CN106910444B - 点灯装置和点灯测试方法 - Google Patents

点灯装置和点灯测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106910444B
CN106910444B CN201710111937.XA CN201710111937A CN106910444B CN 106910444 B CN106910444 B CN 106910444B CN 201710111937 A CN201710111937 A CN 201710111937A CN 106910444 B CN106910444 B CN 106910444B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mark
unit
lighting device
display panel
relative position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201710111937.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN106910444A (zh
Inventor
王勇
朱载荣
郭宏雁
郑尧燮
于洋
谢宗添
蒋增杨
汤存对
范玲玲
吴怀亮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Fuzhou BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201710111937.XA priority Critical patent/CN106910444B/zh
Publication of CN106910444A publication Critical patent/CN106910444A/zh
Priority to US15/846,408 priority patent/US10366645B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN106910444B publication Critical patent/CN106910444B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/14Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/30Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
    • G06T7/33Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • G06T7/74Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods involving reference images or patches
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30204Marker
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

提供一种点灯装置和点灯测试方法。该点灯装置包括:可移动单元,包括第一标记;图像获取单元,被配置来获取包括所述第一标记和显示面板上的第二标记的实际相对位置的图像;计算单元,被配置来根据所述图像获得所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置;第一位置调整单元,被配置来移动所述可移动单元,以调整所述实际相对位置;第一控制单元,被配置来根据所述实际相对位置和理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定所述第一位置调整单元是否调整到位。可提高检测速度,减少作业时间,提高对位的准确率。

Description

点灯装置和点灯测试方法
技术领域
本公开至少一实施例涉及一种点灯装置和点灯测试方法。
背景技术
点灯装置(Probe Unit,PU)是一种精密的点灯部件,安装在点灯设备上,给显示面板(Panel)加载信号的装置,加载的信号包括数据(Data)信号及栅(Gate)信号。点灯装置上装有机座(Manipulator,MNP)和点灯模块(Lighting-on Block),点灯模块与显示面板的接线区(Pad区,信号接入位置,同一型号显示面板各Pad区等间距)准确对位进行点灯,点灯信号由印刷电路板(Printed Circuit Board,PCB)的驱动电路产生,并通过点灯模块加载。
发明内容
本公开的至少一实施例涉及一种点灯装置和点灯测试方法,可提高检测速度,减少作业时间,提高对位的准确率。
本公开的至少一实施例提供一种点灯装置,包括:
可移动单元,包括第一标记;
图像获取单元,被配置来获取包括所述第一标记和显示面板上的第二标记的实际相对位置的图像;
计算单元,被配置来根据所述图像获得所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置;
第一位置调整单元,被配置来移动所述可移动单元,以调整所述实际相对位置;
第一控制单元,被配置来根据所述实际相对位置和理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定所述第一位置调整单元是否调整到位。
