元的输出端OUT2连接，开关晶体管T2的第一极可以与指示信号输入端BL连接，开关晶体管T2的第二极可以通过源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的发光二极管L2连接。位于第三个栅极覆晶薄膜C3上的栅极驱动单元的输出端OUT3可以通过显示基板10上的走线以及源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的发光二极管L3连接。然而，本实施例对于连接发光二极管的走线方式并不限定。在一些示例中，位于第三个栅极覆晶薄膜C3上的栅极驱动单元的输出端OUT3可以通过栅极覆晶薄膜C1至C3上的走线与源极覆晶薄膜S1连接，并通过源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的发光二极管L3连接。如此一来，可以减少占用显示基板10内的走线空间。
在本示例性实施例中，第二检测电路可以包括：一个开关晶体管Ts和一个发光二极管Ls。其中，开关晶体管Ts可以位于显示基板10上，发光二极管Ls可以位于印制电路板20上。然而，本实施例对此并不限定。比如，第二检测电路的开关晶体管和发光二极管可以均位于源极覆晶薄膜S1上，或者，均位于印制电路板20上。
在本示例性实施例中，开关晶体管Ts的控制极可以与源极覆晶薄膜S1的第一传输信号输出端连接，开关晶体管Ts的第一极可以与指示信号输入端BL连接，开关晶体管Ts的第二极可以通过源极覆晶薄膜S1与位于印制电路板20上的发光二极管L1连接。源极覆晶薄膜S1的第一传输信号输入端可以与印制电路板20上的初始信号输入端IN连接，用于向位于第一个栅极覆晶薄膜C1上的栅极驱动单元的输入端IN1提供初始输入信号。
在本示例性实施例中，指示信号输入端BL的信号可以由显示基板10提供，用于提供点亮发光二极管。然而，本实施例对此并不限定。在一些示例中，指示信号输入端的信号可以由源极覆晶薄膜提供，或者，可以由印制电路板20提供。
在本示例性实施例中，以开关晶体管T1至T2及Ts为N型晶体管为例进行说明。当位于第一个栅极覆晶薄膜C1的栅极驱动单元输出高电平信号时，开关晶体管T1导通，可以导通提供高电平信号的指示信号输入端BL和发光二极管L1，以点亮发光二极管L1。同理，当位于第二个栅极覆晶薄膜C2的栅极驱动单元输出高电平信号时，可以导通开关晶体管T2，点亮发光二极管L2。当源极覆晶薄膜S1的第一传输信号输出端输出高电平信号时，可以导通开关晶体管Ts，点亮发光二极管Ls。当位于第三个栅极覆晶薄膜C3的栅极驱动单元输出高电平信号时，可以直接点亮发光二极管L3。
在本示例性实施例中，发光二极管L3被点亮，代表三个栅极覆晶薄膜和给栅极驱动单元传输初始输入信号的源极覆晶薄膜S1的信号传输均正常。发光二极管Ls被点亮，代表源极覆晶薄膜S1的信号传输正常；发光二极管Ls和L1均被点亮，代表源极覆晶薄膜S1和第一个栅极覆晶薄膜C1的信号传输正常；发光二极管Ls、L1和L2均被点亮，代表源极覆晶薄膜S1、第一个栅极覆晶薄膜C1和第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输正常。当发光二极管Ls被点亮，且发光二极管L1至L3均未被点亮，则代表源极覆晶薄膜S1的信号传输正常，第一个栅极覆晶薄膜C1的信号传输存在异常。当发光二极管Ls和L1被点亮，且发光二极管L2至L3均未被点亮，则代表源极覆晶薄膜S1和第一个栅极覆晶薄膜C1的信号传输正常，第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输存在异常。当发光二极管Ls、L1和L2被点亮，且发光二极管L3未被点亮，则代表源极覆晶薄膜S1、第一个栅极覆晶薄膜C1以及第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输正常，第三个栅极覆晶薄膜C3的信号传输存在异常。后续可以锁定存在异常的单个覆晶薄膜，可以检查显示基板上连通该锁定的覆晶薄膜的走线是否存在问题，以及将单个覆晶薄膜进行祛除再重新进行绑定，以检查异常是否和覆晶薄膜的绑定工艺有关。如此一来，在通过第一检测电路检测到信号传输异常时，可以有针对性地对异常区域进行检测和维修，从而节约时间并降低成本。
在一些示例中，可以先检测多个源极覆晶薄膜的信号传输情况，在多个源极覆晶薄膜的信号传输正常后，再检测栅极覆晶薄膜的信号传输情况。关于源极覆晶薄膜的信号传输情况的检测方式本实施例并不限定。在本示例中，可以无需设置第二检测电路，仅通过第一检测电路指示栅极覆晶薄膜的信号传输情况即可。然而，本实施例对此并不限定。
本实施方式所示的结构可以与其它实施方式所示的结构适当地组合。
