CN106524881A - 一种短轴专用校准装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种短轴专用校准装置，提供了一种调节式工件长度测量装置，包括工件固定机构、调节机构及设置在测量固定机构与调节机构之间的测量机构，所述调节机构包括固定在底板上的支撑架，所述支撑架中部设有移动板，包括贯穿支撑架和移动板的导向柱和螺柱，螺柱与导向柱的一端均与底板连接，另一端均与支撑架的上端连接；所述测量机构包括与移动板连接的测量臂，所述测量臂上固定有千分表，千分表的下端连接水平滑动设置的测量头，测量时，轴类零件的另一端与测量头接触。该量具能够准确、迅速地测量轴类零件长度，该量具还可方便地测量多品种不同尺寸的轴类零件长度，当测量不同轴类零件长度时，通过调节机构调整测量臂的位置既可实现不同轴类零件长度的测量。

Description

一种短轴专用校准装置

技术领域

本发明涉及一种工件测量装置，具体涉及一种短轴专用校准装置。

背景技术

轴主要是用于支承转动零件并与之一起回转传递运动、扭矩或弯距的机械零件。同轴度是表示零件上被测轴线相对于基准轴线，保持在同一直线上的状况，也就是通常所说的共轴程度。

在机械领域中，通常需要对零部件进行同轴度检测，尤其是对阶梯轴同轴度的检测，以确保装配的准确性。

轴在生产出来以后，根据不同的用途需要检测其同轴度是否符合标准，因此需要对其进行检测，目前检测一般使用三次元检测或在检测室中投影进行检测。但此两种检测方法检测成本高、效率低，且不能满足大批量生产检测的需求，对于操作人员来说，操作相当麻烦、容易造成疲劳，同时一个设备不能满足不同型号的轴类零件测试。

发明内容

针对现有技术中所存在的不足，本发明的目的在于提供一种短轴专用校准装置，解决了现有技术中工作强度大、测量不精准及通用性不强的技术问题。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：一种短轴专用校准装置，包括工件固定机构、调节机构及设置在测量固定机构与调节机构之间的测量机构，

所述工件固定机构包括底座，所述底座的中部开有向下凹陷的凹陷槽，凹陷槽使底座的两侧形成定位凸台和检测凸台；

所述检测凸台上开有与凹陷槽平行的通槽，凹陷槽及通槽使检测凸台形成两个独立的滑动支撑台，所述的两个滑动支撑台的侧壁上沿垂直通槽长度方向开有同轴固定孔；所述的两个滑动支撑台的上表面开有贯通固定孔的锁紧槽；

所述底座上凹陷槽内定位凸台所在侧加工有限位块，同时与限位块抵触加工有支撑座，所述支撑座上加工有与限位块抵触用于固定轴类零件的定位块；

所述调节机构包括底板、固定在底板上的支撑架，所述支撑架中部设有移动板，还包括贯穿支撑架和移动板的导向柱和螺柱，螺柱与导向柱的一端均与底板连接，另一端均与支撑架的上端连接；

所述测量机构包括与移动板连接的测量臂，所述测量臂上固定有千分表，千分表的下端连接水平滑动设置的测量头，测量时，测量头与轴类零件的上表面接触。

其中，所述限位块、支撑座、定位块之间两两相互垂直。

再有，所述锁紧槽的槽口为竖直设置，所述锁紧槽的开口处呈“ㄣ”结构。

最后，所述螺柱与移动板的连接处设有螺纹衬套。

相比于现有技术，本发明具有如下有益效果：

通过调节机构满足不同型号阶梯轴同轴度的检测，使用，将轴从锁紧槽的槽口至入，置入后一端与限位块抵触，两个滑动支撑台闭合，锁紧槽再锁紧；以其中一段轴的水平面为基准面，此时，千分表处于初始状态，测试另一段阶梯轴时，将测量头移动到另一阶梯轴的外表面上方，测量头外表面与测量头接触，千分表显示测量数据，根据读取的该数据与规定的公差范围进行比对，如果在公差范围内则为合格，如果大于或小于该公差范围则不合格。本发明节能、可靠、经济、实用的装置，使用方便，适合推广。当测量不同型号的阶梯轴时，外力使导向柱转动，导向柱带动移动板上下移动，从而带动测量臂和测量头上下运动；从而达到测量不同规格的阶梯轴。节约了资源、降低了成本、提高了测量效率。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明使用状态的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1、图2，一种短轴专用校准装置，包括工件5固定机构、调节机构及设置在测量固定机构与调节机构之间的测量机构，