本公开的至少一实施例还提供一种使用点灯装置进行点灯测试的方法,包括:
通过显示面板上的对位标记,使点灯装置的可移动单元的多个探针与显示面板的接线区的多条接线对位,所述可移动单元包括第一标记;
通过所述点灯装置给所述显示面板加载测试信号,采用检测装置对所述显示面板进行点灯检测;
当检测过程中连续多张显示面板在相同位置出现不良时,移动图像获取单元到出现不良的显示面板的第二标记处,以对第二标记和第一标记进行拍摄,获取包括第一标记和第二标记的实际相对位置Pa的图像;
判断所述实际相对位置Pa与理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置Pt的差值是否超过设定值S;
若超过设定值,则调节可移动单元的位置,使得|Pa-Pt|≤S;
若没有超过设定值,继续对下一张显示面板进行点灯检测,若其在相同位置出现相同不良则设备报警。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案,下面将对实施例的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例,而非对本公开的限制。
图1为本公开一实施例提供的点灯装置被用来进行点灯测试的俯视示意图;
图2为本公开一实施例提供的点灯装置的俯视示意图;
图3为本公开一实施例提供的显示面板的Pad区的俯视示意图;
图4为本公开一实施例提供的点灯装置的主视示意图;
图5为本公开一实施例提供的点灯装置的立体示意图;
图6为本公开另一实施例提供的点灯装置的立体示意图;
图7为本公开一实施例提供的点灯装置的螺杆及螺距的示意图;
图8为本公开一实施例提供的点灯装置的第二位置调整单元的示意图;
图9为本公开一实施例提供的点灯装置的第二位置调整单元以及图像获取单元的示意图;
图10为本公开一实施例提供的点灯测试的方法的流程图;
图11为本公开一实施例提供的点灯测试的方法中理论正确对位时第一标记和第二标记之间的距离D的示意图;
图12为本公开一实施例提供的点灯测试的方法中探针单元上的第一标记以及显示面板上的第二标记之间的实际距离L的示意图。
附图标记:
10-底座;11-探针单元;111-第一主体;112-第一标记;113-探针;12-承载单元;121-第二主体;122-通孔;123-固定件;13-图像获取单元;16-计算单元;17-第一控制单元;18-第一存储单元;19-第二控制单元20-显示面板;21-第二标记;24-对位标记;22-pad区;23-接线;14-第一位置调整单元;141-第一滑轨;142-螺杆;1211-螺纹孔;143-第一伺服马达;144-联轴器;挡板146;25-旋钮;15-第二位置调整单元;151-第二滑轨;152-第三滑轨;153-第二伺服马达;154-第三伺服马达。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本公开实施例的附图,对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例是本公开的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例,本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本公开保护的范围。
除非另外定义,本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
点灯测试(Cell Test)工艺中,调点灯时需人工(人眼)观察点灯装置的探针单元的的多个探针与显示面板上的Pad区内的多条接线的对位情况,一方面,探针与接线数量较多,对位复杂。另一方面,出现错位时,由工程师用六轮敲击MNP,达到准确对位的目的。敲击造成了MNP的损坏,影响了MNP的平坦度,极大的影响设备的准确性与稳定性,导致点灯不稳定,严重影响自动光学检测***(Automated Optical Inspection,AOI)对显示面板不良的检测效率,大大增加了工程师的工作量和公司财产的损失。并且,对位过程的自动化与智能化程度极低,且需要工程师边观察边敲击操作极为不便。
本公开至少一实施例提供一种点灯装置,例如如图1所示,包括:
可移动单元012,包括第一标记112;
图像获取单元13,被配置来获取包括第一标记112和显示面板20上的第二标记21的实际相对位置的图像;
计算单元16,被配置来根据图像获得第一标记112与第二标记21的实际相对位置;
第一位置调整单元14,被配置来移动可移动单元012,以调整实际相对位置;
第一控制单元17,被配置来根据实际相对位置和理论正确对位时第一标记和第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定第一位置调整单元14是否调整到位。
如图2和图3所示,分别示出了单独的点灯装置和显示面板的示意图。点灯测试中,点灯装置中可移动单元012上的多个探针113与显示面板pad区22的多条接线23分别一一对应,以便于通过点灯装置向显示面板加载信号。
本公开至少一实施例提供的点灯装置,将点灯测试中观察点灯装置中可移动单元012上的多个探针113与显示面板上的Pad区23内的多条接线23的对位情况,变更为观察探针单元11上的第一标记112和显示面板20上的第二标记21之间的实际相对位置,方便简单,易于得到所需数据,提高检测速度,减少作业时间,提高对位的准确率。例如,第二标记21与Pad区22的接线23与外接电路绑定(Bonding)所用的标记是同一个标记。从而,无需在显示面板上设置额外的标记。外接电路例如包括柔性电路板(FPC)或挠性板上贴装芯片(ChipOn Film,COF)(驱动IC)。