本示例性实施例中，根据多个发光二极管的点亮情况，可以用于判定覆晶薄膜的绑定接触是否存在问题以及覆晶薄膜与显示基板之间的走线是否存在异常，可以快速锁定信号传输存在异常的覆晶薄膜所在区域。如此一来，可以提高对覆晶薄膜的维修效率，节省时间和人力，而且可以降低由于异常覆晶薄膜锁定错误导致的误祛除覆晶薄膜带来的浪费问题。另外，根据多个发光二极管的亮度，还可以判定对应的覆晶薄膜绑定的接触阻抗，降低长期导通发热带来的覆晶薄膜脱附等潜在不良。
图5为本公开至少一实施例的显示装置的一种示例图。在本示例性实施例中，三个栅极覆晶薄膜可以按照从上往下的编号顺序传输信号。如图5所示，第一个第一检测电路可以包括：一个开关晶体管T1和一个发光二极管L1；第二个第一检测电路可以包括：一个开关晶体管T2和一个发光二极管L2；第三个第一检测电路可以包括：一个开关晶体管T2和一个发光二极管L3。第二个检测电路可以包括：一个发光二极管Ls。源极覆晶薄膜S1可以包括：第二传输信号输入端和第二传输信号输出端。第二传输信号输入端可以与位于第三个栅极覆晶薄膜G3上的栅极驱动单元的输出端OUT3连接，第二传输信号输出端可以与位于印制电路板20上的发光二极管Ls连接。
在本示例性实施例中，初始信号输入端IN可以位于显示基板10上，初始信号输入端IN的信号可以由印制电路板20向显示基板10提供。其中，印制电路板20可以通过任一源极覆晶薄膜向显示基板的初始信号输入端IN提供信号。然而，本实施例对此并不限定。
在本示例性实施例中，以开关晶体管T1至T3为N型晶体管为例进行说明。当位于第一个栅极覆晶薄膜C1的栅极驱动单元输出高电平信号时，开关晶体管T1导通，可以导通提供高电平信号的指示信号输入端BL和发光二极管L1，以点亮发光二极管L1。同理，当位于第二个栅极覆晶薄膜C2的栅极驱动单元输出高电平信号时，可以导通开关晶体管T2，点亮发光二极管L2；当位于第三个栅极覆晶薄膜C3的栅极驱动单元输出高电平信号时，可以导通开关晶体管T3，点亮发光二极管L3。当源极覆晶薄膜S1的第二传输信号输出端输出高电平时，直接点亮发光二极管Ls。
在本示例性实施例中，发光二极管Ls被点亮，代表三个栅极覆晶薄膜和源极覆晶薄膜S1的信号传输均正常。发光二极管L1被点亮，代表第一个栅极覆晶薄膜C1的信号传输正常；发光二极管L1和L2均被点亮，代表第一个栅极覆晶薄膜C1和第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输正常；发光二极管L1、L2和L3均被点亮，代表第一个栅极覆晶薄膜C1至第三个栅极覆晶薄膜C3的信号传输正常。当发光二极管L1被点亮，且发光二极管L2、L3及Ls均未被点亮，则代表第一个栅极覆晶薄膜C1的信号传输正常，第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输存在异常。当发光二极管L1和L2被点亮，且发光二极管L3和Ls均未被点亮，则代表第一个栅极覆晶薄膜C1和第二个栅极覆晶薄膜C2的信号传输正常，第三个栅极覆晶薄膜C3的信号传输存在异常。当发光二极管L1、L2和L3被点亮，且发光二极管Ls未被点亮，则代表第一个栅极覆晶薄膜C1至第三个栅极覆晶薄膜C3的信号传输正常，源极覆晶薄膜S1的信号传输存在异常。后续可以锁定存在异常的单个覆晶薄膜，可以检查显示基板上连通该锁定的覆晶薄膜的走线是否存在问题，以及将单个覆晶薄膜进行祛除再重新进行绑定，以检查异常是否和绑定工艺有关。如此一来，在通过第一检测电路检测到信号传输异常时，可以有针对性地对异常区域进行检测和维修，从而节约时间并降低成本。
本示例性实施例提供的显示装置的其余结构可以参照前述实施例的说明，故于此不再赘述。本实施方式所示的结构可以与其它实施方式所示的结构适当地组合。
本示例性实施例中，根据多个发光二极管的点亮情况，可以用于判定覆晶薄膜的绑定接触是否存在问题以及覆晶薄膜与显示基板之间的走线是否存在异常，可以快速锁定信号传输存在异常的覆晶薄膜所在区域。如此一来，可以提高对覆晶薄膜的维修效率，节省时间和人力，而且可以降低由于异常覆晶薄膜锁定错误导致的误祛除覆晶薄膜带来的浪费问题。另外，根据多个发光二极管的亮度，可以判定对应的覆晶薄膜绑定的接触阻抗，降低长期导通发热带来的覆晶薄膜脱附等潜在不良。
本公开实施例还提供一种显示装置的检测方法，应用于如上所述的显示装置，包括：向第一个栅极驱动单元提供初始输入信号；根据N个第一检测电路的指示结果，确定信号传输存在异常的栅极驱动单元。
在一些示例性实施方式中，本实施例的检测方法，还可以包括：根据第二检测电路的指示结果，确定源极覆晶薄膜的信号传输是否存在异常。
关于本实施例的显示装置的检测方法的相关说明可以参照上述实施例的描述，故于此不再赘述。