所述工件5固定机构包括底座2，所述底座2的中部开有向下凹陷的凹陷槽13，凹陷槽13使底座2的两侧形成定位凸台和检测凸台，述的两个滑动支撑台14的侧壁上沿垂直通槽长度方向开有同轴固定孔17，用于固定轴类工件5；所述检测凸台上开有与凹陷槽13平行的通槽，通槽使检测凸台形成两个独立的支撑台14，每个支撑台14有两个相互配合的支撑块拼接而成，同时，支撑台14与底座2之间滑动连接，拼接处的端面呈“ㄣ”结构，方便拆装更换；不同轴测试时可以更换不同直径固定孔17的支撑台14，方便更换，节省成本；所述支撑台14上表面和与固定孔17垂直的一侧面均开有与固定孔17贯通的锁紧孔18，在使用时，轴类工件5贯穿固定孔17锁紧孔18内贯穿螺栓销将轴类工件5锁紧，防止其晃动或窜动；拼接处的端面呈“ㄣ”结构，拼接后配合效果更好，无间隙，锁紧时受力更加均匀。所述底座2上凹陷槽13内定位凸台所在侧加工有限位块15，同时与限位块15抵触加工有支撑座4，所述支撑座4上加工有与限位块15抵触用于固定轴类零件的定位块16；其中，所述限位块15、支撑座4、定位块16之间两两相互垂直。在使用时，将轴类工件5的一端固定在支撑座4上通过限位块15限位，限位块15的两侧还滑动设置有左右卡固件，固定后滑动卡固件将轴类工件5锁紧，防止其左右滑动。所述调节机构包括底板1、固定在底板1上的支撑架3，所述支撑架3中部设有移动板，还包括贯穿支撑架3和移动板的导向柱9和螺柱，螺柱与导向柱9的一端均与底板1连接，另一端均与支撑架3的上端连接；该调节机构结构简单、使用方便。使用时，通过扭转手柄8带动螺柱转动，螺柱转动带动螺纹衬套6反向转动并向上或向下移动，带动移动板下运动，且在导向柱9的作用下，移动板仅随螺柱上下运动，不发生转动，导向柱9起到定位和导向的作用。所述测量机构包括与移动板连接的测量臂10，所述测量臂10上固定有千分表12，千分表12的下端连接水平滑动设置的测量头11，测量时，轴类零件的另一端与测量头11接触，此时千分表12初始位置，将待测件置于固定机构上，锁紧后，测量头11的另一端以销为支点翘起，触碰千分表12的量杆7，将长度的变化反应在千分表12上读出。销也可通过螺柱、螺钉等能够达到同一技术效果的部件等同替换。在测量不同长度的轴类工件5时，通过与螺栓连接的手柄8带动螺栓转动，套上在螺栓上的螺纹衬套6反向转动，螺栓上下移动带动移动板上下移动，从而使测量臂10带动千分表12及测量头11移动，根据需求调节测量臂10的高度，便于调节。该量具能够准确、迅速地测量轴类零件长度，该量具还可方便地测量多品种不同直径的轴类工件5，当测量不同轴类工件5长度时，通过调节机构调整测量臂10的位置既可实现不同轴类工件5的测量。节约了资源、降低了成本、提高了测量效率。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种短轴专用校准装置，其特征在于：包括工件固定机构、调节机构及设置在测量固定机构与调节机构之间的测量机构，

所述工件固定机构包括底座，所述底座的中部开有向下凹陷的凹陷槽，凹陷槽使底座的两侧形成定位凸台和检测凸台；

所述检测凸台上开有与凹陷槽平行的通槽，凹陷槽及通槽使检测凸台形成两个独立的滑动支撑台，所述的两个滑动支撑台的侧壁上沿垂直通槽长度方向开有同轴固定孔；所述的两个滑动支撑台的上表面开有贯通固定孔的锁紧槽；

所述底座上凹陷槽内定位凸台所在侧加工有限位块，同时与限位块抵触加工有支撑座，所述支撑座上加工有与限位块抵触用于固定轴类零件的定位块；

所述调节机构包括底板、固定在底板上的支撑架，所述支撑架中部设有移动板，还包括贯穿支撑架和移动板的导向柱和螺柱，螺柱与导向柱的一端均与底板连接，另一端均与支撑架的上端连接；

所述测量机构包括与移动板连接的测量臂，所述测量臂上固定有千分表，千分表的下端连接水平滑动设置的测量头，测量时，测量头与轴类零件的上表面接触。

2.根据权利要求1所述的一种短轴专用校准装置，其特征在于：所述限位块、支撑座、定位块之间两两相互垂直。

3.根据权利要求1或2所述的一种短轴专用校准装置，其特征在于：所述锁紧槽的槽口为竖直设置，所述锁紧槽的开口处呈“ㄣ”结构。

4.根据权利要求3所述的一种轴类零件长度测量装置，其特征在于：所述螺柱与移动板的连接处设有螺纹衬套。