根据本公开一实施例提供一种点灯装置,例如如图1所示,可移动单元012还包括探针单元11和承载单元12。例如,探针单元11包括第一主体111,在第一主体111上设置第一标记112,第一主体111上还设置多个探针113。例如,承载单元12包括第二主体121,第二主体121被配置来固定第一主体111。
根据本公开一实施例提供一种点灯装置,例如如图1所示,第一位置调整单元14,被配置来移动第二主体121以带动第一主体111,从而调整第一标记112的位置,以调整第一标记112与第二标记21之间的实际相对位置。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,还包括第一存储单元18,图像获取单元13与第一存储单元18相连,第一存储单元18被配置来存储图像获取单元13获取的图像。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,第一标记112固定在第一主体111上,第二标记21固定在显示面板20上。例如,多个探针113固定在第一主体111上。从而,可利于将多个探针113和多条接线23的对位变更为第一标记112和第二标记21的对位。例如,第一标记112和多个探针113之间的相对位置保持不变。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,承载单元12还包括通孔122和固定件123,通孔122设置在第二主体121上,固定件123将第一主体111固定在第二主体121上。例如,固定件包括螺栓和螺母,但不限于此。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,为了限定承载单元12的滑动区域,在第一滑轨141的两端分别设置挡板146。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,该点灯装置还包括底座10(图1中未示出,请参见图5),第一位置调整单元14包括第一滑轨141、螺杆142和螺纹孔1211(图1中未示出,请参见图3),第一滑轨141和螺杆142设置在底座10上,承载单元12设有螺纹孔1211,螺杆142穿过螺纹孔1211,螺杆142旋转以带动承载单元12沿第一滑轨141滑动。由于螺杆(丝杠)142和承载单元12之间采用的是螺纹安装结构,故螺杆的转动带动承载单元12的前进与后退,将螺杆142的旋转运动转换成承载单元12的直线运动。
需要说明的是,图1、图2和图4中,示出了两个第一滑轨(双滑轨),可以使得承载单元12沿第一滑轨141滑动得更平稳。例如,点灯装置还可以如图5所示,设置一个第一滑轨141。本公开的实施例对此不做限定。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,为了增强承载单元12滑动的平稳性,螺杆142的延伸方向和第一滑轨141的延伸方向相同。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,为了使得承载单元12可以根据需要滑动任意距离,第一位置调整单元14还可包括第一伺服马达143,第一伺服马达143与螺杆142相连,并被配置来驱动螺杆142旋转。例如,第一伺服马达143通过联轴器144与螺杆142相连。第一伺服马达143可将电能转换成机械能,带动螺杆142转动,进而带动承载单元12沿第一滑轨141滑动。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,第一控制单元17可与第一伺服马达143相连以实现自动控制,第一控制单元17可被配置来向第一伺服马达143发送指令。例如,图像获取单元13获取包括第一标记112和第二标记21的实际相对位置的图像,第一存储单元18存储图像获取单元13获取的图像,计算单元16根据图像获得第一标记112与第二标记21的实际相对位置,第一控制单元17根据该实际相对位置向第一伺服马达143发送指令,使得第一伺服马达143带动可移动单元012移动,例如带动螺杆142转动,进而带动承载单元12沿第一滑轨141滑动。可通过第一控制单元17控制承载单元12的移动距离。该实施例提供的点灯装置不需要敲击承载单元,增加点灯的稳定性,杜绝人工作业对部件的损耗,降低生产成本,减少维修时间与强度。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,第一伺服马达143旋转一周使得螺杆142上的第一位置调整单元14沿第一滑轨141移动螺杆142的一个螺距的距离。例如如图7所示,螺杆的螺距P为450-550微米。例如,由于目前相邻两个探针之间的距离(Pin Pitch)一般是在40μm左右。而螺杆转动一周时的前进或者后退的距离通常是500μm,把第一伺服马达143旋转一周分为50等份,每一等份的距离是500μm/50=10μm,能够对应1/4的相邻两个探针之间的距离。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图8所示,螺杆142也可通过手动调节,点灯装置包括旋钮25,旋钮25与螺杆142相连,通过旋钮25旋转来带动螺杆142旋转。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图8和图9所示,为了便于图像获取单元13在二维平面内运动,该点灯装置还可包括第二位置调整单元15,第二位置调整单元15被配置来使图像获取单元13在二维平面内运动,第二位置调整单元15包括第二滑轨151和第三滑轨152,第三滑轨152设置在第二滑轨151上,并且,第三滑轨152与第二滑轨151相互垂直,图像获取单元13设置在第三滑轨152上。