在本公开实施例的描述中，术语“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。
虽然本公开所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本公开而采用的实施方式，并非用以限定本公开。任何本公开所属领域内的技术人员，在不脱离本公开所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本公开的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (8)

1.一种显示装置，其特征在于，包括：显示基板、N个栅极覆晶薄膜、N个级联的栅极驱动单元以及N个第一检测电路、源极覆晶薄膜以及印制电路板、第二检测电路；其中，所述N个栅极驱动单元设置在所述显示基板上，任一栅极驱动单元通过一个栅极覆晶薄膜设置在所述显示基板，第i个栅极驱动单元的输出端与第i+1个栅极驱动单元的输入端连接；所述印制电路板通过所述源极覆晶薄膜与所述显示基板连接；
第n个第一检测电路与第n个栅极驱动单元的输出端连接，用于指示前n个栅极驱动单元的信号传输情况；所述第一检测电路包括指示单元，所述指示单元具有指示功能，根据所述指示单元的亮度判定对应的覆晶薄膜绑定的接触阻抗；
所述源极覆晶薄膜包括：第一传输信号输入端和第一传输信号输出端，第一个栅极驱动单元的输入端与所述源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端连接，所述源极覆晶薄膜的第一传输信号输入端与所述印制电路板连接；所述印制电路板通过所述源极覆晶薄膜向第一个栅极驱动单元提供初始输入信号；
所述第二检测电路与所述源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端连接，用于指示所述源极覆晶薄膜的信号传输情况；所述第二检测电路，包括：开关单元和指示单元，所述开关单元与源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端、指示信号输入端以及所述指示单元连接，用于在源极覆晶薄膜的第一传输信号输出端的控制下，向所述指示单元提供所述指示信号输入端的信号；
其中，N为大于0的整数，i为大于0且小于N的整数，n为大于0且小于或等于N的整数。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，第i个第一检测电路还包括：开关单元，所述开关单元分别与第i个栅极驱动单元的输出端、指示信号输入端以及对应的指示单元连接，用于在第i个栅极驱动单元的输出端的控制下，向所述指示单元提供所述指示信号输入端的信号；
对第N个第一检测电路，所述指示单元与第N个栅极驱动单元的输出端连接。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，第n个第一检测电路还包括：开关单元，所述开关单元分别与第n个栅极驱动单元的输出端、指示信号输入端以及对应的指示单元连接，用于在第n个栅极驱动单元的输出端的控制下，向所述指示单元提供所述指示信号输入端的信号。
4.根据权利要求2或3所述的显示装置，其特征在于，所述开关单元包括：开关晶体管，所述开关晶体管的控制极与对应的栅极驱动单元的输出端连接，所述开关晶体管的第一极与所述指示信号输入端连接，所述开关晶体管的第二极与对应的指示单元连接。
5.根据权利要求2或3所述的显示装置，其特征在于，所述指示单元包括：发光二极管。
6.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述N个第一检测电路位于所述显示基板、所述源极覆晶薄膜以及所述印制电路板中的至少一项上。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述源极覆晶薄膜包括：第二传输信号输入端和第二传输信号输出端，第N个栅极驱动单元的输出端与所述源极覆晶薄膜的第二传输信号输入端连接；
所述第二检测电路包括：与所述源极覆晶薄膜的第二传输信号输出端连接的指示单元。
8.一种显示装置的检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1至7中任一项所述的显示装置，所述检测方法，包括：
向第一个栅极驱动单元提供初始输入信号；
根据N个第一检测电路的指示结果，确定信号传输存在异常的栅极驱动单元；根据所述第一检测电路的指示单元的亮度判定对应的覆晶薄膜绑定的接触阻抗；
根据第二检测电路的指示结果，确定源极覆晶薄膜的信号传输是否存在异常。
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