例如,图像获取单元13可以为照相机(camera)。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如图8和图9所示,为了更容易和更准确的获得第一标记112和第二标记21之间的实际相对位置,还可以包括第二控制单元19,并且第二位置调整单元15还可包括第二伺服马达153、第三伺服马达154,第二伺服马达153与第二滑轨151相连,第三伺服马达154与第三滑轨152相连,第二滑轨151和第三滑轨152为螺杆,第二伺服马达153和第三伺服马达154与第二控制单元19相连,第二控制单元19被配置来向第二伺服马达153和第三伺服马达154发送指令。例如,第二伺服马达153和第三伺服马达154也可以将电能转换为机械能。可通过第二控制单元19控制图像获取单元13的运动的速度与方向以及控制图像获取单元13的到达位置。需要说明的是,也可以不设置第二控制单元。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图9所示,图像获取单元13可以与第二控制单元19相连,从而,可以通过第二控制单元19自动控制图像获取单元13到达所需位置以便于图像的拍摄。
例如,计算单元16、第一控制单元17、第一存储单元18和第二控制单元19的功能可以由一台或者多台计算机来实现。例如,该计算机可以是通用计算装置或专用计算装置。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,计算单元16、第一控制单元17、第一存储单元18和第二控制单元19的功能可以由一台或者多台计算机30来实现的情况下,点灯装置可快速准确智能的进行探针单元11与Pad区的对位,减少作业时间,提高对位的准确率。不需要敲击承载单元,增加点灯的稳定性,杜绝人工作业对部件的损耗,降低生产成本,减少维修时间与强度。
根据本公开一实施例提供的点灯装置,例如如图1所示,可以在第一主体111的相对的两侧分别设置第一标记112,但不限于此,也可以采用其他方式,例如,在第一主体111的一侧设置第一标记112。例如,显示面板上还可以包括对位标记24,以利于点灯装置的可移动单元的多个探针与显示面板的接线区的多条接线对位。本公开实施例的附图中,以第一标记112和第二标记21为“T”字形、对位标记24为十字形为例进行说明,但第一标记112、第二标记21和对位标记24的形状不限于图中所示。
第一伺服马达143、第二伺服马达153和第三伺服马达154可进行顺时针或者逆时针旋转,例如,可通过接受计算机(第一控制单元17或第二控制单元19)指令进行顺时针或者逆时针旋转。
本公开至少一实施例提供的使用点灯装置进行点灯测试的方法,
例如如图10所示,包括:
通过显示面板20上的对位标记24,使点灯装置的可移动单元012的多个探针113与显示面板20的接线区22的多条接线23对位,可移动单元012包括第一标记112;
通过点灯装置给显示面板20加载测试信号,采用检测装置对显示面板20进行点灯检测;
当检测过程中连续多张(例如三张)显示面板在相同位置出现不良(例如线不良,对位出现偏差则会出现线不良,通常叫做Pin Miss)时,暂停检测,移动图像获取单元13到出现不良的显示面板的第二标记21处,以对第二标记21和第一标记112进行拍摄,获取包括第一标记112和第二标记21的实际相对位置Pa的图像;
判断实际相对位置Pa与理论正确对位时第一标记112和第二标记21的理论相对位置Pt的差值是否超过设定值S;
若超过设定值,则调节可移动单元012的位置,使得|Pa-Pt|≤S;
若没有超过设定值,继续对下一张显示面板进行点灯检测,若其在相同位置出现相同不良则报警。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,可通过第一控制单元17调节可移动单元012的位置以进行自动控制。
例如,图像获取单元13获取的图像可存储在第一存储单元18中,计算单元16根据该图像得到第一标记112和第二标记21的实际相对位置P1。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,根据第二标记21的坐标,通过第二控制单元19移动图像获取单元13到显示面板20的第二标记处21以进行自动控制。
例如,相对位置包括距离和/或角度,本公开的实施例以相对位置为距离为例进行说明。例如,实际距离为L,理论距离为D,D可以是固定的,|L-D|根据L的变化而变化。例如,D可根据显示面板的尺寸的不同而不同,例如,为了获得更准确的第一标记112和第二标记21的实际距离,D不超过1/2的该显示面板的Pad区23的相邻两条接线23之间的距离,或者说D不超过1/2的该探针单元11的相邻两条探针113之间的距离。
本公开至少一实施例提供的点灯测试方法,将点灯测试中观察点灯装置中探针单元11上的多个探针113与显示面板上的Pad区22内的多条接线23的对位情况,变更为观察可移动单元012上的第一标记112和显示面板20上的第二标记21之间的距离,方便简单,易于得到所需数据,提高检测速度
例如,通过比对可移动单元012上的第一标记112以及显示面板20上的第二标记21之间的实际距离L与理论正确对位时第一标记112和第二标记21之间的距离D的差值,可以得知可移动单元012(探针单元11)的探针113与Pad区22的接线23的偏移位置。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,第一标记112以及显示面板20上的第二标记21之间的实际距离L通过对出现不良的显示面板20和给该显示面板20施加测试信号的可移动单元012(探针单元11)进行拍照检查而获得。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,在底座10上设置第一滑轨141和螺杆142,在承载单元12上设置螺纹孔1211,螺杆142穿过螺纹孔1211,螺杆142旋转以带动承载单元12沿第一滑轨141滑动。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,通过第一伺服马达143与螺杆142相连,第一伺服马达143被配置来驱动螺杆142旋转。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,通过第一控制单元17与第一伺服马达143相连,第一控制单元17被配置来向第一伺服马达143发送指令。可通过第一控制单元17控制承载单元12的移动距离。拍照获得的图像可以图片的形式储存。例如,可以储存在第一存储单元18中。第一控制单元17可通过第一存储单元18存储的图片得出第一标记112和第二标记21之间实际距离,并发出指令给第一伺服马达143。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,点灯测试方法还可包括使图像获取单元13在二维平面内运动,使图像获取单元13在二维平面内运动包括如下步骤。
提供第二滑轨151和第三滑轨152,第三滑轨152设置在第二滑轨151上,并且,第三滑轨152与第二滑轨151相互垂直,图像获取单元13设置在第三滑轨152上;
通过第二伺服马达153与第二滑轨151相连,通过第三伺服马达154与第三滑轨152相连,第二滑轨151和第三滑轨152为螺杆142,第二伺服马达153和第三伺服马达154与第二控制单元19相连,第二控制单元19被配置来向第二伺服马达153和第三伺服马达154发送指令。
根据本公开一实施例提供的点灯测试方法,该点灯测试方法包括如下步骤。
(1)AOI(自动光学检测***)检测中连续三张显示面板在相同的位置中出现线不良时,AOI设备暂停运行;
(2)计算机发送指令给图像获取单元13,图像获取单元13接受到指令后移动到发生不良的可移动单元012的位置,给可移动单元012的第一标记112和显示面板20的第二标记21拍照,将照片信息反馈给计算机;
(3)计算机检查计算照片中第一标记112和第二标记21之间的实际距离L,并与理论上正确对位时第一标记112和第二标记21之间的理论距离D的差值进行比较;
(4)计算机检查实际距离L与理论距离D之间的差值是否超过设定值S;
a.实际距离L与理论距离D之间的差值超过设定值S。计算机发送指令给第一伺服马达,第一伺服马达通过旋转一定角度,使承载单元12前进或者后退,带动探针单元11移动,使|L-D|≤S,例如,可使L=D,点灯恢复正常。AOI设备启动。
b.实际距离L与理论距离D之间的差值未超过设定值S。AOI设备启动,当下一张显示面板在相同位置再次出现线不良时,AOI设备报警,工程师人工解决点灯异常。
例如,理论正确对位时第一标记112和第二标记21之间的实际距离D如图11所示,探针单元11上的第一标记112以及显示面板20上的第二标记21之间的实际距离L可如图12所示。
需要说明的是,本公开的实施例对于设定值的具体数值不作限定。例如,设定值可根据探针和接线的宽度、相邻两个探针之间的距离、或者相邻两条接线之间的距离来确定。探针和接线的宽度例如是指垂直于探针和接线的延伸方向的宽度。例如,设定值小于探针113的宽度,并且小于相邻两个探针之间的距离。例如,设定值小于接线23的宽度,并且小于相邻两条接线之间的距离。例如,为了使得信号可以被很好地加载,设定值小于1/2的探针113的宽度,例如,设定值小于1/2的接线23的宽度。进一步例如,为了使得探针与接线具有更多的接触面积,更利于信号的加载,设定值小于1/4的探针113的宽度,例如,设定值小于1/4的接线23的宽度。例如,探针113的宽度可大致等于相邻两个探针之间的距离,接线23的宽度可大致等于相邻两条接线之间的距离,但不限于此。另外,因设定值是两个数值的差值的绝对值,设定值大于或等于零。
有以下几点需要说明:
(1)除非另作定义,本公开实施例以及附图中,同一附图标记代表同一含义。
(2)本公开实施例附图中,只涉及到与本公开实施例涉及到的结构,其他结构可参考通常设计。
(3)为了清晰起见,在用于描述本公开的实施例的附图中,层或区域的厚度被放大。可以理解,当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时,该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”,或者可以存在中间元件。
(4)在不冲突的情况下,本公开的同一实施例及不同实施例中的特征可以相互组合。
以上所述,仅为本公开的具体实施方式,但本公开的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此,本公开的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (14)

1.一种点灯装置,包括:
可移动单元,包括第一标记;
图像获取单元,被配置来获取包括所述第一标记和显示面板上的第二标记的实际相对位置的图像;
计算单元,被配置来根据所述图像获得所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置;
第一位置调整单元,被配置来移动所述可移动单元,以调整所述实际相对位置;
第一控制单元,被配置来根据所述实际相对位置和理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置的差值是否超过设定值来确定所述第一位置调整单元是否调整到位,
其中,所述可移动单元包括两个第一标记,所述显示面板包括两个第二标记,两个第一标记之间的距离小于两个第二标记之间的距离。
2.根据权利要求1所述的点灯装置,还包括第一存储单元,其中,所述图像获取单元与所述第一存储单元相连,所述第一存储单元被配置来存储所述图像获取单元获取的图像。
3.根据权利要求1所述的点灯装置,所述可移动单元还包括探针单元和承载单元,所述承载单元被配置来固定所述探针单元,所述第一标记设置在所述探针单元上,所述探针单元还包括多个探针;所述第一位置调整单元被配置来移动所述承载单元以带动所述探针单元,进而调整所述第一标记与所述第二标记的实际相对位置。
4.根据权利要求3所述的点灯装置,还包括底座,其中,所述第一位置调整单元包括第一滑轨、螺杆和螺纹孔,所述第一滑轨和所述螺杆设置在所述底座上,所述承载单元设有所述螺纹孔,所述螺杆穿过所述螺纹孔,所述螺杆旋转以带动所述承载单元沿所述第一滑轨滑动。
5.根据权利要求4所述的点灯装置,其中,所述螺杆的延伸方向和所述第一滑轨的延伸方向相同。
6.根据权利要求4所述的点灯装置,其中,所述第一位置调整单元还包括第一伺服马达,所述第一伺服马达与所述螺杆相连,并被配置来驱动所述螺杆旋转。
7.根据权利要求6所述的点灯装置,其中,所述第一控制单元与所述第一伺服马达相连,并被配置来向所述第一伺服马达发送指令。
8.根据权利要求1-7任一项所述的点灯装置,还包括第二位置调整单元,所述第二位置调整单元被配置来使所述图像获取单元在二维平面内运动,所述第二位置调整单元包括第二滑轨和第三滑轨,所述第三滑轨设置在所述第二滑轨上,并且,所述第三滑轨与所述第二滑轨相互垂直,所述图像获取单元设置在所述第三滑轨上。
9.根据权利要求8所述的点灯装置,还包括第二控制单元,其中,所述第二位置调整单元还包括第二伺服马达和第三伺服马达,所述第二伺服马达与所述第二滑轨相连,所述第三伺服马达与所述第三滑轨相连,所述第二滑轨和所述第三滑轨为螺杆,所述第二伺服马达和所述第三伺服马达与所述第二控制单元相连,所述第二控制单元被配置来向所述第二伺服马达和所述第三伺服马达发送指令。
10.根据权利要求1-7任一项所述的点灯装置,其中,所述第一标记固定在所述可移动单元上,所述第二标记固定在所述显示面板上。
11.一种使用点灯装置进行点灯测试的方法,包括:
通过显示面板上的对位标记,使点灯装置的可移动单元的多个探针与显示面板的接线区的多条接线对位,所述可移动单元包括第一标记,所述显示面板包括第二标记;
通过所述点灯装置给所述显示面板加载测试信号,采用检测装置对所述显示面板进行点灯检测;
当检测过程中连续多张显示面板在相同位置出现不良时,移动图像获取单元到出现不良的显示面板的所述第二标记处,以对所述第二标记和所述第一标记进行拍摄,获取包括所述第一标记和所述第二标记的实际相对位置Pa的图像;
判断所述实际相对位置Pa与理论正确对位时所述第一标记和所述第二标记的理论相对位置Pt的差值是否超过设定值S;
若超过设定值,则调节可移动单元的位置,使得|Pa-Pt|≤S;
若没有超过设定值,继续对下一张显示面板进行点灯检测,若其在相同位置出现相同不良则报警,
其中,所述可移动单元包括两个第一标记,所述显示面板包括两个第二标记,两个第一标记之间的距离小于两个第二标记之间的距离。
12.根据权利要求11所述的点灯测试方法,其中,通过第一控制单元调节所述可移动单元的位置以进行自动控制。
13.根据权利要求12所述的点灯测试方法,其中,所述图像获取单元获取的图像存储在第一存储单元中,计算单元根据所述图像得到所述第一标记和所述第二标记的实际相对位置Pa。
14.根据权利要求11所述的点灯测试方法,其中,根据所述第二标记的坐标,通过第二控制单元移动所述图像获取单元到显示面板的第二标记处以进行自动控制。
CN201710111937.XA 2017-02-28 2017-02-28 点灯装置和点灯测试方法 Active CN106910444B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710111937.XA CN106910444B (zh) 2017-02-28 2017-02-28 点灯装置和点灯测试方法
US15/846,408 US10366645B2 (en) 2017-02-28 2017-12-19 Lighting-on device and method for cell test

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710111937.XA CN106910444B (zh) 2017-02-28 2017-02-28 点灯装置和点灯测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN106910444A CN106910444A (zh) 2017-06-30
CN106910444B true CN106910444B (zh) 2020-11-27

Family

ID=59209322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710111937.XA Active CN106910444B (zh) 2017-02-28 2017-02-28 点灯装置和点灯测试方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10366645B2 (zh)
CN (1) CN106910444B (zh)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108513629A (zh) * 2017-07-26 2018-09-07 深圳市柔宇科技有限公司 测试元件组的定位方法和测试元件组
CN107578733A (zh) * 2017-08-22 2018-01-12 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种点亮治具及装置
US10761145B2 (en) 2017-08-22 2020-09-01 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Illuminating fixture and device
CN107564446A (zh) * 2017-09-30 2018-01-09 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种面板点灯机、面板点灯测试***及测试方法
CN108303424A (zh) * 2018-01-02 2018-07-20 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测装置及其检测方法
CN108362712B (zh) * 2018-03-14 2022-09-30 京东方科技集团股份有限公司 一种基板母板及其检测方法
CN108957810B (zh) * 2018-08-17 2021-07-16 苏州凌云视界智能设备有限责任公司 一种用于点亮屏幕的装置
CN109283414B (zh) * 2018-11-12 2021-01-26 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、点灯检测装置及其控制方法
KR102149703B1 (ko) * 2019-04-09 2020-08-31 주식회사 이엘피 디스플레이 패널의 사이즈에 따른 간격 가변 검사장치
CN111312130B (zh) * 2020-02-28 2023-07-21 云谷(固安)科技有限公司 阵列基板检测方法及***
CN112767864A (zh) * 2021-01-15 2021-05-07 深圳市韦德勋光电科技有限公司 一种lcd逻辑板控制模块的调试装置及使用方法
CN112954273B (zh) * 2021-02-03 2021-09-14 浙江金乙昌科技股份有限公司 一种多路视频拼接处理装置及其处理方法
CN113176524B (zh) * 2021-05-13 2022-11-08 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板检测装置
CN114550599B (zh) * 2022-03-30 2023-08-01 苏州华星光电技术有限公司 一种显示面板的贴合装置及其应用方法
CN114813759B (zh) * 2022-06-24 2022-09-09 四川英创力电子科技股份有限公司 一种精密检测印制电路板上孔数的检孔装置及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6137300A (en) * 1997-08-22 2000-10-24 Nec Corporation Test probe device for a display panel and test probe positioning method
CN1896749A (zh) * 2005-07-13 2007-01-17 安捷伦科技有限公司 用于显示面板的检查装置及其中所用的接口
CN104360509A (zh) * 2014-11-21 2015-02-18 京东方科技集团股份有限公司 点灯测试方法及装置
CN104616611A (zh) * 2015-02-15 2015-05-13 合肥鑫晟光电科技有限公司 点灯检测设备及点灯检测方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5691764A (en) * 1994-08-05 1997-11-25 Tokyo Electron Limited Apparatus for examining target objects such as LCD panels
JP3333686B2 (ja) * 1996-06-28 2002-10-15 松下電器産業株式会社 表示画面検査方法
US20020135395A1 (en) * 2001-02-08 2002-09-26 Pete Smith System and method for testing a display device
JP2008164292A (ja) * 2006-12-26 2008-07-17 Tokyo Electron Ltd プローブ検査装置、位置ずれ補正方法、情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
KR101279656B1 (ko) * 2008-12-22 2013-06-27 엘지디스플레이 주식회사 프로브 검사장치
KR101742506B1 (ko) * 2010-08-05 2017-06-02 주식회사 탑 엔지니어링 어레이 테스트장치 및 어레이 테스트방법
CN103858208B (zh) * 2011-08-10 2016-08-24 株式会社V技术 曝光装置用的对准装置以及对准标记
JP2013191741A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Tokyo Electron Ltd プローブ装置及びプローブ装置のプローブカード装着方法
CN102789075B (zh) * 2012-07-26 2015-03-11 北京京东方光电科技有限公司 用于检测液晶面板的点灯治具
CN203282805U (zh) * 2013-05-28 2013-11-13 田宇科技股份有限公司 影像对位微调控制的面板贴合设备
CN103777383B (zh) * 2013-12-31 2016-06-08 深圳市华星光电技术有限公司 液晶基板配向检查***
CN104317081A (zh) * 2014-11-17 2015-01-28 合肥京东方光电科技有限公司 一种点灯设备
CN105093574B (zh) * 2015-06-05 2018-06-08 京东方科技集团股份有限公司 显示面板检测台
CN105445979B (zh) * 2016-01-29 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种点灯治具及点灯方法
CN108513629A (zh) * 2017-07-26 2018-09-07 深圳市柔宇科技有限公司 测试元件组的定位方法和测试元件组
CN107564441B (zh) * 2017-08-31 2021-01-26 京东方科技集团股份有限公司 一种自动光学检测装置及显示面板的检测***

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6137300A (en) * 1997-08-22 2000-10-24 Nec Corporation Test probe device for a display panel and test probe positioning method
CN1896749A (zh) * 2005-07-13 2007-01-17 安捷伦科技有限公司 用于显示面板的检查装置及其中所用的接口
CN104360509A (zh) * 2014-11-21 2015-02-18 京东方科技集团股份有限公司 点灯测试方法及装置
CN104616611A (zh) * 2015-02-15 2015-05-13 合肥鑫晟光电科技有限公司 点灯检测设备及点灯检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN106910444A (zh) 2017-06-30
US20180247578A1 (en) 2018-08-30
US10366645B2 (en) 2019-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106910444B (zh) 点灯装置和点灯测试方法
KR100958204B1 (ko) 평판디스플레이 패널 검사 장비 및 방법
KR102252592B1 (ko) 기판 불량 검사 장치 및 방법
CN111398172A (zh) 一种3d视觉检测设备和方法
CN113155047B (zh) 长距离孔距测量装置、方法、存储介质、设备及轨道车辆
CN110837036A (zh) 一种电路板故障自动检测***
CN105359638A (zh) 元件保持状态检测方法及元件安装装置
CN115666125B (zh) 基于机器视觉的贴片机xy平台定位误差检测与补偿方法
JP3644846B2 (ja) 描画装置の移動誤差検出装置及びその方法
KR102150940B1 (ko) 프로브 블록 별 자동 정밀 제어가 가능한 어레이 테스트 장치
CN2864893Y (zh) 具精密定位单元的平面显示面板检测仪
JP6939729B2 (ja) 制御システム、制御方法およびプログラム
CN111351432A (zh) 一种pcb板孔位加工制程能力评估方法
CN210604425U (zh) 银线检测***
CN115790366A (zh) 一种大型阵面拼接机构视觉定位***和方法
CN211824281U (zh) 一种用于检测pcb板厚度非接触式检测装置
KR102094728B1 (ko) 묘화 장치, 노광 묘화 장치, 묘화 방법 및 프로그램을 기억한 기록 매체
CN112996249A (zh) 一种线路板曝光基准定位方法和装置
Lu et al. Design of Automated Needle Placement Machine with a Printed Circuit Board Composite Board Fixture.
CN218067702U (zh) 一种半导体芯片快速检测机构
CN214846174U (zh) 照明设备
CN113808188B (zh) 元件的拍摄方法
JPH03210481A (ja) プリント回路基板検査用可動プローブ式多点コンタクト装置
CN213714312U (zh) 一种运动姿态视频测量用同步控制器
JP7377655B2 (ja) ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant